JP6376649B2 - Method for manufacturing through electrode substrate - Google Patents

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Description

本発明は、貫通電極を形成する際に、導電性ナノ粒子を含む流動体を用いる貫通電極基板の製造方法に関する。本発明により製造された貫通電極基板は、インターポーザー等のパッケージ分野、TSV等の半導体分野に用いられる。   The present invention relates to a method for manufacturing a through electrode substrate using a fluid containing conductive nanoparticles when forming a through electrode. The through electrode substrate manufactured according to the present invention is used in a package field such as an interposer and a semiconductor field such as TSV.

従来の貫通電極付きガラス基板としては、たとえばタングステンの線材や鉄・ニッケル・コバルト合金の心材を電極材料として使用する構成が開示されている(特許文献1、特許文献2)。
上記構成をなす貫通電極付きガラス基板は、高気密性を特徴としているが、その製法上、基材となるガラスの溶融温度付近の高温まで加熱する必要がある。ゆえに、ガラスと電極材料との熱膨張係数の違いにより、ガラス基板が破損する虞があるため、熱膨張係数がガラスと近いタングステンなどの限られた金属が用いられている。つまり、上記製法により貫通電極を形成する場合には、電極材料の選択の幅が狭いという課題があった。
As a conventional glass substrate with a through electrode, for example, a configuration in which a tungsten wire or an iron / nickel / cobalt alloy core is used as an electrode material is disclosed (Patent Documents 1 and 2).
Although the glass substrate with a through electrode having the above-described structure is characterized by high airtightness, it must be heated to a high temperature near the melting temperature of the glass serving as a base material because of its manufacturing method. Therefore, the glass substrate may be damaged due to the difference in thermal expansion coefficient between the glass and the electrode material. Therefore, a limited metal such as tungsten having a thermal expansion coefficient close to that of glass is used. That is, when the through electrode is formed by the above manufacturing method, there is a problem that the selection range of the electrode material is narrow.

また、上記製法は、ガラスが変形する温度まで加熱する工程を必須とするため、ガラス基板の表面の平坦性が損なわれ易い。そこで、半導体やMEMSなどが形成された他の基板と貼り合わせて利用するためには、上記製法により得られた貫通電極付きガラス基板は、貫通電極を形成した後に、基板を研磨することが必要となる。しかしながら、このガラスの中に金属の電極が埋め込まれた基板の表面を研磨するには、特殊な研磨技術が必要となり工程が複雑になるという課題があった。   Moreover, since the said manufacturing method requires the process heated to the temperature which glass deform | transforms, the flatness of the surface of a glass substrate is easy to be impaired. Therefore, in order to use by bonding to another substrate on which a semiconductor, MEMS, or the like is formed, the glass substrate with a through electrode obtained by the above manufacturing method needs to be polished after the through electrode is formed. It becomes. However, in order to polish the surface of the substrate in which the metal electrode is embedded in the glass, there is a problem that a special polishing technique is required and the process becomes complicated.

他に貫通電極付き基板(TSV、TGV)を形成する方法としては、メッキによる穴埋めもあるが、高アスペクトで微細な穴においては十分な気密性を得ることが難しい。
また、ナノサイズの粒径の粒径よりも大きな通常の導電性粒子、あるいは、これらを含むインク・ペーストの焼結温度は一般に500℃以上の高温が必要となり、ガラスとの熱膨張係数の違いによる問題が顕在化する。
As another method for forming a substrate with a through electrode (TSV, TGV), there is a hole filling by plating, but it is difficult to obtain sufficient airtightness in a high aspect and fine hole.
Also, the normal conductive particles larger than the nano-sized particle size, or the sintering temperature of the ink paste containing these, generally requires a high temperature of 500 ° C. or more, and the difference in thermal expansion coefficient from glass The problem due to.

フリットガラスなどの焼成後も残るバインダーを混合することにより、低温で電極を成形させる方法も可能であるが、バインダーを含むために抵抗値が高くなる。さらに貫通電極付き基板と半導体やMEMSなどを形成した他の基板との接合の際に、バインダの軟化が開始しないように、成形温度以下の低温で処理しなければならず、利用できる範囲が狭くなってしまう。(硼珪酸ガラスとシリコンウェハの陽極接合では一般的に400℃程度のプロセス温度が必要とされる。)   A method of forming an electrode at a low temperature by mixing a binder that remains after baking such as frit glass is also possible, but the resistance value increases because the binder is included. Furthermore, when joining the substrate with a through electrode to another substrate on which a semiconductor, MEMS, or the like is formed, the binder must be processed at a temperature lower than the molding temperature so that the softening of the binder does not start, and the usable range is narrow. turn into. (In general, a process temperature of about 400 ° C. is required for anodic bonding of borosilicate glass and a silicon wafer.)

特開2011−151414号公報JP 2011-151414 A 特開2006−60119号公報JP 2006-60119 A

本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、ガラス基板と貫通電極との熱膨張係数の違いを考慮する必要がなく、貫通電極の形成後にガラス基板の研磨が不要であり、気密性の高い貫通電極を形成することが可能な、貫通電極基板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is not necessary to consider the difference in thermal expansion coefficient between the glass substrate and the through electrode, and it is not necessary to polish the glass substrate after the through electrode is formed. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a through electrode substrate capable of forming a through electrode having a high height.

本発明の請求項1に記載の貫通電極基板の製造方法は、平板状のガラスからなる基体の一面に対して、貫通孔を前記基体の内部に形成する第一工程と、前記第一工程を経た基体の他面に対してフィルム状の封止材を貼付することにより、該他面側において前記貫通孔を封止する第二工程と、前記第二工程を経た基体の一面側から前記貫通孔の内部に、導電性ナノ粒子を含む流動体Aを充填し、前記封止材の耐熱温度より低い温度で、該導電性ナノ粒子を焼結させることにより、貫通電極を形成する第三工程と、を含み、さらに、前記第二工程と前記第三工程との間に、前記第二工程により形成された貫通孔の内側面に対して、アルコキシランベースのゾルゲル溶液からなる流動体Cを用いて皮膜を形成する工程α、を備えることを特徴とする。
本発明の請求項2に記載の貫通電極基板の製造方法は、平板状のガラスからなる基体の一面に対して、貫通孔を前記基体の内部に形成する第一工程と、前記第一工程を経た基体の他面に対してフィルム状の封止材を貼付することにより、該他面側において前記貫通孔を封止する第二工程と、前記第二工程を経た基体の一面側から前記貫通孔の内部に、導電性ナノ粒子を含む流動体Aを充填し、前記封止材の耐熱温度より低い温度で、該導電性ナノ粒子を焼結させることにより、貫通電極を形成する第三工程と、を含み、さらに、前記貫通電極の内部に微細孔が残存する場合、アルコキシランベースのゾルゲル溶液からなる流動体Cを用いて、該微細孔を埋めて修復する工程β、
を備えることを特徴とする。
本発明の請求項に記載の貫通電極基板の製造方法は、請求項1又は2において、前記第一工程において、前記基体の他面に対して凹部が予め形成された基体を用いることを特徴とする
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a through electrode substrate, comprising: a first step of forming a through hole inside the base with respect to one surface of a base made of flat glass; and the first step. A second step of sealing the through-hole on the other surface side by applying a film-like sealing material to the other surface of the substrate that has undergone, and the penetration from the one surface side of the substrate that has undergone the second step The third step of forming the through electrode by filling the fluid A containing conductive nanoparticles in the pores and sintering the conductive nanoparticles at a temperature lower than the heat resistance temperature of the sealing material. When, only contains, further wherein between the second step and the third step, to the inner surface of the second through-hole formed by the process, the fluid C composed of alkoxysilanes based sol-gel solution characterized in that it comprises the steps alpha, of forming a film by using a
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a through electrode substrate comprising: a first step of forming a through hole in the base of one surface of the base made of flat glass; and the first step. A second step of sealing the through-hole on the other surface side by applying a film-like sealing material to the other surface of the substrate that has undergone, and the penetration from the one surface side of the substrate that has undergone the second step The third step of forming the through electrode by filling the fluid A containing conductive nanoparticles in the pores and sintering the conductive nanoparticles at a temperature lower than the heat resistance temperature of the sealing material. And when the micropores remain inside the through electrode, a fluid β made of an alkoxylane-based sol-gel solution is used to fill and repair the micropores β,
It is characterized by providing.
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing the through electrode substrate according to the first or second aspect , wherein in the first step, a base having a recess formed in advance on the other surface of the base is used. to.

発明の請求項に記載の貫通電極基板の製造方法は、請求項において、前記工程βは、前記第工程を経た基体を密閉容器に入れて、前記密閉容器の内部を排気する工程β1と、前記工程β1を経た基体を内在する密閉容器に、該密閉容器の内部を排気しながら、該密閉容器の内部に流動体Eを導入し、該基体が該流動体Eに浸漬された状態とする工程β2と、前記工程β2を経た基体に該流動体Eを介して圧力を加える工程β3と、前記工程β3を経た基体を前記密閉容器から取出し、該基体の外面に付着した流動体Eを除去する工程β4と、前記工程β4を経た基体の他面側に第四加熱手段を設けて、前記基体をプリベーク処理する工程β5と、前記工程β5を経た基体の他面側に第五加熱手段を設けて、前記基体を焼成処理することにより、前記微細孔が修復された貫通電極を形成する工程β6と、前記工程β6を経た基体から前記第五加熱手段を外し、該基体を洗浄処理する工程β7と、から構成されることを特徴とする。 According to Claim 4 of the present invention, in the method of manufacturing a through electrode substrate according to Claim 2 , the step β is a step of putting the substrate that has undergone the third step into a sealed container and exhausting the inside of the sealed container. and .beta.1, the sealed container inherent said through the steps .beta.1 substrate, while exhausting the inside of the sealed vessel, introducing a flow body E in the interior of the sealed container, said substrate is immersed in fluid element E A state β2, a step β3 in which pressure is applied to the substrate that has undergone the step β2 via the fluid E, and a fluid that has been removed from the sealed container and has adhered to the outer surface of the substrate A step β4 for removing E, a step β5 for pre-baking the substrate by providing a fourth heating means on the other surface side of the substrate after the step β4, and a fifth surface on the other surface side of the substrate after the step β5. By providing a heating means and firing the substrate And a step β6 for forming a through electrode in which the micropores are repaired, and a step β7 for removing the fifth heating means from the substrate that has undergone the step β6 and cleaning the substrate. To do.

本発明の請求項に記載の貫通電極基板は、基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に設けられた導電性ナノ粒子からなり、前記貫通孔の内側面には、アルコキシランベースのゾルゲル溶液から形成された被膜からなる密着層が配されていることを特徴とする。
本発明の請求項6に記載の貫通電極基板は、基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に設けられた導電性ナノ粒子からなり、前記貫通電極に内在する微細孔には、アルコキシランベースのゾルゲル溶液を用いた形成物が充填されていることを特徴とする。


Through electrode substrate according to claim 5 of the present invention, a through electrode substrate comprising a through electrode on a substrate, the through electrode Ri Do conductive nanoparticles provided in the through hole of the base body An adhesive layer made of a coating formed from an alkoxylane-based sol-gel solution is disposed on the inner surface of the through hole .
The through electrode substrate according to claim 6 of the present invention is a through electrode substrate comprising a through electrode on a base, the through electrode being made of conductive nanoparticles provided in a through hole of the base, The micropores present in the through electrode are filled with a formation using an alkoxylane-based sol-gel solution.


本発明では、ガラスからなる基体に設けた貫通孔に、導電性ナノ粒子を含む流動体Aを充填した後、該基体に対してプリベーク処理および焼成処理を施し、貫通電極を形成する。導電性ナノ粒子は、500℃以下の低温において焼成が可能である。ゆえに、基体をなすガラスと貫通電極をなす材料の熱膨張差が、従来より小さくて済むため、ガラス基板と貫通電極との熱膨張係数の違いを考慮する必要のない、貫通電極基板の製造方法が得られる。これにより、導電性ナノ粒子を構成する元素の限定が緩和されるので、タングステン以外の多用な材料を選択可能となる。したがって、本発明によれば、所望の導電性が得られる元素からなる貫通電極を有する貫通電極基板の製造が可能となる。   In the present invention, the through-hole provided in the substrate made of glass is filled with the fluid A containing conductive nanoparticles, and then the substrate is subjected to pre-bake treatment and firing treatment to form a through electrode. The conductive nanoparticles can be fired at a low temperature of 500 ° C. or lower. Therefore, since the difference in thermal expansion between the glass forming the substrate and the material forming the through electrode can be smaller than in the past, there is no need to consider the difference in the thermal expansion coefficient between the glass substrate and the through electrode, and the method for manufacturing the through electrode substrate Is obtained. Thereby, since limitation of the element which comprises electroconductive nanoparticle is relieve | moderated, it becomes possible to select various materials other than tungsten. Therefore, according to the present invention, it is possible to manufacture a through electrode substrate having a through electrode made of an element that provides desired conductivity.

また、基体の一面上に付着した、導電性ナノ粒子を含む流動体Aを振り切ってから熱処理を行い、基体の貫通孔内部に貫通電極を形成した後、基体からフィルムを除去するだけで、基体の一面側と他面側に露呈する貫通電極の上下面は自ずと平坦性が確保される。ゆえに、本発明は、貫通電極の形成後にガラス基板の研磨が不要な、貫通電極基板の製造方法の提供に貢献する。   Further, after the fluid A containing conductive nanoparticles adhered to one surface of the substrate is shaken off, heat treatment is performed, a through electrode is formed inside the through hole of the substrate, and then the film is removed from the substrate. Flatness is naturally secured on the upper and lower surfaces of the through electrode exposed on the one surface side and the other surface side. Therefore, this invention contributes to provision of the manufacturing method of a through-electrode board | substrate which does not need the grinding | polishing of a glass substrate after formation of a through-electrode.

さらに、基体の貫通孔内部に充填された導電性ナノ粒子を含む流動体Aに対して、まずプリベーク処理により流動体Aに含まれる溶媒を揮発させる。その後、焼成処理により流動体Aに含まれる導電性ナノ粒子同士を焼結させることにより、貫通孔内に導電性を有する貫通電極が形成される。流動体Aが、たとえば導電性ナノ粒子を含むインク・ペーストの場合、粒子の分散安定性を発現させるために、粒子表面に分散剤を吸着させている。本発明では、プリベーク処理により溶媒を除去し、次工程である焼成処理により、この分散剤を離脱・除去させるので、粒子同士の焼結が効率よく進行し、気密性の高い貫通電極を形成することが可能となる。   Further, the solvent contained in the fluid A is first volatilized by pre-baking treatment with respect to the fluid A containing the conductive nanoparticles filled in the through holes of the substrate. Thereafter, the conductive nanoparticles contained in the fluid A are sintered by a firing process, whereby conductive through electrodes are formed in the through holes. In the case where the fluid A is, for example, an ink paste containing conductive nanoparticles, a dispersant is adsorbed on the particle surface in order to develop the dispersion stability of the particles. In the present invention, the solvent is removed by pre-bake treatment, and the dispersing agent is separated and removed by the firing process, which is the next step, so that the sintering of the particles proceeds efficiently and a highly airtight through electrode is formed. It becomes possible.

なお、本発明に係る流動体Aは、上述した導電性ナノ粒子を含むインク・ペーストに限定されるものではなく、分散剤を吸着させた導電性ナノ粒子からなる粉体の状態で用いても良い。ただし、粉体の状態で用いる場合は、プリベーク処理の温度を分散剤が離脱を始める温度とし、より高温で次工程である焼成処理を行うことが好ましい。   The fluid A according to the present invention is not limited to the above-described ink paste containing conductive nanoparticles, and may be used in the form of powder composed of conductive nanoparticles adsorbed with a dispersant. good. However, when used in a powder state, it is preferable that the temperature of the pre-bake treatment is set to a temperature at which the dispersing agent starts to be detached, and the baking treatment that is the next step is performed at a higher temperature.

本発明に係る貫通電極基板の製造方法を示すフローチャート。The flowchart which shows the manufacturing method of the penetration electrode substrate concerning the present invention. 図1に示す第三工程の一例を含むフローチャート(第一実施形態)。The flowchart (1st embodiment) containing an example of the 3rd process shown in FIG. 図2に基づく製造方法を工程順に示す模式断面図。The schematic cross section which shows the manufacturing method based on FIG. 2 in order of a process. 図3に続く各工程を順に示す模式断面図。The schematic cross section which shows each process following FIG. 3 in order. 図1に示す第三工程の他の一例を含むフローチャート(第二実施形態)。The flowchart containing other examples of the 3rd process shown in FIG. 1 (2nd embodiment). 図5に基づく製造方法の一例を工程順に示す模式断面図。The schematic cross section which shows an example of the manufacturing method based on FIG. 5 in order of a process. 図6に続く各工程を順に示す模式断面図。The schematic cross section which shows each process following FIG. 6 in order. 図1に示す第三工程の他の一例を含むフローチャート(第三実施形態)。7 is a flowchart including another example of the third step shown in FIG. 1 (third embodiment). 図8に基づく製造方法の一例を工程順に示す模式断面図。The schematic cross section which shows an example of the manufacturing method based on FIG. 8 in order of a process. 図9に続く各工程を順に示す模式断面図。The schematic cross section which shows each process following FIG. 9 in order. 図10に続く各工程を順に示す模式断面図。FIG. 11 is a schematic cross-sectional view sequentially illustrating each step following FIG. 10. 図2、図5、図8の後段に設けられるフローチャート。FIG. 9 is a flowchart provided in the subsequent stage of FIGS. 2, 5, and 8. 図4、図7、図11の最終工程の後に追加する工程を順に示す模式断面図。FIG. 12 is a schematic cross-sectional view sequentially illustrating steps added after the final step of FIGS. 4, 7, and 11. 図13に続く各工程を順に示す模式断面図。FIG. 14 is a schematic cross-sectional view sequentially illustrating each step following FIG. 13.

以下では、本発明に係る貫通電極基板の製造方法について、図面に基づいて説明する。
図1は、本発明に係る貫通電極基板の製造方法を示すフローチャートであり、以下の3工程を含んでいる。
・基体の一面から他面に向けて貫通孔を形成する第一工程。
・基体の他面にフィルムを貼付し、他面側で貫通孔を封止する第二工程。
・基体の一面に導電性ナノ粒子を含む流動体を導入し、貫通孔内において流動体に含まれる導電性ナノ粒子を焼結させて、貫通電極を形成する第三工程。
以上の3工程を経ることにより、本発明に係る貫通電極基板が得られる。
なお、本発明では、流動体に混入され、その後の熱処理により、貫通電極(または配線パターン)となる材料である、「導電性ナノ粒子」のことを、出発材料とも呼ぶ。
Below, the manufacturing method of the penetration electrode substrate concerning the present invention is explained based on a drawing.
FIG. 1 is a flowchart showing a method for manufacturing a through electrode substrate according to the present invention, which includes the following three steps.
A first step of forming a through hole from one surface of the substrate toward the other surface.
A second step of sticking a film to the other surface of the substrate and sealing the through hole on the other surface side.
A third step of forming a through electrode by introducing a fluid containing conductive nanoparticles on one surface of the substrate and sintering the conductive nanoparticles contained in the fluid in the through hole.
Through the above three steps, the through electrode substrate according to the present invention is obtained.
In the present invention, “conductive nanoparticles”, which is a material that is mixed into a fluid and becomes a through electrode (or wiring pattern) by subsequent heat treatment, is also referred to as a starting material.

本発明は、上記3工程のうち、特に第三工程が特徴部である。第三工程の違いにより、以下に述べる3つのタイプの実施形態が挙げられる。
第一実施形態:導電性ナノ粒子を含む流動体を貫通孔へ充填し、焼結させて貫通電極を形成する場合(平板状の基体に適用)。
第二実施形態:凹部を加工した基体に対して第一実施形態の製法を適用した場合。
第三実施形態:ゾルゲル溶液により貫通孔の側面に皮膜を形成した後、第一実施形態の製法を適用した場合。
そして、第四実施形態は、上記3つの実施形態の追加工程(additional works)である。すなわち、第四実施形態においては、上記3つの実施形態により貫通電極が既に形成された基体を用い、貫通電極の内部に残存する微細孔を修復する。
以下では、第一実施形態〜第四実施形態を順に説明する。
In the present invention, among the above three steps, the third step is a characteristic part. Due to the difference in the third step, there are three types of embodiments described below.
First embodiment: When a fluid containing conductive nanoparticles is filled into a through hole and sintered to form a through electrode (applied to a flat substrate).
Second embodiment: When the manufacturing method of the first embodiment is applied to a substrate having a recess.
Third embodiment: A case where the manufacturing method of the first embodiment is applied after a film is formed on the side surface of the through hole with a sol-gel solution.
The fourth embodiment is an additional work of the above three embodiments. That is, in the fourth embodiment, the micropores remaining inside the through electrode are repaired using the substrate on which the through electrode has already been formed according to the above three embodiments.
Below, 1st embodiment-4th embodiment are described in order.

<第一実施形態>
図2〜図4は、第一実施形態に係る図面であり、図2はフローチャートを、図3は図2に基づく製造方法の一例を工程順に示す模式断面図、図4は図3に続く各工程を順に示す模式断面図である。
<First embodiment>
2 to 4 are drawings according to the first embodiment, FIG. 2 is a flow chart, FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an example of the manufacturing method based on FIG. 2, and FIG. It is a schematic cross section which shows a process in order.

第一実施形態の製造方法は、図1に示すように、以下の7工程を含んでおり、特にSA3〜SA6が第三工程に相当する。
・基体10の一面から他面に向けて貫通孔12を形成する[SA1(第一工程):図3(a)]。
その際、必要に応じて、基体10の一面にフィルム11を予め設ける。
・基体10の他面にフィルム13を貼付し、他面側で貫通孔12を封止する[SA2(第二工程):図3(b)]。
・基体10の一面に導電性ナノ粒子を含む流動体A14を塗布し、貫通孔12の内部に流動体A14を充填する[SA3(第三工程):図3(c)]。
・基体10を回転させて基体の一面上に付着した流動体A14を振り切る[SA4(第三工程):図3(d)]。
・加熱手段16aを用いて基体10をプリベーク処理する[SA5(第三工程):図4(e)]。
・加熱手段16bを用いて基体10を焼成処理することにより、貫通電極14Aを形成する[SA6(第三工程):図4(f)]。
・加熱手段16bを外し、基体10からフィルム11、13を除去した後、基体11を洗浄する[SA7(第四工程):図3(g)]。
以上の7工程を経ることにより、貫通電極基板SAが得られる。
As shown in FIG. 1, the manufacturing method of the first embodiment includes the following seven steps, and particularly SA3 to SA6 correspond to the third step.
The through-hole 12 is formed from one surface of the substrate 10 toward the other surface [SA1 (first step): FIG. 3A].
At that time, a film 11 is provided in advance on one surface of the substrate 10 as necessary.
-The film 13 is stuck on the other surface of the substrate 10, and the through hole 12 is sealed on the other surface side [SA2 (second step): FIG. 3 (b)].
A fluid A14 containing conductive nanoparticles is applied to one surface of the substrate 10, and the fluid A14 is filled in the through holes 12 [SA3 (third step): FIG. 3 (c)].
The substrate 10 is rotated to shake off the fluid A14 attached on one surface of the substrate [SA4 (third step): FIG. 3 (d)].
The substrate 10 is pre-baked using the heating means 16a [SA5 (third step): FIG. 4 (e)].
The through-electrode 14A is formed by baking the substrate 10 using the heating means 16b [SA6 (third step): FIG. 4 (f)].
After removing the heating means 16b and removing the films 11 and 13 from the substrate 10, the substrate 11 is washed [SA7 (fourth step): FIG. 3 (g)].
Through the above seven steps, the through electrode substrate SA is obtained.

