JP6155420B2 - Thin film capacitor sheet manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、薄膜キャパシタを含む薄膜キャパシタシートの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a thin film capacitor sheet including a thin film capacitor.

従来、薄膜キャパシタシートの製造方法として、例えば、特許文献1に開示された技術が知られている。特許文献1では、薄膜キャパシタを樹脂シートに転写して、薄膜キャパシタシートを製造する技術が開示されている。詳しくは、転写基板上に薄膜キャパシタを形成し、転写基板上に形成された薄膜キャパシタを半軟化状態(プリプレグ)の樹脂シートに加圧し、その後、転写基板を剥離することで、薄膜キャパシタが樹脂シートに転写される。   Conventionally, for example, a technique disclosed in Patent Document 1 is known as a method for manufacturing a thin film capacitor sheet. Patent Document 1 discloses a technique for manufacturing a thin film capacitor sheet by transferring a thin film capacitor to a resin sheet. Specifically, a thin film capacitor is formed on a transfer substrate, the thin film capacitor formed on the transfer substrate is pressed against a semi-softened (prepreg) resin sheet, and then the transfer substrate is peeled off, whereby the thin film capacitor becomes a resin. It is transferred to the sheet.

特開2004−103967号公報JP 2004-103967 A

しかしながら、上記の従来の製造方法では、転写基板上に形成された薄膜キャパシタを樹脂シートに転写させる転写工程を含み、その転写工程において、転写基板を薄膜キャパシタから剥離させる必要がある。そのため、転写基板の剥離の際に、形成された薄膜キャパシタに何らかの影響を及す虞がある。   However, the above-described conventional manufacturing method includes a transfer step of transferring the thin film capacitor formed on the transfer substrate onto the resin sheet, and in the transfer step, it is necessary to peel the transfer substrate from the thin film capacitor. Therefore, when the transfer substrate is peeled off, the formed thin film capacitor may be affected in some way.

そこで、本明細書では、薄膜キャパシタの転写工程、および転写後における転写基板の剥離工程を含まず、信頼性をより向上させることができるとともに、薄膜キャパシタの量産性に優れた薄膜キャパシタシートの製造方法を提供する。   Therefore, the present specification does not include the transfer process of the thin film capacitor and the transfer substrate peeling process after the transfer, and can improve the reliability and manufacture the thin film capacitor sheet excellent in mass productivity of the thin film capacitor. Provide a method.

本明細書によって開示される薄膜キャパシタシートの製造方法は、薄膜キャパシタを含む薄膜キャパシタシートの製造方法であって、金属箔によって構成される金属箔支持部材の表面に誘電体膜を形成する工程と、前記誘電体膜上に前記薄膜キャパシタの第1電極を形成する工程と、前記誘電体膜上および前記第1電極上にシート状の樹脂基材を形成する工程と、前記第1電極が形成された面と反対側の前記樹脂基材の面上に樹脂製の支持部材を形成する形成工程と、前記金属箔支持部材を溶融させて除去する工程と、前記第1電極と重なる部分を残して前記誘電体膜を除去し、前記薄膜キャパシタの誘電体層を形成する工程と、前記第1電極が形成された面と反対側の前記誘電体膜の面上に薄膜キャパシタの第2電極を形成する工程と、前記樹脂製の支持部材を除去する工程とを含む。
本構成によれば、薄膜キャパシタシートを製造する際に、薄膜キャパシタの転写工程、および転写後における転写基板の剥離工程を含まない。そのため、薄膜キャパシタシートの製造に係る信頼性をより向上させることができる。また、通常、薄膜キャパシタをシリコン、ガラス、セラミック等の基材上で作製し、剥離する場合、大面積での処理は非常に難しく生産性に乏しい。しかしながら、基材として金属箔(金属箔支持部材)を使用し、使用した金属箔を、例えば、ウエットエッチング等で溶融して除去するため、高い生産性が得られる。すなわち、薄膜キャパシタの転写工程、および転写後における転写基板の剥離工程を含まず、信頼性をより向上させることができるとともに、薄膜キャパシタの量産性に優れ薄膜キャパシタシートの製造方法を提供できる。
A method for manufacturing a thin film capacitor sheet disclosed in the present specification is a method for manufacturing a thin film capacitor sheet including a thin film capacitor, and includes a step of forming a dielectric film on a surface of a metal foil supporting member formed of a metal foil. Forming a first electrode of the thin film capacitor on the dielectric film; forming a sheet-like resin substrate on the dielectric film and on the first electrode; and forming the first electrode Forming a resin supporting member on the surface of the resin base opposite to the formed surface, melting and removing the metal foil supporting member, and leaving a portion overlapping the first electrode Removing the dielectric film to form a dielectric layer of the thin film capacitor, and forming a second electrode of the thin film capacitor on the surface of the dielectric film opposite to the surface on which the first electrode is formed. Before forming and before And removing the resin supporting member.
According to this structure, when manufacturing a thin film capacitor sheet, the transfer process of a thin film capacitor and the peeling process of the transfer substrate after transfer are not included. Therefore, the reliability concerning manufacture of a thin film capacitor sheet can be improved more. In general, when a thin film capacitor is produced on a substrate such as silicon, glass, or ceramic and then peeled off, it is very difficult to process in a large area and the productivity is poor. However, since metal foil (metal foil supporting member) is used as a base material and the used metal foil is melted and removed by, for example, wet etching or the like, high productivity can be obtained. That is, it does not include the transfer process of the thin film capacitor and the transfer substrate peeling process after the transfer, and the reliability can be further improved, and the manufacturing method of the thin film capacitor sheet can be provided with excellent mass productivity of the thin film capacitor.

上記薄膜キャパシタシートの製造方法において、前記金属箔はアルミ箔によって構成されるようにしてもよい。
本構成によれば、金属箔はアルミ箔によって構成されるため、例えば、誘電体膜をSTOで形成する際に、STOを、ASCVD法を用いて成膜できる。
In the method for manufacturing the thin film capacitor sheet, the metal foil may be composed of an aluminum foil.
According to this configuration, since the metal foil is made of an aluminum foil, for example, when the dielectric film is formed by STO, STO can be formed by using the ASCVD method.

また、本明細書によって開示される薄膜キャパシタシートの製造方法は、薄膜キャパシタを含む薄膜キャパシタシートの製造方法であって、金属箔によって構成される金属箔支持部材の表面に誘電体膜を形成する工程と、前記誘電体膜上に前記薄膜キャパシタの第1電極を形成する工程と、前記誘電体膜上および前記第1電極上にシート状の樹脂基材を形成する工程と、前記第1電極が形成された面と反対側の前記樹脂基材の面上に樹脂製の支持部材を形成する形成工程と、前記第1電極と重なる部分を残して前記誘電体膜および前記金属箔支持部材を除去し、前記誘電体膜によって前記薄膜キャパシタの誘電体層を形成し、前記金属箔支持部材によって前記薄膜キャパシタの第2電極を形成する工程と、前記樹脂製の支持部材を除去する工程とを含む。
本構成によれば、薄膜キャパシタの第2電極が金属箔支持部材によって形成されるため、第2電極を新たに成膜して形成する場合と比べて、薄膜キャパシタの製造工程を低減できる。また、金属箔支持部材をすべて除去する場合と比べて、金属箔支持部材を有効利用できる。
Moreover, the manufacturing method of the thin film capacitor sheet disclosed by this specification is a manufacturing method of the thin film capacitor sheet containing a thin film capacitor, Comprising: A dielectric film is formed in the surface of the metal foil support member comprised by metal foil. Forming a first electrode of the thin film capacitor on the dielectric film; forming a sheet-like resin base material on the dielectric film and on the first electrode; and the first electrode Forming the resin support member on the surface of the resin base opposite to the surface on which the metal film is formed, and the dielectric film and the metal foil support member, leaving a portion overlapping the first electrode. Removing, forming a dielectric layer of the thin film capacitor with the dielectric film, forming a second electrode of the thin film capacitor with the metal foil support member, and removing the resin support member. Including the door.
According to this configuration, since the second electrode of the thin film capacitor is formed by the metal foil support member, the manufacturing process of the thin film capacitor can be reduced as compared with the case where the second electrode is newly formed. Moreover, compared with the case where all the metal foil supporting members are removed, the metal foil supporting members can be used effectively.

上記薄膜キャパシタシートの製造方法において、前記金属箔は銅箔によって構成されるようにしてもよい。
本構成によれば、第2電極を銅箔によって形成することができる、電極として良好な導電性を得ることができる。
In the method for manufacturing the thin film capacitor sheet, the metal foil may be constituted by a copper foil.
According to this structure, the 2nd electrode can be formed with copper foil, and favorable electroconductivity as an electrode can be obtained.

また、上記薄膜キャパシタシートの製造方法において、少なくとも前記第1電極の一端部側が前記第2電極と平面視で重ならないように、前記第1電極および第2電極が形成されるようにしてもよい。
本構成によれば、少なくとも第1電極の一端部側が第2電極と平面視で重ならないように、第1電極および第2電極が形成される。それによって、第1電極において、一端部側を外部接続用の金属パッドとすることができる。
In the method of manufacturing a thin film capacitor sheet, the first electrode and the second electrode may be formed so that at least one end portion side of the first electrode does not overlap the second electrode in plan view. .
According to this configuration, the first electrode and the second electrode are formed so that at least one end of the first electrode does not overlap the second electrode in plan view. Thereby, in the 1st electrode, the one end part side can be used as a metal pad for external connection.

また、上記薄膜キャパシタシートの製造方法において、前記第1電極の一端部側が前記第2電極と平面視で重ならず、第2電極の、前記第1電極の一端部とは反対側である他端部側が前記第1電極と平面視で重ならないように、前記第1電極および第2電極は、それぞれ、平面視における位置をずらした状態で形成されるようにしてもよい。
本構成によれば、第1電極および第2電極は、平面視における位置をずらした状態で形成される。それによって、第1電極の一端部側を外部接続用の金属パッドとして形成し、第2電極の他端部側を外部接続用の金属パッドとして形成することができる。
In the method for manufacturing a thin film capacitor sheet, the one end portion side of the first electrode does not overlap the second electrode in plan view, and the second electrode is opposite to the one end portion of the first electrode. The first electrode and the second electrode may be formed with their positions shifted in plan view so that the end side does not overlap with the first electrode in plan view.
According to this configuration, the first electrode and the second electrode are formed in a state where the positions in plan view are shifted. Thereby, one end part side of the first electrode can be formed as a metal pad for external connection, and the other end part side of the second electrode can be formed as a metal pad for external connection.

また、上記薄膜キャパシタシートの製造方法において、前記樹脂基材はガラス繊維布に樹脂を含浸させて形成され、前記薄膜キャパシタは、平面視で矩形状に形成され、当該製造方法は、さらに、前記薄膜キャパシタの周囲に切断部を形成する工程を備え、前記切断部は、平面視で、前記薄膜キャパシタの各辺に沿って形成される切込部と、矩形状の薄膜キャパシタの各角部に対応して、前記樹脂基材によって形成されるコーナーブリッジとを含み、前記コーナーブリッジは、前記ガラス繊維布の繊維方向に対し斜めに交差する方向に延びて形成されているようにしてもよい。
本構成によれば、薄膜キャパシタを回路基板に実装するために薄膜キャパシタシートから薄膜キャパシタを切り離す際に、コーナーブリッジを切断すればよい。そのため、薄膜キャパシタの切離し作業が簡易化されるとともに、切離し作業の信頼性が向上する。すなわち、コーナーブリッジは、ガラス繊維布の繊維方向に対し斜めに交差する方向に延びて形成されているため、コーナーブリッジを、例えば、超音波振動によって破断する際に、破断残りの発生が抑制され、破断の信頼性が向上する。
Further, in the method for manufacturing a thin film capacitor sheet, the resin base material is formed by impregnating a glass fiber cloth with a resin, the thin film capacitor is formed in a rectangular shape in plan view, and the manufacturing method further includes: A step of forming a cut portion around the thin film capacitor, and the cut portion is formed at a cut portion formed along each side of the thin film capacitor and at each corner portion of the rectangular thin film capacitor in a plan view. Correspondingly, a corner bridge formed by the resin base material may be included, and the corner bridge may be formed to extend in a direction obliquely intersecting the fiber direction of the glass fiber cloth.
According to this configuration, the corner bridge may be cut when the thin film capacitor is separated from the thin film capacitor sheet in order to mount the thin film capacitor on the circuit board. For this reason, the work of separating the thin film capacitor is simplified and the reliability of the work of separating is improved. That is, since the corner bridge is formed to extend in a direction obliquely intersecting the fiber direction of the glass fiber cloth, when the corner bridge is broken by, for example, ultrasonic vibration, the occurrence of breakage is suppressed. , The reliability of breakage is improved.

本明細書によって開示される薄膜キャパシタシートの製造方法は、薄膜キャパシタの転写工程、および転写後における転写基板の剥離工程を含まず、信頼性をより向上させることができるとともに、薄膜キャパシタの量産性に優れている。   The manufacturing method of the thin film capacitor sheet disclosed in the present specification does not include the transfer process of the thin film capacitor and the transfer substrate peeling process after the transfer, and can improve the reliability and the mass productivity of the thin film capacitor. Is excellent.

実施形態1の薄膜キャパシタシートを示す概略的な平面図Schematic plan view showing the thin film capacitor sheet of Embodiment 1 薄膜キャパシタおよび切断部を示す概略的な平面図Schematic plan view showing thin film capacitor and cutting part 薄膜キャパシタおよび切断部を示す断面図Sectional view showing thin film capacitor and cut section 実施形態1における薄膜キャパシタシートの製造方法を示す概略的な断面図1 is a schematic cross-sectional view showing a method for manufacturing a thin film capacitor sheet in Embodiment 1. 実施形態1における薄膜キャパシタシートの製造方法を示す概略的な断面図1 is a schematic cross-sectional view showing a method for manufacturing a thin film capacitor sheet in Embodiment 1. 実施形態2における薄膜キャパシタシートの製造方法を示す概略的な断面図Schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the thin film capacitor sheet in Embodiment 2 実施形態2における薄膜キャパシタシートの製造方法を示す概略的な断面図Schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the thin film capacitor sheet in Embodiment 2 別の例の薄膜キャパシタおよび切断部を示す概略的な平面図Schematic plan view showing another example thin film capacitor and cut portion 別の例の薄膜キャパシタおよび切断部を示す断面図Sectional drawing which shows the thin film capacitor and cutting part of another example

以下、図1から図7を参照して、実施形態を説明する。なお、図中、同一の符号は、同一又は相当部分を示す。   Hereinafter, embodiments will be described with reference to FIGS. 1 to 7. In addition, in the figure, the same code | symbol shows the same or an equivalent part.

<実施形態1>
まず、図1から図5を参照して、実施形態1を説明する。
<Embodiment 1>
First, Embodiment 1 will be described with reference to FIGS.

1.薄膜キャパシタシートの構成
図1に示されるように、薄膜キャパシタシート1は、樹脂シート(「シート状の樹脂基材」の一例)2と、樹脂シート2に支持されて、マトリクス上に形成された複数の薄膜キャパシタ10とを含む。樹脂シート2は、例えば、BTレジン(登録商標)やポリイミド樹脂等の樹脂材料により形成され、可撓性を有する。
1. Configuration of Thin Film Capacitor Sheet As shown in FIG. 1, a thin film capacitor sheet 1 is formed on a matrix supported by a resin sheet (an example of a “sheet-like resin substrate”) 2 and a resin sheet 2. A plurality of thin film capacitors 10. The resin sheet 2 is formed of a resin material such as BT resin (registered trademark) or polyimide resin, and has flexibility.

各薄膜キャパシタ10は、図2および図3に示されるように、薄膜状の第1電極11、薄膜状の誘電体層12、および薄膜状の第2電極13を含む。第1電極11は、例えば、Cu(銅)によって樹脂シート2内に形成される。誘電体層12は、第1電極11の表面に、例えば、STO(チタン酸ストロンチウム)が成膜されて、形成されている。第2電極13は、例えば、Cu(銅)によって誘電体層12の表面に形成される。なお、図3は、図2のC−C線に示される断面を示す。   As shown in FIGS. 2 and 3, each thin film capacitor 10 includes a thin film-like first electrode 11, a thin film-like dielectric layer 12, and a thin film-like second electrode 13. The 1st electrode 11 is formed in the resin sheet 2 with Cu (copper), for example. The dielectric layer 12 is formed by depositing, for example, STO (strontium titanate) on the surface of the first electrode 11. The second electrode 13 is formed on the surface of the dielectric layer 12 by, for example, Cu (copper). FIG. 3 shows a cross section indicated by the line CC in FIG.

また、図2および図3に示されるように、第1電極11の一端部(図2における右側の端部)側が第2電極13と平面視で重ならず、第2電極13の、第1電極11の一端部とは反対側である他端部(図2における左側の端部)側が第1電極11と平面視で重ならないように、第1電極11および第2電極13は、それぞれ、平面視における位置をずらした状態で形成されている。それによって、第1電極11の一端部側を外部接続用の金属パッド11aとして形成し、第2電極13の他端部側を外部接続用の金属パッド13aとして形成することができる。   Further, as shown in FIGS. 2 and 3, one end portion (the right end portion in FIG. 2) side of the first electrode 11 does not overlap the second electrode 13 in plan view, and the first electrode 11 The first electrode 11 and the second electrode 13 are respectively arranged so that the other end (the left end in FIG. 2) side opposite to the one end of the electrode 11 does not overlap the first electrode 11 in plan view. It is formed in a state where the position in plan view is shifted. Thereby, the one end part side of the 1st electrode 11 can be formed as the metal pad 11a for external connection, and the other end part side of the 2nd electrode 13 can be formed as the metal pad 13a for external connection.

すなわち、図2に示されるように、第1電極11の一端部側が外部接続用の金属パッド11aとして形成され、第1電極11の一端部とは反対側である第2電極13の他端部側が外部接続用の金属パッド13aとして形成されている。   That is, as shown in FIG. 2, one end of the first electrode 11 is formed as a metal pad 11 a for external connection, and the other end of the second electrode 13 is opposite to the one end of the first electrode 11. The side is formed as a metal pad 13a for external connection.

なお、薄膜キャパシタ10の構成としては上記した例に限定されるものではなく、AuやPt、Ag、Al等のその他の金属材料により第1電極11および第2電極13が形成されていてもよいし、その他の絶縁材料により誘電体層12が形成されていてもよい。また、樹脂シート2を形成する樹脂材料も上記した例に限定されるものではない。   The configuration of the thin film capacitor 10 is not limited to the above example, and the first electrode 11 and the second electrode 13 may be formed of other metal materials such as Au, Pt, Ag, and Al. The dielectric layer 12 may be formed of other insulating materials. Further, the resin material forming the resin sheet 2 is not limited to the above example.

また、図1において矩形状の実線で示されるように、平面視で、各薄膜キャパシタ10を囲むように、切断部20が形成されている。切断部20は、薄膜キャパシタ10を回路基板に実装する際に、薄膜キャパシタ10を樹脂シート2から容易に切り離すために形成されている。   In addition, as shown by a rectangular solid line in FIG. 1, a cutting portion 20 is formed so as to surround each thin film capacitor 10 in a plan view. The cutting part 20 is formed to easily separate the thin film capacitor 10 from the resin sheet 2 when the thin film capacitor 10 is mounted on the circuit board.

切断部20は、図2に示されるように、平面視で、薄膜キャパシタ10の各辺に沿って形成された切込部21と、薄膜キャパシタ10の各角部に対応して、樹脂シート2によって形成されるコーナーブリッジ22とを含む。各切込部21は、図3に示されるように樹脂シート2を貫通している。切込部21は、例えば、レーザ加工によって樹脂シート2に形成されてもよいし、あるいは金型を用いて樹脂シート2に形成されてもよい。   As shown in FIG. 2, the cutting portion 20 corresponds to the cut portion 21 formed along each side of the thin film capacitor 10 and each corner portion of the thin film capacitor 10 in a plan view. And a corner bridge 22 formed by the Each notch part 21 has penetrated the resin sheet 2 as FIG. 3 shows. The cut portion 21 may be formed in the resin sheet 2 by, for example, laser processing, or may be formed in the resin sheet 2 using a mold.

