JP6197662B2 - Reverberation time analyzer - Google Patents

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本発明は、残響時間を測定する技術に関する。   The present invention relates to a technique for measuring reverberation time.

会議室やホール等の音響空間(以下「被測定空間」という)の残響時間を測定する技術が従来から提案されている。例えば特許文献1には、複数の周波数帯域の各々について測定された残響時間(残響時間-周波数特性)を表示装置に表示させる技術が開示されている。   Techniques for measuring the reverberation time of an acoustic space such as a conference room or a hall (hereinafter referred to as “measurement space”) have been proposed. For example, Patent Document 1 discloses a technique for displaying reverberation time (reverberation time-frequency characteristics) measured for each of a plurality of frequency bands on a display device.

特開平7−038987号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-038987

ところで、残響時間を実際に測定する場面では、被測定空間内に存在する暗騒音の影響で残響時間の測定結果に誤差が発生する可能性がある。しかし、残響時間の測定結果が、被測定空間の現実の特性を反映した適正な数値であるのか、暗騒音に起因した誤差を含む信頼性の低い数値であるのかを判断することは、音響測定の専門的な知識が充分でない利用者にとって困難である。以上の事情を考慮して、本発明は、残響時間の測定結果の適否を利用者が容易に把握できるようにすることを目的とする。   By the way, in the scene where the reverberation time is actually measured, an error may occur in the measurement result of the reverberation time due to the influence of the background noise existing in the measurement space. However, determining whether the reverberation time measurement result is an appropriate value that reflects the actual characteristics of the space under measurement or an unreliable value that includes errors due to background noise is an acoustic measurement. It is difficult for users who do not have enough specialized knowledge. In view of the above circumstances, an object of the present invention is to enable a user to easily grasp the suitability of a reverberation time measurement result.

以上の課題を解決するために、本発明の第1態様に係る残響時間解析装置は、複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のSN比を測定する雑音解析手段と、複数の周波数帯域の各々について被測定空間内の残響時間を測定する残響解析手段と、残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、複数の周波数帯域のうちSN比が閾値を下回る周波数帯域の残響時間を表示対象から除外する表示制御手段とを具備する。以上の構成では、複数の周波数帯域のうちSN比が閾値を下回る周波数帯域の残響時間が表示対象から除外される。したがって、残響時間の測定結果の適否(表示対象の残響時間は充分に信頼できること)を利用者が容易に把握できるという利点がある。   In order to solve the above problems, a reverberation time analysis apparatus according to a first aspect of the present invention includes a noise analysis unit that measures an S / N ratio in a measured space for each of a plurality of frequency bands, and a plurality of frequency bands. Reverberation analysis means for measuring the reverberation time in the measured space for each, and means for displaying the reverberation time on a display device for each frequency band, and the reverberation of the frequency band whose SN ratio is below the threshold value among the plurality of frequency bands Display control means for excluding time from display targets. In the above configuration, the reverberation time of the frequency band in which the SN ratio is lower than the threshold among the plurality of frequency bands is excluded from the display target. Therefore, there is an advantage that the user can easily grasp whether or not the reverberation time measurement result is appropriate (the reverberation time of the display target is sufficiently reliable).

また、本発明の第2態様に係る残響時間解析装置は、複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のSN比を測定する雑音解析手段と、複数の周波数帯域の各々について、当該周波数帯域のSN比に応じて可変に設定された基準量だけ当該周波数帯域の音響の強度が減衰する時間長に応じて被測定空間の残響時間を算定する残響解析手段と、残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、相異なる基準量のもとで測定された各残響時間の表示態様を相違させる表示制御手段とを具備する。以上の構成では、残響時間の算定に適用される基準量がSN比に応じて可変に設定され、相異なる基準量に対応する残響時間が別個の態様で表示装置に表示される。したがって、残響時間の測定結果の適否(各残響時間の信頼性の高低)を利用者が容易に把握できるという利点がある。   The reverberation time analysis apparatus according to the second aspect of the present invention includes a noise analysis unit that measures an S / N ratio in a measured space for each of a plurality of frequency bands, and each of the plurality of frequency bands. Reverberation analysis means for calculating the reverberation time of the space under measurement according to the length of time that the sound intensity in the frequency band is attenuated by a reference amount variably set according to the SN ratio, and the reverberation time is displayed for each frequency band Display means for displaying on the apparatus, the display control means changing the display mode of each reverberation time measured under different reference amounts. In the above configuration, the reference amount applied to the calculation of the reverberation time is variably set according to the SN ratio, and the reverberation times corresponding to different reference amounts are displayed on the display device in different modes. Therefore, there is an advantage that the user can easily grasp whether the measurement result of the reverberation time is appropriate (reliability of each reverberation time).

本発明の好適な態様において、残響解析手段は、複数の周波数帯域のうち利用者から指示された周波数帯域の残響時間を再測定する。以上の態様では、利用者から指示された周波数帯域の残響時間が再測定されるから、例えば一時的な外乱に起因して残響時間に誤差が発生した場合に適正な残響時間を再測定により確認できるという利点がある。   In a preferred aspect of the present invention, the reverberation analysis means remeasures the reverberation time of the frequency band instructed by the user among the plurality of frequency bands. In the above aspect, since the reverberation time of the frequency band instructed by the user is remeasured, for example, when an error occurs in the reverberation time due to a temporary disturbance, an appropriate reverberation time is confirmed by remeasurement. There is an advantage that you can.

以上の各態様に係る残響時間解析装置は、残響時間の解析に専用されるDSP(Digital Signal Processor)等のハードウェア(電子回路)によって実現されるほか、CPU(Central Processing Unit)等の汎用の演算処理装置とプログラムとの協働によっても実現される。本発明のプログラムは、コンピュータが読取可能な記録媒体に格納された形態で提供されてコンピュータにインストールされ得る。記録媒体は、例えば非一過性(non-transitory)の記録媒体であり、CD-ROM等の光学式記録媒体(光ディスク)が好例であるが、半導体記録媒体や磁気記録媒体等の公知の任意の形式の記録媒体を包含し得る。また、例えば、本発明のプログラムは、通信網を介した配信の形態で提供されてコンピュータにインストールされ得る。また、本発明は、以上に説明した各態様に係る残響時間解析装置の動作方法(残響時間解析方法)としても特定される。   The reverberation time analysis apparatus according to each of the above aspects is realized by hardware (electronic circuit) such as a DSP (Digital Signal Processor) dedicated to reverberation time analysis, or a general-purpose such as a CPU (Central Processing Unit). This is also realized by cooperation between the arithmetic processing unit and the program. The program of the present invention can be provided in a form stored in a computer-readable recording medium and installed in the computer. The recording medium is, for example, a non-transitory recording medium, and an optical recording medium (optical disk) such as a CD-ROM is a good example, but a known arbitrary one such as a semiconductor recording medium or a magnetic recording medium This type of recording medium can be included. For example, the program of the present invention can be provided in the form of distribution via a communication network and installed in a computer. The present invention is also specified as an operation method (reverberation time analysis method) of the reverberation time analysis apparatus according to each aspect described above.

本発明の第1実施形態に係る残響時間解析装置の構成図である。It is a block diagram of the reverberation time analyzer which concerns on 1st Embodiment of this invention. 雑音解析処理のフローチャートである。It is a flowchart of a noise analysis process. 残響解析処理のフローチャートである。It is a flowchart of a reverberation analysis process. 残響時間の算定の説明図である。It is explanatory drawing of calculation of reverberation time. 解析結果画面の模式図である。It is a schematic diagram of an analysis result screen. 表示制御処理のフローチャートである。It is a flowchart of a display control process. 第2実施形態における残響解析処理の説明図である。It is explanatory drawing of the reverberation analysis process in 2nd Embodiment. 第2実施形態における解析結果画面の模式図である。It is a schematic diagram of the analysis result screen in 2nd Embodiment.

<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係る残響時間解析装置100の構成図である。残響時間解析装置100は、会議室やホール等の任意の音響空間(被測定空間)の残響時間を測定するための情報処理装置であり、図1に例示される通り、演算処理装置10と記憶装置12と表示装置14と入力装置16と収音装置18とを具備するコンピュータシステムで実現される。例えばスマートフォンやタブレット端末等の可搬型の情報処理装置で残響時間解析装置100を実現することが可能である。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a configuration diagram of a reverberation time analysis apparatus 100 according to the first embodiment of the present invention. The reverberation time analysis apparatus 100 is an information processing apparatus for measuring the reverberation time of an arbitrary acoustic space (measurement space) such as a conference room or a hall. As illustrated in FIG. The present invention is realized by a computer system including the device 12, the display device 14, the input device 16, and the sound collection device 18. For example, the reverberation time analysis apparatus 100 can be realized by a portable information processing apparatus such as a smartphone or a tablet terminal.

記憶装置12は、演算処理装置10が実行するプログラムや演算処理装置10が使用する各種のデータを記憶する。半導体記録媒体や磁気記録媒体等の公知の記録媒体や複数種の記録媒体の組合せが記憶装置12として任意に採用され得る。表示装置14(例えば液晶表示パネル)は、演算処理装置10による制御のもとで各種の画像を表示する。例えば残響時間の測定結果が表示装置14に表示される。入力装置16は、残響時間解析装置100に対する指示を利用者が入力するための操作機器である。例えば利用者が押圧可能な操作子や表示装置14と一体に構成されたタッチパネルが入力装置16として好適に利用される。   The storage device 12 stores a program executed by the arithmetic processing device 10 and various data used by the arithmetic processing device 10. A known recording medium such as a semiconductor recording medium or a magnetic recording medium or a combination of a plurality of types of recording media can be arbitrarily employed as the storage device 12. The display device 14 (for example, a liquid crystal display panel) displays various images under the control of the arithmetic processing device 10. For example, the reverberation time measurement result is displayed on the display device 14. The input device 16 is an operation device for a user to input an instruction to the reverberation time analysis device 100. For example, an operator that can be pressed by the user or a touch panel configured integrally with the display device 14 is preferably used as the input device 16.

収音装置18は、被測定空間内の音響を収音することで音響信号(以下「観測信号」という)Qを生成するマイクロホンである。なお、残響時間解析装置100に収音装置18を搭載した構成を図1では例示したが、残響時間解析装置100とは別体の収音装置18を残響時間解析装置100に外付けすることも可能である。なお、収音装置18が生成した観測信号Qをアナログからデジタルに変換するA/D変換器の図示は便宜的に省略した。   The sound collection device 18 is a microphone that generates an acoustic signal (hereinafter referred to as “observation signal”) Q by collecting sound in the space to be measured. Although the configuration in which the sound collection device 18 is mounted on the reverberation time analysis device 100 is illustrated in FIG. 1, a sound collection device 18 separate from the reverberation time analysis device 100 may be externally attached to the reverberation time analysis device 100. Is possible. The A / D converter that converts the observation signal Q generated by the sound collection device 18 from analog to digital is not shown for convenience.

図1に例示される通り、残響時間解析装置100には放音装置200(スピーカ)が接続される。被測定空間の残響時間を測定するための音響信号(以下「試験信号」という)Zが残響時間解析装置100から放音装置200に供給される。放音装置200は、残響時間解析装置100から供給される試験信号Zに応じた音響(以下「試験音」という)を被測定空間に放射する。なお、試験信号Zをデジタルからアナログに変換するD/A変換器の図示は便宜的に省略した。また、残響時間解析装置100に放音装置200を外付けした構成を図1では例示したが、残響時間解析装置100に放音装置200を搭載した構成も採用され得る。   As illustrated in FIG. 1, a sound emission device 200 (speaker) is connected to the reverberation time analysis device 100. An acoustic signal (hereinafter referred to as “test signal”) Z for measuring the reverberation time of the measurement space is supplied from the reverberation time analysis device 100 to the sound emission device 200. The sound emitting device 200 radiates sound (hereinafter referred to as “test sound”) corresponding to the test signal Z supplied from the reverberation time analyzing device 100 to the space to be measured. The D / A converter that converts the test signal Z from digital to analog is not shown for convenience. In addition, although the configuration in which the sound emission device 200 is externally attached to the reverberation time analysis device 100 is illustrated in FIG. 1, a configuration in which the sound emission device 200 is mounted on the reverberation time analysis device 100 may be employed.

演算処理装置10は、記憶装置12に記憶されたプログラムを実行することで、被測定空間の残響時間を解析および提示するための複数の機能(雑音解析部22,残響解析部24,表示制御部26)として機能する。なお、演算処理装置10の機能を複数の装置に分散した構成や、演算処理装置10の機能の一部を専用の電子回路が実現する構成も採用され得る。   The arithmetic processing device 10 executes a program stored in the storage device 12 to thereby analyze and present the reverberation time of the measurement space (noise analysis unit 22, reverberation analysis unit 24, display control unit). 26). A configuration in which the functions of the arithmetic processing device 10 are distributed to a plurality of devices, or a configuration in which a dedicated electronic circuit realizes a part of the functions of the arithmetic processing device 10 may be employed.

雑音解析部22は、相異なるK個(Kは2以上の自然数)の周波数帯域B[1]〜B[K]の各々について被測定空間内のSN比σ[k]を算定する(k=1〜K)。任意の1個の周波数帯域B[k]のSN比σ[k]は、被測定空間内に存在する暗騒音のうち周波数帯域B[k]の成分の強度の指標である。なお、周波数帯域B[k]の総数Kや各周波数帯域B[k]の周波数および帯域幅は任意である。例えば、可聴周波数帯域を低音域と中音域と高音域との3個(K=3)の周波数帯域B[1]〜B[3]に分割した構成や、1/1オクターブまたは1/3オクターブを単位として可聴周波数帯域をK個の周波数帯域B[1]〜B[K]に分割した構成が採用される。   The noise analysis unit 22 calculates the SN ratio σ [k] in the measured space for each of K different frequency bands B [1] to B [K] (K is a natural number of 2 or more) (k = 1-K). The SN ratio σ [k] of any one frequency band B [k] is an index of the intensity of the component of the frequency band B [k] in the background noise existing in the measured space. The total number K of frequency bands B [k] and the frequency and bandwidth of each frequency band B [k] are arbitrary. For example, the audible frequency band is divided into three (K = 3) frequency bands B [1] to B [3] of the low, middle, and high sound ranges, or 1/1 octave or 1/3 octave. A configuration is adopted in which the audible frequency band is divided into K frequency bands B [1] to B [K] in units of.

図2は、雑音解析部22が各周波数帯域B[k]のSN比σ[k](σ[1]〜σ[K])を算定する処理(雑音解析処理)のフローチャートである。入力装置16に対する利用者からの指示(測定開始の指示)を契機として図2の雑音解析処理が開始される。   FIG. 2 is a flowchart of processing (noise analysis processing) in which the noise analysis unit 22 calculates the SN ratio σ [k] (σ [1] to σ [K]) of each frequency band B [k]. The noise analysis process of FIG. 2 is started in response to an instruction from the user to the input device 16 (measurement start instruction).

雑音解析処理を開始すると、雑音解析部22は、被測定空間内の暗騒音のレベル(以下「雑音レベル」という)LN[k](LN[1]〜LN[K])を周波数帯域B[k]毎に算定する(SA1)。具体的には、放音装置200に対する試験信号Zの供給前(すなわち試験音の放射前)に収音装置18が生成する観測信号Qのうち各周波数帯域B[k]の成分の信号レベル(または複数の時点にわたる信号レベルの平均値)が雑音レベルLN[k]として算定される。   When the noise analysis process is started, the noise analysis unit 22 converts the level of background noise (hereinafter referred to as “noise level”) LN [k] (LN [1] to LN [K]) in the measured space into the frequency band B [ k] is calculated every time [SA1]. Specifically, the signal level of each frequency band B [k] component of the observation signal Q generated by the sound collection device 18 before the test signal Z is supplied to the sound emitting device 200 (ie, before the test sound is emitted) ( Alternatively, the average value of signal levels over a plurality of time points) is calculated as the noise level LN [k].

雑音解析部22は、試験信号Zを放音装置200に供給することで放音装置200から試験音を放射させる(SA2)。試験音の種類は任意であるが、例えば信号レベルが広帯域にわたり均一化された白色雑音等の雑音信号や、周波数が時間的に連続に変化する時間伸長信号(Swept-Sine)が試験信号Zとして好適である。利用者は、放音装置200から放射される試験音を聴取しながら入力装置16を操作することで試験信号Zの信号レベル(試験音の再生音量)を適宜に調整することが可能である。   The noise analysis unit 22 radiates the test sound from the sound emitting device 200 by supplying the test signal Z to the sound emitting device 200 (SA2). The type of test sound is arbitrary. For example, a noise signal such as white noise whose signal level is uniform over a wide band, or a time-extended signal (Swept-Sine) whose frequency continuously changes in time is used as the test signal Z. Is preferred. The user can appropriately adjust the signal level of the test signal Z (reproduction volume of the test sound) by operating the input device 16 while listening to the test sound emitted from the sound emitting device 200.

試験信号Zの信号レベルの調整が完了すると、雑音解析部22は、調整後の試験信号Zの信号レベルLZと各周波数帯域B[k]の雑音レベルLN[k]とに応じて、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]の各々についてSN比σ[k](σ[1]〜σ[K])を算定する(SA3)。以上が雑音解析処理の具体例である。   When the adjustment of the signal level of the test signal Z is completed, the noise analysis unit 22 determines K signals according to the signal level LZ of the adjusted test signal Z and the noise level LN [k] of each frequency band B [k]. The SN ratio σ [k] (σ [1] to σ [K]) is calculated for each of the frequency bands B [1] to B [K] (SA3). The above is a specific example of the noise analysis processing.

図1の残響解析部24は、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]の各々について被測定空間の残響時間T[k](T[1]〜T[K])を測定する。具体的には、残響解析部24は、放音装置200から被測定空間内に放射される試験音が停止した直後の観測信号Qのうち周波数帯域B[k]の成分の減衰特性を解析することで残響時間T[k]を算定する。図3は、残響解析部24が各周波数帯域B[k]の残響時間T[k](T[1]〜T[K])を算定する処理(残響解析処理)のフローチャートである。図2の雑音解析処理の完了を契機として図3の残響解析処理が開始される。   The reverberation analyzer 24 in FIG. 1 measures the reverberation time T [k] (T [1] to T [K]) of the measurement space for each of the K frequency bands B [1] to B [K]. . Specifically, the reverberation analysis unit 24 analyzes the attenuation characteristic of the component in the frequency band B [k] in the observation signal Q immediately after the test sound radiated from the sound emitting device 200 into the measurement target space is stopped. Thus, the reverberation time T [k] is calculated. FIG. 3 is a flowchart of processing (reverberation analysis processing) in which the reverberation analysis unit 24 calculates the reverberation time T [k] (T [1] to T [K]) of each frequency band B [k]. The reverberation analysis process of FIG. 3 is started upon completion of the noise analysis process of FIG.

残響解析処理を開始すると、残響解析部24は、図2の雑音解析処理で設定された信号レベルLZの試験信号Zを放音装置200に供給することで放音装置200から試験音を放射させる(SB1)。残響解析部24は、試験音の放射の開始から所定の時間(例えば試験音の強度が安定するまでの時間)が経過した時点(以下「発音停止点」という)で放音装置200に対する試験信号Zの供給を停止して試験音の放射を停止させる(SB2)。   When the reverberation analysis process is started, the reverberation analysis unit 24 radiates the test sound from the sound emitting device 200 by supplying the test signal Z having the signal level LZ set in the noise analysis process of FIG. (SB1). The reverberation analysis unit 24 performs a test signal for the sound emitting device 200 at a point in time (hereinafter, referred to as “sounding stop point”) after a predetermined time (for example, a time until the strength of the test sound is stabilized) has elapsed since the start of test sound emission. The supply of Z is stopped and the emission of the test sound is stopped (SB2).

発音停止点の直後には、試験音に起因する残響音が収音装置18により収音される。残響解析部24は、発音停止点以降の所定時間にわたり収音装置18から供給される観測信号Qを解析することで周波数帯域B[k]毎の信号レベルLQ[k]の時系列を特定して記憶装置12に格納する(SB3)。任意の1個の周波数帯域B[k]に対応する信号レベルLQ[k]の時系列は、試験音に起因した残響音の時間的な減衰を表現する。   Immediately after the sound generation stop point, the reverberation sound resulting from the test sound is collected by the sound collection device 18. The reverberation analysis unit 24 identifies the time series of the signal level LQ [k] for each frequency band B [k] by analyzing the observation signal Q supplied from the sound collection device 18 for a predetermined time after the sound generation stop point. Is stored in the storage device 12 (SB3). The time series of the signal level LQ [k] corresponding to any one frequency band B [k] represents the temporal decay of the reverberant sound caused by the test sound.

残響解析部24は、各周波数帯域B[k]の信号レベルLQ[k]の時系列を解析することで残響時間T[k]を周波数帯域B[k]毎に算定する(SB4)。残響時間T[k]の算定にはインパルス積分法(Schroeder法)が好適に利用される。すなわち、残響解析部24は、各周波数帯域B[k]の信号レベルLQ[k]の時系列(インパルス応答)のうち時間軸上の所定区間を積分範囲としたインパルス積分法で図4の残響減衰曲線C[k]を算定し、残響減衰曲線C[k]の解析で周波数帯域B[k]毎の残響時間T[k]を算定する。第1実施形態の残響解析部24は、図4に例示される通り、残響減衰曲線C[k]の数値が発音停止点t0の経過後に所定の基準量δだけ減衰する時間長τ[k]に応じて周波数帯域B[k]の残響時間T[k]を算定する。具体的には、残響減衰曲線C[k]の数値が、発音停止点t0での初期値c0と比較して所定量(例えば5dB)だけ低下する時点t1から、時点t1での数値と比較して基準量δだけ低下する時点t2までの経過時間が、時間長τ[k]として算定される。基準量δは例えば30dBに設定される。残響時間T[k]は、発音停止点t0の経過後に信号レベルLQ[k]が60dBだけ減衰する時間長と定義されるから、残響解析部24は、残響減衰曲線C[k]の数値が基準量δだけ減衰する時間長τ[k]を{60/δ}倍した数値を残響時間T[k]として算定する。例えば基準量δを前述の通り30dBと仮定すると、時間長τ[k]の2倍の数値が残響時間T[k]として算定される。なお、各周波数帯域B[k]の信号レベルLQ[k]の時系列から直接的に残響時間T[k]を算定すること(ノイズ断続法)も可能である。   The reverberation analyzer 24 calculates the reverberation time T [k] for each frequency band B [k] by analyzing the time series of the signal level LQ [k] of each frequency band B [k] (SB4). The impulse integration method (Schroeder method) is preferably used for calculating the reverberation time T [k]. That is, the reverberation analysis unit 24 performs the reverberation of FIG. 4 using the impulse integration method in which a predetermined interval on the time axis is included in the time series (impulse response) of the signal level LQ [k] of each frequency band B [k]. The attenuation curve C [k] is calculated, and the reverberation time T [k] for each frequency band B [k] is calculated by analyzing the reverberation attenuation curve C [k]. As illustrated in FIG. 4, the reverberation analysis unit 24 of the first embodiment is a time length τ [k] in which the numerical value of the reverberation decay curve C [k] decays by a predetermined reference amount δ after the sounding stop point t0 has elapsed. Accordingly, the reverberation time T [k] of the frequency band B [k] is calculated. Specifically, the value of the reverberation decay curve C [k] is compared with the value at the time t1 from the time t1 when the numerical value is decreased by a predetermined amount (for example, 5 dB) compared to the initial value c0 at the sounding stop point t0. The elapsed time up to the time point t2 when the reference amount δ is reduced is calculated as the time length τ [k]. The reference amount δ is set to 30 dB, for example. Since the reverberation time T [k] is defined as a time length in which the signal level LQ [k] attenuates by 60 dB after the sounding stop point t0 has elapsed, the reverberation analysis unit 24 uses the numerical value of the reverberation attenuation curve C [k]. A value obtained by multiplying the time length τ [k] that attenuates by the reference amount δ by {60 / δ} is calculated as the reverberation time T [k]. For example, assuming that the reference amount δ is 30 dB as described above, a value twice as long as the time length τ [k] is calculated as the reverberation time T [k]. Note that the reverberation time T [k] can be calculated directly from the time series of the signal level LQ [k] of each frequency band B [k] (noise intermittent method).

図1の表示制御部26は、残響解析部24が算定した残響時間T[k]を周波数帯域B[k]毎に表示装置14に表示させる。具体的には、表示制御部26は、図5の解析結果画面50を表示装置14に表示させる。解析結果画面50は、各周波数帯域B[k]の残響時間T[k]を利用者に提示するための画像である。図5に例示された解析結果画面50は、周波数軸(横軸)AXと残響時間T[k]の数値軸(縦軸)AYとが設定された表示領域52に周波数帯域B[k]毎の指示点P[k]を配置して各指示点P[k]を直線で相互に連結した折線グラフである。数値軸AYの方向における指示点P[k]の位置が残響時間T[k]に応じて選定される。   The display control unit 26 in FIG. 1 displays the reverberation time T [k] calculated by the reverberation analysis unit 24 on the display device 14 for each frequency band B [k]. Specifically, the display control unit 26 causes the display device 14 to display the analysis result screen 50 of FIG. The analysis result screen 50 is an image for presenting the reverberation time T [k] of each frequency band B [k] to the user. The analysis result screen 50 illustrated in FIG. 5 is displayed in the display area 52 in which the frequency axis (horizontal axis) AX and the numerical axis (vertical axis) AY of the reverberation time T [k] are set for each frequency band B [k]. Is a line graph in which designated points P [k] are arranged and the designated points P [k] are connected to each other by straight lines. The position of the designated point P [k] in the direction of the value axis AY is selected according to the reverberation time T [k].

第1実施形態の表示制御部26は、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]のうち雑音解析部22が測定したSN比σ[k]が所定の閾値σTHを下回る各周波数帯域B[k](以下「高雑音帯域BN」という)の残響時間T[k]を解析結果画面50での表示対象から除外する。具体的には、各高雑音帯域BNについては、残響時間T[k]を表象する指示点P[k]の表示が省略される。図5では、低域側の残響時間T[1]および残響時間T[2]と高域側の残響時間T[K]とが表示対象から除外された状態が例示されている。   The display control unit 26 of the first embodiment includes each frequency band in which the SN ratio σ [k] measured by the noise analysis unit 22 is below a predetermined threshold σTH among the K frequency bands B [1] to B [K]. The reverberation time T [k] of B [k] (hereinafter referred to as “high noise band BN”) is excluded from the display target on the analysis result screen 50. Specifically, for each high noise band BN, the indication point P [k] representing the reverberation time T [k] is omitted. FIG. 5 illustrates a state in which the reverberation time T [1] and the reverberation time T [2] on the low frequency side and the reverberation time T [K] on the high frequency side are excluded from the display target.

SN比σ[k]が閾値σTHを上回る環境で測定された残響時間T[k]について充分な信頼性が担保されるように、閾値σTHは統計的または実験的に設定される。すなわち、閾値σTHを下回る程度にSN比σ[k]が低い環境(すなわち雑音レベルLN[k]が高い環境)で算定される残響時間T[k]は、被測定空間内の暗騒音に起因した誤差を含む信頼性の低い測定結果である可能性が高い。以上の説明から理解される通り、表示制御部26は、信頼性が低い測定結果(残響時間T[k])を表示対象から除外する要素とも換言され得る。なお、入力装置16に対する利用者からの指示に応じて閾値σTHを可変に設定する構成や、周波数帯域B[k]毎に閾値σTHを別個に設定する構成も採用され得る。   The threshold σTH is set statistically or experimentally so that sufficient reliability is ensured for the reverberation time T [k] measured in an environment where the SN ratio σ [k] exceeds the threshold σTH. That is, the reverberation time T [k] calculated in an environment where the SN ratio σ [k] is low enough to fall below the threshold σTH (that is, an environment where the noise level LN [k] is high) is attributed to background noise in the measured space. There is a high possibility that the measurement result has low reliability including the error. As can be understood from the above description, the display control unit 26 can be rephrased as an element that excludes a measurement result (reverberation time T [k]) with low reliability from the display target. A configuration in which the threshold σTH is variably set according to an instruction from the user to the input device 16 or a configuration in which the threshold σTH is separately set for each frequency band B [k] may be employed.

図6は、表示制御部26が解析結果画面50を表示させる処理(表示制御処理)のフローチャートである。図3の残響解析処理の完了(K個の残響時間T[1]〜T[K]の算定)を契機として図6の表示制御処理が開始される。   FIG. 6 is a flowchart of processing (display control processing) in which the display control unit 26 displays the analysis result screen 50. The display control process of FIG. 6 is started upon completion of the reverberation analysis process of FIG. 3 (calculation of K reverberation times T [1] to T [K]).

表示制御部26は、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]の何れか(以下「選択帯域」という)B[k]を選択し(SC1)、選択帯域B[k]について雑音解析部22が測定したSN比σ[k]が閾値σTHを下回るか否かを判定する(SC2)。SN比σ[k]が閾値σTHを上回る場合(SC2:NO)、表示制御部26は、選択帯域B[k]の残響時間T[k]を表示装置14に表示させる。具体的には、表示制御部26は、選択帯域B[k]に対応する指示点P[k]を残響時間T[k]に応じて表示領域52に配置する(SC3)。他方、SN比σ[k]が閾値σTHを下回る場合(すなわち残響時間T[k]の信頼性が低い場合)、表示制御部26は、選択帯域B[k]の残響時間T[k]を表示対象から除外する(SC4)。すなわち、表示制御部26は、選択帯域B[k]の指示点P[k]を表示装置14に表示させない。   The display control unit 26 selects one of the K frequency bands B [1] to B [K] (hereinafter referred to as “selected band”) B [k] (SC1), and generates noise for the selected band B [k]. It is determined whether or not the SN ratio σ [k] measured by the analysis unit 22 is lower than the threshold σTH (SC2). When the SN ratio σ [k] exceeds the threshold σTH (SC2: NO), the display control unit 26 causes the display device 14 to display the reverberation time T [k] of the selected band B [k]. Specifically, the display control unit 26 arranges the indication point P [k] corresponding to the selected band B [k] in the display area 52 according to the reverberation time T [k] (SC3). On the other hand, when the SN ratio σ [k] is lower than the threshold σTH (that is, when the reverberation time T [k] has low reliability), the display control unit 26 sets the reverberation time T [k] of the selected band B [k]. Excluded from display (SC4). That is, the display control unit 26 does not display the indication point P [k] of the selected band B [k] on the display device 14.

表示制御部26は、各周波数帯域B[k]について以上の処理を反復し(SC5:NO)、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]について処理が完了した場合には(SC5:YES)、表示領域52内の各指示点P[k]を直線で相互に連結して解析結果画面50を完成する(SC6)。   The display control unit 26 repeats the above processing for each frequency band B [k] (SC5: NO), and when the processing is completed for K frequency bands B [1] to B [K] (SC5) : YES), each indicated point P [k] in the display area 52 is connected with a straight line to complete the analysis result screen 50 (SC6).

以上に説明した通り、第1実施形態では、SN比σ[k]が閾値σTHを下回る各高雑音帯域BNの残響時間T[k]が表示対象から除外されるから、残響時間T[k]の測定結果の適否(表示対象の残響時間T[k]は充分に信頼できること)を利用者が容易に把握できるという利点がある。   As described above, in the first embodiment, the reverberation time T [k] of each high noise band BN whose SN ratio σ [k] is lower than the threshold σTH is excluded from the display target. There is an advantage that the user can easily grasp the suitability of the measurement result (the reverberation time T [k] to be displayed is sufficiently reliable).

<第2実施形態>
本発明の第2実施形態を以下に説明する。なお、以下に例示する各形態において作用や機能が第1実施形態と同様である要素については、第1実施形態の説明で参照した符号を流用して各々の詳細な説明を適宜に省略する。
Second Embodiment
A second embodiment of the present invention will be described below. In addition, about the element which an effect | action and function are the same as that of 1st Embodiment in each form illustrated below, the reference | standard referred by description of 1st Embodiment is diverted, and each detailed description is abbreviate | omitted suitably.

図7の部分(A)は、周波数帯域B[k]のSN比σ[k]が高い環境における残響減衰曲線C[k]であり、図7の部分(B)は、図7の部分(A)と比較してSN比σ[k]が低い環境における残響減衰曲線C[k]である。図7から理解される通り、SN比σ[k]が低い環境では、発音停止点t0の経過後の早い段階で残響減衰曲線C[k](あるいは信号レベルLQ[k]の時系列)に対する暗騒音の影響が顕在化するという傾向がある。以上の傾向を考慮して、第2実施形態では、被測定空間内のSN比σ[k]に応じて基準量δを可変に制御する。   A part (A) in FIG. 7 is a reverberation attenuation curve C [k] in an environment where the SN ratio σ [k] of the frequency band B [k] is high. A part (B) in FIG. This is a reverberation attenuation curve C [k] in an environment where the SN ratio σ [k] is low compared to A). As understood from FIG. 7, in an environment where the S / N ratio σ [k] is low, the reverberation decay curve C [k] (or the time series of the signal level LQ [k]) at an early stage after the sounding stop point t0 has elapsed. There is a tendency that the influence of background noise becomes obvious. Considering the above tendency, in the second embodiment, the reference amount δ is variably controlled according to the SN ratio σ [k] in the space to be measured.

第2実施形態の残響解析部24は、残響解析処理において、各周波数帯域B[k]のSN比σ[k]が低いほど基準量δ[k]が減少するように、残響時間T[k]の算定(SB4)に適用される基準量δ[k]を周波数帯域B[k]毎に個別に設定する。具体的には、残響解析部24は、雑音解析部22が算定したSN比σ[k]が低いほど基準量δ[k]を小さい数値に設定する。例えば、SN比σ[k]が第1範囲に包含される場合には基準量δ[k]は30dB(標準値)に設定され、第1範囲を下回る第2範囲にSN比σ[k]が包含される場合には基準量δ[k]は25dBに設定され、第2範囲を下回る第3範囲にSN比σ[k]が包含される場合には基準量δ[k]は20dBに設定される。発音停止点t0の経過後に残響減衰曲線C[k]の数値が基準量δ[k]だけ低下する時間長τ[k]に応じて残響時間T[k](T[k]=τ[k]×{60/δ[k]})を算定する処理は第1実施形態と同様である。   In the reverberation analysis process, the reverberation analysis unit 24 of the second embodiment reverberation time T [k] so that the reference amount δ [k] decreases as the SN ratio σ [k] of each frequency band B [k] decreases. ] Is calculated individually for each frequency band B [k]. Specifically, the reverberation analyzer 24 sets the reference amount δ [k] to a smaller numerical value as the SN ratio σ [k] calculated by the noise analyzer 22 is lower. For example, when the SN ratio σ [k] is included in the first range, the reference amount δ [k] is set to 30 dB (standard value), and the SN ratio σ [k] is set to the second range below the first range. Is included in the third range below the second range and the SN ratio σ [k] is included in the third range below the second range, the reference amount δ [k] is set to 20 dB. Is set. The reverberation time T [k] (T [k] = τ [k] corresponding to the time length τ [k] in which the numerical value of the reverberation decay curve C [k] decreases by the reference amount δ [k] after the sounding stop point t0 has elapsed. ] × {60 / δ [k]}) is calculated in the same manner as in the first embodiment.

以上の通り、SN比σ[k]に応じて基準量δ[k]を制御することで測定結果(残響時間T[k])に対する暗騒音の影響は低減されるが、残響時間T[k]の本来の定義に係る60dBから基準量δ[k]が乖離するほど、残響時間T[k]の誤差は増加する(測定結果の信頼性が低下する)という傾向がある。以上の傾向を考慮して、第2実施形態の表示制御部26は、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]の各々について残響時間T[k]を表示装置14に表示させる一方、相異なる基準量δ[k]のもとで算定された各残響時間T[k]の表示態様を相違させる。   As described above, by controlling the reference amount δ [k] according to the SN ratio σ [k], the influence of background noise on the measurement result (reverberation time T [k]) is reduced, but the reverberation time T [k] ], The error of the reverberation time T [k] tends to increase (the reliability of the measurement result decreases) as the reference amount δ [k] deviates from 60 dB according to the original definition. In consideration of the above tendency, the display control unit 26 of the second embodiment displays the reverberation time T [k] for each of the K frequency bands B [1] to B [K] on the display device 14. The display modes of the reverberation times T [k] calculated under different reference amounts δ [k] are made different.

図8は、第2実施形態における解析結果画面50の模式図である。図8では、周波数帯域B[1]の基準量δ[1]と周波数帯域B[2]の基準量δ[2]と周波数帯域B[K]の基準量δ[K]とが20dBに設定され、周波数帯域B[3]の基準量δ[3]が25dBに設定され、残余の各周波数帯域B[k](B[4]〜B[K-1])の基準量δ[k]が30dB(標準値)に設定された場合が想定されている。図8から理解される通り、表示制御部26は、各周波数帯域B[k]の残響時間T[k]を表象する指示点P[k]を基準量δ[k]に応じた表示態様(例えば階調)で表示する。具体的には、基準量δ[k]が小さいほど指示点P[k]は淡い階調(白色に近い階調)で表示される。また、表示制御部26は、標準値(30dB)以外の基準量δ[k]に対応した残響時間T[k]を表象する指示点P[k]の近傍に、基準量δ[k]の数値を表現する文字列54を配置する。具体的には、残響時間T[1]の指示点P[1]と残響時間T[2]の指示点P[2]と残響時間T[K]の指示点P[K]との各々の近傍には、各基準量δ[k]の数値(20dB)を包含する「T20」の文字列54が配置され、残響時間T[3]の指示点P[3]の近傍には、基準量δ[3]の数値(25dB)を包含する「T25」の文字列54が配置される。   FIG. 8 is a schematic diagram of an analysis result screen 50 in the second embodiment. In FIG. 8, the reference amount δ [1] of the frequency band B [1], the reference amount δ [2] of the frequency band B [2], and the reference amount δ [K] of the frequency band B [K] are set to 20 dB. The reference amount δ [3] of the frequency band B [3] is set to 25 dB, and the reference amount δ [k] of each remaining frequency band B [k] (B [4] to B [K-1]) is set. Is assumed to be set to 30 dB (standard value). As understood from FIG. 8, the display control unit 26 displays the indication point P [k] representing the reverberation time T [k] of each frequency band B [k] according to the reference amount δ [k] ( For example, gradation is displayed. Specifically, the indication point P [k] is displayed with a lighter gradation (a gradation closer to white) as the reference amount δ [k] is smaller. Further, the display control unit 26 sets the reference amount δ [k] in the vicinity of the indicated point P [k] representing the reverberation time T [k] corresponding to the reference amount δ [k] other than the standard value (30 dB). A character string 54 expressing a numerical value is arranged. Specifically, each of the indication point P [1] of the reverberation time T [1], the indication point P [2] of the reverberation time T [2], and the indication point P [K] of the reverberation time T [K]. In the vicinity, a character string 54 of “T20” including the numerical value (20 dB) of each reference amount δ [k] is arranged, and in the vicinity of the indication point P [3] of the reverberation time T [3] A character string 54 of “T25” including a numerical value (25 dB) of δ [3] is arranged.

以上に説明した通り、第2実施形態では、残響時間T[k]の算定に適用される基準量δ[k]がSN比σ[k]に応じて可変に設定され、相異なる基準量δ[k]に対応する残響時間T[k]が別個の表示態様で表示される。したがって、残響時間T[k]の測定結果の適否(各残響時間T[k]の信頼性の高低)を利用者が容易に把握できるという利点がある。   As described above, in the second embodiment, the reference amount δ [k] applied to the calculation of the reverberation time T [k] is variably set according to the SN ratio σ [k], and different reference amounts δ. The reverberation time T [k] corresponding to [k] is displayed in a separate display mode. Therefore, there is an advantage that the user can easily grasp whether the measurement result of the reverberation time T [k] is appropriate (reliability of each reverberation time T [k]).

<第3実施形態>
第3実施形態では、第2実施形態(図8)と同様に、基準量δ[k]に応じた表示態様でK個の残響時間T[k]が表示される。利用者は、入力装置16を適宜に操作することで、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]の何れか(K個の残響時間T[1]〜T[K]の何れか)を選択することが可能である。表示装置14の表示面に対する接触を検出するタッチパネルを入力装置16として利用した構成では、表示面のうち任意の指示点P[k]に対応する位置に利用者が接触することで、当該指示点P[k]に対応する周波数帯域B[k]の選択を指示することが可能である。
<Third Embodiment>
In the third embodiment, as in the second embodiment (FIG. 8), K reverberation times T [k] are displayed in a display mode corresponding to the reference amount δ [k]. The user appropriately operates the input device 16 to select one of the K frequency bands B [1] to B [K] (any one of the K reverberation times T [1] to T [K]). ) Can be selected. In the configuration in which the touch panel for detecting contact with the display surface of the display device 14 is used as the input device 16, when the user touches a position corresponding to an arbitrary designated point P [k] on the display surface, the designated point It is possible to instruct the selection of the frequency band B [k] corresponding to P [k].

任意の1個の周波数帯域(以下「対象帯域」という)B[k]が指示された場合、当該対象帯域B[k]に対応する残響時間T[k]の再測定が実行される。具体的には、雑音解析部22は、図2の雑音解析処理で対象帯域B[k]のSN比σ[k]を測定し、残響解析部24は、当該SN比σ[k]を適用した図3の残響解析処理で対象帯域B[k]の残響時間T[k]を算定する。表示制御部26は、再測定の結果を解析結果画面50に反映させる。すなわち、再測定に係る残響時間T[k]の表示を含む内容に解析結果画面50が更新される。   When any one frequency band (hereinafter referred to as “target band”) B [k] is designated, re-measurement of the reverberation time T [k] corresponding to the target band B [k] is executed. Specifically, the noise analysis unit 22 measures the SN ratio σ [k] of the target band B [k] in the noise analysis process of FIG. 2, and the reverberation analysis unit 24 applies the SN ratio σ [k]. The reverberation time T [k] of the target band B [k] is calculated by the reverberation analysis process of FIG. The display control unit 26 reflects the remeasurement result on the analysis result screen 50. That is, the analysis result screen 50 is updated to the contents including the display of the reverberation time T [k] related to remeasurement.

第3実施形態においても第2実施形態と同様の効果が実現される。また、第3実施形態では、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]のうち利用者から指示された周波数帯域B[k]の残響時間T[k]が再測定されるから、例えば一時的な外乱に起因して残響時間T[k]に誤差が発生している場合に適正な残響時間T[k]を再測定により確認できるという利点がある。なお、以上の例示ではK個の周波数帯域B[1]〜B[K]の何れかを利用者が指示する場合を例示したが、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]のうち所定の閾値を下回る基準量δ[k]の適用で残響時間T[k]が算定された周波数帯域B[k](すなわち残響時間T[k]の信頼性が低い周波数帯域B[k])のみを利用者による選択候補とすることも可能である。   In the third embodiment, the same effect as in the second embodiment is realized. In the third embodiment, the reverberation time T [k] of the frequency band B [k] instructed by the user among the K frequency bands B [1] to B [K] is remeasured. For example, there is an advantage that an appropriate reverberation time T [k] can be confirmed by re-measurement when an error occurs in the reverberation time T [k] due to a temporary disturbance. In the above example, the case where the user instructs one of the K frequency bands B [1] to B [K] is illustrated. However, the K frequency bands B [1] to B [K] Of these, the frequency band B [k] in which the reverberation time T [k] is calculated by applying the reference amount δ [k] that is lower than the predetermined threshold (that is, the frequency band B [k] having low reverberation time T [k]). ) Only can be selected by the user.

<変形例>
以上の各形態は多様に変形され得る。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択された2以上の態様は適宜に併合され得る。
<Modification>
Each of the above forms can be variously modified. Specific modifications are exemplified below. Two or more aspects arbitrarily selected from the following examples can be appropriately combined.

(1)解析結果画面50の態様は以上の例示に限定されない。例えば、SN比σ[k]が閾値σTHを下回る周波数帯域B[k]の残響時間T[k]について、信頼性が低いことを警告する文字列や、残響時間T[k]の再測定を勧告する文字列を、表示制御部26が表示装置14に表示させることも可能である。また、図8では、基準量δ[k]に応じて指示点P[k]の階調を相違させたが、例えば指示点P[k]の形状や模様等を相違させた構成や、基準量δ[k]が小さい残響時間T[k]の指示点P[k]を点滅させる構成も採用される。以上の説明から理解される通り、残響時間T[k]の「表示態様」とは、視覚的に識別可能な性状として包括的に表現される。 (1) The aspect of the analysis result screen 50 is not limited to the above example. For example, with respect to the reverberation time T [k] of the frequency band B [k] where the SN ratio σ [k] is lower than the threshold value σTH, a character string for warning that the reliability is low, or remeasurement of the reverberation time T [k]. It is also possible for the display control unit 26 to display the recommended character string on the display device 14. In FIG. 8, the gradation of the designated point P [k] is made different according to the reference amount δ [k]. However, for example, a configuration in which the shape or pattern of the designated point P [k] is made different, A configuration is also employed in which the indicated point P [k] of the reverberation time T [k] with a small amount δ [k] is blinked. As understood from the above description, the “display mode” of the reverberation time T [k] is comprehensively expressed as a visually identifiable property.

(2)第1実施形態と第2実施形態とを併合することも可能である。すなわち、K個の周波数帯域B[1]〜B[K]のうちSN比σ[k]が閾値σTHを下回る各周波数帯域B[k]の残響時間T[k]を第1実施形態と同様に表示対象から除外するとともに、表示対象の各残響時間T[k]の表示態様を第2実施形態と同様に基準量δ[k]に応じて相違させる。また、利用者から指示された対象帯域B[k]の残響時間T[k]を再測定する第3実施形態の構成を第1実施形態に適用することも可能である。すなわち、SN比σ[k]が閾値σTHを下回る複数の周波数帯域B[k]のうち利用者が選択した対象帯域B[k]の残響時間T[k]が再測定される。 (2) The first embodiment and the second embodiment can be merged. That is, the reverberation time T [k] of each frequency band B [k] in which the SN ratio σ [k] is lower than the threshold σTH among the K frequency bands B [1] to B [K] is the same as in the first embodiment. And the display mode of each reverberation time T [k] to be displayed is made different according to the reference amount δ [k] as in the second embodiment. Further, the configuration of the third embodiment in which the reverberation time T [k] of the target band B [k] instructed by the user is remeasured can be applied to the first embodiment. That is, the reverberation time T [k] of the target band B [k] selected by the user among the plurality of frequency bands B [k] whose SN ratio σ [k] is lower than the threshold σTH is remeasured.

(3)前述の各形態では、スマートフォン等の可搬型の情報処理装置で残響時間解析装置100を実現したが、移動通信網やインターネット等の通信網を介して端末装置と通信するサーバ装置(例えばウェブサーバ)で残響時間解析装置100を実現することも可能である。具体的には、残響時間解析装置100は、被測定空間内の端末装置から通信網を介して受信した観測信号Qの解析でSN比σ[k]および残響時間T[k]を周波数帯域B[k]毎に測定し、測定結果を表現する解析結果画面50の画像データを生成して端末装置に送信することで端末装置の表示装置に解析結果画面50を表示させる。 (3) In each of the above-described embodiments, the reverberation time analysis device 100 is realized by a portable information processing device such as a smartphone. However, a server device that communicates with a terminal device via a communication network such as a mobile communication network or the Internet (for example, It is also possible to realize the reverberation time analyzing apparatus 100 with a web server). Specifically, the reverberation time analysis apparatus 100 determines the SN ratio σ [k] and the reverberation time T [k] in the frequency band B by analyzing the observation signal Q received from the terminal device in the measured space via the communication network. The analysis result screen 50 is displayed on the display device of the terminal device by measuring every [k] and generating image data of the analysis result screen 50 expressing the measurement result and transmitting it to the terminal device.

100……残響時間解析装置、200……放音装置、10……演算処理装置、12……記憶装置、14……表示装置、16……入力装置、18……収音装置、22……雑音解析部、24……残響解析部、26……表示制御部、50……解析結果画面、52……表示領域。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Reverberation time analysis apparatus, 200 ... Sound emission apparatus, 10 ... Arithmetic processing apparatus, 12 ... Memory | storage device, 14 ... Display apparatus, 16 ... Input device, 18 ... Sound collection apparatus, 22 ... Noise analysis unit 24... Reverberation analysis unit 26... Display control unit 50 .. analysis result screen 52.

Claims (3)

複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のSN比を測定する雑音解析手段と、
前記複数の周波数帯域の各々について前記被測定空間内の残響時間を測定する残響解析手段と、
前記残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、前記複数の周波数帯域のうち前記SN比が閾値を下回る周波数帯域の残響時間を表示対象から除外する表示制御手段と
を具備する残響時間解析装置。
Noise analysis means for measuring the S / N ratio in the measured space for each of a plurality of frequency bands;
Reverberation analysis means for measuring reverberation time in the measured space for each of the plurality of frequency bands;
Display means for displaying the reverberation time for each frequency band on a display device, and excluding reverberation time of a frequency band in which the SN ratio is lower than a threshold among the plurality of frequency bands from a display target. Reverberation time analyzer.
複数の周波数帯域の各々について被測定空間内のSN比を測定する雑音解析手段と、
前記複数の周波数帯域の各々について、当該周波数帯域の前記SN比に応じて可変に設定された基準量だけ当該周波数帯域の音響の強度が減衰する時間長に応じて前記被測定空間の残響時間を算定する残響解析手段と、
前記残響時間を周波数帯域毎に表示装置に表示させる手段であって、相異なる基準量のもとで測定された前記各残響時間の表示態様を相違させる表示制御手段と
を具備する残響時間解析装置。
Noise analysis means for measuring the S / N ratio in the measured space for each of a plurality of frequency bands;
For each of the plurality of frequency bands, the reverberation time of the measured space is set according to the length of time that the sound intensity of the frequency band is attenuated by a reference amount variably set according to the SN ratio of the frequency band. Reverberation analysis means to calculate,
A reverberation time analyzing apparatus comprising: display means for displaying the reverberation time on a display device for each frequency band, and different display modes of the reverberation times measured under different reference amounts. .
前記残響解析手段は、前記複数の周波数帯域のうち利用者から指示された周波数帯域の残響時間を再測定する
請求項1または請求項2の残響時間解析装置。
The reverberation time analysis apparatus according to claim 1 or 2, wherein the reverberation analysis unit remeasures a reverberation time of a frequency band instructed by a user among the plurality of frequency bands.
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