JP6199596B2 - 光学エンコーダ用の照明部 - Google Patents

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Description

本願は、大略、精密測定器に関し、特に、光学式変位エンコーダに関する。
読取ヘッドを用いた種々の光学式変位エンコーダが知られており、この読取ヘッドは、スケールパターンを自読取ヘッドのフォトディテクタアレイへ撮像する光学配置を有する。スケールパターンのイメージはスケールメンバと共に変位し、変位したスケールパターンイメージの移動又は位置はフォトディテクタアレイで検出される。従来の画像処理である自己結像(タルボ・イメージング(Talbot imaging)とも呼称される)及び/又はシャドウ・イメージング(shadow imaging)が、種々の構成においてスケールパターンイメージを提供するために使用され得る。
光学エンコーダは、インクリメンタル位置又はアブソリュート位置スケール構造を利用し得る。インクリメンタル位置スケール構造は、スケールに対する相対的な読取ヘッドの変位が、変位の増分単位を累積することによって決定され、スケールに沿った初期ポイントから開始できるようにする。このようなエンコーダは、特定の用途、特にライン電力が利用可能である用途に適している。しかしながら、低消費電力の用途(例えば、バッテリ駆動の計測器等)においては、アブソリュート位置スケール構造を用いることがより望ましい。アブソリュート位置スケール構造は、スケールに沿った各位置で、一意な出力信号又は信号の組合せを供給する。アブソリュート位置スケール構造は、位置を特定するために、増分変位を継続的に累積することを必要としない。よって、アブソリュート位置スケール構造は、種々の電力節約スキームを可能にする。種々の光学的、容量的又は誘導的なセンシング技術を用いる様々なアブソリュート位置エンコーダが知られている。特許文献1〜11は、アブソリュート位置エンコーダに関する種々のエンコーダ構成及び/又は信号処理技術を開示しており、参照によって本明細書に取り込まれる。
幾つかの光学エンコーダで利用される構成の一種が、テレセントリック配置である。参照によって本明細書に取り込まれる特許文献12〜14の各々は、光源の周期パターンを撮像し、且つ周期的なパターン構造の変位をセンシングするための片側又は両側テレセントリック結像系を開示している。テレセントリック結像系は、このような光学エンコーダにおいて必要な幾つかの機能を提供する。
このような光学エンコーダの設計に関する一つの問題は、ユーザが、一般に読取ヘッド及びエンコーダのスケールが出来るだけコンパクトなことを好む点である。コンパクトなエンコーダは、様々な用途へ導入するのにより都合が良い。特定の精密測定の用途に対しては、高い分解能も要求される。しかしながら、従来技術は、高分解能、レンジ・分解能比、ロバスト性、コンパクトサイズの組合せや、多くのエンコーダ分解能が共有の製造技術及び部品を用いて提供されるのを可能にする設計特性を提供し、且つユーザが所望するようなエンコーダの低コスト化を促進する構成を教示していない。このような組合せを提供するようエンコーダの構成が改良されることが望ましい。
アメリカ合衆国特許第3,882,482号 アメリカ合衆国特許第5,965,879号 アメリカ合衆国特許第5,279,044号 アメリカ合衆国特許第5,886,519号 アメリカ合衆国特許第5,237,391号 アメリカ合衆国特許第5,442,166号 アメリカ合衆国特許第4,964,727号 アメリカ合衆国特許第4,414,754号 アメリカ合衆国特許第4,109,389号 アメリカ合衆国特許第5,773,820号 アメリカ合衆国特許第5,010,655号 アメリカ合衆国特許第7,186,969号 アメリカ合衆国特許第7,307,789号 アメリカ合衆国特許第7,435,945号
本概要は、詳細な説明にて後述する概念の一部を簡素化して導入するものである。本概要は、発明主題の重要な特徴を特定することを意図するものでも、発明主題の範囲を決定するための補助として用いられることを意図するものでも無い。
ここで開示する原理は、高分解能、レンジ・分解能比、コンパクトサイズ、ロバスト性の改良された組合せを提供するよう光学式変位エンコーダ構成を改良することを対象とし、且つ多くのエンコーダ分解能が共有の製造技術及び部品を用いて提供されることを可能にする。
先のアメリカ合衆国特許出願13/717,586の開示には、エンコーダ変位信号の関連エラーを軽減するために、照明部において、零次光がエンコーダスケール格子へ到達するのを実質的に阻止する位相格子を用いることが含まれる。また、他のエンコーダ構成は、結像構成の開口において、不要な零次光がディテクタへ到達するのを実質的に阻止する遮断部を利用している。しかしながら、本願発明者らは、これらの方法が、依然として残留零次光(例えば、約数パーセント或いはそれ未満の信号光)を許容し、ディテクタ部にて提供される空間的に変調されたイメージ光に不要な周期的なエラーを生じさせていることを見出した。このため、零次光伝播の軽減について更なる改善が、幾つかのエンコーダ構成において望ましいものとして残っている。
ここで開示する種々の実施形態において、照明部は、スケール格子、結像部及びディテクタ部を含む光学エンコーダに用いられる。前記照明部は、波長λを有する光を出力する光源と、前記光を入力すると共に、測定軸方向に対して横方向に配向される照明フリンジパターンを含む構造化照明を出力する構造化光生成部と、第1のフィルタレンズと、空間フィルタ開口構成と、第2のフィルタレンズと、を含む。前記第1のフィルタレンズは、前記構造化照明の焦点を、前記空間フィルタ開口構成の平面の直近に合せる。前記空間フィルタ開口構成は、前記構造化照明の零次部分を遮断する中央部と、前記構造化照明の+1次及び−1次部分を前記第2フィルタレンズへ出力する開口部とを含む。前記第2のフィルタレンズは、前記スケール格子の平面に対して、前記構造化照明を、前記スケール格子に一致する平面にて前記測定軸方向に沿って照明フリンジピッチPMIを有するフィルタされた構造化照明として出力する。
幾つかの実施形態において、前記構造化光生成部は、前記光源と前記第1のフィルタレンズとの間に設置されて、回折光を前記第1のフィルタレンズへ出力するソース格子を含んでも良い。幾つかの実施形態において、前記照明部は、前記光源と前記第1のフィルタレンズとの間に設置されて、前記光源により出力される光をコリメートするレンズを更に含んでも良い。幾つかの実施形態において、前記照明部は、第1のフィルタレンズと、空間フィルタ開口構成と、第2のフィルタレンズとを更に含んでも良い。前記第1のフィルタレンズは、前記構造化照明の焦点を、空間フィルタ開口構成の平面の直近に合せる。前記空間フィルタ開口構成は、前記構造化照明の零次部分を遮断する中央部と、前記構造化照明の+1次及び−1次部分を前記第2フィルタレンズへ出力する開口部とを含む。前記第2のフィルタレンズは、前記構造化照明を、前記スケール格子の平面へ出力する。幾つかの実施形態において、直線偏光子が、前記光源からコヒーレントなコリメート光を入力し、直線偏光された光を出力しても良い。偏光ビームスプリッタが、前記第2のフィルタレンズからの空間的にフィルタされた構造化光を、4分の1波長板へ反射しても良い。前記4分の1波長板は、前記第2のフィルタレンズからの光を円偏光して、前記スケール格子へ出力しても良い。前記スケール格子は、円偏光を伴って空間的に変調されたイメージ光を反射しても良い。前記4分の1波長板は、円偏光を伴う前記空間的に変調されたイメージ光を入力し、直線偏光され且つ直線偏光を伴って空間的に変調されたイメージ光を、前記偏光ビームスプリッタへ出力しても良い。前記偏光ビームスプリッタは、直線偏光を伴う前記空間的に変調されたイメージ光を、前記結像部へ伝送しても良い。幾つかの実施形態において、前記照明部は、前記光源と前記第1のフィルタレンズとの間に設置されて、回折光を前記第1のフィルタレンズへ出力するソース格子を更に含んでも良い。幾つかの実施形態において、前記ソース格子は、振幅格子であっても良い。
当然のことながら、方法は、主として、結像及び空間フィルタリングの観点から説明されるが、このような概念は、回折光線等を含む光学システムの光線要素の観点からも説明され得る。
両側テレセントリック配置と、アブソリュート、原点及びインクリメンタルトラックパターンを有するスケールとを備え、従来の画像処理技術を利用するエンコーダ構成の部分的な概略分解図である。 図1のエンコーダ構成の、インクリメンタルスケールトラックパターン、イメージ強度及びディテクタ配置の図である。 図1のエンコーダ構成の、インクリメンタルスケールトラックパターン、イメージ強度及びディテクタ配置の図である。 図1のエンコーダ構成の、インクリメンタルスケールトラックパターン、イメージ強度及びディテクタ配置の図である。 両側テレセントリック配置と、アブソリュート、原点及びインクリメンタルトラックパターンを有するスケールとを備え、ここに開示する原理に従った空間フィルタリング及び結像原理を利用するエンコーダ構成の部分的な概略分解図である。 図3のエンコーダ構成の、照明フリンジパターン、インクリメンタルスケールトラックパターン、結果としてのモアレイメージ強度及びディテクタ配置の図である。 図3のエンコーダ構成の、照明フリンジパターン、インクリメンタルスケールトラックパターン、結果としてのモアレイメージ強度及びディテクタ配置の図である。 図3のエンコーダ構成の、照明フリンジパターン、インクリメンタルスケールトラックパターン、結果としてのモアレイメージ強度及びディテクタ配置の図である。 図3のエンコーダ構成の、照明フリンジパターン、インクリメンタルスケールトラックパターン、結果としてのモアレイメージ強度及びディテクタ配置の図である。 以前特許文献12に組み込まれた図26及び図27に含まれる基本的な設計参照情報を示し、種々の設計パラメータセットに対応する変調伝達関数を示すチャート図である。 以前特許文献12に組み込まれた図26及び図27に含まれる基本的な設計参照情報を示し、測定軸方向に沿った開口部の幅上における、%DOF(dependence of depth of field)、空間調和性及び光信号パワーを示すチャート図である。 図1のエンコーダ構成の一実施形態の部分的な概略分解図である。 図3のエンコーダ構成の一実施形態の部分的な概略分解図である。 図8の実施形態の位相格子部の代替構成の図である。 図1のエンコーダ構成のスケールトラックパターン配置の図である。 図3のエンコーダ構成のスケールトラックパターン配置の図である。 図3のエンコーダ構成用の種々のスケール及びディテクタトラックの組合せのためのパラメータを示すテーブルである。 両側テレセントリック配置を介した異なる光路を示す概略断面図である。 ここに開示する原理に係るエンコーダ構成の実用的な実装の他の実施形態である構成を示す。 ここに開示する原理に係るエンコーダ構成の実用的な実装の他の実施形態である構成を示す。 図13に示す構成の分析を示し、位相格子がどのようにして、ディテクタ上に光強度信号を与える使用可能な回折次数を提供するのかを示す。 照明部の第1の代替実施形態を含むエンコーダ構成の部分的な概略分解図である。 図15の構成要素に加えて構成要素を含み且つ反射的なエンコーダ構成で使用され得る、照明部の第2の代替実施形態を含むエンコーダ構成の部分的な概略分解図である。
前述した態様、及びこれらに付随する効果の多くは、以下の詳細な説明を図面と共に参照することにより良く理解されるものと同等のものとして、より容易に理解されるであろう。
図1は、両側テレセントリック配置と、アブソリュート、原点及びインクリメンタルトラックパターンを有するスケールとを備え、従来の画像処理技術を利用する光学式変位エンコーダ構成100の部分的な概略分解図である。エンコーダ構成100の幾つかの態様は、同時係属中の同一出願人による、アメリカ合衆国特許出願12/535,561、及び2008年11月18付けで提出したアメリカ合衆国特許出願12/273,400(以下、'400出願)に記載のエンコーダ構成と同様である。これらは、参照によって本明細書に取り込まれる。エンコーダ構成100は、比較的粗いピッチ(例えば、20μm)を有するインクリメンタルスケールトラックで正確且つ効果的に動作できる。一方、図3を参照してより詳細に説明するように、ここで開示する方法は、非常に細かいピッチ(例えば、4μm)を有するインクリメンタルスケールトラックが同様の構成において利用可能なように用いても良い。
図1に示すように、エンコーダ構成100は、スケールエレメント110と、光源(図示せず)からの光の可視又は不可視波長を導くためのレンズ140と、両側テレセントリック結像構成180とを含む。両側テレセントリック結像構成180は、第1レンズ平面FLPにおける第1レンズ181と、開口平面APにおける開口部品182'中の開口部182と、第2レンズ平面SLPにおける第2レンズ183と、検出平面DPにおけるディテクタエレクトロニクス120とを備える。少なくとも一の実施形態において、スケールエレメント110は、第1レンズ平面FLPから距離dだけ離隔される。第1レンズ平面FLPは、開口平面APから焦点距離fだけ離隔される。開口平面APは、第2レンズ平面SLPから焦点距離f'だけ離隔される。第2レンズ平面SLPは、検出平面DPから距離d'だけ離隔される。ディテクタエレクトロニクス120は、信号生成・処理回路190へ接続しても良い。光源も、電力及び信号接続(図示せず)により信号生成・処理回路190へ接続しても良い。
図1に示す実施形態において、スケールエレメント110は、3つのスケールトラックパターン、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1、原点スケールトラックパターンTREF1、及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1から成るスケールパターン115を含む。トラックパターンTABS1は、絶対的な測定範囲に亘るアブソリュートスケールを決定するのに利用可能な信号を供給するため、アブソリュートスケールトラックパターンと呼称する。少なくとも一の実施形態においては、任意の従来のアブソリュートスケールパターンを、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1として利用しても良い。少なくとも一の実施形態において、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1は、ほぼX軸に沿った検出幅上で、非常に"粗い"ABS分解能を有し得る。
インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1のためには、少なくとも一の実施形態において、そのインクリメンタルピッチが比較的粗い(例えば、20μm)であろう。図3を参照してより詳細に後述する如く、ここで開示する方法を利用する同様のサイズのエンコーダ構成において、細かいピッチ(例えば、4μm)を使用可能にしても良い。原点スケールトラックパターンTREF1は、特定のインクリメンタル波長を示すことが可能なレベルへ分解できるように形成され、以て(例えば、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの)インクリメンタル波長を、(例えば、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1からの)アブソリュートマークに対して明確にする。図10Aを参照してより詳細に後述する如く、少なくとも一の実施形態においては、原点スケールトラックパターンTREF1が一連の原点マークから成り得る。少なくとも一の実施形態において、原点マークは、一連のベーカー(backer)パターンとして形成しても、バーニア(Vernier)原点マークとして機能しても、様々な周知技術に従って形成しても良い。
図1は、慣例に従って、直行するX、Y及びZ方向を示している。X及びY方向は、スケールパターン115の平面と平行であり、X方向は、意図する測定軸方向MA 82と平行(例えば、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1に含まれ得る長細いパターンエレメントと垂直)である。Z方向は、スケールパターン115の平面と垂直である。
ディテクタエレクトロニクス120は、3つのスケールトラックパターンTABS1、TREF1及びTINC1それぞれから光を受信するよう配置された、3つのディテクタトラックDETABS1、DETREF1及びDETINC1から成るディテクタ構成124を含む。ディテクタエレクトロニクス120は、信号処理回路136(例えば、信号オフセット及び/又はゲイン調整、信号増幅、並びに結合回路等)を含んでも良い。少なくとも一の実施形態において、ディテクタエレクトロニクス120は、単一のCMOS ICとして製造しても良い。
動作において、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1用のイメージチャネルで例示すると、照明光源からの光は、レンズ140によって、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1を光源光131で照らすように導かれる。幾つかの実施形態において、光源光131はコヒーレント光である。そして、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1は、スケール光132を出力する。当然のことながら、X方向に沿って開口幅AWを有する限界開口182は、(図2を参照してより詳細に後述する如く)インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1用のイメージチャネルを通過する光線を選択又は制限する空間フィルタとして機能する。図1は、3つのこのような光線、2つの端光線及び1つの中心光線を示している。図1に示すように、レンズ181は、光線を限界開口182へ伝送する。限界開口182は、光線を、空間的にフィルタされたイメージ光133として第2レンズ183へ伝送する。第2レンズ183は、空間的にフィルタされたイメージ光を伝送及び集光して、スケールトラックパターンTINC1のイメージをディテクタトラックDETINC1にて形成する。
このように、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1は、照らされた場合に、トラック固有に空間変調された光パターンをディテクタエレクトロニクス120のディテクタトラックDETINC1へ出力する。空間変調された光パターンのイメージは、ディテクタトラックDETINC1と同一平面上であり得るイメージ平面IMGPにて形成される(図1では、イメージ平面IMGPは説明のために独立して示されている)。イメージ平面IMGPに示すように、スケールイメージSIのパターンは、変調されたスケールイメージピッチPSIを有している。一の具体的な実施形態において、ピッチPSIは比較的粗くても良い(例えば、20μm)。
インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの空間変調された光パターンのディテクタトラックDETINC1上での結像と同様、スケールトラックパターンTREF1及びTABS1がレンズ140からの光によって照らされると、これらのパターンTREF1及びTABS1は、トラック固有に空間変調された光パターン(例えば、これらのパターンに対応するパターン光)を、ディテクタエレクトロニクス120のトラック固有のディテクタトラックDETREF1及びDETABS1へそれぞれ出力する。上述した通り、(例えば、ベーカーパターンを有する)原点スケールトラックパターンTREF1は特定のインクリメンタル波長を示し、以てインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの波長を、アブソリュートトラックパターンTABS1からのアブソリュートマークに対して明確にする。当然のことながら、空間変調された光パターンの全てが、スケール110と共に移動する。
図11を参照してより詳細に後述する通り、ディテクタトラックDTEINC1、DETABS1及びDETREF1の各々においては、個別のフォトディテクタ領域が、受信した空間変調された光パターンを空間的にフィルタして、信号(例えば、直交信号を生成するインクリメンタルディテクタトラックDETINC1、又は信号補間をもたらす空間的な位相関係を有する他の周期信号)を示す所望の位置を提供するために配置される。幾つかの実施形態においては、個別のフォトディテクタ領域よりはむしろ、個別の開口を有する空間フィルタマスクが、比較的大きなフォトディテクタをマスクして、個別のフォトディテクタ領域に類似する光受信エリアを提供し、周知技術に従った類似の全体的なシグナル効果を提供しても良い。
種々の用途において、ディテクタエレクトロニクス及び光源は、互いに固定された関係で、例えば読取ヘッダ又はゲージ筐体(図示せず)中に実装され、周知技術に従い、ベアリングシステムによりスケール110に関連する測定軸に沿って導かれる。種々の用途において、スケールは、ムービングステージ又はゲージスピンドル等に取り付けられても良い。当然のことながら、図1に示す構成は透過型の構成である。すなわち、スケールパターン115は、空間変調された光パターンを透過によってディテクタトラックへ出力する遮光部及び光伝達部(例えば、周知の薄膜パターニング技術を用いて透明基板上に組み上げられる)を備えている。当然のことながら、同様の構成要素が反射的な実施形態において配置され得て、周知技術に従い必要に応じて、光源及びディテクタエレクトロニクスは、スケール110と同側に配置され、角度のある照明及び反射のために設置される。
透過的なスケールパターン又は反射的なスケールパターンのいずれにおいても、ディテクタトラック(例えば、DETABS1、DETREF1又はDETINC1)で検出された光を提供するスケールパターンの部分は、当該スケールパターンの部分を生成する信号として参照され得て、当然のことながら、スケールパターンの他の部分は、一般に出来るだけ僅かな光を提供し、種々の用途において、ここでの教示に従ってパターニングされ得る。換言すると、互いに"ネガティブ"なスケールパターンは、共に使用可能な信号を生成し、その信号変化も、一定の反射的又は透過的な配置のためにおおよそ互いに"ネガティブ"である。よって、スケールパターンは、"信号変動部"の観点から説明しても良く、当然のことながら種々の用途において、信号変動部は、信号生成部或いはスケールパターンの信号逓減部を備える。
図2A〜2Cは、図1のインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1に対応する光信号チャネルに関する種々の態様を示している。より具体的には、図2Aは、スケールピッチPSLを有するインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1を示している。図2Bは、検出平面DPにおいてインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの光によってもたらされるイメージ強度信号IMG1のグラフ図である。図2Bに示すように、結果としてのイメージ強度は、(例えば、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からのフィルタされていない信号から生成され得るような方形波とは反対の)ほぼ正弦波の信号を生成するように(例えば、開口部182によって)空間的にフィルタされており、信号周期PISCを有している。図2Cは、インクリメンタルディテクタトラックDETINC1の図であり、説明のために、図2Bのイメージ強度信号IMG1のイメージがディテクタトラックDETINC1に重ね合せられている。図2Cに示すように、ディテクタトラックDETINC1は、直交信号を出力するよう、ディテクタトラック波長λの1周期内に在る4つのディテクタエレメントに接続されている。ディテクタトラック波長λの1周期は、イメージ強度信号IMG1の1周期PISCにも対応する。
図3は、両側テレセントリック配置と、アブソリュート、原点及びインクリメンタルトラックパターンを有するスケールとを備え、ここで開示する原理に従った空間フィルタリング及び結像技術を利用するエンコーダ構成300の部分的な概略分解図である。エンコーダ構成300の幾つかの構成要素及び動作原理は、図1のエンコーダ構成100と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図3において、図1中の一連の番号1XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号3XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下で特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。
図3に示すように、エンコーダ構成300は、スケールエレメント310と、照明システム/部360と、両側テレセントリック結像構成380とを含む。照明システム/部360は、光の可視又は不可視波長を発する光源330(例えば、LED)と、レンズ340と、位相格子350とを含む。より詳細に後述する如く、少なくとも一の実施形態において、位相格子350は、構造化された光パターンを生成するために利用され得て、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2用であるが、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2用では無い光信号パスチャネル内に位置し得る。両側テレセントリック結像構成380は、第1レンズ平面FLPにおける第1レンズ381と、開口平面APにおける開口部品382'中の開口部382と、第2レンズ平面SLPにおける第2レンズ383と、検出平面DPにおけるディテクタエレクトロニクス320とを備える。ディテクタエレクトロニクス320は、信号生成・処理回路390へ接続しても良い。光源330も、電力及び信号接続(図示せず)により信号生成・処理回路390へ接続しても良い。
図3に示す実施形態において、スケールエレメント310は、3つのスケールトラックパターン、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2、原点スケールトラックパターンTREF2、及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2から成るスケールパターン315を含む。少なくとも一の実施形態においては、従来のアブソリュートスケールトラックパターンを、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2として利用しても良い。少なくとも一の実施形態において、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2は、ほぼX軸に沿った検出幅上で、比較的"粗い"ABS分解能を有し得る。
より詳細に後述する通り、エンコーダ構成300は、微細なピッチスケールがスケール変位をセンシングする安価なディテクタの検出ピッチ又はエレメントピッチに対応するより大きなピッチフリンジを提供可能にする幾つかの空間フィルタリング及び結像原理を利用するよう設計される。所望のフリンジを生成するため、位相格子350は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2のピッチに近いピッチ(例えば、4μmのインクリメンタルスケールトラックピッチ及び4.1μmの原点スケールトラックピッチと比して、5μmの位相格子ピッチ)を有するよう設計される。結果としての位相格子350及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2からのフリンジ周期は、比較的粗く(例えば、20μm)、位相格子350及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2により生成されるフリンジ周期(例えば、22.77μm)と僅かに異なり得る。
より詳細に後述する通り、検出パターンは、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2に対応する高い空間周波数をぼやけさせる又は除去する開口部382を含む両側テレセントリック結像構成380によって、空間的にフィルタされた状態で結像される。幾つかの実施形態においては、パラメータが選択され、以て空間的にフィルタリングされたパターンの変調イメージピッチが、所定のディテクタ(例えば、20μmのインクリメンタルスケールトラックピッチ用に設計されたディテクタ)のピッチに一致する。適切な開口幅が、高い空間周波数を除去し且つ所望のパターンフリンジ周期をもたらすといった所望の空間フィルタリングの効果を奏するように選択され得る。所望の空間波長フィルタリングを達成するための開口幅等に関する幾つかの教示は、同一出願人による特許文献12により詳細に記載されており、参照によって本明細書に取り込まれる。
図10Bを参照してより詳細に後述する通り、少なくとも一の実施形態において、原点スケールトラックパターンTREF2は、ベーカーパターンとして形成され得る一連の原点マークを含んでも良い。原点マークは、バーニア原点マークとして機能しても良い。原点スケールトラックパターンTREF2は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2用の特定のインクリメンタル波長を示すことが可能なレベルへ分解できるように形成され、以てインクリメンタル波長を、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2からのアブソリュートマークに対して明確にする。少なくとも一の実施形態において、原点トラックパターンTREF2(例えば、ベーカーパターン)及びインクリメンタルトラックパターンTINC2の組合せは合成波長を作成し得て、これらの測定された合成位相は正しいインクリメンタルスケールトラックパターン・サイクルを指し示す(例えば、測定された零の合成位相は、当該位相に対応する正しいインクリメンタルサイクルを示し得る)。
具体例として、原点スケールトラックパターンTREF2は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2のピッチ(例えば、20μmの周期で、変調され且つ空間的にフィルタされたフリンジパターンを生成する4.0μm)と比して、僅かに異なるピッチ(例えば、22.77μmの周期で、変調され且つ空間的にフィルタされたフリンジパターンを生成する4.1μm)を有し得て、この結果、原点スケールトラックパターンの位相が、特定の長さに沿った一つの特定ポイントのみでインクリメンタルスケールトラックパターンの位相と一致する(例えば、原点スケールトラックパターン内のベーカーパターン長に沿った一つのポイントで一致するのみである)。位相が一致する位置は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2用の特定のインクリメンタル波長を規定する。
一の具体的な実施形態において、原点スケールトラックパターンTREF2においては、ベーカーパターンが選択された間隔(例えば、0.6ミリメートル)で提供されても良い。(例えば、パターン中心での)各ベーカーパターンの位相は、特定の距離(例えば、0.6ミリメートル)だけ離れた位置でのインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1の位相と一致する(又は、当該位相から一定の位相オフセットを有する)。インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2の合成波長は、ベーカーパターン長より大きい。少なくとも一の実施形態において、この関係は、インクリメンタルスケールトラックパターン及び原点(例えば、ベーカー)スケールトラックパターンの合成波長がベーカーパターン長Lより大きいことを、L<pp'/(p'−p)と記述することによって表現され得る。ここで、pは、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2のピッチであり、p'は、原点スケールトラックパターンTREF2におけるベーカーパターンのピッチである。
図3に示すように、ディテクタエレクトロニクス320は、3つのスケールトラックパターンTABS2、TREF2及びTINC2それぞれから光を受信するよう配置された、3つのディテクタトラックDETABS2、DETREF2及びDETINC2から成るディテクタ構成325を含む。ディテクタエレクトロニクス320は、信号処理回路326(例えば、信号オフセット及び/又はゲイン調整、信号増幅、並びに結合回路等)を含んでも良い。少なくとも一の実施形態において、ディテクタエレクトロニクス320は、単一のCMOS ICとして製造しても良い。
動作において、光源330から発せられた光331(一次光)は、レンズ340により、3つのスケールトラックパターンTABS2、TREF2及びTINC2を照らすのに十分なビーム領域で部分的又は全体的に平行化される。位相格子350は、上述した変調され且つ空間的にフィルタされた結像効果を達成するため、ソース光を回折して、回折された構造化光331'を(アブソリュートスケールトラックパターンTABS2では無く)原点スケールトラックパターンTREF2及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2へ与えるように形成される。そして、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2用のイメージチャネルで例示すると、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2は、スケール光332をレンズ381へ与える。当然のことながら、X軸方向に沿って開口幅AWを有する限界開口382は、(図4〜12を参照してより詳細に後述する如く)イメージチャネルを通過する光線を選択又は制限する空間フィルタとして機能する。図3は、3つのこのような光線、2つの端光線及び1つの中心光線を示している。図3に示すように、レンズ381は、光線を限界開口382へ伝送する。限界開口382は、光線を、空間的にフィルタされたイメージ光333として第2レンズ383へ伝送する。第2レンズ383は、空間的にフィルタされたイメージ光を伝送及び集光して、空間変調された光パターンをディテクタトラックDETINC2にて形成する。上述した通り、及び図4を参照して詳細に後述する通り、ここで開示する原理に従って、ディテクタトラックDETINCにおける空間変調された光パターンは、変調且つ空間的にフィルタされたフリンジパターンを備えている。
同様に、スケールトラックパターンTREF2及びTABS2は、照らされると、トラック固有に空間変調された光パターン(例えば、各パターンに対応するパターン化された光)を、ディテクタエレクトロニクス320のトラック固有のディテクタトラックDETREF2及びDETABS2へそれぞれ出力する。上述した通り、ディテクタトラックDETREF2における空間変調された光パターンは、変調且つ空間的にフィルタされたフリンジパターンを備えている。当然のことながら、空間変調された光パターンの全てがスケール310と共に移動する。ディテクタトラックDETINC2、DETABS2及びDETREF2各々に対応する光信号チャネルにおいて、個別のフォトディテクタ領域が、受信した空間変調された光パターンを空間的にフィルタして、信号(例えば、直交信号を生成するインクリメンタルディテクタトラックDETINC2、又は信号補間をもたらす空間的な位相関係を有する他の周期信号)を示す所望の位置を提供するために配置される。幾つかの実施形態においては、個別のフォトディテクタ領域よりはむしろ、個別の開口を有する空間フィルタマスクが、比較的大きなフォトディテクタをマスクして、周知技術に従った類似の全体的なシグナル効果を提供するために説明した個別のフォトディテクタ領域に類似する光受信エリアを提供しても良い。
種々の用途において、ディテクタエレクトロニクス320及び光源330は、互いに固定された関係で、例えば読取ヘッダ又はゲージ筐体(図示せず)中に実装され、周知技術に従い、ベアリングシステムによりスケール310に関連する測定軸に沿って導かれる。種々の用途において、スケールは、ムービングステージ又はゲージスピンドル等に取り付けられても良い。
図4A〜4Dは、図3のインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2に対応する光信号チャネルに関する種々の態様を示している。より具体的には、図4Aは、位相格子350によって生成される照明フリンジパターンIFPを示している。照明フリンジパターンIFPは、ピッチPMI(例えば、5μm)を有するように示されている。図4Bは、スケールピッチPSF(例えば、4μm)を有するインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2を示している。図4Cは、検出平面DPにおいて位相格子350及びインクリメンタルスケールトラックTINC2の組合せからの光によってもたらされるイメージ強度信号IMG2のグラフ図である。図4Cに示すように、結果としてのイメージ強度は、変調されたイメージピッチPIMESF(例えば、20μm)を有する全体的な正弦波のエンベロープパターンと共にうなり周波数を伴うモアレフリンジを含む。上述した通り、イメージ強度は、変調されたイメージピッチPIMESFを伴うモアレ結像フリンジ用にほぼ正弦波のエンベロープ信号を生成するために、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2からの高周波信号HFSを除去するよう(例えば、開口部182によって)空間的にフィルタされている。
種々の実施形態において、開口部350は、開口幅AW=F*λ*(a/(PMISF/((PMI−PSF)))であるように構成される。ここで、aは、2.0より大きく且つ6.0未満である。空間変調されたイメージ光は、値Δnだけ異なる2つの回折次数の干渉から形成されるフリンジ(図4Cに詳細に示す)を備えている。幾つかの実施形態において、例えば、モアレイメージ強度信号IMG2が、スケール光332のa+1及びa−1回折次数要素の重複に由来しているならば、Δn=2である。他の例示的な実施形態においては、Δnは1又は4であり得る。イメージ強度信号IMG2は、スケールピッチPSF及び照明フリンジピッチPMIに依存する空間波長PIMESFを有する強度変調エンベロープによって変調される。PSF及びPMIは、ディテクタトラックDETINC2のディテクタピッチPdと協調して選択され、以て光源が非コヒーレント光を出力する場合に、ΔnPMISF/(ΔnPMI−PSF)=PIMESF=m*Pd/kが成立し、光源がコヒーレント光を出力する場合には、ΔnPMISF/(2ΔnPMI−PSF)=PIMESF=m*Pd/kが成立する。ここで、mは、ディテクタ部から出力される位相信号の数であり、kは、奇数の整数である。空間波長PIMESFは、スケールピッチPSFより大きい。
図4A、図4B及び図4Cの間に描画される一連の垂直参照ラインVRLは、図4BのインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2を通過する図4Aの照明フリンジパターンからの信号レベルの指標を提供し、結果としての図4Cのモアレイメージ強度中の信号強度に対応しているように見える。図4Dは、インクリメンタルディテクタトラックDETINC2の図であり、説明のために、図4Cのモアレイメージ強度信号IMG2のうなり周波数エンベロープのイメージがディテクタトラックDETINC2に重ね合せられている。図4Dに示すように、ディテクタトラックDETINC2は、直交信号を出力するよう、検出又はピッチPdの1周期内に在る4つのディテクタエレメントに接続されている。検出又はピッチPdの1周期は、モアレイメージ強度信号IMG2の1周期PIMESFにも対応する。
図5及び図6は、以前特許文献12に組み込まれた図26及び図27に含まれる基本的な設計参照情報を示している。種々の実施形態における開口サイズの選択に関して図5及び図6を使用することは、'969特許の開示に基づき理解され得るから、ここでは詳細には説明しない。但し、関連する教示が、この開示に照らして使用され得る。'969特許の開示の大部分は、非コヒーレント照明の観点からのものである。当業者は、結像系における非コヒーレント照明とコヒーレント照明の間の差異に関する周知の検討に基づいて、その教示に対して適切に適応するであろう。
図7は、図1のエンコーダ構成100の実用的な実装の一実施形態であるエンコーダ構成700の部分的な概略分解図である。エンコーダ構成700の幾つかの構成要素及び動作原理は、図1のエンコーダ構成100と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図7において、図1中の一連の番号1XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号7XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下で特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。
図7に示すように、エンコーダ構成700は、スケールエレメント710と、照明システム/部760と、両側テレセントリック結像構成780とを含む。照明システム/部760は、光の可視又は不可視波長を発する光源730(例えば、LED)と、レンズ740と、ビームスプリッタ755を含む。両側テレセントリック結像構成780は、第1レンズ平面FLPにおける第1レンズアレイ781と、開口平面APにおける開口部品782'中の開口アレイ782と、第2レンズ平面SLPにおける第2レンズアレイ783と、検出平面DPにおけるディテクタエレクトロニクス720とを備える。ディテクタエレクトロニクス720は、信号生成・処理回路(図示せず)へ接続しても良い。光源730も、電力及び信号接続(図示せず)により信号生成・処理回路へ接続しても良い。
レンズアレイ781及び783並びに開口アレイ782に関し、当然のことながら、これらは、図1のエンコーダ構成100の第1レンズ181、開口部182及び第2レンズ183と同様の個別要素を含む。図7中、各アレイにおいて、各個別要素は、同様に協調動作して、イメージチャネル又はイメージチャネル構成と呼称され得る個別のイメージパス又はチャネルを提供する。各イメージチャネルは、図1に関し上述したエンコーダ構成100の単独のレンズ及び開口部に対して同様に機能する。図7の実施形態において、多重イメージチャネルは、単独のイメージチャネルの品質が劣化する或いは阻害される場合に、残りのイメージチャネルが依然として正確なスケールパターンの結像を提供し得るという点において、汚染、欠陥、スケール波形等に関するシステムのロバスト性のための付加的レベルを提供するのに利用される。
図7の実施形態において、スケールエレメント710は、図1に関し上述した、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1、原点スケールトラックパターンTREF1及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1を含む3つのスケールトラックパターンから成るスケールパターン715を含む。少なくとも一の実施形態において、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1は、ほぼX軸に沿った検出幅上で、非常に"粗い"ABS分解能を有し得る。
インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1のためには、少なくとも一の実施形態において、そのインクリメンタルピッチが比較的粗く(例えば、20μm)ても良い。図8を参照してより詳細に後述する如く、細かいピッチ(例えば、4μm)が、ここで開示する方法に従った同様のサイズのエンコーダ構成において実現され得る。図10Aを参照してより詳細に後述する如く、少なくとも一の実施形態において、原点スケールトラックパターンTREF1は、一連のベーカーパターンとして形成されバーニア原点マークとしても機能するか、様々な周知技術に従って形成される一連の原点マークを備え得る。
ディテクタエレクトロニクス720は、3つのスケールトラックパターンTABS1、TREF1及びTINC1それぞれから光を受信するよう配置された、3つのディテクタトラックDETABS1、DETREF1及びDETINC1から成るディテクタ構成725を含む。ディテクタエレクトロニクス720は、信号処理回路(例えば、信号オフセット及び/又はゲイン調整、信号増幅、並びに結合回路等)を含んでも良い。少なくとも一の実施形態において、ディテクタエレクトロニクス720は、単一のCMOS ICとして製造しても良い。
動作において、光源730から発せられた光731(一次光)は、レンズ740によって部分的又は全体的に平行化され得て、ビームスプリッタ755を介し、3つのスケールトラックパターンTABS1、TREF1及びTINC1を照らすのに十分なビーム領域上に導かれる。そして、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1用のイメージチャネルで例示すると、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1は、ビームスプリッタ755によりレンズアレイ781へ方向を変えられるスケール光732を提供する。当然のことながら、開口アレイ782の各限界開口は、X方向に沿って開口幅AWを有し、(図2に関し上述したように)インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1用の所定のイメージチャネルを通過する光線を選択又は制限する空間フィルタとして機能する。図7に示す如く、各イメージチャネルのために、レンズアレイ781の対応するレンズが、光線を限界開口アレイ782の対応する開口部へ伝送する。そして、限界開口アレイ782の対応する開口部は、光線を、空間的にフィルタされたイメージ光733として第2レンズアレイ783の各レンズへ伝送する。第2レンズアレイ783の各レンズは、空間的にフィルタされたイメージ光を伝送及び集光して、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1の各位置に対応する空間変調された各光パターンを、ディテクタトラックDETINC1の各位置にて形成する。
このように、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1は、照らされると、トラック固有に空間変調された一連の光パターンを、各イメージチャネルに対応する、ディテクタエレクトロニクス720のディテクタトラックDETINC1の各位置へ出力する。空間変調された光パターンのイメージは、ディテクタトラックDETINC1と同一平面上であり得るイメージ平面IMGPにて形成される。
インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの空間変調された光パターンのディテクタトラックDETINC1上での結像と同様に、スケールトラックパターンTREF1及びTABS1は、レンズ740からの光で照らされると、トラック固有に空間変調された光パターン(例えば、各パターンに対応するパターン化された光)を、ディテクタエレクトロニクス720のトラック固有のディテクタトラックDETREF1及びDETABS1へそれぞれ出力する。上述した通り、(例えば、ベーカーパターンを有する)原点スケールトラックパターンTREF1は、特定のインクリメンタル波長を示すよう分解でき、以てインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの波長を、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1からのアブソリュートマークに対して明確にする。ディテクタトラックDETINC1、DETABS1及びDETREF1の各々においては、個別のフォトディテクタ領域が、受信した空間変調された各光パターンを空間的にフィルタして、信号(例えば、直交信号を生成するインクリメンタルディテクタトラックDETINC1、又は信号補間をもたらす空間的な位相関係を有する他の周期信号)を示す所望の位置を提供するために配置される。
種々の用途において、ディテクタエレクトロニクス及び光源は、互いに固定された関係で、例えば読取ヘッダ又はゲージ筐体(図示せず)中に実装され、周知技術に従い、ベアリングシステムによりスケール710に関連する測定軸に沿って導かれる。種々の用途において、スケールは、ムービングステージ又はゲージスピンドル等に取り付けられても良い。図7に示す構成は、反射的な構成である。すなわち、光源及びディテクタエレクトロニクスは、スケール710と同側に配置され、周知技術に従って、角度のある照明及び反射のために設置される。よって、スケールパターン715は、空間変調された光パターンを反射によってディテクタトラックへ出力する光吸収部及び光反射部(例えば、周知の反射技術を用いて基板上に組み上げられる)を備えている。当然のことながら、同様の構成要素が透過的な実施形態(例えば、図1参照)において配置され得る。
図8は、図3のエンコーダ構成300の実用的な実装の一実施形態であるエンコーダ構成800の部分的な概略分解図である。エンコーダ構成800の幾つかの構成要素及び動作原理は、図3のエンコーダ構成300と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図8において、図3中の一連の番号3XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号8XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下で特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。
図8に示すように、エンコーダ構成800は、スケールエレメント810と、照明システム/部860と、両側テレセントリック結像構成880とを含む。照明システム/部860は、光の可視又は不可視波長を発する光源830(例えば、LED)と、レンズ840と、位相格子850と、ビームスプリッタ855を含む。より詳細に後述する如く、少なくとも一の実施形態において、位相格子850は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2用であるが、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2用では無い光チャネル内に位置及び配置しても良い。両側テレセントリック結像構成880は、第1レンズ平面FLPにおける第1レンズアレイ881と、開口平面APにおける開口アレイ882と、第2レンズ平面SLPにおける第2レンズアレイ883と、検出平面DPにおけるディテクタエレクトロニクス820とを備える。当然のことながら、レンズアレイ881及び883並びに開口アレイ882は、図7に関し上述したレンズアレイ781及び783並びに開口アレイ782と同様に配置されて機能する。ディテクタエレクトロニクス820は、信号生成・処理回路(図示せず)へ接続しても良い。光源830も、電力及び信号接続(図示せず)により信号生成・処理回路へ接続しても良い。
図8の実施形態において、スケールエレメント810は、図3に関し上述した、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2、原点スケールトラックパターンTREF2及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2を含む3つのスケールトラックパターンから成るスケールパターン815を含む。少なくとも一の実施形態において、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2は、ほぼX軸に沿った検出幅上で、比較的"粗い"ABS分解能を有し得る。図3に関し上述した通り、原点スケールトラックパターンTREF2及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2は、ここに開示する空間フィルタリング及び結像原理に従って、利用され結像される。
図8に示すように、ディテクタエレクトロニクス820は、3つのスケールトラックパターンTABS2、TREF2及びTINC2それぞれから光を受信するよう配置された、3つのディテクタトラックDETABS2、DETREF2及びDETINC2から成るディテクタ構成825を含む。ディテクタエレクトロニクス820は、信号処理回路(例えば、信号オフセット及び/又はゲイン調整、信号増幅、並びに結合回路等)を含んでも良い。一の実施形態において、ディテクタエレクトロニクス820は、単一のCMOS ICとして製造しても良い。
動作において、光源830から発せられた光831(一次光)は、レンズ840によって部分的又は全体的に平行化され得て、ビームスプリッタ855を介し、3つのスケールトラックパターンTABS2、TREF2及びTINC2を照らすのに十分なビーム領域上に導かれ得る。位相格子850は、ソース光を回折して、回折された構造化光831'を(アブソリュートスケールトラックパターンTABS2では無く) 原点スケールトラックパターンTREF2及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2へ与えるように形成される。そして、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2用のイメージチャネルで例示すると、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2は、ビームスプリッタ855によりレンズアレイ881へ方向を変えられるスケール光832を出力する。当然のことながら、開口アレイ882の各限界開口は、X方向に沿って開口幅AWを有し、(図4に関し上述したように)所定のイメージチャネルを通過する光線を選択又は制限する空間フィルタとして機能する。換言すると、上述した通り、空間フィルタリングは、位相格子及びインクリメンタルスケールトラックパターンによって生成されたイメージの高周波部分を効果的にぼやけさせ、この結果、残りの信号が、主として、構造化された照明のフリンジピッチとスケール格子のピッチとの間のうなり周波数と考えられ得る変調から成る。結果としての変調されたイメージピッチは、うなり周波数エンベロープの周期の測定である。
図8に示す如く、各イメージチャネルのために、レンズアレイ881の対応するレンズが、光線を限界開口アレイ882の対応する開口部へ伝送する。限界開口アレイ882の対応する開口部は、光線を、空間的にフィルタされたイメージ光833として第2レンズアレイ883の各レンズへ伝送する。第2レンズアレイ883の各レンズは、空間的にフィルタされたイメージ光を伝送及び集光して、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2の各位置に対応する空間変調された各光パターンを、ディテクタトラックDETINC2の各位置にて形成する。図4に関し上述した通り、ここに開示する原理に従って、ディテクタトラックDETINC2における空間変調された光パターンは、変調且つ空間的にフィルタされた結像フリンジパターンを備えている。
同様に、スケールトラックパターンTREF2及びTABS2は、照らされると、トラック固有に空間変調された光パターンを、ディテクタエレクトロニクス820のトラック固有のディテクタトラックDETREF2及びDETABS2へそれぞれ出力する。上述した通り、ディテクタトラックDETREF2における空間変調された光パターンも、変調且つ空間的にフィルタされた結像フリンジパターンを備えている。当然のことながら、空間変調された光パターンの全てがスケール810と共に移動する。ディテクタトラックDETINC2、DETABS2及びDETREF2の各々に対応する光信号チャネルにおいて、個別のフォトディテクタ領域が、受信した空間変調された各光パターンを空間的にフィルタして、信号(例えば、直交信号を生成するインクリメンタルディテクタトラックDETINC2、又は信号補間をもたらす空間的な位相関係を有する他の周期信号)を示す所望の位置を提供するために配置される。
種々の用途において、ディテクタエレクトロニクス820及び光源830は、互いに固定された関係で、例えば読取ヘッダ又はゲージ筐体(図示せず)中に実装され、周知技術に従い、ベアリングシステムによりスケール810に関連する測定軸に沿って導かれる。種々の用途において、スケールは、ムービングステージ又はゲージスピンドル等に取り付けられても良い。図8に示す構成は、反射的な構成である。すなわち、光源830及びディテクタエレクトロニクス820は、スケール810と同側に配置され、周知技術に従って、角度のある照明及び反射のために設置される。よって、スケールパターン815は、空間変調された光パターンを反射によってディテクタトラックへ出力する光吸収部及び光反射部(例えば、周知技術を用いて基板上に組み上げられる)を備えている。当然のことながら、同様の構成要素が透過的な実施形態(例えば、図3参照)において配置され得る。
図9は、図8のエンコーダ構成800の位相格子部の代替の実施形態を示すエンコーダ構成900の図である。図9に示すように、エンコーダ構成900は、スケールエレメント910と、光源930と、レンズ940と、2つの位相格子950A及び950Bと、ビームスプリッタ955とを含む。図8のエンコーダ構成800からの主たる差異は、エンコーダ構成900が、単独の位相格子850を利用するよりむしろ、2つの位相格子950A及び950Bを利用することである。一の実施形態において、位相格子950Aが、0.92μmの位相格子であり得る一方、位相格子950Bは、空隙を伴う(カップリングされていない)0.84μmの位相格子であり得る。この構成は、ビーム結合器がビームを完全に別個には分割する必要が無いという点において、コンパクトな設計を可能にする。一の具体的な実施形態においては、位相格子950A及び950Bを介した光伝送の後、光フリンジが、特定の周期(例えば、5μm)で生成され、インクリメンタルスケールトラックパターンTINCのピッチ(例えば、4μm)と相まって、特定の周期(例えば、20μm)で変調且つ空間的にフィルタされたフリンジを生成する。
図10A及び図10Bは、それぞれ、図1及び図3のエンコーダ構成のスケールトラックパターン配置の図である。図10Aに示すように、スケールトラックパターン配置1000Aは、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1と、原点スケールトラックパターンTREF1と、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1とを含む。上述した通り、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1は、絶対的な測定範囲に亘る絶対位置を決定するのに利用可能な信号を提供するものであり、図10Aの実施形態においては、スケールトラックパターンに沿った絶対位置を示すコード化された信号部分を含むように示されている。
インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1のため、そのインクリメンタルピッチが比較的粗く(例えば、20μm)示されている。図10Aに示す原点スケールトラックパターンTREF1の部分においては、4つの原点マークパターンRM1A〜RM1Dが、特定の間隔で発生するように示されている。一の実施形態において、原点マークは、ベーカーパターンとして形成され、様々な周知技術に従って形成され得る。原点マークは、バーニア原点マークとしても機能し得る。上述した通り、原点スケールトラックパターンTREF1は、特定のインクリメンタル波長を示すことが可能なレベルへ分解でき、以て(例えば、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC1からの)インクリメンタル波長を、(例えば、アブソリュートスケールトラックパターンTABS1からの)アブソリュートマークに対して明確にする。図10Aに示すように、スケールが、全体的な幅寸法X1を有する一方、スケールトラックパターンTABS1、TREF1及びTINC1によりカバーされる領域は、幅寸法X2を有する。具体的な実施形態においては、寸法X1が13ミリメートルに等しい一方、寸法X2は3.9ミリメートルに等しい。
図10Bに示すように、スケールトラックパターン配置1000Bは、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2と、原点スケールトラックパターンTREF2と、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2とを含む。スケールトラックパターンのための種々の可能な寸法及び構成は、図11に関してより詳細に後述される。大略、同然のことながら、スケールトラックパターン配置1000Bは、スケールトラックパターン配置1000A用に設計されたエンコーダ構成へ代用することが可能なように、図10Aのスケールトラックパターン配置1000Aと略同一サイズで設計される。図10Bに示すように、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2は、絶対的な測定範囲に亘る絶対位置を決定するのに利用可能な信号を提供し、図10AのアブソリュートスケールトラックパターンTABS1と同様のコード化された部分を備え得る。少なくとも一の実施形態において、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2は、ほぼX軸に沿った検出幅上で、非常に粗いABS分解能を有し得る。
図10Bに示すように、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2は、図10AのインクリメンタルスケールトラックパターンTINC1のピッチ(例えば、20μm)と比して、非常に細かいピッチ(例えば、4μm)を有するように示されている。図10Bに示す原点スケールトラックパターンTREF2の部分は、一連の4つの原点マークパターンRM2A〜RM2Dを含むように示されている。原点マークパターンRM2A〜RM2Dは、様々な周知技術に従って、ベーカーパターンとして形成され得る。原点マークパターンは、バーニア原点マークとしても機能し得る。原点スケールトラックパターンTREF2は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2用の特定のインクリメンタル波長を示すことが可能なレベルへ分解できるよう設計され、以てインクリメンタル波長を、アブソリュートスケールトラックパターンTABS2からのアブソリュートマークに対して明確にする。一の実施形態において、原点トラックパターンTREF2及びインクリメンタルトラックパターンTINC2の変調且つ空間的にフィルタされたイメージの組合せは、測定された合成位相が正しいインクリメンタルスケールトラックパターン・サイクルを指し示す(例えば、測定された零の合成位相は、当該位相に対応する正しいインクリメンタルサイクルを示し得る)合成波長を作成する。
一例として、図10Bの実施形態においては、原点マークパターンRM2A〜RM2Dの各々が、対応する位相マーカーPHS2A〜PHS2Dを有するように示されている。位相マーカーPHS2A〜PHS2Dの各々は、位置毎に完全に位置合せされた位相が発生するポイントを示している。換言すると、原点トラックパターンTREF2においては、原点マークパターン(例えば、RM2A〜RM2D)が選択された間隔(例えば、6ミリメートル)で設けられる。(位相マーカーPHS2A〜PHS2Dが発生する各パターンの中心における)各原点マークパターンの位相は、特定の距離(例えば、6ミリメートル)だけ離れた位置におけるインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2の位相と一致する(又は、当該位相から一定の位相オフセットを有する)。インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2の合成位相は、原点マークパターン長より大きい(すなわち、個別のベーカーパターン各々の長さより大きい)。
上述した通り、(原点マークパターンを有する)原点スケールトラックパターンTREF2は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2と同種の変調且つ空間的にフィルタされたイメージを生成するよう設計されている。変調且つ空間的にフィルタされたイメージを生成するために、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2及び原点スケールトラックパターンTREF2のピッチに近いピッチ(例えば、4μmのインクリメンタルスケールトラックピッチ及び4.1μmの原点スケールトラックピッチと比して、5μmの位相格子ピッチ)を有する位相格子を用いる。結果としての位相格子及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2からの変調且つ空間的にフィルタされたイメージのフリンジ周期は、比較的粗く(例えば、20μm)、位相格子及びインクリメンタルスケールトラックパターンTINC2により生成される変調且つ空間的にフィルタされたイメージのフリンジ周期(例えば、22.77μm)と僅かに異なり得る。
原点スケールトラックパターンTREF2に、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2のピッチ(例えば、4。0μm)と比して僅かに異なるピッチ(例えば、4.1μm)を持たせることにより、原点スケールトラックパターンの位相は、特定の長さに沿った一つの特定ポイントのみでインクリメンタルスケールトラックパターンの位相と一致するであろう(例えば、位相マーカーPHS2A〜PHS2Dで示す如く、原点スケールトラックパターンTREF2内のベーカーパターン長に沿った一つのポイントで一致するのみである)。位相が一致する位置は、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2用の特定のインクリメンタル波長を規定する。
上述した通り、比較的細かいピッチ(例えば、4μm)を有し、選択されたピッチ(例えば、5μm)を有する位相格子で生成された構造化光によって結像されるインクリメントスケールトラックパターンを利用することにより、比較的粗く変調されたイメージピッチ(例えば、20μm)を有する変調且つ空間的にフィルタされたパターンを生成できる。当然のことながら、このような実施形態においては、選択比(例えば、5対1)が、変調されたイメージピッチ(例えば、20μm)とインクリメンタルスケールトラックパターンのピッチ(例えば、4μm)の間に存在する。選択された実施形態においては、インクリメンタルスケールトラックパターンに関する高分解能を、以前により粗いインクリメンタルスケールトラックピッチ用に設計されたエンコーダ構成で利用可能にするために、略5対1の比、或いはより高い比(例えば、10対1、20対1等)が望まれ得る。
図11は、図3のエンコーダ構成用の種々のスケール及びディテクタトラックの組合せのためのパラメータを示すテーブル1100である。図11に示す如く、第1の実装のために、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2は、p=4μmのピッチを有するように示されており、対応する位相格子は、フリンジ周期S=5μmの構造化光を作成する。変調且つ空間的にフィルタされたイメージがもたらす結像フリンジ周期は、f=20μmである。(補間の必要レベルを示す)補間係数は、K=40である。ディテクタエレメントは、ピッチd=15μmを有するよう設計される。当然のことながら、幾つかの実施形態においては、ディテクタエレメントのピッチが、フリンジ周期fの1/4、1/3、2/3又は3/4となるように設計しても良い。一の実施形態において、ディテクタエレメントのピッチは、20μmのフリンジの3/4になり得る(この例では、ディテクタエレメントピッチd=15μm)。
第1の実装における原点スケールトラックパターンTREF2のために、各ベーカーパターン内のエレメントのピッチが、p'=4.1μmである一方、対応する位相格子は、(インクリメンタルスケールトラックパターンと同様の)フリンジ周期S=5μmで構造化光を作成する。原点スケールトラックパターンを介した位相格子からの構造化光の組合せによって生成される結像フリンジ周期は、変調且つ空間的にフィルタされた結像フリンジ周期f'=22.77μmを生成する。補間係数は、K=40である。ディテクタエレメントのピッチは、d'=17μmである。インクリメンタルスケールトラックパターン及び原点スケールトラックパターンの併用のため、バーニア合成波長(ff'/(f−f'))は、164μmに等しい。原点スケールトラックパターンの各ベーカーパターンの長さは、L=136μmである(ピッチp'=4.1μmで33ラインを有する)。当然のことながら、幾つかの実施形態において、ベーカーパターン中のライン数は、十分な可視フリンジ(すなわち、非常に十分な量のうねり周波数エンベロープ部分)を形成する必要があり得て、ディテクタトラックで生成される変調且つ空間的にフィルタされたイメージの一部として適切に検出することができる。トラック及び領域毎のイメージアレイ中のディテクタエレメントの数、及びそのトータル長に関しては、インクリメンタルディテクタトラックDETINC1のために、セット毎に8つのエレメント(120μmのトータル長)が存在する。また、原点ディテクタトラックDETREF1のために、セット毎に8つのエレメント(136μmのトータル長)が存在する。ベーカーパターン間のインクリメンタルサイクルの数は、150である。
図11に示す如く、第2の実装のために、インクリメンタルスケールトラックパターンTINC2は、p=8μmのピッチを有するように示されており、対応する位相格子は、フリンジ周期S=10μmの構造化光を作成する。変調且つ空間的にフィルタされたイメージがもたらす結像フリンジ周期は、f=40μmである。補間係数は、K=27.6である。ディテクタエレメントは、ピッチd=10μmを有するよう設計される。少なくとも一の実施形態において、ディテクタエレメントのピッチは、40μmのフリンジの1/4になり得る(この例では、ディテクタエレメントピッチd=10μm)。
第2の実装における原点スケールトラックパターンTREF2のために、各ベーカーパターン内のエレメントのピッチが、p'=8.3μmである一方、対応する位相格子は、(インクリメンタルスケールトラックパターンと同様の)フリンジ周期S=10μmで構造化光を作成する。原点スケールトラックパターンを介した位相格子からの構造化光の組合せによって生成される結像フリンジ周期は、変調且つ空間的にフィルタされた結像フリンジ周期f'=48.8μmを生成する。補間係数は、K=27.6である。ディテクタエレメントのピッチは、d'=12.2μmである。インクリメンタルスケールトラックパターン及び原点スケールトラックパターンの併用のため、バーニア合成波長(ff'/(f−f'))は、221.3μmに等しい。原点スケールトラックパターンの各ベーカーパターンの長さは、L=略195μmである(ピッチp'=4.1μmで23ラインを有する)。トラック及び領域毎のイメージアレイ中のディテクタエレメントの数、及びそのトータル長に関しては、インクリメンタルディテクタトラックDETINC2のために、セット毎に16個のエレメント(160μmのトータル長)が存在する。また、原点ディテクタトラックDETREF2のために、セット毎に16個のエレメント(195μmのトータル長)が存在する。ベーカーパターン間のインクリメンタルサイクルの数は、75である。
図12は、アメリカ合衆国付与前特許公報2011/0031383 A1号('383公開)として公開されたアメリカ合衆国特許出願12/535,561('561出願)に含まれる図面の実質的なコピーであり、参照によって本明細書に取り込まれる。図12は、'561出願の開示に基づいて理解され得るため、ここでは詳細には説明しない。但し、関連する教示が、ここで開示する原理に照らして使用され得る。
簡潔に述べると、図12は、両側テレセントリックエンコーダ結像配置770−1のイメージチャネル280−1を介した異なる光路を示す概略断面図700である。配置770−1は、ここに示した両側テレセントリック結像構成380、880及び1380に類似している。参照によって本明細書に取り込まれる特許文献13('789出願)は、第1レンズ(又はレンズアレイ)と同様の形式であり、光軸に沿って第1レンズ対して反転された第2レンズ(又はレンズアレイ)を利用し、以て2つの類似するレンズのレンズ収差を互いにほぼ補正して、結果としてのイメージにおける収差を低減する両側テレセントリックエンコーダ構成の種々の実施形態を開示している。当然のことながら、'789特許の教示は、スケールパターンのイメージにおける空間歪み、すなわち、イメージにおけるパターン特性の位置の歪みを引き起こすレンズ収差の補正のみに対処するものである。図12に示す実施形態は、第1レンズ210−1及び第2レンズ210−1'が同様の収差を有する場合に、イメージにおける空間歪みの同種の補正を提供する。しかしながら、レンズ収差に因りイメージ中に出現し得る干渉効果に関連して、より扱いの難しい問題が生じ得る。'789特許は、この問題に対処していない。'561出願は、この問題に対処しておらず、その教示は種々の実施形態に適用可能である。特に、遮光及び開口寸法に関するこれらの教示は、適切な適応で、ここに開示する原理に係る幾つかの実施形態において適用され得る。
図13A及び13Bは、ここに開示する原理に係るエンコーダ構成の実用的な実装の他の実施形態である構成1300を示している。エンコーダ構成1300の幾つかの構成要素及び動作原理は、図3のエンコーダ構成300及び/又は図8のエンコーダ構成800と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図13において、図3中の一連の番号3XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号13XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下又は図13A及び13Bで特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。少なくとも一の実施形態において、図13A及び図13Bに示すレイアウトの寸法関係は互いの実際の例示的な比率で示されているが、このような関係は、種々の他の実施形態において変更され得る。少なくとも一の実施形態において、参考までに、寸法DIMZは略26.4mmであり得て、寸法DIMYは略48mmであり得る。寸法GAPは略1mmであり得る。一の実施形態において、他のおおよその寸法は、これらの寸法に基づいて計測され得る。当然のことながら、本実施形態は、単なる例示であり、限定では無い。
図13に示すように、エンコーダ構成1300は、スケールエレメント1300と、照明システム/部1360と、両側テレセントリック結像構成1380とを含む。照明システム/部1360は、光1331の可視又は不可視波長(例えば、一の実施形態においては、レーザ用の655μmの波長)を発する光源1330(例えば、半導体レーザやLED等)と、開口部1335と、コリメートレンズ1340(又は、少なくともXY平面において略コリメートするもの)と、偏光ビームスプリッタ1390と、ビームダンプ1392と、反射板1342と、開口エレメント1345と、反射板1344と、位相格子1350と、ビームスプリッタ1355を含む。両側テレセントリック結像構成1380は、第1レンズ平面FLPにおける第1レンズ1381と、開口平面APにおける開口部品1382'開口部1382と、第2レンズ平面SLPにおける第2レンズ1383と、検出平面DPにおけるディテクタエレクトロニクス1320とを備える。ディテクタエレクトロニクス1320は、信号生成・処理回路(図示せず)へ接続しても良い。光源1330も、電力及び信号接続(図示せず)により信号生成・処理回路へ接続しても良い。
動作において、光源1330から発せられた光1331(例えば、一次光)は、光1331のストレイ部分を遮断し得る開口部1335を介して伝送される。少なくとも一の実施形態において、開口部1335は、4mmの直径を有し得る。伝送された光は、レンズ1340によって略又は完全にコリメートされ得て、ビームスプリッタ1341によって導かれる。Z偏光は、光1331Zとして、偏光ビームスプリッタ1390を通過する。偏光ビームスプリッタ1390は、ストレイ光が光源1330へ反射するのを防止するよう構成されている。このようなストレイ光は、偏光ビームスプリッタ1390により、ビームダンプ1392へ向かうビーム1391として反射される。
光1331Zは、Z偏光された入射光をR円偏光1331Cへ変換する4分の1波長板1393を通過する。光路に沿って後段のエレメントにより反射され得る光は、L円偏光として返され、4分の1波長板1393を介して戻るX偏光となる。このようなX偏光された反射光は、偏光ビームスプリッタ1390により遮断されてビームダンプ1392へ導かれ、以て光源1330を妨害するためには戻らず、他の無関係な光線を作成することも無い。
光1331Cは、反射板1342によって反射され、開口エレメント1345を介して導かれる。開口エレメント1345は、光ビーム1331Cを成形し、以て光ビーム1331Cが、反射板1344によって反射され且つ位相格子1350を通過して回折された構造化光1331'となった後に、スケール1310の所望の位置(例えば、所望のトラック位置)を照らすようにする。一の実施形態において、開口部1345は、6mmのX幅と、1.5mmのY幅を有し得る。
光源1330が655μm波長の光を発する半導体レーザである少なくとも一の実施形態において、スケールエレメントは、4.00μmの格子ピッチを有し得て、位相格子1350は、4.44μmの格子ピッチを有し、零次光を遮断するよう構成され得る。結果としての振幅変調は、略20μmの周期を有し得る。
そして、スケールエレメント1310は、そのスケール格子エレメントからの回折された構造化光を反射して、スケール光1332を提供する。スケール光1332は、前述した変調を含み、ビームスプリッタ1355を介し、両側テレセントリック結像構成1380によってディテクタ1320上で結像されるように導かれる。両側テレセントリック結像構成1380は、前述した原理に従って、スケール光1332を空間的にフィルタするように機能する。この結果、ディテクタ1320のディテクタエレメントの空間フィルタ周期と略一致する振幅変調の周期は、最終的にはディテクタ1320の信号に信号変動を引き起こす、スケール光1332の一次強度変調である。少なくとも一の実施形態において、両側テレセントリック結像構成1380の開口部1382は、略1mmの直径を有し、スケール光1332の零次及び+一次要素を遮断するために、振幅変調要素よりも高い空間周波数を有するスケール光1332の空間周波数要素の所望のフィルタリングを提供し得る。これを説明する他の方法は、開口部1382が、位相格子及び/又はスケール格子の結像を防止するよう構成されることである。
図14は、コヒーレント光源を含むエンコーダ構成1400の実施形態における種々のビームパスの参照図を示している。エンコーダ構成1400の幾つかの構成要素及び動作原理は、図3のエンコーダ構成300及び/又は図8のエンコーダ構成800と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図14において、図3中の一連の番号3XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号14XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下又は図14で特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。図14に示すように、光源は、ソース光1431を発する。位相格子1450は、ソース光を、種々の回折次数の光線束から成る構造化された照明1431'へ分割する。図14は、干渉して照明フリンジピッチPiを提供する、+1次の光線束1431p及び−1次の光線束1431pを示している。当然のことながら、付加的な次数の光線束が構造化された照明1431'に存在する。しかしながら、簡略化のため、図14には+1次及び−1次のみが示されている。スケール1410は、構造化された照明1431'を受信し、周期Peから成るエンベロープを有するフリンジを備えたスケール光1432を出力する。周期Peは、スケールフリンジピッチPi及びスケールピッチPgの観点から、Pe=PgPi/(2Pi−Pg)として導出され得る。当然のことながら、幅は、非コヒーレント光の場合にはPiである2Piとの文言を含む。
図15は、照明部1560の代替実施形態を含むエンコーダ構成1500の部分的な概略分解図である。照明部1560を除いて、エンコーダ構成1500の構成要素及び動作原理は、図3のエンコーダ構成300と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図15において、図3中の一連の番号3XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号15XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下で特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。
図15に示す実施形態において、エンコーダ構成1500は、照明部1560(より詳細には、開口構成1572)が、不要な次数の光をスケール格子1510へ伝送することを抑制又は除去し、且つ所望の次数のみ(例えば、±1次のみ)を許容するように構成される。これにより、エンコーダ構成1500の信号品質が、前述した構成と比して改善される。本願発明者らは、ここに開示するエンコーダ構成にとって、残留次光がディテクタで結果として生じる信号に周期的な揺らぎを引き起こすことを見出した。このような揺らぎは、ディテクタにおける信号の毎期間に現れるというよりむしろ、信号の代替期間に現れ得て、結果として生じる信号を補償及び/又は補間する能力を低減させることを見出した。このため、以下に開示する照明構成は、その有用性がそのような構成に限定されないものの、ここに教示するエンコーダ構成との組合せで特に有効である。
その動作が前述の類似する構成要素に基づき理解され得る構成要素1530、1540及び1550に加えて、照明部1560は、第1フィルタレンズ1571と、空間フィルタ開口構成1572と、第2フィルタレンズ1573とを更に含む。空間フィルタ開口構成1572は、略、第1フィルタレンズ1571の焦点面に設置される。第2フィルタレンズ1573は、空間フィルタ開口構成1572から、略、その焦点距離相当の距離に位置する平面に設置される。動作において、照明格子1550は、図3と同様にして、回折された構造化光1531'を出力する。回折された構造化光1531'は、その焦点が、第1照明レンズ1571により空間フィルタ開口構成1572の平面に合わせられる。空間フィルタ開口構成1572は、回折された構造化光1531'から零次の回折光を遮断すると共に、空間フィルタ開口構成1572の両端における高次の回折光を遮断するように構成され、開口部1572opを用いて、+1次及び−1次の回折光要素のみを含む空間的にフィルタされた構造化照明1531''を伝送する。図15に示す実施形態において、空間フィルタ開口構成1572は、対称的に位置付けられたスリットを含む開口部1572opで囲まれる中央部1572cを有して構成される。幾つかの代替実施形態において、空間フィルタ開口構成は、環状開口で囲まれる中央の円形絞りを含んでも良い。第2照明レンズ1573は、空間的にフィルタされた構造化光1531を受光し、+1次及び−1次の回折光要素から成る空間的にフィルタされた構造化照明1531''を、スケール格子1510に一致する平面におけるスケールパターン1515に対して出力する。測定軸方向に沿った中央部1572c及び開口部1572opの幅は、解析若しくは実験により決定され得るものであり、大略、上記の通りに本特定例においては零次光を遮断し且つ+/−1次の回折光を伝送するように選択される。
当然のことながら、スケール格子1510から出力される零次光は、結像部1580によって抑制又は除去され得る。或いは、より詳細には、開口構成、限界開口1580が、零次光を空間的にフィルタするように構成され得る。但し、幾つかの実施形態においては、第1フィルタレンズ1571が、限界開口1582における角度(例えば、0.1°)の約10倍の大きさの角度(例えば、1°)で、光の焦点を空間フィルタ開口構成1572に合せても良い。このような実施形態において、限界開口1582は、空間フィルタ開口構成1572よりもミスアライメントに対して遥かに感度が高い。このため、照明部1560内で零次光を遮断した方が、結像部1580において遮断するよりも更に有益である。さらに、図15に示す実施形態において、照明格子1550は、(位相格子350とは対照的に)振幅格子であっても良い。これにより、エンコーダ構成1500の製造コストが低減される。図3に示した実施形態において、エンコーダ構成300は、スケールパターン315をどの程度まで位相格子350から離隔して設置し得るかという点に関して実際的な制限を有する。スケールパターン315を位相格子350からあまりにも離隔して設置したならば、2つの回折次数(例えば、+1次及び−1次)は、オーバラップせず、回折された構造化光331'を提供するためには干渉しないであろう。しかしながら、照明部1560は、回折された構造化光1531'を、照明格子1550と略一致する平面から結像するように構成される。これにより、エンコーダ構成300よりも大きな開口ギャップを可能にする。また、照明部1560が、ソース光をより効率良く提供することも可能にする。これは、干渉する次数が、照明格子1550の平面にて最もオーバラップするためである。必要に応じて、変調されたイメージピッチPIMESFは、照明フリンジピッチパターンIFPの所望のピッチPMIを与えるべく選択された焦点距離を有する第1フィルタレンズ1571及び第2フィルタレンズ1573の適切な組合せを選択することによって調整しても良い。先のアメリカ合衆国特許出願13/717,586に開示される構成と比較して、本願は、エンコーダ1500を構成するための追加的な設計自由度を提供し、結果として、空間フィルタされたパターンの変調イメージピッチを所定ディテクタのピッチにマッチさせる。変調イメージピッチPMIは、例えば、図4A〜図4Dにおいて概説した原理に従って、スケールピッチPSFと変調イメージピッチPIMESFとの間で所望の関係を供するように選択すれば良い。
図16は、ここに開示する原理に係る反射的なエンコーダ構成1600において用いられ得る照明部1660の部分的な概略分解図である。エンコーダ構成1600の構成要素及び動作原理は、図15のエンコーダ構成1500と略同様であり、類推によって一般に理解され得る。例えば、図16において、図15中の一連の番号15XXと同一サフィックス"XX"を有する一連の番号16XXは、同様又は同一の構成要素を指定し得て、当該構成要素は、以下で特段の説明又は暗示が無ければ、同様に機能し得る。図16に示す実施形態において、照明部1660は、偏光子1676と、偏光ビームスプリッタ1677と、4分の1波長板1678とを更に含む。透過的な構成であるエンコーダ構成1500とは対照的に、エンコーダ構成1600は反射的な構成である。透過的な構成1500は、図16を参照して説明するものに類似する反射的な構成に、或いはここに開示する他の反射的な構成との類推によって容易に採用され得る。但し、図16を参照して教示する原理に係る偏光子の追加は、以下により詳細に説明する通り、光のより効率的な利用を提供する。このような偏光子の利用は、ここに説明する互換性のある実施形態との併用に適し得る。
動作において、偏光子1676は、レンズ1640からコヒーレントなコリメート光1631を入力し、直線偏光されたコリメート光を出力する。偏光ビームスプリッタ1677は、第2フィルタレンズ1673からの空間的にフィルタされた構造化照明1631''を、4分の1波長板1678へ反射する。4分の1波長板1678は、第2フィルタレンズ1673からの空間的にフィルタされた構造化照明1631''を円偏光して、スケールパターン1615へ出力する。スケールパターン1615は、円偏光を伴う空間的に変調されたイメージ光1632を、4分の1波長板1678へ反射する。4分の1波長板1678は、円偏光を伴う空間的に変調されたイメージ光1632を入力すると共に、空間的に変調されたイメージ光1632を、第2フィルタレンズ1673から入力された構造化照明1631''に対し90°回転される直線偏光を伴う偏光ビームスプリッタ1677へ出力する。偏光ビームスプリッタ1677は、直線偏光を伴う空間的に変調されたイメージ光1632を、結像部1680へ伝送する。4分の1波長板1678が空間的に変調されたイメージ光1632を90°回転される偏光を伴う偏光ビームスプリッタ1677へ戻すため(よって、ビームスプリッタ1677を介して伝送する偏光方向にマッチするため)、4分の1波長板1678を欠く構成と比した4つの要因により結像部1680へ出力される光量が増加する。
本発明の種々の実施形態を示して説明したが、示し且つ説明した特徴の構成及び動作のシーケンスにおける非常に多くのバリエーションは、本開示に基づき当業者にとって明らかであろう。よって、当然のことながら、本発明の精神と範囲から逸脱すること無く種々の変更が成され得る。
独占的な権利又は特権を主張する本発明の実施形態は、下記の特許請求の範囲にて定義される。
この出願は、2012年12月17日に出願されたアメリカ合衆国特許出願13/717,586、2012年12月28日に出願されたアメリカ合衆国特許出願13/730,790、及び2013年3月6日に出願されたアメリカ合衆国特許出願13/787,742を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
100, 300, 700, 800, 900, 1300, 1500, 1600 エンコーダ構成
110, 310, 710, 810, 910, 1310 スケールエレメント
115, 315, 1515, 1615 スケールパターン
120, 320, 720, 820, 1320, 1520 ディテクタエレクトロニクス
125, 325, 725, 825, 1525 ディテクタ構成
126, 326, 1526 信号処理回路
131, 331, 731, 831, 1331, 1431 光
132, 332, 732, 832, 1432, 1532 スケール光
133, 333, 733, 833, 1533 空間的にフィルタされたイメージ光
140, 340, 740, 840, 940, 1540, 1640 レンズ
180, 380, 780, 880, 1380 両側テレセントリック結像構成
181, 381, 1581 第1レンズ
182, 382, 1335, 1572op, 1672op 開口部
183, 383, 1583 第2レンズ
190, 390, 1590 信号生成・処理回路
330, 730, 830, 930, 1330, 1530, 1630 光源
350, 850, 950A, 950B, 1350, 1450 位相格子
360, 760, 860, 1360, 1560, 1660 照明システム/部
755, 855, 955, 1355, 1390 ビームスプリッタ
770 両側テレセントリックエンコーダ結像配置
781, 881, 1381 第1レンズアレイ
782, 882, 1382 開口アレイ
783, 883, 1383 第2レンズアレイ
1100 テーブル
1340 コリメートレンズ
1342, 1344 反射板
1391 ビーム
1392 ビームダンプ
1393, 1678 4分の1波長板
1410 スケール
1510, 1610 スケール格子
1531 構造化光
1550, 1650 照明格子
1571, 1671 第1フィルタレンズ
1572, 1672 空間フィルタ開口構成
1572c, 1672c 中央部
1573, 1673 第2フィルタレンズ
1580, 1680 結像部
1582 限界開口
1631 コリメート光
1632 空間的に変調されたイメージ光
1676 偏光子
1677 偏光ビームスプリッタ

Claims (7)

  1. スケール格子、結像部及びディテクタ部を含む光学エンコーダの照明部であって、
    波長λを有する光を出力する光源と、
    前記光を入力すると共に、測定軸方向に対して横方向に配向される照明フリンジパターンを含む構造化照明を出力する構造化光生成部と、
    第1のフィルタレンズと、
    空間フィルタ開口構成と、
    第2のフィルタレンズと、を備え、
    前記第1のフィルタレンズは、前記構造化照明の焦点を、前記空間フィルタ開口構成の平面の直近に合せ、
    前記空間フィルタ開口構成は、前記構造化照明に含まれる零次光及び高次光を遮断する中央部と、前記中央部に近接し、前記構造化照明の+1次及び−1次部分を前記第2フィルタレンズへ出力する開口部とを含み、
    前記第2のフィルタレンズは、前記スケール格子の平面に対して、前記構造化照明を、前記スケール格子に一致する平面にて前記測定軸方向に沿って照明フリンジピッチPMIを有するフィルタされた構造化照明として出力し、
    前記スケール格子は、スケールピッチP SF を有し、
    前記ディテクタ部は、動作可能な周期的なイメージの異なる位相をそれぞれ受信するように設置された一連の光ディテクタを含み、前記一連の光ディテクタは、前記測定軸方向に沿ってディテクタピッチPdを有し、前記ディテクタピッチPdは、特定のディテクタ信号位相に対応したディテクタエレメント同士間のピッチに対応し、
    前記スケール格子は、前記構造化照明を入力すると共に、前記スケールピッチP SF 及び前記照明フリンジピッチP MI に依存した空間波長P IMESF を有する強度変調エンベロープによって変調された構造化照明を含む空間的に変調されたイメージ光を出力し、
    前記照明フリンジピッチP MI は、前記光源が非コヒーレント光を出力する場合にΔnP MI SF /(ΔnP MI −P SF )=P IMESF =m*Pd/kとの関係が成立し、前記光源がコヒーレント光を出力する場合にはΔnP MI SF /(2ΔnP MI −P SF )=P IMESF =m*Pd/kとの関係が成立するように選択され、Δnは、干渉する光の回折次数差であり、mは、前記ディテクタ部から出力される位相信号の数であり、kは、奇数の整数である、
    ことを特徴とした照明部。
  2. 請求項1において、
    前記構造化光生成部は、前記光源と前記第1のフィルタレンズとの間に設置されて、回折光を前記第1のフィルタレンズへ出力するソース格子を含む、
    ことを特徴とした照明部。
  3. 請求項1において、
    前記光源と前記第1のフィルタレンズとの間に設置されて、前記光源により出力される光をコリメートするレンズ、
    をさらに備えたことを特徴とする照明部。
  4. 請求項1において、
    前記光源からコヒーレントなコリメート光を入力し、直線偏光された光を出力する直線偏光子と、
    前記第2のフィルタレンズからの空間的にフィルタされた構造化光を、4分の1波長板へ反射する偏光ビームスプリッタと、をさらに備え、
    前記4分の1波長板は、前記第2のフィルタレンズからの光を円偏光して、前記スケール格子へ出力し、
    前記スケール格子は、円偏光を伴って空間的に変調されたイメージ光を反射し、
    前記4分の1波長板は、円偏光を伴う前記空間的に変調されたイメージ光を入力し、直線偏光され且つ直線偏光を伴って空間的に変調されたイメージ光を、前記偏光ビームスプリッタへ出力し、
    前記偏光ビームスプリッタは、直線偏光を伴う前記空間的に変調されたイメージ光を、前記結像部へ伝送する、
    ことを特徴とした照明部。
  5. 請求項4において、
    前記光源と前記第1のフィルタレンズとの間に設置されて、回折光を前記第1のフィルタレンズへ出力する照明格子、
    をさらに備えたことを特徴とする照明部。
  6. 請求項5において、
    前記照明格子は、振幅格子である、
    ことを特徴とした照明部。
  7. 請求項1において、
    前記第1のフィルタレンズは、焦点距離F1を有し、前記第2のフィルタレンズは、焦点距離F2を有し、前記空間フィルタ開口構成と前記ディテクタ部との間において前記空間フィルタ開口構成から前記焦点距離F2に設置されて、前記空間フィルタ開口構成から光を受光すると共に、動作可能な周期的なイメージを形成し、
    前記照明部は、前記測定軸方向に沿った前記照明フリンジピッチPMIの倍率Mを有し、Mは、略M=F1/F2を満たし、単に距離F1及びF2を選択することによって設定される、
    ことを特徴とした照明部。
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