一方、コーナーブリッジ22は、薄膜キャパシタ10を樹脂シート2に保持する。そのため、薄膜キャパシタ10を樹脂シート2から切り離す際には、コーナーブリッジ22が、例えば、超音波振動によって破断される。   On the other hand, the corner bridge 22 holds the thin film capacitor 10 on the resin sheet 2. Therefore, when the thin film capacitor 10 is separated from the resin sheet 2, the corner bridge 22 is broken by, for example, ultrasonic vibration.

すなわち、薄膜キャパシタ10を回路基板等に実装するために、薄膜キャパシタシート1から薄膜キャパシタ10を切り離す際に、コーナーブリッジ22を切断すればよい。そのため、薄膜キャパシタ10の切離し作業が簡易化されるとともに、切離し作業の信頼性が向上する。   That is, in order to mount the thin film capacitor 10 on a circuit board or the like, the corner bridge 22 may be cut when the thin film capacitor 10 is separated from the thin film capacitor sheet 1. Therefore, the work of separating the thin film capacitor 10 is simplified and the reliability of the work of separating is improved.

その際、樹脂シート2がガラス繊維布に樹脂を含浸させて形成されたもの、例えば、樹脂シート2がガラスエポシキ樹脂によって構成される場合、コーナーブリッジ22は、ガラス繊維布の繊維方向に対し斜めに交差する方向に延びて形成されていることが好ましい。この場合、コーナーブリッジ22を、超音波振動によって破断する際に、破断残りの発生が抑制され、破断の信頼性が向上する。すなわち、コーナーブリッジ22が、ガラス繊維布の繊維方向に延びて形成されていると、繊維方向とコーナーブリッジ22の延びる方向が同一のため、超音波振動によって破断する際に、破断残りが発生しやすい。   At that time, when the resin sheet 2 is formed by impregnating a glass fiber cloth with a resin, for example, when the resin sheet 2 is made of glass epoxy resin, the corner bridge 22 is oblique to the fiber direction of the glass fiber cloth. It is preferable that it is formed so as to extend in a direction intersecting with. In this case, when the corner bridge 22 is ruptured by ultrasonic vibration, the occurrence of rupture residue is suppressed, and the reliability of the breakage is improved. That is, if the corner bridge 22 is formed to extend in the fiber direction of the glass fiber cloth, the fiber direction and the direction in which the corner bridge 22 extends are the same. Cheap.

2.薄膜キャパシタシートの製造方法
次に、図4および図5の断面図を参照して薄膜キャパシタシート1の製造方法を説明する。なお、図4および図5は、図1のB−B線に示される断面を示す。すなわち、図4および図5においては、薄膜キャパシタシート1に含まれる複数の薄膜キャパシタ10の内、二個の薄膜キャパシタ10が示される。
2. Method for Manufacturing Thin Film Capacitor Sheet Next, a method for manufacturing the thin film capacitor sheet 1 will be described with reference to the cross-sectional views of FIGS. 4 and 5. 4 and 5 show a cross section indicated by the line BB in FIG. That is, in FIG. 4 and FIG. 5, two thin film capacitors 10 are shown among the plurality of thin film capacitors 10 included in the thin film capacitor sheet 1.

同製造方法では、図4(a)に示されるように、まず、ドライ洗浄されたアルミ基材31を準備する。アルミ基材31は、アルミ箔で構成され、「金属箔で構成される金属支持部材」の一例である。なお、金属箔はアルミ箔に限られず、銅、ニッケル等の金属箔であってもよい。   In the manufacturing method, as shown in FIG. 4A, first, an aluminum substrate 31 that has been dry-cleaned is prepared. The aluminum base 31 is made of aluminum foil and is an example of “a metal support member made of metal foil”. The metal foil is not limited to an aluminum foil, and may be a metal foil such as copper or nickel.

次いで、図4(b)に示されるように、アルミ基材31の表面に、例えば、AS(エアロゾル)CVD法によってSTO膜(「誘電体膜」の一例)12を形成する。STO膜12は、薄膜キャパシタ10の誘電体層となる。   Next, as shown in FIG. 4B, an STO film (an example of a “dielectric film”) 12 is formed on the surface of the aluminum base 31 by, for example, an AS (aerosol) CVD method. The STO film 12 becomes a dielectric layer of the thin film capacitor 10.

