JP6161501B2 - Linear gauge sensor - Google Patents

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本発明は、リニアゲージセンサに関する。   The present invention relates to a linear gauge sensor.

従来より、各種寸法や変位等を検出するリニアゲージセンサの構造は、接触子と一体になって直動する目盛と、目盛りを検知する検出機能との全体が筐体の中に納まっている構造である。このような一体構造のため、リニアゲージセンサの取り付け場所からの振動や、測定対象物から受ける測定中の振動、測定環境中の粉塵等により直動する部分が破損した場合、リニアゲージセンサ全体として修理・交換せざるを得なかった。このようなリニアゲージセンサについて、小型化や部品の交換を容易にするための技術を開示する特許文献1及び2が知られている。   Conventionally, the structure of a linear gauge sensor that detects various dimensions, displacement, etc., is a structure in which the scale that moves linearly with the contact and the detection function that detects the scale are all contained in the housing. It is. Because of this integrated structure, if the linear motion sensor is damaged due to vibration from the installation location of the linear gauge sensor, vibration during measurement received from the measurement object, dust in the measurement environment, etc., the entire linear gauge sensor I had to repair or replace it. For such a linear gauge sensor, Patent Documents 1 and 2 that disclose techniques for facilitating miniaturization and replacement of parts are known.

特許文献1は、測定レンジの異なるリニアゲージを小型かつ簡易に構成可能とする技術を開示する。リニアゲージは、シャフトをボールスプラインでフレームに支持し、直動可能にした可動機構アッセンブリと、可動機構アッセンブリのスリット板ホルダにスリット板を固定し、直動するスリット板の変位を非接触で検出するための光学、電気部材を固定した変位検出アッセンブリとを備え、可動機構アッセンブリと変位検出アッセンブリとが連結部材を用いて連結され、ケースに収容して構成されている。連結部材とスリット板の長さは、構成するリニアゲージの測定レンジに応じたスリット板のストローク量が確保され、かつ、変位検出ブロックの変位検出範囲内にスリット板が位置するように設定される。   Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-260260 discloses a technique that enables a linear gauge having different measurement ranges to be configured in a small and simple manner. The linear gauge is a movable mechanism assembly that supports the shaft with a ball spline and enables direct movement, and the slit plate is fixed to the slit plate holder of the movable mechanism assembly, and the displacement of the linearly moving slit plate is detected without contact. The movable mechanism assembly and the displacement detection assembly are connected using a connecting member and housed in a case. The length of the connecting member and the slit plate is set so that the stroke amount of the slit plate corresponding to the measurement range of the linear gauge to be configured is ensured and the slit plate is positioned within the displacement detection range of the displacement detection block. .

特許文献2は、リニアエンコーダにおいて、エンコーダヘッドの交換を容易にする技術を開示する。リニアエンコーダは、測定用スケールを収納するハウジングとこのハウジングを対象物に固定するエンドブロックと、ハウジングに収納されたスケールを走査して位置情報を得るセンサユニットが接続されているエンコーダヘッドとを有し、エンドブロックの一部又は全部がハウジング内に収納され、ハウジングのエンドブロック収納部とスケール収納部との間に封止部材を有し、ハウジングがエンドブロックを介して固定具により対象物に固定される。   Patent Document 2 discloses a technique for facilitating replacement of an encoder head in a linear encoder. A linear encoder has a housing for storing a measurement scale, an end block for fixing the housing to an object, and an encoder head to which a sensor unit that scans the scale stored in the housing and obtains position information is connected. In addition, a part or all of the end block is accommodated in the housing, a sealing member is provided between the end block accommodating portion and the scale accommodating portion of the housing, and the housing is attached to the object by the fixture via the end block. Fixed.

特開2010−25874号公報JP 2010-25874 A 特開2010−249602号公報JP 2010-249602 A

しかしながら、特許文献1に開示された技術は、可動機構アッセンブリと変位検出アッセンブリとが連結部材を用いて連結されているので、リニアゲージセンサとしては一体であり、例えば、可動機構アッセンブリのみを修理点検する場合であっても、リニアゲージセンサを分解する必要がある。また、特許文献2に開示された技術は、測定用スケールと、測定対象に固定するためのエンドブロックとにおいて、測定用スケールの交換を容易にする技術である。いずれの技術も、リニアゲージセンサの直動部と検出部とをそれぞれ容易に交換できるようにする技術ではない。   However, in the technique disclosed in Patent Document 1, since the movable mechanism assembly and the displacement detection assembly are coupled using a coupling member, the linear gauge sensor is integrated, for example, only the movable mechanism assembly is repaired and inspected. Even when doing so, it is necessary to disassemble the linear gauge sensor. The technique disclosed in Patent Document 2 is a technique that facilitates exchange of the measurement scale between the measurement scale and the end block for fixing to the measurement target. Neither technique is a technique that makes it possible to easily replace the linear movement part and the detection part of the linear gauge sensor.

本発明は、リニアゲージセンサにおける修理交換において、直動部と検出部とのそれぞれの修理交換が容易なリニアゲージセンサを提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a linear gauge sensor that can be easily repaired and replaced with a linear motion part and a detecting part in repair and replacement with a linear gauge sensor.

本発明では、以下のような解決手段を提供する。
(1) 測定対象物の一軸方向の変位を検出するリニアゲージセンサであって、前記一軸方向の変位にしたがって直動する直動部と、前記直動部の変位を示すスケール部とが組み込まれた可動機構部と、前記可動機構部を把持する把持部と、前記把持部に組み込まれて、前記スケール部の変位を検出し、検出した変位に基づく信号を出力する変位検出部とを有する検出機構部と、を備え、前記把持部は、前記変位検出部が前記スケール部の変位を検出できるように把持する、リニアゲージセンサ。
The present invention provides the following solutions.
(1) A linear gauge sensor that detects a uniaxial displacement of an object to be measured, and includes a linear motion portion that linearly moves in accordance with the uniaxial displacement, and a scale portion that indicates the displacement of the linear motion portion. A movable mechanism unit, a gripping unit that grips the movable mechanism unit, and a displacement detection unit that is incorporated in the gripping unit and detects a displacement of the scale unit and outputs a signal based on the detected displacement. A linear gauge sensor, wherein the gripping unit grips the displacement detecting unit so that the displacement of the scale unit can be detected.

(1)の構成によれば、本発明に係るリニアゲージセンサは、可動機構部と検出機構部とを備え、可動機構部は、一軸方向の変位にしたがって直動する直動部と、直動部の変位を示すスケール部とが組み込まれ、検出機構部は、可動機構部を把持する把持部と、把持部に組み込まれて、スケール部の変位を検出し、検出した変位に基づく信号を出力する変位検出部とを有する。そして、検出機構部の把持部は、変位検出部がスケール部の変位を検出できるように可動機構部を把持する。   According to the configuration of (1), the linear gauge sensor according to the present invention includes a movable mechanism portion and a detection mechanism portion, and the movable mechanism portion linearly moves in accordance with a uniaxial displacement, The detection mechanism unit is incorporated in the gripping unit for gripping the movable mechanism unit, detects the displacement of the scale unit, and outputs a signal based on the detected displacement. A displacement detecting unit. The gripping portion of the detection mechanism portion grips the movable mechanism portion so that the displacement detection portion can detect the displacement of the scale portion.

すなわち、(1)に係るリニアゲージセンサは、可動機構部と検出機構部とが分離されて構成されているので、当該リニアゲージセンサにおける修理交換において、それぞれの機構部ごとに、修理交換が可能である。さらに、可動機構部及び検出機構部のそれぞれに直動部及び検出部を組み込むことによって、可動機構部及び検出機構部ごとに小型化を図ることができる。
したがって、(1)に係るリニアゲージセンサは、直動部と検出部とのそれぞれの修理交換が容易なリニアゲージセンサである。
That is, since the linear gauge sensor according to (1) is configured by separating the movable mechanism portion and the detection mechanism portion, repair and replacement can be performed for each mechanism portion in the repair and replacement in the linear gauge sensor. It is. Furthermore, by incorporating a linear motion portion and a detection portion into each of the movable mechanism portion and the detection mechanism portion, it is possible to reduce the size of each of the movable mechanism portion and the detection mechanism portion.
Therefore, the linear gauge sensor according to (1) is a linear gauge sensor that allows easy repair and replacement of the linear motion part and the detection part.

(2) 前記可動機構部は、前記スケール部の変位を検出できるようにするためのスケール用窓を有し、前記検出機構部は、前記スケール部の変位を検出するための検出用窓を有し、前記把持部は、前記スケール用窓と、前記検出用窓とが対応するように把持する、(1)に記載のリニアゲージセンサ。   (2) The movable mechanism section has a scale window for detecting the displacement of the scale section, and the detection mechanism section has a detection window for detecting the displacement of the scale section. And the said holding | grip part is a linear gauge sensor as described in (1) hold | gripped so that the said window for a scale and the said window for a detection may respond | correspond.

すなわち、(2)に係るリニアゲージセンサは、可動機構部と検出機構部とが分離されて構成され、それぞれの機構部に設けられた窓を介して、測定対象物の変位を確実に検出することができる。したがって、(1)に係るリニアゲージセンサは、測定対象物の変位を確実に検出することができ、直動部と検出部とのそれぞれの修理交換が容易なリニアゲージセンサである。   That is, the linear gauge sensor according to (2) is configured by separating the movable mechanism portion and the detection mechanism portion, and reliably detects the displacement of the measurement object via the windows provided in each mechanism portion. be able to. Therefore, the linear gauge sensor according to (1) is a linear gauge sensor that can detect the displacement of the measurement object with certainty and can easily repair and replace the linear motion part and the detection part.

(3) 前記検出機構部は、前記把持部を固定する固定機構を備える、(1)又は(2)に記載のリニアゲージセンサ。   (3) The linear gauge sensor according to (1) or (2), wherein the detection mechanism unit includes a fixing mechanism that fixes the grip portion.

すなわち、(3)に係るリニアゲージセンサは、複数のリニアゲージセンサが設置される場合に、設置間隔が従来より短くできるような固定機構を備えている。
したがって、(3)に係るリニアゲージセンサは、測定対象物の位置の違いによる変位を従来より短い間隔で検出するように設置することができ、設置された複数のリニアゲージセンサごとに直動部と検出部とのそれぞれの修理交換が容易なリニアゲージセンサである。
That is, the linear gauge sensor according to (3) includes a fixing mechanism that can make the installation interval shorter than the conventional one when a plurality of linear gauge sensors are installed.
Therefore, the linear gauge sensor according to (3) can be installed so as to detect the displacement due to the difference in the position of the measurement object at a shorter interval than the conventional one, and the linear motion sensor is installed for each of the plurality of installed linear gauge sensors. The linear gauge sensor can be easily repaired and replaced with each other.

本発明によれば、リニアゲージセンサは、直動部と検出部とに分離することができるため、直動部又は検出部ごとに、点検や修理交換することができ、メンテナンス性が向上する。さらに、本発明によれば、リニアゲージセンサは、固定機構を備え、従来より短い設置間隔で設置することが可能である。   According to the present invention, the linear gauge sensor can be separated into the linear motion part and the detection part, so that the linear motion sensor or the detection part can be inspected or repaired and the maintainability is improved. Furthermore, according to the present invention, the linear gauge sensor includes a fixing mechanism and can be installed at a shorter installation interval than in the past.

本発明の一実施形態に係る光学式反射型のリニアゲージセンサにおける可動機構部の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the movable mechanism part in the optical reflection type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る光学式反射型のリニアゲージセンサにおける検出機構部の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the detection mechanism part in the optical reflection type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る光学式反射型のリニアゲージセンサにおいて、可動機構部と検出機構部とが組み合わせられたことを示す図である。It is a figure which shows that the movable mechanism part and the detection mechanism part were combined in the optical reflection type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサにおける可動機構部の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the movable mechanism part in the optical transmission type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサにおける検出機構部の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the detection mechanism part in the optical transmission type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサにおいて、可動機構部と検出機構部とが組み合わせられたことを示す図である。It is a figure which shows that the movable mechanism part and the detection mechanism part were combined in the optical transmission type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサにおける、移動するスリット板と固定スリット板との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the moving slit board and the fixed slit board in the optical transmission type linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るリニアゲージセンサを利用した計測の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the measurement using the linear gauge sensor which concerns on one Embodiment of this invention.

[実施形態1]
以下、本発明の実施形態について図を参照しながら説明する。
実施形態1におけるリニアゲージセンサ1の変位検出部40は光学式反射型である。光学式反射型では、光源(例えば、LED(Light Emitting Diode))から投光された光が移動するスリット板により反射され、反射された光を受光素子が受信する。リニアゲージセンサ1は、可動機構部2と、検出機構部4とを備えている。それぞれ、図にしたがって説明する。
[Embodiment 1]
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
The displacement detector 40 of the linear gauge sensor 1 according to the first embodiment is an optical reflection type. In the optical reflection type, light projected from a light source (for example, LED (Light Emitting Diode)) is reflected by a moving slit plate, and the light receiving element receives the reflected light. The linear gauge sensor 1 includes a movable mechanism unit 2 and a detection mechanism unit 4. Each will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施形態に係る光学式反射型のリニアゲージセンサ1における可動機構部2の構成を示す図である。可動機構部2は、一軸方向の変位にしたがって直動する直動部30と、直動部30の変位を示すスケール部20とが組み込まれている。   FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a movable mechanism 2 in an optical reflective linear gauge sensor 1 according to an embodiment of the present invention. The movable mechanism unit 2 incorporates a linear motion unit 30 that linearly moves in accordance with a uniaxial displacement, and a scale unit 20 that indicates the displacement of the linear motion unit 30.

図1が図示するように、直動部30は、フレーム31と、測定子32と、シャフト33と、シャフト33の軸回りの回動を抑止し軸方向の直動を案内する軸受34と、ステム35と、スリット板ホルダ38と、バネ39とを有する。   As illustrated in FIG. 1, the linear motion unit 30 includes a frame 31, a probe 32, a shaft 33, and a bearing 34 that inhibits rotation of the shaft 33 around the axis and guides linear motion in the axial direction. A stem 35, a slit plate holder 38, and a spring 39 are included.

測定子32はシャフト33の一端に固定される。また、測定子32が固定されたシャフト33が挿入された軸受34は、ステム35内に収容され、ステム35は、フレーム31に設けられた孔に、測定子32が設けられている側と反対側の端が挿入された形態でフレーム31に固定される。
また、シャフト33の測定子32が固定された端と逆側の端に、スリット板ホルダ38が接着剤等により固定されると共に、バネ39の両端が、フレーム31とスリット板ホルダ38とに各々固定され、これにより、スリット板ホルダ38は、測定子32方向に付勢される。
The probe 32 is fixed to one end of the shaft 33. The bearing 34 into which the shaft 33 to which the measuring element 32 is fixed is inserted is accommodated in the stem 35, and the stem 35 is opposite to the side where the measuring element 32 is provided in the hole provided in the frame 31. The side end is fixed to the frame 31 in the inserted form.
A slit plate holder 38 is fixed to the end of the shaft 33 opposite to the end to which the probe 32 is fixed by an adhesive or the like, and both ends of the spring 39 are respectively attached to the frame 31 and the slit plate holder 38. As a result, the slit plate holder 38 is biased toward the probe 32.

このような可動機構部2の構成によれば、バネ39は、一端に測定子32が他端にスリット板ホルダ38が固定されたシャフト33を、測定子32方向へ付勢力を与えつつ、シャフト33の軸方向の直動のみが許容されるようにフレーム31に固定することができる。   According to such a configuration of the movable mechanism section 2, the spring 39 is configured such that the shaft 33 with the probe 32 fixed at one end and the slit plate holder 38 fixed at the other end is applied with a biasing force in the direction of the probe 32. It can be fixed to the frame 31 so that only 33 axial movements are allowed.

スケール部20はケース201に覆われ、ケース201には、スケール部20の変位を検出できるようにするためのスケール用窓211が設けられている。
スケール部20において、スリット板21は、スリット板ホルダ38に固定され、シャフト33の軸方向の移動と共に移動する。
The scale unit 20 is covered with a case 201, and the case 201 is provided with a scale window 211 for detecting the displacement of the scale unit 20.
In the scale unit 20, the slit plate 21 is fixed to the slit plate holder 38 and moves along with the axial movement of the shaft 33.

スリット板21の長さは、測定レンジに合わせて調整される。すなわち、シャフト33の直動に伴ってスリット板21が直動し、光源部41から放射された光を反射できるように、スリット板21の長さは、測定レンジが大きいほど長いものが用いられる。   The length of the slit plate 21 is adjusted according to the measurement range. That is, the longer the measurement range, the longer the slit plate 21 is used so that the slit plate 21 moves linearly with the linear movement of the shaft 33 and the light emitted from the light source unit 41 can be reflected. .

ここで、スリット板21には複数のスリットが設けられている。複数のスリットは、光を反射するように、金属(クロム等)のような光を反射する材料で作成されている。なお、スリット板21は、光を回折させるための光回折体としての機能を有して、光を反射させてもよい。なお、この場合、光を回折させるための光回折体は、スリットである必要はなく、鋸刃状、矩形状等の凹凸であってもよい。   Here, the slit plate 21 is provided with a plurality of slits. The plurality of slits are made of a material that reflects light such as metal (such as chromium) so as to reflect light. The slit plate 21 may function as an optical diffractor for diffracting light and reflect light. In this case, the light diffracting body for diffracting the light does not need to be a slit, and may be uneven such as a saw blade or a rectangle.

光源部41から放射された光は、スケール用窓211を通過してスケール部20に入射する。スリット板21は、入射された光を反射する。反射された光は、光源部41と一体となっている受光部42によって受光される。なお、光源部41及び受光部42については、図2において説明する。   The light emitted from the light source unit 41 passes through the scale window 211 and enters the scale unit 20. The slit plate 21 reflects incident light. The reflected light is received by the light receiving unit 42 integrated with the light source unit 41. The light source unit 41 and the light receiving unit 42 will be described with reference to FIG.

図2は、本発明の一実施形態に係る光学式反射型のリニアゲージセンサ1における検出機構部4の構成を示す図である。
検出機構部4は、可動機構部2を把持する把持部50と、スケール部20の変位を検出し、検出した変位に基づく信号を出力する変位検出部40とを有する。把持部50には、スケール部20の変位を検出するための検出用窓511が設けられ、把持部50は、変位検出部40がスケール部20の変位を検出できるように把持する。
図2が図示するように、変位検出部40は、光源としてのLEDや、光をコリメートするためのレンズ等を有する光源部41と、受光素子や信号処理回路を搭載した回路基板を有し、光源部41と一体となっている受光部42と、を有する。
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the detection mechanism unit 4 in the optical reflective linear gauge sensor 1 according to the embodiment of the present invention.
The detection mechanism unit 4 includes a gripping unit 50 that grips the movable mechanism unit 2 and a displacement detection unit 40 that detects the displacement of the scale unit 20 and outputs a signal based on the detected displacement. The grip 50 is provided with a detection window 511 for detecting the displacement of the scale 20, and the grip 50 grips the displacement detector 40 so that the displacement of the scale 20 can be detected.
As shown in FIG. 2, the displacement detection unit 40 includes a light source unit 41 having an LED as a light source, a lens for collimating light, and the like, and a circuit board on which a light receiving element and a signal processing circuit are mounted. And a light receiving unit 42 integrated with the light source unit 41.

把持部50は、変位検出部40がスケール部20の変位を計測できるように可動機構部2を把持する。図2が図示するように、把持部50は、可動機構部2が設置される設置用穴501を有し、第1面502と第2面503との間に締め付け用隙間が設けられている。可動機構部2が設置用穴501に設置された後に、第1面502と第2面503とは、締められる。例えば、把持部50に埋め込まれたネジ(図示せず)によって、第1面502と第2面503とが締められ、把持部50は、可動機構部2を締め付けて把持する。
このような機構は、可動機構部2に対する一箇所集中締め付けを緩和し、シャフト33の動きに支障をきたさないようにする。
The grip part 50 grips the movable mechanism part 2 so that the displacement detection part 40 can measure the displacement of the scale part 20. As shown in FIG. 2, the gripping portion 50 has an installation hole 501 in which the movable mechanism portion 2 is installed, and a clamping gap is provided between the first surface 502 and the second surface 503. . After the movable mechanism unit 2 is installed in the installation hole 501, the first surface 502 and the second surface 503 are tightened. For example, the first surface 502 and the second surface 503 are tightened by screws (not shown) embedded in the gripping portion 50, and the gripping portion 50 grips the movable mechanism portion 2 by tightening.
Such a mechanism alleviates the one-point concentrated tightening with respect to the movable mechanism portion 2 so that the movement of the shaft 33 is not hindered.

さらに、把持部50は、突起(リブ)又はくぼみを有し、可動機構部2は、把持部50の突起(リブ)又はくぼみに対応するくぼみ又は突起(リブ)を有するとしてもよい。把持部50は、突起(リブ)又はくぼみが互いに対応するように可動機構部2を把持することにより、変位検出部40がスケール部20の変位を検出できるようにすることができる。   Furthermore, the grip part 50 may have a protrusion (rib) or a recess, and the movable mechanism part 2 may have a recess or protrusion (rib) corresponding to the protrusion (rib) or the recess of the grip part 50. The gripping part 50 can detect the displacement of the scale part 20 by gripping the movable mechanism part 2 so that the protrusions (ribs) or the recesses correspond to each other.

可動機構部2が設置用穴501に設置されていると、光源部41から放射された光は、検出用窓511から可動機構部2のスケール用窓211を通過してスケール部20に入射し、スリット板21で反射されて、スケール用窓211から検出用窓511を通過して、受光部42の受光素子に入射する。   When the movable mechanism unit 2 is installed in the installation hole 501, the light emitted from the light source unit 41 enters the scale unit 20 from the detection window 511 through the scale window 211 of the movable mechanism unit 2. The light is reflected by the slit plate 21, passes through the detection window 511 from the scale window 211, and enters the light receiving element of the light receiving unit 42.

そして、受光部42に搭載された信号処理回路は、受光素子で検出した光によりスリット板21の移動量や移動方向を示す変位を検出し、検出した変位に基づく信号を所定の規格で出力部521から出力する。   The signal processing circuit mounted on the light receiving unit 42 detects a displacement indicating the moving amount and moving direction of the slit plate 21 by the light detected by the light receiving element, and outputs a signal based on the detected displacement to a predetermined standard. 521 to output.

図3は、本発明の一実施形態に係る光学式反射型のリニアゲージセンサ1において、可動機構部2と検出機構部4とが組み合わせられたことを示す図である。
図3が図示するように、検出機構部4の把持部50は、変位検出部40が可動機構部2のスケール部20の変位を検出できるように、スケール用窓211と検出用窓511とが対応するように可動機構部2を把持する。このように、移動するスリット板21を有する可動機構部2と、光源部41と受光部42とを有する検出機構部4とを光が通過するように把持することによってリニアゲージセンサ1の全体が一体として構成される。
そして、リニアゲージセンサ1は、可動機構部2の測定子32が測定対象物の測定箇所に接触するように、スタンド(図示せず)等によって検出機構部4の把持部50やステム35等が位置設定されることにより、測定子32が当接する箇所についての物理量(例えば、測定対象物の移動量や厚み等)を測定することができる。
FIG. 3 is a view showing that the movable mechanism 2 and the detection mechanism 4 are combined in the optical reflective linear gauge sensor 1 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 3, the gripping unit 50 of the detection mechanism unit 4 includes a scale window 211 and a detection window 511 so that the displacement detection unit 40 can detect the displacement of the scale unit 20 of the movable mechanism unit 2. The movable mechanism part 2 is gripped so as to correspond. In this way, the entire linear gauge sensor 1 is obtained by gripping the movable mechanism section 2 having the moving slit plate 21 and the detection mechanism section 4 having the light source section 41 and the light receiving section 42 so that the light passes. It is configured as a unit.
The linear gauge sensor 1 is configured such that the gripping part 50, the stem 35, etc. of the detection mechanism part 4 are moved by a stand (not shown) or the like so that the probe 32 of the movable mechanism part 2 contacts the measurement location of the measurement object. By setting the position, it is possible to measure a physical quantity (for example, a moving amount or a thickness of the measurement object) at a location where the probe 32 abuts.

[実施形態2]
実施形態2におけるリニアゲージセンサ1の変位検出部40は光学式透過型である。光学式透過型では、光源と受光素子とが移動するスリット板を挟んで向かい合い、光源から放射された光が、移動するスリット板を透過し、透過した光を受光素子が受信する。
[Embodiment 2]
The displacement detector 40 of the linear gauge sensor 1 according to the second embodiment is an optical transmission type. In the optical transmission type, the light source and the light receiving element face each other across the moving slit plate, and the light emitted from the light source passes through the moving slit plate, and the transmitted light is received by the light receiving element.

図4は、本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサ1における可動機構部2の構成を示す図である。
図4が図示するように、可動機構部2は図1と同様であるので、説明を省略する。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of the movable mechanism 2 in the optical transmission type linear gauge sensor 1 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 4, the movable mechanism 2 is the same as that shown in FIG.

スリット板21は、スリット板ホルダ38に固定され、シャフト33の軸方向の移動と共に移動する。固定スリット板22は、移動するスリット板21に対して近接した状態で、フレーム31に固定される。   The slit plate 21 is fixed to the slit plate holder 38 and moves along with the axial movement of the shaft 33. The fixed slit plate 22 is fixed to the frame 31 in a state of being close to the moving slit plate 21.

スリット板21の長さは、測定レンジに合わせて調整される。すなわち、シャフト33の直動に伴ってスリット板21が、固定スリット板22と光源部41a,41bとの間で直動するように、スリット板21の長さは、測定レンジが大きいほど長いものが用いられる。   The length of the slit plate 21 is adjusted according to the measurement range. That is, the longer the measurement range is, the longer the slit plate 21 is so that the slit plate 21 moves linearly between the fixed slit plate 22 and the light source parts 41a and 41b as the shaft 33 moves linearly. Is used.

ここで、スリット板21には複数のスリットが設けられており、当該スリットで、スリット板21を透過する光を、スリット板21の変位量に応じて空間的にエンコードすることによりゲージの役割を果たす。また、固定スリット板22には、スリット板21で空間的にエンコードされた後に固定スリット板22を透過する光を、スリット板21の変位量を強度で、スリット板21の移動方向を位相で表す光にデコードするための複数のスリットが設けられている。
そして、受光部42a,42bは、光源部41a,41bから放射され、スリット板21と、固定スリット板22とを透過した光を、検出する。なお、光源部41a,41b及び受光部42a,42bについては、図5において説明する。
Here, the slit plate 21 is provided with a plurality of slits, and the role of the gauge is obtained by spatially encoding light transmitted through the slit plate 21 in accordance with the amount of displacement of the slit plate 21. Fulfill. In addition, the fixed slit plate 22 represents light that is spatially encoded by the slit plate 21 and then passes through the fixed slit plate 22. The displacement amount of the slit plate 21 is expressed by intensity, and the moving direction of the slit plate 21 is expressed by phase. A plurality of slits are provided for decoding light.
The light receiving units 42 a and 42 b detect light emitted from the light source units 41 a and 41 b and transmitted through the slit plate 21 and the fixed slit plate 22. The light source units 41a and 41b and the light receiving units 42a and 42b will be described with reference to FIG.

図4が図示するように、スケール部20は、ケース201に覆われ、ケース201は、スケール用窓211a,211bを有する。   As shown in FIG. 4, the scale unit 20 is covered with a case 201, and the case 201 has scale windows 211a and 211b.

図5は、本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサ1における検出機構部4の構成を示す図である。
図5が図示するように、検出機構部4は、光源としてのLEDや、光をコリメートするためのレンズ等を有する光源部41a,41bと、受光素子や信号処理回路を搭載した回路基板を有する受光部42a,42bとを有する変位検出部40と、可動機構部2を把持する把持部50とを備える。把持部50は図2と同様であるので、説明を省略する。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of the detection mechanism unit 4 in the optical transmission type linear gauge sensor 1 according to an embodiment of the present invention.
As illustrated in FIG. 5, the detection mechanism unit 4 includes light source units 41 a and 41 b having LEDs as light sources, lenses for collimating light, and the like, and a circuit board on which a light receiving element and a signal processing circuit are mounted. The displacement detection part 40 which has light-receiving part 42a, 42b, and the holding part 50 which hold | grips the movable mechanism part 2 are provided. Since the holding part 50 is the same as that of FIG. 2, description is abbreviate | omitted.

可動機構部2が設置用穴501に設置されていると、光源部41a,41bから放射された光は、検出用窓511aから可動機構部2のスケール用窓211aを通過してスケール部20に入射し、スリット板21と固定スリット板22とを順次通過し、スケール用窓211bから検出用窓511bを通過して受光部42a,42bの受光素子に入射する。   When the movable mechanism unit 2 is installed in the installation hole 501, the light emitted from the light source units 41 a and 41 b passes through the scale window 211 a of the movable mechanism unit 2 from the detection window 511 a to the scale unit 20. Then, the light passes through the slit plate 21 and the fixed slit plate 22 in sequence, passes through the detection window 511b from the scale window 211b, and enters the light receiving elements of the light receiving portions 42a and 42b.

そして、受光部42a,42bに搭載された信号処理回路は、光源部41a,41bから放射され、スリット板21、固定スリット板22を透過した光を、受光部42a,42bの受光素子で検出し、検出した光によりスリット板21の移動量や移動方向を示す変位を検出し、検出した変位に基づく信号を出力部521から出力する。   The signal processing circuits mounted on the light receiving parts 42a and 42b detect the light emitted from the light source parts 41a and 41b and transmitted through the slit plate 21 and the fixed slit plate 22 by the light receiving elements of the light receiving parts 42a and 42b. The detected light detects a displacement indicating the amount and direction of movement of the slit plate 21, and outputs a signal based on the detected displacement from the output unit 521.

図6は、本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサ1において、可動機構部2と検出機構部4とが組み合わせられたことを示す図である。
図6が図示するように、検出機構部4の把持部50は、変位検出部40が可動機構部2のスケール部20の変位を検出できるように、スケール用窓211a,211bと検出用窓511a,511bとが対応するように可動機構部2を把持する。このように、移動するスリット板21を有する可動機構部2と、光源部41a,41bと受光部42a,42bとを有する検出機構部4とを光が透過するように把持することによってリニアゲージセンサ1の全体が一体として構成される。
そして、リニアゲージセンサ1は、可動機構部2の測定子32が測定対象物の測定箇所に接触するように、スタンド(図示せず)等によって検出機構部4の把持部50やステム35等が位置設定されることにより、測定子32が当接する箇所についての物理量(例えば、測定対象物の移動量や厚み等)を測定することができる。
FIG. 6 is a diagram showing that the movable mechanism portion 2 and the detection mechanism portion 4 are combined in the optical transmission type linear gauge sensor 1 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 6, the gripping unit 50 of the detection mechanism unit 4 has the scale windows 211 a and 211 b and the detection window 511 a so that the displacement detection unit 40 can detect the displacement of the scale unit 20 of the movable mechanism unit 2. , 511b, the movable mechanism 2 is gripped. As described above, the linear gauge sensor is obtained by gripping the movable mechanism portion 2 having the moving slit plate 21 and the detection mechanism portion 4 having the light source portions 41a and 41b and the light receiving portions 42a and 42b so as to transmit light. 1 as a whole is constructed as a unit.
The linear gauge sensor 1 is configured such that the gripping part 50, the stem 35, etc. of the detection mechanism part 4 are moved by a stand (not shown) or the like so that the probe 32 of the movable mechanism part 2 contacts the measurement location of the measurement object. By setting the position, it is possible to measure a physical quantity (for example, a moving amount or a thickness of the measurement object) at a location where the probe 32 abuts.

図7は、本発明の一実施形態に係る光学式透過型のリニアゲージセンサ1における、移動するスリット板21と固定スリット板22との関係を示す図である。
図7が図示するように、シャフト33と一体になって移動するスリット板21と、一定位置に固定された固定スリット板22とは、対向して配置されている。スリットには一定間隔で明暗の目盛が印刷されている。計数するためにはスリット板21の移動方向(+、−方向)を判別する必要があるため、固定スリット板22にはA、Bの2種類のスリットが配置されており、スリットAに対してスリットBは、1/4P(ピッチ)ずれた位置に配置されている。これ等のスリットを挟んで、光源部41a,41bと受光部42a,42bとが向かい合っている。
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the moving slit plate 21 and the fixed slit plate 22 in the optical transmission type linear gauge sensor 1 according to one embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 7, the slit plate 21 that moves integrally with the shaft 33 and the fixed slit plate 22 that is fixed at a fixed position are arranged to face each other. Light and dark scales are printed on the slits at regular intervals. Since it is necessary to determine the moving direction (+, − direction) of the slit plate 21 in order to count, two types of slits A and B are arranged on the fixed slit plate 22. The slit B is disposed at a position shifted by 1/4 P (pitch). The light source portions 41a and 41b and the light receiving portions 42a and 42b face each other across these slits.

このような構成において、移動するスリット板21が固定スリット板22に対して移動すると、固定スリット板22のスリットA及びスリットBをそれぞれ通過する光は、明暗を繰り返す。この明暗に基づいて、同じ周期で90度の位相差を持つ2つの方形波信号が受光部42a,42bの信号処理回路から出力される。方形波信号を受信するデータ処理装置(例えば、カウンタ)は、その位相の進み又は遅れから方向判別し、加算又は減算を行って計数し、変位量を算出する。   In such a configuration, when the moving slit plate 21 moves relative to the fixed slit plate 22, the light passing through the slit A and the slit B of the fixed slit plate 22 repeats light and dark. Based on this brightness, two square wave signals having a phase difference of 90 degrees in the same cycle are output from the signal processing circuits of the light receiving units 42a and 42b. A data processing device (for example, a counter) that receives the square wave signal determines the direction from the advance or delay of the phase, performs addition or subtraction, and counts to calculate the displacement amount.

図8は、本発明の一実施形態に係るリニアゲージセンサ1を利用した計測の例を示す図である。図8が図示するように、リニアゲージセンサ1における可動機構部2と検出機構部4との構成により、リニアゲージセンサ1a,1bを並べて設置した場合の間隔601は、従来より短い距離である。
さらに、リニアゲージセンサ1は、複数のリニアゲージセンサ1が設置される場合に、設置間隔が従来より短くできるような固定機構700を備えている。具体的には、図8に示すように、固定機構700は、固定穴701(例えば、固定穴701a,701b)と、測定基準台702とから構成される。リニアゲージセンサ1aの検出機構部4aは、例えば、ボルト等により、固定穴701aを介して測定基準台702に固定され、リニアゲージセンサ1bの検出機構部4bも、固定穴701bを介して測定基準台702に固定される。
すなわち、複数のリニアゲージセンサ1a、1bは従来より短い設置間隔で設置されることが可能である。
このようなリニアゲージセンサ1を利用すれば、複数のリニアゲージセンサ1a,1bを従来より短い距離間隔で並べて測定対象物を測定し、例えば、部品に一定の荷重を徐々に加えた時の変位を、間隔距離が従来より短い多チャンネルで測定することができる。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of measurement using the linear gauge sensor 1 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 8, due to the configuration of the movable mechanism portion 2 and the detection mechanism portion 4 in the linear gauge sensor 1, the interval 601 when the linear gauge sensors 1a and 1b are installed side by side is shorter than the conventional distance.
Furthermore, the linear gauge sensor 1 is provided with a fixing mechanism 700 that can make the installation interval shorter than the conventional one when a plurality of linear gauge sensors 1 are installed. Specifically, as illustrated in FIG. 8, the fixing mechanism 700 includes a fixing hole 701 (for example, fixing holes 701 a and 701 b) and a measurement reference base 702. The detection mechanism 4a of the linear gauge sensor 1a is fixed to the measurement reference base 702 via a fixing hole 701a, for example, with a bolt or the like, and the detection mechanism 4b of the linear gauge sensor 1b is also measured via the fixing hole 701b. It is fixed to the base 702.
That is, the plurality of linear gauge sensors 1a and 1b can be installed at a shorter installation interval than conventional ones.
If such a linear gauge sensor 1 is used, a plurality of linear gauge sensors 1a and 1b are arranged at a distance interval shorter than the conventional one, and a measurement object is measured, for example, a displacement when a constant load is gradually applied to a component. Can be measured with multiple channels having a shorter distance than conventional ones.

本実施形態によれば、リニアゲージセンサ1は、可動機構部2と検出機構部4とを備え、可動機構部2は、一軸方向の変位にしたがって直動する直動部30と、直動部の変位を示すスケール部20とが組み込まれ、検出機構部4は、可動機構部2を把持する把持部50と、把持部50に組み込まれて、スケール部20の変位を検出し、検出した変位に基づく信号を出力する変位検出部40とを有する。そして、把持部50は、変位検出部40がスケール部20の変位を検出できるように、スケール用窓211と、検出用窓511とが対応するように把持する。さらに、検出機構部4は、把持部50を固定する固定機構700を備え、複数のリニアゲージセンサ1が従来より短い設置間隔で設置されることを可能にする。
したがって、リニアゲージセンサ1は、可動機構部2と検出機構部4とのそれぞれの修理交換が容易なリニアゲージセンサ1であり、検出機構部4が固定機構700を備えることによって、複数のリニアゲージセンサ1が従来より短い設置間隔で設置されることを可能にする。
According to the present embodiment, the linear gauge sensor 1 includes a movable mechanism unit 2 and a detection mechanism unit 4, and the movable mechanism unit 2 includes a linear motion unit 30 that linearly moves according to a uniaxial displacement, and a linear motion unit. The detection mechanism unit 4 detects the displacement of the scale unit 20 by detecting the displacement of the scale unit 20 and the gripping unit 50 that grips the movable mechanism unit 2. And a displacement detector 40 that outputs a signal based on the above. The gripping unit 50 grips the scale window 211 and the detection window 511 so that the displacement detection unit 40 can detect the displacement of the scale unit 20. Furthermore, the detection mechanism unit 4 includes a fixing mechanism 700 that fixes the gripping unit 50, and allows a plurality of linear gauge sensors 1 to be installed at shorter installation intervals than in the past.
Therefore, the linear gauge sensor 1 is a linear gauge sensor 1 in which the movable mechanism portion 2 and the detection mechanism portion 4 can be easily repaired and replaced. The detection mechanism portion 4 includes the fixing mechanism 700, so that a plurality of linear gauge sensors 1 are provided. The sensor 1 can be installed with a shorter installation interval than before.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限るものではない。また、本発明の実施形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施形態に記載されたものに限定されるものではない。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not restricted to embodiment mentioned above. The effects described in the embodiments of the present invention are only the most preferable effects resulting from the present invention, and the effects of the present invention are limited to those described in the embodiments of the present invention. is not.

本実施形態では、光学式の実施形態を説明したが、本発明は光学式に限定されるものではない。移動するスリット板の変位を磁気によって検出する磁気式や、移動するスリット板の変位を静電容量によって検出する静電容量式でもよい。可動機構部2に組み込まれた直動部30の変位を、可動機構部2から分離された検出機構部4によって検出するという構成のリニアゲージセンサ1により、それぞれの機構部ごとに、修理交換が可能である。   In the present embodiment, the optical embodiment has been described. However, the present invention is not limited to the optical embodiment. A magnetic type in which the displacement of the moving slit plate is detected by magnetism or a capacitance type in which the displacement of the moving slit plate is detected by electrostatic capacitance may be used. The linear gauge sensor 1 configured to detect the displacement of the linear motion unit 30 incorporated in the movable mechanism unit 2 by the detection mechanism unit 4 separated from the movable mechanism unit 2 allows repair and replacement for each mechanism unit. Is possible.

1,1a,1b リニアゲージセンサ
2,2a,2b 可動機構部
20 スケール部
21 スリット板
22 固定スリット板
30 直動部
31 フレーム
32 測定子
33 シャフト
34 軸受
35 ステム
38 スリット板ホルダ
39 バネ
201 ケース
211,211a,211b スケール用窓
4,4a,4b 検出機構部
40 変位検出部
41,41a,41b 光源部
42,42a,42b 受光部
50 把持部
501,501a,501b 設置用穴
502 第1面
503 第2面
511,511a,511b 検出用窓
521 出力部
700 固定機構
701,701a,701b 固定穴
702 測定基準台
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1a, 1b Linear gauge sensor 2, 2a, 2b Movable mechanism part 20 Scale part 21 Slit board 22 Fixed slit board 30 Direct acting part 31 Frame 32 Measuring element 33 Shaft 34 Bearing 35 Stem 38 Slit board holder 39 Spring 201 Case 211 , 211a, 211b Scale window 4, 4a, 4b Detection mechanism part 40 Displacement detection part 41, 41a, 41b Light source part 42, 42a, 42b Light receiving part 50 Grip part 501, 501a, 501b Installation hole 502 First surface 503 First Two surfaces 511, 511a, 511b Detection window 521 Output unit 700 Fixing mechanism 701, 701a, 701b Fixing hole 702 Measurement reference table

Claims (2)

測定対象物の一軸方向の変位を検出するリニアゲージセンサであって、
前記一軸方向の変位にしたがって直動する直動部と、前記直動部の変位を示すスケール部とが組み込まれた可動機構部と、
前記可動機構部を把持する把持部と、前記把持部に組み込まれて、前記スケール部の変位を検出し、検出した変位に基づく信号を出力する変位検出部とを有する検出機構部と、を備え、
前記可動機構部は、前記スケール部の変位を検出できるようにするためのスケール用窓を有し、
前記検出機構部は、前記スケール部の変位を検出するための検出用窓を有し、
前記把持部は、前記スケール用窓と、前記検出用窓とが対応するように把持する、
リニアゲージセンサ。
A linear gauge sensor that detects displacement in one axial direction of a measurement object,
A movable mechanism portion in which a linear motion portion that linearly moves according to the displacement in the uniaxial direction, and a scale portion that indicates the displacement of the linear motion portion;
A detection mechanism unit including a gripping unit that grips the movable mechanism unit, and a displacement detection unit that is incorporated in the gripping unit, detects a displacement of the scale unit, and outputs a signal based on the detected displacement. ,
The movable mechanism has a scale window for detecting the displacement of the scale.
The detection mechanism unit has a detection window for detecting displacement of the scale unit,
The gripping part grips the scale window and the detection window so as to correspond to each other.
Linear gauge sensor.
前記検出機構部は、前記把持部を固定する固定機構を備える、請求項1に記載のリニアゲージセンサ。 The linear gauge sensor according to claim 1, wherein the detection mechanism unit includes a fixing mechanism that fixes the grip portion.
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