JP6440609B2 - 位置検出装置、レンズ装置、撮像システム、工作装置、露光装置、位置検出方法、プログラム、記憶媒体 - Google Patents
位置検出装置、レンズ装置、撮像システム、工作装置、露光装置、位置検出方法、プログラム、記憶媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6440609B2 JP6440609B2 JP2015223899A JP2015223899A JP6440609B2 JP 6440609 B2 JP6440609 B2 JP 6440609B2 JP 2015223899 A JP2015223899 A JP 2015223899A JP 2015223899 A JP2015223899 A JP 2015223899A JP 6440609 B2 JP6440609 B2 JP 6440609B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- phase signal
- phase
- scale
- evaluation value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Description
まず、図1を参照して、本発明の第1の実施形態における位置検出装置(光学式エンコーダ)について説明する。図1は、本実施形態における位置検出装置100の構成図である。位置検出装置100は、可動部(被測定物)に取り付けられるスケール20、固定部に取り付けられる検出器としてのセンサユニット10(検出手段)、および、信号処理回路101(信号処理手段)を有する。
S1(B)=S1(B+)−S1(B−) … (2)
また信号処理回路101は、以下の式(3)で表される演算により、位置信号の元となる位相信号Φ1を取得する。
式(3)において、ATAN2[Y,X]は、象限を判別して0〜2π位相に変換する逆正接演算関数である。
B=−INT[MOD[n・Φ1/π−0.5、2]−1]・Vh … (5)
式(4)、(5)において、INT[x]は、xの小数部を切り捨てた整数部を返す関数である。また、MOD[x,y]は、xをyで割った余りを返す関数である。Vhは、パルスのHレベルの電圧である。このような内挿処理により、インクリメントパルスA、Bは、互いに90度位相のずれた、正弦波1周期中にn周期のパルス列として得られる。内挿処理部102により得られたインクリメントパルスA、Bは、インクリメントパルス生成部104から出力される。
スケールトラック21bとランダム格子19とは、互いに相似形状の関係にあるが、その位置検出方向におけるサイズ比率は、1:M×0.98となっている。比率を1:Mからわずかにずらすことで、4相の信号S2(A−)、S2(B+)、S2(A+)、S2(B−)は、それぞれ、ピーク位置が一定間隔でシフトした4つの孤立波(孤立パルスを有する波)となる。
S2(B)=S2(B+)−S2(B−)−Δ2 … (8)
式(7)、(8)において、Δ1、Δ2は所定のオフセット量であり、ゼロであってもよい。またオフセット量Δ1、Δ2は、設計値から決定してもよい。オフセット量Δ1、Δ2は、初期化のための走査により学習する、または、実動作の中で更新を行うことにより取得することもできる。このときオフセット量Δ1、Δ2は、例えば、ハーフトーン23の領域での信号S2(A)、S2(B)がゼロまたはゼロの近傍の値となるように決定されることが好ましい。
また基準位置検出処理部103は、以下の式(10)で表される演算により、位相信号Φ2を取得する。
式(10)において、ATAN2[Y,X]は、象限を判別して0〜2π位相に変換する逆正接演算関数である。
そして原点パルス生成部105は、以下の式(12)、(13)で表される条件をいずれも満たすか否かを判定する。
Th2<Φ2<Th3 … (13)
式(12)、(13)において、Th1、Th2、Th3は、それぞれ、予め記憶されている閾値(所定の閾値)である。閾値Th1、Th2、Th3は、設計値から決定することができる。または、初期化のための走査により学習して決定することや、実動作の中で更新を行ってもよい。
Th4<S2(A)<Th5 … (15)
ここで閾値Th4、Th5は、原点パルスのエッジ位置が、初期状態にて本実施形態における原点信号Z1と同じになるように設定されている。図8中の破線で示されるように、比較例では、信号振幅の変化とともに、原点パルスのエッジ位置およびエッジ間隔(エッジの立上りと立下りとの間隔)が変化する。一方、図8中の実線で示されるように、本実施形態の原点信号Z1のエッジ位置およびエッジ間隔は、信号振幅が変化した場合でも略一定である(実質的に変化しない)。
次に、図9を参照して、本発明の第2の実施形態における位置検出装置(光学式エンコーダ)について説明する。図9は、本実施形態における位置検出装置100aの構成図である。位置検出装置100aは、スケール20、センサユニット10(検出手段)、および、信号処理回路101a(信号処理手段)を有する。
Z2>Vh/2 … (17)
式(16)、(17)の両方の条件を満たす場合、原点パルス生成部105はHレベル(Vh)の信号(原点パルスとしての原点信号Z1)を出力する。一方、少なくとも一方の条件を満たさない場合、原点パルス生成部105は、Lレベル(0)となる信号を出力する(すなわち、原点信号Z1(原点パルス)を出力しない)。式(16)において、mは0からn−1までの整数である。mは、初期化動作において、ゲートパルスZ2のエッジ位置に対する余裕度が最大となるように調整される。または、mを固定値として、閾値Th1、Th2、Th3の調整によって余裕度を確保してもよい。
次に、図10を参照して、本発明の第3の実施形態について説明する。図10は、本実施形態における撮像システム200の断面模式図である。撮像システム200は、上記各実施形態におけるエンコーダ(位置検出装置)をレンズ装置に搭載した撮像システムである。撮像システム200は、撮像装置200aと、撮像装置200aに着脱可能なレンズ装置200b(エンコーダを備えたレンズ鏡筒)とで構成されている。ただし本実施形態は、撮像装置とレンズ装置とが一体化して構成された撮像システムにも適用可能である。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。本実施形態の基準位置検出処理部103は、第1の実施形態のように和信号SUMの代わりに、以下の式(18)で表される演算により、距離信号Rを取得する。
式(19)において、Th4は、予め記憶されている閾値(所定の閾値)である。式(19)、(13)の両方の条件を満たす場合、原点パルス生成部105は、Hレベル(Vh)の信号(原点パルスとしての原点信号Z1)を出力する。一方、少なくとも一方の条件を満たさない場合、原点パルス生成部105は、Lレベル(0)の信号を出力する(すなわち、原点信号Z1(原点パルス)を出力しない)。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
20 スケール
100 位置検出装置
101 信号処理回路(信号処理手段)
Claims (17)
- 被測定物の位置を検出する位置検出装置であって、
周期的に形成されたパターンと基準位置マークを有するスケールと、
前記パターンと前記基準位置マークを検出し、前記スケールに対して相対移動可能に構成された検出手段と、
前記基準位置マークの検出に基づいて、前記スケールの基準位置を示す基準信号を生成する信号処理手段と、を有し、
前記信号処理手段は、前記検出手段からの第1相信号と第2相信号との比に基づいて前記基準信号を生成し、前記第1相信号と前記第2相信号は前記基準位置マークの検出により生成され、
前記信号処理手段は、前記第1相信号と前記第2相信号との比に基づいて生成された評価値と所定の第1の閾値の比較、および、前記評価値と所定の第2の閾値の比較、の両方の結果に基づいて前記基準信号を生成する、ことを特徴とする位置検出装置。 - 前記所定の第1及び第2の閾値は、前記基準信号の幅が前記被測定物の位置情報を示す2相正弦波信号の1周期と等しくなるように設定されていることを特徴とする請求項1に記載の位置検出装置。
- 前記信号処理手段は、前記第1相信号と前記第2相信号との逆正接演算を行って前記評価値を算出することを特徴とする請求項1または2に記載の位置検出装置。
- 前記信号処理手段は、
前記第1相信号と前記第2相信号との和信号を第2の評価値として算出し、
前記評価値と前記第2の評価値とに基づいて前記基準信号を生成することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 前記信号処理手段は、
前記第1相信号の二乗と前記第2相信号の二乗との和の平方根を第2の評価値として算出し、
前記評価値と前記第2の評価値とに基づいて前記基準信号を生成することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 前記信号処理手段は、
前記第1相信号と前記第2相信号とのそれぞれに対してオフセット調整を行い、
オフセット調整後の前記第1相信号の二乗とオフセット調整後の前記第2相信号の二乗との和の平方根を第2の評価値として算出し、
前記評価値と前記第2の評価値とに基づいて前記基準信号を生成することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 前記信号処理手段は、
前記第1相信号と前記第2相信号とのそれぞれに対してオフセット調整を行い、
オフセット調整後の前記第1相信号と前記第2相信号との比に基づいて前記基準信号を生成することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 前記検出手段は、前記スケールに対する相対移動により、ピーク位置が順にシフトした第1の孤立波、第2の孤立波、第3の孤立波、および、第4の孤立波を出力し、
前記信号処理手段は、
前記第1の孤立波と前記第3の孤立波との差動演算により前記第1相信号を取得し、
前記第2の孤立波と前記第4の孤立波との差動演算により前記第2相信号を取得することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 前記信号処理手段は、
前記被測定物の位置情報を示す2相正弦波信号に対して内挿処理を行い、該2相正弦波信号の周期内で複数のパルスを生成するパルス生成手段と、
前記複数のパルスのうち前記2相正弦波信号の特定の位相に対応するパルスのエッジに同期させて、前記基準信号を生成する基準信号生成手段と、を有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 前記基準位置は、前記スケールの上に反射部と非反射部とが不等間隔で形成された前記基準位置マークの位置であり、
前記測定物の位置は、前記基準位置を基準として、前記検出手段と前記スケールとの間の相対変位に対応する位置である、ことを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の位置検出装置。 - 光軸方向に変位可能なレンズと、
前記レンズの位置を検出するように構成された、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の位置検出装置と、を有することを特徴とするレンズ装置。 - 請求項11に記載のレンズ装置と、
前記レンズを介して光学像の光電変換を行う撮像素子を備えた撮像装置と、を有することを特徴とする撮像システム。 - ロボットアームまたは組み立て対象物を搬送する搬送体を備えた工作機器と、
前記工作機器の位置または姿勢を検出するように構成された、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の位置検出装置と、を有することを特徴とする工作装置。 - 半導体ウエハを搭載して2次元方向に駆動可能なステージと、
前記ステージの位置を検出するように構成された、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の位置検出装置と、を有することを特徴とする露光装置。 - 周期的に形成されたパターンと基準位置マークを有するスケールに対して相対移動可能に構成された検出手段からの出力信号に基づいて、該スケールまたは該検出手段と一体的に移動する被測定物の位置を検出する位置検出方法であって、
前記パターンと前記基準位置マークを検出するステップと、
前記検出手段から、前記基準位置マークの検出により生成される第1相信号と第2相信号とを取得するステップと、
前記第1相信号と前記第2相信号との比に基づいて、前記スケールの基準位置を示す基準信号を生成するステップと、を有し、
前記基準信号は、前記第1相信号と前記第2相信号との比に基づいて生成された評価値と所定の第1の閾値の比較、および、前記評価値と所定の第2の閾値の比較、の両方の結果に基づいて生成されることを特徴とする位置検出方法。 - 請求項15に記載の位置検出方法をコンピュータに実行させるように構成されていることを特徴とするプログラム。
- 請求項16に記載のプログラムを記憶していることを特徴とする記憶媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/992,385 US10215596B2 (en) | 2015-01-16 | 2016-01-11 | Position detection apparatus, lens apparatus, image pickup system, machine tool apparatus, exposure apparatus, position detection method, and non-transitory computer-readable storage medium which are capable of detecting reference position with high accuracy |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015006643 | 2015-01-16 | ||
JP2015006643 | 2015-01-16 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016136131A JP2016136131A (ja) | 2016-07-28 |
JP2016136131A5 JP2016136131A5 (ja) | 2018-09-06 |
JP6440609B2 true JP6440609B2 (ja) | 2018-12-19 |
Family
ID=56512096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015223899A Active JP6440609B2 (ja) | 2015-01-16 | 2015-11-16 | 位置検出装置、レンズ装置、撮像システム、工作装置、露光装置、位置検出方法、プログラム、記憶媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6440609B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102018210989A1 (de) * | 2018-07-04 | 2020-01-09 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Messeinrichtung für eine Spindel oder einen Rundtisch |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3358854B2 (ja) * | 1993-11-09 | 2002-12-24 | 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ | 光学式エンコーダの原点信号生成装置 |
JPH07191805A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Rohm Co Ltd | ロータリエンコーダおよびこれを用いた入力装置 |
JP2006053309A (ja) * | 2004-08-11 | 2006-02-23 | Canon Inc | 位置検出装置 |
JP6147038B2 (ja) * | 2013-03-15 | 2017-06-14 | キヤノン株式会社 | 位置検出装置、レンズ装置、撮像システム、および、工作装置 |
JP6400345B2 (ja) * | 2014-06-17 | 2018-10-03 | 株式会社ミツトヨ | 光学式エンコーダ及び光学式エンコーダにおける原点信号生成方法 |
-
2015
- 2015-11-16 JP JP2015223899A patent/JP6440609B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016136131A (ja) | 2016-07-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6400036B2 (ja) | 位置検出装置、工作装置、および、露光装置 | |
JP5755009B2 (ja) | エンコーダ | |
JP6486097B2 (ja) | 位置検出装置、レンズ装置、撮像システム、工作装置、位置検出方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
JP5837201B2 (ja) | 位置を求める方法および装置 | |
EP2511668B1 (en) | Encoder | |
US7321113B2 (en) | Precision material-handling robot employing high-resolution, compact absolute encoder | |
JP5755010B2 (ja) | エンコーダ | |
EP2662668B1 (en) | Scale, vernier encoder and apparatus using the same | |
US8941051B2 (en) | Photosensor for position detecting device, position detecting device using same and position detecting method | |
US10215596B2 (en) | Position detection apparatus, lens apparatus, image pickup system, machine tool apparatus, exposure apparatus, position detection method, and non-transitory computer-readable storage medium which are capable of detecting reference position with high accuracy | |
EP2754999B1 (en) | Scale, displacement detection apparatus, lens apparatus, image pickup system, and assembling apparatus | |
EP2405241A1 (en) | Absolute encoder | |
US10209104B2 (en) | Absolute encoder, processing method, program, driving apparatus, and industrial machine | |
JP6440609B2 (ja) | 位置検出装置、レンズ装置、撮像システム、工作装置、露光装置、位置検出方法、プログラム、記憶媒体 | |
JP2012013654A (ja) | アブソリュートエンコーダ及び撮像装置 | |
EP2778626B1 (en) | Position detection apparatus, lens apparatus, image pickup system, machine tool apparatus, position detection method, program, and storage medium | |
US11946780B2 (en) | Optical encoder and control apparatus | |
JP7475973B2 (ja) | 光学式エンコーダ及び制御装置 | |
WO2014132631A1 (en) | Absolute encoder | |
JP2016014612A (ja) | エンコーダ | |
JP2017166851A (ja) | エンコーダ、レンズ装置、撮像システム、および、工作装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180725 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180725 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20180725 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20180731 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180807 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181004 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181023 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181120 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6440609 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |