JP6458285B2 - デバイスの製造方法 - Google Patents
デバイスの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6458285B2 JP6458285B2 JP2015061780A JP2015061780A JP6458285B2 JP 6458285 B2 JP6458285 B2 JP 6458285B2 JP 2015061780 A JP2015061780 A JP 2015061780A JP 2015061780 A JP2015061780 A JP 2015061780A JP 6458285 B2 JP6458285 B2 JP 6458285B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass substrate
- laser
- pulse laser
- particles
- glass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 54
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 21
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 20
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims description 18
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 16
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 claims description 14
- 239000011135 tin Substances 0.000 claims description 12
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 10
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000298 Cellophane Polymers 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 241000694440 Colpidium aqueous Species 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 1
- 238000005237 degreasing agent Methods 0.000 description 1
- 239000013527 degreasing agent Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Description
(ガラス基材)
ガラス基材として76mm×横26mm×厚さ1.1mmのソーダライムガラス(「松波スライドグラス S7213」)を用意した。
コヒレント・ジャパン株式会社製のパルス発振全固体レーザー「Talisker HE」を用いた。
波長:355nm
平均出力:2W
加工点での平均出力:0.8W
パルス幅:20ピコ秒
周波数:50kHz
レーザー照射されたガラス基材の表面全体にCu粒子を吹き付けて試料を得た。具体的には、レーザー照射されたガラス基材を垂直に立てて固定して、一定の距離を保ってスプレーガンでCu粒子を吹き付けた。そして、スプレーガンを50mm/sの速度で垂直方向に移動させた後、水平方向に3mm移動させる操作を繰り返しながらガラス基材の表面全体にCu粒子を吹き付けた。装置及び吹きつけ条件で以下の通りである。
装置:Medicoat社製のコールドスプレー装置「ACGS(Advanced Cold Gas System)」
粒子材料:Cu粒子
平均粒子径:45μm
粒子搬送速度:100出力%
キャリアガス:窒素
ノズル入口の圧力:8.5bar
ノズル入口のガス流量:290L/min
噴射ノズル−基材管距離:10mm
噴射ノズル角度:90°
噴射ノズル径:5mm
ノズル入口の温度:500℃
(脱脂処理)
Cu皮膜が形成されたガラス基材を、ユケン工業株式会社製の脱脂剤「パクナTHE−210」を50g/Lの濃度で溶解した50℃の水溶液に浸漬して脱脂処理を行った。脱脂処理されたガラス基材をイオン交換水で3回水洗した後、硫酸水溶液(濃度:100mL/L)に60秒間浸漬し酸洗浄した。引き続き、再度、3回水洗した。
脱脂処理されたガラス基材を、下記の組成の液に10秒間浸漬させた後、3回水洗した。
・上村工業社株式会社製「KAT−450」:100mL/L
・98%硫酸:10mL/L
ガラス基材を、75℃に保温したpH4.4の無電解Niめっき液に7分間浸漬させて、無電解Niめっき処理をして、ガラス基材の表面に膜厚1μmの無電解Niめっき層を形成した。その後、ガラス基材をイオン交換水で3回洗浄した。無電解Niめっき液の組成は下記の通りである。
・日本エレクトロプレイティング・エンジニヤース株式会社(EEJA)製「ELN240 M2」:150mL/L
・日本エレクトロプレイティング・エンジニヤース株式会社(EEJA)製「ELN240 M1」:50mL/L
・日本エレクトロプレイティング・エンジニヤース株式会社(EEJA)製「ELN240 R3」:6mL/L
Niめっき層が形成されたガラス基材を、55℃に保温した金めっき液(EEJA製「PRECIOUSFAB IGS8000SPF」)に6分間浸漬して、Niめっき層の上に、厚さ0.03μmの置換Auめっき層を形成して試料を得た。
レーザー照射エリアを10mm×10mmに変更し、吹き付け条件を下記のように変更し、無電解めっきを行わなかった以外は実施例1と同様にして試料を得て、表面観察を行った。
装置:Medicoat社製のコールドスプレー装置「ACGS(Advanced Cold Gas System)」
粒子材料:Sn粒子
平均粒子径:10μm
粒子搬送速度:100出力%
キャリアガス:空気
ノズル入口の圧力:7.4bar
ノズル入口のガス流量:320L/min
噴射ノズル−基材管距離mm:10mm
噴射ノズル角度:90°
噴射ノズル径:5mm
ノズル入口の温度:200℃
(表面観察)
得られた試料の表面をマイクロスコープ観察した。表面の写真を図4に示す。図4の1はガラス基材であり、4はSn皮膜である。図4に示されるように、パルスレーザーを照射した領域にSn皮膜が形成された。このSn皮膜はセロハンテープで剥がすことができなかった。パルスレーザーを照射していない領域にもわずかにSn粒子が付着していたが、このSn粒子は刷毛で簡単に取り除くことができた。
2 Cu皮膜
3 置換Auめっき皮膜
4 Sn皮膜
Claims (4)
- ガラス基材の表面に金属皮膜パターンが形成されたデバイスの製造方法であって;
前記ガラス基材の表面の一部の領域にパルスレーザーを照射して多光子吸収を起こさせ、該ガラス基材の表面にスポット(凹部)が形成されるように加工する第1工程と、
前記ガラス基材の表面にコールドスプレー法により金属粒子を衝突させ、前記パルスレーザーを照射した領域にのみ選択的に金属皮膜を形成する第2工程とを備えることを特徴とするデバイスの製造方法。 - 前記パルスレーザーのパルス幅が1×10−18〜1×10−4秒である請求項1に記載の製造方法。
- 前記金属粒子が、銅、スズ、金、銀、ニッケル、鉄、パラジウム、ルテニウム、ロジウム、イリジウム、インジウム、亜鉛、アルミニウム、タングステン、クロム、マグネシウム、チタン、シリコン又はこれらの合金からなる群から選択される少なくとも1種の粒子である請求項1又は2に記載の製造方法。
- 前記第2工程の後に、電気めっき又は無電解めっきを行うことにより、前記金属皮膜の表面にめっき皮膜を形成する第3工程をさらに備える請求項1〜3のいずれかに記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015061780A JP6458285B2 (ja) | 2015-03-24 | 2015-03-24 | デバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015061780A JP6458285B2 (ja) | 2015-03-24 | 2015-03-24 | デバイスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016180160A JP2016180160A (ja) | 2016-10-13 |
JP6458285B2 true JP6458285B2 (ja) | 2019-01-30 |
Family
ID=57132396
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015061780A Active JP6458285B2 (ja) | 2015-03-24 | 2015-03-24 | デバイスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6458285B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113529065B (zh) * | 2020-04-16 | 2022-11-08 | 中国科学院金属研究所 | 一种基于冷喷涂高速沉积增材制造技术制备金属铱涂层的方法及装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4248037B2 (ja) * | 1997-02-04 | 2009-04-02 | 株式会社不二機販 | 金属被膜の形成方法 |
JP2007119871A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Elfo-Tec:Kk | 金属被膜形成方法及び金属被膜による電極パターン形成方法 |
JP2008045573A (ja) * | 2006-08-10 | 2008-02-28 | Nsk Ltd | 転がり摺動部材及びその製造方法並びに転動装置 |
JPWO2014167658A1 (ja) * | 2013-04-10 | 2017-02-16 | 株式会社日立製作所 | 金属被覆樹脂構造体とその製法 |
EP3276042B1 (en) * | 2015-03-24 | 2024-01-31 | OM Sangyo Co., Ltd. | Method for producing plated article |
-
2015
- 2015-03-24 JP JP2015061780A patent/JP6458285B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016180160A (ja) | 2016-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6264596B2 (ja) | めっき品の製造方法 | |
TWI602950B (zh) | 用於形成種晶層之組成物 | |
TWI419995B (zh) | 鋁或鋁合金之表面處理方法 | |
JP2011029395A (ja) | 電子部品用複合ボールの製造方法 | |
JP2005022956A (ja) | セラミックの金属化 | |
JP2016152324A (ja) | 金属−セラミックス回路基板の製造方法 | |
JP6458285B2 (ja) | デバイスの製造方法 | |
JP6315351B2 (ja) | 媒体上に金属パターンを堆積する方法 | |
Pawar et al. | A critical review of copper electroless deposition on glass substrates for microsystems packaging applications | |
US20080311414A1 (en) | Method of forming thin metal film and thin metal film manufactured by the forming method | |
US20200208270A1 (en) | Laser surface structuring treatment for plating | |
Ng et al. | Ultra-violet direct patterning of metal on polyimide | |
JP6443777B1 (ja) | 金属皮膜形成品の製造方法 | |
JPH02190474A (ja) | 金属化のための基板の処理方法 | |
JP2013204107A (ja) | 無電解めっき方法および配線板 | |
JP7130631B2 (ja) | 導体の製造方法、配線基板の製造方法及び導体形成用組成物の製造方法 | |
Iwai et al. | Laser wavelength dependence on photochemical surface and interface modifications of aluminum thin films on silica glass | |
Joo et al. | Laser treatment of solution-deposited carbon nanotube thin films for improved conductivity and transparency | |
JP2013036118A (ja) | 金属膜付きガラス材料および製造方法 | |
JP2009108394A (ja) | ニッケルで形成された被めっき表面の前処理に用いる活性化処理液及びその活性化処理液を用いた前処理方法 | |
JP2012227253A (ja) | 下地導電層付き基板の製造方法および貫通電極基板の製造方法 | |
CN103813651A (zh) | 一种覆铜板的制造方法 | |
JPH022132A (ja) | バンプ電極の製造方法 | |
JP5965235B2 (ja) | 金属めっき皮膜を有する半導体基材およびその製造方法 | |
JP2013211390A (ja) | セラミックス回路基板の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20171212 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180717 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180724 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180912 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181106 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6458285 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |