JP6398804B2 - 電子装置 - Google Patents

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Description

本発明は、第1電子部品と第2電子部品とが配線で接続された電子装置に関する。
従来より、水を電気分解するように構成された電気分解装置が、例えば特許文献1で提案されている。この電気分解装置は、電解槽、陽極、及び陰極を有している。そして、水が電解槽に充填されると共に、陽極及び陰極が水に浸されている。そして、陽極と陰極とに電流を通電することで水を電気分解することができるようになっている。
特開平11−77049号公報
ここで、上述の電気分解は、電子装置に設けられた配線に水滴が付着することでも発生する。具体的には、電位差が設けられた2つの配線に電子装置の外部から侵入したイオンを含んだ水滴が2つの配線の両方にわたって付着することで水滴の電気分解が発生する。しかしながら、この電気分解の発生により、陽極側の配線の金属が水滴に溶け出してしまう。このため、電気分解が進むことで陽極側の配線が断線してしまう可能性がある。
本発明は上記点に鑑み、電位差が設けられた2つの配線に水滴が付着した際の陽極側の配線の断線を抑制することができる電子装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、第1電子部品(20)と、第2電子部品(30、60〜62)と、第1電子部品(20)と第2電子部品(30、60〜62)とを電気的に接続する第1配線(40)と、第1電子部品(20)と第2電子部品(30、60〜62)とを電気的に接続すると共に、第1配線(40)から離間して配置された第2配線(41)と、を備えている。
また、第1配線(40)と第2配線(41)とに挟まれるように配置されると共に、第1配線(40)及び第2配線(41)から離間して配置されたダミー配線(42)を備えている。
そして、第1電子部品(20)は、第1配線(40)に第1電圧を印加し、第2配線(41)に第1電圧よりも低い第2電圧を印加し、ダミー配線(42)に第2電圧よりも高い第3電圧を印加する。
さらに、ダミー配線(42)は、水滴(50)が当該ダミー配線(42)、第1配線(40)、及び第2配線(41)の全てにわたって付着したときに、第2配線(41)との間で水滴(50)を電気分解するようになっており、ダミー配線(42)は、第1配線(40)よりも第2配線(41)に近い位置に配置されていることを特徴とする。
これによると、ダミー配線(42)が第1配線(40)よりも第2配線(41)側に設けられているので、第1配線(40)よりも第2配線(41)に近いダミー配線(42)に積極的に水滴(50)の電気分解を起こさせることができる。このため、第1配線(40)はダミー配線(42)よりも酸化しにくくなる。したがって、電位差が設けられた第1配線(40)及び第2配線(41)に水滴(50)が付着した際の陽極側の第1配線(40)の断線を抑制することができる。
なお、この欄及び特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明の第1実施形態に係る電子装置の平面図である。 電子装置の各配線に水滴が付着した様子を示した平面図である。 本発明の第3実施形態に係る電子装置の平面図である。 本発明の第4実施形態に係る電子装置の平面図である。 本発明の第5実施形態に係る電子装置の平面図である。 本発明の第6実施形態に係る電子装置の平面図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について図を参照して説明する。本実施形態に係る電子装置は、2つの回路チップが複数のボンディングワイヤで接続された構成になっている。したがって、図1に示されるように、電子装置10は、第1回路チップ20、第2回路チップ30、第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42を備えて構成されている。
第1回路チップ20は、半導体基板を元にして例えばセンサチップとして構成されている。図示しないが、第1回路チップ20はセンシング部を有しており、例えば圧力、トルク、温度、加速度、光等の物理量を検出するように構成されている。第1回路チップ20は、第2回路チップ30の一面31に接着剤等で固定されている。
また、第1回路チップ20は、第2回路チップ30との間で信号のやりとりを行うための複数のパッド21〜23を有している。各パッド21〜23は、第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42に対応して設けられている。各パッド21〜23は例えばAuを材料として形成されている。
第2回路チップ30は、半導体基板を元にして例えば信号処理回路チップとして構成されている。第2回路チップ30は、第1回路チップ20との間で信号のやりとりを行う機能や、第1回路チップ20から取得した信号を演算・増幅処理して外部へ出力する等の機能を有する制御回路部等が半導体プロセスによって形成されたものである。
本実施形態では、第2回路チップ30の一面31は第1回路チップ20の平面サイズよりも大きいサイズで形成されている。さらに、第2回路チップ30は、第1回路チップ20との間で信号のやりとりを行うための複数のパッド32〜34を有している。各パッド32〜34は、第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42に対応して設けられている。各パッド32〜34は上記と同様にAuを材料として形成されている。
なお、第2回路チップ30は、図示しない配線手段によって電子装置10の外部の装置と電気的に接続されている。
第1配線40及び第2配線41は、第1回路チップ20と第2回路チップ30とを電気的に接続する配線部品である。第1配線40及び第2配線41は、いわゆるボンディングワイヤである。第1配線40及び第2配線41として、例えばCuを材料としたボンディングワイヤが採用される。
第1配線40は、一端が第1回路チップ20のパッド21に接合され、他端が第2回路チップ30のパッド32に接合されている。さらに、第1配線40は、第1回路チップ20によって第1電圧が印加される。なお、これは第2回路チップ30によって第1配線40に第1電圧が印加されるとも言える。
第2配線41は、第1配線40から離間して配置されている。図1に示されるように、第2配線41は、第1配線40の延設方向に垂直な方向に離間して配置されている。そして、第2配線41は、一端が第1回路チップ20のパッド22に接合され、他端が第2回路チップ30のパッド33に接合されている。さらに、第2配線41は、第1回路チップ20によって第2電圧が印加される。なお、これは第2回路チップ30によって第2配線41に第2電圧が印加されるとも言える。
ここで、第1電圧は陽極(+)としての電圧であり、第2電圧は陰極(−)としての電圧である。すなわち、第1配線40と第2配線41との間には電位差が設けられている。第1配線40は、例えば信号出力用や電源用として用いられる。第2配線41は、例えば信号出力用やグランド用として用いられる。
ダミー配線42は、第1配線40と第2配線41とに挟まれるように配置されると共に、第1配線40及び第2配線41から離間して配置されている。ダミー配線42は、第1配線40及び第2配線41と同様にいわゆるボンディングワイヤである。第2回路チップ30の一面31の面方向において、ダミー配線42は第1配線40及び第2配線41の延設方向に沿って設けられている。すなわち、1配線40、第2配線41、及びダミー配線42は、第2回路チップ30の一面31の面方向において、当該延設方向に垂直な方向に並べられている。ダミー配線42は、一端が第1回路チップ20のパッド23に接合され、他端が第2回路チップ30のパッド34に接合されている。
ダミー配線42は信号をやりとりする役割は無いが、他端がどこにも接合されていないと第1配線40や第2配線41に接触してしまう可能性がある。このため、本実施形態では、ダミー配線42の他端はパッド34に固定されている。
ダミー配線42として、例えばAl、Zn、Fe、Ni、Sn、Pb等を材料としたボンディングワイヤが採用される。すなわち、ダミー配線42は、第1配線40及び第2配線41よりもイオン化傾向が高い材質で構成されている。言い換えると、ダミー配線42は第1配線40及び第2配線41よりも酸化しやすい材質で構成されている。
また、ダミー配線42は、第1回路チップ20によって第2電圧よりも高い第3電圧が印加される。なお、これは第2回路チップ30によってダミー配線42に第3電圧が印加されるとも言える。本実施形態では、第3電圧は第1電圧と同じ大きさに設定されている。
以上が、本実施形態に係る電子装置10の全体構成である。上記の構成は、例えば図示しないケースに収容されることで外部から保護されている。
次に、上記の電子装置10において、ダミー配線42が設けられたことによる効果について説明する。通常、電子装置10の内部には水滴が侵入しないが、電子装置10が使用される環境によっては電子装置10の内部に水滴が侵入したり水分が発生したりする。これにより、図2に示されるように、水滴50が第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42の全てにわたって付着する。
なお、水滴50は抵抗が高いと共に各配線40〜41の電位差が互いに小さいので、第1配線40と第2配線41とがショートを起こすまでには至らない。また、水滴50は雨水や水道水等のように純水では無い水のことを指す。
このとき、第1配線40に第1電圧が印加され、第2配線41に第2電圧が印加され、ダミー配線42に第3電圧が印加されていると、水滴50の電気分解が発生する。すなわち、ダミー配線42は、第2配線41との間で水滴50を電気分解する。ここで、ダミー配線42は第1配線40よりも第2配線41側に位置しているので、電気分解は第1配線40よりもダミー配線42に発生しやすくなっている。
ダミー配線42がAlで形成されているとすると、陽極としてのダミー配線42と陰極としての第2配線41では以下のような反応が起こる。
陽極(ダミー配線):2Al+6H2O→2Al(OH)3↓+6H++6e-
陰極(第2配線):6H++6e-→3H2
全体:2Al+6H2O→2Al(OH)3↓+3H2
これによると、陽極としてのダミー配線42からはAlが溶け出す一方、陰極としての第2配線41からは水素が発生する。すなわち、第1配線40よりも第2配線41に近いダミー配線42が積極的に水滴50の電気分解を発生させる。第1配線40の材質としては電気分解しにくいCuが採用されているとはいえ、第1配線40はダミー配線42よりも第2配線41から遠いため、第2配線41との間で電気分解は発生しにくくなっている。
以上のように、ダミー配線42と第2配線41との間で積極的に電気分解が発生するので、第1配線40から当該第1配線40の材料が水滴50に溶け出してしまうことを抑制することができる。したがって、第1配線40の断線を抑制することができる。
なお、本実施形態の記載と特許請求の範囲の記載との対応関係については、第1回路チップ20が特許請求の範囲の「第1電子部品」に対応し、第2回路チップ30が特許請求の範囲の「第2電子部品」に対応する。
(第2実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分について説明する。本実施形態では、第1回路チップ20は、第1配線40に印加する第1電圧よりも高い電圧を第3電圧としてダミー配線42に印加する。これにより、ダミー配線42が第2配線41との間で電気分解が起こりやすくなるので、第1配線40よりも先にダミー配線42を酸化させることができる。
(第3実施形態)
本実施形態では、第1、第2実施形態と異なる部分について説明する。図3に示されるように、本実施形態では、ダミー配線42は、第1配線40よりも第2配線41に近い位置に配置されている。これにより、第2実施形態と同様の効果を得ることができる。また、本実施形態の構成を第2実施形態に適用することでダミー配線42の効果を高めることができる。
(第4実施形態)
本実施形態では、第1〜第3実施形態と異なる部分について説明する。図4に示されるように、本実施形態では、第1回路チップ20は、検出部24及び報知部25を有している。
検出部24は、ダミー配線42に電気分解が発生するとダミー配線42に電流が流れるので当該電流を検出する回路部である。検出部24は当該電流を検出した際にその旨を報知部25に出力する。また、報知部25は、検出部24から電流を検出した旨を受け取った際に電子装置10の外部に対してアラームを出力する回路部である。
このような構成によると、検出部24によって電流が検出された際に当該検出を第2回路チップ30が受け取り、第2回路チップ30が外部に報知することができる。すなわち、電子装置10の外部に水滴50の存在を報知することができる。これにより、水滴50の除去等の対応が可能となる。
なお、第2回路チップ30が検出部24及び報知部25を有していても良い。この場合、本実施形態の記載と特許請求の範囲の記載との対応関係については、第2回路チップ30が特許請求の範囲の「第1電子部品」に対応し、第1回路チップ20が特許請求の範囲の「第2電子部品」に対応する。
(第5実施形態)
本実施形態では、第1〜第4実施形態と異なる部分について説明する。図5に示されるように、第1回路チップ20と第2回路チップ30は並べられて配置されている。この場合、第1回路チップ20及び第2回路チップ30は図示しないプリント基板等に実装されている。
具体的には、第2回路チップ30は、第1回路チップ20から所定の距離だけ離間して配置されている。すなわち、四角形の板状に構成された第1回路チップ20の一側面と四角形の板状に構成された第2回路チップ30の一側面とが対向するように、各回路チップ20、30が配置されている。以上のような構成でも良い。
なお、各回路チップ20、30は、センサチップと信号処理回路チップという関係に限られず、各回路チップ20、30とも信号処理回路チップとして構成されていても良いし、各回路チップ20、30ともセンサチップとして構成されていても良い。
(第6実施形態)
本実施形態では、第1〜第5実施形態と異なる部分について説明する。図6に示されるように、電子装置10は第1回路チップ20及び複数のリード60〜62を備えて構成されている。図示しないが、第1回路チップ20及び各リード60〜62は、ケースに収容されていたり、プリント基板に実装されている。
各リード60、61は短冊状に形成されていると共に、外部コネクタ等に接続される部品である。リード62は、2本のリード60、61の間にリード60、61から離間して配置されている。リード62は外部コネクタ等に接続される部分ではないため、2本のリード60、61よりも短く形成されている。リード62はいわゆるダミーのパッドとしての役割を果たすものである。
第1配線40は、一端が第1回路チップ20のパッド21に接合され、他端がリード60に接合されている。第2配線41は、一端が第1回路チップ20のパッド22に接合され、他端がリード61に接合されている。さらに、ダミー配線42は、一端が第1回路チップ20のパッド23に接合され、他端がリード62に接合されている。
第1回路チップ20は上述のようにセンサチップとして構成されていても良いし、信号の処理を行う回路チップとして構成されていても良い。そして、第1回路チップ20は、第1配線40に第1電圧を印加し、第2配線41に第1電圧よりも低い第2電圧を印加し、ダミー配線42に第2電圧よりも高い第3電圧を印加する。
上記の構成により、水滴50が第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42の全てにわたって付着したとき、ダミー配線42が第2配線41との間で水滴50を電気分解する。したがって、第1配線40の断線を抑制することができる。
なお、本実施形態の記載と特許請求の範囲の記載との対応関係については、第1回路チップ20が特許請求の範囲の「第1電子部品」に対応し、リード60〜62が特許請求の範囲の「第2電子部品」に対応する。
(他の実施形態)
上記各実施形態で示された電子装置10の構成は一例であり、上記で示した構成に限定されることなく、本発明を実現できる他の構成とすることもできる。例えば、電子装置10は、第1回路チップ20、第2回路チップ30、及び複数のリード60〜62を備え、各回路チップ20、30が各配線40〜42で接続され、第2回路チップ30とリードとが別の各配線40〜42で接続されていても良い。
この場合、第1回路チップ20と第2回路チップ30との関係では、第1回路チップ20が特許請求の範囲の「第1電子部品」に対応し、第2回路チップ30が特許請求の範囲の「第2電子部品」に対応する。また、第2回路チップ30とリード60〜62との関係では、第2回路チップ30が特許請求の範囲の「第1電子部品」に対応し、リード60〜62が特許請求の範囲の「第2電子部品」に対応する。
また、電子装置10は、各回路チップ20、30がプリント基板に実装され、第1回路チップ20が各配線40〜42でプリント基板の回路に接続されると共に、第2回路チップ30が別の各配線40〜42でプリント基板の回路に接続される構成でも良い。さらに、当該プリント基板とリードとがさらに別の各配線40〜42で接続されていても良い。このように、第1電子部品と第2電子部品とが複数段で構成されていても良い。また、第1電子部品及び第2電子部品が1つの部品で構成されている必要は無く、上述のリード60〜62のように複数の部品で構成されていても良い。
さらに、上述の第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42は、ボンディングワイヤとして構成されていたが、これは構成の一例である。したがって、各配線40〜42は棒状や板状のリード(端子)として構成されていても良い。
上記各実施形態では、ダミー配線42が第2電子部品側に接合されていたが、これは構成の一例である。すなわち、ダミー配線42は少なくとも当該ダミー配線42に第3電圧を印加する第1電子部品側に電気的に接続されていれば良いので、ダミー配線42の他端はどの部品にも接触せずに浮いた状態にされていても良い。
上記各実施形態では、第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42の一組のみが示されているが、電子装置10は第1配線40、第2配線41、及びダミー配線42の組を複数備えていても良い。
20 第1回路チップ(第1電子部品)
30 第2回路チップ(第2電子部品)
40 第1配線
41 第2配線
42 ダミー配線
50 水滴

Claims (3)

  1. 第1電子部品(20)と、
    第2電子部品(30、60〜62)と、
    前記第1電子部品(20)と前記第2電子部品(30、60〜62)とを電気的に接続する第1配線(40)と、
    前記第1電子部品(20)と前記第2電子部品(30、60〜62)とを電気的に接続すると共に、前記第1配線(40)から離間して配置された第2配線(41)と、
    前記第1配線(40)と前記第2配線(41)とに挟まれるように配置されると共に、前記第1配線(40)及び前記第2配線(41)から離間して配置されたダミー配線(42)と、
    を備え、
    前記第1電子部品(20)は、前記第1配線(40)に第1電圧を印加し、前記第2配線(41)に前記第1電圧よりも低い第2電圧を印加し、前記ダミー配線(42)に前記第2電圧よりも高い第3電圧を印加し、
    前記ダミー配線(42)は、水滴(50)が当該ダミー配線(42)、前記第1配線(40)、及び前記第2配線(41)の全てにわたって付着したときに、前記第2配線(41)との間で前記水滴(50)を電気分解するようになっており、
    前記ダミー配線(42)は、前記第1配線(40)よりも前記第2配線(41)に近い位置に配置されていることを特徴とする電子装置。
  2. 前記第1電子部品(20)は、前記第1配線(40)に印加する前記第1電圧よりも高い電圧を前記第3電圧として前記ダミー配線(42)に印加することを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
  3. 前記第1電子部品(20)は、
    前記電気分解の発生に伴って前記ダミー配線(42)に流れる電流を検出する検出部(24)と、
    前記検出部(24)によって前記電流が検出された際に当該検出を外部に報知する報知部(25)と、
    を有していることを特徴とする請求項1または2に記載の電子装置。
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