JP6345270B2 - ターゲット質量分光分析の方法 - Google Patents
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Description
[0021]図1は、ガスクロマトグラフ13、イオン蓄積電子衝撃(EI)イオン化源15、輸送イオン光学系16、同期式直交加速器17(OA)、およびMR−TOF分析器18を用いる(国際公開第2012024468号の)MR−TOF MSシステム11の概略図を示す。
[0038]以下の実験は、例示の目的のためのものである。実験的試験については、質量フィルタリングがイオン蓄積へ及ぼす影響が、内径ID13mmおよび長さ10mmのクローズドイオン源15を用いてGC−EI−MR−TOF MSシステム41において試験された。実験に関しては、熱電子エミッタ15eは、3mAの安定している放出電流をもたらした。イオン化チャンバは、イオン化チャンバ内の2mmのビームエントランス穴を通じて500μAの電流の電子ビームをサンプリングした。0.02T(200ガウス)の均一な磁石の場は、電子ビームをイオン化領域に閉じ込めた。イオン化チャンバの取り出し穴は約4mmの直径を有し、第2の電極(例えば、真空密封された取り出し電極)は直径約2mmの出口穴を定める。イオン化領域は、0.1から10mL/分のヘリウムガス流内の(Agilent Technologies,Inc.、5301 Stevens Creek Boulevard、Santa Clara、CA 95051−7201から市販の)Agilent6890Nガスクロマトグラフから輸送ラインを介して試料を受け取る。実験の大部分は、GC微小カラムにとって典型的な1mL/分のヘリウム流に対応する。この実験については、イオン化チャンバは接地に対して+90Vで浮かせ、電子エネルギーは約20eVから約100eVの間の範囲内で選択される。連続的にイオン化された試料は、数ボルトの弱い場によって取り出され、+85Vおよび+30Vの2つのリング電極によってRFQの加熱されたシュラウド内の2mmのエントランス穴の中に集束させる。RFQは、200オームのカーボン充填セラミック抵抗器(HVP抵抗器)製の6mmの抵抗性ロッドを備え、4つの二次コイルを用いてRF回路によって供給を受けている。3〜10Vの軸方向勾配は、二次コイルの中央タップを介してロッド端部間に直流バイアスを印加することによって配置される。RF周波数は2.3MHzである。RFQは、試料のビルドアップとメモリ効果を防ぐために250Cまで加熱される。最大試験振幅650Vで、RFQは、150amu未満のイオンを除去する。イオン貯蔵およびパルス放出は、出口スキマー45および46へのパルス信号によって行われる。プレート45は4mmの直径を有し、プレート46は1.5mmの直径を有する。試験スキーム間で、パルス生成プレート46はより高い圧縮利得をもたらし、したがってデータはこの一連の実験についてだけ示されることが分かった。取り出しパルスの典型的な周期は、(MR−TOF18における1000amuの飛行時間に相当する)50から650msで変わる。典型的な遅延は30〜40μsであり、300amuイオンのアドミタンスに対応する。イオン光学系16は、イオンをOAの中に舵取りするための舵取り電極をやはり備えている2つの望遠レンズからなるセットである。典型的な偏向は、正確な光学系位置合わせを示すゼロに近い。イオンビーム発散は、150Cの温度で加熱されたコリメータによって制限され、80mm間隔をおいて配置された3mmおよび1,5mmの直径の2つの穴によって形成される。
Claims (13)
- 試料のためのターゲット質量分光分析の方法であって、
クロマトグラフィ分離のために、保持時間(RT)の関数としてターゲット質量のマップを確立するステップと、
前記試料を注入しクロマトグラフィで分離するステップと、
イオン源内で前記試料をイオン化するステップと、
前記ターゲット質量より小さい低質量イオンを、
無線周波数場オンリ四重極イオンガイドにおいて低質量フィルタリングするステップ、
200℃を上回って前記無線周波数場オンリ四重極イオンガイドを加熱するステップ、
イオン軸方向速度を加速させおよび制御しならびに前記無線周波数場オンリ四重極イオンガイドの出口の近くでのイオン分子反応を減少させるように構成された軸方向直流場を配置するステップ、および
前記無線周波数場オンリ四重極イオンガイドを1〜10mTor(0.133〜1.33Pa)のガス圧範囲のヘリウムガスで満たすステップ、
により除去するステップと、
前記無線周波数場オンリ四重極イオンガイドを介してイオンを蓄積しパルス放出するステップと、
多重反射飛行時間質量分析計MR−TOF MSにおいて質量分析するステップと、
を含む方法。 - 同期式直交パルス式加速
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記クロマトグラフィでの分離のステップは、溶媒約1μLを超える大容量注入で行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記クロマトグラフィでの分離のステップは、正確に、または実質的に0.5mL/分以上2mL/分以下のヘリウム流で行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記クロマトグラフィでの分離のステップは、2mL/分から20mL/分のヘリウム流で行われ、前記方法は、
前記試料をイオン化する前に差動ポンプステージにおいて溶離剤を分離するステップ
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記イオン化のステップは、(i)電子衝撃イオン化(EI)、(ii)化学イオン化(CI)、(iii)光化学イオン化(APPI)、(iv)大気圧化学イオン化(APCI)、(v)エレクトロスプレー(ESI)、(vi)SESI、(vii)調整されたグロー放電イオン化(GD)、および(viii)上記イオン化法における陽イオンモードまたは陰イオンモードのいずれかの使用からなる群から選択される1つのステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記イオン化のステップは、電子衝撃イオン化であり、EI源の全開口面積は、(i)3から5mm2の間、(ii)5から10mm2の間、(iii)10から20mm2の間、および(iv)20から50mm2の間からなる群から選択される、 請求項6に記載の方法。
- MR−TOFにおける質量分光分析の前記ステップは、飛行経路およびMR−TOF分解能を2倍にするために、サイドレンズによってイオン運動を戻すステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記イオン源と前記無線周波数場オンリ四重極イオンガイドとの間で直流バイアスを10eV未満に維持するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記ターゲット質量より小さい低質量イオンを除去する前記ステップは、前記無線周波数場オンリ四重極イオンガイドの無線周波数の平方に比例した輸送質量範囲を備える、請求項1に記載の方法。
- 試料のためのターゲット質量分光分析の方法であって、
クロマトグラフィ分離のために、保持時間(RT)の関数としてターゲット質量のマップを確立するステップと、
イオン源内で前記試料をイオン化するステップと、
前記ターゲット質量より小さい低質量イオンを、
線形無線周波数イオントラップにおいて低質量フィルタリングするステップ、および
200℃を上回って前記線形無線周波数イオントラップを加熱するステップ、
により除去するステップと、
前記線形無線周波数イオントラップを介してイオンを蓄積しパルス放出するステップと、
多重反射飛行時間質量分析計MR−TOF MSにおいて質量分析するステップと、
を含む方法。 - 低質量イオンを除去する前記ステップは、イオン軸方向速度を加速させおよび制御しならびにイオン分子反応を減少させるように構成された軸方向直流場を配置するステップをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 低質量イオンを除去する前記ステップは、前記線形無線周波数イオントラップを1〜10mTor(0.133〜1.33Pa)のガス圧範囲のヘリウムガスで満たすステップをさらに含む、請求項11に記載の方法。
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