JP6222916B2 - Dc−acプローブ・カード - Google Patents
Dc−acプローブ・カード Download PDFInfo
- Publication number
- JP6222916B2 JP6222916B2 JP2012242704A JP2012242704A JP6222916B2 JP 6222916 B2 JP6222916 B2 JP 6222916B2 JP 2012242704 A JP2012242704 A JP 2012242704A JP 2012242704 A JP2012242704 A JP 2012242704A JP 6222916 B2 JP6222916 B2 JP 6222916B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductor
- probe card
- probe
- conductors
- test instrumentation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06766—Input circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/18—Screening arrangements against electric or magnetic fields, e.g. against earth's field
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31926—Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
Description
上記DUTに接触する末端を夫々有する複数のプローブ・ニードルと、
試験計装をプローブ・ニードルに動作可能に接続する複数の接続経路とを含み、
上記接続経路の夫々は、試験装置の接続カ所とプローブ・ニードルとの間の夫々に、AC測定に適した所望特性インピーダンス及びDCに適したガードされた経路の両方を提供することを特徴としている。
上記DUTに接触する末端を夫々有する複数のプローブ・ニードルと、
試験計装をプローブ・ニードルに動作可能に接続する複数の接続経路とを具え、
上記接続経路の夫々は、試験装置の接続カ所とプローブ・ニードルとの間の夫々に、AC測定に適した所望特性インピーダンス及びDCに適したガードされた経路の両方を提供することを特徴としている。
末端及び近位端を夫々有する第1導体及び第2導体を含み、上記第1導体末端は第1プローブ・ニードルに接続され、上記第1及び第2導体近位端が第1試験計装に接続される第1導体対と、
末端及び近位端を夫々有する第3導体及び第4導体を含み、上記第3導体末端は第2プローブ・ニードルに接続され、上記第3及び第4導体近位端が第2試験計装に接続される第2導体対と、
AC試験測定に関しては上記第2導体末端を上記第4導体末端に結合するよう動作し、DC試験測定に関しては上記第4導体末端から上記第2導体末端を切り離すように動作する結合回路と
を具えている。
末端及び近位端を夫々有する第1導体及び第2導体を含み、上記第1導体末端は第1プローブ・ニードルに接続され、上記第1及び第2導体近位端が第1試験計装に接続される第1伝送線と、
末端及び近位端を夫々有する第3導体及び第4導体を含み、上記第4導体末端が上記第2導体末端に接続され、上記第3及び第4導体近位端が上記第1試験計装に接続され、AC測定の間上記第2及び第4導体近位端が互いに接続される第2伝送線と、
末端及び近位端を夫々有する第5導体及び第6導体を含み、上記第5導体末端は第2プローブ・ニードルに接続され、上記第5及び第6導体近位端は第2試験計装に接続される第3伝送線と、
末端及び近位端を夫々有する第7導体及び第8導体を含み、上記第8導体末端は上記第6導体末端に接続され、上記第3導体末端は上記第7導体末端に接続され、上記第7及び第8導体近位端は上記第2試験計装に接続される第4伝送線と
を具え、AC測定の間上記第6及び第8導体近位端が互いに接続され、上記第1及び第2伝送線が等しい電気長を有し、上記第3及び第4伝送線が等しい電気長を有することを特徴としている。
22 計装接続体
24 接続経路
26 プローブ・ニードル
28 計装接続体
30 接続経路
31 プローブ・ニードル
32 DC−ACプローブ・カード
32’ DC−ACプローブ・カード
32” DC−ACプローブ・カード
32''' DC−ACプローブ・カード
34 第1導体対
36 第2導体対
38 第1導体
40 第2導体
42 第3導体
44 第4導体
46 第1プローブ・ニードル
48 第2プローブ・ニードル
50 共通接続コンデンサ
52 共通接続コンデンサ
54 AC試験計装
56 AC試験計装
58 DC試験計装
60 DC試験計装
62 グラウンド・パス
64 グラウンド・パス
64’ 外部シールド導体
64” 外部シールド導体
66 同軸導体
66’ 同軸導体
68 同軸導体
68’ 同軸導体
70 抵抗器
72 抵抗器
74 DC−ACプローブ・カード
76 第1伝送線
78 第1導体
80 第2導体
82 第1プローブ・ニードル
84 試験計装
86 第2伝送線
88 第3導体
90 第4導体
92 第3伝送線
94 第5導体
96 第6導体
98 第2プローブ・ニードル
100 試験計装
102 第4伝送線
104 第7導体
106 第8導体
Claims (1)
- DUTを試験するための複数のプローブ・ニードルを有するDC−ACプローブ・カードであって、該プローブ・カードが、
末端及び近位端を夫々有する第1導体及び第2導体を含み、上記第1導体末端は第1プローブ・ニードルに接続され、上記第1及び第2導体近位端が第1試験計装に接続される第1伝送線と、
末端及び近位端を夫々有する第3導体及び第4導体を含み、上記第4導体末端が上記第2導体末端に接続され、上記第3及び第4導体近位端が上記第1試験計装に接続され、AC測定の間上記第2及び第4導体近位端が互いに接続される第2伝送線と、
末端及び近位端を夫々有する第5導体及び第6導体を含み、上記第5導体末端は第2プローブ・ニードルに接続され、上記第5及び第6導体近位端は第2試験計装に接続される第3伝送線と、
末端及び近位端を夫々有する第7導体及び第8導体を含み、上記第8導体末端は上記第6導体末端に接続され、上記第3導体末端は上記第7導体末端に接続され、上記第7及び第8導体近位端は上記第2試験計装に接続される第4伝送線と
を具え、AC測定の間上記第6及び第8導体近位端が互いに接続され、上記第1及び第2伝送線が等しい電気長を有し、上記第3及び第4伝送線が等しい電気長を有することを特徴とするDC−ACプローブ・カード。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/289,382 | 2011-11-04 | ||
US13/289,382 US8717053B2 (en) | 2011-11-04 | 2011-11-04 | DC-AC probe card topology |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013096998A JP2013096998A (ja) | 2013-05-20 |
JP6222916B2 true JP6222916B2 (ja) | 2017-11-01 |
Family
ID=47143673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012242704A Expired - Fee Related JP6222916B2 (ja) | 2011-11-04 | 2012-11-02 | Dc−acプローブ・カード |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8717053B2 (ja) |
EP (1) | EP2589970A2 (ja) |
JP (1) | JP6222916B2 (ja) |
KR (1) | KR20130049724A (ja) |
CN (1) | CN103116045B (ja) |
TW (1) | TWI582435B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7044243B2 (ja) | 2018-02-20 | 2022-03-30 | 株式会社トヨトミ | 電気ストーブ |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9335364B2 (en) * | 2013-02-01 | 2016-05-10 | Keithley Instruments, Inc. | SMU RF transistor stability arrangement |
CN105092925B (zh) * | 2014-05-21 | 2018-04-13 | 詹定叡 | 用于测试探针卡的转换卡 |
US9983228B2 (en) * | 2014-09-24 | 2018-05-29 | Keithley Instruments, Llc | Triaxial DC-AC connection system |
KR102015788B1 (ko) * | 2017-11-30 | 2019-08-29 | 리노공업주식회사 | 검사장치 |
US11327095B2 (en) * | 2019-08-19 | 2022-05-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Probe cards, system for manufacturing semiconductor device, and method of manufacturing semiconductor device |
US20230228794A1 (en) * | 2022-01-18 | 2023-07-20 | Teradyne, Inc. | Probe for a test system |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0569690U (ja) * | 1992-02-27 | 1993-09-21 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置 |
US6579804B1 (en) * | 1998-11-30 | 2003-06-17 | Advantest, Corp. | Contact structure and production method thereof and probe contact assembly using same |
WO2000039848A2 (en) * | 1998-12-31 | 2000-07-06 | Formfactor, Inc. | Test method and assembly including a test die for testing a semiconductor product die |
EP1409183A4 (en) * | 2000-07-05 | 2006-05-31 | Advanced Integration Technolog | NUMERICALLY CONTROLLED, MULTIPLE DRILLING MACHINE WITH DRILLING TEMPLATE FOR AIR AND SPACE |
US6791344B2 (en) * | 2000-12-28 | 2004-09-14 | International Business Machines Corporation | System for and method of testing a microelectronic device using a dual probe technique |
CN101101313A (zh) * | 2002-01-30 | 2008-01-09 | 佛姆费克托公司 | 受测试集成电路的预测性自适应电源 |
US6836107B2 (en) * | 2002-11-22 | 2004-12-28 | Tektronix, Inc. | Constant input impedance AC coupling circuit for a current probe system |
US7388424B2 (en) * | 2004-04-07 | 2008-06-17 | Formfactor, Inc. | Apparatus for providing a high frequency loop back with a DC path for a parametric test |
US7388366B2 (en) * | 2006-02-03 | 2008-06-17 | Keithley Instruments, Inc. | Test system connection system with triaxial cables |
US7368928B2 (en) * | 2006-08-29 | 2008-05-06 | Mjc Probe Incorporation | Vertical type high frequency probe card |
JP2008107216A (ja) * | 2006-10-26 | 2008-05-08 | Agilent Technol Inc | 測定方法、スイッチ装置、および、該スイッチ装置を備える測定システム |
CN101221194B (zh) * | 2007-01-09 | 2011-11-16 | 旺矽科技股份有限公司 | 高频探针 |
US7659742B1 (en) * | 2007-04-09 | 2010-02-09 | National Semiconductor Corporation | Vacuum chamber AC/DC probe |
US7649363B2 (en) * | 2007-06-28 | 2010-01-19 | Lam Research Corporation | Method and apparatus for a voltage/current probe test arrangements |
US7855544B1 (en) * | 2008-05-01 | 2010-12-21 | Keithley Instruments, Inc. | AC low current probe card |
JP5112973B2 (ja) * | 2008-06-30 | 2013-01-09 | 三菱レイヨン株式会社 | 炭素繊維前駆体アクリル系繊維用油剤組成物、並びに炭素繊維前駆体アクリル系繊維束及びその製造方法 |
US7928748B2 (en) * | 2008-08-22 | 2011-04-19 | National Semiconductgor | Method of locating failure site on semiconductor device under test |
KR20110003235U (ko) * | 2009-09-24 | 2011-03-30 | 삼지전자 주식회사 | 동축 케이블을 매개체로 전송되는 직류 전원 및 라디오 주파수 신호 레벨 측정용 지그 |
-
2011
- 2011-11-04 US US13/289,382 patent/US8717053B2/en active Active
-
2012
- 2012-09-27 TW TW101135583A patent/TWI582435B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-10-26 KR KR1020120119594A patent/KR20130049724A/ko not_active Application Discontinuation
- 2012-11-02 EP EP12191164.8A patent/EP2589970A2/en not_active Withdrawn
- 2012-11-02 CN CN201210432432.0A patent/CN103116045B/zh active Active
- 2012-11-02 JP JP2012242704A patent/JP6222916B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7044243B2 (ja) | 2018-02-20 | 2022-03-30 | 株式会社トヨトミ | 電気ストーブ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013096998A (ja) | 2013-05-20 |
CN103116045A (zh) | 2013-05-22 |
TW201333476A (zh) | 2013-08-16 |
TWI582435B (zh) | 2017-05-11 |
US8717053B2 (en) | 2014-05-06 |
EP2589970A2 (en) | 2013-05-08 |
CN103116045B (zh) | 2020-01-31 |
US20130113511A1 (en) | 2013-05-09 |
KR20130049724A (ko) | 2013-05-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6222916B2 (ja) | Dc−acプローブ・カード | |
JP3565893B2 (ja) | プローブ装置及び電気回路素子計測装置 | |
US7518385B2 (en) | Probe using high pass ground signal path | |
US20070285107A1 (en) | Calibration structures for differential signal probing | |
JP2945015B2 (ja) | 直流バイアス印加装置 | |
JP4399084B2 (ja) | 四端子法によるインピーダンス測定方法 | |
JP4748376B2 (ja) | 同軸ケーブルおよびこれを用いた伝送回路 | |
US9983228B2 (en) | Triaxial DC-AC connection system | |
US5821758A (en) | Techniques for non-invasive RF circuit testing and RF signal flow redirection | |
US9335364B2 (en) | SMU RF transistor stability arrangement | |
CN207396683U (zh) | 一种测量电路板波纹和噪声信号的装置 | |
MXPA97005729A (en) | Method to test radio frequency circuits without disconnecting them and for the redirection of the flujode radiofrecuen signal | |
KR101952440B1 (ko) | 프로브 카드 | |
Harlacher et al. | Common mode voltage measurements comparison for CISPR 22 conducted emissions measurements | |
PL237056B1 (pl) | Układ do pomiaru odpowiedzi częstotliwościowej uzwojeń transformatora i sposób pomiaru odpowiedzi częstotliwościowej uzwojeń transformatora | |
JPS59212999A (ja) | 測定装置 | |
JPS6057270A (ja) | 回路試験器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20150911 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160725 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160802 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20161102 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20161226 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170202 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170711 |
|
R155 | Notification before disposition of declining of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R155 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171003 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6222916 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |