JP6289179B2 - Semiconductor light emitting device - Google Patents

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Description

本発明は、半導体発光装置に関する。   The present invention relates to a semiconductor light emitting device.

発光装置において基板上に複数の発光素子を配置する際には、各素子を規則正しく配列する必要があり、また、素子が位置ずれを起こさないように保つ必要がある。そこで、基板上の素子を配列する配列位置に、素子の底部に嵌合する形状の凹部を形成し、配列位置と素子の底部に磁性膜を形成することにより、振動などの物理的外力を与えることで素子を自己配列させることが可能な、素子の配列方法が考えられた(例えば、特許文献1)。   When a plurality of light emitting elements are arranged on a substrate in a light emitting device, it is necessary to regularly arrange the elements and to keep the elements from being displaced. Therefore, a concave portion having a shape that fits the bottom of the element is formed at the arrangement position where the elements are arranged on the substrate, and a physical film such as vibration is applied by forming a magnetic film at the arrangement position and the bottom of the element. Thus, there has been considered an element arrangement method capable of self-aligning elements (for example, Patent Document 1).

特開2003−216052号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-216052

かかる装置においては、予め素子の底部の形状に嵌合する凹部を基板に設けておく必要があり、工程が複雑である。また、基板の配列位置と素子の底部に磁性膜を形成しているため、場合によっては素子が斜めに嵌りこむ、複数の素子が1つの凹部に引き寄せられる等、必ずしも素子が基板の所定位置に完全に嵌合するとは限らないという問題点があった。   In such an apparatus, it is necessary to provide in advance a recess that fits in the shape of the bottom of the element, and the process is complicated. In addition, since the magnetic film is formed on the arrangement position of the substrate and the bottom of the element, depending on the case, the element may be fitted obliquely, or a plurality of elements may be attracted to one recess. There was a problem that it did not necessarily fit completely.

そこで、本発明は、柔軟に発光位置や発光形状を制御でき、且つ発光素子と基板との接続信頼性の高い半導体発光装置を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a semiconductor light emitting device that can flexibly control a light emitting position and a light emitting shape and has high connection reliability between a light emitting element and a substrate.

本発明に係る半導体発光装置は、メッシュ状の第1の金属層、メッシュ状の第2の金属層及び前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性のベース基板からなる積層基板と、第1導電型の第1の半導体層、発光層、及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を備える半導体発光素子と、を有し、前記半導体発光素子は、前記突起部が前記第1の金属層の表面から前記積層基板に埋め込まれるように圧入され、前記突起部は前記ベース基板を貫通し、前記第1電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2電極は前記第1の金属層と電気的に絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続されている、ことを特徴とする。   A semiconductor light emitting device according to the present invention includes a multilayer substrate including a mesh-like first metal layer, a mesh-like second metal layer, and an insulating base substrate provided between the first and second metal layers. A semiconductor stacked body in which a first conductive type first semiconductor layer, a light emitting layer, and a second conductive type second semiconductor layer opposite to the first conductive type are sequentially stacked, and the semiconductor stacked layer A first electrode formed at the bottom of the body and connected to the first semiconductor layer; and a second electrode protruding from the bottom surface of the semiconductor stacked body and connected to the second semiconductor layer at a tip thereof A semiconductor light emitting element comprising: a protrusion having a protrusion, and the semiconductor light emitting element is press-fitted so that the protrusion is embedded in the multilayer substrate from a surface of the first metal layer, and the protrusion Penetrates the base substrate, and the first electrode is the first electrode. Genus layer and is electrically connected to the second electrode is connected the first a metal layer and the electrically insulating and the second metal layer and electrically, it is characterized.

また、本発明に係る半導体発光装置は、メッシュ状の複数のストライプ電極からなる第1の金属層、メッシュ状の複数のストライプ電極からなる第2の金属層及び前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性のベース基板からなる積層基板と、第1導電型の第1の半導体層、発光層、及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を各々が備える複数の半導体発光素子と、を有し、前記第1の金属層の前記複数のストライプ電極及び前記第2の金属層の前記複数のストライプ電極は、前記ベース基板を挟んで空間的に交差するように配され、前記複数の半導体発光素子の各々は、前記第1の金属層の前記複数のストライプ電極と前記第2の金属層の前記複数のストライプ電極との交差位置に圧入され、前記複数の半導体発光素子の前記突起部は前記ベース基板を貫通し、前記第1電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2電極は前記第1の金属層と電気的に絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続されている、ことを特徴とする。   The semiconductor light emitting device according to the present invention includes a first metal layer made of a plurality of mesh stripe electrodes, a second metal layer made of a plurality of mesh stripe electrodes, and the first and second metal layers. A laminated substrate comprising an insulating base substrate, a first conductive type first semiconductor layer, a light emitting layer, and a second conductive type second semiconductor opposite to the first conductive type A semiconductor stacked body in which layers are sequentially stacked; a first electrode formed at the bottom of the semiconductor stacked body; connected to the first semiconductor layer; and protruding from a bottom surface of the semiconductor stacked body; A plurality of semiconductor light emitting elements each including a protrusion having a second electrode connected to the second semiconductor layer, the plurality of stripe electrodes of the first metal layer, and the first The plurality of stripe electrodes of two metal layers Each of the plurality of semiconductor light emitting elements includes the plurality of stripe electrodes of the first metal layer and the plurality of the second metal layer. The protrusions of the plurality of semiconductor light-emitting elements are press-fitted into intersections with stripe electrodes, the first electrodes are electrically connected to the first metal layer, and the second electrodes Is electrically insulated from the first metal layer and electrically connected to the second metal layer.

また、本発明に係る半導体発光装置は、メッシュ状の第1の金属層、メッシュ状の第2の金属層、メッシュ状の第3の金属層、前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性の第1のベース基板及び前記第2及び第3の金属層間に設けられた絶縁性の第2のベース基板からなる積層基板と、第1導電型の第1の半導体層、発光層及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を各々が備える第1及び第2の半導体発光素子と、を有し、前記第1及び第2の半導体発光素子は、前記突起部が前記第1の金属層の表面から前記積層基板に埋め込まれるように圧入され、前記第1の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層と絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続され、前記第2の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板及び前記第2のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層及び前記第2の金属層と絶縁され且つ前記第3の金属層と電気的に接続されている、ことを特徴とする。   The semiconductor light emitting device according to the present invention is provided between the first metal layer in a mesh shape, the second metal layer in a mesh shape, the third metal layer in a mesh shape, and the first and second metal layers. A laminated substrate comprising an insulating first base substrate and an insulating second base substrate provided between the second and third metal layers, a first conductive type first semiconductor layer, and a light emitting layer And a semiconductor stacked body in which a second semiconductor layer of a second conductivity type opposite to the first conductivity type is sequentially stacked, and formed at the bottom of the semiconductor stack and connected to the first semiconductor layer First and second each provided with a first electrode formed and a protrusion having a second electrode protruding from the bottom surface of the semiconductor stack and connected to the second semiconductor layer at the tip. And the first and second semiconductor light emitting devices have the protrusions. Part is press-fitted so as to be embedded in the laminated substrate from the surface of the first metal layer, the protrusion of the first semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate, and the first electrode The second metal layer is electrically connected to the first metal layer, and the second electrode is insulated from the first metal layer and electrically connected to the second metal layer. The protrusion penetrates the first base substrate and the second base substrate, the first electrode is electrically connected to the first metal layer, and the second electrode is the first base layer. The metal layer and the second metal layer are insulated and electrically connected to the third metal layer.

また、本発明に係る半導体発光装置は、メッシュ状の第1の金属層、メッシュ状の第2の金属層、メッシュ状の第3の金属層、メッシュ状の第4の金属層、前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性の第1のベース基板、前記第2及び第3の金属層間に設けられた絶縁性の第2のベース基板及び前記第3及び第4の金属層間に設けられた絶縁性の第3のベース基板からなる積層基板と、第1導電型の第1の半導体層、発光層及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を各々が備える第1発光色、第2発光色及び第3発光色の半導体発光素子と、を有し、第1発光色、第2発光色及び第3発光色の半導体発光素子は、前記突起部が前記第1の金属層の表面から前記積層基板に埋め込まれるように圧入され、前記第1発光色の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層と絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続され、前記第2発光色の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板及び前記第2のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層及び前記第2の金属層と絶縁され且つ前記第3の金属層と電気的に接続され、前記第3発光色の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板及び前記第2のベース基板及び前記第3のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層及び前記第2の金属層及び前記第3の金属層と絶縁され且つ前記第4の金属層と電気的に接続されている、ことを特徴とする。   The semiconductor light emitting device according to the present invention includes a mesh-like first metal layer, a mesh-like second metal layer, a mesh-like third metal layer, a mesh-like fourth metal layer, and the first And an insulating first base substrate provided between the second metal layers, an insulating second base substrate provided between the second and third metal layers, and the third and fourth metal layers And a second substrate of a second conductivity type opposite to the first conductivity type, a first conductivity type first semiconductor layer, a light emitting layer, and a laminated substrate comprising an insulating third base substrate provided on the substrate. Of the semiconductor stack, a first electrode formed on the bottom of the semiconductor stack, connected to the first semiconductor layer, and protruding from the bottom of the semiconductor stack, and its tip And a protrusion having a second electrode connected to the second semiconductor layer at each portion A first light emitting color, a second light emitting color, and a third light emitting color semiconductor light emitting element, wherein the first light emitting color, the second light emitting color, and the third light emitting color semiconductor light emitting element have the protrusions described above. The first metal layer is press-fitted so as to be embedded in the multilayer substrate, the protrusion of the first light emitting semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate, and the first electrode The second light emitting semiconductor light emitting element is electrically connected to the first metal layer, the second electrode is insulated from the first metal layer and electrically connected to the second metal layer. And the first electrode is electrically connected to the first metal layer, and the second electrode is electrically connected to the first base substrate. Isolated from the second metal layer and electrically connected to the third metal layer. The protrusion of the third light emitting semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate, the second base substrate, and the third base substrate, and the first electrode is the first metal layer. And the second electrode is insulated from the first metal layer, the second metal layer, and the third metal layer and electrically connected to the fourth metal layer. It is characterized by that.

本発明の実施例1に係る半導体発光装置を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the semiconductor light-emitting device concerning Example 1 of this invention. 実施例1に係る半導体発光装置の一部を模式的に示す斜視図及び半導体発光素子の断面図である。1 is a perspective view schematically showing a part of a semiconductor light emitting device according to Example 1, and a cross-sectional view of a semiconductor light emitting element. 実施例1に係る半導体発光装置を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a semiconductor light emitting device according to Example 1. FIG. 実施例1に係る半導体発光素子の製造方法を示す断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the semiconductor light emitting element according to Example 1. FIG. 実施例1に係る半導体発光素子の突起部の形成方法を示す図である。6 is a diagram illustrating a method for forming a protrusion of the semiconductor light emitting device according to Example 1. FIG. 実施例1に係る半導体発光装置の製造方法を示す図である。6 is a diagram showing a method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to Example 1. FIG. 本発明の実施例2に係る半導体発光装置を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the semiconductor light-emitting device based on Example 2 of this invention. 本発明の実施例3に係る半導体発光装置を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the semiconductor light-emitting device based on Example 3 of this invention. 実施例3に係る半導体発光装置を示す断面図である。6 is a cross-sectional view showing a semiconductor light emitting device according to Example 3. FIG. 本発明の実施例4に係る半導体発光装置を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the semiconductor light-emitting device based on Example 4 of this invention. 実施例4に係る半導体発光装置の構造を示す断面図である。6 is a cross-sectional view showing a structure of a semiconductor light emitting device according to Example 4. FIG. 実施例4に係る半導体発光装置の駆動方法を示す図である。6 is a diagram illustrating a method for driving a semiconductor light emitting device according to Example 4. FIG.

以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施例1に係る半導体発光装置10を模式的に示す斜視図である。半導体発光装置10は、第1の電極層であるカソード電極層11、第2の電極層であるアノード電極層12、第1ベース基板13及び第2ベース基板14からなる積層基板15と、積層基板15に圧入された複数の半導体発光素子16とから構成されている。   FIG. 1 is a perspective view schematically showing a semiconductor light emitting device 10 according to Example 1 of the present invention. The semiconductor light emitting device 10 includes a laminated substrate 15 including a cathode electrode layer 11 as a first electrode layer, an anode electrode layer 12 as a second electrode layer, a first base substrate 13 and a second base substrate 14, and a laminated substrate. 15 and a plurality of semiconductor light emitting elements 16 press-fitted into the same.

カソード電極層11及びアノード電極層12は、メッシュ状の電極層として形成されている。カソード電極層12及びアノード電極層12は、例えば銅箔等に、フォトリソグラフィー等によって数μm程度の開口幅を有する穴を開けることにより、メッシュ状に形成されている。また、カソード電極層12及びアノード電極層12の表面には、はんだメッキ層が形成されている。   The cathode electrode layer 11 and the anode electrode layer 12 are formed as mesh electrode layers. The cathode electrode layer 12 and the anode electrode layer 12 are formed in a mesh shape, for example, by making a hole having an opening width of about several μm in a copper foil or the like by photolithography or the like. In addition, solder plating layers are formed on the surfaces of the cathode electrode layer 12 and the anode electrode layer 12.

第1ベース基板13及び第2ベース基板14は、絶縁性の材料で形成されている。第1ベース基板13及び第2ベース基板14は、例えばPI(ポリイミド)、PEN(ポリエチレンナフタレート)、PET(ポリエチレンテレフタラート)等の柔軟性、可撓性があり、力を加えることによって大きく変形することが可能な、絶縁性のFPC(Flexible Printed Circuits)材から構成されている。   The first base substrate 13 and the second base substrate 14 are formed of an insulating material. The first base substrate 13 and the second base substrate 14 have flexibility and flexibility such as PI (polyimide), PEN (polyethylene naphthalate), and PET (polyethylene terephthalate), and are greatly deformed by applying force. It is made of an insulating FPC (Flexible Printed Circuits) material.

図2(a)は、半導体装置10の一部を拡大して示す斜視図である。半導体発光素子16は、カソード電極層11の表面から第1ベース基板13を貫通してアノード電極層12に達するように圧入されている。図2(a)に示すように、半導体発光素子16の前面から光が放出される(図中、矢印)。   FIG. 2A is an enlarged perspective view showing a part of the semiconductor device 10. The semiconductor light emitting element 16 is press-fitted so as to penetrate the first base substrate 13 and reach the anode electrode layer 12 from the surface of the cathode electrode layer 11. As shown in FIG. 2A, light is emitted from the front surface of the semiconductor light emitting element 16 (arrow in the figure).

図2(b)は、半導体発光素子16の断面図である。半導体発光素子16は、光透過性基板17上にバッファ層18、第1導電型の半導体層であるn型半導体層19、発光層20、第1導電型とは反対導電型の第2導電型の半導体層であるp型半導体層21及び反射電極22が順次積層された半導体積層体23を有している。   FIG. 2B is a cross-sectional view of the semiconductor light emitting element 16. The semiconductor light emitting device 16 includes a buffer layer 18, an n-type semiconductor layer 19 which is a first conductivity type semiconductor layer, a light emitting layer 20, and a second conductivity type opposite to the first conductivity type on a light transmissive substrate 17. The semiconductor layered body 23 is formed by sequentially stacking a p-type semiconductor layer 21 and a reflective electrode 22.

半導体発光素子16は、反射電極22の表面、すなわち半導体積層体23の底面から突出した突起部24を有している。突起部24は、導電性材料からなり、円錐状の圧入電極として構成され、先端部にp電極26が形成されている。p電極26は突起部24及び反射電極22を介して、p型半導体層21と電気的に接続されている。   The semiconductor light emitting element 16 has a protrusion 24 protruding from the surface of the reflective electrode 22, that is, from the bottom surface of the semiconductor stacked body 23. The protrusion 24 is made of a conductive material, is configured as a conical press-fit electrode, and has a p-electrode 26 formed at the tip. The p electrode 26 is electrically connected to the p-type semiconductor layer 21 through the protrusion 24 and the reflective electrode 22.

突起部24の側面は、カソード電極層11と接触する部分絶縁膜27で覆われている。すなわち、突起部24はカソード電極層11と絶縁されている。 Side of the projection 24, the portion contacting the cathode electrode layer 11 is covered with the insulating film 27. That is, the protrusion 24 is insulated from the cathode electrode layer 11.

半導体積層体23の発光層20、p型半導体層21及び反射電極22の外周部は、n型半導体層19が露出するように円柱状にエッチングされている。半導体積層体23の底部のn型半導体層19が露出している部分には、発光層20、p型半導体層21及び反射電極22からなる円柱の外周に沿って、n電極25が形成されている。n電極25は、n型半導体層19と電気的に接続されている。   The outer peripheral portions of the light emitting layer 20, the p-type semiconductor layer 21, and the reflective electrode 22 of the semiconductor stacked body 23 are etched into a cylindrical shape so that the n-type semiconductor layer 19 is exposed. An n-electrode 25 is formed along the outer periphery of a cylinder composed of the light-emitting layer 20, the p-type semiconductor layer 21, and the reflective electrode 22 in the exposed portion of the n-type semiconductor layer 19 at the bottom of the semiconductor stacked body 23. Yes. The n electrode 25 is electrically connected to the n-type semiconductor layer 19.

図3は、半導体発光素子16と積層基板15との接続状態を示す断面図である。半導体発光素子16は突起部24がカソード電極層11の表面から積層基板15に埋め込まれるように圧入されている。突起部24は、第1ベース基板13を貫通している。   FIG. 3 is a cross-sectional view showing a connection state between the semiconductor light emitting element 16 and the multilayer substrate 15. The semiconductor light emitting element 16 is press-fitted so that the protrusion 24 is embedded in the multilayer substrate 15 from the surface of the cathode electrode layer 11. The protrusion 24 penetrates the first base substrate 13.

n電極25は、カソード電極層11と接触し、電気的に接続されている。p電極26は、アノード電極層12と接触し、電気的に接続されている。   The n electrode 25 is in contact with and electrically connected to the cathode electrode layer 11. The p electrode 26 is in contact with and electrically connected to the anode electrode layer 12.

次に、半導体発光素子16の製造方法について、図4(a)〜(e)を参照して説明する。図4(a)に示すように、例えばサファイア基板からなる光透過性基板17上にバッファ層18を成膜する。バッファ層18は、例えばGaN等から構成され、光透過性基板17とp型半導体層21との間の格子不整合を低減する。バッファ層18の上にn型半導体層19、発光層20、及びp型半導体層21を順次成長する。p型半導体層上に、反射電極22を形成する。   Next, a method for manufacturing the semiconductor light emitting element 16 will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 4A, a buffer layer 18 is formed on a light transmissive substrate 17 made of, for example, a sapphire substrate. The buffer layer 18 is made of, for example, GaN or the like, and reduces lattice mismatch between the light transmissive substrate 17 and the p-type semiconductor layer 21. An n-type semiconductor layer 19, a light emitting layer 20, and a p-type semiconductor layer 21 are sequentially grown on the buffer layer 18. A reflective electrode 22 is formed on the p-type semiconductor layer.

n型半導体層19、発光層20及びp型半導体層21は、例えばGaN系半導体等から構成されている。反射電極22は、例えばAl層やAg層から構成されている。   The n-type semiconductor layer 19, the light emitting layer 20, and the p-type semiconductor layer 21 are made of, for example, a GaN-based semiconductor. The reflective electrode 22 is composed of, for example, an Al layer or an Ag layer.

図4(b)に示すように、発光層20、p型半導体層21及び反射電極22を、n型半導体層19が露出するように、例えば直径数十μmの円柱状にエッチングする。   As shown in FIG. 4B, the light emitting layer 20, the p-type semiconductor layer 21, and the reflective electrode 22 are etched into a cylindrical shape having a diameter of, for example, several tens of micrometers so that the n-type semiconductor layer 19 is exposed.

図4(c)に示すように、エッチングにより露出したn型半導体層19の表面に、発光層20、p型半導体層21及び反射電極22からなる円柱の外周に沿って、n電極25を形成する。   As shown in FIG. 4C, an n-electrode 25 is formed on the surface of the n-type semiconductor layer 19 exposed by etching along the outer periphery of a cylinder composed of the light-emitting layer 20, the p-type semiconductor layer 21, and the reflective electrode 22. To do.

図4(d)に示すように、反射電極22の表面から突出した導電性の突起部24を形成する。突起部24は、例えば電鋳メッキを、レジストパターンの枠の大きさを徐々に小さくしながら複数回積み上げることにより、円錐状に形成される。   As shown in FIG. 4D, a conductive protrusion 24 protruding from the surface of the reflective electrode 22 is formed. The protrusion 24 is formed in a conical shape by, for example, stacking electroforming plating a plurality of times while gradually reducing the size of the resist pattern frame.

図4(e)に示すように、突起部24の先端部に、p電極26を形成する。また、発光層20、p型半導体層21及び反射電極22からなる円柱の側面から、カソード電極層11と接触する部分を含む突起部24の側面にかけて、絶縁膜27を形成する。 As shown in FIG. 4E, a p-electrode 26 is formed at the tip of the protrusion 24. In addition, an insulating film 27 is formed from the side surface of the cylinder formed of the light emitting layer 20, the p-type semiconductor layer 21, and the reflective electrode 22 to the side surface of the protrusion 24 including the portion in contact with the cathode electrode layer 11.

図4(a)に示す成長工程の後、図4(b)〜図4(e)に示す工程を行い、光透過性基板17上に複数の半導体発光素子16を形成する。   After the growth step shown in FIG. 4A, the steps shown in FIG. 4B to FIG. 4E are performed to form a plurality of semiconductor light emitting elements 16 on the light transmissive substrate 17.

各層(18〜22)の成長面とは反対側の光透過性基板17の表面に、粘着シートを貼付ける。ブレードダイシング法やレーザスクライブ法にて、例えば約50μm角のサイズで複数の半導体発光素子16を個々に切り離す。以上の工程により、半導体発光素子16を製造する。   An adhesive sheet is affixed on the surface of the light-transmitting substrate 17 opposite to the growth surface of each layer (18-22). A plurality of semiconductor light emitting elements 16 are individually separated by, for example, a size of about 50 μm square by blade dicing or laser scribing. The semiconductor light emitting element 16 is manufactured through the above steps.

図5(a)〜(d)は、突起部24の形成方法について、4つの場合を示す図である。例えば、図5(a)に示すように、電鋳メッキをレジストパターンの枠の大きさを徐々に小さくしながら複数回積み上げることにより、円錐状の突起部24を形成することができる。   5A to 5D are diagrams showing four cases of the method for forming the protrusion 24. FIG. For example, as shown in FIG. 5A, the conical protrusion 24 can be formed by stacking electroforming plating a plurality of times while gradually reducing the size of the resist pattern frame.

また、図5(b)に示すように、例えば金バンプに利用される金ワイヤーの径を段階的に小さくし、超音波接合を繰り返して金を積み重ねることによって突起部24を形成しても良い。具体的には、径の異なる金のワイヤーを複数準備し、各々をワイヤーボンダー装置(図示せず)に搭載して、径の大きい順にバンプを積み重ねる。この方法によれば、ワイヤーボンダー装置の荷重と超音波強度を変えることでバンプ径とバンプの高さを制御することができるため、先端部分がツノ上に尖った突起部24を形成することができる。   Further, as shown in FIG. 5B, for example, the protrusion 24 may be formed by gradually reducing the diameter of a gold wire used for a gold bump and stacking gold by repeating ultrasonic bonding. . Specifically, a plurality of gold wires having different diameters are prepared, each is mounted on a wire bonder device (not shown), and bumps are stacked in descending order of diameter. According to this method, since the bump diameter and the bump height can be controlled by changing the load and ultrasonic intensity of the wire bonder device, it is possible to form the protrusion 24 having a sharp tip on the horn. it can.

また、図5(c)に示すように、予め円錘状に加工した金属を接合材を用いて接合することにより、突起部24を形成しても良い。金属の円錐状の加工は、例えば金属板を金型で成型、分割したり、シリコン異方性エッチングにてMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)加工することによって行うことが可能である。   Moreover, as shown in FIG.5 (c), you may form the projection part 24 by joining the metal previously processed into the shape of a cone using a joining material. The metal conical processing can be performed by, for example, molding and dividing a metal plate with a mold, or performing MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) processing by silicon anisotropic etching.

また、錫をベースにしたはんだ材料などの低融点金属材料を、レーザ溶接やメッキ浴ディップなどの方法によって反射電極22上に形成することによって、突起部24を形成しても良い。その際、溶融した液体状態の頂点を種材やニードル先端に接触させながら引き上げることにより、表面張力が働き、図5(d)に示すような略円錐上の形状とすることが可能となる。この状態のまま温度を融点以下に下げることで、先端部分の尖った円錐状の突起部24を形成することができる。   Alternatively, the protrusion 24 may be formed by forming a low melting point metal material such as a solder material based on tin on the reflective electrode 22 by a method such as laser welding or plating bath dipping. At that time, by pulling up the apex of the molten liquid state while contacting the seed material or the tip of the needle, the surface tension works and it becomes possible to obtain a substantially conical shape as shown in FIG. By lowering the temperature below the melting point in this state, the conical protrusion 24 having a sharp tip can be formed.

次に、本発明に係る半導体発光装置10の製造方法について、図6を参照して説明する。まず、複数の半導体発光素子16のうちの1つを、2つのヘッドを備えるチップマウンタを用いてピックアップする。具体的には、2つのヘッドのうち第1のヘッド28の真空吸着機構を用いて、半導体発光素子16を底面側、すなわち突起部24の形成側から吸着し、保持する(図中、工程(i))。   Next, a method for manufacturing the semiconductor light emitting device 10 according to the present invention will be described with reference to FIG. First, one of the plurality of semiconductor light emitting elements 16 is picked up using a chip mounter having two heads. Specifically, using the vacuum suction mechanism of the first head 28 out of the two heads, the semiconductor light emitting element 16 is sucked and held from the bottom surface side, that is, from the formation side of the protruding portion 24 (step ( i)).

次に、第1のヘッド28を180度回転させ、半導体発光素子16の前面側、すなわち光透過性基板17の粘着シート接着面側が上になるよう保持し、第2のヘッド29にて半導体発光素子16の粘着シート接着面を吸着する(図中、工程(ii))。第1のヘッド28を半導体発光素子16から外し、半導体発光素子16を突起部24が下向きになるよう、第2のヘッド29にて保持する(図中、工程(iii))。荷重をかけて第2のヘッド29を押し込みながら、カソード電極層11の表面の所定位置から、半導体発光素子16を積層基板15に圧入する(図中、工程(iv))。   Next, the first head 28 is rotated 180 degrees and held so that the front surface side of the semiconductor light emitting element 16, that is, the adhesive sheet bonding surface side of the light transmissive substrate 17, faces the semiconductor light emitting device with the second head 29. The adhesive sheet adhesive surface of the element 16 is adsorbed (step (ii) in the figure). The first head 28 is removed from the semiconductor light emitting element 16, and the semiconductor light emitting element 16 is held by the second head 29 so that the protrusion 24 faces downward (step (iii) in the figure). The semiconductor light emitting element 16 is pressed into the laminated substrate 15 from a predetermined position on the surface of the cathode electrode layer 11 while applying a load and pushing the second head 29 (step (iv) in the figure).

(i)〜(iv)の工程を、複数の半導体発光素子16について繰り返し行う。これにより、複数の半導体発光素子16のn電極25がカソード電極層11と接触し、p電極26がアノード電極層12と接触し、電気的に接続された状態となる。   The steps (i) to (iv) are repeated for the plurality of semiconductor light emitting elements 16. As a result, the n electrodes 25 of the plurality of semiconductor light emitting elements 16 are in contact with the cathode electrode layer 11 and the p electrode 26 is in contact with the anode electrode layer 12 to be electrically connected.

その後、基板ごとリフロー加熱を行う。金属メッシュ電極表面に形成されたはんだメッキ層が溶融し、n電極25がカソード電極層11と、p電極26がアノード電極層12と、それぞれ接合される。以上の工程により、半導体発光装置10を製造する。   Thereafter, reflow heating is performed on the entire substrate. The solder plating layer formed on the surface of the metal mesh electrode is melted, and the n electrode 25 is joined to the cathode electrode layer 11 and the p electrode 26 is joined to the anode electrode layer 12. The semiconductor light emitting device 10 is manufactured through the above steps.

上記したように、カソード電極層11及びアノード電極層12のメッシュ間隔(開口幅)の大きさは数μm程度であり、半導体発光素子16のp電極26の外形サイズよりも十分に小さい。このため、半導体発光素子16が積層基板15に圧入された状態において、p電極26とアノード電極層12との間で、複数の電気的接点が確保される。   As described above, the mesh interval (opening width) between the cathode electrode layer 11 and the anode electrode layer 12 is about several μm, which is sufficiently smaller than the external size of the p-electrode 26 of the semiconductor light emitting element 16. Therefore, a plurality of electrical contacts are ensured between the p electrode 26 and the anode electrode layer 12 in a state where the semiconductor light emitting element 16 is press-fitted into the laminated substrate 15.

また、第1ベース基板13及び第2ベース基板14は、柔軟性、可撓性の高いFPC材から構成されているため、半導体発光素子16を圧入することによって半導体発光素子16の形状にあった形に変形する。このため、所望の位置に半導体発光素子16を容易に実装することができ、電気的な接続の信頼性も高い。   In addition, since the first base substrate 13 and the second base substrate 14 are made of flexible and highly flexible FPC material, the semiconductor light emitting element 16 was pressed into the shape of the semiconductor light emitting element 16. It transforms into a shape. For this reason, the semiconductor light emitting element 16 can be easily mounted at a desired position, and the reliability of electrical connection is high.

また、突起部24の側面には絶縁膜27が形成され、カソード電極層11と突起部24との間が絶縁されている。従って、突起部24が第1ベース基板13に圧入された状態においても、カソード電極層11とアノード電極層12との間の絶縁状態が保たれ、層間におけるショートの発生が防止される。
Further, an insulating film 27 is formed on the side surface of the protrusion 24 to insulate between the cathode electrode layer 11 and the protrusion 24 . Therefore, even when the protrusion 24 is press-fitted into the first base substrate 13, the insulation state between the cathode electrode layer 11 and the anode electrode layer 12 is maintained, and occurrence of a short circuit between layers is prevented.

また、カソード電極層11の表面上の所望の位置から半導体発光素子16を積層基板15に圧入して素子の実装を行うため、基板に予め電極パッドを形成しておく必要がなく、所望の発光位置への素子の配列を簡易に行うことができる。   Further, since the semiconductor light emitting element 16 is press-fitted into the laminated substrate 15 from a desired position on the surface of the cathode electrode layer 11 to mount the element, it is not necessary to previously form an electrode pad on the substrate, and the desired light emission is achieved. It is possible to easily arrange elements at positions.

また、カソード電極層11及びアノード電極層12はメッシュ状に形成されているため、一本のラインパターンによる配線に比べて、断線不良を起こす確率が低い。また、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明電極を用いた場合に比べて、配線抵抗が大幅に低減される。   In addition, since the cathode electrode layer 11 and the anode electrode layer 12 are formed in a mesh shape, the probability of causing a disconnection failure is low as compared with wiring using a single line pattern. Further, the wiring resistance is greatly reduced as compared with the case where a transparent electrode such as ITO (Indium Tin Oxide) is used.

また、リフロー処理によって、半導体発光素子16のn電極25とカソード電極層11、p電極26とアノード電極層12とを接合することにより、電気的な接続の信頼性をより高くすることができ、簡易に素子の導通を取ることができる。   Further, by joining the n electrode 25 and the cathode electrode layer 11 and the p electrode 26 and the anode electrode layer 12 of the semiconductor light emitting element 16 by the reflow process, the reliability of electrical connection can be further increased. The element can be easily conducted.

また、熱伝導率の高いメッシュ状の金属電極層と、半導体発光素子16のn電極25及びp電極26とが直接接するよう構成されている。このため、カソード電極層11及びアノード電極層12の2層を介して、面方向に放熱経路が確保される。   Further, the mesh-shaped metal electrode layer having high thermal conductivity is configured to be in direct contact with the n electrode 25 and the p electrode 26 of the semiconductor light emitting element 16. For this reason, a heat radiation path is secured in the surface direction via the two layers of the cathode electrode layer 11 and the anode electrode layer 12.

図7は、実施例2に係る半導体発光装置30を模式的に示す斜視図である。半導体発光装置30は、第1の電極層であるカソード電極層31、第2の電極層であるアノード電極層32、第1ベース基板33及び第2ベース基板34からなる積層基板35と、積層基板35に圧入された複数の半導体発光素子36とから構成されている。   FIG. 7 is a perspective view schematically illustrating the semiconductor light emitting device 30 according to the second embodiment. The semiconductor light emitting device 30 includes a laminated substrate 35 including a cathode electrode layer 31 as a first electrode layer, an anode electrode layer 32 as a second electrode layer, a first base substrate 33 and a second base substrate 34, and a laminated substrate. And a plurality of semiconductor light emitting elements 36 press-fitted into 35.

カソード電極層31は、メッシュ状に形成された複数の帯状電極31(1)、31(2)・・・31(j)・・・31(m)からなる。帯状電極31(1)〜31(m)は、互いに平行に第1ベース基板33上に配され、ストライプ形状を形成している。   The cathode electrode layer 31 is composed of a plurality of strip electrodes 31 (1), 31 (2)... 31 (j). The strip electrodes 31 (1) to 31 (m) are arranged on the first base substrate 33 in parallel to each other, and form a stripe shape.

アノード電極層32は、メッシュ状に形成された複数の帯状電極32(1)、32(2)・・・32(k)・・・32(n)からなる。帯状電極32(1)〜32(n)は、互いに平行に第2ベース基板34上に配され、ストライプ形状を形成している。   The anode electrode layer 32 is composed of a plurality of strip electrodes 32 (1), 32 (2)... 32 (k). The strip electrodes 32 (1) to 32 (n) are arranged on the second base substrate 34 in parallel with each other, and form a stripe shape.

カソード電極層31の帯状電極31(1)〜31(m)と、アノード電極層32の帯状電極32(1)〜32(n)とは、約90度異なる方向に伸長し、第1ベース基板23を挟んで立体的に交差している。カソード電極層31の帯状電極31(1)〜31(m)と、アノード電極層32の帯状電極32(1)〜32(n)とは、絶縁性の第1ベース基板33によって絶縁されている。   The strip electrodes 31 (1) to 31 (m) of the cathode electrode layer 31 and the strip electrodes 32 (1) to 32 (n) of the anode electrode layer 32 extend in directions different from each other by about 90 degrees, and the first base substrate Crossing three-dimensionally across 23. The strip electrodes 31 (1) to 31 (m) of the cathode electrode layer 31 and the strip electrodes 32 (1) to 32 (n) of the anode electrode layer 32 are insulated by the insulating first base substrate 33. .

半導体発光素子36は、カソード電極層31の帯状電極31(1)〜31(m)と、アノード電極層32の帯状電極32(1)〜32(n)とが第1ベース基板33を挟んで立体的に交差する交差位置に圧入されている。すなわち、帯状電極31(j)と帯状電極32(k)とが第1ベース基板33を挟んで立体的に交差する交差位置には、半導体発光素子36(j,k)が圧入されている(j=1,2,・・・,m、k=1,2,・・・,n)。   In the semiconductor light emitting device 36, the strip electrodes 31 (1) to 31 (m) of the cathode electrode layer 31 and the strip electrodes 32 (1) to 32 (n) of the anode electrode layer 32 sandwich the first base substrate 33. It is press-fitted at the crossing position that intersects three-dimensionally. That is, the semiconductor light emitting element 36 (j, k) is press-fitted at the intersection where the strip electrode 31 (j) and the strip electrode 32 (k) intersect three-dimensionally with the first base substrate 33 interposed therebetween ( j = 1, 2,..., m, k = 1, 2,.

半導体発光素子36(j,k)のn電極25は、カソード電極層31の帯状電極31(j)と接触し、電気的に接続されている。半導体発光素子36(j,k)のp電極26は、アノード電極層32の帯状電極32(k)と接触し、電気的に接続されている。   The n-electrode 25 of the semiconductor light emitting device 36 (j, k) is in contact with and electrically connected to the strip electrode 31 (j) of the cathode electrode layer 31. The p-electrode 26 of the semiconductor light emitting device 36 (j, k) is in contact with and electrically connected to the strip electrode 32 (k) of the anode electrode layer 32.

カソード電極層31の帯状電極31(1)〜31(m)は、それぞれ異なるドライバに接続されている。アノード電極層32の帯状電極32(1)〜32(n)は、それぞれ異なるドライバに接続されている。   The strip electrodes 31 (1) to 31 (m) of the cathode electrode layer 31 are connected to different drivers. The strip electrodes 32 (1) to 32 (n) of the anode electrode layer 32 are connected to different drivers.

以上のような構成を有する半導体発光装置30を駆動することにより、ドットマトリクス表示を行うことができる。具体的には、カソード電極層31の帯状電極31(1)〜31(m)に接続されたドライバのうちいずれかを選択して駆動し、アノード電極層32の帯状電極32(1)〜32(n)に接続されたドライバのうちいずれかを選択して駆動する。これにより、選択したドライバに対応する帯状電極の交差位置に圧入された半導体発光素子36が発光する。すなわち、帯状電極31(j)に接続されたドライバと帯状電極32(k)に接続されたドライバをオンさせることにより、半導体発光素子36(j,k)が発光する。   By driving the semiconductor light emitting device 30 having the above configuration, dot matrix display can be performed. Specifically, any one of the drivers connected to the strip electrodes 31 (1) to 31 (m) of the cathode electrode layer 31 is selected and driven, and the strip electrodes 32 (1) to 32 of the anode electrode layer 32 are driven. One of the drivers connected to (n) is selected and driven. Thereby, the semiconductor light emitting element 36 press-fitted at the intersection of the strip electrodes corresponding to the selected driver emits light. That is, the semiconductor light emitting element 36 (j, k) emits light by turning on the driver connected to the strip electrode 31 (j) and the driver connected to the strip electrode 32 (k).

このように、本発明の実施例2に係る半導体発光装置30によれば、複数の半導体発光素子36を選択的に発光させることにより、ドットマトリクス表示等の表示を行うことができる。また、様々な表示装置、照明装置等の半導体発光装置に応用が可能である。   As described above, according to the semiconductor light emitting device 30 according to the second embodiment of the present invention, display such as dot matrix display can be performed by selectively causing the plurality of semiconductor light emitting elements 36 to emit light. In addition, the present invention can be applied to semiconductor light emitting devices such as various display devices and lighting devices.

図8は、実施例3に係る半導体発光装置40を示す斜視図である。半導体発光装置40は、第1の電極層41、第2の電極層42、第3の電極層43、第1ベース基板44、第2ベース基板45及び第3ベース基板46からなる積層基板47と、積層基板47に圧入された第1の半導体発光素子48と、第2の半導体発光素子49とから構成されている。   FIG. 8 is a perspective view of the semiconductor light emitting device 40 according to the third embodiment. The semiconductor light emitting device 40 includes a laminated substrate 47 including a first electrode layer 41, a second electrode layer 42, a third electrode layer 43, a first base substrate 44, a second base substrate 45, and a third base substrate 46. The first semiconductor light emitting element 48 and the second semiconductor light emitting element 49 press-fitted into the laminated substrate 47 are configured.

第1の電極層41は、第1ベース基板44上の全面にわたってメッシュ状の電極層として形成されている。第2の電極層42は、第2ベース基板45上の全面にわたってメッシュ状の電極層として形成されている。第3の電極層43は、第3ベース基板46上の全面にわたってメッシュ状の電極層として形成されている。   The first electrode layer 41 is formed as a mesh electrode layer over the entire surface of the first base substrate 44. The second electrode layer 42 is formed as a mesh electrode layer over the entire surface of the second base substrate 45. The third electrode layer 43 is formed as a mesh electrode layer over the entire surface of the third base substrate 46.

第1の半導体発光素子48と第2の半導体発光素子49とは、異なる高さの突起部24を有している。第1の半導体発光素子48の突起部24は、第1の半導体発光素子48が積層基板47に圧入された状態で第2の電極層42に達する高さに形成されている。第2の半導体発光素子49の突起部24は、第2の半導体発光素子49が積層基板47に圧入された状態で第3の電極層43に達する高さに形成されている。   The first semiconductor light emitting device 48 and the second semiconductor light emitting device 49 have protrusions 24 having different heights. The protrusion 24 of the first semiconductor light emitting device 48 is formed at a height that reaches the second electrode layer 42 in a state where the first semiconductor light emitting device 48 is press-fitted into the laminated substrate 47. The protrusion 24 of the second semiconductor light emitting element 49 is formed at a height that reaches the third electrode layer 43 in a state where the second semiconductor light emitting element 49 is press-fitted into the laminated substrate 47.

図9は、第1の半導体発光素子48及び第2の半導体発光素子49と積層基板47との接続状態を示す断面図である。第1の半導体発光素子48及び第2の半導体発光素子49は、突起部24が第1の電極層41の表面から積層基板47に埋め込まれるように圧入されている。   FIG. 9 is a cross-sectional view showing a connection state between the first semiconductor light emitting device 48 and the second semiconductor light emitting device 49 and the laminated substrate 47. The first semiconductor light emitting element 48 and the second semiconductor light emitting element 49 are press-fitted so that the protrusions 24 are embedded in the laminated substrate 47 from the surface of the first electrode layer 41.

第1の半導体発光素子48の突起部24は、第1ベース基板44を貫通している。第1の半導体発光素子48のn電極25は、第1の電極層41と接触して電気的に接続され、p電極26は、第2の電極層42と接触して電気的に接続されている。   The protrusion 24 of the first semiconductor light emitting element 48 passes through the first base substrate 44. The n electrode 25 of the first semiconductor light emitting device 48 is in contact with and electrically connected to the first electrode layer 41, and the p electrode 26 is in contact with and electrically connected to the second electrode layer 42. Yes.

第2の半導体発光素子49の突起部24は、第1ベース基板44及び第2ベース基板45を貫通している。第2の半導体発光素子49のn電極25は、第1の電極層41と接触して電気的に接続され、p電極26は、第3の電極層43と接触して電気的に接続されている。   The protrusion 24 of the second semiconductor light emitting element 49 passes through the first base substrate 44 and the second base substrate 45. The n electrode 25 of the second semiconductor light emitting element 49 is in contact with and electrically connected to the first electrode layer 41, and the p electrode 26 is in contact with and electrically connected to the third electrode layer 43. Yes.

以上のような構成を有する半導体発光装置40において、第1の電極層41と第2の電極層42との間、又は第1の電極層41と第3の電極層43との間に選択的に電圧を印加することにより、第1の半導体発光素子48又は第2の半導体発光素子49を選択的に発光させることができる。   In the semiconductor light emitting device 40 having the above configuration, it is selectively between the first electrode layer 41 and the second electrode layer 42 or between the first electrode layer 41 and the third electrode layer 43. By applying a voltage to the first semiconductor light emitting element 48 or the second semiconductor light emitting element 49, light can be selectively emitted.

このように、このように、本発明の実施例2に係る半導体発光装置30によれば、異なる高さの突起部を有する発光素子を容易にベース基板に圧入可能であり、突起部の高さに応じて選択的に第1の半導体発光素子48又は第2の半導体発光素子49を発光制御することができる。また、第1の半導体発光素子48と第2の半導体発光素子49の発光色や発光輝度は異なっていてもよい。発光色や発光輝度の異なる発光素子を選択的に発光させることができ、様々な表示装置、照明装置等の半導体発光装置に応用が可能である。   As described above, according to the semiconductor light emitting device 30 according to the second embodiment of the present invention, light emitting elements having protrusions having different heights can be easily press-fitted into the base substrate. The first semiconductor light emitting device 48 or the second semiconductor light emitting device 49 can be selectively controlled in accordance with the light emission. Further, the emission color and emission luminance of the first semiconductor light emitting device 48 and the second semiconductor light emitting device 49 may be different. Light emitting elements having different emission colors and emission luminances can selectively emit light, and can be applied to semiconductor light emitting devices such as various display devices and lighting devices.

図10は、実施例4に係る半導体発光装置50を模式的に示す斜視図である。半導体発光装置50は、第1の電極層51、第2の電極層52、第3の電極層53、第4の電極層54、第1ベース基板55、第2ベース基板56、第3ベース基板57及び第4ベース基板58からなる積層基板59と、積層基板59に圧入された赤色(第1発光色)に発光するR発光素子60と、緑色(第2発光色)に発光するG発光素子61と、青色(第3発光色)に発光するB発光素子62とから構成されている。   FIG. 10 is a perspective view schematically illustrating the semiconductor light emitting device 50 according to the fourth embodiment. The semiconductor light emitting device 50 includes a first electrode layer 51, a second electrode layer 52, a third electrode layer 53, a fourth electrode layer 54, a first base substrate 55, a second base substrate 56, and a third base substrate. A laminated substrate 59 composed of 57 and a fourth base substrate 58; an R light emitting element 60 that emits red light (first emission color) press-fitted into the laminated substrate 59; and a G light emitting element that emits green light (second emission color). 61 and a B light emitting element 62 that emits blue light (third emission color).

第1の電極層51は、メッシュ状に形成された複数の帯状電極51(1)、51(2)・・・51(j)・・・51(m)からなる。帯状電極51(1)〜51(m)は、互いに平行に第1ベース基板55上に配され、ストライプ形状を形成している。   The first electrode layer 51 is composed of a plurality of strip electrodes 51 (1), 51 (2)... 51 (j). The strip electrodes 51 (1) to 51 (m) are arranged on the first base substrate 55 in parallel with each other, and form a stripe shape.

第2の電極層52は、メッシュ状に形成された複数の帯状電極52(1)、52(2)・・・52(k)・・・52(n)からなる。帯状電極52(1)〜52(n)は、互いに平行に第2ベース基板56上に配され、ストライプ形状を形成している。帯状電極52(1)〜52(n)は、第1の電極層51の帯状電極51(1)〜51(m)と約90度異なる方向に伸長し、第1ベース基板55を挟んで立体的に交差している。   The second electrode layer 52 is composed of a plurality of strip electrodes 52 (1), 52 (2)... 52 (k)... 52 (n) formed in a mesh shape. The strip electrodes 52 (1) to 52 (n) are arranged on the second base substrate 56 in parallel with each other, and form a stripe shape. The strip electrodes 52 (1) to 52 (n) extend in a direction different from the strip electrodes 51 (1) to 51 (m) of the first electrode layer 51 by about 90 degrees, and are three-dimensional with the first base substrate 55 interposed therebetween. Intersects.

第3の電極層53は、メッシュ状に形成された複数の帯状電極53(1)、53(2)・・・53(k)・・・53(n)からなる。帯状電極53(1)〜53(n)は、互いに平行に第3ベース基板57上に配され、ストライプ形状を形成している。第4の電極層54は、メッシュ状に形成された複数の帯状電極54(1)、54(2)・・・54(k)・・・54(n)からなる。帯状電極54(1)〜54(n)は、互いに平行に第4ベース基板58上に配され、ストライプ形状を形成している。   The third electrode layer 53 includes a plurality of strip electrodes 53 (1), 53 (2)... 53 (k). The strip electrodes 53 (1) to 53 (n) are arranged on the third base substrate 57 in parallel to each other, and form a stripe shape. The fourth electrode layer 54 is composed of a plurality of strip electrodes 54 (1), 54 (2)... 54 (k). The strip electrodes 54 (1) to 54 (n) are arranged on the fourth base substrate 58 in parallel with each other, and form a stripe shape.

第3の電極層53の帯状電極53(1)〜53(n)及び第4の電極層54の帯状電極54(1)〜54(n)は、いずれも第2の電極層52の帯状電極52(1)〜52(n)とベース基板(第2ベース基板56、第3ベース基板57)を挟んで同一方向且つ立体的に重なる位置、すなわちベース基板に垂直な方向から見た場合に重なるように配され、第1の電極層51の帯状電極51(1)〜51(m)と立体的に交差している。   The strip electrodes 53 (1) to 53 (n) of the third electrode layer 53 and the strip electrodes 54 (1) to 54 (n) of the fourth electrode layer 54 are all the strip electrodes of the second electrode layer 52. 52 (1) to 52 (n) and the base substrate (the second base substrate 56, the third base substrate 57) are sandwiched in the same direction and in a three-dimensional overlap, that is, when viewed from a direction perpendicular to the base substrate. And three-dimensionally intersect with the strip electrodes 51 (1) to 51 (m) of the first electrode layer 51.

第1の電極層51の複数の帯状電極51(1)〜51(m)と、第2の電極層52の帯状電極52(1)〜52(n)、第3の電極層53の複数の帯状電極53(1)〜53(n)及び第4の電極層54の帯状電極54(1)〜54(n)とがベース基板55〜57を挟んで立体的に交差する各交差位置に、R発光素子60、G発光素子61及びB発光素子62が1セットとなって圧入されている。   A plurality of strip electrodes 51 (1) to 51 (m) of the first electrode layer 51, a plurality of strip electrodes 52 (1) to 52 (n) of the second electrode layer 52, and a plurality of strips of the third electrode layer 53 At each crossing position at which the strip electrodes 53 (1) to 53 (n) and the strip electrodes 54 (1) to 54 (n) of the fourth electrode layer 54 intersect three-dimensionally with the base substrates 55 to 57 interposed therebetween, The R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are press-fitted as a set.

図11は、半導体発光装置50の一部を拡大して示す断面図である。R発光素子60は、光透過性基板63上にバッファ層64、n型半導体層65、発光層66、p型半導体層67及び反射電極68が順次積層された半導体積層体69と、突起部70と、n電極71と、p電極72と、絶縁膜73とを有している。突起部70は、R発光素子60が積層基板59に圧入された状態で、先端部が第2の電極層52に達する高さに形成されている。   FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view showing a part of the semiconductor light emitting device 50. The R light emitting device 60 includes a semiconductor laminate 69 in which a buffer layer 64, an n-type semiconductor layer 65, a light emitting layer 66, a p-type semiconductor layer 67, and a reflective electrode 68 are sequentially laminated on a light transmissive substrate 63, and a protrusion 70. An n-electrode 71, a p-electrode 72, and an insulating film 73. The protrusion 70 is formed at a height at which the tip reaches the second electrode layer 52 in a state where the R light emitting element 60 is press-fitted into the laminated substrate 59.

R発光素子60の光透過性基板63は、例えばGaPから構成されている。n型半導体層65、発光層66及びp型半導体層67は、例えばGaP系半導体等から構成されている。バッファ層64は、例えばAlInGaP等の電流拡散層から構成されている。反射電極68は、例えばAl層やAg層から構成されている。   The light transmissive substrate 63 of the R light emitting element 60 is made of, for example, GaP. The n-type semiconductor layer 65, the light emitting layer 66, and the p-type semiconductor layer 67 are made of, for example, a GaP-based semiconductor. The buffer layer 64 is composed of a current diffusion layer such as AlInGaP. The reflective electrode 68 is composed of, for example, an Al layer or an Ag layer.

G発光素子61及びB発光素子62は、R発光素子60と同様の構造を有し、半導体積層体69を構成する材料及び突起部70の形状においてR発光素子60と異なっている。   The G light-emitting element 61 and the B light-emitting element 62 have the same structure as that of the R light-emitting element 60, and are different from the R light-emitting element 60 in the material constituting the semiconductor stacked body 69 and the shape of the protrusions 70.

G発光素子61及びB発光素子62の光透過性基板74及び85は、例えばサファイア基板から構成されている。バッファ層75及び86は、例えばGaN等から構成されている。n型半導体層76及び87とp型半導体層78及び89は、例えばAlGaN等から構成されている。発光層77及び88は、例えばInGaN等から構成されている。反射電極79及び90は、例えばAl層やAg層から構成されている。   The light transmissive substrates 74 and 85 of the G light emitting element 61 and the B light emitting element 62 are made of, for example, a sapphire substrate. The buffer layers 75 and 86 are made of GaN or the like, for example. The n-type semiconductor layers 76 and 87 and the p-type semiconductor layers 78 and 89 are made of, for example, AlGaN. The light emitting layers 77 and 88 are made of, for example, InGaN. The reflective electrodes 79 and 90 are composed of, for example, an Al layer or an Ag layer.

G発光素子61の突起部81は、G発光素子61が積層基板59に圧入された状態で、先端部が第3の電極層53に達する高さに形成されている。B発光素子62の突起部92は、B発光素子62が積層基板59に圧入された状態で、先端部が第4の電極層54に達する高さに形成されている。   The protruding portion 81 of the G light emitting element 61 is formed at a height at which the tip reaches the third electrode layer 53 in a state where the G light emitting element 61 is press-fitted into the laminated substrate 59. The protruding portion 92 of the B light emitting element 62 is formed at a height at which the tip reaches the fourth electrode layer 54 in a state where the B light emitting element 62 is press-fitted into the laminated substrate 59.

R発光素子60、G発光素子61及びB発光素子62は、突起部70、81及び92が第1の電極層51の表面から積層基板59に埋め込まれるように圧入されている。   The R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are press-fitted so that the protrusions 70, 81, and 92 are embedded in the multilayer substrate 59 from the surface of the first electrode layer 51.

R発光素子60の突起部70は、第1ベース基板55を貫通している。R発光素子60のn電極71は、第1の電極層51と接触して電気的に接続され、p電極72は、第2の電極層52と接触して電気的に接続されている。   The protrusion 70 of the R light emitting element 60 penetrates the first base substrate 55. The n-electrode 71 of the R light emitting element 60 is in contact with and electrically connected to the first electrode layer 51, and the p-electrode 72 is in contact with and electrically connected to the second electrode layer 52.

G発光素子61の突起部81は、第1ベース基板55及び第2ベース基板56を貫通している。G発光素子61のn電極82は、第1の電極層51と接触して電気的に接続され、p電極83は、第3の電極層53と接触して電気的に接続されている。   The protrusion 81 of the G light emitting element 61 passes through the first base substrate 55 and the second base substrate 56. The n-electrode 82 of the G light-emitting element 61 is in contact with and electrically connected to the first electrode layer 51, and the p-electrode 83 is in contact with and electrically connected to the third electrode layer 53.

B発光素子62の突起部92は、第1ベース基板55、第2ベース基板56及び第3ベース基板57を貫通している。B発光素子62のn電極93は、第1の電極層51と接触して電気的に接続され、p電極94は、第4の電極層54と接触して電気的に接続されている。   The protrusion 92 of the B light emitting element 62 passes through the first base substrate 55, the second base substrate 56, and the third base substrate 57. The n-electrode 93 of the B light-emitting element 62 is in contact with and electrically connected to the first electrode layer 51, and the p-electrode 94 is in contact with and electrically connected to the fourth electrode layer 54.

一組のR発光素子60、G発光素子61及びB発光素子62は、第1の電極層51の帯状電極51(1)〜51(m)と、第2の電極層52、第3の電極層53及び第4の電極層54の帯状電極とがベース基板55〜57を挟んで立体的に交差する同一の交差位置に圧入され、1ドットを形成している。   A set of R light-emitting element 60, G light-emitting element 61, and B light-emitting element 62 includes strip-shaped electrodes 51 (1) to 51 (m) of the first electrode layer 51, second electrode layer 52, and third electrode. The layer 53 and the belt-like electrode of the fourth electrode layer 54 are press-fitted into the same intersecting position where the base substrates 55 to 57 are three-dimensionally crossed to form one dot.

以上のように構成された半導体装置50において、第1の電極層51をコモンライン、第2の電極層52、第3の電極層53及び第4の電極層54をデータラインとして、マトリクス駆動を行う。以下、図12を参照して、半導体発光装置50の駆動方法について説明する。   In the semiconductor device 50 configured as described above, matrix driving is performed using the first electrode layer 51 as a common line and the second electrode layer 52, the third electrode layer 53, and the fourth electrode layer 54 as data lines. Do. Hereinafter, a method for driving the semiconductor light emitting device 50 will be described with reference to FIG.

コモンラインCL1〜CLmは、第1の電極層51の帯状電極51(1)〜51(m)に対応している。データラインDL1〜DLnは、R1〜Rn、G1〜Gn及びB1〜Bnから構成されている。R1〜Rnは、第2の電極層52の帯状電極52(1)〜52(n)に対応している。G1〜Gnは、第3の電極層53の帯状電極53(1)〜53(n)に対応している。B1〜Bnは、第4の電極層54の帯状電極54(1)〜54(n)に対応している。   The common lines CL1 to CLm correspond to the strip electrodes 51 (1) to 51 (m) of the first electrode layer 51. The data lines DL1 to DLn are composed of R1 to Rn, G1 to Gn, and B1 to Bn. R1 to Rn correspond to the strip electrodes 52 (1) to 52 (n) of the second electrode layer 52. G1 to Gn correspond to the strip electrodes 53 (1) to 53 (n) of the third electrode layer 53. B1 to Bn correspond to the strip electrodes 54 (1) to 54 (n) of the fourth electrode layer 54.

コモンラインCL1〜CLmに接続されているドライバを順次オンさせる。コモンラインCL1がオンしている間に、データラインDL1〜DLnの各ラインに表示したい3色のいずれか、または3色中2色の組み合わせ、3色全ての組み合わせのいずれかの信号を入力する。例えば、CL1とDL1との交点にRを表示したい場合には、CL1に対応する第1の帯状電極51(1)に接続されたドライバと、データラインDL1(R1)に対応する第2の電極層52の帯状電極52(1)に接続されたドライバをオンさせる。これにより、R発光素子60(1,1)が発光し、CL1とDL1(R1)との交点にあたる位置のドットに赤色が表示される。   The drivers connected to the common lines CL1 to CLm are sequentially turned on. While the common line CL1 is on, a signal of any one of the three colors to be displayed on each of the data lines DL1 to DLn, or a combination of two of the three colors and a combination of all three colors is input. . For example, to display R at the intersection of CL1 and DL1, a driver connected to the first strip electrode 51 (1) corresponding to CL1 and a second electrode corresponding to the data line DL1 (R1) The driver connected to the strip electrode 52 (1) of the layer 52 is turned on. Thereby, the R light emitting element 60 (1, 1) emits light, and a red color is displayed on a dot at a position corresponding to the intersection of CL1 and DL1 (R1).

次にコモンラインCL2についても同様の動作を行い、コモンラインCLnまで走査すると、コモンラインCL1に戻る駆動動作を繰り返して実行する。以上の動作により、R、G、Bの3原色を用いたフルカラー表示を行うことができる。   Next, the same operation is performed for the common line CL2, and when the scanning is performed up to the common line CLn, the driving operation for returning to the common line CL1 is repeatedly performed. Through the above operation, full-color display using the three primary colors R, G, and B can be performed.

実施例4に係る半導体装置50では、R発光素子60、G発光素子61及びB発光素子62のそれぞれのアノード電極層となる第2電極層52、第3電極層53及び第4電極層54が、積層基板59の積層方向にそれぞれベース基板55〜57によって電気的に分離されて設けられている。そして、各電極層52〜54は、それぞれ同じ位置で第1電極層51とベース基板を挟んで立体的に交差するよう、ベース基板55〜57を挟んで重なり合うように形成されている。したがって、第1の電極層51と第2〜第4の電極層52〜54との交差位置は同一であり、当該同一の交差位置にR発光素子60、G発光素子61、B発光素子62を実装することができるため、きめの細かいフルカラー表示を行うことが可能である。   In the semiconductor device 50 according to Example 4, the second electrode layer 52, the third electrode layer 53, and the fourth electrode layer 54 that serve as anode electrode layers of the R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are provided. The base plate 55 is electrically separated from the base substrate 55 in the stacking direction of the stacked substrate 59. And each electrode layer 52-54 is formed so that it may overlap on both sides of the base substrate 55-57 so that it may cross | intersect three-dimensionally on both sides of the 1st electrode layer 51 in the same position, respectively. Therefore, the intersection positions of the first electrode layer 51 and the second to fourth electrode layers 52 to 54 are the same, and the R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are provided at the same intersection position. Since it can be mounted, it is possible to perform fine-color full-color display.

次に、実施例4に係る半導体発光装置50の製造方法について説明する。まず、積層基板59表面の外周部分に、半導体発光素子の実装位置の目印となるアライメントマークを複数形成する。   Next, a method for manufacturing the semiconductor light emitting device 50 according to Example 4 will be described. First, a plurality of alignment marks serving as marks for mounting positions of the semiconductor light emitting elements are formed on the outer peripheral portion of the surface of the multilayer substrate 59.

次に、光透過性基板63上に形成され、個片化された複数のR発光素子60を、チップマウンタによってピックアップし、積層基板59に圧入して実装する。同様のピックアップと圧入作業を、同一形状である複数のR発光素子60について、繰り返し行う。その後、カメラを用いた画像認識により、素子の実装位置に位置ずれがないかどうかを判定する。位置ずれを検出した場合には、実装位置の補正を行う。   Next, a plurality of R light-emitting elements 60 formed on the light-transmitting substrate 63 and separated into pieces are picked up by a chip mounter, and press-fitted into the laminated substrate 59 to be mounted. Similar pick-up and press-fitting operations are repeated for a plurality of R light emitting elements 60 having the same shape. Thereafter, it is determined whether or not there is no displacement in the mounting position of the element by image recognition using a camera. When a positional deviation is detected, the mounting position is corrected.

続いて、G発光素子61について、上記と同様の作業を繰り返し行う。B発光素子62についても、同様の作業を繰り返し行う。これにより、R発光素子60、G発光素子61及びB発光素子62のそれぞれのn電極71、82及び93が第1の電極層51と接触し、R発光素子60のp電極72が第2の電極層52と、G発光素子61のp電極83が第3電極層53と、B発光素子62のp電極94が第4電極層54と、それぞれ接触した状態となる。   Subsequently, the same operation as described above is repeated for the G light-emitting element 61. The same operation is repeated for the B light emitting element 62. Thereby, the n electrodes 71, 82, and 93 of the R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are in contact with the first electrode layer 51, and the p electrode 72 of the R light emitting element 60 is in the second state. The electrode layer 52, the p-electrode 83 of the G light-emitting element 61 are in contact with the third electrode layer 53, and the p-electrode 94 of the B light-emitting element 62 are in contact with the fourth electrode layer 54, respectively.

その後、基板ごとリフロー加熱を行うことにより、メッシュ状の金属電極表面に形成されたはんだメッキ層が溶融し、各半導体発光素子のn電極71、82及び93、p電極72、83及び94が、接触しているそれぞれの電極層と接合される。   Thereafter, by performing reflow heating on the entire substrate, the solder plating layer formed on the surface of the mesh-shaped metal electrode is melted, and the n-electrodes 71, 82 and 93 and the p-electrodes 72, 83 and 94 of each semiconductor light-emitting element are It joins with each electrode layer which is in contact.

このように、本実施例に係る半導体発光装置50の製造方法では、同一発光色・同一形状の全ての素子について実装を行った後、他の色の素子について実装を行う。このため、R、G、Bの発光素子を交互に実装する場合(例えば、1ドットを形成するRGBを実装した後、隣接するドットを形成するRGBを実装する場合)と比べて、画像認識による位置ずれの検出に要する時間を短くすることができ、全体としての作業時間を短縮することができる。   As described above, in the method for manufacturing the semiconductor light emitting device 50 according to the present embodiment, after mounting all the elements having the same light emission color and the same shape, mounting is performed on the elements of other colors. For this reason, compared with the case where R, G, and B light emitting elements are alternately mounted (for example, when RGB that forms one dot is mounted and then RGB that forms adjacent dots is mounted), it is based on image recognition. The time required to detect misalignment can be shortened, and the overall work time can be shortened.

また、積層基板59の外周部にアライメントマークを複数形成しておくことにより、各素子の相対的な位置情報を把握することが容易となる。したがって、これらのマークと半導体発光素子の実装位置の相対座標を装置プログラミングで制御することにより、任意の位置に各発光色の半導体発光素子を打ち込むことができる。   Further, by forming a plurality of alignment marks on the outer peripheral portion of the laminated substrate 59, it becomes easy to grasp the relative position information of each element. Therefore, by controlling the relative coordinates of these marks and the mounting positions of the semiconductor light emitting elements by device programming, the semiconductor light emitting elements of the respective emission colors can be driven into arbitrary positions.

実施例4に係る半導体装置50では、R発光素子60、G発光素子61及びB発光素子62のそれぞれのアノード電極層となる第2電極層52、第3電極層53及び第4電極層54が、積層基板59の積層方向にそれぞれベース基板55〜57によって電気的に分離されて設けられている。そして、各電極層52〜54は、それぞれ同じ位置で第1電極層51とベース基板を挟んで立体的に交差するよう、ベース基板55〜57を挟んで重なり合うように形成されている。したがって、第1の電極層51と第2〜第4の電極層52〜54との交差位置は同一であり、当該同一の交差位置にR発光素子60、G発光素子61、B発光素子62を実装することができるため、きめの細かいフルカラー表示を行うことが可能である。   In the semiconductor device 50 according to Example 4, the second electrode layer 52, the third electrode layer 53, and the fourth electrode layer 54 that serve as anode electrode layers of the R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are provided. The base plate 55 is electrically separated from the base substrate 55 in the stacking direction of the stacked substrate 59. And each electrode layer 52-54 is formed so that it may overlap on both sides of the base substrate 55-57 so that it may cross | intersect three-dimensionally on both sides of the 1st electrode layer 51 in the same position, respectively. Therefore, the intersection positions of the first electrode layer 51 and the second to fourth electrode layers 52 to 54 are the same, and the R light emitting element 60, the G light emitting element 61, and the B light emitting element 62 are provided at the same intersection position. Since it can be mounted, it is possible to perform fine-color full-color display.

以上説明したように、本発明に係る半導体発光装置においては、複数のメッシュ電極層を有する積層基板に、錐状の突起部を有する半導体発光素子を圧入する。このため、基板に予め電極パッドを形成しておく必要がなく、また事前の回路パターンの設計が不要であるため、所望の発光位置に簡易に素子を配置することができる。   As described above, in the semiconductor light emitting device according to the present invention, the semiconductor light emitting element having the conical protrusions is press-fitted into the laminated substrate having a plurality of mesh electrode layers. For this reason, it is not necessary to previously form an electrode pad on the substrate, and it is not necessary to design a circuit pattern in advance, so that the element can be easily arranged at a desired light emitting position.

なお、本発明の実施形態は上記のものに限られない。例えば、FPC技術を用いて、縦方向に穴(スルーホール)を開けて複数の層(レイヤー)をメッキ導通させ、多層基板をモジュール化したり、多層化を発展させたビルドアップ工法を用いて複雑な立体回路形成を行うことも可能である。また、これらの技術を組み合わせることにより曲面や3次元立体構造にも追従できる光源デザインが可能である。   The embodiment of the present invention is not limited to the above. For example, using FPC technology, it is complicated using a build-up method in which holes (through holes) are drilled in the vertical direction and multiple layers (layers) are connected by plating, and the multilayer board is modularized or the multi-layer is developed. It is also possible to form a solid circuit. In addition, by combining these technologies, a light source design that can follow curved surfaces and three-dimensional structures can be achieved.

また、上記実施例では基板の同一面内において半導体発光素子の大きさを同一としていたが、これに制限されず、素子の大きさや駆動電流の異なるものが混在していてもよい。大きさの異なる素子の直列駆動は、個々の電流密度の違いからサイズの小さい素子への電流負荷が大きくなるため好ましくない。しかし、本発明の構成によれば、基板の最上層の金属メッシュ電極を共通にした並列接続が基本となり、個々の素子に流れる電流密度が一定になって電流が分散されるため、同一発光色で大きさが異なる素子の並列接続の場合には、駆動が可能である。   In the above embodiment, the semiconductor light emitting elements have the same size in the same plane of the substrate. However, the present invention is not limited to this, and elements having different element sizes and driving currents may be mixed. The series driving of elements having different sizes is not preferable because the current load to the elements having a small size increases due to the difference in individual current densities. However, according to the structure of the present invention, the parallel connection with the metal mesh electrode on the uppermost layer of the substrate in common is fundamental, the current density flowing through each element is constant, and the current is distributed. In the case of parallel connection of elements of different sizes, driving is possible.

また、上記実施例では、ベース基板を挟んで直交するライン状の複数のメッシュ電極層の交点にあたる部分に半導体発光素子が配置される場合について説明した。しかし、これに限られず、例えば、複数の半導体発光素子を島状に離散的に配置したり、配置密度に幅を持たせて配置することも可能である。このように配置することにより、発光密度が連続的に変化するグラデーション表示や、エリアごとのシーケンシャル駆動による動画表示等、回路パターンに依存しない、より自由な発光デザインが可能である。   Further, in the above-described embodiment, the case where the semiconductor light emitting element is arranged at a portion corresponding to the intersection of the plurality of line-shaped mesh electrode layers orthogonal to each other with the base substrate interposed therebetween has been described. However, the present invention is not limited to this, and for example, a plurality of semiconductor light emitting elements can be arranged discretely in an island shape or arranged with a wide arrangement density. By arranging in this way, a more flexible light emission design that does not depend on the circuit pattern, such as gradation display in which the light emission density continuously changes and moving image display by sequential driving for each area, is possible.

また、上記実施例では、各メッシュ電極層が銅箔をフォトリソグラフィーによりメッシュ状にパターニングすることにより形成されるとしたが、これに限られず、例えば銀や銅のナノフィラー入りインクジェットにより、メッシュ状のパターンに形成されても良い。また、Pd触媒を用いた無電解めっき法により形成されても良い。   In the above embodiment, each mesh electrode layer is formed by patterning a copper foil into a mesh shape by photolithography. However, the present invention is not limited to this. It may be formed in the pattern. Further, it may be formed by an electroless plating method using a Pd catalyst.

また、上記実施例では、はんだメッキ層をメッシュ電極層の表面に形成することとしたが、これに限らず、例えば半導体発光素子側のp電極表面、及びn電極表面に形成しても良い。半導体発光素子側にはんだ等の接合材を形成させておくことで、耐熱性の異なる半導体発光素子ごとにリフロー加熱を複数回行うことができる。また、融点の異なる接合材を組み合わせることで、熱履歴に強い半導体発光素子から順番にリフロー加熱を実施することで、熱履歴に弱い半導体発光素子も同じ基板上に形成することが可能となる。   In the above embodiment, the solder plating layer is formed on the surface of the mesh electrode layer. However, the present invention is not limited to this. For example, the solder plating layer may be formed on the surface of the p-electrode and the surface of the n-electrode. By forming a bonding material such as solder on the semiconductor light emitting element side, reflow heating can be performed a plurality of times for each semiconductor light emitting element having different heat resistance. In addition, by combining the bonding materials having different melting points, the semiconductor light emitting element that is weak against the heat history can be formed on the same substrate by performing the reflow heating in order from the semiconductor light emitting element that is strong against the heat history.

また、上記実施例では、突起部の形状が円錐状である場合について説明したが、これに限られず、例えば角錐状、円柱状、角柱状等であってもよい。要するに、半導体発光素子が、積層基板に圧入可能な形状の突起部を有していれば良い。   Moreover, although the said Example demonstrated the case where the shape of a projection part was a cone shape, it is not restricted to this, For example, a pyramid shape, a column shape, a prism shape, etc. may be sufficient. In short, it is only necessary that the semiconductor light emitting element has a protrusion having a shape that can be press-fitted into the laminated substrate.

また、上記実施例では、ベース基板として柔軟性、可撓性に富むFPC材を用いる場合について説明したが、ベース基板の材料はこれに限られない。突起部を有する半導体発光素子を圧入することができ、その状態を保持することが可能な材料で構成されていれば良い。   Moreover, although the said Example demonstrated the case where the flexible and flexible FPC material was used as a base substrate, the material of a base substrate is not restricted to this. The semiconductor light-emitting element having the protruding portion may be press-fitted and may be made of a material capable of maintaining the state.

また、上記実施例では、第1〜第3発光色としてR,G,Bの3色の発光素子を用いてカラー表示を行う場合について説明したが、これに限られず、2以上の発光色の発光素子を用いて半導体発光装置を構成することにより、様々な態様のカラー表示を行うことが可能である。   In the above-described embodiment, the case where color display is performed using light emitting elements of three colors R, G, and B as the first to third light emission colors has been described. By forming a semiconductor light emitting device using a light emitting element, various modes of color display can be performed.

また、上記実施例では、第1導電型がn型の場合、第2導電型が第1導電型(n型)とは反対導電型であるp型の場合について説明したが、これに限られない。第1導電型がp型、第2導電型がn型の場合であってもよい。なお、第1導電型の半導体層又は第2導電型の半導体層は、真性半導体層(i層)を含んでいてもよい。   In the above embodiment, the case where the first conductivity type is n-type and the second conductivity type is p-type which is opposite to the first conductivity type (n-type) has been described. However, the present invention is not limited to this. Absent. The first conductivity type may be p-type and the second conductivity type may be n-type. Note that the first conductivity type semiconductor layer or the second conductivity type semiconductor layer may include an intrinsic semiconductor layer (i layer).

10、30、40、50 半導体発光装置
11、31 カソード電極層
12、32 アノード電極層
13、14、33、34 ベース基板
15、35、47 積層基板
16、36、48、49 半導体発光素子
17、63、74、85 光透過性基板
18、64、75、86 バッファ層
19、65、76、87 n型半導体層
20、66、77、88 発光層
21、67、78、89 p型半導体層
22、68、79、90 反射電極
23、69、80、91 半導体積層体
24、70、81、92 突起部
25、71、82、93 n電極
26、72、83、94 p電極
27、73、84、95 絶縁膜
28 第1のヘッド
29 第2のヘッド
41〜43、51〜54 電極層
44〜46、55〜58 ベース基板
60 R発光素子
61 G発光素子
62 B発光素子
10, 30, 40, 50 Semiconductor light emitting device 11, 31 Cathode electrode layer 12, 32 Anode electrode layer 13, 14, 33, 34 Base substrate 15, 35, 47 Laminated substrate 16, 36, 48, 49 Semiconductor light emitting device 17, 63, 74, 85 Light transmissive substrate 18, 64, 75, 86 Buffer layer 19, 65, 76, 87 N-type semiconductor layer 20, 66, 77, 88 Light-emitting layer 21, 67, 78, 89 P-type semiconductor layer 22 , 68, 79, 90 Reflective electrode 23, 69, 80, 91 Semiconductor stack 24, 70, 81, 92 Protrusion 25, 71, 82, 93 n-electrode 26, 72, 83, 94 p-electrode 27, 73, 84 95 Insulating film 28 1st head 29 2nd head 41-43, 51-54 Electrode layer 44-46, 55-58 Base substrate 60 R light emitting element 61 G light emitting element 6 2 B light emitting device

Claims (8)

メッシュ状の第1の金属層、メッシュ状の第2の金属層及び前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性のベース基板からなる積層基板と、
第1導電型の第1の半導体層、発光層、及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を備える半導体発光素子と、を有し、
前記半導体発光素子は、前記突起部が前記第1の金属層の表面から前記積層基板に埋め込まれるように圧入され、
前記突起部は前記ベース基板を貫通し、前記第1電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2電極は前記第1の金属層と電気的に絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続されている、
ことを特徴とする半導体発光装置。
A laminated substrate comprising a mesh-like first metal layer, a mesh-like second metal layer, and an insulating base substrate provided between the first and second metal layers;
A semiconductor stacked body in which a first conductive type first semiconductor layer, a light emitting layer, and a second conductive type second semiconductor layer opposite to the first conductive type are sequentially stacked; and the semiconductor stacked body A first electrode connected to the first semiconductor layer, a second electrode protruding from the bottom surface of the semiconductor stack, and connected to the second semiconductor layer at the tip of the first electrode. A semiconductor light emitting device comprising a protrusion having,
The semiconductor light emitting device is press-fitted so that the protrusion is embedded in the multilayer substrate from the surface of the first metal layer,
The protrusion penetrates the base substrate, the first electrode is electrically connected to the first metal layer, the second electrode is electrically insulated from the first metal layer, and the second Electrically connected with the metal layer of the
A semiconductor light-emitting device.
前記突起部は導電性材料からなり、側面前記第1の金属層と接する部分絶縁膜で覆われていることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光装置。 The protrusion is made of a conductive material, a semiconductor light emitting device according to claim 1 in which the portion in contact with said first metal layer side and being covered with an insulating film. 前記突起部は、錐状に形成された金属からなることを特徴とする請求項2に記載の半導体発光装置。   The semiconductor light emitting device according to claim 2, wherein the protrusion is made of a metal formed in a conical shape. 前記第1の金属層及び前記第2の金属層と前記半導体発光素子とがリフロー処理によって接合されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1に記載の半導体発光装置。   4. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the first metal layer, the second metal layer, and the semiconductor light emitting element are joined by a reflow process. 5. 前記ベース基板は、可撓性の材料からなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1に記載の半導体発光装置。   The semiconductor light-emitting device according to claim 1, wherein the base substrate is made of a flexible material. メッシュ状の複数のストライプ電極からなる第1の金属層、メッシュ状の複数のストライプ電極からなる第2の金属層及び前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性のベース基板からなる積層基板と、
第1導電型の第1の半導体層、発光層、及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を各々が備える複数の半導体発光素子と、を有し、
前記第1の金属層の前記複数のストライプ電極及び前記第2の金属層の前記複数のストライプ電極は、前記ベース基板を挟んで空間的に交差するように配され、
前記複数の半導体発光素子の各々は、前記第1の金属層の前記複数のストライプ電極と前記第2の金属層の前記複数のストライプ電極との交差位置に圧入され、
前記複数の半導体発光素子の前記突起部は前記ベース基板を貫通し、前記第1電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2電極は前記第1の金属層と電気的に絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続されている、
ことを特徴とする半導体発光装置。
A first metal layer comprising a plurality of mesh stripe electrodes, a second metal layer comprising a plurality of mesh stripe electrodes, and an insulating base substrate provided between the first and second metal layers. A laminated substrate;
A semiconductor stacked body in which a first conductive type first semiconductor layer, a light emitting layer, and a second conductive type second semiconductor layer opposite to the first conductive type are sequentially stacked; and the semiconductor stacked body A first electrode connected to the first semiconductor layer, a second electrode protruding from the bottom surface of the semiconductor stack, and connected to the second semiconductor layer at the tip of the first electrode. A plurality of semiconductor light emitting elements each having a protrusion having
The plurality of stripe electrodes of the first metal layer and the plurality of stripe electrodes of the second metal layer are arranged so as to intersect spatially across the base substrate,
Each of the plurality of semiconductor light emitting elements is press-fitted into an intersection position of the plurality of stripe electrodes of the first metal layer and the plurality of stripe electrodes of the second metal layer,
The protrusions of the plurality of semiconductor light emitting elements penetrate the base substrate, the first electrode is electrically connected to the first metal layer, and the second electrode is electrically connected to the first metal layer. And electrically connected to the second metal layer,
A semiconductor light-emitting device.
メッシュ状の第1の金属層、メッシュ状の第2の金属層、メッシュ状の第3の金属層、前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性の第1のベース基板及び前記第2及び第3の金属層間に設けられた絶縁性の第2のベース基板からなる積層基板と、
第1導電型の第1の半導体層、発光層及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を各々が備える第1及び第2の半導体発光素子と、を有し、
前記第1及び第2の半導体発光素子は、前記突起部が前記第1の金属層の表面から前記積層基板に埋め込まれるように圧入され、
前記第1の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層と絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続され、
前記第2の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板及び前記第2のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層及び前記第2の金属層と絶縁され且つ前記第3の金属層と電気的に接続されている、
ことを特徴とする半導体発光装置。
A mesh-like first metal layer; a mesh-like second metal layer; a mesh-like third metal layer; an insulating first base substrate provided between the first and second metal layers; A laminated substrate comprising an insulating second base substrate provided between the second and third metal layers;
A semiconductor stacked body in which a first semiconductor layer of a first conductivity type, a light emitting layer, and a second semiconductor layer of a second conductivity type opposite to the first conductivity type are sequentially stacked; A first electrode formed on the bottom and connected to the first semiconductor layer; and a second electrode protruding from a bottom surface of the semiconductor stacked body and connected to the second semiconductor layer at a tip of the first electrode. A first and a second semiconductor light emitting element each including a protrusion, and
The first and second semiconductor light emitting elements are press-fitted so that the protrusions are embedded in the multilayer substrate from the surface of the first metal layer,
The protrusion of the first semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate, the first electrode is electrically connected to the first metal layer, and the second electrode is the first electrode. And electrically connected to the second metal layer,
The protrusion of the second semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate and the second base substrate, the first electrode is electrically connected to the first metal layer, and Two electrodes are insulated from the first metal layer and the second metal layer and electrically connected to the third metal layer;
A semiconductor light-emitting device.
メッシュ状の第1の金属層、メッシュ状の第2の金属層、メッシュ状の第3の金属層、メッシュ状の第4の金属層、前記第1及び第2の金属層間に設けられた絶縁性の第1のベース基板、前記第2及び第3の金属層間に設けられた絶縁性の第2のベース基板及び前記第3及び第4の金属層間に設けられた絶縁性の第3のベース基板からなる積層基板と、
第1導電型の第1の半導体層、発光層及び前記第1導電型とは反対導電型の第2導電型の第2の半導体層が順次積層された半導体積層体と、前記半導体積層体の底部に形成され、前記第1の半導体層に接続された第1の電極と、前記半導体積層体の底面から突出し、その先端部に前記第2の半導体層に接続された第2の電極を有する突起部と、を各々が備える第1発光色、第2発光色及び第3発光色の半導体発光素子と、を有し、
第1発光色、第2発光色及び第3発光色の半導体発光素子は、前記突起部が前記第1の金属層の表面から前記積層基板に埋め込まれるように圧入され、
前記第1発光色の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層と絶縁され且つ前記第2の金属層と電気的に接続され、
前記第2発光色の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板及び前記第2のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層及び前記第2の金属層と絶縁され且つ前記第3の金属層と電気的に接続され、
前記第3発光色の半導体発光素子の前記突起部は前記第1のベース基板及び前記第2のベース基板及び前記第3のベース基板を貫通し、前記第1の電極は前記第1の金属層と電気的に接続され、前記第2の電極は前記第1の金属層及び前記第2の金属層及び前記第3の金属層と絶縁され且つ前記第4の金属層と電気的に接続されている、
ことを特徴とする半導体発光装置。
Mesh-like first metal layer, mesh-like second metal layer, mesh-like third metal layer, mesh-like fourth metal layer, insulation provided between the first and second metal layers First base substrate, insulating second base substrate provided between the second and third metal layers, and insulating third base provided between the third and fourth metal layers A laminated substrate comprising a substrate;
A semiconductor stacked body in which a first semiconductor layer of a first conductivity type, a light emitting layer, and a second semiconductor layer of a second conductivity type opposite to the first conductivity type are sequentially stacked; A first electrode formed on the bottom and connected to the first semiconductor layer; and a second electrode protruding from a bottom surface of the semiconductor stacked body and connected to the second semiconductor layer at a tip of the first electrode. A first light-emitting color, a second light-emitting color, and a third light-emitting color semiconductor light-emitting element each including a protrusion,
The semiconductor light emitting elements of the first emission color, the second emission color, and the third emission color are press-fitted so that the protrusion is embedded in the laminated substrate from the surface of the first metal layer,
The protrusion of the first light emitting semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate, the first electrode is electrically connected to the first metal layer, and the second electrode is Insulated from the first metal layer and electrically connected to the second metal layer;
The protrusion of the second light emitting semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate and the second base substrate, and the first electrode is electrically connected to the first metal layer, The second electrode is insulated from the first metal layer and the second metal layer and electrically connected to the third metal layer;
The protrusion of the third light emitting semiconductor light emitting element penetrates the first base substrate, the second base substrate, and the third base substrate, and the first electrode is the first metal layer. And the second electrode is insulated from the first metal layer, the second metal layer, and the third metal layer and electrically connected to the fourth metal layer. Yes,
A semiconductor light-emitting device.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7190947B2 (en) 2019-03-22 2022-12-16 三菱重工機械システム株式会社 Apparatus and method for parameter identification in hydraulic control system, hydraulic control system, and state detection method
JP7517812B2 (en) 2019-11-22 2024-07-17 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 Equipment for predicting reactor water quality

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015119653A1 (en) * 2015-11-13 2017-05-18 Osram Opto Semiconductors Gmbh Module for a video wall

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4403422B2 (en) * 2000-07-18 2010-01-27 ソニー株式会社 Manufacturing method of image display device
JP4920330B2 (en) * 2006-07-18 2012-04-18 ソニー株式会社 Mounting method for mounting structure, mounting method for light emitting diode display, mounting method for light emitting diode backlight, and mounting method for electronic device
US20120295376A1 (en) * 2011-05-16 2012-11-22 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Method for manufacturing a led array device, and led array device manufactured thereby
JP2013153117A (en) * 2012-01-25 2013-08-08 Thermal Printer Institute Inc Interior led lighting substrate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7190947B2 (en) 2019-03-22 2022-12-16 三菱重工機械システム株式会社 Apparatus and method for parameter identification in hydraulic control system, hydraulic control system, and state detection method
JP7517812B2 (en) 2019-11-22 2024-07-17 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 Equipment for predicting reactor water quality

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