JP6352534B2 - 非接触電圧計測装置 - Google Patents
非接触電圧計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6352534B2 JP6352534B2 JP2017515528A JP2017515528A JP6352534B2 JP 6352534 B2 JP6352534 B2 JP 6352534B2 JP 2017515528 A JP2017515528 A JP 2017515528A JP 2017515528 A JP2017515528 A JP 2017515528A JP 6352534 B2 JP6352534 B2 JP 6352534B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- movable body
- electrode
- detection unit
- displacement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R5/00—Instruments for converting a single current or a single voltage into a mechanical displacement
- G01R5/28—Electrostatic instruments
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/16—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/16—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices
- G01R15/165—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices measuring electrostatic potential, e.g. with electrostatic voltmeters or electrometers, when the design of the sensor is essential
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R5/00—Instruments for converting a single current or a single voltage into a mechanical displacement
- G01R5/28—Electrostatic instruments
- G01R5/30—Leaf electrometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
これにより、前記測定対象物と前記第1静電結合電極との静電結合を通じて、前記測定対象物に印加される前記交流電圧に応じた電圧が前記検出電極に加わる。
これにより、環境等に応じて前記基準値にばらつきが生じる場合でも、交流電圧の測定を行う前に最新の適切な基準値が取得されるため、交流電圧の測定精度が更に高まる。
上記の構成によれば、前記測定対象物の前記交流電圧に比例した交流信号を増幅することにより、前記フィードバック電極の電圧が生成される。そのため、前記交流電圧と前記フィードバック電極の電圧とが精度よく一致するようになる。
これにより、前記電圧供給部が前記フィードバック電極に供給する電圧に応じて、前記可動体に加わるクーロン力が変化し、前記クーロン力の変化が前記可動体の変位となり、当該変位が前記磁石による磁界の変化としてとして前記磁気検出部に検出される。そのため、前記フィードバック電極に供給する電圧に応じて、前記磁気検出部に検出される前記磁界が敏感に変化する。
これにより、前記可動体が前記中立位置にある場合に前記磁石と前記磁気検出部との距離が短くなり、前記磁気検出部による磁界の検出値が大きくなる。
これにより、前記磁気検出部の検出結果に基づいて、前記可動体が前記中立位置に対して前記検出電極側に引き寄せられている場合と前記フィードバック電極側に引き寄せられている場合とが判別可能となる。
これにより前記可動体の変位の検出感度が向上する。
以下、図面を参照して、本発明の第1の実施形態に係る非接触電圧測定装置を説明する。
図1は、本実施形態に係る非接触電圧測定装置の構成の一例を示す図である。図1に示す非接触電圧測定装置は、導体の測定対象物1に印加される交流電圧Vacを測定対象物1と導通せずに計測する装置であり、導体の可動体31と検出電極13との間に生じるクーロン力、及び、可動体31とフィードバック電極14との間に生じるクーロン力を利用して交流電圧Vacの計測を行う。なお、ここで「導通せず」とは、測定対象物と非接触電圧測定装置とが直流的に絶縁されていることを意味しており、両者の間に絶縁物が介在している場合や、空間を隔て両者が分離している場合を含む。図1の例において、非接触電圧測定装置は、第1静電結合電極11と、検出電極13と、フィードバック電極14と、可動体31と、変位検出部40と、電圧供給部50と、制御部60と、スイッチ部SW1とを有する。
そのため、環境等に応じて基準値にばらつきが生じる場合でも、交流電圧Vacの測定を行う前に最新の適切な基準値を取得できるため、交流電圧Vacの測定精度を更に高めることができる。
D ∝ F …(2)
H ∝ 1/D2 ∝ 1/V4 …(3)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図2に示す非接触電圧測定装置は、図1に示す非接触電圧測定装置と同様な構成に加えて、第2静電結合電極12を有する。また、制御部60は交流信号生成部61とゲイン制御部62を含み、電圧供給部50は可変ゲインアンプ51を含む。
次に、本発明の第3の実施形態を説明する。
図3に示す非接触電圧測定装置は、図1に示す非接触電圧測定装置における変位検出部40を変位検出部40Aに置換し、制御部60を制御部60Aに置換したものであり、他の構成は図1に示す非接触電圧測定装置と同じである。
磁気検出部42は、磁石44による磁界を検出するセンサであり、図3の例では基板23に実装配置される。磁気検出部42も磁気検出部41と同様、基台2に基板23を介して固定される。
これにより、可動体31の変位を更に感度良く検出できるため、交流電圧Vacの測定を高い分解能で精度良く行うことができる。
図4に示す非接触電圧測定装置は、図3に示す非接触電圧測定装置と同様な構成に加えて、既に説明した第2静電結合電極12(図2)を有する。また、図4における制御部60Aは、図2における制御部60のゲイン制御部62をゲイン制御部62Aに置き換えたものである。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。
次に、本発明の第5の実施形態について説明する。
上述した各実施形態に係る非接触電圧測定装置では磁石の磁界に基づいて可動体の変位を検出しているが、本実施形態に係る非接触電圧測定装置では電界放出により流れる電流に基づいて可動体の変位を検出する。
プローブ47は、フィードバック電極14の表面に向かって尖った尖端部を備える導体であり、可動体32に固定される。
図6に示す非接触電圧測定装置では可動体32にプローブ47が設けられているが、図7に示す変形例では、フィードバック電極14にプローブ48が設けられている。プローブ48は、図7に示すように、可動体32の表面に向かって尖った尖端部を備える。この場合、電圧源45は、プローブ48が設けられたフィードバック電極14が負極性、可動体32が正極性となるように直流電圧を供給する。
Claims (10)
- 導体の測定対象物に印加される交流電圧を前記測定対象物と導通せずに計測する非接触電圧計測装置であって、
前記交流電圧に応じた電圧が加わる検出電極と、
フィードバック電極と、
前記検出電極との間に生じるクーロン力及び前記フィードバック電極との間に生じるクーロン力に応じて変位可能に支持されており、所定の中立位置へ復帰させようとする弾性力が働く導体の可動体と、
前記可動体の前記変位を検出する変位検出部と、
前記フィードバック電極へ電圧を供給する電圧供給部と、
前記変位検出部における前記変位の検出結果が前記中立位置を示す所定の基準値へ近づくように、前記電圧供給部から出力される電圧を制御する制御部と
を備えることを特徴とする非接触電圧計測装置。 - 前記測定対象物と静電結合し、前記検出電極と導通する第1静電結合電極を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記検出電極と前記フィードバック電極とを短絡するスイッチ部を備え、
前記制御部は、前記交流電圧の測定を行う前に前記スイッチ部をオン状態とし、当該オン状態における前記変位検出部の検出結果を前記基準値として取得し、前記交流電圧の測定時に前記スイッチ部をオフ状態とする
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記測定対象物と静電結合する第2静電結合電極を備え、
前記電圧供給部は、入力される交流信号をゲイン制御信号に応じたゲインで増幅し、当該増幅結果の電圧を前記フィードバック電極に供給し、
前記制御部は、
前記第2静電結合電極から入力される信号に基づいて、前記測定対象物の前記交流電圧に比例した前記交流信号を生成する交流信号生成部と、
前記変位検出部の検出結果が前記基準値へ近づくように前記ゲイン制御信号を調節するゲイン制御部とを有する
ことを特徴とする請求項2又は3に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記変位検出部は、
磁石と、
前記磁石による磁界を検出する磁気検出部とを有し、
前記磁石及び前記磁気検出部の一方が、前記可動体に設けられ、
前記磁石及び前記磁気検出部の他方が、前記変位の検出の基準となる基台に固定され、
前記変位検出部は、前記磁気検出部における前記磁界の検出結果を前記変位の検出結果として出力する
ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記可動体が前記中立位置にある場合、前記可動体に設けられた前記磁石及び前記磁気検出部の一方が基準位置にあり、
前記基台に設けられた前記磁石及び前記磁気検出部の他方は、前記基準位置に対して、前記可動体の変位とともに前記磁石及び前記磁気検出部の一方が前記基準位置から変位する方向と垂直な方向へずれた位置に設置される
ことを特徴とする請求項5に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記可動体が前記中立位置にある場合、前記可動体に設けられた前記磁石及び前記磁気検出部の一方が基準位置にあり、
前記基台に設けられた前記磁石及び前記磁気検出部の他方は、前記基準位置に対して、前記可動体の変位とともに前記磁石及び前記磁気検出部の一方が前記基準位置から変位する方向と平行な方向へずれた位置に設置される
ことを特徴とする請求項5に記載の非接触電圧計測装置。 - 2つの前記磁気検出部を備えており、
一方の前記磁気検出部は、前記磁石の前記基準位置に対して、前記基準位置から前記可動体が変位する方向と平行な方向である第1方向へずれた位置に設置され、
他方の前記磁気検出部は、前記磁石の前記基準位置に対して、前記基準位置から前記第1方向と逆の第2方向へずれた位置に設置され、
前記制御部は、前記一方の前記磁気検出部において検出された前記磁石の磁界の検出値と前記他方の磁気検出部において検出された前記磁石の磁界の検出値との差が所定の値へ近づくように、前記電圧供給部から出力される電圧を制御する
ことを特徴とする請求項7に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記変位検出部は、
前記可動体に設けられ、前記フィードバック電極の表面に向かって尖った尖端部、又は、前記フィードバック電極に設けられ、前記可動体の表面に向かって尖った尖端部を備える導体のプローブと、
前記プローブと前記フィードバック電極との間に電圧を加える電圧源と、
前記プローブから前記フィードバック電極へ電界放出により流れる電流を検出する電流検出部とを有し、
前記電流検出部における前記電流の検出結果を前記変位の検出結果として出力する
ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の非接触電圧計測装置。 - 前記検出電極と前記フィードバック電極とが対向して配置されており、
前記可動体の少なくとも一部が前記検出電極と前記フィードバック電極との間に挟まれて位置する
ことを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の非接触電圧計測装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015092096 | 2015-04-28 | ||
JP2015092096 | 2015-04-28 | ||
PCT/JP2016/062723 WO2016175142A1 (ja) | 2015-04-28 | 2016-04-22 | 非接触電圧計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016175142A1 JPWO2016175142A1 (ja) | 2018-02-08 |
JP6352534B2 true JP6352534B2 (ja) | 2018-07-04 |
Family
ID=57198570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017515528A Expired - Fee Related JP6352534B2 (ja) | 2015-04-28 | 2016-04-22 | 非接触電圧計測装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10254313B2 (ja) |
JP (1) | JP6352534B2 (ja) |
WO (1) | WO2016175142A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10139435B2 (en) * | 2016-11-11 | 2018-11-27 | Fluke Corporation | Non-contact voltage measurement system using reference signal |
WO2019073497A1 (en) * | 2017-10-13 | 2019-04-18 | Alberto Bauer | CONSTRUCTION SYSTEM FOR A CAPACITIVE SENSOR |
US10557875B2 (en) * | 2018-05-09 | 2020-02-11 | Fluke Corporation | Multi-sensor scanner configuration for non-contact voltage measurement devices |
CN109387686B (zh) * | 2018-11-01 | 2024-01-26 | 华南理工大学 | 一种非接触式电压测量电路 |
DE102020102724B3 (de) * | 2020-02-04 | 2021-08-05 | Uniflex - Hydraulik GmbH | Verfahren zur Herstellung einer Hochdruck-Hydraulikleitung sowie Radialpresse zur Durchführung des Verfahrens |
CN113358914B (zh) * | 2021-06-11 | 2022-04-15 | 南方电网数字电网研究院有限公司 | 电压测量电路及其电压测量方法、电压测量设备 |
JP7434233B2 (ja) | 2021-09-14 | 2024-02-20 | 株式会社東芝 | センサ及び電気装置 |
JP7456988B2 (ja) | 2021-09-15 | 2024-03-27 | 株式会社東芝 | センサ及び電気装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5436980A (en) * | 1977-08-29 | 1979-03-19 | Altec Corp | Meterrdriving circuit |
JPH0623781B2 (ja) * | 1988-10-20 | 1994-03-30 | 株式会社日立製作所 | 加速度検出方法及び装置 |