第一工程(SA1)では、基体10としてガラスからなる基板を用意し、この基板の一面(図2において上面)から他面(図2において下面)に向けて、たとえばサンドブラスト加工(以下、ブラスト加工とも呼ぶ)により、貫通穴12を形成する。その際、基板の一面には、貫通穴に相当する位置に開口部を有する、マスキング用のドライフィルム11が多用される。また、ブラスト加工のマスキングに使用したドライフィルムを剥離せずに残しておき、後加工における保護膜・マスキング膜として使用することができる。さらに、保護膜・マスキング膜に用いる場合は耐熱性の高いポリイミドを用いると有効である。   In the first step (SA1), a substrate made of glass is prepared as the base 10 and, for example, sandblasting (hereinafter referred to as blasting) is performed from one surface (upper surface in FIG. 2) to the other surface (lower surface in FIG. 2). Through holes 12 are also formed. At that time, a masking dry film 11 having an opening at a position corresponding to the through hole is frequently used on one surface of the substrate. Further, the dry film used for blasting masking can be left without peeling and used as a protective film or masking film in post-processing. Furthermore, when used for a protective film / masking film, it is effective to use polyimide having high heat resistance.

上記のガラスからなる基板10としては、事前に研磨を行い、平坦で清浄な表面を有する物を用いた。なお、ガラスは他にソーダライムガラス・無アルカリガラス・白板・石英など種々のガラスを用いることができる。なお、本実施形態では、基体がガラスからなる基板の場合について詳述するが、基体として、ガラス以外の基板、たとえばシリコン、SiC、セラミックスなどの基板を用いても、本発明の製造方法は適用可能である。   As the substrate 10 made of the glass, a substrate having a flat and clean surface was previously polished. In addition, various kinds of glass such as soda lime glass, non-alkali glass, white plate, and quartz can be used as the glass. In the present embodiment, the case where the substrate is a substrate made of glass will be described in detail. However, even if a substrate other than glass, for example, a substrate such as silicon, SiC, or ceramics, is used as the substrate, the manufacturing method of the present invention is applicable. Is possible.

貫通穴の加工方法は、上述したブラスト加工に限定されるものではなく、たとえば、ドライエッチング法や、レーザー加工、機械加工などを適宜採用することができる。加工方法によっては、ブラスト法において用いたドライフィルム11は設ける必要がない。また、貫通穴のサイズやピッチなどのデザインも自由である。レーザー加工では、φ0.02mm程度までの貫通穴が可能であり、より微細な貫通電極が必要な場合は望ましい。さらに微細な貫通電極が必要な場合は、ドライエッチング法を用いることができる。この時、予めポリイミドなどの耐熱性のある材料のフィルムまたは塗布液で表面を保護しておくことが望ましい。   The through hole processing method is not limited to the blast processing described above, and, for example, a dry etching method, laser processing, machining, or the like can be appropriately employed. Depending on the processing method, it is not necessary to provide the dry film 11 used in the blasting method. Moreover, the design of the size and pitch of the through holes is also free. In laser processing, a through hole having a diameter of up to about 0.02 mm is possible, which is desirable when a finer through electrode is required. When a finer through electrode is required, a dry etching method can be used. At this time, it is desirable to protect the surface in advance with a film of a heat resistant material such as polyimide or a coating solution.

第二工程(SA2)では、前工程(SA1)により貫通穴12を加工したガラス基板10の他面(図2において下面:ブラスト加工で貫通側となる面)に、ポリイミド製のフィルム13をたとえばラミネータを用いて貼付する。   In the second step (SA2), a polyimide film 13 is formed on the other surface of the glass substrate 10 in which the through hole 12 has been processed in the previous step (SA1) (the lower surface in FIG. Apply using a laminator.

第三工程は、次の4ステップ(SA3〜SA6)から構成される。
第一ステップ(SA3)では、前工程(SA2)によりフィルム13を他面に設けた基体10の一面に、導電性ナノ粒子を含む流動体A14を塗布することにより、貫通孔12の内部に流動体A14を充填する。その際、基体10の一面上において、流動体A14がパドル状にディスペンスされた状態とする。
インクの充填方法は、ディスペンス法に限定されるものではなく、印刷法や吸引法などの他の方法で貫通穴にインクを充填しても良い。
The third step includes the following four steps (SA3 to SA6).
In the first step (SA3), the fluid A14 containing conductive nanoparticles is applied to one surface of the substrate 10 on which the film 13 is provided on the other surface in the previous step (SA2), whereby the fluid flows into the through hole 12. Fill body A14. At that time, the fluid A <b> 14 is dispensed in a paddle shape on one surface of the substrate 10.
The ink filling method is not limited to the dispensing method, and the through hole may be filled with another method such as a printing method or a suction method.

導電性ナノ粒子を含む流動体A14としては、たとえば、平均粒子径3.8nmのAg粒子を導電性粒子とするインク(固形成分濃度:58wt%、粘度:10mPs・s、密度:1.7g/cm、溶媒:テトラデカン)が好適に用いられる。このようなインクとしては、たとえば、株式会社アルバック製のナノメタルインクが挙げられる。 As the fluid A14 containing conductive nanoparticles, for example, an ink containing Ag particles having an average particle diameter of 3.8 nm as conductive particles (solid component concentration: 58 wt%, viscosity: 10 mPs · s, density: 1.7 g / cm 3 , solvent: tetradecane) is preferably used. As such an ink, for example, nanometal ink manufactured by ULVAC, Inc. may be mentioned.

第二ステップ(SA4)では、前工程(SA3)により基体10の一面側から流動体A14が塗布された基体10を回転させて、基体10の一面上に付着した余分なインク(流動体A14)を振り切る。これにより、基体10の一面側に露呈する貫通孔12の上面をなすインク(流動体A14)が平坦化される。ただし、「回転させて振り切る手法」に代えて、スキージを用いて余分なインク(流動体A14)を除去、貫通孔12の上面をなすインク(流動体A14)の平坦化をなす方法等を用いてもよい。   In the second step (SA4), excess ink (fluid A14) adhered on one surface of the substrate 10 is rotated by rotating the substrate 10 coated with the fluid A14 from one surface side of the substrate 10 in the previous step (SA3). Shake off. Thereby, the ink (fluid A14) forming the upper surface of the through-hole 12 exposed on one surface side of the substrate 10 is flattened. However, instead of the “rotating and shaking method”, a method of removing excess ink (fluid A14) using a squeegee and flattening the ink (fluid A14) forming the upper surface of the through hole 12 is used. May be.

第三ステップ(SA5)では、前工程(SA4)により貫通孔12の上面をなすインク(流動体A14)が平坦化された基体10を、加熱手段16aを用いてプリベーク処理する。その際、インク(流動体A14)が平坦化された基体10の一面が上面をなし、基体10の他面(フィルム13が貼付された面)が下面をなすように配置した上で、フィルム13を介して基体10に熱が伝導されるように、加熱手段16aを設ける。これにより、加熱手段16aを用いて基体10のプリベーク処理が行われる。   In the third step (SA5), the substrate 10 on which the ink (fluid A14) that forms the upper surface of the through hole 12 in the previous step (SA4) has been planarized is pre-baked using the heating means 16a. At that time, the surface of the substrate 10 on which the ink (fluid A14) is flattened is the upper surface, and the other surface of the substrate 10 (the surface to which the film 13 is attached) is the lower surface. A heating means 16a is provided so that heat is conducted to the base 10 via the. Thereby, the prebaking process of the base | substrate 10 is performed using the heating means 16a.

このようなプリベーク処理は、たとえば、ホットプレートからなる加熱手段16aを用いて行われる。プリベーク処理の目的は、インクに含まれる溶媒を揮発させることであり、たとえば、70℃、30分という条件で行われる。
なお、貫通孔12の内部に対する流動体A14の充填が十分でない場合は、充填からプリベークまでの工程(SA3、SA4、SA5)を、複数回繰り返しても良い。
Such a pre-baking process is performed using the heating means 16a which consists of a hot plate, for example. The purpose of the pre-baking process is to volatilize the solvent contained in the ink, and is performed, for example, under conditions of 70 ° C. and 30 minutes.
If the fluid A14 is not sufficiently filled into the through-hole 12, the steps from filling to pre-baking (SA3, SA4, SA5) may be repeated a plurality of times.

また、図3〜図4には、ブラスト加工時にマスキングとして、基体10の一面(上面)に設けたドライフィルム11を残して各工程が行われる事例を示しているが、そのドライフィルム11が耐熱性の低いフィルムの場合は、この時点(プリベーク処理の前:SA4とSA5の間)で、フィルム11を剥がす。ファイル11が耐熱性の高いフィルムの場合には、そのままの状態で良い(フィルム11を剥がすことなく、SA5以降の工程に進む)。   3 to 4 show examples in which each process is performed while leaving the dry film 11 provided on one surface (upper surface) of the substrate 10 as masking during blasting. The dry film 11 is heat resistant. In the case of a film having low properties, the film 11 is peeled off at this point (before the pre-bake treatment: between SA4 and SA5). When the file 11 is a film having high heat resistance, the state can be left as it is (the process proceeds to SA5 and subsequent steps without removing the film 11).

第四ステップ(SA6)では、前工程(SA5)により貫通穴に充填されたインク(流動体A14)から溶媒が揮発した状態にある基体11を、加熱手段16bを用いて焼成処理することにより、貫通電極14Aを形成する。
このような焼成処理は、たとえば、ホットプレートからなる加熱手段16bを用いて行われる。焼成処理の目的は、貫通穴に充填されたインク(流動体A14)を固化させることであり、たとえば、ポリイミドの耐熱温度より低い300℃、1時間という条件で行われる。
In the fourth step (SA6), the substrate 11 in which the solvent is volatilized from the ink (fluid A14) filled in the through holes in the previous step (SA5) is baked using the heating means 16b, A through electrode 14A is formed.
Such a baking process is performed using the heating means 16b which consists of a hotplate, for example. The purpose of the baking treatment is to solidify the ink (fluid A14) filled in the through holes, and is performed, for example, under conditions of 300 ° C. and 1 hour lower than the heat resistant temperature of polyimide.

上記第四ステップ(SA6)の説明においては、流動体A14がインク・ペーストからなる場合を詳述した。しかしながら、本発明に係る流動体Aは、上述した導電性ナノ粒子を含むインク・ペーストに限定されるものではなく、分散剤を吸着させた導電性ナノ粒子からなる粉体の状態で用いても良い。ただし、粉体の状態で用いる場合は、プリベーク処理の温度を分散剤が離脱を始める温度とし、より高温で次工程である焼成処理を行うことが好ましい。   In the description of the fourth step (SA6), the case where the fluid A14 is made of ink paste has been described in detail. However, the fluid A according to the present invention is not limited to the ink paste containing the conductive nanoparticles described above, and may be used in the form of powder composed of conductive nanoparticles adsorbed with a dispersant. good. However, when used in a powder state, it is preferable that the temperature of the pre-bake treatment is set to a temperature at which the dispersing agent starts to be detached, and the baking treatment that is the next step is performed at a higher temperature.

第四工程(SA7)では、前工程(SA6)により貫通穴に充填されたインク(流動体A14)を固化させて貫通電極14Aが形成された状態にある基体10から、加熱手段16bを外し、基体10からフィルム11、13を除去した後、基体10を洗浄する。
基体10からフィルム11、13を除去(剥離)する作業は、所望の温度以下に基体10が冷却された後に行われる。基体10の洗浄処理は、たとえば、ガラス基板用洗剤・純水を用いて行われる。その後に、IPAベーパー乾燥を行うことが好ましい。
In the fourth step (SA7), the heating means 16b is removed from the base 10 in which the ink (fluid A14) filled in the through holes in the previous step (SA6) is solidified to form the through electrodes 14A. After removing the films 11 and 13 from the substrate 10, the substrate 10 is washed.
The operation of removing (peeling) the films 11 and 13 from the substrate 10 is performed after the substrate 10 is cooled to a desired temperature or lower. The cleaning process of the substrate 10 is performed using, for example, a glass substrate detergent / pure water. Thereafter, it is preferable to perform IPA vapor drying.

第一実施形態では、上述したSA1〜SA7を経ることにより、貫通電極14A(MA)を備えた貫通電極基板SAを作製した。ゆえに、第一実施形態に係る貫通電極基板SAは、基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に設けられた導電性ナノ粒子から構成されている。
作製した貫通電極基板SAを構成する貫通電極14Aの気密性は、真空吹付け法(JIS Z2331、附属書1(→http://kikakurui.com/z2/Z2331-2006-01.html))を用いて評価した。その結果、貫通電極14Aの気密性は、1×10−9[Pa・m/sec]以下であり、良好な気密性を有することが確認された。
In 1st embodiment, penetration electrode board SA provided with penetration electrode 14A (MA) was produced by passing through SA1-SA7 mentioned above. Therefore, the through electrode substrate SA according to the first embodiment is a through electrode substrate in which a base is provided with a through electrode, and the through electrode is composed of conductive nanoparticles provided in a through hole of the base. ing.
The airtightness of the through electrode 14A constituting the manufactured through electrode substrate SA is determined by a vacuum spraying method (JIS Z2331, Annex 1 (→ http: //kikakurui.com/z2/Z2331-2006-01.html)). Evaluated. As a result, the airtightness of the through electrode 14A was 1 × 10 −9 [Pa · m 3 / sec] or less, and it was confirmed that the through electrode 14A has a good airtightness.

<第二実施形態>
図5〜図7は、第二実施形態に係る図面であり、図5はフローチャートを、図6は図5に基づく製造方法の一例を工程順に示す模式断面図、図7は図6に続く各工程を順に示す模式断面図である。
<Second embodiment>
5 to 7 are drawings according to the second embodiment, FIG. 5 is a flowchart, FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing an example of the manufacturing method based on FIG. 5, and FIG. It is a schematic cross section which shows a process in order.

第二実施形態の製造方法は、図5に示すように、以下の8工程を含んでいる。
第二実施形態の製造方法は、図5に示すように、以下の8工程を含んでおり、特にSB4〜SB7が第三工程に相当する。
・基体20の他面に凹部20Cを形成する[SB1(前工程):図6(a)]。
・基体20の一面から他面に向けて貫通孔22を形成する[SB2(第一工程):図6(b)]。
その際、必要に応じて、基体20の一面にフィルム21を予め設ける。
・基体20の他面にフィルム23を貼付し、他面側で貫通孔22を封止する[SB3(第二工程):図6(c)]。
・基体20の一面に導電性ナノ粒子を含む流動体B24を塗布し、貫通孔22の内部に流動体B24を充填する[SB4(第三工程):図6(d)]。
・基体20を回転させて基体の一面上に付着した流動体B24を振り切る[SB5(第三工程):図7(e)]。
The manufacturing method of 2nd embodiment contains the following 8 processes, as shown in FIG.
As shown in FIG. 5, the manufacturing method of the second embodiment includes the following eight steps, and SB4 to SB7 particularly correspond to the third step.
A recess 20C is formed on the other surface of the substrate 20 [SB1 (previous process): FIG. 6A].
The through hole 22 is formed from one surface of the base 20 toward the other surface [SB2 (first step): FIG. 6B].
At that time, if necessary, a film 21 is provided in advance on one surface of the substrate 20.
-The film 23 is stuck on the other surface of the base body 20, and the through hole 22 is sealed on the other surface side [SB3 (second step): FIG. 6 (c)].
The fluid B24 containing conductive nanoparticles is applied to one surface of the substrate 20, and the fluid B24 is filled in the through holes 22 [SB4 (third step): FIG. 6 (d)].
The substrate 20 is rotated to shake off the fluid B24 attached on one surface of the substrate [SB5 (third step): FIG. 7 (e)].

・加熱手段26aを用いて基体20をプリベーク処理する[SB6(第三工程):図7(ef]。
・加熱手段26bを用いて基体20を焼成処理することにより、貫通電極24Aを形成する[SB7(第三工程):図7(g)]。
・加熱手段26bを外し、基体20からフィルム21、23を除去した後、基体20を洗浄する[SB8(第四工程):図7(h)]。第8工程[SB8:図6(h)]。
以上の8工程を経ることにより、貫通電極24A(MA)を備えた貫通電極基板SBが得られる。
Pre-bake processing of the base 20 using the heating means 26a [SB6 (third step): FIG. 7 (ef).
The through electrode 24A is formed by baking the base body 20 using the heating means 26b [SB7 (third step): FIG. 7 (g)].
After removing the heating means 26b and removing the films 21 and 23 from the base 20, the base 20 is washed [SB8 (fourth step): FIG. 7 (h)]. Eighth step [SB8: FIG. 6 (h)].
Through the above eight steps, the through electrode substrate SB provided with the through electrode 24A (MA) is obtained.

前工程(SB1)では、基体20としてガラスからなる基板を用意し、この基板の他面(図6において下面)から一面(図6において上面)に向けて、所望の深さの凹部20Cを形成する。凹部20Cの形成法としては、たとえば、特開2013−022534号公報に開示された手法が挙げられる。   In the previous step (SB1), a substrate made of glass is prepared as the base 20, and a recess 20C having a desired depth is formed from the other surface (lower surface in FIG. 6) to one surface (upper surface in FIG. 6). To do. As a method for forming the recess 20C, for example, a method disclosed in JP2013-022534A can be cited.

上記のガラスからなる基板20としては、事前に研磨を行い、平坦で清浄な表面を有する物を用いた。なお、ガラスは他にソーダライムガラス・無アルカリガラス・白板・石英など種々のガラスを用いることができる。なお、本実施形態では、基体がガラスからなる基板の場合について詳述するが、基体として、ガラス以外の基板、たとえばシリコン、SiC、セラミックスなどの基板を用いても、本発明の製造方法は適用可能である。   As the substrate 20 made of the above glass, a substrate that had been polished in advance and had a flat and clean surface was used. In addition, various kinds of glass such as soda lime glass, non-alkali glass, white plate, and quartz can be used as the glass. In the present embodiment, the case where the substrate is a substrate made of glass will be described in detail. However, even if a substrate other than glass, for example, a substrate such as silicon, SiC, or ceramics, is used as the substrate, the manufacturing method of the present invention is applicable. Is possible.

第二工程(SB2)では、前工程(SB1)により凹部20Cを形成したガラス基板20の一面(図6において上面)から他面(図6において下面)に向けて、たとえばサンドブラスト加工(以下、ブラスト加工とも呼ぶ)により、貫通穴22を形成する。その際、基板の一面には、貫通穴に相当する位置に開口部を有する、マスキング用のドライフィルム21が多用される。また、ブラスト加工のマスキングに使用したドライフィルムを剥離せずに残しておき、後加工における保護膜・マスキング膜として使用することができる。さらに、保護膜・マスキング膜に用いる場合は耐熱性の高いポリイミドを用いると有効である。   In the second step (SB2), for example, sandblasting (hereinafter referred to as blasting) is performed from one surface (upper surface in FIG. 6) to the other surface (lower surface in FIG. 6) from one surface (upper surface in FIG. 6) on which the recess 20C is formed in the previous step (SB1). Through holes 22 are formed by a process). At that time, a masking dry film 21 having an opening at a position corresponding to the through hole is frequently used on one surface of the substrate. Further, the dry film used for blasting masking can be left without peeling and used as a protective film or masking film in post-processing. Furthermore, when used for a protective film / masking film, it is effective to use polyimide having high heat resistance.

第二工程(SB3)、第三工程(SB4、SB5、SB6、SB7)、第四工程(SB8)は各々、上述した第一実施形態における第二工程(SA2)、第三工程(SA3、SA4、SA5、SA6)、第四工程(SA7)と同様の処理を行った。第二実施形態は、ガラス基板20が凹部20Cを有する点のみ、第一実施形態と相違している。   The second step (SB3), the third step (SB4, SB5, SB6, SB7) and the fourth step (SB8) are respectively the second step (SA2) and the third step (SA3, SA4) in the first embodiment described above. , SA5, SA6) and the fourth step (SA7). The second embodiment is different from the first embodiment only in that the glass substrate 20 has a recess 20C.

第二実施形態では、上述した各工程(SB1〜SB8)を経ることにより、貫通電極24A(MA)を備えた貫通電極基板SBを作製した。ゆえに、第二実施形態に係る貫通電極基板SBは、上述した貫通電極基板SAと同様に、基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に設けられた導電性ナノ粒子から構成されている。貫通電極基板SBは、凹部20Cを備える点のみ、貫通電極基板SAと異なる。
作製した貫通電極基板SBを構成する貫通電極24Aの気密性は、第一実施形態と同様に、真空吹付け法を用いて評価した。その結果、貫通電極24Aの気密性は、1×10−9[Pa・m/sec]以下であり、良好な気密性を有することが確認された。
In 2nd embodiment, through each process (SB1-SB8) mentioned above, penetration electrode board SB provided with penetration electrode 24A (MA) was produced. Therefore, the through electrode substrate SB according to the second embodiment is a through electrode substrate having a through electrode on the base, similar to the above through electrode substrate SA, and the through electrode is placed in the through hole of the base. It is composed of provided conductive nanoparticles. The through electrode substrate SB differs from the through electrode substrate SA only in that the through electrode substrate SB includes a recess 20C.
The airtightness of the through electrode 24A constituting the manufactured through electrode substrate SB was evaluated using a vacuum spraying method, as in the first embodiment. As a result, the airtightness of the through electrode 24A was 1 × 10 −9 [Pa · m 3 / sec] or less, and it was confirmed that the through electrode 24A has a good airtightness.

<第三実施形態>
図8〜図11は、第三実施形態に係る図面であり、図8はフローチャートを、図9は図8に基づく製造方法の一例を工程順に示す模式断面図、図10は図9に続く各工程を順に示す模式断面図、図11は図10に続く各工程を順に示す模式断面図である。
<Third embodiment>
8 to 11 are drawings according to the third embodiment, FIG. 8 is a flowchart, FIG. 9 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of the manufacturing method based on FIG. 8, and FIG. FIG. 11 is a schematic cross-sectional view sequentially showing each step following FIG. 10.

第三実施形態の製造方法は、前述した「第三工程」が、ゾルゲル溶液により貫通孔の側面に皮膜を形成するステップと、貫通孔の内部に流動体を充填するステップと、を含むものである。   In the manufacturing method of the third embodiment, the above-described “third step” includes a step of forming a film on the side surface of the through hole with a sol-gel solution and a step of filling a fluid into the through hole.

第三実施形態の製造方法は、図8〜図11に示すように、以下の各工程を含んでいる。
・基体30の一面から他面に向けて貫通孔32を形成する[SC1(第一工程):図9(a)]。
その際、必要に応じて、基体30の一面にフィルム31を予め設ける。
・基体30の他面にフィルム33を貼付し、他面側で貫通孔32を封止する[SC2(第二工程):図9(b)]。
・基体30の一面にアルコキシランベースのゾルゲル溶液からなる流動体C37を塗布し、貫通孔32の内部に流動体C37を充填する[SC3(第三工程):図9(c)]。
・基体30を回転させて基体の一面上に付着した流動体C37を振り切る[SC4(第三工程):図9(d)]。
As shown in FIGS. 8 to 11, the manufacturing method according to the third embodiment includes the following steps.
A through hole 32 is formed from one surface of the substrate 30 to the other surface [SC1 (first step): FIG. 9A].
At that time, a film 31 is provided in advance on one surface of the substrate 30 as necessary.
A film 33 is stuck on the other surface of the substrate 30, and the through hole 32 is sealed on the other surface side [SC2 (second step): FIG. 9B].
A fluid C37 made of an alkoxylane-based sol-gel solution is applied to one surface of the substrate 30, and the fluid C37 is filled in the through holes 32 [SC3 (third step): FIG. 9 (c)].
The substrate 30 is rotated to shake off the fluid C37 adhering to one surface of the substrate [SC4 (third step): FIG. 9 (d)].

・貫通孔32の側面に流動体C37からなる皮膜37Fを残し、貫通孔32の内部からゾルゲル溶液からなる流動体C37を除去す[SC5(第三工程):図10(e)]。
・加熱手段36aを用いて基体30をプリベーク処理する[SC6(第三工程):図10(f)]。
・基体30の一面に導電性ナノ粒子を含む流動体D34を塗布し、貫通孔32の内部に流動体D34を充填する[SC7(第三工程):図10(g)]。
・基体30を回転させて基体の一面上に付着した流動体D34を振り切る[SC8(第三工程):図10(h)]。
The film 37F made of the fluid C37 is left on the side surface of the through hole 32, and the fluid C37 made of the sol-gel solution is removed from the inside of the through hole 32 [SC5 (third step): FIG. 10 (e)].
The substrate 30 is pre-baked using the heating means 36a [SC6 (third step): FIG. 10 (f)].
The fluid D34 containing conductive nanoparticles is applied to one surface of the substrate 30, and the fluid D34 is filled in the through holes 32 [SC7 (third step): FIG. 10 (g)].
The substrate 30 is rotated to shake off the fluid D34 adhering to one surface of the substrate [SC8 (third step): FIG. 10 (h)].

・加熱手段36bを用いて基体30をプリベーク処理する[SC9(第三工程):図11(i)]。
・加熱手段36cを用いて基体30を焼成処理することにより、貫通電極34を形成する[SC10(第三工程):図11(j)]。
・加熱手段36cを外し、基体30からフィルム31、33を除去した後、基体30を洗浄する[SC11(第四工程):図11(k)]。
以上の11工程を経ることにより、貫通電極34A(MA)を備えた貫通電極基板SCが得られる。
The substrate 30 is pre-baked using the heating means 36b [SC9 (third step): FIG. 11 (i)].
The through electrode 34 is formed by firing the substrate 30 using the heating means 36c [SC10 (third step): FIG. 11 (j)].
After removing the heating means 36c and removing the films 31 and 33 from the substrate 30, the substrate 30 is washed [SC11 (fourth step): FIG. 11 (k)].
Through the 11 steps described above, the through electrode substrate SC provided with the through electrode 34A (MA) is obtained.

つまり、第三実施形態は、第一実施形態における第2工程(SA2)と第3工程(SA3)との間に、前記第2工程(SC2)により形成された貫通孔の内側面に対して、ゾルゲル溶液からなる流動体Cを用いて皮膜を形成する工程α[第3工程(SC3)〜第6工程(SC6)]を有する点において、第一実施形態と相違している。   That is, in the third embodiment, the inner surface of the through hole formed by the second step (SC2) between the second step (SA2) and the third step (SA3) in the first embodiment. The second embodiment is different from the first embodiment in that it includes the step α [third step (SC3) to sixth step (SC6)] for forming a film using the fluid C made of a sol-gel solution.

以下、第一実施形態と相違する工程αについて詳細に説明する。なお、以下の説明では、第3工程(SC3)〜第6工程(SC6)を各々、工程α1〜工程α4とも呼ぶ。
工程α1[第3工程(SC3)]では、前工程(SC2)によりフィルム33を他面に設けた基体30の一面に、流動体C37を塗布することにより、貫通孔32の内部に流動体Cを充填する。これにより、貫通孔32の内側壁に対して流動体C37が接触した状態が得られる。
Hereinafter, the process α different from the first embodiment will be described in detail. In the following description, the third step (SC3) to the sixth step (SC6) are also referred to as step α1 to step α4, respectively.
In the process α1 [third process (SC3)], the fluid C37 is applied to one surface of the substrate 30 on which the film 33 is provided on the other surface in the previous process (SC2), so that the fluid C is formed inside the through hole 32. Fill. Thereby, the state which the fluid C37 contacted with respect to the inner wall of the through-hole 32 is obtained.

工程α2[第4工程(SC4)]では、前工程(α1)を経た基体30の一面に垂直をなす軸が回転軸をなすように、基体30を回転させることにより、基体30の一面上に付着した流動体C37を振り切る。これにより、基体30の一面上に残存した流動体C37は除去される。   In step α2 [fourth step (SC4)], the substrate 30 is rotated so that an axis perpendicular to the surface of the substrate 30 that has undergone the previous step (α1) forms a rotation axis. Shake off the attached fluid C37. Thereby, the fluid C37 remaining on one surface of the substrate 30 is removed.

工程α3[第5工程(SC5)]では、前工程(α2)を経た基体30の一面に対して液体または気体を吹き付けることにより、貫通孔32の内側壁に付着した皮膜37Fを残しつつ、貫通孔32の内部から流動体C37を除去する。これにより、基体30に残存する流動体C37は、貫通孔32の内側壁に付着した皮膜37Fのみとなる。   In step α3 [fifth step (SC5)], liquid or gas is sprayed on one surface of the base body 30 that has undergone the previous step (α2), leaving the film 37F attached to the inner wall of the through-hole 32 while penetrating. The fluid C37 is removed from the inside of the hole 32. Thereby, the fluid C37 remaining on the base body 30 is only the film 37F attached to the inner wall of the through hole 32.

工程α4[第6工程(SC6)]では、前記工程(α3)を経た基体30の他面側に第三加熱手段36aを設けて、基体30をプリベーク処理する。これにより、基体30に設けた貫通孔32の内側壁に対して、流動体C37からなる皮膜37Fの密着性が高まる。   In step α4 [sixth step (SC6)], the third heating means 36a is provided on the other surface side of the substrate 30 that has undergone the step (α3), and the substrate 30 is pre-baked. Thereby, the adhesiveness of the film 37 </ b> F made of the fluid C <b> 37 increases with respect to the inner wall of the through hole 32 provided in the base body 30.

上記工程α(α1〜α4)により準備された、流動体C37からなる皮膜37Fが内側壁に付着した貫通孔32に対して、次工程[第7工程(SC7)]では、導電性ナノ粒子を含む流動体D34を塗布することにより、貫通孔32の内部に流動体D34を充填する。
第7工程(SC7)以降、第11工程(SC11)に至るまでの各工程は、上述したとおり、第一実施形態における第3工程(SA3)〜第7工程(SA7)と同様の処理が行なわれる。
In the next step [seventh step (SC7)], the conductive nanoparticles are applied to the through hole 32 prepared by the step α (α1 to α4) and having the film 37F made of the fluid C37 attached to the inner wall. By applying the fluid D34 containing, the fluid D34 is filled into the through holes 32.
Each process from the seventh process (SC7) to the eleventh process (SC11) is performed in the same manner as the third process (SA3) to the seventh process (SA7) in the first embodiment as described above. It is.

第三実施形態では、上述した11工程(SC1〜SC11)を経ることにより、貫通電極34A(MA)を備えた貫通電極基板SCを作製した。ゆえに、第三実施形態に係る貫通電極基板SCは、基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、前記貫通孔の内側面には、アルコキシランベースのゾルゲル溶液から形成された被膜からなる密着層が配されており、さらに前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に前記密着層を介して設けられた導電性ナノ粒子から構成されている。
作製した貫通電極基板SCを構成する貫通電極34Aの気密性は、第一実施形態と同様に、真空吹付け法を用いて評価した。その結果、貫通電極34Aの気密性は、1×10−9[Pa・m/sec]以下であり、良好な気密性を有することが確認された。
In the third embodiment, the through electrode substrate SC provided with the through electrode 34A (MA) was manufactured through the 11 steps (SC1 to SC11) described above. Therefore, the through electrode substrate SC according to the third embodiment is a through electrode substrate having a through electrode on a base, and an inner surface of the through hole is formed of a coating formed from an alkoxy run-based sol-gel solution. In addition, the through electrode is composed of conductive nanoparticles provided in the through hole of the substrate via the adhesive layer.
The airtightness of the through electrode 34A constituting the produced through electrode substrate SC was evaluated using a vacuum spraying method, as in the first embodiment. As a result, the airtightness of the through electrode 34A was 1 × 10 −9 [Pa · m 3 / sec] or less, and it was confirmed that the through electrode 34A had good airtightness.

<第四実施形態>
図12〜図14は、第四実施形態に係る図面であり、図12はフローチャートを、図13は図12に基づく製造方法の一例を工程順に示す模式断面図、図14は図13に続く各工程を順に示す模式断面図である。
<Fourth embodiment>
12 to 14 are drawings according to the fourth embodiment. FIG. 12 is a flowchart, FIG. 13 is a schematic cross-sectional view showing an example of the manufacturing method based on FIG. 12, and FIG. It is a schematic cross section which shows a process in order.

第四実施形態の製造方法は、図12に示すように、以下の7工程を含んでいる。
第四実施形態は、上述した第一乃至第三実施形態の製造方法により、基体に形成された貫通電極の内部に微細孔が残存する場合に、ゾルゲル溶液からなる流動体Eを用いて、該微細孔を埋めて修復するものである。
第四実施形態における7工程は纏めて工程βとも呼ぶ。。なお、以下の説明では、第1工程(SD1)〜第7工程(SD7)を各々、工程β1〜工程β7とも呼ぶ。
以下、工程βについて詳細に説明する。
As shown in FIG. 12, the manufacturing method of the fourth embodiment includes the following seven steps.
The fourth embodiment uses the fluid E made of a sol-gel solution when fine holes remain in the through electrodes formed on the substrate by the manufacturing method of the first to third embodiments described above. It repairs by filling the fine holes.
Seven steps in the fourth embodiment are collectively referred to as a step β. . In the following description, the first step (SD1) to the seventh step (SD7) are also referred to as step β1 to step β7, respectively.
Hereinafter, the process β will be described in detail.

工程β1[第1工程(SD1)]では、上述した第一乃至第三実施形態の製造方法により、貫通電極44Aが形成された基体40を密閉容器C4に入れて、この密閉容器の内部を排気(P1)する。これにより、貫通電極44Aに内在する微細孔(空孔P)の内部を脱気する。
工程β2[第2工程(SD2)]では、前記工程β1を経た基体40を内在する密閉容器C4に、該密閉容器の内部(P2)を排気しながら、該密閉容器の内部に前記流動体E(SGS)を導入(P3)し、該基体40が該流動体Eに浸漬された状態とする。その際。流動体Eとしては、アルコキシランベースのゾルゲル溶液が用いられる。
In step β1 [first step (SD1)], the base body 40 on which the through electrode 44A is formed is placed in the sealed container C4 by the manufacturing method of the first to third embodiments described above, and the inside of the sealed container is evacuated. (P1). Thereby, the inside of the fine hole (hole P) existing in the through electrode 44A is deaerated.
In step β2 [second step (SD2)], the fluid E is placed inside the sealed container C4 while exhausting the inside (P2) of the sealed container C4 containing the substrate 40 that has undergone the process β1. (SGS) is introduced (P3), and the substrate 40 is immersed in the fluid E. that time. As the fluid E, an alkoxylane-based sol-gel solution is used.

工程β3[第3工程(SD3)]では、前記工程β2を経た基体40に該流動体Eを介して圧力(P4)を加える。これにより、貫通電極44Aに内在する空孔Pの内部へ流動体E注入する。
工程β4[第4工程(SD4)]では、前記工程β3を経た基体40を密閉容器C4から取出し、基体40の外面に付着した流動体Eを除去する。これにより、基体40の外面、特に、貫通電極の上下面に残存していた流動体Eを取り除く。
In step β3 [third step (SD3)], pressure (P4) is applied via the fluid E to the substrate 40 that has undergone step β2. Thereby, the fluid E is injected into the inside of the hole P existing in the through electrode 44A.
In step β4 [fourth step (SD4)], the substrate 40 having undergone the step β3 is taken out from the sealed container C4, and the fluid E adhering to the outer surface of the substrate 40 is removed. As a result, the fluid E remaining on the outer surface of the substrate 40, in particular, the upper and lower surfaces of the through electrode is removed.

工程β5[第5工程(SD5)]では、前記工程β4を経た基体40の他面側に第四加熱手段46aを設けて、基体40をプリベーク処理する。
工程β6[第6工程(SD6)]では、前記工程β5を経た基体の他面側に第五加熱手段46bを設けて、基体40を焼成処理することにより、微細孔(空孔P)が修復された貫通電極44Aaを形成する。
工程β7[第7工程(SD7)]では、前記工程β6を経た基体40から第五加熱手段46bを外し、基体40を洗浄処理する。
In step β5 [fifth step (SD5)], a fourth heating means 46a is provided on the other surface side of the substrate 40 that has undergone the step β4, and the substrate 40 is pre-baked.
In step [beta] 6 [sixth step (SD6)], the fifth heating means 46b is provided on the other surface side of the substrate that has undergone step [beta] 5, and the substrate 40 is baked to repair the fine holes (holes P). The formed through electrode 44Aa is formed.
In step β7 [seventh step (SD7)], the fifth heating means 46b is removed from the substrate 40 that has undergone the step β6, and the substrate 40 is cleaned.

第四実施形態では、上述した7工程(SD1〜SD7)を経ることにより、貫通電極44Aa(MA)を備えた貫通電極基板SDを作製した。ゆえに、第四実施形態に係る貫通電極基板SDは、基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、前記貫通電極に内在する微細孔には、アルコキシランベースのゾルゲル溶液を用いた形成物が充填された構成を有する。
作製した貫通電極基板SDを構成する貫通電極44Aaの気密性は、第一実施形態と同様に、真空吹付け法を用いて評価した。その結果、貫通電極34Aの気密性は、5×10−10[Pa・m/sec]以下となり、気密性の向上が確認された。
In the fourth embodiment, the through electrode substrate SD including the through electrode 44Aa (MA) was manufactured through the above-described seven steps (SD1 to SD7). Therefore, the through-electrode substrate SD according to the fourth embodiment is a through-electrode substrate having a through-electrode on a base, and the micropores in the through-electrode are formed using an alkoxy run-based sol-gel solution. It has a configuration filled with objects.
The airtightness of the through electrode 44Aa constituting the produced through electrode substrate SD was evaluated using a vacuum spraying method, as in the first embodiment. As a result, the airtightness of the through electrode 34A was 5 × 10 −10 [Pa · m 3 / sec] or less, and it was confirmed that the airtightness was improved.

なお、上述した各実施形態では、導電性ナノ粒子を含む流動体(たとえばA14)としては、株式会社アルバック製のナノメタルインクを用いた。具体的には、平均粒子径3.8nmのAg粒子を導電性粒子とするインク(固形成分濃度:58wt%、粘度:10mPs・s、密度:1.7g/cm、溶媒:テトラデカン)である。
本発明を実施するためには、粒径が10nm以下のナノサイズの導電性粒子またはその導電性粒子を含むインク・ペーストが好適である。導電性粒子の粒径が10nm以下になると、その物質本来の融点よりも融点が低くなり、焼結温度を下げることが可能になる。
In each of the above-described embodiments, nanometal ink manufactured by ULVAC, Inc. was used as the fluid containing conductive nanoparticles (for example, A14). Specifically, it is an ink (solid component concentration: 58 wt%, viscosity: 10 mPs · s, density: 1.7 g / cm 3 , solvent: tetradecane) using Ag particles having an average particle diameter of 3.8 nm as conductive particles. .
In order to carry out the present invention, a nano-sized conductive particle having a particle size of 10 nm or less or an ink paste containing the conductive particle is suitable. When the particle size of the conductive particles is 10 nm or less, the melting point becomes lower than the original melting point of the substance, and the sintering temperature can be lowered.

ただし、一般に、10nm以下のナノサイズの導電性粒子を含むインク・ペーストでは、粒子の分散安定性を発現するために、粒子表面に分散剤を吸着させている。焼成により、この分散剤を離脱・除去させると、粒子同士が焼結するため、結果として、インク膜に導電性が発現するようになる。   However, in general, in an ink paste containing nano-sized conductive particles of 10 nm or less, a dispersing agent is adsorbed on the particle surface in order to express the dispersion stability of the particles. When the dispersant is removed and removed by baking, the particles are sintered, and as a result, conductivity is developed in the ink film.

たとえば、平均粒径が約3nmのAg粒子を含むインクでは、150℃以上の焼成温度で分散剤が脱離して、粒子同士が焼結し、200℃以上の焼成温度でほぼバルクのAgに匹敵する比抵抗値(約3μΩ・cm)を得ることができる。焼成後はAgの融点(962℃)以上でないと軟化はしない。
なお、Ag以外のすべての金属・合金およびITOなどの酸化物導電体を用いても同様の効果を得ることが可能である。
これにより、ガラスと熱膨張係数の差の問題を解決できる。
For example, in an ink containing Ag particles having an average particle diameter of about 3 nm, the dispersant is desorbed at a baking temperature of 150 ° C. or higher, and the particles sinter, and is comparable to almost bulk Ag at a baking temperature of 200 ° C. or higher. Specific resistance value (about 3 μΩ · cm) can be obtained. After firing, softening does not occur unless the melting point of Ag is 962 ° C. or higher.
The same effect can be obtained even when all metals / alloys other than Ag and oxide conductors such as ITO are used.
Thereby, the problem of the difference between the glass and the thermal expansion coefficient can be solved.

また、ナノサイズの導電性粒子を用いることで低温(500℃以下)での焼成が可能になり、ポリイミドなどの耐熱性樹脂(条件によっては通常のフォトレジストやドライフィルムでも利用可能)を基板表面の保護膜やマスキング膜として利用可能になる。導電性粒子の貫通穴への充填及びその後の仮焼成、本焼成の間に保護膜やマスキング膜を用いることで、基板表面を清浄・平滑に保つことができ、キズを防止したり、電極の高さを基板面と揃える効果がある。これにより、電極形成後の研磨を行う必要がなくなる。
ゆえに、本発明によれば、電極形成後の研磨が不要になることで凹凸加工がされた基板に電極を形成することが可能になる。
In addition, by using nano-sized conductive particles, baking at a low temperature (500 ° C. or lower) is possible, and a heat-resistant resin such as polyimide (which can be used in ordinary photoresist or dry film depending on conditions) is used as the substrate surface. It can be used as a protective film or masking film. By using a protective film and masking film during filling of the conductive particles into the through holes and subsequent preliminary firing and main firing, the substrate surface can be kept clean and smooth, preventing scratches, This has the effect of aligning the height with the substrate surface. This eliminates the need for polishing after electrode formation.
Therefore, according to the present invention, it becomes possible to form an electrode on a substrate that has been subjected to uneven processing by eliminating the need for polishing after electrode formation.

一般的に金属とガラスの密着性は高くない。そこで、アルコキシランベースのゾルゲル膜等のガラス質の材料を仮焼きの状態で貫通穴の側壁へ密着層として設け、その後、粒径が10nm以下のナノサイズの導電性粒子またはその導電性粒子を含むインク・ペーストを貫通穴に充填し、同時に焼成することでガラス基板と貫通電極材との密着性をより強固にすることができる。
ゆえに、本発明によれば、高い気密性を有する貫通電極を備えた、貫通電極基板を安定して製造することが可能となる。
In general, the adhesion between metal and glass is not high. Therefore, a glassy material such as an alkoxy run-based sol-gel film is provided as an adhesion layer on the side wall of the through hole in a calcined state, and then nano-sized conductive particles having a particle size of 10 nm or less or the conductive particles are provided. The adhesiveness between the glass substrate and the through electrode material can be further strengthened by filling the through hole with the ink paste that is contained and simultaneously firing it.
Therefore, according to the present invention, it is possible to stably manufacture a through electrode substrate including a through electrode having high airtightness.

粒径が10nm以下のナノサイズの導電性粒子またはその導電性粒子を含むインク・ペーストを高い温度で焼成(焼結)すると低い比抵抗値を得ることができるが、条件によっては、焼結体の中に微細孔(空孔(ポア))が生じる場合もある。そのような場合には、低粘度の同じ導電性粒子を含むインクを真空・吸引により、その空孔に含浸することを複数回繰り返すことで空孔を埋め、より高い気密性を得るとよい。または、粘度の低いアルコキシランベースのゾルゲル溶液等のガラス質の材料を同様の方法で含浸することでも高い気密性を得ることができる(第四実施形態)。   A low specific resistance value can be obtained by firing (sintering) nano-sized conductive particles having a particle size of 10 nm or less or an ink paste containing the conductive particles at a high temperature. In some cases, micropores (pores) are formed in the inside. In such a case, it is preferable to obtain a higher airtightness by filling the holes a plurality of times by impregnating the holes with a low viscosity ink containing the same conductive particles by vacuum and suction. Alternatively, high airtightness can also be obtained by impregnating a glassy material such as an alkoxylane-based sol-gel solution having a low viscosity by the same method (fourth embodiment).

<実施例>
(実施例1)
ガラス基板として、硼珪酸ガラス(テンパックス:Schott社製)、厚さ0.3mm、直径100mmを使用した。また、ガラス基板は事前に研磨を行い平坦で清浄な表面を有する物を用いた。
ガラス基板に対してブラスト法を用いて、φ0.2mm、ピッチ0.5mmの貫通穴を形成した。その際、貫通穴は、ガラス基板の外周10mmを除くエリア全面に加工した。この時、ブラスト加工のマスキングに使用したドライフィルムを剥離せずに残しておき、後加工における保護膜・マスキング膜に使用することができる。さらに、保護膜・マスキング膜に用いる場合は耐熱性の高いポリイミドを用いると有効である。
<Example>
Example 1
As the glass substrate, borosilicate glass (Tempax: manufactured by Schott), thickness 0.3 mm, diameter 100 mm was used. Further, the glass substrate was polished in advance and used a flat and clean surface.
A through hole having a diameter of 0.2 mm and a pitch of 0.5 mm was formed on the glass substrate by blasting. At that time, the through holes were processed over the entire area of the glass substrate excluding the outer periphery of 10 mm. At this time, the dry film used for the blasting masking can be left without being peeled off and used as a protective film and a masking film in the post-processing. Furthermore, when used for a protective film / masking film, it is effective to use polyimide having high heat resistance.

貫通穴を加工したガラス基板のブラスト加工で貫通側となる面にポリイミド製のフィルムをラミネータを用いて貼り付けた。
その後、平均粒子径3.8nmのAg粒子を導電性粒子とするインク(固形成分濃度:58wt%、粘度:10mPs・s、密度:1.7g/cm、溶媒:テトラデカン)を、貫通穴付き基板のポリイミドフィルムを貼り付けた反対の面を上にして、パドル状にディスペンスした。
次に、基板を回転(スピン)させることにより、余分なインクを振り切ることで、貫通穴にインクを充填した。
A polyimide film was attached to the surface on the through side by blasting of the glass substrate in which the through holes were processed using a laminator.
Thereafter, an ink having conductive particles as Ag particles having an average particle diameter of 3.8 nm (solid component concentration: 58 wt%, viscosity: 10 mPs · s, density: 1.7 g / cm 3 , solvent: tetradecane) is provided with through holes. The substrate was dispensed in the form of a paddle with the opposite side of the polyimide film pasted up.
Next, by rotating (spinning) the substrate, excess ink was shaken off to fill the through holes with ink.

次に、ホットプレートを用いて70℃、30分のプリベークを行い、溶媒を揮発させた。
さらに、基板を再びホットプレートに乗せ、ポリイミドの耐熱温度より低い300℃で1時間の本焼成を行った。
次いで、基板冷却後、表裏面の保護に貼り付けたポリイミドフィルムを剥離し、ガラス基板用洗剤・純水を用いて基板洗浄を行い、IPAベーパー乾燥で仕上げた。
以上の工程により作製した基板の貫通電極の気密性は、第一実施形態と同様に、真空吹付け法により計測し、≦1×10−9Pa・m/secと良好な値を示した。
Next, pre-baking was performed at 70 ° C. for 30 minutes using a hot plate to volatilize the solvent.
Further, the substrate was placed on the hot plate again, and main baking was performed at 300 ° C., which is lower than the heat resistant temperature of polyimide, for 1 hour.
Next, after cooling the substrate, the polyimide film attached to the protection of the front and back surfaces was peeled off, washed with a glass substrate detergent / pure water, and finished by IPA vapor drying.
The airtightness of the through electrode of the substrate manufactured by the above process was measured by the vacuum spraying method as in the first embodiment, and showed a good value of ≦ 1 × 10 −9 Pa · m 3 / sec. .

(実施例2)
ガラス基板として、硼珪酸ガラス(テンパックス:Schott社製)、厚さ0.3mm、直径100mmを使用した。また、ガラス基板は事前に研磨を行い平坦で清浄な表面を有する物を用いた。
ガラス基板にはウェットエッチング法を用いて深さ50μmの窪みを加工した。ウェットエッチングには限定されず、機械加工やブラストなどその他方法で凹凸加工を行っても良い。
(Example 2)
As the glass substrate, borosilicate glass (Tempax: manufactured by Schott), thickness 0.3 mm, diameter 100 mm was used. Further, the glass substrate was polished in advance and used a flat and clean surface.
A recess having a depth of 50 μm was processed on the glass substrate by wet etching. The present invention is not limited to wet etching, and uneven processing may be performed by other methods such as machining or blasting.

窪み付きガラス基板に対して、ブラスト法を用いて、φ0.2mm、ピッチ0.5mm」の貫通穴を形成した。その際、貫通穴は、基板外周10mmを除くエリア全面に加工した。
この時、ブラスト加工のマスキングに使用したドライフィルムを剥離せずに残しておき、後加工における保護膜・マスキング膜に使用することができる。さらに、保護膜・マスキング膜に用いる場合は耐熱性の高いポリイミドを用いると有効である。
Through holes having a diameter of 0.2 mm and a pitch of 0.5 mm were formed on the glass substrate with depressions using a blast method. At that time, the through holes were processed over the entire area excluding the substrate outer periphery of 10 mm.
At this time, the dry film used for the blasting masking can be left without being peeled off and used as a protective film and a masking film in the post-processing. Furthermore, when used for a protective film / masking film, it is effective to use polyimide having high heat resistance.

貫通穴を加工したガラス基板のブラスト加工で貫通側となる面にポリイミド製のフィルムをラミネータを用いて貼り付けた。
その後、平均粒子径3.8nmのAg粒子を導電性粒子とするインク(固形成分濃度:58wt%、粘度:10mPs・s、密度:1.7g/cm、溶媒:テトラデカン)を貫通穴付き基板のポリイミドフィルムを貼り付けた反対の面を上にして、パドル状にディスペンスした。
次に、基板を回転(スピン)させることにより、余分なインクを振り切ることで、貫通穴にインクを充填した。
A polyimide film was attached to the surface on the through side by blasting of the glass substrate in which the through holes were processed using a laminator.
Thereafter, an ink (solid component concentration: 58 wt%, viscosity: 10 mPs · s, density: 1.7 g / cm 3 , solvent: tetradecane) using Ag particles having an average particle diameter of 3.8 nm as conductive particles is a substrate with through holes. The pad was dispensed in a paddle shape with the opposite side of the polyimide film pasted up.
Next, by rotating (spinning) the substrate, excess ink was shaken off to fill the through holes with ink.

次に、ホットプレートを用いて70℃、30分のプリベークを行い、溶媒を揮発させた。
さらに、基板を再びホットプレートに乗せ、ポリイミドの耐熱温度より低い300℃で1時間の本焼成を行った。
次いで、基板冷却後、表裏面の保護に貼り付けたポリイミドフィルムを剥離し、ガラス基板用洗剤・純水を用いて基板洗浄を行い、IPAベーパー乾燥で仕上げた。
以上の工程により作製した基板の貫通電極の気密性は、第一実施形態と同様に、真空吹付け法により計測し、≦1×10−9Pa・m/secと良好な値を示した。
Next, pre-baking was performed at 70 ° C. for 30 minutes using a hot plate to volatilize the solvent.
Further, the substrate was placed on the hot plate again, and main baking was performed at 300 ° C., which is lower than the heat resistant temperature of polyimide, for 1 hour.
Next, after cooling the substrate, the polyimide film attached to the protection of the front and back surfaces was peeled off, washed with a glass substrate detergent / pure water, and finished by IPA vapor drying.
The airtightness of the through electrode of the substrate manufactured by the above process was measured by the vacuum spraying method as in the first embodiment, and showed a good value of ≦ 1 × 10 −9 Pa · m 3 / sec. .

(実施例3)
実施例1と同様の手順で貫通穴付き基板を作製した。
貫通穴を加工したガラス基板のブラスト加工で貫通側となる面にポリイミド製フィルムをラミネーターを用いて貼り付けた。
ガラス基板(テンパックス)に近い組成となるように、Si:B:Al:Na=82:12:1:4のTEOSをベースとしたゾルゲル溶液(固形分率:10wt%、粘度:2mPa・s、溶媒:エタノール)を作製した。
ゾルゲル溶液を貫通穴付き基板のポリイミドフィルムを貼り付けた反対の面を上にして、パドル状にディスペンスした。
次に、基板を回転(スピン)させることにより、余分なインクを振り切った。さらに窒素ブローにより、貫通穴内部の余分なゾルゲル溶液を除去した。
(Example 3)
A substrate with a through hole was prepared in the same procedure as in Example 1.
A polyimide film was affixed to the surface on the penetrating side by blasting of the glass substrate in which the through holes were processed using a laminator.
A sol-gel solution (solid content: 10 wt%, viscosity: 2 mPa · s) based on TEOS of Si: B: Al: Na = 82: 12: 1: 4 so as to have a composition close to that of a glass substrate (Tempax). , Solvent: ethanol).
The sol-gel solution was dispensed in the form of a paddle with the opposite surface of the substrate with a through-hole attached to the polyimide film facing up.
Next, excess ink was shaken off by rotating (spinning) the substrate. Further, excess sol-gel solution inside the through hole was removed by nitrogen blowing.

次に、ホットプレートを用いて150℃、1分のプリベークを行い、溶媒を揮発させた。
なお、プリベークのみでは骨格形成が不十分な場合には、本焼成を加えてもよい。
その後、平均粒子径3.8nmのAg粒子を導電性粒子とするインク(固形成分濃度:58wt%、粘度:10mPs・s、密度:1.7g/cm、溶媒:テトラデカン)を貫通穴付き基板のポリイミドフィルムを貼り付けた反対の面を上にして、パドル状にディスペンスした。
Next, pre-baking was performed at 150 ° C. for 1 minute using a hot plate to volatilize the solvent.
In addition, when the skeleton formation is insufficient with only pre-baking, main baking may be added.
Thereafter, an ink (solid component concentration: 58 wt%, viscosity: 10 mPs · s, density: 1.7 g / cm 3 , solvent: tetradecane) using Ag particles having an average particle diameter of 3.8 nm as conductive particles is a substrate with through holes. The pad was dispensed in a paddle shape with the opposite side of the polyimide film pasted up.

次に、基板を回転(スピン)させることにより、余分なインクを振り切ることで、貫通穴にインクを充填した。
次に、ホットプレートを用いて70℃、30分のプリベークを行い、溶媒を揮発させた。
さらに、基板を再びホットプレートに乗せ、ポリイミドの耐熱温度より低い300℃で1時間の本焼成を行った。
次いで、基板冷却後、表裏面の保護に貼り付けたポリイミドフィルムを剥離し、ガラス基板用洗剤・純水を用いて基板洗浄を行い、IPAベーパー乾燥で仕上げた。
以上の工程により作製した基板の貫通電極の気密性は、ヘリウム吹き付け法により計測し、≦1×10−9Pa・m/secと良好な値を示した。
Next, by rotating (spinning) the substrate, excess ink was shaken off to fill the through holes with ink.
Next, pre-baking was performed at 70 ° C. for 30 minutes using a hot plate to volatilize the solvent.
Further, the substrate was placed on the hot plate again, and main baking was performed at 300 ° C., which is lower than the heat resistant temperature of polyimide, for 1 hour.
Next, after cooling the substrate, the polyimide film attached to the protection of the front and back surfaces was peeled off, washed with a glass substrate detergent / pure water, and finished by IPA vapor drying.
The hermeticity of the through electrode of the substrate manufactured by the above process was measured by a helium spraying method and showed a good value of ≦ 1 × 10 −9 Pa · m 3 / sec.

(実施例4)
実施例1,2,3で作製した貫通電極付き基板において、焼成温度を300℃以上(例えば350℃など)にした場合、比抵抗値が下がり、よりバルクに近い良好な値となる効果があるが、空孔(ポア)が成長する場合がある。
実施例1,2より高い焼成温度350℃で作製した基板に真空加圧含浸法を用いて実施例2で用いたTEOSベースのゾルゲル溶液を含浸させた。
ガラス基板を密閉容器に入れ、真空に排気後、含浸液となる実施例3で用いたのと同様のTEOSをベースとしたゾルゲル溶液を基板が十分に浸る高さまで密閉容器に注入、空気を入れる事で容器内を加圧し、含浸させた。
Example 4
In the substrate with through electrodes manufactured in Examples 1, 2, and 3, when the firing temperature is set to 300 ° C. or higher (for example, 350 ° C.), the specific resistance value is lowered, and there is an effect that a good value closer to the bulk is obtained. However, there are cases where pores grow.
Substrates produced at a firing temperature of 350 ° C. higher than those of Examples 1 and 2 were impregnated with the TEOS-based sol-gel solution used in Example 2 by using a vacuum pressure impregnation method.
A glass substrate is placed in a sealed container, evacuated to vacuum, and a sol-gel solution based on TEOS similar to that used in Example 3 as an impregnating solution is poured into the sealed container to a height at which the substrate is sufficiently immersed, and air is introduced. The inside of the container was pressurized and impregnated.

次に、スピン乾燥により含浸液を振り切った後に、ガラス基板の表面に残るゾルゲル溶液を有機溶剤を含む布で拭き取った。
次に、ホットプレートを用いて150℃、1分のプリベークを行い、溶媒を揮発させた。
さらに、基板を再びホットプレートに乗せ、350℃で1時間の本焼成を行った。
次いで、基板冷却後、表裏面の保護に貼り付けたポリイミドフィルムを剥離し、ガラス基板用洗剤・純水を用いて基板洗浄を行い、IPAベーパー乾燥で仕上げた。
以上の工程により作製した基板の貫通電極の気密性は、第一実施形態と同様に、真空吹付け法により計測し、≦5×10−10Pa・m/secと良好な値を示した。
Next, after the impregnating solution was shaken off by spin drying, the sol-gel solution remaining on the surface of the glass substrate was wiped off with a cloth containing an organic solvent.
Next, pre-baking was performed at 150 ° C. for 1 minute using a hot plate to volatilize the solvent.
Further, the substrate was placed again on the hot plate and subjected to main baking at 350 ° C. for 1 hour.
Next, after cooling the substrate, the polyimide film attached to the protection of the front and back surfaces was peeled off, washed with a glass substrate detergent / pure water, and finished by IPA vapor drying.
The airtightness of the through electrode of the substrate produced by the above process was measured by the vacuum spraying method as in the first embodiment, and showed a good value of ≦ 5 × 10 −10 Pa · m 3 / sec. .

上述した実施例1〜4より、以下の点が明らかとなった。
(1)500℃以下の低温で焼成可能である事より、ガラスと貫通電極材料の熱膨張差が小さくて済むため、タングステン以外の多様な材料を選択事が可能となる。
(2)500℃以下の低温で焼成可能である事より、ポリイミドなどの耐熱性樹脂によりガラス基板表面を保護・マスキングしながら、焼成まで含めたすべてのプロセスを行う事ができる。これにより、貫通電極形成に研磨を行わなくても平坦で清浄な表面を得る事ができる。
From Examples 1 to 4 described above, the following points became clear.
(1) Since it can be fired at a low temperature of 500 ° C. or less, the difference in thermal expansion between the glass and the through electrode material can be small, so that various materials other than tungsten can be selected.
(2) Since it can be fired at a low temperature of 500 ° C. or lower, all processes including firing can be performed while protecting and masking the glass substrate surface with a heat resistant resin such as polyimide. As a result, a flat and clean surface can be obtained without polishing the through electrode formation.

(3)さらに貫通電極形成後に研磨を行う必要が無いために凹凸の形成された基板に対しても容易に貫通電極を形成することが可能となる。
(4)500℃以下の低温で焼成可能である事より、半導体素子やMEMS素子が形成され、高温でのプロセスが出来ない基板においても貫通電極を形成する事が可能である。
(5)本発明によれば、焼成後にバインダーが残らないため、比抵抗の小さい貫通電極を安定して作製すること可能となる。
(3) Furthermore, since it is not necessary to perform polishing after forming the through electrode, it is possible to easily form the through electrode even on a substrate having irregularities.
(4) Since firing is possible at a low temperature of 500 ° C. or lower, a through electrode can be formed even on a substrate where a semiconductor element or a MEMS element is formed and a process at a high temperature cannot be performed.
(5) According to the present invention, since no binder remains after firing, it is possible to stably produce a through electrode having a small specific resistance.

(6)アルコキシランベースのゾルゲル溶液等のガラス質の材料を貫通穴の側壁へ密着層として設け、貫通電極の導電性粒子と同時に焼成する事により、貫通電極とガラス基板の密着性を高くする事ができる。またこれにより、貫通電極とガラス基板間の隙間の発生を防止し、高い気密性を得ることが可能となる。
(7)本発明によれば、導電性粒子の焼結により生じる空孔(ポア)に低粘度のアルコキシランベースゾルゲル膜等のガラス質の材料を含浸させる事によって、より高い気密性を得る事ができる。
(6) A glassy material such as an alkoxy run-based sol-gel solution is provided on the side wall of the through hole as an adhesive layer, and is fired simultaneously with the conductive particles of the through electrode, thereby increasing the adhesion between the through electrode and the glass substrate. I can do things. Thereby, it is possible to prevent a gap between the through electrode and the glass substrate from being generated and to obtain high airtightness.
(7) According to the present invention, higher airtightness can be obtained by impregnating pores generated by sintering of conductive particles with a glassy material such as a low-viscosity alkoxysilane-based sol-gel film. Can do.

本発明は、貫通電極基板の製造方法に広く適用可能である。このような貫通電極基板は、インターポーザー等のパッケージ分野、TSV等の半導体分野などに好適に用いられる。   The present invention is widely applicable to a method for manufacturing a through electrode substrate. Such a through electrode substrate is suitably used in the package field such as an interposer, the semiconductor field such as TSV, and the like.

SA、SB、SC、SD 貫通電極基板、SGS 流動体E、P 微細孔(空孔)、10、20、30、40 基体、11、21、31 フィルム、12、22、32 貫通穴、13、23、33 フィルム、14A、24A、34A、44A(MA) 貫通電極、14 流動体A、24 流動体B、34 流動体D、37 流動体C。   SA, SB, SC, SD Through electrode substrate, SGS fluid E, P Micropore (hole) 10, 20, 30, 40 Substrate, 11, 21, 31 Film, 12, 22, 32 Through hole, 13, 23, 33 Film, 14A, 24A, 34A, 44A (MA) Through electrode, 14 Fluid A, 24 Fluid B, 34 Fluid D, 37 Fluid C

Claims (6)

平板状のガラスからなる基体の一面に対して、貫通孔を前記基体の内部に形成する第一工程と、
前記第一工程を経た基体の他面に対してフィルム状の封止材を貼付することにより、該他面側において前記貫通孔を封止する第二工程と、
前記第二工程を経た基体の一面側から前記貫通孔の内部に、導電性ナノ粒子を含む流動体Aを充填し、前記封止材の耐熱温度より低い温度で、該導電性ナノ粒子を焼結させることにより、貫通電極を形成する第三工程と、
を含み、
さらに、前記第二工程と前記第三工程との間に、前記第二工程により形成された貫通孔の内側面に対して、アルコキシランベースのゾルゲル溶液からなる流動体Cを用いて皮膜を形成する工程α、
を備えることを特徴とする貫通電極基板の製造方法。
A first step of forming a through hole in the inside of the base with respect to one surface of the base made of flat glass; and
A second step of sealing the through hole on the other surface side by affixing a film-like sealing material to the other surface of the substrate that has undergone the first step;
The through-hole is filled with the fluid A containing conductive nanoparticles from one side of the substrate that has undergone the second step, and the conductive nanoparticles are sintered at a temperature lower than the heat resistance temperature of the sealing material. A third step of forming a through electrode by bonding;
Only including,
Further, a film is formed between the second step and the third step using a fluid C made of an alkoxy run-based sol-gel solution on the inner surface of the through hole formed in the second step. Process α,
A process for producing a through electrode substrate, comprising:
平板状のガラスからなる基体の一面に対して、貫通孔を前記基体の内部に形成する第一工程と、A first step of forming a through hole in the inside of the base with respect to one surface of the base made of flat glass; and
前記第一工程を経た基体の他面に対してフィルム状の封止材を貼付することにより、該他面側において前記貫通孔を封止する第二工程と、A second step of sealing the through hole on the other surface side by affixing a film-like sealing material to the other surface of the substrate that has undergone the first step;
前記第二工程を経た基体の一面側から前記貫通孔の内部に、導電性ナノ粒子を含む流動体Aを充填し、前記封止材の耐熱温度より低い温度で、該導電性ナノ粒子を焼結させることにより、貫通電極を形成する第三工程と、The through-hole is filled with the fluid A containing conductive nanoparticles from one side of the substrate that has undergone the second step, and the conductive nanoparticles are sintered at a temperature lower than the heat resistance temperature of the sealing material. A third step of forming a through electrode by bonding;
を含み、Including
さらに、前記貫通電極の内部に微細孔が残存する場合、アルコキシランベースのゾルゲル溶液からなる流動体Cを用いて、該微細孔を埋めて修復する工程β、Further, when micropores remain inside the through electrode, a process β for filling and repairing the micropores using a fluid C made of an alkoxylane-based sol-gel solution,
を備えることを特徴とする貫通電極基板の製造方法。A process for producing a through electrode substrate, comprising:
前記第一工程において、前記基体の他面に対して凹部が予め形成された基体を用いること、
を特徴とする請求項1又は2に記載の貫通電極基板の製造方法。
In the first step, using a substrate in which a recess is formed in advance on the other surface of the substrate;
The manufacturing method of the penetration electrode substrate according to claim 1 or 2 characterized by these.
前記工程βは、
前記第工程を経た基体を密閉容器に入れて、前記密閉容器の内部を排気する工程β1と、
前記工程β1を経た基体を内在する密閉容器に、該密閉容器の内部を排気しながら、該密閉容器の内部に流動体Eを導入し、該基体が該流動体Eに浸漬された状態とする工程β2と、
前記工程β2を経た基体に該流動体Eを介して圧力を加える工程β3と、
前記工程β3を経た基体を前記密閉容器から取出し、該基体の外面に付着した流動体Eを除去する工程β4と、
前記工程β4を経た基体の他面側に第四加熱手段を設けて、前記基体をプリベーク処理する工程β5と、
前記工程β5を経た基体の他面側に第五加熱手段を設けて、前記基体を焼成処理することにより、前記微細孔が修復された貫通電極を形成する工程β6と、
前記工程β6を経た基体から前記第五加熱手段を外し、該基体を洗浄処理する工程β7と、
から構成されることを特徴とする請求項に記載の貫通電極基板の製造方法。
The step β
A step β1 of putting the base body through the third step into a sealed container and exhausting the inside of the sealed container;
The closed container inherent substrate having passed through the step .beta.1, while exhausting the inside of the sealed container, by introducing a moving object E flow into the interior of the sealed container, a state in which the base body is immersed in the fluid body E Step β2,
A step β3 of applying a pressure to the substrate that has undergone the step β2 via the fluid E;
Removing the substrate having undergone the step β3 from the sealed container and removing the fluid E adhering to the outer surface of the substrate;
A step β5 of providing a fourth heating means on the other surface side of the substrate that has undergone the step β4 to pre-bake the substrate;
Providing a fifth heating means on the other surface side of the substrate that has undergone the step β5, and baking the substrate to form a through electrode in which the micropores are repaired;
Removing the fifth heating means from the substrate that has undergone the step β6 and cleaning the substrate;
The manufacturing method of the penetration electrode substrate of Claim 2 comprised from these.
基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、
前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に設けられた導電性ナノ粒子からなり、
前記貫通孔の内側面には、アルコキシランベースのゾルゲル溶液から形成された被膜からなる密着層が配されていることを特徴とする貫通電極基板。
A through electrode substrate comprising a through electrode on a substrate,
The through electrode Ri Do conductive nanoparticles provided in the through hole of the substrate,
A through electrode substrate, wherein an adhesive layer made of a coating formed from an alkoxy run-based sol-gel solution is disposed on an inner surface of the through hole .
基体に貫通電極を備えてなる貫通電極基板であって、A through electrode substrate comprising a through electrode on a substrate,
前記貫通電極は前記基体の貫通孔内に設けられた導電性ナノ粒子からなり、The through electrode is composed of conductive nanoparticles provided in the through hole of the substrate,
前記貫通電極に内在する微細孔には、アルコキシランベースのゾルゲル溶液を用いた形成物が充填されていることを特徴とする貫通電極基板。The through-hole electrode substrate is characterized in that a fine hole existing in the through-hole electrode is filled with a formation using an alkoxylane-based sol-gel solution.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP7407499B2 (en) * 2017-12-26 2024-01-04 株式会社ディスコ Method for forming recesses or through holes, method for forming electrodes
JP6942670B2 (en) * 2018-04-19 2021-09-29 株式会社日立製作所 Ultrasound inspection equipment and ultrasonic probe
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0284626B1 (en) * 1986-09-30 1992-03-04 Macdermid, Incorporated Process for metallizing non-conductive substrates
JPH03145796A (en) * 1989-10-31 1991-06-20 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd Manufacture of through-hole printed wiring board
JP2756223B2 (en) * 1993-07-02 1998-05-25 株式会社三協精機製作所 Substrate through electrode
JP3858522B2 (en) * 1999-06-30 2006-12-13 凸版印刷株式会社 Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
JP2011040499A (en) * 2009-08-07 2011-02-24 Seiko Instruments Inc Electronic device, and method of manufacturing the same
JP2011044533A (en) * 2009-08-20 2011-03-03 Seiko Instruments Inc Electronic device, and method of manufacturing the same
JP5400543B2 (en) * 2009-09-24 2014-01-29 田中貴金属工業株式会社 Method for forming through electrode of circuit board
JP5126201B2 (en) * 2009-10-23 2013-01-23 株式会社デンソー Semiconductor module and manufacturing method thereof
JP2011192845A (en) * 2010-03-15 2011-09-29 Seiko Instruments Inc Light-emitting component, light-emitting device, and method of manufacturing light-emitting component
JP2012119611A (en) * 2010-12-03 2012-06-21 Asahi Glass Co Ltd Manufacturing method of through hole electrode substrate
JP2013055115A (en) * 2011-09-01 2013-03-21 Seiko Instruments Inc Manufacturing method of electronic device
JP2013165265A (en) * 2012-01-13 2013-08-22 Zycube:Kk Through/embedded electrode structure and manufacturing method of the same

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