JP6347844B2 - 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 - Google Patents
赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6347844B2 JP6347844B2 JP2016553004A JP2016553004A JP6347844B2 JP 6347844 B2 JP6347844 B2 JP 6347844B2 JP 2016553004 A JP2016553004 A JP 2016553004A JP 2016553004 A JP2016553004 A JP 2016553004A JP 6347844 B2 JP6347844 B2 JP 6347844B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cooling element
- temperature
- peltier cooling
- fan
- peltier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 title claims description 11
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 98
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 35
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 30
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 22
- 239000003570 air Substances 0.000 claims description 17
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 claims description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 7
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 53
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 2
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N Nitric oxide Chemical compound O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000012470 diluted sample Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000001307 laser spectroscopy Methods 0.000 description 2
- MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 4-(3,5-dimethylphenyl)-1,3-thiazol-2-amine Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C=2N=C(N)SC=2)=C1 MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N cadmium;mercury;tellurium Chemical compound [Cd]=[Te]=[Hg] MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 208000014674 injury Diseases 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N nitrogen dioxide Inorganic materials O=[N]=O JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960001730 nitrous oxide Drugs 0.000 description 1
- 235000013842 nitrous oxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/024—Arrangements for thermal management
- H01S5/02407—Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling
- H01S5/02415—Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling by using a thermo-electric cooler [TEC], e.g. Peltier element
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06804—Stabilisation of laser output parameters by monitoring an external parameter, e.g. temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/3401—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/39—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
- G01N2021/396—Type of laser source
- G01N2021/399—Diode laser
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/02—Mechanical
- G01N2201/023—Controlling conditions in casing
- G01N2201/0231—Thermostating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/062—LED's
- G01N2201/0621—Supply
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0607—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature
- H01S5/0612—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature controlled by temperature
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Claims (20)
- 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置であって、
分析セル(16)を通して放射を案内可能な赤外放射源(12)と、
前記分析セル(16)内へ導通可能な試料ガス流と、
前記分析セル(16)内で生じた吸収スペクトルを測定可能な検出器(22)と、
前記赤外放射源(12)又は前記検出器(22)に熱伝導可能に接触している低温側(70)、及び、冷却体(46)に熱伝導可能に接触している高温側(68)を有する、ペルチエ冷却素子(66)と、
を備えた装置において、
前記冷却体(46)は、回転数制御されるファン(38)によって冷却され、
前記ペルチエ冷却素子(66)の前記高温側(68)の温度にほぼ対応する温度を測定する温度センサ(81)が設けられており、
前記温度センサ(81)は、前記ファン(38)の電子計算ユニット(37)に電気的に接続されている、
ことを特徴とする装置。 - 前記ファン(38)の回転数制御は、パルス幅変調によって行われる、
請求項1記載の装置。 - 前記赤外放射源(12)は、前記ペルチエ冷却素子(66)の前記低温側(70)に熱伝導可能に接続された金属プレート(72)上に配置されている、
請求項1又は2記載の装置。 - 前記ペルチエ冷却素子(66)の前記低温側(70)の温度にほぼ対応する温度を測定する別の温度センサ(80)が設けられており、
前記別の温度センサ(80)は、前記ペルチエ冷却素子(66)の電子制御ユニット(82)に電気的に接続されている、
請求項1から3までのいずれか1項記載の装置。 - 前記赤外放射源(12)は、支承部(76)によって固定されかつ金属プレート(72)に熱伝導可能に接触しているレーザーチップ(74)を有する、
請求項1から4までのいずれか1項記載の装置。 - 前記金属プレート(72)は、銅ブロックである、
請求項3又は5記載の装置。 - 複数の光学素子(12,18,22,24,26,28)が、前記分析セル(16)の外部で光学系プレート(60)上に配置されており、
前記光学系プレート(60)は、前記冷却体(46)と前記ペルチエ冷却素子(66)の前記高温側(68)との間に熱伝導可能に配置されている、
請求項6記載の装置。 - 前記温度センサ(81)は、前記ペルチエ冷却素子(66)の直接近傍にある前記光学系プレート(60)の上面(62)上の温度を測定する、
請求項7記載の装置。 - 前記冷却体(46)、前記光学系プレート(60)、前記ペルチエ冷却素子(66)及び前記金属プレート(72)の各要素のうち2つ以上の要素が、熱伝導ペーストによって相互に接続されている、
請求項8記載の装置。 - 前記冷却体(46)は、前記ペルチエ冷却素子(66)とは反対側の下面(48)に複数のリブ(50)を有する、
請求項1から9までのいずれか1項記載の装置。 - 前記装置は、ハウジング(10)を有しており、
前記ハウジング(10)の周囲から前記ファン(38)が周囲空気を吸引し、
前記ハウジング(10)内に、空気流を前記冷却体(46)の下面(48)へ導通する導通体(44)が配置されている、
請求項1から10までのいずれか1項記載の装置。 - 前記ハウジング(10)の第1の側壁(40)に空気流入スリットが、反対側の第2の側壁(54)に空気流出スリット(52)が形成されており、
前記空気流入スリットは、主として前記ファン(38)の周の上方に延在しており、
前記空気流出スリット(52)は、前記ハウジング(10)の底部(56)と前記冷却体(46)の下面(48)との間に延在している、
請求項11記載の装置。 - 前記赤外放射源(12)は、量子カスケードレーザーである、
請求項1から12までのいずれか1項記載の装置。 - 請求項1から13までのいずれか1項記載の装置を用い、赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める方法であって、
赤外放射源(12)の放射を分析セル(16)へ案内し、
前記分析セル(16)に試料ガス流を通流させ、これに応じて、検出器(22)により、前記分析セル(16)から出る放射の吸収スペクトルを求め、前記吸収スペクトルから計算ユニット(37)において前記試料ガス流中のガスの濃度を計算し、
前記赤外放射源(12)又は前記検出器(22)をペルチエ冷却素子(66)によって冷却する、
方法において、
前記ペルチエ冷却素子(66)の高温側(68)を、回転数制御されるファン(38)によって少なくとも間接的に冷却し、
温度センサ(81)により、前記ペルチエ冷却素子(66)の前記高温側(68)の温度にほぼ対応する温度を測定し、
前記温度センサ(81)に電気的に接続された、前記ファン(38)の電子計算ユニット(37)を介し、前記温度センサ(81)の測定値に依存して、前記ファンの回転数を制御する、
ことを特徴とする、方法。 - 前記ファン(38)の回転数を、パルス幅変調信号を変化させることによって制御する、
請求項14記載の方法。 - 前記ファン(38)によって、周囲空気を、前記ペルチエ冷却素子(66)に熱伝導可能に接続された冷却体(46)に沿って圧送する、
請求項14又は15記載の方法。 - 前記冷却体(46)を、30℃から50℃の一定値へ向かって制御する、
請求項14から16までのいずれか1項記載の方法。 - 前記冷却体(46)を、40℃の一定値へ向かって制御する、
請求項17記載の方法。 - 前記ペルチエ冷却素子(66)への通電をほぼ一定に行う、
請求項14から18までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ペルチエ冷却素子(66)への通電を、前記ペルチエ冷却素子(66)の高温側(68)と低温側(70)との間に20Kから40Kまでの一定の温度差が生じるように調整する、
請求項19記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014102050.2A DE102014102050B4 (de) | 2014-02-18 | 2014-02-18 | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Konzentration zumindest eines Gases in einem Probengasstrom mittels Infrarotabsorptionsspektroskopie |
DE102014102050.2 | 2014-02-18 | ||
PCT/EP2015/051202 WO2015124367A1 (de) | 2014-02-18 | 2015-01-22 | Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der konzentration zumindest eines gases in einem probengasstrom mittels infrarotabsorptionsspektroskopie |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017506344A JP2017506344A (ja) | 2017-03-02 |
JP6347844B2 true JP6347844B2 (ja) | 2018-06-27 |
Family
ID=52394258
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016553004A Active JP6347844B2 (ja) | 2014-02-18 | 2015-01-22 | 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3108221B1 (ja) |
JP (1) | JP6347844B2 (ja) |
KR (1) | KR101968808B1 (ja) |
CN (1) | CN106415240B (ja) |
DE (1) | DE102014102050B4 (ja) |
WO (1) | WO2015124367A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016100640A1 (de) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | Avl Emission Test Systems Gmbh | Schaltschrank für Abgasmessanlagen |
WO2019012313A1 (en) * | 2017-07-13 | 2019-01-17 | Foss Analytical A/S | OPTICAL ANALYZER WITH DEHUMIDIFIER |
DE202018104455U1 (de) * | 2018-08-02 | 2019-11-08 | Milestone S.R.L. | Druckbehälter mit Hochdruckfenster |
EP3938758A4 (en) * | 2019-04-30 | 2022-12-07 | Atonarp Inc. | MEASUREMENT SYSTEM |
CN110749121B (zh) * | 2019-10-10 | 2024-05-17 | 青岛海尔智能技术研发有限公司 | 用于控制半导体制冷设备运行的方法及装置、制冷设备 |
KR102072953B1 (ko) * | 2019-11-21 | 2020-02-04 | 김영인 | 기계식 온도보정 가스 디텍터 |
CN111342325A (zh) * | 2020-04-03 | 2020-06-26 | 深圳市翠云谷科技有限公司 | 一种烟气测量气室的激光器散热结构 |
CN112834452A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-25 | 杭州谱育科技发展有限公司 | Ftir分析仪 |
CN114878502A (zh) * | 2022-04-24 | 2022-08-09 | 贵州电网有限责任公司 | 一种基于中红外光谱带电检测气体的装置的设计方法 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5543621A (en) * | 1995-05-15 | 1996-08-06 | San Jose State University Foundation | Laser diode spectrometer for analyzing the ratio of isotopic species in a substance |
DE19621073A1 (de) * | 1996-05-24 | 1997-11-27 | Baldwin Gegenheimer Gmbh | Tragbarer Kohlenwasserstoffmonitor für Lösemitteldämpfe |
JP2001007433A (ja) * | 1999-06-17 | 2001-01-12 | Sunx Ltd | レーザマーカ |
ES2344934T3 (es) * | 2000-09-25 | 2010-09-10 | Otsuka Pharmaceutical Co., Ltd. | Procedimiento para analizar aliento humano usando un analizador de gas isotopico. |
CN101015100B (zh) * | 2004-05-14 | 2011-05-11 | C8麦迪森瑟斯公司 | 使用可变热阻抗对半导体激光器的波长进行温度调谐 |
CN1780545A (zh) * | 2004-11-23 | 2006-05-31 | 奇鋐科技股份有限公司 | 具散热结构的发热组件 |
US20060263256A1 (en) * | 2005-05-17 | 2006-11-23 | Nitrex Metal Inc. | Apparatus and method for controlling atmospheres in heat treating of metals |
US7492806B2 (en) * | 2005-06-15 | 2009-02-17 | Daylight Solutions, Inc. | Compact mid-IR laser |
US7733924B2 (en) * | 2005-08-15 | 2010-06-08 | William Marsh Rice University | Piezo activated mode tracking system for widely tunable mode-hop-free external cavity mid-IR semiconductor lasers |
US7994479B2 (en) * | 2006-11-30 | 2011-08-09 | The Science And Technology Facilities Council | Infrared spectrometer |
EP1998108B1 (en) * | 2007-05-30 | 2015-04-29 | OSRAM GmbH | Cooling apparatus |
JP5127866B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2013-01-23 | スペクトロニクス株式会社 | ペルチェ素子の駆動装置および駆動方法 |
JP5278757B2 (ja) * | 2009-05-14 | 2013-09-04 | 富士電機株式会社 | レーザ式ガス分析計 |
CN101860329A (zh) * | 2010-06-19 | 2010-10-13 | 叶真 | 基于帕尔贴效应散热技术的大功率专业音频功率放大器 |
CN201805141U (zh) * | 2010-07-15 | 2011-04-20 | 武汉滨湖电子有限责任公司 | 一种基于大功率半导体激光器的均匀激光线装置 |
US9651488B2 (en) * | 2010-10-14 | 2017-05-16 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | High-accuracy mid-IR laser-based gas sensor |
CN201897188U (zh) * | 2010-11-18 | 2011-07-13 | 常州星宇车灯股份有限公司 | 车灯用大功率led的主动散热装置 |
CN102102868B (zh) * | 2010-11-18 | 2013-03-06 | 常州星宇车灯股份有限公司 | 车灯用大功率led的主动散热装置 |
CN201985430U (zh) * | 2011-03-16 | 2011-09-21 | 上海镭福康医疗设备有限公司 | 一种热电制冷系统 |
KR20120111080A (ko) * | 2011-03-31 | 2012-10-10 | 비나텍주식회사 | 셀의 가스 분석 장치 및 이를 이용한 가스 분석 방법 |
CN102570289B (zh) * | 2011-05-25 | 2013-07-17 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | 一种光纤耦合模块的温控散热系统 |
AT509557B1 (de) * | 2011-06-10 | 2012-05-15 | Avl List Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur analyse des abgases von verbrennungskraftmaschinen, sowie abgas-kühler für diese vorrichtung |
-
2014
- 2014-02-18 DE DE102014102050.2A patent/DE102014102050B4/de active Active
-
2015
- 2015-01-22 CN CN201580008690.8A patent/CN106415240B/zh active Active
- 2015-01-22 JP JP2016553004A patent/JP6347844B2/ja active Active
- 2015-01-22 WO PCT/EP2015/051202 patent/WO2015124367A1/de active Application Filing
- 2015-01-22 KR KR1020167025046A patent/KR101968808B1/ko active IP Right Grant
- 2015-01-22 EP EP15700880.6A patent/EP3108221B1/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106415240A (zh) | 2017-02-15 |
JP2017506344A (ja) | 2017-03-02 |
DE102014102050B4 (de) | 2020-08-13 |
KR20160124801A (ko) | 2016-10-28 |
KR101968808B1 (ko) | 2019-04-12 |
EP3108221B1 (de) | 2020-05-06 |
DE102014102050A1 (de) | 2015-08-20 |
WO2015124367A1 (de) | 2015-08-27 |
EP3108221A1 (de) | 2016-12-28 |
CN106415240B (zh) | 2020-10-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6347844B2 (ja) | 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 | |
Krzempek et al. | CW DFB RT diode laser-based sensor for trace-gas detection of ethane using a novel compact multipass gas absorption cell | |
JP6273027B2 (ja) | 赤外吸収分光法を用いて試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を測定する装置 | |
US9755399B2 (en) | Packaged laser thermal control system | |
McManus et al. | Pulsed quantum cascade laser instrument with compact design for rapid, high sensitivity measurements of trace gases in air | |
JP6430402B2 (ja) | 微量ガス検出用小型チューナブルレーザ分光計 | |
US7180595B2 (en) | Gas detection method and gas detector device | |
JP5741770B2 (ja) | 分光測定装置 | |
US9377358B2 (en) | Spectroscopy system using waveguide and employing a laser medium as its own emissions detector | |
Leis et al. | Detection of potentially explosive methane levels using a solid-state infrared source | |
JP6320547B2 (ja) | 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 | |
JP2008513736A (ja) | 1種類以上のガス成分を測定する装置 | |
JP7414665B2 (ja) | ガス分析装置 | |
JP2010210543A (ja) | センサーユニット、テラヘルツ分光測定装置およびテラヘルツ分光測定方法 | |
KR101923505B1 (ko) | 저온분광실험장치 | |
JP2013156113A (ja) | レーザ式ガス分析装置 | |
JP2010164511A (ja) | センサーユニット、テラヘルツ分光測定装置およびテラヘルツ分光測定方法 | |
CN219675840U (zh) | 基于泵浦探测拉曼光谱的半导体导热系数测试装置 | |
JP2007309849A (ja) | 酸素分子の検出及び定量装置及び方法 | |
Tittel | Karol Krzempek, Mohammad Jahjah, Rafał Lewicki, Przemysław Stefański, Stephen So, David Thomazy & Frank | |
CA2889953C (en) | Packaged laser thermal control system | |
JP2021156685A (ja) | ガス分析装置 | |
Kosterev et al. | Spectroscopic trace gas detection with pulsed quantum cascade lasers | |
KR19990057107A (ko) | 이산화탄소 가스 검출기 | |
CN118443145A (zh) | 一种光探测器装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161018 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170726 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170828 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180521 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180529 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6347844 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |