JP6212314B2 - 画像測定装置およびプログラム - Google Patents
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Description
以下、添付の図面を参照して本発明の第1実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係る画像測定装置の全体構成を示す斜視図である。画像測定装置は、非接触型の画像測定機1と、この画像測定機1を駆動制御すると共に、必要なデータ処理を実行するコンピュータシステム2とを備える。なお、画像測定装置は、これらの他、計測結果等をプリントアウトするプリンタ等を適宜備えてもよい。
第2実施形態における画像測定装置の特徴は、測定範囲全体の評価値の分布マップを予め求めておき、スティッチングアルゴリズムに適さない領域がオーバラップ領域とならないよう、測定位置を設定する点にある。それ以外については、上述した第1実施形態と同様なので、ここでの説明を省略する。
なお、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上記の実施形態では、スティッチングアルゴリズムとして平面と平面を結合するアルゴリズムを採用し、平面度を評価値としたが、採用するアルゴリズムに応じた評価値を用いることで本発明は他のアルゴリズムを採用する場合にも適用することができる。例えば、曲面と曲面とを結合するアルゴリズムを採用する場合には、オーバラップ領域の設計形状の曲率を評価値とするとよい。また、特徴点と特徴点の結合(例えばエッジとエッジの結合)によるアルゴリズムを採用する場合には、オーバラップ領域の設計形状の形状周波数やエッジ強度を評価値としてよい。いずれの場合も、評価値と所定の閾値(制限値)との比較結果に応じて、設定された測定位置の適否を判定することができる。
2・・・コンピュータシステム
3、3’・・・ワーク
11・・・架台
12・・・ステージ
13a、13b・・・支持アーム
14・・・X軸ガイド
15・・・撮像ユニット
Claims (7)
- 測定対象範囲を複数の測定視野で測定する画像測定装置であって、
隣接する測定視野が互いに重複するオーバラップ領域を有するように、前記測定対象範囲を包含する複数の測定位置を設定する測定位置設定手段と、
前記測定位置設定手段が設定した測定位置で測定を行う測定手段と、
隣接する測定視野での測定結果の結合に当該隣接する視野のオーバラップ領域が適する程度を示す評価値を算出する評価手段と
を備え、
前記測定位置設定手段は、前記評価手段による評価値の算出前に測定位置を予め設定し、
前記評価手段は、算出した評価値に基づき測定位置設定手段が予め設定した測定位置の適否を判定し、
前記評価手段が前記測定位置を不適と判定した場合、前記測定位置設定手段は、評価値が結合に適さないことを示す値となる領域が、再設定後における測定視野の1つの中央に位置するよう測定位置を再設定することを特徴とする画像測定装置。 - 前記評価手段は、前記オーバラップ領域の少なくとも所定割合を占めるサブ領域の評価値と所定の閾値との比較結果に応じて前記測定位置の適否を判定することを特徴とする請求項1に記載の画像測定装置。
- 前記評価手段は、前記測定対象範囲の設計データに基づき前記評価値を算出することを特徴とする請求項1又は2に記載の画像測定装置。
- 前記評価手段は、前記測定対象範囲の画像データに基づき前記評価値を算出することを特徴とする請求項1又は2に記載の画像測定装置。
- 前記測定対象範囲の前記画像データを撮像する撮像手段を更に備えることを特徴とする請求項4に記載の画像測定装置。
- 前記複数の測定視野で測定した複数の測定結果を合成して、測定対象範囲を包含する1つの測定結果を出力する合成手段をさらに備えることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の画像測定装置。
- コンピュータを、請求項1から6のいずれか1項に記載の画像測定装置における、測定位置設定手段および評価手段として機能させることを特徴とするプログラム。
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