JP6168727B2 - Inverted microscope - Google Patents

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Description

本発明は、観察対象となる標本を下から観察する倒立顕微鏡に取り付け可能な落射照明装置および該落射照明装置を備える倒立顕微鏡に関する。   The present invention relates to an epi-illumination device that can be attached to an inverted microscope that observes a specimen to be observed from below, and an inverted microscope including the epi-illumination device.

対物レンズと結像レンズとの間に新たな光学系を構成する光学装置を装着可能な倒立顕微鏡が提案されている。この倒立顕微鏡は、対物レンズと結像レンズとの間に光学装置を装着可能にするために、ステージと該ステージを支持するステージ支持部材との間にスペーサ部材を配設可能にしてある。そして、新たに装着する光学装置の厚みに対応するスペーサ部材を選択して配置することにより、ステージを嵩上げするとともに、嵩上げによって設けられた空間を利用して、対物レンズと結合レンズとの間に新たな光学装置を装着する(たとえば、特許文献1参照)。   There has been proposed an inverted microscope capable of mounting an optical device constituting a new optical system between an objective lens and an imaging lens. In the inverted microscope, a spacer member can be disposed between a stage and a stage support member that supports the stage so that an optical device can be mounted between the objective lens and the imaging lens. Then, by selecting and arranging a spacer member corresponding to the thickness of the optical device to be newly installed, the stage is raised, and the space provided by the raising is used to provide a space between the objective lens and the coupling lens. A new optical device is mounted (see, for example, Patent Document 1).

また、倒立顕微鏡のステージの支持脚部を貫通して落射照明装置の装置本体を配置し、着脱可能な絞りユニットを、前記装置本体の前記支持脚部から外れた位置に配置することにより、投光管を顕微鏡から取り外すことなく絞りユニットを交換可能な落射照明装置が提案されている(たとえば、特許文献2参照)。   Further, the apparatus main body of the epi-illumination apparatus is disposed through the support leg of the stage of the inverted microscope, and the removable diaphragm unit is disposed at a position away from the support leg of the apparatus main body. An epi-illumination device has been proposed in which the aperture unit can be replaced without removing the light tube from the microscope (see, for example, Patent Document 2).

特開平11−72715号公報JP-A-11-72715 特開2003−75726号公報JP 2003-75726 A

ところで、上述した特許文献1に記載された倒立顕微鏡では、光ファイバと落射蛍光装置など、異なる光学ユニットを複数取り付けて観察を行うことができる。しかしながら、同一種類の光学ユニットを同時に取り付けることを意図するものではなく、同一種類の光学ユニットを同時に取り付けた場合、光源部分が嵩高いため顕微鏡本体部が大きくなるという問題を有している。   By the way, in the inverted microscope described in Patent Document 1 described above, observation can be performed by attaching a plurality of different optical units such as an optical fiber and an epi-fluorescent device. However, it is not intended to attach the same type of optical unit at the same time. When the same type of optical unit is attached at the same time, there is a problem that the microscope main body becomes large because the light source portion is bulky.

また、上述した特許文献2に記載された落射照明装置は、絞りユニットを容易に着脱することができるが、絞りユニットの着脱方向を変更することはできない。さらに、落射照明装置を複数同時に取り付ける場合、光源部分が嵩高いため顕微鏡本体部が大きくなるという問題を有している。   Moreover, although the epi-illumination device described in Patent Document 2 described above can easily attach and detach the aperture unit, it cannot change the direction in which the aperture unit is attached or detached. Further, when a plurality of epi-illumination devices are attached at the same time, there is a problem that the microscope main body becomes large because the light source portion is bulky.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、倒立顕微鏡本体の大きさをコンパクトに保ちながら、取り付け位置を選択可能な落射照明装置および該落射照明装置を備える倒立顕微鏡を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and provides an epi-illumination device that can select an attachment position while maintaining the size of an inverted microscope main body compact and an inverted microscope including the epi-illumination device. Objective.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の倒立顕微鏡は、対物レンズと結像レンズとの間にあって、上下に隣接して配置されてなる第1の光学装置、および第2の光学装置と、光源から照射された光を前記第1の光学装置に入射させる第1の落射照明装置と、前記光源から照射された光を前記第2の光学装置に入射させる第2の落射照明装置と、を有する倒立顕微鏡において、前記第1の落射照明装置は、前記第1の光学装置の後方に設けられた第1の照明ポートに嵌合可能な第1の取り付け部と、前記第1の取り付け部の端部から、前記第1の取り付け部が延在する方向とL字形状をなす方向に延在し、内部に照明光学系を有する第1の外装部と、前記第1の外装部の端部のうち、前記第1の取り付け部側と反対の端部に形成される第1の光源接続部と、を備え、前記第2の落射照明装置は、前記第2の光学装置の後方に設けられた第2の照明ポートに嵌合可能な第2の取り付け部と、前記第2の取り付け部の端部から、前記第2の取り付け部が延在する方向とL字形状をなす方向に延在し、内部に照明光学系を有する第2の外装部と、前記第2の外装部の端部のうち、前記第2の取り付け部側と反対の端部に形成される第2の光源接続部と、を備え、前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置は、顕微鏡本体の後方右側および後方左側にそれぞれ位置するよう前記顕微鏡本体に取り付けられてなることを特徴とするIn order to solve the above-described problems and achieve the object, an inverted microscope according to the present invention is provided between a first optical device and a second optical device, which are disposed between an objective lens and an imaging lens and are adjacent to each other in the vertical direction. An optical device, a first epi-illumination device that causes the light emitted from the light source to be incident on the first optical device, and a second epi-illumination that causes the light emitted from the light source to be incident on the second optical device. In the inverted microscope having the illumination device, the first epi-illumination device includes a first attachment portion that can be fitted into a first illumination port provided behind the first optical device, and the first illumination device. A first exterior portion extending in an L-shaped direction from an end portion of the first attachment portion, and having an illumination optical system therein; and Formed at the end of the exterior part opposite to the first attachment part side A second light source connection portion, and the second epi-illumination device includes a second attachment portion that can be fitted into a second illumination port provided behind the second optical device; The second exterior part extending from the end of the second attachment part in the direction in which the second attachment part extends and the L-shaped direction, and having an illumination optical system inside, A second light source connection portion formed at an end portion of the second exterior portion opposite to the second attachment portion side, the first epi-illumination device and the second epi-illumination device The epi-illumination device is attached to the microscope main body so as to be positioned on the rear right side and the rear left side of the microscope main body, respectively .