JPH055751A (ja) | 1991-05-15 | 1993-01-14 | Nissin High Voltage Co Ltd | 直流高電圧測定装置 |
JP2591907Y2 (ja) * | 1991-09-24 | 1999-03-10 | 株式会社村田製作所 | 表面電位検出装置 |
JP4894840B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2012-03-14 | 株式会社デンソー | 物理量検出装置 |
US8680845B2 (en) * | 2011-02-09 | 2014-03-25 | International Business Machines Corporation | Non-contact current and voltage sensor |
TWI531800B (zh) * | 2014-09-16 | 2016-05-01 | 財團法人工業技術研究院 | 非接觸式雙線電源線電壓感測器及其安裝位置變動補償方法 |
-
2016
- 2016-04-22 JP JP2017515528A patent/JP6352534B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2016-04-22 WO PCT/JP2016/062723 patent/WO2016175142A1/ja active Application Filing
-
2017
- 2017-09-28 US US15/718,950 patent/US10254313B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2016175142A1 (ja) | 2018-02-08 |
US20180017597A1 (en) | 2018-01-18 |
US10254313B2 (en) | 2019-04-09 |
WO2016175142A1 (ja) | 2016-11-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6352534B2 (ja) | 非接触電圧計測装置 | |
JP7182510B2 (ja) | 振動センサを有する非接触dc電圧測定装置 | |
CN107533091B (zh) | 非接触电压测量装置 | |
JP4648228B2 (ja) | 電圧検出装置および初期化方法 | |
CN102741711B (zh) | 无误差电容性记录测量值的装置和方法 | |
US20110304576A1 (en) | Capacitative sensor system | |
JP6459188B2 (ja) | 非接触電圧計測装置 | |
CN102870327B (zh) | 介电对象的检测 | |
JP6718622B2 (ja) | 隙間センサおよび隙間測定方法 | |
US11269450B2 (en) | Electrostatic capacitance sensor | |
JP6088908B2 (ja) | タイヤ内センサーの変形状態検知方法、タイヤ接地状態推定方法、及び、タイヤ接地状態推定装置 | |
CN111771109B (zh) | 静电电容检测装置 | |
US9372217B2 (en) | Cable detector | |
US20150377928A1 (en) | Voltage measuring device | |
JP4873689B2 (ja) | 表面電位計および表面電位測定方法 | |
JP4410700B2 (ja) | 走査形プローブ顕微鏡 | |
JP5106816B2 (ja) | 電圧測定装置および電力測定装置 | |
JPH08159705A (ja) | 容量センサにより物体の幾何学的位置、変位又は角度を検出する方法および装置 | |
JP2010256125A (ja) | 電圧検出装置および線間電圧検出装置 | |
RU2625440C2 (ru) | Детектор элементов каркаса со схемой регулирования | |
JP2016099207A (ja) | 電圧測定装置 | |
RU2708530C1 (ru) | Зонд сканирующего микроскопа | |
US20240044944A1 (en) | Current detection apparatus and current detection method | |
US20240044945A1 (en) | Magnetic sensor, current detection apparatus and current detection method | |
JP3819323B2 (ja) | ホール素子及び電気量測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171005 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180529 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180606 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6352534 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |