JP6346212B2 - 誤り率測定装置及び該装置を用いた自動位相調整方法 - Google Patents
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Description
前記位相可変器は、前記被調整デバイスの構成要素に対応した数分設けられ、
前記FPGAは、
前記位相可変器の位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに増減制御して前記クロックの位相を可変する位相量制御部6cと、
前記位相量制御部にて前記位相可変器の位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに増減制御して前記クロックの位相を可変したときに、前記被調整デバイスの構成要素ごとのエラーが入る2箇所の位置P1,P2を検出するエラー検出部6aと、
前記位相可変器の位相量の増減制御により、前記クロックの位相を進ませてエラーが検出された位置P1と、前記クロックの位相を遅らせてエラーが検出された位置P2との間の中心を最適位置Pとして、この最適位置に対応する位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに算出する位相量算出部6bとを備え、
前記クロックの位相が前記位相量算出部にて算出した位相量となるように前記位相量制御部が前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記位相可変器の位相量を制御し、前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記クロックの位相を自動調整することを特徴とする。
前記位相可変器を前記被調整デバイスの構成要素に対応した数分設けるステップと、
前記位相可変器の位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに増減制御し、前記被調整デバイスの構成要素ごとのエラーが入る2箇所の位置P1,P2を検出するまで前記位相可変器に入力されるクロックの位相を可変するステップと、
前記位相可変器の位相量の増減制御により、前記クロックの位相を進ませてエラーが検出された位置P1と、前記クロックの位相を遅らせてエラーが検出された位置P2との間の中心を最適位置Pとし、この最適位置に対応する位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに算出するステップと、
前記クロックの位相が前記算出した位相量となるように前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記位相可変器の位相量を制御し、前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記クロックの位相を自動調整するステップとを含むことを特徴とする。
請求項3に記載された誤り率測定装置は、請求項1の誤り率測定装置において、
前記エラー検出部6aは、前記テスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤りを検出することを特徴とする。
請求項4に記載された自動位相調整方法は、請求項2の自動位相調整方法において、
前記テスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤りを検出するステップを含むことを特徴とする。
2 被調整デバイス
2a,2b MUX
2c D−FF
3 クロック分配器
4 1/N分周器
5(5a,5b,5c) 位相可変器
6 FPGA
6a エラー検出部
6b 位相量算出部
6c 位相量制御部
P0 初期位置
P1,P2 エラーが入る位置
P 最適位置
Claims (4)
- 誤り率測定装置単体で、かつ該誤り率測定装置の内部の被調整デバイス(2)の複数の構成要素ごとの位相調整を自動的に行うために、位相量が制御可能な位相可変器(5)を介して入力されるクロックのタイミングでFPGA(6)からのデータを処理して被測定物に対して誤り率を測定するためのテスト信号を出力する前記被調整デバイス(2)を備えた誤り率測定装置(1)であって、
前記位相可変器は、前記被調整デバイスの構成要素に対応した数分設けられ、
前記FPGAは、
前記位相可変器の位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに増減制御して前記クロックの位相を可変する位相量制御部(6c)と、
前記位相量制御部にて前記位相可変器の位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに増減制御して前記クロックの位相を可変したときに、前記被調整デバイスの構成要素ごとのエラーが入る2箇所の位置(P1,P2)を検出するエラー検出部(6a)と、
前記位相可変器の位相量の増減制御により、前記クロックの位相を進ませてエラーが検出された位置(P1)と、前記クロックの位相を遅らせてエラーが検出された位置(P2)との間の中心を最適位置(P)として、この最適位置に対応する位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに算出する位相量算出部(6b)とを備え、
前記クロックの位相が前記位相量算出部にて算出した位相量となるように前記位相量制御部が前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記位相可変器の位相量を制御し、前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記クロックの位相を自動調整することを特徴とする誤り率測定装置。 - 誤り率測定装置単体で、かつ該誤り率測定装置の内部の被調整デバイス(2)の複数の構成要素ごとの位相調整を自動的に行うために、位相量が制御可能な位相可変器(5)を介して入力されるクロックのタイミングでFPGA(6)からのデータを処理して被測定物に対して誤り率を測定するためのテスト信号を出力する前記被調整デバイス(2)を備えた誤り率測定装置(1)を用いた自動位相調整方法であって、
前記位相可変器を前記被調整デバイスの構成要素に対応した数分設けるステップと、
前記位相可変器の位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに増減制御し、前記被調整デバイスの構成要素ごとのエラーが入る2箇所の位置(P1,P2)を検出するまで前記位相可変器に入力されるクロックの位相を可変するステップと、
前記位相可変器の位相量の増減制御により、前記クロックの位相を進ませてエラーが検出された位置(P1)と、前記クロックの位相を遅らせてエラーが検出された位置(P2)との間の中心を最適位置(P)とし、この最適位置に対応する位相量を前記被調整デバイスの構成要素ごとに算出するステップと、
前記クロックの位相が前記算出した位相量となるように前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記位相可変器の位相量を制御し、前記被調整デバイスの構成要素ごとの前記クロックの位相を自動調整するステップとを含むことを特徴とする自動位相調整方法。 - 前記エラー検出部(6a)は、前記テスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤りを検出することを特徴とする請求項1記載の誤り率測定装置。
- 前記テスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤りを検出するステップを含むことを特徴とする請求項2記載の誤り率測定装置を用いた自動位相調整方法。
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