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記第1の光学装置の光軸から前記第1の取り付け部の底面までの距離と、前記第2の光学装置の光軸から前記第2の取り付け部の上面からまでの距離の和が、前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の光軸間距離よりも小さいことを特徴とするMoreover, the inverted microscope of the present invention is the above-described invention, wherein the distance from the optical axis of the first optical device to the bottom surface of the first mounting portion and the second optical axis from the optical axis of the second optical device. The sum of the distances from the upper surface of the mounting portion is smaller than the distance between the optical axes of the first optical device and the second optical device .

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記第1の外装部および前記第2の外装部は、前記第1の外装部および前記第2の外装部の光軸を含む水平面に対して上下対称な2ケ所の位置に支持部材取り付け部をそれぞれ有し、顕微鏡本体への前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の取り付け方向により、いずれか一方の支持部材取り付け部に支持部材を取り付けてなることを特徴とするMoreover, the inverted microscope of the present invention is the above invention, wherein the first exterior part and the second exterior part are relative to a horizontal plane including the optical axes of the first exterior part and the second exterior part. Support member mounting portions are provided at two vertically symmetrical positions, and either one of the support member mounting portions is provided depending on the mounting direction of the first and second epi-illumination devices to the microscope body. A support member is attached .

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記支持部材は、前記顕微鏡本体への前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の取り付け位置により長さ調節が可能であることを特徴とするIn the inverted microscope of the present invention, in the above invention, the length of the support member can be adjusted by the mounting position of the first epi-illumination device and the second epi-illumination device to the microscope body. It is characterized by .

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記第1の取り付け部および前記第2の取り付け部は、垂直方向の光軸を含む鉛直面に対して左右対称な2ケ所の位置に視野絞りを取り付け可能な視野絞り取り付け部をそれぞれ有し、前記倒立顕微鏡への前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の取り付け方向により、いずれか一方の視野絞り取り付け部に前記視野絞りを取り付けてなることを特徴とする。 The inverted microscope of the present invention is the field stop according to the first aspect, wherein the first mounting portion and the second mounting portion are symmetrically positioned at two positions with respect to a vertical plane including a vertical optical axis. the a possible field stop mounting portion of each mounting, the mounting direction of the first reflected illumination device and the second epi-illumination device into the inverted microscope, the field stop either one of the field stop mounting portion It is characterized by being attached.

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の光軸間距離に対応する長さの光路調整アダプタを備え、前記第1の光学装置の後方に設けられた前記第1の照明ポートには、前記光路調整アダプタを介して前記第1の落射照明装置を取り付けるとともに、前記第2の光学装置の後方に設けられた前記第2の照明ポートには、前記第2の落射照明装置を直接取り付けてなることを特徴とする The inverted microscope according to the present invention further includes an optical path adjustment adapter having a length corresponding to the distance between the optical axes of the first optical device and the second optical device. The first illumination port provided at the rear is attached to the first epi-illumination device via the optical path adjustment adapter, and the second illumination port provided at the rear of the second optical device. Is characterized in that the second epi-illumination device is directly attached .

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の後方に設けられた前記第1の照明ポートおよび前記第2の照明ポートにおいて、前記第1の照明ポートは、前記第2の照明ポートより前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の光軸間距離の長さ分後方に形成されることを特徴とする。 In the inverted microscope according to the present invention, in the first invention, the first illumination port and the second illumination port provided behind the first optical device and the second optical device in the first invention. The illumination port is formed behind the second illumination port by the length of the distance between the optical axes of the first optical device and the second optical device.

また、本発明の倒立顕微鏡は、上記発明において、前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の照明光学系は、前記顕微鏡本体の前記第1の照明ポートおよび前記第2の照明ポート側に第1の視野絞り投影レンズおよび第2の視野絞り投影レンズをそれぞれ有し、前記第1の視野絞り投影レンズおよび前記第2の視野絞り投影レンズの配置位置より外装部側の前記第1の取り付け部および前記第2の取り付け部の高さは、前記第1の視野絞り投影レンズおよび前記第2の視野絞り投影レンズの外径よりそれぞれ小さいことを特徴とする。 In the inverted microscope according to the present invention, the illumination optical system of the first epi-illumination device and the second epi-illumination device may include the first illumination port and the second illumination of the microscope body. A first field stop projection lens and a second field stop projection lens are provided on the port side, respectively , and the first field stop projection lens and the second field stop projection lens are arranged closer to the exterior portion than the arrangement position of the first field stop projection lens and the second field stop projection lens . The heights of the first attachment portion and the second attachment portion are smaller than the outer diameters of the first field stop projection lens and the second field stop projection lens, respectively .

本発明にかかる落射照明装置および倒立顕微鏡は、外装部を取り付け部からL次状に延在するような形状とし、前記外装部の光軸を含む水平面に対して上下対称な2ケ所の位置に支持部材取り付け部を設けることにより、落射照明装置を倒立顕微鏡の後方右側または後方左側のどちらにも取り付け可能であり、ユーザのニーズに合わせて落射照明装置の取り付け位置を選択することが可能となる。さらに、同一形状の2つの落射照明装置を倒立顕微鏡にそれぞれ取り付けて観察を同時に行う場合でも、顕微鏡本体の大きさが大きくなることを抑制することができる。   The epi-illumination device and the inverted microscope according to the present invention have a shape in which the exterior portion extends in an L-order shape from the attachment portion, and are vertically symmetrical with respect to a horizontal plane including the optical axis of the exterior portion. By providing the support member attachment portion, the epi-illumination device can be attached to either the right rear side or the rear left side of the inverted microscope, and the attachment position of the epi-illumination device can be selected according to the user's needs. . Furthermore, even when two epi-illumination devices having the same shape are attached to an inverted microscope and observation is performed simultaneously, an increase in the size of the microscope main body can be suppressed.

図1は、本発明の実施の形態1にかかる倒立顕微鏡の正面図である。FIG. 1 is a front view of an inverted microscope according to the first embodiment of the present invention. 図2は、図1に示した倒立顕微鏡の全体構成を示す右側部分の要部図である。FIG. 2 is a main part view of the right side portion showing the overall configuration of the inverted microscope shown in FIG. 図3は、図1に示した倒立顕微鏡の上面図である。FIG. 3 is a top view of the inverted microscope shown in FIG. 図4は、図1に示した倒立顕微鏡の背面図である。4 is a rear view of the inverted microscope shown in FIG. 図5−1は、実施の形態1の変形例にかかる落射照明装置において、視野絞りの取り付け部への取り付けを説明する図(上面図)である。FIG. 5A is a diagram (top view) for explaining attachment of the field stop to the attachment portion in the epi-illumination apparatus according to the modification of the first embodiment. 図5−2は、実施の形態1の変形例にかかる落射照明装置において、視野絞りの取り付け部への取り付けを説明する図(正面図)である。FIG. 5-2 is a diagram (front view) illustrating attachment of the field stop to the attachment portion in the epi-illumination apparatus according to the modification of the first embodiment. 図6は、本発明の実施の形態2にかかる倒立顕微鏡の全体構成を示す右側部分の要部図である。FIG. 6 is a main part diagram of the right side part showing the overall configuration of the inverted microscope according to the second embodiment of the present invention. 図7は、実施の形態2の変形例にかかる倒立顕微鏡の構成の一部を示す右側面図である。FIG. 7 is a right side view illustrating a part of the configuration of the inverted microscope according to the modification of the second embodiment. 図8は、図7に示した倒立顕微鏡の背面図である。FIG. 8 is a rear view of the inverted microscope shown in FIG.

以下に、本発明にかかる倒立顕微鏡の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。   Embodiments of an inverted microscope according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments.

(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1である倒立顕微鏡の正面図である。図2は、図1に示した倒立顕微鏡の全体構成を示す右側部分の要部図、図3は、図1に示した倒立顕微鏡の上面図、図4は、図1に示した倒立顕微鏡の背面図である。なお、図2〜図4において、落射照明装置3の形状を明確にするために、光源を省略して示してある。また、図3および4において、簡略化のために、ステージ上部の照明系を省略して示している。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a front view of an inverted microscope according to Embodiment 1 of the present invention. 2 is a main part view of the right side portion showing the overall configuration of the inverted microscope shown in FIG. 1, FIG. 3 is a top view of the inverted microscope shown in FIG. 1, and FIG. 4 is a diagram of the inverted microscope shown in FIG. It is a rear view. 2 to 4, the light source is not shown in order to clarify the shape of the epi-illumination device 3. 3 and 4, the illumination system above the stage is omitted for the sake of simplicity.

図1〜図4に示すように、倒立顕微鏡100は、観察対象となる標本を下から観察する顕微鏡であって、顕微鏡本体1と、顕微鏡本体1に支持されたステージ2と、ステージ2の上に載置された試料に光を照射する2つの落射照明装置3とを備えている。また、倒立顕微鏡100は、試料に上部から透過光を照射する透過照明装置20を備える。   As shown in FIGS. 1 to 4, the inverted microscope 100 is a microscope for observing a specimen to be observed from below, including a microscope body 1, a stage 2 supported by the microscope body 1, and an upper stage 2. And two epi-illumination devices 3 that irradiate the sample with light. The inverted microscope 100 includes a transmission illumination device 20 that irradiates the sample with transmitted light from above.

顕微鏡本体1は、箱状を呈しており、顕微鏡本体1の上部に載置された鏡筒4と、鏡筒4に取り付けられ、試料の観察像を目視観察するための接眼部5と、を備える。また、顕微鏡本体1の内部には、複数の対物レンズ6が装着されたレボルバ7と、光源から入射された光に対して、所定波長の光を反射および/または透過するミラーユニット8aを複数保持し、光源の光軸上に配置するミラーユニット8aを切替可能な2つのミラーユニット切替装置8とを備えている。本実施の形態では、ミラーユニット切替装置8が対物レンズ6と結像レンズ10aとの間に位置する光学装置に該当する。レボルバ7は、回転可能であって、レボルバ7に装着された対物レンズ6のうち一の対物レンズ6が光軸L1上に配置される。また、2つのミラーユニット切替装置8は、ミラーユニット8aが、光源の光軸L2およびL3と対物レンズ6の光軸L1との交点に位置できるように顕微鏡本体1に配設される。さらに、顕微鏡本体1のミラーユニット切替装置8の配設位置の後方には、落射照明装置3を取り付ける照明ポート9が形成されている。   The microscope main body 1 has a box shape, a lens barrel 4 placed on the microscope main body 1, an eyepiece 5 attached to the lens barrel 4 for visually observing an observation image of the sample, Is provided. Further, inside the microscope body 1, a revolver 7 equipped with a plurality of objective lenses 6 and a plurality of mirror units 8a that reflect and / or transmit light of a predetermined wavelength with respect to light incident from the light source are held. And two mirror unit switching devices 8 capable of switching the mirror unit 8a arranged on the optical axis of the light source. In the present embodiment, the mirror unit switching device 8 corresponds to an optical device positioned between the objective lens 6 and the imaging lens 10a. The revolver 7 is rotatable, and one objective lens 6 among the objective lenses 6 attached to the revolver 7 is disposed on the optical axis L1. The two mirror unit switching devices 8 are arranged in the microscope body 1 so that the mirror unit 8a can be positioned at the intersection of the optical axes L2 and L3 of the light source and the optical axis L1 of the objective lens 6. Further, an illumination port 9 to which the epi-illumination device 3 is attached is formed behind the position where the mirror unit switching device 8 of the microscope body 1 is disposed.

観察光学系10は、試料の観察を可能にするもので、顕微鏡本体1と顕微鏡本体1に取り付けられた鏡筒4とにわたって設けられている。観察光学系10は、上述した対物レンズ6のほか、結像レンズ10a、ミラー10b、リレーレンズ10cおよび結像レンズ10dを有している。   The observation optical system 10 enables observation of a sample, and is provided over the microscope main body 1 and the lens barrel 4 attached to the microscope main body 1. In addition to the objective lens 6 described above, the observation optical system 10 includes an imaging lens 10a, a mirror 10b, a relay lens 10c, and an imaging lens 10d.

結像レンズ10a、ミラー10b、リレーレンズ10cは、顕微鏡本体1の内部に取り付けてあり、対物レンズ6を通過することにより平行光束となった観察光は、結像レンズ10aを通過することにより結像され、ミラー10b、リレーレンズ10cを経由して鏡筒4に入射する。   The imaging lens 10a, the mirror 10b, and the relay lens 10c are attached to the inside of the microscope body 1, and the observation light that has become a parallel light beam by passing through the objective lens 6 is combined by passing through the imaging lens 10a. And enters the lens barrel 4 via the mirror 10b and the relay lens 10c.

