JP6256751B2 - 電気信号測定用icクリップ - Google Patents

電気信号測定用icクリップ Download PDF

Info

Publication number
JP6256751B2
JP6256751B2 JP2013263127A JP2013263127A JP6256751B2 JP 6256751 B2 JP6256751 B2 JP 6256751B2 JP 2013263127 A JP2013263127 A JP 2013263127A JP 2013263127 A JP2013263127 A JP 2013263127A JP 6256751 B2 JP6256751 B2 JP 6256751B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
clip
arm
contact conductor
arm portions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013263127A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015118057A (ja
Inventor
星野 方美
方美 星野
正数 彌吉
正数 彌吉
Original Assignee
株式会社アドリンクス
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社アドリンクス filed Critical 株式会社アドリンクス
Priority to JP2013263127A priority Critical patent/JP6256751B2/ja
Publication of JP2015118057A publication Critical patent/JP2015118057A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6256751B2 publication Critical patent/JP6256751B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

本発明は電気信号測定用ICクリップに係り、とくにファインピッチな半導体の外部リード端子などを対象にして電気信号の測定を行う場合に好適な電気信号測定用ICクリップに関する。
近年、電子機器の高性能化や小形化が進むにつれ、その機器に使用される半導体は高集積化され、プリント配線板などと接続する半導体の外部リ−ド端子のピッチはファインピッチ化が進み、現在0.5mmピッチのものまで量産で使用され、更に0.3mmピッチや0.25mmピッチのものも使用されつつある。このような状況において、電子機器の開発、検査、調整などの際に電子部品の電極から電気信号を測定する電気信号測定用ICクリップにもファインピッチの半導体に対応可能なタイプが要求されている。
従来の電気信号測定用ICクリップとして例えば特開2002−122615号公報の如きものがある。このICクリップは、先端が対向して両側方向に膨らむように楕円弧状に折り曲げられた掴み部を前端に形成させた一対の弾性線材を筒部材に進退自在に挿通し、筒部材の後方に弾性部材の進退操作を行う操作機構を設け、操作機構では枢軸に回動自在に嵌合した槓杆に弾性線材の後端を固定するとともに弾性線材を後退する方向へバネで槓杆を付勢する。槓杆が解放状態のとき、弾性線材の後退で掴み部の膨らみ部分が筒部材の開口に当接し、弾性線材が軸芯寄りに変形し摘み部が閉じた状態となる。測定時、槓杆を回動操作し、筒部材に対し弾性線材を相対的に前進させて掴み部を元の開いた形状に戻し、測定対象の電極を挟ませたのち、槓杆を解放し、バネ力で弾性線材を後退させて掴み部を閉じさせる構造となっている。
けれども、上記した従来のICクリップでは、測定時に槓杆を回動して筒部材に対し弾性線材を進退させる操作が必要であり、作業能率が悪かった。また、弾性線材を進退させる構造が複雑で小型化が難しく、故障し易い欠点があった。
特開2002−122615号
本発明は上記した従来技術の問題に鑑みなされたもので、構造が簡単で測定対象への着脱を容易に行うことができる電気信号測定用ICクリップを提供することを、その目的とする。
本発明の電気信号測定用ICクリップでは、測定対象に接触する接触導体部材の前側を略平行に延びるとともに弾性変形可能な2つのアーム部に分け、少なくとも一方のアーム部の先端に他方のアーム部に向けて山形または鉤形に形成された爪部を設け、2つのアーム部の先端側を測定対象に対し進出・後退させることで測定対象への2つのアームの係合・解放を可能とし、爪部とその直後が外に出るようにして、爪部より後方のアーム部を含む接触導体部材の前側を保護パイプに挿通し、接触導体部材の後端部に測定信号を外部に導く信号リード部を接続し、保護パイプの後部と保護パイプ後方の接触導体部材を絶縁性固定部材の内部に固定し、絶縁性固定部材を2つのアーム部を含む平面に対し垂直方向に延びた板状としたこと、を特徴としている。
本発明によれば、絶縁性固定部材を持ち、測定対象にICクリップ全体を近づけてアーム部の爪部を測定対象に当接すると爪部が測定対象に押されて側方へ弾性変形して開き、2つのアーム部の間に測定対象を係合させることができ、この状態からICクリップ全体を測定対象から後退させると爪部が測定対象に押されて側方へ弾性変形して開き、測定対象を外すことができるので、簡単な操作で測定対象への着脱が可能となり、作業能率が向上する。また、操作機構が不要なため構造も簡単化できる。
また、絶縁性固定部材を2つのアーム部を含む平面に対し垂直方向に延びた板状としたので、測定対象の電極等が狭い間隔で複数並んでいる場合に、複数のICクリップを各測定対象の電極等に係合して、同時測定可能となる。
また、測定対象の電極等に着脱する際にアーム部が横に大きく開かないので、隣接する電極等に接触することなく着脱することができ、測定対象を通電したまま装着可能となる。複数の電気信号測定用ICクリップ1を各測定対象の電極等に装着する場合でも、隣接する電気信号測定用ICクリップに接触することなく着脱することができ、測定対象を通電したまま複数の電気信号測定用ICクリップ1を各測定対象の電極等に装着可能となる。
本発明の一実施例に係る電気信号測定用ICクリップの側面図である(実施例1)。 図1の電気信号測定用ICクリップの平面図である。 図2のIII−III’線に沿った縦断面図である。 図1のIV−IV’線に沿った水平断面図である。 図1中のアーム部の部分拡大図である。 図1の電気信号測定用ICクリップの使用方法の説明図である。 図1の電気信号測定用ICクリップの使用方法の説明図である。 図1の電気信号測定用ICクリップの使用方法の説明図である。 爪部の変形例を示す説明図である。
以下、本発明の最良の形態を実施例に基づき説明する。
図1乃至図5を参照して本発明の一実施例を説明する。図1は本発明に係る電気信号測定用ICクリップの側面図、図2は電気信号測定用ICクリップの平面図、図3は図2のIII−III’線に沿った縦断面図、図4は図1のIV−IV’線に沿った水平断面図、図5は図1中のアーム部の部分拡大図である。
これらの図において、1はIC外部リード端子などの測定対象に接触させて電気信号を取り出す電気信号測定用ICクリップであり、この内、10は測定対象に接触させる接触導体部材であり、全体として細長い板状に形成されるとともに前側が略平行に延びた弾性変形可能な2つのアーム部11、12に分かれている。アーム部11、12は全長の中央付近で幅が階段状に細くなって段差部13、14が形成されている。アーム部11、12の先端には相手側のアーム部12、11に向けて山形に形成された爪部15、16が設けられている。爪部15、16は図5に示す如く前面17、18がアーム部11、12の真ん中に向けて後退するように傾斜しており、前面17、18から丸み部19、20を経て繋がる後面21、22がアーム部11、12に対し垂直面または垂直に近い傾斜面となっており、後面21、22から丸み部23、24を経てアーム部11、12に繋がっている。なお、後面21、22を前面と同様に緩やかな傾斜とすることもできる(図5の破線21A、22A参照)。アーム部11、12の間隔Lは測定対象の幅Wと略同一か少し小さく形成されている(図7(1)参照)。鉤部15、16を含むアーム部11、12は接触導体部材10の軸芯に対し対象に形成されている。接触導体部材10の内、アーム部11、12の後方と、中央より後ろ側の2箇所に段差部25と26、27と28が形成されている。このように形成された接触導体部材10は例えばステンレス鋼により電気メッキ、型抜き(プレス加工)、エッチングなどの成形法で成形したあと金メッキ処理して作成されている。
アーム部11、12の内、爪部15、16とその直後の部分(測定対象が係合する部分)が外に出るようにして、爪部15、16の後方のアーム部11、12から段差部25、26までの接触導体部材10にはプラスチック製の絶縁保護パイプ30が挿通されており、一方、接触導体部材10の後端部には測定信号を外部に導くためのリード線の一例としてのケーブル40の導体41がはんだ付け、溶着等で電気的に接続されている。ケーブル40の後端部にはプラグ42が装着されており、図示しない測定器側の測定ケーブルと着脱自在に接続可能となっている。
絶縁保護パイプ30の後端部と絶縁保護パイプ30の後方の接触導体部材10及びケーブル40の前端部までが、プラスチック製の絶縁性固定部材50の内部にモールド成形などにより固定されて絶縁性固定部材50とともに一体化されている。絶縁性固定部材50は2つのアーム部11、12の成す平面に対し垂直上方方向に延びた板状に形成されており、かつ、側面から見て半楕円形に形成されて指で摘む持ち手部60と成っている(図1参照)。
図6乃至図8は電気信号測定用ICクリップ1の使用方法の説明図であり、以下、これらの図を参照して上記した実施例の使用方法を説明する。
なお、ここでは一例として図6のIC80の外部リード端子81を測定対象とし、図7(1)に示すW=0.3mm、L=0.28mmであるとする。また、予め、ケーブル40のプラグ42に測定器(図示せず)が接続済みであるとする。
測定時、電気信号測定用ICクリップ1の絶縁性固定部材50の上部側の持ち手部60を指で摘み、電気信号測定用ICクリップ1の全体を測定対象である外部リード端子81に向けてゆっくり進め(図7(1)参照)、アーム部11、12の先端の爪部15、16を外部リード端子81に押し当てる(図7(2)参照)。すると、前面17、18が外部リード端子81に押されてアーム部11、12が弾性変形して爪部15、16の間が横に開き、外部リード端子81がアーム部11、12の間に入って爪部15、16を過ぎた所で爪部15、16が元に戻り、外部リード端子81がアーム部11、12係合される(図7(3)参照)。ここで持ち手部60を放し、測定を行う。外部リード端子81は爪部15、16に保持された状態になっているので、外力を加えない限りアーム部11、12から外部リード端子81が外れることはない。
測定後、持ち手部60を指で摘み、電気信号測定用ICクリップ1の全体を測定対象である外部リード端子81からゆっくり後退させる(図8(1)参照)。すると、爪部15、16の後面21、22が外部リード端子81に押されてアーム部11、12が弾性変形して爪部15、16の間が横に開き、外部リード端子81がアーム部11、12から外れて解放される(図8(2)参照)。このあと、次の測定対象があれば同様にして、電気信号測定用ICクリップ1の全体を測定対象に対し進退させることで容易に着脱することができる。
なお、電気信号測定用ICクリップ1が板状で幅を取らないため、ファインピッチで隣接する複数の外部リード端子81に対し同時に信号測定したい場合でも、複数の電気信号測定用ICクリップ1を各外部リード端子81に係合することができ、容易に同時測定可能となる。
この実施例によれば、電気信号測定用ICクリップ1の絶縁性固定部材50の上部の持ち手部60を指て摘み、測定対象の外部リード端子81に電気信号測定用ICクリップ1の全体を近づけてアーム部11、12の爪部15、16を測定対象に当接すると爪部15、16が測定対象に押されてアーム部11、12が弾性変形して爪部15、16の間が横に開き、2つのアーム部11、12の間に測定対象を係合させることができ、この状態から電気信号測定用ICクリップ1の全体を測定対象から後退させると爪部11、12が測定対象に押されて側方へ弾性変形して開き、測定対象から解放することができるので、簡単な操作で測定対象への脱着が可能となり、作業能率が向上する。また、操作機構が不要なため構造も簡単化できる。
また、絶縁性固定部材50を2つのアーム部11、12を含む平面に対し垂直方向に延びた板状としたので、測定対象の外部リード端子が狭い間隔で複数並んでいる場合でも、複数の電気信号測定用ICクリップ1を各測定対象電極に係合して、同時測定可能となる。
また、測定対象の外部リード端子に着脱する際にアーム部が横に大きく開かないので、隣接する外部リード端子に接触することなく着脱することができ、測定対象のICを通電したまま装着可能となる。複数の電気信号測定用ICクリップ1を各測定対象電極に装着する場合でも、隣接する電気信号測定用ICクリップに接触することなく着脱することができ、測定対象のICを通電したまま複数の電気信号測定用ICクリップ1を各測定対象電極に装着可能となる。
なお、上記した実施例では、接触導体部材の後端部にケーブルを接続する構成としたが、導体剥き出しのプラグを直接、ハンダ付け、溶着等で接触導体部材の後端部に接続するようにしても良い。
また、2つのアーム部の先端の爪部を対象な山形としたが、図9(1)に示す如く一方が他方より大きい非対象な山形の爪部15A、16Aとしたり、図9(2)に示す如く一方ほ大きな鉤形の爪部15Bとし、他方を小さな山形の爪部16Bとしてもよい。また、2つのアーム部の内、一方だけに他方のアーム部に向けた山形または鉤形の爪部を設けるようにしても良い。要は、2つのアーム部の内、少なくとも一方のアーム部の先端に他方のアーム部に向けて山形または鉤形に形成された爪部を設けるようにすれば良い。
本発明は、ICの外部リード端子を初めとして、ソケット、コネクタなどの電子部品の電極を測定対象とする電気信号測定用ICクリップに適用可能である。
1 電気信号測定用ICクリップ
10 接触導体部材
11、12 アーム部
15、15A、15B、16、16A、16B 爪部
30 絶縁保護パイプ
40 ケーブル
50 絶縁性固定部材
60 持ち手部

Claims (1)

  1. 測定対象に接触する接触導体部材の前側を略平行に延びるとともに弾性変形可能な2つのアーム部に分け、
    少なくとも一方のアーム部の先端に他方のアーム部に向けて山形または鉤形に形成された爪部を設け、2つのアーム部の先端側を測定対象に対し進出・後退させることで測定対象への2つのアームの係合・解放を可能とし、
    爪部とその直後が外に出るようにして、爪部より後方のアーム部を含む接触導体部材の前側を保護パイプに挿通し、
    接触導体部材の後端部に測定信号を外部に導く信号リード部を接続し、
    保護パイプの後部と保護パイプ後方の接触導体部材を絶縁性固定部材の内部に固定し、
    絶縁性固定部材を2つのアーム部を含む平面に対し垂直方向に延びた板状としたこと、
    を特徴とする電気信号測定用ICクリップ。
JP2013263127A 2013-12-19 2013-12-19 電気信号測定用icクリップ Expired - Fee Related JP6256751B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013263127A JP6256751B2 (ja) 2013-12-19 2013-12-19 電気信号測定用icクリップ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013263127A JP6256751B2 (ja) 2013-12-19 2013-12-19 電気信号測定用icクリップ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015118057A JP2015118057A (ja) 2015-06-25
JP6256751B2 true JP6256751B2 (ja) 2018-01-10

Family

ID=53530896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013263127A Expired - Fee Related JP6256751B2 (ja) 2013-12-19 2013-12-19 電気信号測定用icクリップ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6256751B2 (ja)

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5679863U (ja) * 1979-11-27 1981-06-29
JPS6415968U (ja) * 1987-07-10 1989-01-26
JPH10111314A (ja) * 1996-10-08 1998-04-28 Fujitsu Ltd プローブ
US6636054B2 (en) * 2001-11-16 2003-10-21 Tektronix, Inc. Low capacitance probe contact
JP3090803U (ja) * 2002-06-17 2002-12-26 良美 北川 電路測定テスターのテストリード
JP2006220628A (ja) * 2005-02-14 2006-08-24 Ngk Insulators Ltd プローブピン及びプローブピンシート
US20070063714A1 (en) * 2005-09-21 2007-03-22 Mctigue Michael T High bandwidth probe
JP2007086071A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Agilent Technol Inc プローブ装置
US20070115010A1 (en) * 2005-11-22 2007-05-24 Mctigue Michael T Connection accessory for micro-probing
JP4875415B2 (ja) * 2006-06-27 2012-02-15 有限会社清田製作所 コンタクトプローブ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015118057A (ja) 2015-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6371065B2 (ja) 小型のアクチュエータを有するバネ接続部材を備えた電気的な接続デバイス、および複数の当該バネのコンタクトを備えた多極コネクタ
US8840424B2 (en) Shield connector
EP0197637B1 (en) Electrical circuit test probe and connector
US2765688A (en) Work locating mechanism for connector crimping tools
WO2013051675A1 (ja) プローブユニット
IE57260B1 (en) An electrical connector for electrical circuit test probe and connector
CN105474466A (zh) 用于接触电导体的端子
JP2009036532A (ja) 検査冶具および検査装置
KR101540983B1 (ko) 와이어 연결 장치
JP2006234428A (ja) コンタクトプローブおよび検査装置
CN102326303A (zh) 同轴连接器
JP2009146840A (ja) 端子圧着装置
JP6256751B2 (ja) 電気信号測定用icクリップ
JP4625480B2 (ja) 検査治具
JP4873559B2 (ja) コンタクトプローブ
JP6000046B2 (ja) プローブユニットおよび検査装置
CN206250427U (zh) 金属端子
JP2010153154A (ja) コネクタ
JP2011040199A (ja) 端子圧着装置
JP5119973B2 (ja) アタッチメント用カバー
JP6742461B1 (ja) 電子制御装置
KR100475977B1 (ko) 전력전송계의 계측장치 및 계측방법
JP5228610B2 (ja) 基板検査治具
JP4077259B2 (ja) ケーブル接続用コネクタ
JP4809204B2 (ja) クランパ端子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151207

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20161025

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161101

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161224

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20170606

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170728

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20170911

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171122

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6256751

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees