JP6374404B2 - 磁気抵抗効果素子の制御方法および磁気抵抗効果素子の制御装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 150
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 507
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 393
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 134
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 37
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 45
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 45
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 43
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 16
- 230000008859 change Effects 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910019236 CoFeB Inorganic materials 0.000 description 4
- AIRCTMFFNKZQPN-UHFFFAOYSA-N AlO Inorganic materials [Al]=O AIRCTMFFNKZQPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- 229910002546 FeCo Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
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- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/16—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
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- G11C11/1675—Writing or programming circuits or methods
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- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/16—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
- G11C11/165—Auxiliary circuits
- G11C11/1693—Timing circuits or methods
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- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
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Description
図1乃至図7は、第1の本発明の実施の形態の磁気抵抗効果素子の制御方法および磁気抵抗効果素子の制御装置で使用する磁気抵抗効果素子を示している。
図1に示すように、この磁気抵抗効果素子10は、第1の磁性層11と第2の磁性層12と絶縁層13とを有している。
図8に示すように、この磁気抵抗効果素子20は、第1の磁性層21と第2の磁性層22と非磁性層23と金属層24と絶縁層25とを有している。
11 第1の磁性層
12 第2の磁性層
13 絶縁層
20 磁気抵抗効果素子
21 第1の磁性層
22 第2の磁性層
23 非磁性層
24 金属層
25 絶縁層
Claims (14)
- 第1の磁性層と、磁化方向が前記第1の磁性層と比べて変化させやすい第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に配置された絶縁層とを有する磁気抵抗効果素子の制御方法であって、
前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に第1の電圧を印加した後、前記第1の磁性層から前記第2の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧より振幅が小さい第2の電圧を印加し、
前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して反平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に第3の電圧を印加した後、前記第2の磁性層から前記第1の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第3の電圧より振幅が小さい第4の電圧を印加することを、
特徴とする磁気抵抗効果素子の制御方法。 - 前記第2の磁性層の磁化方向を反転させる工程において、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧または前記第3の電圧を印加することにより、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させ、その変化した磁化容易軸を中心として歳差運動を行う前記第2の磁性層の磁化が反転したとき、前記第1の電圧または前記第3の電圧を、前記第2の電圧または前記第4の電圧に切り替えることを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果素子の制御方法。
- 前記第1の電圧および前記第3の電圧として、それぞれ前記第2の磁性層の磁化方向が元の方向から90度より大きく270度未満の範囲で回転するよう、所定の大きさ以上の電圧を所定の時間印加することを特徴とする請求項1または2記載の磁気抵抗効果素子の制御方法。
- 前記第2の磁性層の磁化方向を反転させる工程において、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧または前記第3の電圧を印加することにより、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させて、その変化した磁化容易軸を中心として前記第2の磁性層を歳差運動させると共に、前記第1の電圧および前記第3の電圧の継続時間を、前記歳差運動の1/10周期乃至3/10周期とすることを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果素子の制御方法。
- 第1の磁性層と、磁化方向が前記第1の磁性層と比べて変化させやすい第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に配置された非磁性層と、前記第2の磁性層に対して前記第1の磁性層とは反対側に配置された金属層と、前記第2の磁性層と前記金属層との間に配置された絶縁層とを有する磁気抵抗効果素子の制御方法であって、
前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第2の磁性層と前記金属層との間に第1の電圧を印加した後、前記第1の磁性層から前記第2の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧より振幅が小さい第2の電圧を印加し、
前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して反平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第2の磁性層と前記金属層との間に第3の電圧を印加した後、前記第2の磁性層から前記第1の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第3の電圧より振幅が小さい第4の電圧を印加することを、
特徴とする磁気抵抗効果素子の制御方法。 - 前記第2の磁性層の磁化方向を反転させる工程において、前記第2の磁性層と前記金属層との間に前記第1の電圧または前記第3の電圧を印加することにより、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させ、その変化した磁化容易軸を中心として歳差運動を行う前記第2の磁性層の磁化が反転したとき、前記第1の電圧または前記第3の電圧を、前記第2の電圧または前記第4の電圧に切り替えることを特徴とする請求項5記載の磁気抵抗効果素子の制御方法。
- 前記第1の電圧および前記第3の電圧として、それぞれ前記第2の磁性層の磁化方向が元の方向から90度より大きく270度未満の範囲で回転するよう、所定の大きさ以上の電圧を所定の時間印加することを特徴とする請求項5または6記載の磁気抵抗効果素子の制御方法。
- 第1の磁性層と、磁化方向が前記第1の磁性層と比べて変化させやすい第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に配置された絶縁層とを有する磁気抵抗効果素子と、
前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に第1の電圧を印加した後、前記第1の磁性層から前記第2の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧より振幅が小さい第2の電圧を印加し、前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して反平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に第3の電圧を印加した後、前記第2の磁性層から前記第1の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第3の電圧より振幅が小さい第4の電圧を印加するよう設けられた制御手段とを、
有することを特徴とする磁気抵抗効果素子の制御装置。 - 前記制御手段は、前記第2の磁性層の磁化方向を反転させる工程において、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧または前記第3の電圧を印加することにより、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させ、その変化した磁化容易軸を中心として歳差運動を行う前記第2の磁性層の磁化が反転したとき、前記第1の電圧または前記第3の電圧を、前記第2の電圧または前記第4の電圧に切り替えるよう構成されていることを特徴とする請求項8記載の磁気抵抗効果素子の制御装置。
- 前記制御手段は、前記第1の電圧および前記第3の電圧として、それぞれ前記第2の磁性層の磁化方向が元の方向から90度より大きく270度未満の範囲で回転するよう、所定の大きさ以上の電圧を所定の時間印加するよう構成されていることを特徴とする請求項8または9記載の磁気抵抗効果素子の制御装置。
- 前記制御手段は、前記第2の磁性層の磁化方向を反転させる工程において、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧または前記第3の電圧を印加することにより、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させて、その変化した磁化容易軸を中心として前記第2の磁性層を歳差運動させると共に、前記第1の電圧および前記第3の電圧の継続時間を、前記歳差運動の1/10周期乃至3/10周期とするよう構成されていることを特徴とする請求項8記載の磁気抵抗効果素子の制御装置。
- 第1の磁性層と、磁化方向が前記第1の磁性層と比べて変化させやすい第2の磁性層と、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に配置された非磁性層と、前記第2の磁性層に対して前記第1の磁性層とは反対側に配置された金属層と、前記第2の磁性層と前記金属層との間に配置された絶縁層とを有する磁気抵抗効果素子と、
前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第2の磁性層と前記金属層との間に第1の電圧を印加した後、前記第1の磁性層から前記第2の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第1の電圧より振幅が小さい第2の電圧を印加し、前記第2の磁性層の磁化方向が前記第1の磁性層の磁化方向に対して反平行であるとき、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させることにより磁化方向を反転させるよう、前記第2の磁性層と前記金属層との間に第3の電圧を印加した後、前記第2の磁性層から前記第1の磁性層に向かって電流が流れるよう、前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に前記第3の電圧より振幅が小さい第4の電圧を印加するよう設けられた制御手段とを、
有することを特徴とする磁気抵抗効果素子の制御装置。 - 前記制御手段は、前記第2の磁性層の磁化方向を反転させる工程において、前記第2の磁性層と前記金属層との間に前記第1の電圧または前記第3の電圧を印加することにより、前記第2の磁性層の磁化容易軸の方向を変化させ、その変化した磁化容易軸を中心として歳差運動を行う前記第2の磁性層の磁化が反転したとき、前記第1の電圧または前記第3の電圧を、前記第2の電圧または前記第4の電圧に切り替えるよう構成されていることを特徴とする請求項12記載の磁気抵抗効果素子の制御装置。
- 前記制御手段は、前記第1の電圧および前記第3の電圧として、それぞれ前記第2の磁性層の磁化方向が元の方向から90度より大きく270度未満の範囲で回転するよう、所定の大きさ以上の電圧を所定の時間印加するよう構成されていることを特徴とする請求項12または13記載の磁気抵抗効果素子の制御装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013272703 | 2013-12-27 | ||
JP2013272703 | 2013-12-27 | ||
PCT/JP2014/080008 WO2015098335A1 (ja) | 2013-12-27 | 2014-11-13 | 磁気抵抗効果素子の制御方法および磁気抵抗効果素子の制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015098335A1 JPWO2015098335A1 (ja) | 2017-03-23 |
JP6374404B2 true JP6374404B2 (ja) | 2018-08-15 |
Family
ID=53478211
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015554667A Active JP6374404B2 (ja) | 2013-12-27 | 2014-11-13 | 磁気抵抗効果素子の制御方法および磁気抵抗効果素子の制御装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10127957B2 (ja) |
JP (1) | JP6374404B2 (ja) |
WO (1) | WO2015098335A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3064395B1 (fr) * | 2017-03-23 | 2021-12-10 | Commissariat Energie Atomique | Procede de formage d'une cellule memoire non volatile, cellule memoire non volatile formee suivant ce procede et dispositif microelectronique comportant des telles cellules memoire |
US10788547B2 (en) * | 2019-01-17 | 2020-09-29 | Sandisk Technologies Llc | Voltage-controlled interlayer exchange coupling magnetoresistive memory device and method of operating thereof |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3848072B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2006-11-22 | 富士通株式会社 | 磁気記録媒体及びこれを用いた磁気記憶装置 |
JP2007123455A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
DE602006013948D1 (de) | 2006-05-04 | 2010-06-10 | Hitachi Ltd | Magnetspeichervorrichtung |
TWI412035B (zh) * | 2008-04-17 | 2013-10-11 | Sony Corp | Recording method of magnetic memory element |
JP4837013B2 (ja) * | 2008-09-25 | 2011-12-14 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子のデータ書き込み方法及び磁気ランダムアクセスメモリ |
JP5363644B2 (ja) * | 2010-02-16 | 2013-12-11 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
KR101266791B1 (ko) * | 2012-09-21 | 2013-05-27 | 고려대학교 산학협력단 | 면내 전류와 전기장을 이용한 자기메모리 소자 |
JP5576449B2 (ja) * | 2012-09-26 | 2014-08-20 | 株式会社東芝 | 不揮発性記憶装置 |
JP2014203931A (ja) * | 2013-04-03 | 2014-10-27 | 株式会社東芝 | 磁気メモリ、スピン素子およびスピンmosトランジスタ |
US9691458B2 (en) * | 2013-10-18 | 2017-06-27 | Cornell University | Circuits and devices based on spin hall effect to apply a spin transfer torque with a component perpendicular to the plane of magnetic layers |
-
2014
- 2014-11-13 JP JP2015554667A patent/JP6374404B2/ja active Active
- 2014-11-13 WO PCT/JP2014/080008 patent/WO2015098335A1/ja active Application Filing
- 2014-11-13 US US15/108,396 patent/US10127957B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10127957B2 (en) | 2018-11-13 |
WO2015098335A1 (ja) | 2015-07-02 |
JPWO2015098335A1 (ja) | 2017-03-23 |
US20160329086A1 (en) | 2016-11-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171107 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20171108 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180522 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20180704 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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