JP6339883B2 - イオン化装置、それを有する質量分析装置及び画像作成システム - Google Patents
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Description
試料を保持する保持台、
前記保持台に保持されている前記試料のイオン化する部分を決めるためのプローブ、
前記試料のイオン化したイオンを引き出す引出電極、
前記試料の一部領域に液体を供給する液供給手段、及び
前記プローブの前記液架橋部に接している部分と前記引出電極との間に第一の電圧を印加する手段、
を有し、
前記第一の電圧をパルス変調することを特徴とする。
本発明の第一の実施形態に係るイオン化装置は、試料に溶媒を供給する液供給手段と、液架橋を試料との間で形成するプローブと、イオンを引き出す引出電極と、プローブと引出電極との間に電圧を印加する手段と、が配置されている装置である。
プローブの長さ :10マイクロメートル〜100ミリメートル
プローブの径 :外径1マイクロメートル〜5ミリメートル
材質 :ガラス、ステンレス、シリコン、PMMA
流路サイズ :流路断面積1平方マイクロメートル〜1平方ミリメートル
溶媒の流量 :毎分1ナノリットル〜毎分100マイクロリットル
プローブ3、或いは、導電性配管6と、引出電極10には、第一の電圧印加手段101が接続されており、第一の電圧が印加される。プローブ3の先端と引出電極10との距離は、10mm以下である。
本発明の第二の実施形態に係るイオン化装置の模式図を図3に示す。また、図4に電圧印加を行うタイミングを示す。
本発明の第三の実施形態に係るイオン化装置の模式図を図5に示す。本実施形態においては、第二の実施形態と比較すると、引出電極10が導入路11とは分離してプローブ3により近い位置に設けられる。更に、取込み電極13が導入路に近接して設けられている。
本発明の第四の実施形態に係るイオン化装置の模式図を図6に示す。また、電圧印加とトリガー信号発生のタイミングを図7に示す。トリガー信号は、イオンの発生と同期して生成されるようにする。本実施形態では、第一の電圧印加手段101から出力されたトリガー信号は質量分析部200に入力され、質量分析装置200は、イオンの発生に同期して質量分析を行う。それ以外の構成は第二の実施形態と同様であるので詳細は省略する。
本発明の第五の実施形態に係るイオン化装置の模式図を図8に示す。本実施形態では、プローブ或いは試料表面の変位を測定する変位計測手段400を有する。それ以外の構成は第1から4のいずれかの実施形態と同様であるので詳細は省略する。
2 試料
3 プローブ
4 液供給手段
5 接続用配管
6 導電性配管
7 液架橋
8 テイラーコーン
9 帯電液滴
10 引出電極
11 導入路
12 移動手段
13 取り込み電極
101 第一の電圧印加手段
102 第二の電圧印加手段
103 第三の電圧印加手段
200 質量分析部
300 画像形成装置
301 画像形成部
302 位置指定部
303 画像表示部
400 変位計測手段
401 光照射器
402 光検出器
Claims (14)
- イオン化装置であって、
試料を保持する保持台、
前記保持台に保持されている前記試料のイオン化する部分を決めるためのプローブ、
前記試料のイオン化したイオンを引き出す引出電極、
前記試料の一部領域に液体を供給する液供給手段、及び
前記プローブと前記引出電極との間に第一の電圧を印加する手段、
を有し、
前記第一の電圧をパルス変調することを特徴とする、イオン化装置。 - 前記プローブの端部と前記保持台が保持する前記試料との間に液架橋が形成されることを特徴とする、請求項1に記載のイオン化装置。
- 前記プローブと前記保持台との間に第二の電圧を印加する手段を有することを特徴とする、請求項1又は2に記載のイオン化装置。
- 第二の電圧をパルス変調することを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか一項に記載のイオン化装置。
- 前記パルス変調された第一の電圧の印加と、前記パルス変調された第二の電圧の印加とを同期させることを特徴とする、請求項4に記載のイオン化装置。
- 第一の電圧の印加及び第二の電圧の印加において、いずれか一方の電圧のみが印加される時間が設けられていることを特徴とする、請求項3乃至5のいずれか一項に記載のイオン化装置。
- 第二の電圧が第一の電圧よりも低いことを特徴とする、請求項3乃至6のいずれか一項に記載のイオン化装置。
- 前記プローブ或いは前記試料との変位を計測する変位計測手段を更に有し、
前記変位計測手段からの信号を基に、前記試料の位置を変位するための移動手段の前記試料の表面と垂直な方向の位置を帰還制御することを特徴とする、請求項1乃至7のいずれか一項に記載のイオン化装置。 - 請求項1乃至8のいずれか一項に記載のイオン化装置を有するイオン化部、及び
イオンの質量電荷比を分析する質量分析部、
を有することを特徴とする、質量分析装置。 - パルス変調された第一の電圧の印加と、前記質量分析部の計測とを同期させることを特徴とする、請求項9に記載の質量分析装置。
- 前記質量分析部が飛行時間型の質量分析部であることを特徴とする、請求項9又は10に記載の質量分析装置。
- パルス変調された第一の電圧の印加と、前記飛行時間型の質量分析部の飛行時間の計測とを同期させることを特徴とする、請求項11に記載の質量分析装置。
- 前記パルス変調された第一の電圧の一連のパルスの印加の時間間隔は、前記飛行時間型の質量分析部の飛行時間の計測時間よりも長いことを特徴とする、請求項12に記載の質量分析装置。
- 請求項9乃至13のいずれか一項に記載の質量分析装置、及び
画像形成装置であって、前記質量分析装置によって分析された質量情報と前記試料の表面における領域の位置情報とから前記試料に含まれる物質の成分の分布を画像表示するための画像情報を作成する画像形成部と、前記画像情報を表示装置に出力する画像表示部とを有する、画像形成装置、
を有することを特徴とする、画像作成システム。
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