JP6385619B1 - 水処理装置、水処理システム、水処理装置の組立方法及び水処理方法 - Google Patents

水処理装置、水処理システム、水処理装置の組立方法及び水処理方法 Download PDF

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Abstract

被処理水に対して脱塩処理を行う水処理装置は、押圧部材と、被処理水を収容する処理容器と、処理容器に収容される、第1電極及び第2電極と、第1電極及び第2電極の間に配置されるセパレータと、処理容器に収容され、第1電極及び第2電極に電気を印加する、一対の集電体とを有し、押圧部材は、第1電極及び第2電極を、処理容器内で押圧する。

Description

本発明は、電気二重層キャパシタ技術を用いて、被処理水を脱塩する水処理装置、水処理システム、水処理装置の組立方法及び水処理方法に関する。
従来、クーロン力を利用して、海水や汚染水等の被処理水からイオンを除去するために、電気二重層キャパシタ技術を用いた電気式脱塩技術(Capacitive DeIonization:CDI)が知られている。例えば、電気絶縁性多孔質通液性シートからなるセパレータを挟んで、高比表面積活性炭を主材とする活性炭層シートを配置する。そして、その活性炭層の外側に集電極を配置し、その集電極の外側に押え板を配置した、平板形状の通液型電気二重層コンデンサがある(例えば特許文献1参照)。
また、電気絶縁性シートからなるセパレータと、活性炭層シートからなる電極と、この電極に緊密な接触が可能な電気良導体からなる集電極とを有し、集電極、電極、セパレータ、電極の順番で積層したものを一セットとする。そして、このセットを複数並べて配置し、最後に集電極を配置する。さらに、積層圧を0.2kg/cm2G以上とし、各シートの同じ位置に貫通孔を設けて、この貫通孔により内部流路を形成する通液型電気二重層コンデンサがある(例えば特許文献2参照)。
特許第3302443号 特許第4286931号
従来の電気二重層キャパシタ技術を用いた電気式脱塩装置では、粒状または繊維状の活性炭に、バインダー剤等の添加剤を加えてシート状に成形し、成形したシート状の活性炭層シートを電極として使用している。このような活性炭層シートは、添加剤によって、活性炭の細孔が閉塞して脱塩に有効な細孔が減少し、間隙が少なくなって被処理水を導入した時の圧力損失が大きくなり、所望の脱塩性能が得られないという課題があった。一方、圧力損失を考慮して添加剤の使用を回避した場合、電極を構成する粒状又は繊維状の活性炭同士の接触面積が減少し、電気抵抗が増大して、所望の脱塩性能が得られないという課題があった。
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、被処理水の脱塩処理時の圧力損失を抑制し、導電性材料の細孔を最大限に活用することのできる水処理装置、水処理システム、水処理装置の組立方法及び水処理方法を得るものである。
本発明に係る水処理装置は、被処理水に対して脱塩処理を行うものであって、押圧部材と、被処理水を収容する処理容器と、処理容器に収容される、第1電極及び第2電極と、第1電極及び第2電極の間に配置されるセパレータと、処理容器に収容され、第1電極及び第2電極に電気を印加する、一対の集電体とを有し、押圧部材は、第1電極及び第2電極を、処理容器内で押圧する。
本発明の水処理装置は電極が導電性材料のみで形成される。これにより、添加剤などによる導電性材料の細孔の閉塞を防止でき、被処理水の脱塩処理時の圧力損失を抑制して、導電性材料の細孔を最大限に利用することができる。
本発明の実施の形態1における水処理装置を示す斜視図である。 本発明の実施の形態1における水処理装置の分解図である。 本発明の実施の形態1における水処理装置の上面図である。 図3のIV−IV線に沿う水処理装置の断面図である。 図3のV−V線に沿う水処理装置の断面図である。 本発明の実施の形態1における水処理装置の、第1変形例の分解図である。 本発明の実施の形態1における水処理装置の、第2変形例の分解図である。 本発明の実施の形態1における水処理装置の、第3変形例の分解図である。 本発明の実施の形態2における水処理装置の分解図である。 本発明の実施の形態2における水処理装置の第1変形例の分解図である。 本発明の実施の形態2における水処理装置の第2変形例の分解図である。 本発明の実施の形態2における水処理装置の第3変形例の分解図である。 本発明の実施の形態3における水処理装置を示す斜視図である。 本発明の水処理装置を用いた水処理システムを示す図である。 水処理システムの第1変形例を示す図である。 水処理システムの第2変形例を示す図である。 水処理システムの第3変形例を示す図である。 本発明の水処理装置の脱塩効果を示す図である。 本発明の水処理装置の比較例における脱塩効果を示す図である。 本発明の実施の形態4における水処理装置を示す斜視図である。 図20のXXI−XXI線に沿う水処理装置の断面図である。 図20のXXII−XXII線に沿う水処理装置の断面図である。 本発明の実施の形態4における水処理装置の分解図である。 本発明の実施の形態4における水処理装置の変形例を示す図である。 本発明の実施の形態5における水処理装置を示す斜視図である。
以下、本発明の水処理装置及び水処理方法の好適な実施の形態につき、図面を用いて説明する。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1における水処理装置1を示す斜視図であり、図2は、水処理装置1の組立図である。また、図3は、実施の形態1の水処理装置1の上面図である。図4は、図3のIV−IV線に沿う水処理装置の断面図、図5は、図3のV−V線に沿う水処理装置の断面図である。
図1及び図2に示すように、水処理装置1は、被処理水を処理する処理容器10と蓋20とを有している。処理容器10と蓋20との間には、パッキン40が配置されている。蓋20は、4本のネジ100によって、処理容器10に締結されている。処理容器10は、被処理水を導入する流入口70と、被処理水を排出する流出口80とを有している。
処理容器10の中には、セパレータ60を挟んで、一対の集電体50A,50Bが配置されている。また、集電体50Aとセパレータ60の間には、第1電極30が配置され、集電体50Bとセパレータ60の間には、第2電極31が配置されている。
図3及び図4に示すように、蓋20には、一対の集電体50A及び50Bの上端側が挿入される一対の集電体用溝20C,20Cと、セパレータ60の上端側が挿入される、セパレータ用溝20Dが形成されている。一対の集電体50A及び50Bは集電体用溝20C,20Cにより位置決めされ、セパレータ60はセパレータ用溝20Dにより位置決めされる。
処理容器10及び蓋20の材質には、第1電極30と第2電極31間の短絡を防止するために、絶縁性のある樹脂材料又は電気絶縁コーティングされた金属が用いられる。
第1電極30及び第2電極31は、それぞれ集電体50A及び50Bを介して電気が印加され、被処理水中のイオンを吸着する。ここで、第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料には、例えばキャパシタとしての容量を増大するため、導電性があり、比表面積の大きい、活性炭、多孔質炭素、多孔質導電ビーズ、多孔質金属などが用いられる。これら導電性材料の形状には、粉状、粒状、繊維状などがある。粉状と粒状の場合、その外径は100nm〜10mmであり、繊維状の場合、その太さは1〜50μmである。
また、これらの導電性材料を用いて形成された布やフィルタなども用いられる。
各集電体50A,50Bとセパレータ60との間隔は、第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料の径の1〜100倍、望ましくは5〜20倍とするとよい。導電性材料の径の1倍より小さい場合には、各集電体50A及び50Bとセパレータ60の間に、電極を配置できない。また、導電性材料の径の100倍より大きい場合には、導電性材料からなる電極の厚さが厚くなる。すると、電極の電気抵抗が大きくなり、脱塩性能が低下する。
集電体50A及び50Bは、それぞれ第1電極30及び第2電極31に電気を印加するとともに、放電する際に電気を集めるものである。集電体50A及び50Bを構成する材料としては、例えば黒鉛シート、グラフォイル、導電性ゴム又はこれらの材料で挟持又は被覆された金属のシート及び板が用いられる。このように、集電体50A及び50Bは、導電性と柔軟性のある材料で形成される。
セパレータ60は、第1電極30と第2電極31間の短絡を防止する。セパレータ60を構成する材料としては、例えば濾紙、多孔性フィルム、不織布、発泡剤など、液体は透過させるが導電性材料は通過させない、電気絶縁性を有するものが用いられる。
処理容器10の流入口70は、被処理水を処理容器10内に導入する。流入口70は、第1電極30及び第2電極31又は第1電極30と第2電極31及びセパレータ60に対し、被処理水を直接導入可能なように、処理容器10の側面に配置される。
処理容器10の流出口80は、被処理水を処理容器10の外に排出する。流出口80は、第1電極30及び第2電極31又は第1電極30と第2電極31及びセパレータ60から、被処理水を直接排出可能なように、処理容器10の側面に配置される。
流入口70及び流出口80は、第1電極30と第2電極31間の短絡を防止するために、例えばアクリル樹脂などの絶縁性のある樹脂材料又はフッ素コーティングされたステンレスなど、電気絶縁コーティングされた金属で形成される。
また、流入口70と処理容器10の間及び流出口80と処理容器10の間には、第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料が、処理容器10から流出しないように、流出防止部材110が取付けられている。流出防止部材110は、絶縁性を有する樹脂ネット又は絶縁コーティングした金属網などで形成されている。
なお、実施の形態1では、流入口70を処理容器10の下部に配置し、流出口80を、処理容器10上部に配置しているが、流入口70及び流出口80の配置は、これに限るものではない。例えば、流入口70と流出口80の位置は、処理容器10の側面の中央付近でもよいし、蓋20に配置してもよい。
図1,2及び図4,5に示すように、蓋20には、第1電極30及び第2電極31を押圧する押圧部20Bが形成されている。押圧部20Bは、処理容器10の内部に向けて突出凸形状に形成されている。一対の集電体50A及び50Bには、それぞれ端子150A及び150Bが形成されており、蓋20には、端子150A及び150Bを外部に露出させる一対の貫通孔20A,20Aが形成されている。これらの端子150A及び150Bに電気を印加することにより、第1電極30及び第2電極31に電気が印加される。
蓋20と処理容器10との間には、弾性部材で形成されたパッキン40が配置される。蓋20に形成された4つの貫通孔から、4本のネジ100を挿入し、処理容器10のネジ穴に締め付けていくにつれて、処理容器10内の第1電極30及び第2電極31は、蓋20の押圧部20Bにより押圧される。蓋20の押圧部20Bは、ネジ100を最後まで締め付けた場合に、第1電極30及び第2電極31が、あらかじめ定められた押圧状態となるような大きさに形成されている。
このように、水処理装置1は、処理容器10の蓋20に、第1電極30及び第2電極31をあらかじめ定められた押圧状態とする押圧部20Bを有している。この蓋20の押圧部20Bにより、被処理水を処理容器10内で処理する間、第1電極30及び第2電極31への押圧状態を維持することができる。
ここで、第1電極30及び第2電極31への押圧状態は、蓋20を処理容器10に取付ける前の第1電極30及び第2電極31の容積をA、蓋20を処理容器10に取付けてネジ100を締め込んだ後の第1電極30及び第2電極31の容積をBとしたときに、B/Aで定義される圧縮率Pで規定する。
処理容器10が透明な場合には、第1電極30及び第2電極31の寸法を実際に測定することにより、押圧前後の第1電極30及び第2電極31の圧縮率Pを算出する。処理容器10が透明でない場合には、蓋20を第1電極30及び第2電極31の上に載せた状態と、ネジ100を締めつけた後との蓋20の位置の差から、押圧前後の第1電極30及び第2電極31の圧縮率Pを算出する。
圧縮率Pは0.5〜0.99、望ましくは0.7〜0.95の範囲に規定する。0.99より大きい場合には、第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料同士の接触面積が低下し、電気抵抗が増大するため好ましくない。0.5より小さい場合には、導電性材料が粉砕され、被処理水とともに処理容器10から流出してしまうため、好ましくない。
また、第1電極30及び第2電極31の押圧状態は、隣接する集電体50A及び50B間の電気抵抗又は被処理水の通水時の圧力損失の値によって規定してもよい。さらに、これらの電気抵抗及び圧力損失の両方の値によって規定してもよい。
電気抵抗の値によって規定する場合には、0.01〜100Ω、望ましくは0.05〜50Ωの範囲とする。セパレータ60と第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料は抵抗を有するため、0.01Ωより小さくすることはできない。一方、100Ωより大きい場合には、脱塩性能が悪化するため好ましくない。
圧力損失によって規定する場合には、0.001〜1000kPa/m、望ましくは0.05〜500kPa/mの範囲とする。第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料は通水抵抗を有するため、圧力損失を0.001kPa/mより小さくすることはできない。一方、1000kPa/mより大きい場合には、水処理装置への注水に係る消費エネルギーが大きくなるため好ましくない。
このように、実施の形態1の水処理装置1によれば、処理容器10の中に、セパレータ60を挟んで集電体50A及び50Bを配置する。さらに、集電体50Aとセパレータ60の間に第1電極30を配置し、集電体50Bとセパレータ60の間に第2電極31を配置する。そして、処理容器10の蓋20に形成された押圧部20Bにより、第1電極30及び第2電極31を押圧し、押圧状態を維持する。
これにより、導電性材料のみで第1電極30及び第2電極31を形成することができる。そして、バインダー剤等の添加剤を使用していないので、導電性材料の細孔や間隙の閉塞を防止でき、圧力損失を小さくすることができる。
また、第1電極30及び第2電極31への押圧状態を維持することで、第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料の間隙が細分化される。すると、間隙に流入する被処理水の水流が細分化され、被処理水内のイオンと導電性材料の距離が短くなる。これにより、第1電極30及び第2電極31へのイオンの吸着が促進され、脱塩性能が向上する。
また、第1電極30及び第2電極31の間隙が細分化されることにより、処理容器10に流入する被処理水の水流の厚さが第1電極30及び第2電極31の内部で均一化され、脱塩性能が向上する。さらに、第1電極30及び第2電極31を押圧状態に維持しているため、第1電極30及び第2電極31の電気抵抗が低減される。よって、印加した電気を第1電極30及び第2電極31の全体に行き渡らせることができ、第1電極30及び第2電極31を構成する導電性材料の細孔を、無駄なく活用することができる。
また、実施の形態1の水処理装置1によれば、被処理水の流入口70及び流出口80を、被処理水がセパレータ60と第1電極30及び第2電極31に直接流入するように配置している。これにより、セパレータ60と第1電極30及び第2電極31の全体に、被処理水を行き渡らせることができる。
なお、実施の形態1では、蓋20に押圧部20Bを形成していたが、これに限るものではない。例えば、蓋20と押圧部20Bは別部材としてもよい。この場合、押圧部20Bのみをネジ100により締め付け、蓋20は、他の固定部材により処理容器10に固定すればよい。また、実施の形態1では、セパレータ用溝20D及び一対の集電体用溝20Cを蓋20に形成したが、これに限るものではない。例えば、セパレータ用溝20D及び一対の集電体用溝20Cを、処理容器10内に形成してもよいし、蓋20と処理容器10の両方に形成してもよい。
また、実施の形態1では、集電体50A及び50Bの端子150A及び150Bを、蓋20に形成した貫通孔20A,20Aから突出させていたが、これに限るものではない。例えば、図6に示す第1変形例の水処理装置2のように、処理容器11の側面に貫通孔11A,11Aを形成し、集電体51A及び51Bの端子151A及び151Bを、貫通孔11A,11Aから突出させてもよい。なお、この場合、貫通孔11A,11Aには、端子151A及び151Bと貫通孔11A,11Aとの隙間から、被処理水が流出しないように、図示しない流出防止処理を施すものとする。
さらに、実施の形態1の水処理装置1では、処理容器10に、一対の集電体50A,50Bを配置していたが、これに限るものではない。例えば、図7に示す第2変形例の水処理装置3のように、集電体52A及び52Bを交互に2つずつ配置し、その間に、セパレータ60と第1電極30及び第2電極31を3つずつ配置するように構成してもよい。この場合、流入口70及び流出口80も、3つずつ配置する。これにより、被処理水の処理能力を上げることができる。なお、集電体52A及び52Bの数は、2つずつに限るものではなく、3つ以上であってもよい。
また、図8に示す第3変形例の水処理装置4のように、第1変形例の水処理装置2を複数並べて配置してもよい。この場合、図8に示すように、集電体53A及び53Bの端子153A及び153Bを中央からずらした位置に形成し、集電体53Aの端子153Aと集電体50Bの端子153Bとが、互い違いに処理容器13の貫通孔13Aから突出するように配置するとよい。これにより、図示しない電源のプラス側とマイナス側を、端子153Aと端子153Bに誤接続することが防止できる。
さらに、実施の形態1では、蓋20に形成された押圧部20Bにより、第1電極30及び第2電極31を押圧していたが、これに限るものではない。例えば、図8に示す水処理装置4のように、蓋23にプレス機200を取り付け、プレス機200に、押圧部23Bを配置してもよい。そして、プレス機200の押圧部23Bを、図示しない制御装置により制御して、第1電極30及び第2電極31を押圧してもよい。
プレス機200としては、液圧プレス機、機械プレス機、サーボプレス機などが用いられる。プレス機200を用いることにより、プレス機200による第1電極30及び第2電極31への押圧を解除した場合に、第1電極30及び第2電極31の上部と押圧部23Bとの間に空間を形成することができる。これにより、蓋23を取り外すことなく、流入口70から注水して、第1電極30及び第2電極31を展開しながら洗浄をすることができる。これにより、第1電極30及び第2電極31をムラなく洗浄可能である。
次に、実施の形態1の水処理装置1の組立方法を、図2及び図4を用いて説明する。
まず、図2に示す水処理装置1の処理容器10に、セパレータ60と集電体50A及び50Bを、セパレータ60を中央にして、互いにあらかじめ定められた間隔となるように配置する。次に、集電体50Aとセパレータ60の間に第1電極30を配置し、集電体50Bとセパレータ60の間に第2電極31を配置する。なお、第1電極30と第2電極31を配置する順序は任意である。
次に、処理容器10にパッキン40を配置し、蓋20を被せる。このとき、蓋20に形成された押圧部20Bが、第1電極30及び第2電極31の上に載るようにする。また、図4に示すように、蓋20に形成されたセパレータ用溝20Dにセパレータ60の上端側を挿入する。そして、蓋20に形成された一対の集電体用溝20C,20Cに、それぞれ集電体50A及び50Bを挿入する。さらに、蓋20に形成された一対の貫通孔20A,20Aに、集電体50A及び50Bの端子150A及び150Bを挿入し、蓋20から端子150A及び150Bを突出させる。なお、一対の貫通孔20A,20Aには、端子150A及び150Bと貫通孔20A,20Aとの隙間から、被処理水が流出しないように、図示しない流出防止処理が施される。
次に、蓋20のネジ穴にネジ100を取り付け、集電体50Aと集電体50B間の圧縮率があらかじめ定められた値になるまで、ネジ100を締めつける。以上により、水処理装置1の組立が完了する。
なお、圧縮率によりネジ100の締め付けを規定することに代えて、集電体50Aと集電体50B間の電気抵抗が、あらかじめ定められた値になるまで、ネジ100を締めつけるようにしてもよい。また、水処理装置1の組立方法における、圧縮率によりネジ100の締め付けを規定することに代えて、流入口70前と流出口80後の差圧が、あらかじめ定められた値になるまで、ネジ100を締めつけるようにしてもよい。
実施の形態2.
図9は、本発明の実施の形態2による水処理装置5の分解図である。実施の形態2による水処理装置5は、実施の形態1の水処理装置1とは、集電体54A及び54Bの端子154A及び154Bの形状が異なる。さらに、実施の形態2の水処理装置5では、端子154A及び154Bを、蓋24からも、処理容器14からも突出させず、端子棒120A及び120Bを介して端子154A及び154Bに通電している点が、実施の形態1とは異なる。他の構成は、実施の形態1と同様である。
図9に示すように、実施の形態2の水処理装置5は、蓋24に、セパレータ用溝24Dと、一対の集電体用溝24C,24Cが形成されている。さらに、蓋24には、一対の端子棒挿入孔24E,24Eが形成されている。集電体54A及び54Bは、長方形の4つの角部のうちの一つを、矩形状に切り欠いた形状に形成されている。そして、切り欠いた角部に隣接する角部には、端子棒120A,120Bが接続される端子口254A,254Bが形成されている。
実施の形態2の水処理装置5は、まず処理容器14に、セパレータ60と集電体54A及び54Bを配置する。そして、セパレータ60と集電体54Aの間に第1電極30を配置し、セパレータ60と集電体54Bの間に第2電極31を配置する。パッキン40を処理容器14に取り付け、蓋24を被せる。このとき、蓋24に形成されたセパレータ用溝24Dにセパレータ60の上端側を挿入する。また、蓋24に形成された一対の集電体用溝24C,24Cに、それぞれ集電体54A及び54Bの端子154A及び154Bを挿入する。4本のネジ100を蓋24のネジ穴に挿入して締め付け、蓋24の押圧部24Bにより、第1電極30及び第2電極31を押圧する。そして、蓋24に形成された一対の端子棒挿入孔24E,24Eに、端子棒120A及び端子棒120Bを挿入する。
実施の形態2の水処理装置5は、端子棒120Aの端子220Aに電源のプラス側を接続し、端子棒120Bの端子220Bに電源のマイナス側を接続することにより、集電体54Aにプラスの電気を印加し、集電体54Bにマイナスの電気を印加している。これにより、隣接する集電体54Aと54Bに、それぞれプラスとマイナスの電気を印加することができ、第1電極30と第2電極31に、プラスとマイナスの電気を印加することができる。なお、集電体54Aと54Bのどちらにプラスの電気を印加し、どちらにマイナスの電気を印加するかは、任意である。
また、実施の形態2の水処理装置5によれば、集電体54A及び54Bの端子154A及び154Bを、蓋24からも処理容器14からも外部に突出させていないので、水処理装置1の周囲の物体と衝突することによる、端子154A及び154Bの損傷を防止することができる。また、周囲の導電部材が端子154A及び154Bに接触して、端子154Aと154Bを短絡させることを防止できる。
なお、実施の形態2では、端子棒120A及び120Bを、蓋24に形成した端子棒挿入孔24E,24Eに挿入して、集電体54A及び54Bの端子154A及び154Bに接続していたが、これに限るものではない。例えば、図10に示す第1変形例の水処理装置6のように、処理容器15に、一対の端子棒挿入孔15A,15Aと、一対の集電体用溝15B,15Bを形成してもよい。この場合、集電体55A及び55Bは、端子155A及び155Bを、処理容器15の底面側に挿入する。
さらに、実施の形態2の水処理装置5では、処理容器14に、一対の集電体54A,54Bを配置していたが、これに限るものではない。例えば、図11に示す第2変形例の水処理装置7のように、集電体56A及び56Bを交互に2つずつ配置し、その間に、セパレータ60と第1電極30及び第2電極31を3つずつ配置するように構成してもよい。この場合、流入口70及び流出口80も、3つずつ配置する。これにより、被処理水の処理能力を上げることができる。なお、集電体56A及び56Bの数は、2つずつに限るものではなく、3つ以上であってもよい。
また、図12に示す第3変形例の水処理装置8のように、第1変形例の水処理装置6を複数並べて配置してもよい。この場合、図12に示すように、集電体57Aの端子157Aと集電体57Bの端子157Bとが、互い違いに並ぶように配置する。これにより、一つの端子棒121Aにより、2つの集電体57Aの端子157Aにプラスの電気を印加することができ、一つの端子棒121Bにより、2つの集電体57Bの端子157Bにマイナスの電気を印加することができる。なお、電源のプラス側とマイナス側のどちらを、集電体57Aと集電体57Bのどちらに印加するかは、任意である。
実施の形態3.
図13は、本発明の実施の形態3による水処理装置9を示す図である。図13に示すように、水処理装置9は、被処理水を処理する処理容器18と蓋28を有している。処理容器18と蓋28との間には、パッキン41が配置されている。蓋28は、4本のネジ100によって、処理容器18に締結される。処理容器18には、被処理水の流入口70が配置され、蓋28には、被処理水の流出口80が配置されている。
処理容器18の中には、セパレータ61を挟んで、一対の集電体58A,58Bが配置されている。また、集電体58Aとセパレータ61の間には、第1電極32が配置され、集電体58Bとセパレータ61の間には、第2電極33が配置されている。蓋28には、集電体58Aに当接する押圧部28Bが形成されている。蓋28を、4本のネジ100で処理容器18に締め付けることにより、押圧部28Bが集電体58Aを介して第1電極32及び第2電極33を押圧する。
図13に示すように、集電体58Aには端子159Aが形成され、集電体58Bには端子158Bが形成されている。集電体58Aの端子159Aは、蓋28を貫通して配置された端子棒122Aが接続されており、集電体58Bの端子158Bは、処理容器18を貫通して配置された、端子棒122Bが接続されている。水処理装置9は、蓋28に配置された端子棒122Aの端子222Aに、図示しない電源のプラス側を接続し、処理容器18に配置された端子棒122Bの端子222Bにマイナス側を接続することにより、第1電極32と第2電極33に、それぞれプラスとマイナスの電気が印加される。
実施の形態3の水処理装置9は、第1電極32及び第2電極33の厚みが規定されていないので、導電性材料の量を変えることにより、第1電極32及び第2電極33の厚さを変えることができる。これにより、脱塩性能を調整することができる。
また、実施の形態3の水処理装置9は、蓋28の押圧部28Bにより、第1電極32及び第2電極33を、集電体58A及び58Bで挟持する方向に押圧している。これにより、集電体58A及び58Bと第1電極32及び第2電極33とを、密着させることができ、脱塩処理時の電気抵抗を低減することができる。
次に、本発明の水処理装置を用いたシステム構成について、実施の形態1の水処理装置1を用いて説明する。なお、本発明の他の水処理装置2〜9を用いた場合も同様である。
図14は、本発明の水処理装置1を用いた水処理システム300を示す図である。水処理システム300は、水処理装置1と、電源部320と、被処理水槽310と、ポンプ330と、制御部350と、検出部340A及び340Bとを有している。
水処理システム300は、被処理水槽310からポンプ330によって吸い上げた被処理水を、水処理装置1に導入する。ポンプ330と水処理装置1の間の流路には、検出部340Aが配置され、水処理装置1の排出側の流路には、検出部340Bが配置されている。検出部340A及び340Bは、被処理水の電気伝導度、圧力損失、硬度又は対象除去イオン濃度などを測定する。また水処理装置1で被処理水が脱塩処理される場合、検出部340Bは、脱塩処理された処理水の電気伝導度、圧力損失、硬度又は対象除去イオン濃度などを測定することができる。なお、水処理装置1で脱塩処理を実施しない場合は、検出部340Bでは被処理水の電気伝導度、圧力損失、硬度、対象除去イオン濃度などを測定する。水処理装置1には、電源部320が接続されており、電源部320、ポンプ330、検出部340A及び340Bは、制御部35により制御されている。
なお、水処理システム300では、1つの水処理装置1を用いて構成していたが、これに限るものではない。例えば、図15に示す第1変形例の水処理システム301のように、2つの水処理装置1A及び1Bを、直列に接続してもよい。これにより、被処理水を低電気伝導度まで処理することができる。なお、3つ以上の水処理装置1を直列に接続してもよい。
また、図16に示す第2変形例の水処理システム302のように、2つの水処理装置1A及び1Bを、並列に接続してもよい。これにより、被処理水を低電気伝導度まで処理することができる。これにより、単位時間当たりの脱塩処理水量を増加させることができる。なお、3つ以上の水処理装置1を並列に接続してもよい。
さらに、図17に示す第3変形例の水処理システム303のように、2つの水処理装置1A及び1Bを直列に配置したものと、2つの水処理装置1C及び1Dを直列に配置したものとを、並列に接続してもよい。これにより、被処理水を低電気伝導度まで処理することができる。これにより、単位時間当たりの脱塩処理水量を増加させることができる。なお、3つ以上の水処理装置1を並列に接続してもよい。これにより、単位時間当たりの脱塩処理水量を増加させることができるとともに、被処理水を低電気伝導度まで処理することができる。
これらの水処理システム300〜303は、浄水、下水、排水、淡水化などの水処理に適用可能である。また、エアコンへの散水用水、冷却水、生産用水、洗浄用水の製造などにも適用できる。さらに、給湯機、食器洗浄機、洗濯機、冷温水システム、電気温水器、加湿器と組み合わせること及び浄水器として使用することもできる。また、これらの装置以外に、脱塩された水が必要な機器と組み合わせたり、搭載したりすることも可能である。
実施の形態4.
図20は、本発明の実施の形態4による水処理装置500を示す斜視図である。図21は、図20のXXI−XXI線に沿う水処理装置の断面図である。図22は、図20のXXII−XXII線に沿う水処理装置の断面図である。また、図23は、本発明の実施の形態4による水処理装置500の分解図である。
図20〜図23に示すように、水処理装置500は、被処理水を処理する処理容器501と蓋502を有している。処理容器501と蓋502との間にはパッキン510が配置されている。蓋502は、4本のネジ509によって、処理容器501に締結される。処理容器501には、被処理水の流入口506および流出口507がそれぞれ5つ配置されている。なお、パッキン510を配置せずとも処理容器501と蓋502とをネジ509で締結後、被処理水等の液体を注入して水漏れがなければ、パッキン510は配置しなくてもよい。また処理容器501と蓋502とをネジ509で締結した後、被処理水等の液体を注入するときの水漏れが防止できるものがあれば、パッキン510以外のものを用いてもよい。
処理容器501の中には、セパレータ505を挟んで、一対の集電体504A,504Bが配置されている。また、集電体504Aとセパレータ505の間には、第1電極503Aが配置され、集電体504Bとセパレータ505の間には、第2電極503Bが配置されている。第1電極503Aおよび第2電極503Bの中には、それぞれ4枚の仕切り板513が配置されている。
仕切り板513を構成する材料としては、例えば、黒鉛シート、グラフォイル、導電性ゴム、金属板、樹脂板、樹脂シート、木材などがあげられる。第1電極503Aおよび第2電極503Bのそれぞれを仕切ることができれば、どのような材料でも構わない。仕切り板513は、透水性を有していてもよい。また、仕切り板513は、導電性を有していてもよい。
蓋502には、集電体504Aに当接する押圧部502Aが形成されている。蓋502を、4本のネジ509で処理容器501に締め付けることにより、押圧部502Aが、集電体504Aを介して第1電極503A及び第2電極503Bを押圧する。なお、処理容器501、蓋502、押圧部502A、第1電極503A、第2電極503B、集電体504A、504B、セパレータ505、流入口506、及び流出口507の材料は、実施の形態1と同様の材料とする。
図21に示すように、集電体504Aと集電体504Bにはそれぞれ端子508Aと端子508Bが接続されている。端子508Aと端子508Bとの間に電気を印加することにより、集電体504Aと集電体504Bとの間、すなわち第1電極503Aと第2電極503Bとの間に電気が印加される。
実施の形態4の水処理装置500は、実施の形態3の水処理装置9と同様に、第1電極503A及び第2電極503Bの厚みが、集電体504A、集電体504B及びセパレータ505によって規定されていない。従って、導電性材料の量を変えることにより、第1電極503A及び第2電極503Bの厚みを変更することができる。これにより、脱塩性能の変更、及び調整をすることができる。
また、実施の形態4の水処理装置500は、蓋502の押圧部502Aにより、第1電極503A及び第2電極503Bを、集電体504A及び504Bによって挟持する方向に押圧している。これにより、集電体504A及び504Bと、第1電極503A及び第2電極503Bとを密着させて、脱塩処理時の電気抵抗を低減することができる。
そして、実施の形態4の水処理装置500は、第1電極503A及び第2電極503Bを、実施の形態1と同様に、導電性材料のみで形成し、構成材料同士を結着させるバインダー剤等の添加剤を用いていない。このため、隣接する第1電極503Aの間、及び、隣接する第2電極503Bの間に間隙が確保される。これにより、被処理水を第1電極503A及び第2電極503Bに直接注入することができる。また、処理水を第1電極503A及び第2電極503Bから直接排出することができる。よって、水処理装置500の圧力損失を低減することができる。
さらに、実施の形態4の水処理装置500は、第1電極503Aと第2電極503Bの中に複数の仕切り板513を配置している。そして、複数の仕切り板513により、被処理水が均等に第1電極503A及び第2電極503Bに行き渡るようにしている。これにより、脱塩性能を低下させる要因の一つである処理水の短絡(ショートパス)が、処理容器501内で発生することを抑制できる。よって、第1電極503Aおよび第2電極503Bの面積を増大させた場合であっても、安定した脱塩性能が得られる。
なお、実施の形態4の水処理装置500では、流入口506と流出口507を、処理容器501の相対する側面に配置していたが、流入口506と流出口507の配置は、これに限るものではない。流入口506と流出口507の配置は、第1電極503Aと第2電極503Bを挟んで対向する位置ならどこでもよい。例えば、処理容器501の底に流入口506を配置し、蓋502に流出口507を配置してもよい。
この場合、流入口506から第2電極503Bに液体を注入し、第1電極503Aから流出口507を通じて液体を流出可能とするために、集電体504A及び504Bに穴を設けるか、集電体504A及び504Bに透水性のある材料を用いるとよい。さらに、流入口506を処理容器501の側面に配置し、流出口507を蓋502に配置してもよい。
実施の形態4では、被処理水を第1電極503Aに直接注入するために、4つの仕切り板513により5つに区切られた第1電極503Aのそれぞれに、流入口506を配置した。そして、被処理水を第2電極503Bから直接排出させるために、4つの仕切り板513により5つに区切られた第2電極503Bのそれぞれに、流出口507を配置したが、流入口506及び流出口507の数は、これに限るものではない。第1電極503A及び第2電極503Bの中に、被処理水を長時間留まらせるためには、流入口506と流出口507との間の距離は、離れていた方が望ましい。よって、流入口506及び流出口507の数は、1つずつであってもよい。この場合にも、第1電極503Aと第2電極503Bの一方もしくは両方に対し、被処理水を直接導入または排出することが可能な位置に、流入口506及び流出口507を配置する。なお、第1電極503Aと第2電極503Bの両方に被処理水を直接導入する場合には、セパレータ505に対向する位置に、流入口506及び流出口507を配置してもよい。
さらに、実施の形態4では、第1電極503A、第2電極503B、集電体504A及び504Bをそれぞれ一つずつ配置していたが、第1電極503A、第2電極503B、集電体504A及び504Bの数は、これに限るものではない。例えば図24に示す変形例のように、第1電極503A、第2電極503B、集電体504A及び504Bを複数配置してもよい。
図24に示す変形例のように、第1電極503A、第2電極503B、集電体504A及び504Bを複数配置する場合には、集電体504A及び504Bには、液体が透過できるように通過口を設けるか、または透水性のある材料で形成する。
図24に示す変形例の場合、蓋502に接するように配置された集電体504B、および処理容器501の底に接するように配置された集電体504Bに、それぞれ電気を印加するようにしてもよい。これにより、図24に示す変形例は、積層された第1電極503A、第2電極503B、集電体504A、および集電体504Bの積層端のみに電気を印加する、バイポーラ型積層となる。
また、各集電体504Aおよび集電体504Bに端子等を設けて電源に接続し、集電体504Aと集電体504Bとのすべての間にそれぞれ電気を印加してもよい。この場合、各集電体504Aと504Bとの間にそれぞれ電気を印加する、ユニポーラ型積層となる。
さらに、実施の形態4の水処理装置500は、4本のネジ509で蓋502を処理容器501に締結していたが、ネジ509の本数は5本より多くてもよいし、3本以下であってもよい。
実施の形態5.
図25は、本発明の実施の形態5による水処理装置600を示す斜視図である。水処理装置600は、実施の形態1の変形例の一つである。
水処理装置600は、交互に配置された、2つの集電体604Aと1つの集電体604Bとを有している。各集電体604Aと集電体604Bとの間には、それぞれ、セパレータ605と、このセパレータ605によって分離された第1電極603Aおよび第2電極603Bが配置されている。
セパレータ605によって分離された第1電極603Aおよび第2電極603Bは、さらに、セパレータ605に直交する3枚の仕切り板611によって、4つに分割されている。なお、仕切り板611は、セパレータ605、集電体604A及び集電体604Bに対して平行でなければ、直交していなくてもよい。また、実施の形態5の水処理装置600の端子608A及び端子608Bは、処理容器601に接する集電体604Aのみに形成されている。
このように、実施の形態5の水処理装置600は、第1電極603Aおよび第2電極603Bを複数の仕切り板611で分割している。これにより、実施の形態5の水処理装置600は、第1電極603Aおよび第2電極603Bの面積を増大させた場合であっても、被処理水を均等に第1電極603Aおよび第2電極603Bに行き渡らせることができる。
これにより、実施の形態5の水処理装置600は、脱塩性能を低下させる要因の一つである処理水の短絡(ショートパス)が、処理容器601内で発生することを抑制できる。よって、第1電極603Aおよび第2電極603Bの面積を増大させた場合であっても、安定した脱塩性能が得られる。
さらに、実施の形態5の水処理装置600は、第1電極603A及び第2電極603Bの中に複数の仕切り板611を配置することで、第1電極603A及び第2電極603Bを押圧部602Aによって押圧するときに、各電極内を均等に押圧することができる。
次に、本発明の水処理装置を用いた脱塩効果の確認結果を、図18及び図19を用いて説明する。なお、確認には、実施の形態1の水処理装置1を用いた。
第1電極30及び第2電極31の導電性材料には粒状活性炭を用い、集電体50A及び50Bには黒鉛シートを用いた。また、集電体50A及び50Bとセパレータ60との間隔は、5mmとした。被処理水には、電気伝導度が2mS/cmの都市下水をろ過した水を使用した。処理中の流速は0.1m/minとした。
第1電極30及び第2電極31を押圧して脱塩処理を実施した結果、水処理装置1から流出する被処理水の電気伝導度Dと経過時間Tとの関係は、図18に示すようになった。なお、図18において、縦軸は電気伝導度D(mS/cm)、横軸は経過時間T(min)である。図18より、脱塩処理開始から数分で、電気伝導度Dが2mS/cmから1mS/cmに減少していることがわかる。また、集電体50Aと集電体50Bの間の電気抵抗は、0.8Ωであった。
比較例として、第1電極30及び第2電極31を押圧せずに脱塩処理を実施した結果を、図19に示す。なお、図19において、縦軸は電気伝導度D(mS/cm)、横軸は経過時間T(min)である。図19より、脱塩処理開始から20分ほどで、電気伝導度Dが2mS/cmから1.5mS/cmに減少していることがわかる。また、集電体50Aと集電体50Bの間の電気抵抗は、3.6Ωであった。
以上より、第1電極30及び第2電極31を押圧した場合に、脱塩性能が大幅に向上することが確認できた。また、集電体50Aと50Bの間の電気抵抗が、第1電極30及び第2電極31を押圧した場合に、大幅に減少することが確認できた。これにより、実施の形態1による水処理装置1の脱塩効果を確認することができた。
1〜9,1A〜1D,500,600 水処理装置、10〜18,501,601 処理容器、11A,13A 貫通孔、15A,17E,24E,26E 端子棒挿入孔、15B,20C,24C 集電体用溝、20〜28,502,602 蓋、20A,22A 貫通孔、20B〜28B,502A,602A 押圧部(押圧部材)、20D,24D セパレータ用溝、30,32,503A,603A 第1電極、31,33,503B,603B 第2電極、40,510 パッキン、50A〜58A,50B〜58B,504A,504B,604A,604B 集電体、60,61,505,605 セパレータ、70,506,606 流入口、80,507 流出口、100,509,609 ネジ、110 流出防止部材、120A〜122A,120B〜122B 端子棒、150A〜158A,150B〜158B,220A〜222A,220B〜222B,508A,508B,608A,608B 端子、200 プレス機、254A〜257A,254B〜257B 端子口、300〜303 水処理システム、310 被処理水槽、320,320A〜320D 電源部、330,330A,330B ポンプ、340A〜340F 検出部、350 制御部、400 水処理ユニット,505,605 セパレータ、513,611 仕切り板。

Claims (25)

  1. 被処理水に対して脱塩処理を行い、処理水を得る水処理装置であって、
    押圧部材と、
    前記被処理水を収容する処理容器と、
    前記処理容器に収容される、粉粒状又は繊維状の第1電極と、
    前記処理容器に収容される、粉粒状又は繊維状の第2電極と、
    前記処理容器に設けられ、前記被処理水を導入する流入口と、
    前記処理容器に設けられ、前記被処理水または前記処理水を排出する流出口と、
    前記第1電極および前記第2電極が前記流出口から流出することを防止する流出防止部材と、
    前記第1電極及び前記第2電極の間に配置されるセパレータと、
    前記処理容器に収容され、前記第1電極及び前記第2電極に電気を印加する、一対の集電体とを有し、
    前記押圧部材は、前記第1電極及び前記第2電極を、前記処理容器内で押圧する、
    水処理装置。
  2. 前記流入口と前記流出口とは、前記第1電極及び前記第2電極を挟んで、対向する位置に配置される、
    請求項1に記載の水処理装置。
  3. 請求項1又は2に記載の水処理装置であって、
    前記水処理装置は蓋を有し、
    前記押圧部材は、前記蓋に配置される、
    水処理装置。
  4. 前記押圧部材は、前記蓋と一体に形成されている、
    請求項3に記載の水処理装置。
  5. 前記蓋は、前記押圧部材と前記処理容器との距離を調整する調整部を有する、
    請求項3又は4に記載の水処理装置。
  6. 前記押圧部材は、前記処理容器の内部に対して突出する凸部を有し、
    前記押圧部材は、前記蓋が前記処理容器に取付けられた場合に、前記第1電極及び前記第2電極を前記凸部で押圧する、
    請求項3から5のいずれか1項に記載の水処理装置。
  7. 前記蓋は、前記セパレータと、前記一対の集電体との位置関係を規定する、
    セパレータ用溝と、一対の集電体用溝とを有する、
    請求項3から6のいずれか1項に記載の水処理装置。
  8. 前記一対の集電体は、それぞれ、前記一対の集電体に電気を印加するための端子を有し、
    前記端子は、前記一対の集電体が前記処理容器内に配置された場合に、前記蓋から突出する、
    請求項3から7のいずれか一項に記載の水処理装置。
  9. 前記蓋は、前記押圧部材を、前記第1電極及び前記第2電極に向けて往復移動させるプレス機を有し、
    前記プレス機は、前記押圧部材が前記第1電極及び前記第2電極を押圧する力を制御する、
    請求項3から請求項8のいずれか一項に記載の水処理装置。
  10. 前記一対の集電体は、それぞれ、前記一対の集電体に電気を印加するための端子を有し、
    前記端子は、前記一対の集電体が前記処理容器内に配置された場合に、前記処理容器から突出する、
    請求項1から9のいずれか一項に記載の水処理装置。
  11. 前記一対の集電体は、それぞれ端子口を有し、
    前記一対の集電体は、前記処理容器内に配置される場合に、前記一対の集電体のそれぞれの前記端子口が、前記セパレータを挟んで対向しない向きに配置される、
    請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の水処理装置。
  12. 前記処理容器は、前記一対の集電体の位置関係を規定する、一対の集電体用溝を有する、
    請求項1から11のいずれか一項に記載の水処理装置。
  13. 前記第1電極と第2電極の少なくとも一方の電極内に、前記第1電極または前記第2電極を分割する仕切り板を有する、
    請求項1から12のうちいずれか一項に記載の水処理装置。
  14. 請求項1から請求項13のいずれか一項に記載の水処理装置と、
    前記水処理装置に電気を供給する電源部と、
    前記水処理装置に前記被処理水を送るポンプと、
    前記被処理水または前記処理水の特性を検出する複数の検出部と、
    制御部とを有し、
    前記制御部が、前記電源部と前記ポンプ及び前記複数の検出部を制御する、
    水処理システム。
  15. 請求項1から請求項13のいずれか一項に記載の水処理装置と、
    前記水処理装置に電気を供給する電源部と、
    前記被処理水または前記処理水の特性を検出する検出部とにより形成される水処理ユニットを複数有し、
    複数の前記水処理ユニットに前記被処理水を送るポンプと、
    複数の前記水処理ユニットの前記電源部及び前記検出部と、前記ポンプを制御する制御部とを有する、
    水処理システム。
  16. 複数の前記水処理ユニットは、直列に接続されている、
    請求項15に記載の水処理システム。
  17. 複数の前記水処理ユニットは、並列に接続されている、
    請求項15に記載の水処理システム。
  18. 複数の前記水処理ユニットは、
    直列に接続された複数の前記水処理ユニットを、並列に接続して形成されている、
    請求項15に記載の水処理システム。
  19. 処理容器に、セパレータを挟んで一対の集電体を配置し、
    前記一対の集電体の一方と前記セパレータとの間に、第1電極を配置し、
    前記一対の集電体の他方と前記セパレータとの間に、第2電極を配置し、
    前記処理容器に設けられ、被処理水または前記被処理水に対して脱塩処理を行った処理水を排出する流出口に、前記第1電極および前記第2電極が前記流出口から流出することを防止する流出防止部材を配置し、
    前記処理容器の蓋に形成された押圧部材により、前記第1電極及び前記第2電極を押圧
    し、
    前記第1電極30及び第2電極31の押圧状態が、あらかじめ定められた押圧状態となった場合に、前記蓋を前記処理容器に固定する、
    水処理装置の組立方法。
  20. 前記処理容器の蓋に形成された押圧部材により、前記第1電極及び前記第2電極を押圧する工程は、
    前記第1電極と前記第2電極のうち、少なくとも一方の電極内に仕切り板を配置した状態で、前記押圧部材により、前記第1電極及び前記第2電極を押圧する、
    請求項19に記載の水処理装置の組立方法。
  21. 前記あらかじめ定められた押圧状態を、前記第1電極及び前記第2電極の圧縮率に基づいて決定する、
    請求項19または20に記載の水処理装置の組立方法。
  22. 前記あらかじめ定められた押圧状態を、前記一対の集電体間の電気抵抗に基づいて決定
    する、
    請求項19または20に記載の水処理装置の組立方法。
  23. 前記あらかじめ定められた押圧状態を、前記処理容器に被処理水を注入する前と注入し
    た後の圧力損失に基づいて決定する、
    請求項19または20に記載の水処理装置の組立方法。
  24. 処理容器に、セパレータを挟んで一対の集電体を配置し、
    前記一対の集電体の一方と前記セパレータとの間に、粉粒状又は繊維状の第1電極を配
    置し、
    前記一対の集電体の他方と前記セパレータとの間に、粉粒状又は繊維状の第2電極を配
    置し、
    前記処理容器に設けられ、被処理水または前記被処理水に対して脱塩処理を行った処理水を排出する流出口に、前記第1電極および前記第2電極が前記流出口から流出することを防止する流出防止部材を配置し、
    前記処理容器の蓋に形成された押圧部材により、前記第1電極及び前記第2電極を、前記処理容器内で押圧した状態で被処理水を処理する、
    水処理方法。
  25. 前記処理容器の蓋に形成された押圧部材により、前記第1電極及び前記第2電極を、前記処理容器内で押圧した状態は、
    前記第1電極と前記第2電極のうち、少なくとも一方の電極内に仕切り板を配置した状態で、前記押圧部材により、前記第1電極及び前記第2電極を、前記処理容器内で押圧した状態である、
    請求項24に記載の水処理方法。
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