JP6339490B2 - Czシリコン単結晶の製造方法 - Google Patents
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Description
市販されているLLDPE製袋から種々の袋(A〜G)を準備し、これら袋から1グラム分のLLDPEシートを試料として切り出し、この試料1gをアセトンを溶剤としたソックスレー抽出を8時間行った。得られた抽出液(溶剤不溶分濃縮物)をGC−MS分析(四重極質量分析)し、溶出した添加剤と低分子成分の溶出量を測定した。
多結晶シリコン塊をフッ酸と硝酸の混酸でエッチングし、5.0kgの多結晶シリコン塊を各袋(A〜G)に充填し、ヒートシールにより密閉化した。さらに、ダンボールで梱包し、日本国内での輸送後、1年後に開梱し、ナゲット表面に吸着した成分、即ち汚染した成分を定性および定量分析した。
上述の「多結晶シリコン塊表面への付着有機物評価」のために準備した多結晶シリコン塊を原料として、CZシリコン単結晶を育成して、バルク中のカーボン濃度を調べた。なお、カーボン濃度は、ASTM F1391−93(reapproved 2000)の手順に則り、FT−IRにより定量した。測定結果を表3に纏めた。
Claims (2)
- CZシリコン単結晶の製造方法であって、
アセトンを溶剤としたソックスレー抽出で得られた濃縮物のパラフィン系炭化水素の濃度をGC−MS法で測定した場合の値が300ppmw未満である直鎖状低密度ポリエチレン製の収容袋であって、アセトンを溶剤としたソックスレー抽出で得られた濃縮物の、酸化防止剤の濃度、紫外線吸収剤の濃度、および帯電防止剤と界面活性剤の合計濃度をGC−MS法で測定した場合の値が、それぞれ、10ppmw未満、5ppmw未満、および50ppmw未満である直鎖状低密度ポリエチレン製の収容袋に収容されて保管されていた多結晶シリコン塊であって、GC−MS法で測定した場合のパラフィン系炭化水素の濃度が4ppbw未満であり、かつ、GC−MS法で測定した場合の酸化防止剤の濃度、紫外線吸収剤の濃度、および帯電防止剤と界面活性剤の合計濃度が何れも0.1ppmw未満である多結晶シリコン塊をCZ用単結晶の原料として用いることにより、カーボン濃度が21ppbw未満のCZシリコン単結晶を製造する方法。 - 前記多結晶シリコン塊の前記収容袋への保管は、前記多結晶シリコン塊の収容後に前記収容袋を密閉し、さらに、該収容袋を、帯電防止剤もしくは界面活性剤が添加された直鎖状低密度ポリエチレン製の袋内に収容して密閉して行われる、請求項1に記載のCZシリコン単結晶の製造方法。
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