JP6447641B2 - 減肉検出装置、減肉検出システム、減肉検出方法及びプログラム - Google Patents

減肉検出装置、減肉検出システム、減肉検出方法及びプログラム Download PDF

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Description

本発明は、減肉検出装置、減肉検出システム、減肉検出方法及びプログラムに関する。
石油・石油化学のプラント等で使用される金属製の設備(以下、「金属設備」という。)では、局部腐食等が原因で肉厚が薄くなる減肉という現象が発生する場合がある。この減肉が進行すると、金属設備に孔が開いてしまうおそれがある。このため、プラント全体に張り巡らされた金属設備の中から、局部腐食等によって生じた減肉を早期に検出する必要がある。
特許文献1には、減肉が発生した箇所では静磁界が低下することを利用して、減肉が生じた場合の磁界強度パターン(以下、「減肉パターン」という。)と、磁気センサで検出された磁界強度パターンとのパターンマッチングにより減肉の存在を検出可能としている。
国際公開第2015/179237号
しかしながら、特許文献1に記載のシステムでは、検査対象となる金属設備の減肉の存在を検出することができても、減肉の平面形状や深さ等の形状情報を推定することはできない。これは、減肉の平面形状や深さ等の形状情報や、磁界センサと減肉との距離(以下、「スタンドオフ」という。)によって減肉パターンが変化するためである。そのため、様々な減肉形状やスタンドオフごとの減肉パターンを予め用意しておく必要がある。ただし、減肉の形状は多種多様であるため、膨大な数の減肉パターンが必要になり現実的でない。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、減肉の形状情報を容易に推定可能な減肉検出装置、減肉検出システム、減肉検出方法及びプログラムを提供することである。
本発明の一態様は、複数の磁界センサを備えた磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出装置であって、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する磁気双極子密度分布算出部と、前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する減肉分布算出部と、を備える減肉検出装置である。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁気双極子密度分布算出部は、前記所定領域における着磁量を格納する磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部と、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と、前記着磁量から算出された各前記磁界センサの位置における磁束密度の推定値と、に基づいて、前記所定領域における磁気双極子の密度分布を演算する磁気双極子密度分布演算部と、を備える。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、減肉分布算出部は、前記磁気双極子の密度分布と、前記着磁量に応じて設定される係数と、に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁気双極子密度分布演算部は、前記磁気双極子の密度分布が正の値であることを拘束条件として、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と前記推定値との差が最小となるように最適化問題を求解することで前記磁気双極子の密度分布を算出する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁気双極子密度分布演算部は、前記磁気双極子の密度分布を空間的に離散化させることで、前記最適化問題を二次計画問題として求解する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁気双極子密度分布演算部は、前記所定領域の長手方向と前記長手方向と直行する方向との三次元方向のそれぞれの方向における前記磁気双極子の密度分布を算出し、前記算出した前記三次元方向の磁気双極子の密度分布を平均化した値を前記所定領域における磁気双極子の密度分布とする。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁気双極子密度分布演算部は、前記最適化問題に正則化項を付加し、前記正則化項を付加した最適化問題を求解する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁気双極子密度分布演算部は、前記最適化問題を主成分分析により低次元化し、前記低次元化した最適化問題を求解する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて、前記金属設備の所定領域における着磁方向を演算する着磁方向演算部をさらに有し、前記磁気双極子密度分布算出部は、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と、前記着磁方向演算部により演算された前記着磁方向とに基づいて、前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記着磁方向演算部は、前記磁界センサアレイが計測した磁界分布のうち、前記所定領域の法線方向磁界分布を、前記法線方向に対して垂直方向の各方向において直線上に積分し、前記直線上に積分した積分値に基づいて前記着磁方向を演算する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置であって、前記着磁方向演算部は、前記各方向ごとに、前記法線方向の磁界分布を、前記垂直方向に平行で且つ異なる複数の直線上においてそれぞれ積分することで前記積分値の一次元の配列データを取得し、前記各方向の前記配列データのうち、前記配列データの二乗和が最小となる前記配列データの方向を前記着磁方向に決定する。
本発明の一態様は、上述の減肉検出装置と、前記磁界センサアレイと、を備える減肉検出システムである。
本発明の一態様は、上述の減肉検出システムであって、各前記磁界センサの位置と、前記所定領域の表面との間において、前記表面の法線方向の距離が一定である。
本発明の一態様は、磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出方法であって、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出するステップと、前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出するステップと、を含む減肉検出方法である。
本発明の一態様は、複数の磁界センサを備えた磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出方法であって、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて、前記金属設備の所定領域における着磁方向を演算するステップと、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と、前記着磁方向とに基づいて、前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出するステップと、前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出するステップと、を含む減肉検出方法である。
本発明の一態様は、コンピュータを、上述の減肉検出装置として機能させるためのプログラムである。
以上説明したように、本発明によれば、減肉の形状情報を容易に推定できる。
第1の実施形態に係る減肉検出装置システム1の概略構成の一例を示す図である。 第1の実施形態に係る磁界センサアレイ21の取り付け位置を示す図である。 第1の実施形態に係る磁気双極子の密度分布から減肉分布を算出する方法を説明する図である。 第1の実施形態に係る磁気双極子の密度分布の概略図である。 第1の実施形態に係る計測管理装置5の概略構成の一例を示す図である。 第1の実施形態に係る減肉検出装置システム1のシーケンス図である。 第2の実施形態に係る減肉検出装置システム1Aの概略構成の一例を示す図である。 第2の実施形態に係る計測管理装置5Aの概略構成の一例を示す図である。 第2の実施形態に係る金属配管の着磁方向がxy平面に平行な方向であると近似した場合における、z方向の磁界分布を示す図である。 第2の実施形態に係る計測管理装置5Aにおける着磁方向の算出方法の流れを示す図である。 第2の実施形態に係る監視領域100におけるz方向の磁界分布を示す図である。 第2の実施形態に係る高解像度化された磁界分布のデータを示す図である。 第2の実施形態に係る着磁方向演算部610のz軸方向の磁界分布を積分する方法を説明する図である。 第2の実施形態に係る角度θ(1°,2°,…180°)ごとに計算した一次元の配列データの二乗和のグラフである。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。なお、図面において、同一又は類似の部分には同一の符号を付して、重複する説明を省く場合がある。また、図面における要素の形状及び大きさなどはより明確な説明のために誇張されることがある。
明細書の全体において、ある部分がある構成要素を「含む」、「有する」や「備える」とする時、これは、特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くものではなく、他の構成要素をさらに含むことができるということを意味する。
本発明の一実施形態に係る減肉検出装置は、複数の磁界センサが計測した、金属設備の所定領域における静磁界の磁界分布を用いて、その所定領域の減肉を検出する。これにより、パターンマッチングを用いずに、金属設備の所定領域における減肉の形状を容易に推定可能とする。
(第1の実施形態)
以下、第1の実施形態に係る減肉検出装置を備えた減肉検出装置システム1を、図面を用いて説明する。
図1は、第1の実施形態に係る減肉検出装置システム1の概略構成の一例を示す図である。図1に示すように、減肉検出装置システム1は、磁界計測装置2、通信ネットワーク3、無線センサネットワークゲートウェイ4及び計測管理装置5を備える。なお、計測管理装置5は、減肉検出装置の一例であってよい。
磁界計測装置2は、通信ネットワーク3を介して計測管理装置5に情報を送信する。本実施形態では、減肉検出装置システム1は、通信ネットワーク3と計測管理装置5との中継を行なう無線センサネットワークゲートウェイ4を備えるが、これに限定されない。すなわち、無線センサネットワークゲートウェイ4を省略してもよい。
通信ネットワーク3は、無線通信の伝送路であってもよく、無線通信の伝送路及び有線通信の伝送路の組み合わせであってもよい。通信ネットワーク3は、携帯電話回線網などの移動体通信網、無線パケット通信網、インターネット及び専用回線又はそれらの組み合わせであってもよい。
磁界計測装置2は、金属設備の所定領域における静磁界の磁界分布を計測する。そして、磁界計測装置2は、計測した金属設備における所定領域の磁界分布を、通信ネットワーク3を介して計測管理装置5に送信する。この金属設備は、強磁性体材料であればよく、例えば、石油・石油化学のプラントに敷設された金属製の配管(以下、「金属配管」という。)や、タンク、鉄筋等である。本実施形態では、金属設備は、強磁性体材料で作成された金属配管である場合について説明する。
以下に、第1の実施形態に係る磁界計測装置2の概略構成の一例を説明する。
図1に示すように、磁界計測装置2は、磁界センサアレイ21、磁界測定部22及び無線通信部23を備える。
磁界センサアレイ21は、複数の磁界センサ212(磁界センサ212−1,212−2,…212−N(Nは整数))を備える。図2は、第1の実施形態に係る磁界センサアレイ21の取り付け位置を示す図である。
複数の磁界センサ212は、それぞれ磁界密度を計測する。したがって、図2に示すように、金属設備の所定領域(以下、「監視領域」という。)100において、減肉が発生しているか否かを監視する場合には、その監視領域100の表面に複数の磁界センサ212を取り付ける。これにより、複数の磁界センサ212が配列して構成されている磁界センサアレイ21は、監視領域100における静磁界の磁界密度分布(以下、「磁界分布」という。)を計測することができる。なお、本実施形態では、各磁界センサ212が監視領域100の表面に接して配置されてもよい。また、各磁界センサ212は、監視領域100の表面との距離が一定の距離sになるように配置されてもよい。複数の磁界センサ212は、それぞれが計測した磁界密度を磁界測定部22に出力する。なお、図2に示すx軸方向を金属配管の長手方向、y軸方向を金属配管の周方向(又は短手方向)、z軸方向を金属配管表面の法線方向と称する場合がある。
図1に戻り、磁界測定部22は、磁界分布取得部221及び磁界分布格納部222を備える。
磁界分布取得部221は、複数の磁界センサ212のそれぞれにより計測された磁界密度を取得する。すなわち、磁界分布取得部221は、磁界センサアレイ21が計測した監視領域100における磁界分布を取得する。そして、磁界分布取得部221は、複数の磁界センサ212のそれぞれが計測した磁界密度を磁界分布格納部222に格納する。
無線通信部23は、通信ネットワーク3を介して計測管理装置5と無線通信する。
計測管理装置5は、磁界センサアレイ21により計測された磁界分布に基づいて、監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。そして、計測管理装置5は、算出した磁気双極子の密度分布に基づいて、監視領域100における減肉分布を算出する。図3は、第1の実施形態に係る磁気双極子の密度分布から減肉分布を算出する方法を説明する図である。また、図4は、第1の実施形態に係る磁気双極子の密度分布の概略図である。
上述の磁気双極子とは、微小な正負の磁極の対のことであり、換言すれば、微小な磁石である。したがって、図4に示すように、着磁した(すなわち、残留磁界を持つ)金属配管は、内部に一様な磁気双極子を有するとみなすことができる。なお、本実施形態では、磁気双極子の密度は、金属配管のいたるところで一様に分布していると仮定する。この仮定において、金属配管に減肉が生じていない場合には、その金属配管の磁気双極子の密度分布は一様である。しかしながら、減肉によって金属配管が失われた部分には、磁気双極子が存在しない。また、減肉が発生し金属配管の肉厚が薄くなった部分は、磁気双極子の密度が低くなる。ここで、上述したように、磁気双極子が金属配管のいたるところで一様に分布していると仮定しているため、磁気双極子の密度と金属配管の肉厚とは比例すると考えられる。そのため、磁気双極子の密度を算出できれば、減肉の厚さの分布を示す減肉分布を算出できることになる。なお、この磁気双極子は、ループ状に流れる渦電流とみなすことができる。すなわち、磁気双極子の密度分布は、ループ状に流れる渦電流の密度分布であるとみなすことができる。
以下、第1の実施形態に係る計測管理装置5の概略構成の一例を説明する。
図5は、第1の実施形態に係る計測管理装置5の概略構成の一例を示す図である。
計測管理装置5は、無線通信部51、磁気双極子密度分布算出部52及び減肉分布算出部53を備える。
無線通信部51は、無線センサネットワークゲートウェイ4及び通信ネットワーク3を介して無線通信部23と無線通信する。
図5に示すように、磁気双極子密度分布算出部52は、磁気双極子密度分布演算部521、磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部522及び磁気双極子密度分布格納部523を備える。
磁気双極子密度分布演算部521は、磁界分布格納部222に格納されている、各磁界センサ212が計測した磁界密度を、無線通信部51を介して取得する。そして、磁気双極子密度分布演算部521は、各磁界センサ212が計測した磁界密度、すなわち監視領域100の磁界分布に基づいて、その監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。なお、磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部522には、磁気双極子密度分布演算部521が監視領域100の磁界分布に基づいて磁気双極子の密度分布を算出するために必要な第1のパラメータが予め格納されている。したがって、磁気双極子密度分布演算部521は、この第1のパラメータを用いて、監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。磁気双極子密度分布演算部521は、算出した監視領域100における磁気双極子の密度分布を、磁気双極子密度分布格納部523に格納する。
次に、減肉分布算出部53は、減肉分布演算部531、減肉分布演算パラメータ格納部532及び減肉分布格納部533を備える。
減肉分布演算部531は、磁気双極子密度分布格納部523に格納されている磁気双極子の密度分布を取得する。そして、減肉分布演算部531は、取得した磁気双極子の密度分布に基づいて、その監視領域100における減肉分布を算出する。なお、減肉分布演算パラメータ格納部532には、減肉分布演算部531が監視領域100の磁気双極子の密度分布に基づいて減肉分布を算出するために必要な第2のパラメータが予め格納されている。したがって、減肉分布演算部531は、この第2のパラメータを用いて、監視領域100における減肉分布を算出する。この減肉分布は、減肉のz軸方向、すなわち減肉の深さの分布であって、その分布の広がりは減肉の表面形状を示す。したがって、減肉分布演算部531は、監視領域100における減肉分布を算出することで、減肉の深さ及び表面形状などの形状情報を容易に推定することができる。
例えば、減肉分布演算部531は、減肉分布をτ(x,y)とし、磁気双極子の密度分布をω(x,y)とおけば、以下に示す式により、減肉分布τ(x,y)を算出することができる。
なお、係数αは、金属設備における監視領域100の着磁量等によって定まる定数であり、第2のパラメータとして減肉分布格納部533に格納されている。減肉分布演算部531は、算出した監視領域100における減肉分布を、減肉分布格納部533に格納する。
(磁気双極子の密度分布の算出方法)
以下に、磁気双極子密度分布演算部521における磁気双極子の密度分布の算出方法について、具体的に説明する。
本実施形態では、磁界センサアレイ21の磁界センサ212の総数をN個とし、添字kを各磁界センサ212のラベルとする。なお、添え字kは以下のように表される。
また、ラベルkの磁界センサ212の座標を(x,y,s)とおく。この値sは、上述したように、各磁界センサ212から金属設備の表面までのz方向の距離であり、すべての磁界センサ212で共通の値である。ラベルkの磁界センサ212が計測した磁束密度を磁束密度bとすると、磁束密度bは、以下の式で表される。
また、監視領域100における着磁量(磁気双極子のモーメント)を着磁量Mとすると、着磁量Mは以下の式で表される。
なお、この着磁量Mは、監視領域100において一様であるとする。この場合において、磁気双極子密度分布演算部521は、磁気双極子の密度分布ω(p,q)が正の値であることを拘束条件として、以下に示す式に示す最適化問題を求解することで、磁気双極子の密度分布ω(x,y)を求めることができる。
なお、本実施形態では、pがxに対応し、qがyに対応する。また、Rは実数集合であることを示す。また、b は、ラベルk、すなわちk番目の磁界センサ212が計測した、x軸方向の磁束密度であることを示す。
ここで、原点に存在する磁気双極子が位置(x,y,s)に作るx軸方向の磁束密度φ (x,y)は、以下の式で表される。
なお、式(6)に示すように、「φ (x,y)」の下付き添え字「s」は、本来、上付き添え字「x」の真下に記載すべきものであるが、表記の制約上、明細書中で「φ (x,y)」と記載する場合がある。その他の同様な添え字についても同様な記載をする場合がある。
これにより、磁気双極子の密度分布ω(x,y)を持つ金属設備が位置(x,y,s)に作る磁束密度b(x,y,z)は、以下に示す式となる。
したがって、式(5)は以下に示す式に変換することができる。
このように、磁気双極子密度分布演算部521は、磁気双極子の密度分布が正の値であることを拘束条件として、各磁界センサ212により計測された磁束密度(磁界分布)と、監視領域100の着磁量から算出された、各磁界センサ212の位置における磁束密度の推定値との差が最適となるように最適化問題Pxを求解することで、磁気双極子の密度分布ωを算出する。
また、磁気双極子密度分布演算部521は、磁気双極子の密度分布ωを空間的に離散化することで、式(5)の最適化問題Pxを一般的な二次計画問題に帰着させてもよい。例えば、二次計画問題に帰着させた最適化問題P’xは、以下の式で表される。
ここで、ω(i,j)は、関数ωが離散化された値であって、以下の式で表される。
そして、ω’は、ω(i,j)をベクトル化した値であって、以下の式で表される。
また、Φ は、磁束密度φ (x−p,y−q)ΔpΔqを行列化した値であって、以下の式で表される。
また、b’は、磁束密度b をベクトル化した値であって、以下の式で表される。
これにより、磁気双極子密度分布演算部521は、二次計画問題に帰着させた最適化問題P’x(式(9))を、例えば、主双対内点法(Primal-dual interior point method)で求解することで、磁気双極子の密度分布を算出することができる。
なお、上述の実施形態において、磁気双極子密度分布演算部521は、磁界センサ212により計測された磁束密度のうち、x軸方向の磁束密度b のみを使用したが、これに限定されず、y軸方向,z軸方向の磁束密度b ,b を用いて、磁気双極子の密度分布を算出してもよい。これにより、磁気双極子密度分布演算部521は、より精度良く磁気双極子の密度分布を算出することができる。その場合には、磁束密度φ (x,y)の代わりにそれぞれ以下に示す磁束密度φ (x,y),φ (x,y)を用いる。
また、上述の実施形態において、磁気双極子密度分布演算部521は、x軸,y軸,z軸方向それぞれの磁束密度を用いて算出した、x軸,y軸,z軸方向それぞれの減肉分布を、平均化処理によって合成してもよい。これにより、磁気双極子密度分布演算部521は、より精度の高い減肉分布を算出することができる。すなわち、磁気双極子密度分布演算部521は、式(5)の最適化問題Px及び以下に示す最適化問題Py,Pzを求解することで、x軸,y軸,z軸方向、すなわち所定領域の長手方向とその長手方向と直行する方向との三次元方向の磁極双極子の密度分布ω,ω,ωを算出する。
そして、磁気双極子密度分布演算部521は、監視領域100における磁気双極子の密度分布をωとし、そのωを以下の式に示す磁極双極子の密度分布ω,ω,ωの平均値とする。
また、上述の実施形態において、磁気双極子密度分布演算部521は、二次計画問題に帰着させた最適化問題P’x(式(9))に対して、L正則化項やL正則化項を適切に与えることで、磁気双極子の密度分布を、より精度良く算出することができる。例えば、以下の式に示すように、磁気双極子密度分布演算部521は、式(9)にL正則化項を付加した最適化問題P’’を求解することで、磁気双極子の密度分布ωを算出する。
ただし、||・||は通常のLノルムであり、||・||がLノルムである。また、λ∈Rは、正則化項の重み係数である。正則化項がLノルムならば、磁気双極子密度分布演算部521は、正則化項がない場合と同じく主双対内点法で最適化問題P’’xを求解することができる。ただし、正則化項がLノルムの場合には、目的関数が二次形式にならないため、磁気双極子密度分布演算部521は、主双対内点法では最適化問題P’’xを求解することができない。したがって、磁気双極子密度分布演算部521は、逐次二次計画法(Sequential quadratic programming)等の非線形計画問題の数値解法を用いて、最適化問題P’’xを求解する必要がある。
また、上述の実施形態において、磁気双極子密度分布演算部521は、最適化問題P’やP’’xを主成分分析により低次元化することで、計算結果の劣化を最小限に抑えつつ、高速に減肉分布を求めることができる。以下に、最適化問題P’’xを主成分分析により低次元化する方法について、説明する。
例えば、行列Φ をΦ、ベクトルb’をb、ベクトルω’をωとおき、行列Φの次元をm×nとおく。また、行列ΦΦのi番目に大きい固有値をλ、固有値λに対応する固有ベクトルをGとおく。ただし、iは1以上であってm以下である(1≦i≦m)。また、固有ベクトルGを、iが1以上であってk以下の範囲(1≦i≦k)の範囲で列方向に並べた行列を行列Cとおく。すなわち、行列Cは、以下の式で表される。なお、行列ΦΦの固有値は非負である。
ただし、kは以下の関係式を満たすように決定する必要がある。
この関係式の左辺は、固有値λ,…,λの寄与率と称される値であり、右辺は0以上1以下の範囲で任意に設定可能である。この寄与率は、次元の削減量と計算結果の劣化度合いとのトレードオフを制御するためのパラメータである。この関係式の右辺をより大きな値にすれば、計算結果の劣化は防止できるが低次元化の効果が小さくなる。一方、この関係式の右辺をより小さな値にすれば、低次元化の効果は大きくなるが計算結果の劣化も大きくなる。この行列Cを用いて、最適化問題P’’xを主成分分析により低次元化すると、以下に示す最適化問題P’’’xに変換することができる。
これにより、磁気双極子密度分布演算部521は、最適化問題P’’’xを求解することで、高速に磁気双極子の密度分布を算出することができる。なお、上述の最適化問題を求解して磁気双極子の密度分布を算出する場合に必要なパラメータ、例えば、単一の磁気双極子が生じる磁界の分布関数φ 、最適化問題の正則化関数、最適化問題の正則化項の重み係数、着磁量M等は、第1パラメータとして磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部522に格納されている。
次に、減肉検出装置システム1における減肉分布の算出方法の流れについて説明する。図6は、第1の実施形態に係る減肉検出装置システム1のシーケンス図である。
磁界センサアレイ21は、金属設備の所定領域における磁界分布を測定する(ステップS101)。磁界分布取得部221は、磁界センサアレイ21が計測した監視領域100における磁界分布を取得する。そして、磁界分布取得部221は、複数の磁界センサ212のそれぞれが計測した磁界密度を磁界分布格納部222に格納する(ステップS102)。
磁気双極子密度分布演算部521は、磁界分布格納部222に格納されている、監視領域100における磁界分布を、無線通信部51を介して取得する(ステップS103)。磁気双極子密度分布演算部521は、磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部522から第1のパラメータを読み込む(ステップS104)。
磁気双極子密度分布演算部521は、最適化問題の低次元化のための行列Cを算出する(ステップS105)。そして、磁気双極子密度分布演算部521は、x軸方向の磁界分布に対する最適化問題P’’’xを逐次二次計画法で求解することで、磁気双極子の密度分布ωを算出する。磁気双極子密度分布演算部521は、y軸方向の磁界分布に対する最適化問題P’’’yを逐次二次計画法で求解することで、磁気双極子の密度分布ωを算出する。磁気双極子密度分布演算部521は、z軸方向の磁界分布に対する最適化問題P’’’zを逐次二次計画法で求解することで、磁気双極子の密度分布ωを算出する(ステップS106)。
磁気双極子密度分布演算部521は、算出した磁極双極子の密度分布ω,ω,ωを平均化することで、監視領域100における磁気双極子の密度分布ωを算出する(ステップS107)。磁気双極子密度分布演算部521は、算出した磁気双極子の密度分布ωを、磁気双極子密度分布格納部523に格納する。
減肉分布演算部531は、磁気双極子密度分布格納部523に格納されている磁気双極子の密度分布ωを取得する。減肉分布演算部531は、減肉分布演算パラメータ格納部532から第2のパラメータとして係数αを読み込む(ステップS108)。減肉分布演算部531は、磁気双極子の密度分布ωに係数αを乗算することで、監視領域100における減肉分布τ(x,y)を算出する(ステップS109)。そして、減肉分布演算部531は、算出した減肉分布τ(x,y)を、減肉分布格納部533に格納する(ステップS110)。
上述したように、第1の実施形態に係る計測管理装置5(減肉検出装置)は、各磁界センサ212(磁界センサアレイ21)が計測した磁界分布に基づいて、監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。そして、計測管理装置5は、その算出した磁気双極子の密度分布に基づいて、監視領域100における減肉分布を算出する。これにより、計測管理装置5は、パターンマッチングを用いずに、金属設備の監視領域100における減肉の形状情報を容易に推定することができる。
磁気双極子密度分布演算部521に与える磁界分布を、測定した磁界分布と、金属設備が減肉する前に測定した磁界分布(以下、「リファレンス磁界」という。)の差分で置き換えてもよい。測定した磁界分布には、減肉からの信号の他に、地磁気や他の金属設備からの磁界など、様々な外部磁界が含まれている場合があり、これらの外部磁界が磁気双極子密度分布の演算に悪影響を与える場合がある。磁気双極子密度分布演算部521に与える磁界分布を、測定磁界とリファレンス磁界の差分に置き換えることで、上述の外部磁界の影響を低減し、その外部磁界による悪影響を抑制することができる。
上述のリファレンス磁界は、測定した磁界から近似的に作成することも可能である。例えば、減肉からの信号は空間的に高い周波数を持つ信号であるのに対し、外部磁界は空間的に低い周波数を持つ信号で構成されている。これに着目すれば、測定した磁界にローパスフィルタあるいはローパスフィルタと同等の機能を有するフィルタを適用することで、リファレンス磁界を近似的に作成することができる。ローパスフィルタあるいはローパスフィルタと同等の機能を有するフィルタとしては、2次元FFTやカーネル回帰などが挙げられる。カーネル回帰は、カーネル関数に高い分散値を持つガウス関数を採用することで、ローパスフィルタと同等の効果を持たせることができる。
(第2の実施形態)
以下、第2の実施形態に係る減肉検出装置を備えた減肉検出装置システム1Aを、図面を用いて説明する。
ここで、第1の実施形態では、金属設備の着磁方向が既知であることを前提条件として、金属設備の減肉を算出する方法を説明したが、第2の実施形態では、測定した磁界分布から金属設備の着磁方向を算出する方法について具体的に説明する。すなわち、第2の実施形態に係る減肉検出装置は、測定した磁界分布から金属設備の着磁方向を算出し、その算出した金属設備における着磁方向を用いて、磁気双極子の密度分布から金属設備の減肉を算出する。
図7は、第2の実施形態に係る減肉検出装置システム1Aの概略構成の一例を示す図である。図7に示すように、減肉検出装置システム1Aは、磁界計測装置2、通信ネットワーク3、無線センサネットワークゲートウェイ4及び計測管理装置5Aを備える。なお、計測管理装置5Aは、減肉検出装置の一例であってよい。
図8は、第2の実施形態に係る計測管理装置5Aの概略構成の一例を示す図である。
計測管理装置5Aは、無線通信部51、磁気双極子密度分布算出部52A及び減肉分布算出部53を備える。
図8に示すように、磁気双極子密度分布算出部52Aは、着磁方向演算部610、着磁方向格納部611、磁気双極子密度分布演算部521、磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部522及び磁気双極子密度分布格納部523を備える。
着磁方向演算部610は、磁界分布格納部222に格納されている、監視領域100における磁界分布を、無線通信部51を介して取得する。
着磁方向演算部610は、取得した監視領域100における磁界分布に基づいて、監視領域100における着磁方向を演算する。ここで、着磁方向とは、監視領域100における磁気双極子の向きである。すなわち、着磁方向演算部610は、取得した監視領域100における磁界分布に基づいて、監視領域100における磁気双極子の向きを演算する。
例えば、着磁方向演算部610は、監視領域100における磁界分布において法線方向であるz方向の磁界分布を、そのz方向に対して垂直方向の各方向において直線上に積分する。そして、着磁方向演算部610は、直線上に積分した積分値に基づいて、監視領域100における着磁方向を演算する。着磁方向演算部610は、演算した着磁方向を着磁方向格納部611に格納する。
磁気双極子密度分布演算部521は、磁界センサアレイが計測した磁界分布と、着磁方向演算部610により演算された着磁方向とに基づいて、監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。具体的には、磁気双極子密度分布演算部521は、磁界分布格納部222に格納されている、各磁界センサ212が計測した磁界密度を、無線通信部51を介して取得する。また、磁気双極子密度分布演算部521は、磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部522から第1のパラメータを読み込む。また、磁気双極子密度分布演算部521は、着磁方向格納部611に格納されている、監視領域100における着磁方向を取得する。そして、磁気双極子密度分布演算部521は、監視領域100における磁界分布、第1のパラメータ及び監視領域100における着磁方向に基づいて、監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。
なお、監視領域100における磁気双極子の密度分布の算出方法は、第1の実施形態と同様であるため、省略する。以下に、着磁方向演算部610における監視領域100の着磁方向の算出方法について、具体的に説明する。
(着磁方向の算出原理)
本発明では、図4に示すように、着磁した金属配管を、内部に一様な磁気双極子の集合体とみなしている。そして、第2の実施形態に係る着磁方向演算部610は、この一様な分布した磁気双極子の向き、すなわち着磁方向を算出する。
ここで、金属板の着磁方向は、x軸、y軸及びz軸の3つの方向が考えられる。ただし、一般的に、金属板は、距離が短い方向には着磁しにくい性質を持つ。したがって、金属板の法線方向であるz軸方向には、ほとんど着磁しない。そのため、第2の実施形態では、金属配管の着磁方向は、xy平面に平行な方向であると近似することができる。図9は、金属配管の着磁方向がxy平面に平行な方向であると近似した場合における、z方向の磁界分布を示す図である。図9に示すように、磁気双極子は、正負の磁極の対であるため、z軸方向から見ると正の領域と負の領域との2つの磁界分布の領域が現れる。そして、図9において、正の領域と負の領域とを結ぶ方向である方向200が磁気双極子の向き、すなわち着磁方向となる。この場合において、着磁方向200と平行な方向であれば、どの方向であっても直線上に磁界分布を積分した積分値は0になる。例えば、直線201,202,203の各々が方向200に平行である場合には、直線201,直線202,直線203のそれぞれにおいて、z方向の磁界分布を積分しても、その積分値はすべて0になる。
具体的には、磁気双極子の向き(すなわち着磁の向き)MがM=(M,0,0)の場合、すなわちMがx軸と平行の場合において、単一の磁気双極子が生じるz方向の磁束密度分布φ (x,y)は、以下に示す式で表される。
ここで、式(23)のy軸の対称性より、任意のy∈Rに対して、以下の式が成り立つ。
式(23)をx軸方向に直線上に積分すると、その積分値はy座標によらず常に0なる。同様に、磁気双極子の向きMがM=(Mcosθ,Msinθ,0)の場合、すなわちMとx軸のなす角がθ[rad]の場合、単一の磁気双極子が生じるz方向の磁束密度分布(磁界分布)をθ方向に直線上に積分すると、その積分値は直線の位置によらず常に0になる。したがって、磁気双極子におけるz軸方向の磁束密度分布を、磁気双極子の向きに対して平行且つ直線上に積分すれば、その積分値は直線の位置によらず常に0になる。
以上は、すべての単一の磁気双極子について成り立つ原理であるが、上述の原理は、任意の磁気双極子の重ね合わせに対して、すなわち任意の減肉形状に対しても成立する。なぜならば、複数の磁気双極子が生じる磁束密度分布は、単一の磁気双極子が生じる磁束密度分布を足し合わせることで得ることができるためである。すなわち、複数の磁気双極子が生じる磁束密度分布に対してθ方向に直線上に積分することは、単一の磁気双極子が生じる磁束密度分布に対してθ方向に直線上に積分した結果をすべての磁気双極子に対して加算することと等価であるからである。よって、着磁方向に対して平行且つ直線上で積分した結果が常に0になるという性質は、任意の減肉に対して成立する。
上述したように、磁界センサアレイ21が計測したz方向の磁界分布を各方向において直線上に積分した場合において、その積分値が0になった方向が、監視領域100における着磁方向となる。したがって、着磁方向演算部610は、磁界センサアレイ21が計測した磁界分布において、z方向の磁界分布のみを用いて、監視領域100における着磁方向を算出する。
(着磁方向の算出方法)
以下、第2の実施形態に係る監視領域100における着磁方向の算出方法について、図を用いて説明する。図10は、第2の実施形態に係る計測管理装置5Aにおける着磁方向の算出方法の流れを示す図である。図11は、第2の実施形態に係る監視領域100におけるz方向の磁界分布を示す図である。
着磁方向演算部610は、磁界分布格納部222に格納されている、監視領域100における磁界分布(図11(a))を、無線通信部51を介して取得する(ステップS201)。着磁方向演算部610は、磁界分布格納部222から取得した磁界分布(図11(a))を、例えば、バイキュービック補完することで、高解像度化された磁界分布(図11(b)を取得する(ステップS202)。なお、本実施形態において、磁界分布格納部222から取得した磁界分布を高解像度化する方法は、バイキュービック補完に限定されず、高解像度化できる方法であれば、種々の方法を適用できる。
着磁方向演算部610は、高解像度化された磁界分布のデータにおいて、図12(a)の丸部300で指定した領域を角度θ回転させる(ステップS203)。なお、本実施形態では一例として、角度θの初期値を1°とするが、これに限定されない。また、回転させる領域を、丸部300で指定した領域としたが、丸部に限定されず、種々の形状を取り得ることができる。
また、着磁方向演算部610は、高解像度化された磁界分布のデータにおいて、丸部300で指定した領域外である斜線部領域301の磁界分布の値をすべて0にする(ステップS204)。図12(b)は、図12(a)に示す高解像度化された磁界分布のデータを角度θ回転させ、且つ丸部300で指定した領域外である斜線部領域301を0にしたデータを示す図である。なお、図12(b)は、説明の便宜上、図12(a)に示す高解像度化された磁界分布のデータを角度θ=45°回転させ、且つ丸部300で指定した領域外である斜線部領域301を0にしたデータを示す図である。
着磁方向演算部610は、図12(b)に示す磁界分布のデータを、x軸方向に積分する。例えば、x軸方向に積分する直線の位置において、各直線のy軸の位置は、所定間隔ごとの値である。このように、着磁方向演算部610は、図12(b)に示す磁界分布のデータを、x軸方向に積分することで、その積分値の一次元の配列データを取得する(ステップS205)。このように、着磁方向演算部610は、図12(b)に示す磁界分布のデータを、x軸方向に平行であって且つy軸方向の値が異なる複数の直線に沿って、それぞれ積分することで、z軸方向の磁界分布に対してx軸方向に積分した積分値の一次元の配列データを取得する(図13)。
着磁方向演算部610は、取得した一次元の配列データの二乗和を計算する(ステップS206)。着磁方向演算部610は、計算した二乗和と、角度θとを対応づけて記憶する。
着磁方向演算部610は、角度θが180°以上であるか否かを判定する(ステップS207)。着磁方向演算部610は、角度θが180°以上でないと判定した場合には、角度θに1°加算し(ステップS208)、ステップS203の処理に移行する。なお、本実施形態のステップS208では、角度θに1°を加算する処理であるが、本発明はこれに限定されない。例えば、ステップS208において、角度θに2°を加算してもよい。すなわち、角度θに加算する値は、任意の値に設定可能である。
このように、本実施形態では、着磁方向演算部610は、角度θを1°回転するごとに、一次元の配列データの二乗和を計算する。すなわち、着磁方向演算部610は、角度θ=1°,2°,…180°ごとに一次元の配列データの二乗和を計算し、その二乗和を角度θに対応させて記憶する。図14は、第2の実施形態に係る角度θ(1°,2°,…180°)ごとに計算した一次元の配列データの二乗和のグラフである。
着磁方向演算部610は、角度θが180°以上であると判定した場合には、角度θごとに一次元の配列データの二乗和のうち、その二乗和が最小となる角度θを、監視領域100における着磁方向とする(ステップS209)。そして、着磁方向演算部610は、決定した監視領域100における着磁方向を、着磁方向格納部611に格納する。
上述したように、第2の実施形態に係る計測管理装置5A(減肉検出装置)は各磁界センサ212(磁界センサアレイ21)が計測した磁界分布に基づいて、監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する。また、計測管理装置5Aは、各磁界センサ212が計測した磁界分布に基づいて、監視領域100における着磁方向を演算する。そして、計測管理装置5Aは、その算出した磁気双極子の密度分布と、着磁方向とに基づいて、監視領域100における減肉分布を算出する。これにより、計測管理装置5は、パターンマッチングを用いずに、金属設備の監視領域100における減肉の形状情報を容易に推定することができる。
また、上述の計測管理装置5Aの着磁方向演算部610は、法線方向の磁界分布を、法線方向に対して垂直方向の各方向において直線上に積分し、その直線上に積分した積分値に基づいて着磁方向を演算する。
例えば、着磁方向演算部610は、法線方向の磁界分布を、その法線方向に対して垂直方向であって異なる複数の直線ごとに積分することで、その積分値の一次元の配列データを各垂直方向において取得する。そして、着磁方向演算部610は、その各垂直方向の一次元の配列データのうち、二乗和が最小となる一次元の配列データの方向を、監視領域100における着磁方向に決定する。
なお、磁気双極子密度分布算出部52Aは、着磁方向演算部610を備えて構成されてもよいし、着磁方向演算部610を備えずに構成されてもよい。すなわち、計測管理装置5Aが、監視領域100における着磁方向を演算する機能と、磁界センサアレイ21が計測した前記磁界分布と、演算した着磁方向とに基づいて、所定領域である監視領域100における磁気双極子の密度分布を算出する機能と、磁気双極子の密度分布に基づいて監視領域100における減肉分布を算出する機能とを備えていればよい。
上述した実施形態における計測管理装置5,5Aをコンピュータで実現するようにしてもよい。その場合、この機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現してもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでもよい。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであってもよく、FPGA(Field Programmable Gate Array)等のプログラマブルロジックデバイスを用いて実現されるものであってもよい。
また、コンピュータはCPU、ROM、RAM、EEPROM(登録商標)等の各種メモリ、通信バス及びインタフェースを有し、予めファームウェアとしてROMに格納された処理プログラムをCPUが読み出して順次実行することで、計測管理装置5として機能してもよい。
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
特許請求の範囲、明細書、及び図面中において示した装置、システム、プログラム、及び方法における動作、手順、ステップ、及び段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、及び図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
1 減肉検出装置システム
2 磁界計測装置
3 通信ネットワーク
4 無線センサネットワークゲートウェイ
5 計測管理装置(減肉検出装置)
21 磁界センサアレイ
22 磁界測定部
23,51 無線通信部
52 磁気双極子密度分布算出部
53 減肉分布算出部
221 磁界分布取得部
222 磁界分布格納部
521 磁気双極子密度分布演算部
522 磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部
523 磁気双極子密度分布格納部
531 減肉分布演算部
532 減肉分布演算パラメータ格納部
533 減肉分布格納部

Claims (16)

  1. 複数の磁界センサを備えた磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出装置であって、
    前記複数の磁界センサの各々は、第1方向の磁束密度と、前記第1方向とは交差した第2方向の磁束密度と、前記第1方向および前記第2方向とは交差した第3方向の磁束密度とを計測し、
    前記減肉検出装置は、
    前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する磁気双極子密度分布算出部と、
    前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する減肉分布算出部と、
    を備え
    前記磁気双極子密度分布算出部は、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第1方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量とに基づいて前記所定領域における前記第1方向の磁気双極子の密度分布を算出し、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第2方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量とに基づいて前記所定領域における前記第2方向の磁気双極子の密度分布を算出し、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第3方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量とに基づいて前記所定領域における前記第3方向の磁気双極子の密度分布を算出し、
    前記減肉分布算出部は、前記第1方向の磁気双極子の密度分布、前記第2方向の磁気双極子の密度分布、および前記第3方向の磁気双極子の密度分布が平均化されることで得られた第1情報、または前記第1方向の磁気双極子の密度分布、前記第2方向の磁気双極子の密度分布、および前記第3方向の磁気双極子の密度分布を示す第2情報に基づき、前記所定領域における減肉分布を算出する、
    減肉検出装置。
  2. 前記磁気双極子密度分布算出部は、
    前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量を格納する磁気双極子密度分布演算パラメータ格納部と、
    磁気双極子密度分布演算部と、
    を備え
    前記磁気双極子密度分布演算部は、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第1方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量から算出された前記複数の磁界センサの各々の位置における前記第1方向の磁束密度の推定値と、に基づいて、前記所定領域における前記第1方向の磁気双極子の密度分布を演算し、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第2方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量から算出された前記複数の磁界センサの各々の位置における前記第2方向の磁束密度の推定値と、に基づいて、前記所定領域における前記第2方向の磁気双極子の密度分布を演算し、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第3方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量から算出された前記複数の磁界センサの各々の位置における前記第3方向の磁束密度の推定値と、に基づいて、前記所定領域における前記第3方向の磁気双極子の密度分布を演算する、
    求項1に記載の減肉検出装置。
  3. 前記減肉分布算出部は、前記第1情報または前記第2情報と、前記第1方向の着磁量、前記第2方向の着磁量、および前記第3方向の着磁量に応じて設定される係数と、に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する請求項2に記載の減肉検出装置。
  4. 前記磁気双極子密度分布演算部は
    前記第1方向の磁気双極子の密度分布が正の値であることを拘束条件として、前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第1方向の磁束密度と、前記複数の磁界センサの各々の位置における前記第1方向の磁束密度の推定値との差が最小となるように最適化問題を求解することで前記第1方向の磁気双極子の密度分布を算出し、
    前記第2方向の磁気双極子の密度分布が正の値であることを拘束条件として、前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第2方向の磁束密度と、前記複数の磁界センサの各々の位置における前記第2方向の磁束密度の推定値との差が最小となるように最適化問題を求解することで前記第2方向の磁気双極子の密度分布を算出し、
    前記第3方向の磁気双極子の密度分布が正の値であることを拘束条件として、前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第3方向の磁束密度と、前記複数の磁界センサの各々の位置における前記第3方向の磁束密度の推定値との差が最小となるように最適化問題を求解することで前記第3方向の磁気双極子の密度分布を算出する、
    求項2又は請求項3に記載の減肉検出装置。
  5. 前記磁気双極子密度分布演算部は、前記第1方向の磁気双極子の密度分布を空間的に離散化させることで、前記第1方向に関する最適化問題を二次計画問題として求解し、前記第2方向の磁気双極子の密度分布を空間的に離散化させることで、前記第2方向に関する最適化問題を二次計画問題として求解し、前記第3方向の磁気双極子の密度分布を空間的に離散化させることで、前記第3方向に関する最適化問題を二次計画問題として求解する請求項4に記載の減肉検出装置。
  6. 前記磁気双極子密度分布演算部は、
    前記所定領域の長手方向と前記長手方向と直行する方向との三次元方向のそれぞれの方向における前記磁気双極子の密度分布を算出し、前記算出した前記三次元方向の磁気双極子の密度分布を平均化した値を前記所定領域における磁気双極子の密度分布とする請求項4又は請求項5に記載の減肉検出装置。
  7. 前記磁気双極子密度分布演算部は、前記第1方向に関する最適化問題、前記第2方向に関する最適化問題、および前記第3方向に関する最適化問題にそれぞれ正則化項を付加し、前記正則化項を付加した最適化問題を求解する請求項4から請求項6のいずれか一項に記載の減肉検出装置。
  8. 前記磁気双極子密度分布演算部は、前記第1方向に関する最適化問題、前記第2方向に関する最適化問題、および前記第3方向に関する最適化問題をそれぞれ主成分分析により低次元化し、前記低次元化した最適化問題を求解する請求項5から請求項7のいずれか一項に記載の減肉検出装置。
  9. 前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて、前記金属設備の所定領域における着磁方向を演算する着磁方向演算部をさらに有し、
    前記磁気双極子密度分布算出部は、前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と、前記着磁方向演算部により演算された前記着磁方向とに基づいて、前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の減肉検出装置。
  10. 複数の磁界センサを備えた磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出装置であって、
    前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて、前記金属設備の所定領域における着磁方向を演算する着磁方向演算部と、
    前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と、前記着磁方向演算部により演算された前記着磁方向とに基づいて、前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する磁気双極子密度分布算出部と、
    前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する減肉分布算出部と、
    を備え、
    前記着磁方向演算部は、前記磁界センサアレイが計測した磁界分布のうち、前記所定領域の法線方向の磁界分布を、前記法線方向に対して垂直方向の各方向において直線上に積分し、前記直線上に積分した積分値に基づいて前記着磁方向を演算する
    減肉検出装置。
  11. 前記着磁方向演算部は、前記各方向ごとに、前記法線方向の磁界分布を、前記垂直方向に平行で且つ異なる複数の直線上においてそれぞれ積分することで前記積分値の一次元の配列データを取得し、前記各方向の前記配列データのうち、前記配列データの二乗和が最小となる前記配列データの方向を前記着磁方向に決定する請求項10に記載の減肉検出装置。
  12. 請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の減肉検出装置と、
    前記磁界センサアレイと、
    を備える減肉検出システム。
  13. 各前記磁界センサの位置と、前記所定領域の表面との間において、前記表面の法線方向の距離が一定である請求項12に記載の減肉検出システム。
  14. 複数の磁界センサを備えた磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出方法であって、
    前記複数の磁界センサの各々は、第1方向の磁束密度と、前記第1方向とは交差した第2方向の磁束密度と、前記第1方向および前記第2方向とは交差した第3方向の磁束密度とを計測し、
    前記減肉検出方法は、
    前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する第1ステップと、
    前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する第2ステップと、
    を含み、
    前記第1ステップは、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第1方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量とに基づいて前記所定領域における前記第1方向の磁気双極子の密度分布を算出するステップと、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第2方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量とに基づいて前記所定領域における前記第2方向の磁気双極子の密度分布を算出するステップと、
    前記複数の磁界センサの各々が計測した前記第3方向の磁束密度と、前記所定領域の前記第1方向の着磁量、前記所定領域の前記第2方向の着磁量、および前記所定領域の前記第3方向の着磁量とに基づいて前記所定領域における前記第3方向の磁気双極子の密度分布を算出するステップと、を含み、
    前記第2ステップは、前記第1方向の磁気双極子の密度分布、前記第2方向の磁気双極子の密度分布、および前記第3方向の磁気双極子の密度分布が平均化されることで得られた第1情報、または前記第1方向の磁気双極子の密度分布、前記第2方向の磁気双極子の密度分布、および前記第3方向の磁気双極子の密度分布を示す第2情報に基づき、前記所定領域における減肉分布を算出するステップを含む、
    減肉検出方法。
  15. 複数の磁界センサを備えた磁界センサアレイにより計測された、金属設備の所定領域における磁界分布を用いて、前記所定領域の減肉を検出する減肉検出方法であって、
    前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布に基づいて、前記金属設備の所定領域における着磁方向を演算する第1ステップと、
    前記磁界センサアレイが計測した前記磁界分布と、前記着磁方向とに基づいて、前記所定領域における磁気双極子の密度分布を算出する第2ステップと、
    前記磁気双極子の密度分布に基づいて前記所定領域における減肉分布を算出する第3ステップと、
    を含み、
    前記第1ステップは、前記磁界センサアレイが計測した磁界分布のうち、前記所定領域の法線方向の磁界分布を、前記法線方向に対して垂直方向の各方向において直線上に積分し、前記直線上に積分した積分値に基づいて前記着磁方向を演算するステップを含む、
    減肉検出方法。
  16. コンピュータを、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の減肉検出装置として機能させるためのプログラム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020165735A (ja) * 2019-03-28 2020-10-08 横河電機株式会社 センサ装置およびパイプライン監視システム

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019203291A1 (ja) 2018-04-20 2019-10-24 三菱瓦斯化学株式会社 熱硬化性組成物、プリプレグ、積層板、金属箔張積層板、プリント配線板及び多層プリント配線板
JP7160098B2 (ja) * 2018-08-01 2022-10-25 コニカミノルタ株式会社 非破壊検査方法、非破壊検査システム及び非破壊検査プログラム
JP7196921B2 (ja) * 2018-08-01 2022-12-27 コニカミノルタ株式会社 非破壊検査装置、非破壊検査システム及び非破壊検査方法
JP7347303B2 (ja) 2020-03-31 2023-09-20 横河電機株式会社 監視装置、監視システム、監視方法及び監視プログラム
JP7298637B2 (ja) * 2021-03-10 2023-06-27 横河電機株式会社 減肉検出システム、減肉検出方法及びプログラム

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61210976A (ja) * 1985-03-15 1986-09-19 Kawasaki Steel Corp 残留磁気測定装置
JP3237359B2 (ja) * 1993-11-26 2001-12-10 株式会社島津製作所 生体活動電流源推定方法
JPH1164293A (ja) * 1997-08-19 1999-03-05 Koji Otsuka コンクリートのクラックの磁気的非破壊検査方法
JP2001289822A (ja) * 2000-04-10 2001-10-19 Mitsubishi Electric Corp 磁気双極子の信号源推定装置
JP2002122571A (ja) * 2000-10-12 2002-04-26 Kenzo Miya 欠陥検査方法と欠陥検査装置
JP4876248B2 (ja) * 2006-04-25 2012-02-15 国立大学法人九州工業大学 非破壊検査方法及び装置
AU2007291894B2 (en) * 2006-09-01 2013-05-30 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Method and apparatus for signal recovery
JP5674038B2 (ja) * 2011-05-25 2015-02-18 独立行政法人産業技術総合研究所 漏洩磁束密度計測による欠陥評価方法
JP2013050377A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 寿命・余寿命評価機能付き非破壊検査装置
GB201203717D0 (en) * 2012-03-02 2012-04-18 Speir Hunter Ltd Fault detection for pipelines
SG10201803084VA (en) * 2014-05-18 2018-06-28 Charles Stark Draper Laboratory Inc System and method of measuring defects in ferromagnetic materials
JP6236546B2 (ja) * 2014-11-28 2017-11-22 株式会社日立製作所 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
CN105445361B (zh) * 2015-12-01 2018-10-23 北方民族大学 一种基于磁荷分布重构算法的漏磁检测缺陷三维成像方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020165735A (ja) * 2019-03-28 2020-10-08 横河電機株式会社 センサ装置およびパイプライン監視システム
US11959851B2 (en) 2019-03-28 2024-04-16 Yokogawa Electric Corporation Pipeline thickness measurement sensor device

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