結像レンズ10dは、鏡筒4の内部に取り付けてあり、顕微鏡本体1から入射した観察光は、結像レンズ10dを通過することにより結像され、接眼部5を覗くことにより観察される。   The imaging lens 10d is attached to the inside of the lens barrel 4, and the observation light incident from the microscope body 1 is imaged by passing through the imaging lens 10d and observed by looking through the eyepiece 5. .

ステージ2は、上面と下面とがそれぞれ平坦な板状体であって、その上面に試料が載置される。また、ステージ2のほぼ中央には、試料が落下しない程度の開口(透孔)が設けてあり、観察光が通過するようになっている。また、ステージ2には、対物レンズ6の焦点を標本に合わせるための準焦装置2aが取り付けてある。準焦装置2aを操作することにより、ステージ2が昇降し、対物レンズ6の焦点が標本に合焦する。   The stage 2 is a plate-like body whose upper surface and lower surface are flat, and a sample is placed on the upper surface. In addition, an opening (through hole) is provided at almost the center of the stage 2 so that the sample does not fall, so that observation light can pass therethrough. The stage 2 is provided with a semi-focusing device 2a for focusing the objective lens 6 on the sample. By operating the focusing device 2a, the stage 2 moves up and down, and the focal point of the objective lens 6 is focused on the sample.

落射照明装置3は、照明ポート9と嵌合可能な取り付け部11と、取り付け部11の端部から取り付け部11が延在する方向とL字形状をなす方向に延在し、照明ポート9に落射照明装置3を取り付けた状態で固定され、内部に照明光学系を含む外装部12と、外装部12の端部のうち、取り付け部11側と反対の端部に取り付けられる光源13と、外装部12と光源13とを接続する光源接続部14とを備える。また、取り付け部11および外装部12の内部には、光源13から照射された光を、顕微鏡本体1の光学装置であるミラーユニット切替装置8に入射させる照明光学系として、ミラー15aと、視野絞り投影レンズ15bとが配置される。   The epi-illumination device 3 extends in a direction that forms an L-shape with a mounting portion 11 that can be fitted to the lighting port 9, and a direction in which the mounting portion 11 extends from an end of the mounting portion 11. An exterior part 12 that is fixed with the epi-illumination device 3 attached and includes an illumination optical system inside, a light source 13 that is attached to an end of the exterior part 12 opposite to the attachment part 11 side, and an exterior The light source connection part 14 which connects the part 12 and the light source 13 is provided. Further, inside the mounting portion 11 and the exterior portion 12, a mirror 15 a and a field stop are used as an illumination optical system that causes the light emitted from the light source 13 to enter the mirror unit switching device 8 that is an optical device of the microscope body 1. A projection lens 15b is disposed.

2つの落射照明装置3には、外装部12および光源13が顕微鏡本体1の後方右側および後方左側にそれぞれ位置するように取り付けられている。本実施の形態では、顕微鏡本体1の後方右側および後方左側に、同一形状の落射照明装置3を取り付けることを目的としている。取り付け部11の形状が、落射照明装置3を照明ポート9に取り付けた状態で落射照明装置3の光軸を含む水平面に対して上下対称でない場合(例えば、d2>d1)、2つの落射照明装置3を、光源13が顕微鏡本体1を挟んで反対に位置するように取り付けるため、上部に取り付けられた落射照明装置3の光軸L2から取り付け部11の底面までの距離d1と、下部に取り付けられた落射照明装置3の光軸L3から取り付け部11の上面までの距離d1との和を、隣接するミラーユニット切替装置8の光軸L2と光軸L3との光軸間距離N2よりも小さくすることが好ましい。取り付け部11の高さを、落射照明装置3を照明ポート9に取り付けた状態で光軸を含む水平面に対して上下等しく形成する場合(d1=d2)は、取り付け部11の高さN1(d1+d2)を、隣接するミラーユニット切替装置8の光軸L2と光軸L3との光軸間距離N2よりも小さくすればよい。   The two epi-illumination apparatuses 3 are attached so that the exterior portion 12 and the light source 13 are positioned on the rear right side and the rear left side of the microscope body 1, respectively. In the present embodiment, an object is to attach the epi-illumination device 3 having the same shape to the right rear side and the left rear side of the microscope body 1. When the shape of the attachment portion 11 is not vertically symmetric with respect to the horizontal plane including the optical axis of the epi-illumination device 3 with the epi-illumination device 3 attached to the illumination port 9 (for example, d2> d1), the two epi-illumination devices 3 is attached so that the light source 13 is positioned opposite to the microscope main body 1 and the distance d1 from the optical axis L2 of the epi-illumination device 3 attached to the upper part to the bottom surface of the attaching part 11 and the lower part. The sum of the distance d1 from the optical axis L3 of the epi-illumination device 3 to the upper surface of the mounting portion 11 is made smaller than the distance N2 between the optical axes of the optical axis L2 and the optical axis L3 of the adjacent mirror unit switching device 8. It is preferable. When the height of the attachment portion 11 is formed to be equal to the height of the horizontal plane including the optical axis with the epi-illumination device 3 attached to the illumination port 9 (d1 = d2), the height N1 (d1) of the attachment portion 11 + d2) may be made smaller than the distance N2 between the optical axes of the optical axis L2 and the optical axis L3 of the adjacent mirror unit switching device 8.

取り付け部11には、視野絞り操作部17aを有する視野絞り17を取り付けるための取り付け口17bが設けられている。取り付け口17bは、取り付け部11から垂直方向に延在する外装部12側に設けられる。   The attachment portion 11 is provided with an attachment port 17b for attaching a field stop 17 having a field stop operation portion 17a. The attachment port 17b is provided on the exterior part 12 side extending in the vertical direction from the attachment part 11.

外装部12には、支持部材16を取り付けるための取り付け口16aが2ケ所設けられている。取り付け口16aは、外装部12の上面および下面の上下対称となる位置に設けられる。支持部材16は、顕微鏡本体1に落射照明装置3が取り付けられた際に、外装部12の下面側となる取り付け口16aに取り付けられる。また、支持部材16は、顕微鏡本体1への落射照明装置3の取り付け位置に応じて、長さ調節が可能である。図4では、顕微鏡本体1の後方左側に取り付けた落射照明装置3の支持部材16は、顕微鏡本体1の後方右側に取り付けた落射照明装置3の支持部材16より、光軸L2と光軸L3との光軸間距離N2分長くなるように調整される。   The exterior portion 12 is provided with two attachment ports 16 a for attaching the support member 16. The attachment port 16a is provided at a position where the upper surface and the lower surface of the exterior part 12 are vertically symmetrical. The support member 16 is attached to the attachment port 16a on the lower surface side of the exterior portion 12 when the epi-illumination device 3 is attached to the microscope body 1. Further, the length of the support member 16 can be adjusted according to the attachment position of the epi-illumination device 3 to the microscope body 1. In FIG. 4, the support member 16 of the epi-illumination device 3 attached to the rear left side of the microscope body 1 has an optical axis L2 and an optical axis L3 from the support member 16 of the epi-illumination device 3 attached to the rear right side of the microscope body 1. Is adjusted to be longer by the distance N2 between the optical axes.

顕微鏡本体100の上部には、透過照明装置20、透過投光装置21、及び集光レンズ保持部22を支持するアーム24が設けられている。透過照明装置20から出射した照明光は、透過投光装置21が内蔵するミラー21aによって光路を折り曲げられ、集光レンズ保持部22に保持された集光レンズ23によって試料に集光される。このようにして試料に照射され、試料を透過した光は、対物レンズ6に入射して、観察光学系10に入射する。   An arm 24 that supports the transmission illumination device 20, the transmission light projecting device 21, and the condenser lens holding unit 22 is provided on the upper portion of the microscope main body 100. The illumination light emitted from the transmissive illumination device 20 is bent on the optical path by a mirror 21 a built in the transmissive light projecting device 21, and is collected on the sample by the condenser lens 23 held by the condenser lens holding unit 22. The light irradiated on the sample and transmitted through the sample in this way enters the objective lens 6 and enters the observation optical system 10.

本実施の形態1では、落射照明装置3を顕微鏡本体1の後方左側または後方右側のいずれの方向に取り付けても、長さ調整可能な支持部材16を取り付けることにより光源13の重みで顕微鏡本体1が撓んでしまうことを防止することができる。また、一般的に光源13の外形は、外装部12および光源取り付け部14よりも大きくなるので、顕微鏡本体1の後方左側および後方右側に、外形がL字状の落射照明顕微鏡3を取り付けることにより、光源13が干渉することなく、顕微鏡本体1に取り付けが可能になる。さらに、一般に光源13側の光束径が大きく、外装部12の高さは光束径より小さくすることはできない。本実施の形態1では、落射照明装置3の外形をL字状とし、外装部12の高さは光束径以上としながら、落射照明装置3の顕微鏡本体1への取り付けの際重なる範囲である取り付け部11の高さを、ミラー15aを配置した際の高さ程度にまで抑えることにより、2つの落射照明装置3を取り付ける顕微鏡本体1をコンパクトにすることが可能となる。   In the first embodiment, the microscope main body 1 is attached with the weight of the light source 13 by attaching the support member 16 that can be adjusted in length regardless of whether the epi-illumination device 3 is attached to the rear left side or the rear right side of the microscope main body 1. Can be prevented from bending. In general, the outer shape of the light source 13 is larger than that of the exterior portion 12 and the light source mounting portion 14. Therefore, by attaching the epi-illumination microscope 3 having an L shape to the rear left side and the rear right side of the microscope body 1. The light source 13 can be attached to the microscope body 1 without interference. Further, the light beam diameter on the light source 13 side is generally large, and the height of the exterior portion 12 cannot be made smaller than the light beam diameter. In the first embodiment, the epi-illumination device 3 has an L-shaped outer shape, and the height of the exterior portion 12 is equal to or greater than the diameter of the light flux, and the range that overlaps when the epi-illumination device 3 is attached to the microscope body 1. The microscope main body 1 to which the two epi-illumination devices 3 are attached can be made compact by suppressing the height of the part 11 to about the height when the mirror 15a is arranged.

なお、上述した実施の形態1では、顕微鏡本体1に2つの落射照明装置3を取り付けた倒立顕微鏡100について説明したが、顕微鏡本体1が1の落射照明光学系のみを有し、1の落射照明装置3を取り付ける場合であっても、本実施の形態の落射照明装置3は、オペレータの作業環境に応じて、後方右側または左側のいずれの方向にと取り付け可能となるという効果を有している。また、本実施の形態の落射照明装置3は、外形をL字状としているため、一般的な縦長(直線状)の落射照明装置を取り付けた場合に比べて、装置のフットプリントを減少することが可能となる。   In the first embodiment described above, the inverted microscope 100 in which the two epi-illumination apparatuses 3 are attached to the microscope main body 1 has been described. However, the microscope main body 1 has only one epi-illumination optical system and one epi-illumination. Even when the device 3 is attached, the epi-illumination device 3 according to the present embodiment has an effect that it can be attached to either the rear right side or the left side depending on the work environment of the operator. . Moreover, since the epi-illumination device 3 of the present embodiment has an L-shaped outer shape, the footprint of the device can be reduced as compared with the case where a general vertical (straight-line) epi-illumination device is attached. Is possible.

また、本実施の形態の落射照明装置3は、3以上の落射照明光学系を有する顕微鏡本体1の、隣接する(または隣接しない)2つの落射照明光学系に取り付けることも可能である。かかる場合にも、本実施の形態3にかかる落射照明装置3を取り付けることにより、顕微鏡本体1の大きさをコンパクトにすることができる。   Moreover, the epi-illumination device 3 of the present embodiment can be attached to two adjacent (or not adjacent) epi-illumination optical systems of the microscope body 1 having three or more epi-illumination optical systems. Also in this case, the size of the microscope main body 1 can be made compact by attaching the epi-illumination device 3 according to the third embodiment.

なお、本実施の形態の変形例として、図5−1および図5−2に示す落射照明装置3Aが例示される。落射照明装置3Aの取り付け部11Aには、視野絞り17を取り付けるための取り付け口17bが2ケ所設けられている。取り付け口17bは、取り付け部11Aの垂直方向の光軸を含む鉛直面に対して左右対称な2ケ所の位置に設けられる。視野絞り17は、顕微鏡本体1に落射照明装置3Aが取り付けられた際に、オペレータの操作のし易さに応じて、いずれかの取り付け口17bに取り付ければよい。これにより、オペレータの作業効率の向上を図ることが可能となる。   An epi-illumination device 3A shown in FIGS. 5A and 5B is illustrated as a modification of the present embodiment. The attachment portion 11A of the epi-illumination device 3A is provided with two attachment openings 17b for attaching the field stop 17 to the attachment portion 11A. The attachment port 17b is provided at two positions symmetrical to the vertical plane including the vertical optical axis of the attachment portion 11A. When the epi-illumination device 3A is attached to the microscope main body 1, the field stop 17 may be attached to one of the attachment openings 17b according to the ease of operation by the operator. Thereby, it becomes possible to improve the working efficiency of the operator.

(実施の形態2)
実施の形態2にかかる倒立顕微鏡は、顕微鏡本体に落射照明装置3を取り付ける際に、上部のミラーユニット切替装置8の後方に設けられる照明ポートと、上部の照明ポートに取り付ける落射照明装置3とを、光路調整アダプタを介して取り付ける点で実施の形態1にかかる倒立顕微鏡100と異なる。以下、実施の形態1にかかる倒立顕微鏡100と異なる点のみ説明する。
(Embodiment 2)
The inverted microscope according to the second embodiment includes an illumination port provided behind the upper mirror unit switching device 8 and an epi-illumination device 3 attached to the upper illumination port when the epi-illumination device 3 is attached to the microscope body. This is different from the inverted microscope 100 according to the first embodiment in that it is attached via an optical path adjustment adapter. Only differences from the inverted microscope 100 according to the first embodiment will be described below.

図6は、本発明の実施の形態2である倒立顕微鏡の全体構成を示す右側部分の要部図である。なお、図6においては光源およびステージ上部の光学系を省略して示してある。   FIG. 6 is a main part view of the right side portion showing the overall configuration of the inverted microscope according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 6, the light source and the optical system above the stage are omitted.

倒立顕微鏡200は、隣接する2つのミラーユニット切替装置8の光軸L2およびL3間の距離N2と同じ長さの光路調整アダプタ18を備える。光路調整アダプタ18は、内部空洞の円柱形状をなす。光路調整アダプタ18の端部は顕微鏡本体の上部の照明ポート9に嵌合されるとともに、他端は落射照明装置3の取り付け部11と嵌合される。   The inverted microscope 200 includes an optical path adjustment adapter 18 having the same length as the distance N2 between the optical axes L2 and L3 of the two adjacent mirror unit switching devices 8. The optical path adjustment adapter 18 has a cylindrical shape with an internal cavity. The end of the optical path adjustment adapter 18 is fitted to the illumination port 9 at the top of the microscope body, and the other end is fitted to the mounting portion 11 of the epi-illumination device 3.

上部の照明光学系は、光路調整アダプタ18を介して照明ポート9に落射照明装置3を取り付けるため、光路長が光路調整アダプタの長さの分長くなる。本実施の形態では、光路調整アダプタの長さを隣接する2つのミラーユニット切替装置8の光軸L2およびL3間の距離N2と同じ長さとし、かつ、上部の照明光学系に光路調整アダプタ18を介して落射照明装置3を取り付けることにより、上部の照明光学系と下部の照明光学系の光路長を同じにすることが可能となる。これにより、実施の形態2にかかる倒立顕微鏡200は、実施の形態1の倒立顕微鏡100と同様の効果を奏するのに加え、倒立顕微鏡200の光学性能を向上することが可能となる。   Since the upper illumination optical system attaches the epi-illumination device 3 to the illumination port 9 via the optical path adjustment adapter 18, the optical path length is increased by the length of the optical path adjustment adapter. In the present embodiment, the length of the optical path adjustment adapter is the same as the distance N2 between the optical axes L2 and L3 of the two adjacent mirror unit switching devices 8, and the optical path adjustment adapter 18 is provided in the upper illumination optical system. By attaching the epi-illumination device 3 via the optical path lengths of the upper illumination optical system and the lower illumination optical system, it becomes possible to make the optical path length the same. Thus, the inverted microscope 200 according to the second embodiment can improve the optical performance of the inverted microscope 200 in addition to the same effects as the inverted microscope 100 of the first embodiment.

あるいは、顕微鏡本体の2つのミラーユニット切替装置8の後方にそれぞれ設けられる照明ポートのうち、上部の照明ポートを、下部の照明ポートより照明光学系の光軸間距離の長さ分後方に形成することにより、上部の照明光学系と下部の照明光学系の光路長が同一となり、倒立顕微鏡の光学性能を向上することができる。   Alternatively, among the illumination ports provided respectively behind the two mirror unit switching devices 8 of the microscope body, the upper illumination port is formed behind the lower illumination port by the length of the distance between the optical axes of the illumination optical system. Thus, the optical path lengths of the upper illumination optical system and the lower illumination optical system are the same, and the optical performance of the inverted microscope can be improved.

図7は、実施の形態2の変形例にかかる倒立顕微鏡の構成の一部を示す右側面図である。図8は、図7に示した倒立顕微鏡の背面図である。図7および8においては光源を省略して示してある。   FIG. 7 is a right side view illustrating a part of the configuration of the inverted microscope according to the modification of the second embodiment. FIG. 8 is a rear view of the inverted microscope shown in FIG. 7 and 8, the light source is omitted.

実施の形態2の変形例にかかる倒立顕微鏡300は、図7に示すように、隣接する2つのミラーユニット切替装置8の後方にそれぞれ設けられる照明ポート9のうち、上部の照明ポート9は、下部の照明ポート9より2つの照明光学系の光軸L2およびL3間の距離N2長さ分後方に形成されている。   As shown in FIG. 7, the inverted microscope 300 according to the modification of the second embodiment includes an upper illumination port 9 of the lower illumination ports 9 provided behind the two adjacent mirror unit switching devices 8. It is formed behind the illumination port 9 by a distance N2 length between the optical axes L2 and L3 of the two illumination optical systems.

また、倒立顕微鏡300に取り付ける落射照明装置3Bは、取り付け部11が、照明ポート9と嵌合される照明ポート取り付け部11bと、照明ポート取り付け部11bと外装部12とを連結する連結部11cとからなる。本変形例において、照明ポート取り付け部11bを、内部に配置される視野絞り投影レンズ16bの外径より僅かに大きい径をな巣用に形成するとともに、連結部11cの高さを視野絞り投影レンズ16bの外径より小さく形成する。   In addition, the epi-illumination apparatus 3B attached to the inverted microscope 300 includes an illumination port attachment portion 11b in which the attachment portion 11 is fitted to the illumination port 9, and a connection portion 11c that connects the illumination port attachment portion 11b and the exterior portion 12. Consists of. In this modification, the illumination port attachment portion 11b is formed for a nest having a diameter slightly larger than the outer diameter of the field stop projection lens 16b disposed inside, and the height of the connecting portion 11c is set to the field stop projection lens. It is formed smaller than the outer diameter of 16b.

隣接する2つのミラーユニット切替装置8の後方にそれぞれ設けられる照明ポート9のうち、上部の照明ポート9は、下部の照明ポート9より2つのミラーユニット切替装置8の光軸L2およびL3間の距離N2長さ分後方に形成することにより、上部の照明光学系と下部の照明光学系の光路長が同一となり、倒立顕微鏡の光学性能を向上することができる。また、取り付け部11を、視野絞り投影レンズ16bの外径より僅かに大きい径をなす照明ポート取り付け部11bと、視野絞り投影レンズ16bの外径より小さい径をなす連結部11cとにより構成することにより、顕微鏡本体1の大きさを一層コンパクトにすることが可能となる。   Of the illumination ports 9 provided behind the two adjacent mirror unit switching devices 8, the upper illumination port 9 is a distance between the optical axes L2 and L3 of the two mirror unit switching devices 8 from the lower illumination port 9. By forming it backward by the length N2, the optical path lengths of the upper illumination optical system and the lower illumination optical system are the same, and the optical performance of the inverted microscope can be improved. Further, the mounting portion 11 is constituted by an illumination port mounting portion 11b having a diameter slightly larger than the outer diameter of the field stop projection lens 16b and a connecting portion 11c having a diameter smaller than the outer diameter of the field stop projection lens 16b. Thus, the size of the microscope body 1 can be further reduced.

1 顕微鏡本体
2 ステージ
2a 焦準装置
3、3A 落射照明装置
4 鏡筒
5 接眼部
6 対物レンズ
7 レボルバ
8 ミラーユニット切替装置
9 照明ポート
10 観察光学系
10a、10d 結像レンズ
10b ミラー
10c リレーレンズ
11 取り付け部
12 外装部
13 光源
14 光源接続部
15a ミラー
15b 視野絞り投影レンズ
16 支持部材
17 視野絞り
18 光路調整アダプタ
20 透過照明装置
21 透過投光装置
22 集光レンズ保持部
33 集光レンズ
24 アーム
100、200、300 倒立顕微鏡
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Microscope main body 2 Stage 2a Focusing device 3, 3A Epi-illumination device 4 Lens tube 5 Eyepiece part 6 Objective lens 7 Revolver 8 Mirror unit switching device 9 Illumination port 10 Observation optical system 10a, 10d Imaging lens 10b Mirror 10c Relay lens DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Attachment part 12 Exterior part 13 Light source 14 Light source connection part 15a Mirror 15b Field stop projection lens 16 Support member 17 Field stop 18 Optical path adjustment adapter 20 Transmitting illumination device 21 Transmission projector 22 Condensing lens holder 33 Condensing lens 24 Arm 100, 200, 300 Inverted microscope

Claims (8)

対物レンズと結像レンズとの間にあって、上下に隣接して配置されてなる第1の光学装置、および第2の光学装置と、
光源から照射された光を前記第1の光学装置に入射させる第1の落射照明装置と、
前記光源から照射された光を前記第2の光学装置に入射させる第2の落射照明装置と、
を有する倒立顕微鏡において、
前記第1の落射照明装置は、
前記第1の光学装置の後方に設けられた第1の照明ポートに嵌合可能な第1の取り付け部と、
前記第1の取り付け部の端部から、前記第1の取り付け部が延在する方向とL字形状をなす方向に延在し、内部に照明光学系を有する第1の外装部と、
前記第1の外装部の端部のうち、前記第1の取り付け部側と反対の端部に形成される第1の光源接続部と、
を備え、
前記第2の落射照明装置は、
前記第2の光学装置の後方に設けられた第2の照明ポートに嵌合可能な第2の取り付け部と、
前記第2の取り付け部の端部から、前記第2の取り付け部が延在する方向とL字形状をなす方向に延在し、内部に照明光学系を有する第2の外装部と、
前記第2の外装部の端部のうち、前記第2の取り付け部側と反対の端部に形成される第2の光源接続部と、
を備え、
前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置は、顕微鏡本体の後方右側および後方左側にそれぞれ位置するよう前記顕微鏡本体に取り付けられてなることを特徴とする倒立顕微鏡。
A first optical device between the objective lens and the imaging lens and arranged adjacent to each other in the vertical direction; and a second optical device;
A first epi-illumination device that makes light emitted from a light source incident on the first optical device;
A second epi-illumination device for causing the light emitted from the light source to enter the second optical device;
In an inverted microscope having
The first epi-illumination device is
A first attachment portion that can be fitted into a first illumination port provided behind the first optical device;
A first exterior part extending from an end of the first attachment part in a direction in which the first attachment part extends and in an L-shaped direction and having an illumination optical system inside;
Of the end portions of the first exterior portion, a first light source connection portion formed at the end opposite to the first attachment portion side;
With
The second epi-illumination device is
A second attachment portion that can be fitted into a second illumination port provided behind the second optical device;
A second exterior part extending from the end of the second attachment part in a direction in which the second attachment part extends and a direction forming an L shape, and having an illumination optical system inside;
Of the end portions of the second exterior portion, a second light source connection portion formed at the end opposite to the second attachment portion side;
With
The inverted microscope, wherein the first epi-illumination device and the second epi-illumination device are attached to the microscope main body so as to be positioned on the rear right side and the rear left side of the microscope main body, respectively.
前記第1の光学装置の光軸から前記第1の取り付け部の底面までの距離と、前記第2の光学装置の光軸から前記第2の取り付け部の上面からまでの距離の和が、前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の光軸間距離よりも小さいことを特徴とする請求項1に記載の倒立顕微鏡。   The sum of the distance from the optical axis of the first optical device to the bottom surface of the first mounting portion and the distance from the optical axis of the second optical device to the top surface of the second mounting portion is The inverted microscope according to claim 1, wherein the inverted microscope is smaller than a distance between optical axes of the first optical device and the second optical device. 前記第1の外装部および前記第2の外装部は、前記第1の外装部および前記第2の外装部の光軸を含む水平面に対して上下対称な2ケ所の位置に支持部材取り付け部をそれぞれ有し、顕微鏡本体への前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の取り付け方向により、いずれか一方の支持部材取り付け部に支持部材を取り付けてなることを特徴とする請求項1または2に記載の倒立顕微鏡。   The first exterior part and the second exterior part have support member attachment parts at two positions that are vertically symmetrical with respect to a horizontal plane including the optical axis of the first exterior part and the second exterior part. The support member is attached to any one of the support member attachment portions according to the attachment direction of the first epi-illumination device and the second epi-illumination device to the microscope body. The inverted microscope according to 1 or 2. 前記支持部材は、前記顕微鏡本体への前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の取り付け位置により長さ調節が可能であることを特徴とする請求項に記載の倒立顕微鏡。 4. The inverted microscope according to claim 3 , wherein a length of the support member can be adjusted by a mounting position of the first epi-illumination device and the second epi-illumination device to the microscope main body. 前記第1の取り付け部および前記第2の取り付け部は、垂直方向の光軸を含む鉛直面に対して左右対称な2ケ所の位置に視野絞りを取り付け可能な視野絞り取り付け部をそれぞれ有し、前記倒立顕微鏡への前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の取り付け方向により、いずれか一方の視野絞り取り付け部に前記視野絞りを取り付けてなることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の倒立顕微鏡。 Each of the first attachment portion and the second attachment portion has a field stop attachment portion capable of attaching a field stop at two positions symmetrical to a vertical plane including a vertical optical axis, The field stop is attached to any one of the field stop mounting portions according to the mounting direction of the first epi-illumination device and the second epi-illumination device to the inverted microscope. The inverted microscope according to any one of 4 above. 前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の光軸間距離に対応する長さの光路調整アダプタを備え、
前記第1の光学装置の後方に設けられた前記第1の照明ポートには、前記光路調整アダプタを介して前記第1の落射照明装置を取り付けるとともに、前記第2の光学装置の後方に設けられた前記第2の照明ポートには、前記第2の落射照明装置を直接取り付けてなることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の倒立顕微鏡。
An optical path adjustment adapter having a length corresponding to the distance between the optical axes of the first optical device and the second optical device;
The first illumination port provided at the rear of the first optical device is attached to the first epi-illumination device via the optical path adjustment adapter, and is provided at the rear of the second optical device. The inverted microscope according to claim 1, wherein the second incident illumination device is directly attached to the second illumination port.
前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の後方に設けられた前記第1の照明ポートおよび前記第2の照明ポートにおいて、前記第1の照明ポートは、前記第2の照明ポートより前記第1の光学装置および前記第2の光学装置の光軸間距離の長さ分後方に形成されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の倒立顕微鏡。   In the first illumination port and the second illumination port provided behind the first optical device and the second optical device, the first illumination port is more than the second illumination port. The inverted microscope according to any one of claims 1 to 5, wherein the inverted microscope is formed rearward by a length corresponding to a distance between optical axes of the first optical device and the second optical device. 前記第1の落射照明装置および前記第2の落射照明装置の照明光学系は、前記顕微鏡本体の前記第1の照明ポートおよび前記第2の照明ポート側に第1の視野絞り投影レンズおよび第2の視野絞り投影レンズをそれぞれ有し、
前記第1の視野絞り投影レンズおよび前記第2の視野絞り投影レンズの配置位置より外装部側の前記第1の取り付け部および前記第2の取り付け部の高さは、前記第1の視野絞り投影レンズおよび前記第2の視野絞り投影レンズの外径よりそれぞれ小さいことを特徴とする請求項7に記載の倒立顕微鏡。
The illumination optical system of the first epi-illumination device and the second epi-illumination device includes a first field stop projection lens and a second lens on the first illumination port side and the second illumination port side of the microscope body. Each with a field stop projection lens
The heights of the first mounting portion and the second mounting portion on the exterior side of the arrangement position of the first field stop projection lens and the second field stop projection lens are the first field stop projection. The inverted microscope according to claim 7, wherein the inverted microscope is smaller than outer diameters of the lens and the second field stop projection lens.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180045940A1 (en) * 2016-08-10 2018-02-15 Olympus Corporation Microscope and optical unit

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2902961A1 (en) * 1979-01-26 1980-08-07 Leitz Ernst Gmbh MICROSCOPE WITH APPLICABLE LIGHTING DEVICES
JPH0533110U (en) * 1991-10-14 1993-04-30 オリンパス光学工業株式会社 Vertical focusing microscope
JPH0637816U (en) * 1992-10-20 1994-05-20 オリンパス光学工業株式会社 Vertical focusing microscope
JP3317457B2 (en) * 1993-03-31 2002-08-26 オリンパス光学工業株式会社 Epi-illumination optical system for microscope
JP3841484B2 (en) * 1996-07-25 2006-11-01 オリンパス株式会社 Microscope epi-illumination system
JPH10333045A (en) * 1997-05-30 1998-12-18 Olympus Optical Co Ltd Microscope system
US20050052733A1 (en) * 2000-03-21 2005-03-10 Keisuke Tamura An inverted microscope
JP2002098905A (en) * 2000-09-25 2002-04-05 Olympus Optical Co Ltd Illuminator for microscope
US6813071B2 (en) * 2001-03-23 2004-11-02 Olympus Optical Co., Ltd. Inverted microscope
JP4046525B2 (en) * 2001-03-23 2008-02-13 オリンパス株式会社 Inverted microscope
JP2003075726A (en) * 2001-09-03 2003-03-12 Nikon Corp Vertical illuminating device for inverted microscope
JP4532852B2 (en) * 2003-06-09 2010-08-25 オリンパス株式会社 Polarization microscope and polarization observation intermediate tube
DE102004051940B4 (en) * 2004-10-25 2008-08-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Lighting device in a microscope
JP2008015379A (en) * 2006-07-07 2008-01-24 Olympus Corp Adapter unit for connecting imaging apparatus
JP2009003186A (en) * 2007-06-21 2009-01-08 Olympus Corp Luminaire
JP2011118069A (en) * 2009-12-02 2011-06-16 Nikon Corp Microscope illumination device and microscope
JP5586326B2 (en) * 2010-05-28 2014-09-10 オリンパス株式会社 Inverted microscope
JP2012018313A (en) * 2010-07-08 2012-01-26 Sokkia Topcon Co Ltd Two-dimensional measuring device

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