JP6473580B2 - 粒径測定装置および粒径測定方法 - Google Patents
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Description
図1のブロック図を参照して、第1の実施形態に係る粒径測定装置1aの概略構成について説明する。
(S(θ))2 = (x(1+Cos(θ))/2 J1(xSin(θ))/Sin(θ))2であり、J1は一次ベッセル関数、x=2πr/λ、rは半径、λは波長、xは粒子のサイズ因子である。
図5のブロック図および図6の説明図を参照して、第2の実施形態に係る粒径測定装置1bの概略構成について説明する。
図7のフローチャートを参照して、第1の実施形態に係る粒径測定装置1aで実行される粒径測定処理の処理手順について説明する。
図10のブロック図および図11、図12の説明図を参照して、第3の実施形態に係る粒径測定装置1cの概略構成について説明する。
図13のフローチャートを参照して、第3の実施形態に係る粒径測定装置1cで実行される粒径測定処理の処理手順について説明する。
図15のフローチャート等を参照して第4の実施形態に係る粒径測定装置について説明する。
2…光源(レーザ光源)
3…噴霧手段
4…撮影手段
5…画像処理手段
6…粒径算出手段
10…パーソナルコンピュータ
11…モニタ
20…スクリーン
30A、30B…微粒子導入部
31…筒状体
31a…壁部
32a、32b…貫通孔
33…レーザ発光装置
40…デジタルカメラ
40a…前面側
40b…シャッターボタン
40c…レンズ部
50…メモリカード
51…第1の変換手段
52…第1の量子化手段
53…第2の変換手段
54…第2の量子化手段
55…格納手段
56…減算手段
57…角度算出手段
58…角度測定手段
A1、A2…微粒子
L、L1…コヒーレント光(レーザ光)
L2…回折・散乱光
L3…回折・散乱光パターン
Claims (11)
- 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定装置であって、
コヒーレント光を出射する光源と、
微粒子を自然導入する前の前記コヒーレント光および自然導入された微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換手段と、
前記第1の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化手段と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換手段と、
前記第2の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化手段と、
前記第1の量子化手段で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化手段で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納手段と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算手段と、
前記光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出手段と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定手段と
を備え、
前記粒径算出手段は、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記画像処理手段によって得られたパラメータを代入して、粒径を算出することを特徴とする粒径測定装置。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定装置であって、
コヒーレント光を出射する光源と、
前記光源から出射されたコヒーレント光のビーム内に、前記被検体を微粒子として導入する導入手段と、
前記導入手段により微粒子を導入する前の前記コヒーレント光および前記導入手段により導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換手段と、
前記第1の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化手段と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換手段と、
前記第2の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化手段と、
前記第1の量子化手段で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化手段で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納手段と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算手段と、
前記光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出手段と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定手段と
を備え、
前記粒径算出手段は、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記画像処理手段によって得られたパラメータを代入して、粒径を算出することを特徴とする粒径測定装置。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定装置であって、
コヒーレント光を出射する光源と、
微粒子を自然導入する前の前記コヒーレント光および自然導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を投影するスクリーンと、
前記スクリーンに投影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および前記回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換手段と、
前記第1の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化手段と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換手段と、
前記第2の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化手段と、
前記第1の量子化手段で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化手段で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納手段と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算手段と、
前記光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出手段と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定手段と
を備え、
前記粒径算出手段は、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記画像処理手段によって得られたパラメータを代入して、粒径を算出することを特徴とする粒径測定装置。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定装置であって、
コヒーレント光を出射する光源と、
前記光源から出射されたコヒーレント光のビーム内に、前記被検体を微粒子として導入する導入手段と、
前記導入手段により微粒子を導入する前の前記コヒーレント光および前記導入手段により導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を投影するスクリーンと、
前記スクリーンに投影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および前記回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換手段と、
前記第1の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化手段と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換手段と、
前記第2の変換手段でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化手段と、
前記第1の量子化手段で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化手段で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納手段と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算手段と、
前記光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出手段と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定手段と
を備え、
前記粒径算出手段は、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記画像処理手段によって得られたパラメータを代入して、粒径を算出することを特徴とする粒径測定装置。 - 前記光源は半導体レーザで構成され、前記撮影手段はデジタルカメラで構成されることを特徴とする請求項1から請求項4の何れか1項に記載の粒径測定装置。
- 前記関係式は、
(S(θ))2 = (x(1+Cos(θ))/2 J1(xSin(θ))/Sin(θ))2であり、
J1は一次ベッセル関数、x=2πr/λ、rは半径、λは波長、xは粒子のサイズ因子である
ことを特徴とする請求項1から請求項5の何れか1項に記載の粒径測定装置。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、
微粒子を自然導入する前のコヒーレント光および自然導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を撮影手段を用いて直接的に撮影する撮影過程と、
撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、
画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程と
を有し、
前記画像処理過程は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換過程と、
前記第1の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化過程と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換過程と、
前記第2の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化過程と、
前記第1の量子化過程で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化過程で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納過程と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算過程と、
前記コヒーレント光を出射する光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出過程と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定過程と、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記各過程で得られた各パラメータを代入して、粒径を算出する粒径算出過程と
を有することを特徴とする粒径測定方法。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、
光源から出射されたコヒーレント光のビーム内に、前記被検体を微粒子として導入する導入過程と、
前記導入過程により微粒子を導入する前の前記コヒーレント光および前記導入過程で導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を撮影手段を用いて直接的に撮影する撮影過程と、
撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、
画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程と
を有し、
前記画像処理過程は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換過程と、
前記第1の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化過程と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換過程と、
前記第2の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化過程と、
前記第1の量子化過程で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化過程で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納過程と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算過程と、
前記コヒーレント光を出射する光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出過程と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定過程と、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記各過程で得られた各パラメータを代入して、粒径を算出する粒径算出過程と
を有することを特徴とする粒径測定方法。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、
微粒子を自然導入する前のコヒーレント光および自然導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光をスクリーンに投影する過程と、
前記スクリーンに投影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンを撮影手段を用いて撮影する撮影過程と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および前記回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、
画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程と
を有し、
前記画像処理過程は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換過程と、
前記第1の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化過程と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換過程と、
前記第2の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化過程と、
前記第1の量子化過程で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化過程で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納過程と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算過程と、
前記コヒーレント光を出射する光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出過程と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定過程と、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記各過程で得られた各パラメータを代入して、粒径を算出する粒径算出過程と
を有することを特徴とする粒径測定方法。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、
光源から出射されたコヒーレント光のビーム内に、前記被検体を微粒子として導入する導入過程と、
前記導入過程により微粒子を導入する前の前記コヒーレント光および前記導入過程で導入された前記微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光をスクリーンに投影する過程と、
前記スクリーンに投影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンを撮影手段を用いて撮影する撮影過程と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および前記回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、
画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程と
を有し、
前記画像処理過程は、
前記撮影手段により前記回折・散乱光パターンが形成される前に撮影される前記コヒーレント光から成る基準画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第1の変換過程と、
前記第1の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第1の量子化過程と、
前記回折・散乱光パターンの画像についてRGB変換した後、グレースケール化する第2の変換過程と、
前記第2の変換過程でグレースケール化されたデータの量子化を行う第2の量子化過程と、
前記第1の量子化過程で量子化されたデータを基準データ、前記第2の量子化過程で量子化されたデータを回折・散乱光パターンデータとして格納する格納過程と、
前記回折・散乱光パターンデータと前記基準データの同じ成分について、前記回折・散乱光パターンデータから前記基準データの減算処理を行う減算過程と、
前記コヒーレント光を出射する光源の原点から前記減算処理の結果得られる同心円状の各回折・散乱光パターンまでの角度を算出する角度算出過程と、
前記光源の原点から明るさのピークを有する前記同心円状の回折・散乱光パターンまでの角度を測定する角度測定過程と、
前記角度と、波長と、粒径との関係を示す関係式に、前記各過程で得られた各パラメータを代入して、粒径を算出する粒径算出過程と
を有することを特徴とする粒径測定方法。 - 前記関係式は、
(S(θ))2 = (x(1+Cos(θ))/2 J1(xSin(θ))/Sin(θ))2であり、
J1は一次ベッセル関数、x=2πr/λ、rは半径、λは波長、xは粒子のサイズ因子である
ことを特徴とする請求項7から請求項10の何れか1項に記載の粒径測定方法。
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