JP6197662B2

JP6197662B2 - 残響時間解析装置

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Description

本発明は、残響時間を測定する技術に関する。

会議室やホール等の音響空間（以下「被測定空間」という）の残響時間を測定する技術が従来から提案されている。例えば特許文献１には、複数の周波数帯域の各々について測定された残響時間（残響時間-周波数特性）を表示装置に表示させる技術が開示されている。

特開平７−０３８９８７号公報

ところで、残響時間を実際に測定する場面では、被測定空間内に存在する暗騒音の影響で残響時間の測定結果に誤差が発生する可能性がある。しかし、残響時間の測定結果が、被測定空間の現実の特性を反映した適正な数値であるのか、暗騒音に起因した誤差を含む信頼性の低い数値であるのかを判断することは、音響測定の専門的な知識が充分でない利用者にとって困難である。以上の事情を考慮して、本発明は、残響時間の測定結果の適否を利用者が容易に把握できるようにすることを目的とする。

以上の課題を解決するために、本発明の第１態様に係る残響時間解析装置は、複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のＳＮ比を測定する雑音解析手段と、複数の周波数帯域の各々について被測定空間内の残響時間を測定する残響解析手段と、残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、複数の周波数帯域のうちＳＮ比が閾値を下回る周波数帯域の残響時間を表示対象から除外する表示制御手段とを具備する。以上の構成では、複数の周波数帯域のうちＳＮ比が閾値を下回る周波数帯域の残響時間が表示対象から除外される。したがって、残響時間の測定結果の適否（表示対象の残響時間は充分に信頼できること）を利用者が容易に把握できるという利点がある。

また、本発明の第２態様に係る残響時間解析装置は、複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のＳＮ比を測定する雑音解析手段と、複数の周波数帯域の各々について、当該周波数帯域のＳＮ比に応じて可変に設定された基準量だけ当該周波数帯域の音響の強度が減衰する時間長に応じて被測定空間の残響時間を算定する残響解析手段と、残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、相異なる基準量のもとで測定された各残響時間の表示態様を相違させる表示制御手段とを具備する。以上の構成では、残響時間の算定に適用される基準量がＳＮ比に応じて可変に設定され、相異なる基準量に対応する残響時間が別個の態様で表示装置に表示される。したがって、残響時間の測定結果の適否（各残響時間の信頼性の高低）を利用者が容易に把握できるという利点がある。

本発明の好適な態様において、残響解析手段は、複数の周波数帯域のうち利用者から指示された周波数帯域の残響時間を再測定する。以上の態様では、利用者から指示された周波数帯域の残響時間が再測定されるから、例えば一時的な外乱に起因して残響時間に誤差が発生した場合に適正な残響時間を再測定により確認できるという利点がある。

以上の各態様に係る残響時間解析装置は、残響時間の解析に専用されるＤＳＰ（Digital Signal Processor）等のハードウェア（電子回路）によって実現されるほか、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等の汎用の演算処理装置とプログラムとの協働によっても実現される。本発明のプログラムは、コンピュータが読取可能な記録媒体に格納された形態で提供されてコンピュータにインストールされ得る。記録媒体は、例えば非一過性（non-transitory）の記録媒体であり、ＣＤ-ＲＯＭ等の光学式記録媒体（光ディスク）が好例であるが、半導体記録媒体や磁気記録媒体等の公知の任意の形式の記録媒体を包含し得る。また、例えば、本発明のプログラムは、通信網を介した配信の形態で提供されてコンピュータにインストールされ得る。また、本発明は、以上に説明した各態様に係る残響時間解析装置の動作方法（残響時間解析方法）としても特定される。

本発明の第１実施形態に係る残響時間解析装置の構成図である。雑音解析処理のフローチャートである。残響解析処理のフローチャートである。残響時間の算定の説明図である。解析結果画面の模式図である。表示制御処理のフローチャートである。第２実施形態における残響解析処理の説明図である。第２実施形態における解析結果画面の模式図である。

＜第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る残響時間解析装置１００の構成図である。残響時間解析装置１００は、会議室やホール等の任意の音響空間（被測定空間）の残響時間を測定するための情報処理装置であり、図１に例示される通り、演算処理装置１０と記憶装置１２と表示装置１４と入力装置１６と収音装置１８とを具備するコンピュータシステムで実現される。例えばスマートフォンやタブレット端末等の可搬型の情報処理装置で残響時間解析装置１００を実現することが可能である。

記憶装置１２は、演算処理装置１０が実行するプログラムや演算処理装置１０が使用する各種のデータを記憶する。半導体記録媒体や磁気記録媒体等の公知の記録媒体や複数種の記録媒体の組合せが記憶装置１２として任意に採用され得る。表示装置１４（例えば液晶表示パネル）は、演算処理装置１０による制御のもとで各種の画像を表示する。例えば残響時間の測定結果が表示装置１４に表示される。入力装置１６は、残響時間解析装置１００に対する指示を利用者が入力するための操作機器である。例えば利用者が押圧可能な操作子や表示装置１４と一体に構成されたタッチパネルが入力装置１６として好適に利用される。

収音装置１８は、被測定空間内の音響を収音することで音響信号（以下「観測信号」という）Ｑを生成するマイクロホンである。なお、残響時間解析装置１００に収音装置１８を搭載した構成を図１では例示したが、残響時間解析装置１００とは別体の収音装置１８を残響時間解析装置１００に外付けすることも可能である。なお、収音装置１８が生成した観測信号Ｑをアナログからデジタルに変換するＡ/Ｄ変換器の図示は便宜的に省略した。

図１に例示される通り、残響時間解析装置１００には放音装置２００（スピーカ）が接続される。被測定空間の残響時間を測定するための音響信号（以下「試験信号」という）Ｚが残響時間解析装置１００から放音装置２００に供給される。放音装置２００は、残響時間解析装置１００から供給される試験信号Ｚに応じた音響（以下「試験音」という）を被測定空間に放射する。なお、試験信号Ｚをデジタルからアナログに変換するＤ/Ａ変換器の図示は便宜的に省略した。また、残響時間解析装置１００に放音装置２００を外付けした構成を図１では例示したが、残響時間解析装置１００に放音装置２００を搭載した構成も採用され得る。

演算処理装置１０は、記憶装置１２に記憶されたプログラムを実行することで、被測定空間の残響時間を解析および提示するための複数の機能（雑音解析部２２，残響解析部２４，表示制御部２６）として機能する。なお、演算処理装置１０の機能を複数の装置に分散した構成や、演算処理装置１０の機能の一部を専用の電子回路が実現する構成も採用され得る。

雑音解析部２２は、相異なるＫ個（Ｋは２以上の自然数）の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の各々について被測定空間内のＳＮ比σ[k]を算定する（ｋ＝１〜Ｋ）。任意の１個の周波数帯域Ｂ[k]のＳＮ比σ[k]は、被測定空間内に存在する暗騒音のうち周波数帯域Ｂ[k]の成分の強度の指標である。なお、周波数帯域Ｂ[k]の総数Ｋや各周波数帯域Ｂ[k]の周波数および帯域幅は任意である。例えば、可聴周波数帯域を低音域と中音域と高音域との３個（Ｋ＝３）の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[3]に分割した構成や、１/１オクターブまたは１/３オクターブを単位として可聴周波数帯域をＫ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]に分割した構成が採用される。

図２は、雑音解析部２２が各周波数帯域Ｂ[k]のＳＮ比σ[k]（σ[1]〜σ[K]）を算定する処理（雑音解析処理）のフローチャートである。入力装置１６に対する利用者からの指示（測定開始の指示）を契機として図２の雑音解析処理が開始される。

雑音解析処理を開始すると、雑音解析部２２は、被測定空間内の暗騒音のレベル（以下「雑音レベル」という）ＬN[k]（ＬN[1]〜ＬN[K]）を周波数帯域Ｂ[k]毎に算定する（ＳA1）。具体的には、放音装置２００に対する試験信号Ｚの供給前（すなわち試験音の放射前）に収音装置１８が生成する観測信号Ｑのうち各周波数帯域Ｂ[k]の成分の信号レベル（または複数の時点にわたる信号レベルの平均値）が雑音レベルＬN[k]として算定される。

雑音解析部２２は、試験信号Ｚを放音装置２００に供給することで放音装置２００から試験音を放射させる（ＳA2）。試験音の種類は任意であるが、例えば信号レベルが広帯域にわたり均一化された白色雑音等の雑音信号や、周波数が時間的に連続に変化する時間伸長信号（Swept-Sine）が試験信号Ｚとして好適である。利用者は、放音装置２００から放射される試験音を聴取しながら入力装置１６を操作することで試験信号Ｚの信号レベル（試験音の再生音量）を適宜に調整することが可能である。

試験信号Ｚの信号レベルの調整が完了すると、雑音解析部２２は、調整後の試験信号Ｚの信号レベルＬZと各周波数帯域Ｂ[k]の雑音レベルＬN[k]とに応じて、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の各々についてＳＮ比σ[k]（σ[1]〜σ[K]）を算定する（ＳA3）。以上が雑音解析処理の具体例である。

図１の残響解析部２４は、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の各々について被測定空間の残響時間Ｔ[k]（Ｔ[1]〜Ｔ[K]）を測定する。具体的には、残響解析部２４は、放音装置２００から被測定空間内に放射される試験音が停止した直後の観測信号Ｑのうち周波数帯域Ｂ[k]の成分の減衰特性を解析することで残響時間Ｔ[k]を算定する。図３は、残響解析部２４が各周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]（Ｔ[1]〜Ｔ[K]）を算定する処理（残響解析処理）のフローチャートである。図２の雑音解析処理の完了を契機として図３の残響解析処理が開始される。

残響解析処理を開始すると、残響解析部２４は、図２の雑音解析処理で設定された信号レベルＬZの試験信号Ｚを放音装置２００に供給することで放音装置２００から試験音を放射させる（ＳB1）。残響解析部２４は、試験音の放射の開始から所定の時間（例えば試験音の強度が安定するまでの時間）が経過した時点（以下「発音停止点」という）で放音装置２００に対する試験信号Ｚの供給を停止して試験音の放射を停止させる（ＳB2）。

発音停止点の直後には、試験音に起因する残響音が収音装置１８により収音される。残響解析部２４は、発音停止点以降の所定時間にわたり収音装置１８から供給される観測信号Ｑを解析することで周波数帯域Ｂ[k]毎の信号レベルＬQ[k]の時系列を特定して記憶装置１２に格納する（ＳB3）。任意の１個の周波数帯域Ｂ[k]に対応する信号レベルＬQ[k]の時系列は、試験音に起因した残響音の時間的な減衰を表現する。

残響解析部２４は、各周波数帯域Ｂ[k]の信号レベルＬQ[k]の時系列を解析することで残響時間Ｔ[k]を周波数帯域Ｂ[k]毎に算定する（ＳB4）。残響時間Ｔ[k]の算定にはインパルス積分法（Schroeder法）が好適に利用される。すなわち、残響解析部２４は、各周波数帯域Ｂ[k]の信号レベルＬQ[k]の時系列（インパルス応答）のうち時間軸上の所定区間を積分範囲としたインパルス積分法で図４の残響減衰曲線Ｃ[k]を算定し、残響減衰曲線Ｃ[k]の解析で周波数帯域Ｂ[k]毎の残響時間Ｔ[k]を算定する。第１実施形態の残響解析部２４は、図４に例示される通り、残響減衰曲線Ｃ[k]の数値が発音停止点ｔ0の経過後に所定の基準量δだけ減衰する時間長τ[k]に応じて周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を算定する。具体的には、残響減衰曲線Ｃ[k]の数値が、発音停止点ｔ0での初期値ｃ0と比較して所定量（例えば５ｄＢ）だけ低下する時点ｔ1から、時点ｔ1での数値と比較して基準量δだけ低下する時点ｔ2までの経過時間が、時間長τ[k]として算定される。基準量δは例えば３０ｄＢに設定される。残響時間Ｔ[k]は、発音停止点ｔ0の経過後に信号レベルＬQ[k]が６０ｄＢだけ減衰する時間長と定義されるから、残響解析部２４は、残響減衰曲線Ｃ[k]の数値が基準量δだけ減衰する時間長τ[k]を{６０／δ}倍した数値を残響時間Ｔ[k]として算定する。例えば基準量δを前述の通り３０ｄＢと仮定すると、時間長τ[k]の２倍の数値が残響時間Ｔ[k]として算定される。なお、各周波数帯域Ｂ[k]の信号レベルＬQ[k]の時系列から直接的に残響時間Ｔ[k]を算定すること（ノイズ断続法）も可能である。

図１の表示制御部２６は、残響解析部２４が算定した残響時間Ｔ[k]を周波数帯域Ｂ[k]毎に表示装置１４に表示させる。具体的には、表示制御部２６は、図５の解析結果画面５０を表示装置１４に表示させる。解析結果画面５０は、各周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を利用者に提示するための画像である。図５に例示された解析結果画面５０は、周波数軸（横軸）ＡXと残響時間Ｔ[k]の数値軸（縦軸）ＡYとが設定された表示領域５２に周波数帯域Ｂ[k]毎の指示点Ｐ[k]を配置して各指示点Ｐ[k]を直線で相互に連結した折線グラフである。数値軸ＡYの方向における指示点Ｐ[k]の位置が残響時間Ｔ[k]に応じて選定される。

第１実施形態の表示制御部２６は、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]のうち雑音解析部２２が測定したＳＮ比σ[k]が所定の閾値σTHを下回る各周波数帯域Ｂ[k]（以下「高雑音帯域ＢN」という）の残響時間Ｔ[k]を解析結果画面５０での表示対象から除外する。具体的には、各高雑音帯域ＢNについては、残響時間Ｔ[k]を表象する指示点Ｐ[k]の表示が省略される。図５では、低域側の残響時間Ｔ[1]および残響時間Ｔ[2]と高域側の残響時間Ｔ[K]とが表示対象から除外された状態が例示されている。

ＳＮ比σ[k]が閾値σTHを上回る環境で測定された残響時間Ｔ[k]について充分な信頼性が担保されるように、閾値σTHは統計的または実験的に設定される。すなわち、閾値σTHを下回る程度にＳＮ比σ[k]が低い環境（すなわち雑音レベルＬN[k]が高い環境）で算定される残響時間Ｔ[k]は、被測定空間内の暗騒音に起因した誤差を含む信頼性の低い測定結果である可能性が高い。以上の説明から理解される通り、表示制御部２６は、信頼性が低い測定結果（残響時間Ｔ[k]）を表示対象から除外する要素とも換言され得る。なお、入力装置１６に対する利用者からの指示に応じて閾値σTHを可変に設定する構成や、周波数帯域Ｂ[k]毎に閾値σTHを別個に設定する構成も採用され得る。

図６は、表示制御部２６が解析結果画面５０を表示させる処理（表示制御処理）のフローチャートである。図３の残響解析処理の完了（Ｋ個の残響時間Ｔ[1]〜Ｔ[K]の算定）を契機として図６の表示制御処理が開始される。

表示制御部２６は、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の何れか（以下「選択帯域」という）Ｂ[k]を選択し（ＳC1）、選択帯域Ｂ[k]について雑音解析部２２が測定したＳＮ比σ[k]が閾値σTHを下回るか否かを判定する（ＳC2）。ＳＮ比σ[k]が閾値σTHを上回る場合（ＳC2：NO）、表示制御部２６は、選択帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を表示装置１４に表示させる。具体的には、表示制御部２６は、選択帯域Ｂ[k]に対応する指示点Ｐ[k]を残響時間Ｔ[k]に応じて表示領域５２に配置する（ＳC3）。他方、ＳＮ比σ[k]が閾値σTHを下回る場合（すなわち残響時間Ｔ[k]の信頼性が低い場合）、表示制御部２６は、選択帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を表示対象から除外する（ＳC4）。すなわち、表示制御部２６は、選択帯域Ｂ[k]の指示点Ｐ[k]を表示装置１４に表示させない。

表示制御部２６は、各周波数帯域Ｂ[k]について以上の処理を反復し（ＳC5：NO）、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]について処理が完了した場合には（ＳC5：YES）、表示領域５２内の各指示点Ｐ[k]を直線で相互に連結して解析結果画面５０を完成する（ＳC6）。

以上に説明した通り、第１実施形態では、ＳＮ比σ[k]が閾値σTHを下回る各高雑音帯域ＢNの残響時間Ｔ[k]が表示対象から除外されるから、残響時間Ｔ[k]の測定結果の適否（表示対象の残響時間Ｔ[k]は充分に信頼できること）を利用者が容易に把握できるという利点がある。

＜第２実施形態＞
本発明の第２実施形態を以下に説明する。なお、以下に例示する各形態において作用や機能が第１実施形態と同様である要素については、第１実施形態の説明で参照した符号を流用して各々の詳細な説明を適宜に省略する。

図７の部分(A)は、周波数帯域Ｂ[k]のＳＮ比σ[k]が高い環境における残響減衰曲線Ｃ[k]であり、図７の部分(B)は、図７の部分(A)と比較してＳＮ比σ[k]が低い環境における残響減衰曲線Ｃ[k]である。図７から理解される通り、ＳＮ比σ[k]が低い環境では、発音停止点ｔ0の経過後の早い段階で残響減衰曲線Ｃ[k]（あるいは信号レベルＬQ[k]の時系列）に対する暗騒音の影響が顕在化するという傾向がある。以上の傾向を考慮して、第２実施形態では、被測定空間内のＳＮ比σ[k]に応じて基準量δを可変に制御する。

第２実施形態の残響解析部２４は、残響解析処理において、各周波数帯域Ｂ[k]のＳＮ比σ[k]が低いほど基準量δ[k]が減少するように、残響時間Ｔ[k]の算定（ＳB4）に適用される基準量δ[k]を周波数帯域Ｂ[k]毎に個別に設定する。具体的には、残響解析部２４は、雑音解析部２２が算定したＳＮ比σ[k]が低いほど基準量δ[k]を小さい数値に設定する。例えば、ＳＮ比σ[k]が第１範囲に包含される場合には基準量δ[k]は３０ｄＢ（標準値）に設定され、第１範囲を下回る第２範囲にＳＮ比σ[k]が包含される場合には基準量δ[k]は２５ｄＢに設定され、第２範囲を下回る第３範囲にＳＮ比σ[k]が包含される場合には基準量δ[k]は２０ｄＢに設定される。発音停止点ｔ0の経過後に残響減衰曲線Ｃ[k]の数値が基準量δ[k]だけ低下する時間長τ[k]に応じて残響時間Ｔ[k]（Ｔ[k]＝τ[k]×{６０／δ[k]}）を算定する処理は第１実施形態と同様である。

以上の通り、ＳＮ比σ[k]に応じて基準量δ[k]を制御することで測定結果（残響時間Ｔ[k]）に対する暗騒音の影響は低減されるが、残響時間Ｔ[k]の本来の定義に係る６０ｄＢから基準量δ[k]が乖離するほど、残響時間Ｔ[k]の誤差は増加する（測定結果の信頼性が低下する）という傾向がある。以上の傾向を考慮して、第２実施形態の表示制御部２６は、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の各々について残響時間Ｔ[k]を表示装置１４に表示させる一方、相異なる基準量δ[k]のもとで算定された各残響時間Ｔ[k]の表示態様を相違させる。

図８は、第２実施形態における解析結果画面５０の模式図である。図８では、周波数帯域Ｂ[1]の基準量δ[1]と周波数帯域Ｂ[2]の基準量δ[2]と周波数帯域Ｂ[K]の基準量δ[K]とが２０ｄＢに設定され、周波数帯域Ｂ[3]の基準量δ[3]が２５ｄＢに設定され、残余の各周波数帯域Ｂ[k]（Ｂ[4]〜Ｂ[K-1]）の基準量δ[k]が３０ｄＢ（標準値）に設定された場合が想定されている。図８から理解される通り、表示制御部２６は、各周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を表象する指示点Ｐ[k]を基準量δ[k]に応じた表示態様（例えば階調）で表示する。具体的には、基準量δ[k]が小さいほど指示点Ｐ[k]は淡い階調（白色に近い階調）で表示される。また、表示制御部２６は、標準値（３０ｄＢ）以外の基準量δ[k]に対応した残響時間Ｔ[k]を表象する指示点Ｐ[k]の近傍に、基準量δ[k]の数値を表現する文字列５４を配置する。具体的には、残響時間Ｔ[1]の指示点Ｐ[1]と残響時間Ｔ[2]の指示点Ｐ[2]と残響時間Ｔ[K]の指示点Ｐ[K]との各々の近傍には、各基準量δ[k]の数値（２０ｄＢ）を包含する「Ｔ20」の文字列５４が配置され、残響時間Ｔ[3]の指示点Ｐ[3]の近傍には、基準量δ[3]の数値（２５ｄＢ）を包含する「Ｔ25」の文字列５４が配置される。

以上に説明した通り、第２実施形態では、残響時間Ｔ[k]の算定に適用される基準量δ[k]がＳＮ比σ[k]に応じて可変に設定され、相異なる基準量δ[k]に対応する残響時間Ｔ[k]が別個の表示態様で表示される。したがって、残響時間Ｔ[k]の測定結果の適否（各残響時間Ｔ[k]の信頼性の高低）を利用者が容易に把握できるという利点がある。

＜第３実施形態＞
第３実施形態では、第２実施形態（図８）と同様に、基準量δ[k]に応じた表示態様でＫ個の残響時間Ｔ[k]が表示される。利用者は、入力装置１６を適宜に操作することで、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の何れか（Ｋ個の残響時間Ｔ[1]〜Ｔ[K]の何れか）を選択することが可能である。表示装置１４の表示面に対する接触を検出するタッチパネルを入力装置１６として利用した構成では、表示面のうち任意の指示点Ｐ[k]に対応する位置に利用者が接触することで、当該指示点Ｐ[k]に対応する周波数帯域Ｂ[k]の選択を指示することが可能である。

任意の１個の周波数帯域（以下「対象帯域」という）Ｂ[k]が指示された場合、当該対象帯域Ｂ[k]に対応する残響時間Ｔ[k]の再測定が実行される。具体的には、雑音解析部２２は、図２の雑音解析処理で対象帯域Ｂ[k]のＳＮ比σ[k]を測定し、残響解析部２４は、当該ＳＮ比σ[k]を適用した図３の残響解析処理で対象帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を算定する。表示制御部２６は、再測定の結果を解析結果画面５０に反映させる。すなわち、再測定に係る残響時間Ｔ[k]の表示を含む内容に解析結果画面５０が更新される。

第３実施形態においても第２実施形態と同様の効果が実現される。また、第３実施形態では、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]のうち利用者から指示された周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]が再測定されるから、例えば一時的な外乱に起因して残響時間Ｔ[k]に誤差が発生している場合に適正な残響時間Ｔ[k]を再測定により確認できるという利点がある。なお、以上の例示ではＫ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]の何れかを利用者が指示する場合を例示したが、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]のうち所定の閾値を下回る基準量δ[k]の適用で残響時間Ｔ[k]が算定された周波数帯域Ｂ[k]（すなわち残響時間Ｔ[k]の信頼性が低い周波数帯域Ｂ[k]）のみを利用者による選択候補とすることも可能である。

＜変形例＞
以上の各形態は多様に変形され得る。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択された２以上の態様は適宜に併合され得る。

（１）解析結果画面５０の態様は以上の例示に限定されない。例えば、ＳＮ比σ[k]が閾値σTHを下回る周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]について、信頼性が低いことを警告する文字列や、残響時間Ｔ[k]の再測定を勧告する文字列を、表示制御部２６が表示装置１４に表示させることも可能である。また、図８では、基準量δ[k]に応じて指示点Ｐ[k]の階調を相違させたが、例えば指示点Ｐ[k]の形状や模様等を相違させた構成や、基準量δ[k]が小さい残響時間Ｔ[k]の指示点Ｐ[k]を点滅させる構成も採用される。以上の説明から理解される通り、残響時間Ｔ[k]の「表示態様」とは、視覚的に識別可能な性状として包括的に表現される。

（２）第１実施形態と第２実施形態とを併合することも可能である。すなわち、Ｋ個の周波数帯域Ｂ[1]〜Ｂ[K]のうちＳＮ比σ[k]が閾値σTHを下回る各周波数帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を第１実施形態と同様に表示対象から除外するとともに、表示対象の各残響時間Ｔ[k]の表示態様を第２実施形態と同様に基準量δ[k]に応じて相違させる。また、利用者から指示された対象帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]を再測定する第３実施形態の構成を第１実施形態に適用することも可能である。すなわち、ＳＮ比σ[k]が閾値σTHを下回る複数の周波数帯域Ｂ[k]のうち利用者が選択した対象帯域Ｂ[k]の残響時間Ｔ[k]が再測定される。

（３）前述の各形態では、スマートフォン等の可搬型の情報処理装置で残響時間解析装置１００を実現したが、移動通信網やインターネット等の通信網を介して端末装置と通信するサーバ装置（例えばウェブサーバ）で残響時間解析装置１００を実現することも可能である。具体的には、残響時間解析装置１００は、被測定空間内の端末装置から通信網を介して受信した観測信号Ｑの解析でＳＮ比σ[k]および残響時間Ｔ[k]を周波数帯域Ｂ[k]毎に測定し、測定結果を表現する解析結果画面５０の画像データを生成して端末装置に送信することで端末装置の表示装置に解析結果画面５０を表示させる。

１００……残響時間解析装置、２００……放音装置、１０……演算処理装置、１２……記憶装置、１４……表示装置、１６……入力装置、１８……収音装置、２２……雑音解析部、２４……残響解析部、２６……表示制御部、５０……解析結果画面、５２……表示領域。

Claims

複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のＳＮ比を測定する雑音解析手段と、
前記複数の周波数帯域の各々について前記被測定空間内の残響時間を測定する残響解析手段と、
前記残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、前記複数の周波数帯域のうち前記ＳＮ比が閾値を下回る周波数帯域の残響時間を表示対象から除外する表示制御手段と
を具備する残響時間解析装置。
複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のＳＮ比を測定する雑音解析手段と、
前記複数の周波数帯域の各々について、当該周波数帯域の前記ＳＮ比に応じて可変に設定された基準量だけ当該周波数帯域の音響の強度が減衰する時間長に応じて前記被測定空間の残響時間を算定する残響解析手段と、
前記残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、相異なる基準量のもとで測定された前記各残響時間の表示態様を相違させる表示制御手段と
を具備する残響時間解析装置。
前記残響解析手段は、前記複数の周波数帯域のうち利用者から指示された周波数帯域の残響時間を再測定する
請求項１または請求項２の残響時間解析装置。