JP6179880B2 - 測量用ターゲット、及びトータルステーション測量方法 - Google Patents
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Description
(1)ピンポールなどの主軸を鉛直姿勢に保つ必要がないので、壁際や入り隅・出隅の交点、あるいは鉛直面上の点など、あらゆる計測点を測ることができる。
(2)遮蔽具を用いることにより、必要な反射鏡を的確に視準することができる。その結果、正確な計測結果を得ることができる。
(3)反射鏡として全周型のものを用いることにより、あらゆる方向から計測することができる。
(4)トータルステーションとして自動追尾型のものを用いることにより、測量作業の省力化を図ることができる。その結果、測量業務にかかるコストを低減することができる。
図1は本願発明の測量用ターゲット10を示す図であり、(a)は反射鏡20の正面側から見た正面図、(b)は反射鏡20の側面側から見た側面図である。この図に示すように測量用ターゲット10は、2つの反射鏡20と主軸30で構成される。なお、2つの反射鏡20を区別するために、便宜上、上方にある反射鏡20を第1反射鏡21、下方にある反射鏡20を第2反射鏡22ということとする。
主軸30は、直線状(又は略直線状)の軸を有する棒状や管状の部材で構成され、断面の主要寸法(例えば直径など)に比して軸方向の寸法(長さ)が大きな形状を呈している。断面形状は、円形や四角形のほか任意の形状とすることができ、長さも任意に設定することができる。なお、その先端部である主軸先端30aは、尖鋭状とすることが望ましい。測量用ターゲット10に用いる主軸30は、専用品として作成することもできるし、従来から汎用されているピンポールを使用することもできる。
反射鏡20は、トータルステーションからのレーザー光を反射するものであり、反射プリズム、あるいは反射ミラーと呼ばれるものである。測量用ターゲット10に用いる反射鏡20も、専用品として作成することもできるし、市販されている物を使用することもできる。
本願発明の測量用ターゲット10は、遮蔽具を備えたものとすることもできる。この遮蔽具は、反射鏡20の一方を遮蔽してトータルステーションからのレーザー光を遮ることができるものである。レーザー光を遮ることができれば様々な遮蔽具を採用することが可能で、例えば、反射鏡20の前面に遮蔽材を配置する機械式の遮蔽具とすることもできるし、あるいは液晶シャッター(液晶分子を、一定方向の溝を刻んだ板に接触させると、液晶分子がこの溝に沿って並び方を変える)の技術を応用するなど電子的に反射鏡20へのレーザー光を遮ることもできる。さらに遮蔽具をスライド式のもの(以下、「スライド遮蔽具40」という。)とすることもできる。このスライド遮蔽具40は、主軸30の軸上をスライドするものであり、反射鏡20の一方を遮蔽してトータルステーションからのレーザー光を遮ることができるものである。
本願発明のトータルステーション測量方法に用いるトータルステーションは、従来から用いられている汎用品を用いることができる。もちろん、自動追尾型のトータルステーションを使用することも可能で、この場合の反射鏡20としては全周型のものを採用することが望ましい。
本願発明のトータルステーション測量方法では、本願発明の測量用ターゲット10が用いられる。トータルステーションで、第1反射鏡21を視準し、測距・測角により第1反射鏡21の中心座標を求める。次に同様の手順で、第2反射鏡22の中心座標を求める。第1反射鏡21と第2反射鏡22の中心は同軸上にあるので、それぞれの座標と第1反射鏡21・第2射鏡22の設置間隔等によって主軸先端30aの座標(つまり計測点Pの座標)を算出することができる。
20 反射鏡
21 第1反射鏡
22 第2反射鏡
30 主 軸
30a (主軸の)主軸先端
40 スライド遮蔽具
40a (スライド遮蔽具の)本体部
40b (スライド遮蔽具の)ストッパ
40c (スライド遮蔽具の)挿通孔
P 計測点
TS トータルステーション
Claims (4)
- トータルステーションで測量する際、計測点に設置される測量用ターゲットにおいて、
主軸と、該主軸に固定される2つの反射鏡と、該主軸の軸方向にスライド可能な遮蔽具と、を備え、
前記2つの反射鏡は、それぞれの反射鏡中心が同軸上となるように配置され、
さらに前記2つの反射鏡が、上下スライド可能となるように主軸に取り付けられ、
前記遮蔽具は、上下開放で筒状の本体部と、該本体中央部に設けられる面状のストッパで構成され、
前記ストッパが一方の反射鏡に接触するまで前記遮蔽具をスライドさせると、該一方の反射鏡のみを遮蔽する、
ことを特徴とする測量用ターゲット。 - 前記2つの反射鏡が、任意方向からの光波を反射し得る全周型の反射鏡である、
ことを特徴とする請求項1記載の測量用ターゲット。 - 計測点に測量用ターゲットを設置し、トータルステーションによって該計測点の座標を計測するトータルステーション測量方法において、
前記測量用ターゲットは、主軸と第1の反射鏡と第2の反射鏡を備えるとともに、これら2つの反射鏡はそれぞれの反射鏡中心が同軸上であって上下スライド可能となるように主軸に取り付けられ、さらに前記主軸の軸方向にスライド可能な遮蔽具を備え、
前記遮蔽具は、上下開放で筒状の本体部と、該本体中央部に設けられる面状のストッパで構成され、
前記主軸の先端を前記計測点上に置き、前記反射鏡を前記主軸上でスライドさせ、
前記ストッパが第2の反射鏡に接触するまで前記遮蔽具をスライドさせて第2の反射鏡を遮蔽したうえで第1の反射鏡をトータルステーションによって計測し、
ついで前記ストッパが第1の反射鏡に接触するまで前記遮蔽具をスライドさせて第1の反射鏡を遮蔽したうえで第2の反射鏡をトータルステーションによって計測し、
第1の反射鏡と第2の反射鏡それぞれの反射鏡中心の座標を求めることによって、前記計測点の座標を算出する、
ことを特徴とするトータルステーション測量方法。 - 前記トータルステーションが、自動追尾型のトータルステーションであり、
前記2つの反射鏡が、任意方向からの光波を反射し得る全周型の反射鏡である、
ことを特徴とする請求項3記載のトータルステーション測量方法。
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