次いで、図4(c)に示されるように、STO膜12上に薄膜キャパシタ10の第1電極11を形成する。第1電極11は、例えば、Cu薄膜によって構成される。Cu薄膜は、例えば、メタルマスクを用いて、イオンプレーティング法によって成膜される。   Next, as shown in FIG. 4C, the first electrode 11 of the thin film capacitor 10 is formed on the STO film 12. The first electrode 11 is made of, for example, a Cu thin film. The Cu thin film is formed by, for example, an ion plating method using a metal mask.

次いで、図4(d)に示されるように、STO膜12上および第1電極11上に、例えば、BTレジンを加熱圧着して樹脂シート2を形成する。また、第1電極11が形成された面と反対側の樹脂シート2の面上に樹脂製の支持部材32、例えば、ポリイミドフィルムの支持部材32を形成する。具体的には、BTレジンにポリイミドフィルムを貼り付けることによって支持部材32が形成される。支持部材32は、薄膜キャパシタシート1を製造過程において、薄膜キャパシタシート1のハンドリングを良くするために形成される。また、ポリイミドフィルムの支持部材32を形成することによって、BTレジンの加熱圧着を好適に行うことができる。   Next, as shown in FIG. 4D, the resin sheet 2 is formed on the STO film 12 and the first electrode 11 by, for example, thermocompression bonding of BT resin. Further, a support member 32 made of resin, for example, a support member 32 of polyimide film, is formed on the surface of the resin sheet 2 opposite to the surface on which the first electrode 11 is formed. Specifically, the support member 32 is formed by sticking a polyimide film to the BT resin. The support member 32 is formed to improve the handling of the thin film capacitor sheet 1 during the manufacturing process of the thin film capacitor sheet 1. Further, by forming the support member 32 of polyimide film, the thermocompression bonding of the BT resin can be suitably performed.

なお、樹脂製の支持部材32はポリイミドフィルムに限られず、例えば、ガラスエポキシ樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、あるいはテフロン(登録商標)等のフッソ樹脂等であってもよい。   The resin support member 32 is not limited to a polyimide film, and may be, for example, a glass epoxy resin, an epoxy resin, a phenol resin, or a fluorine resin such as Teflon (registered trademark).

次いで、図4(e)に示されるように、アルミ基材31を、例えばウエットエッチングによって、溶融させて除去し、アルミ基材31を除去後のSTO膜12の表面をデスマット(スマット除去)処理する。   Next, as shown in FIG. 4E, the aluminum substrate 31 is removed by melting, for example, by wet etching, and the surface of the STO film 12 after the aluminum substrate 31 is removed is desmutted (smut removed). To do.

次いで、図5(a)に示されるように、STO膜12上に、例えば、スピンコータによってレジストを塗布して、レジスト膜33を形成する。   Next, as shown in FIG. 5A, a resist film 33 is formed on the STO film 12 by applying a resist using, for example, a spin coater.

次いで、図5(b)に示されるように、レジスト膜33を、例えば、所定のマスクを用いて、UV露光および現像(フォトリソグラフ)することによって、レジスト膜33を、薄膜キャパシタ10の誘電体層に対応した形状にパターニングする。それによって、STO膜12をパターニングするためのマスクがレジスト膜33によって形成される。   Next, as shown in FIG. 5B, the resist film 33 is subjected to UV exposure and development (photolithography) using, for example, a predetermined mask, so that the resist film 33 is a dielectric of the thin film capacitor 10. Pattern into a shape corresponding to the layer. Thereby, a mask for patterning the STO film 12 is formed by the resist film 33.

次いで、図5(c)に示されるように、パターニングされたレジスト膜33をマスクとしてSTO膜12をパターニングし、薄膜キャパシタ10の誘電体層を形成する。その際、第1電極11と重なる部分を残してSTO膜12が除去される。   Next, as shown in FIG. 5C, the STO film 12 is patterned using the patterned resist film 33 as a mask to form a dielectric layer of the thin film capacitor 10. At this time, the STO film 12 is removed leaving a portion overlapping the first electrode 11.

次いで、図5(d)に示されるように、レジスト膜33を除去し、ポリイミドで構成される支持部材32を剥離する。その後、樹脂シート2の表面を洗浄する。   Next, as shown in FIG. 5D, the resist film 33 is removed, and the support member 32 made of polyimide is peeled off. Thereafter, the surface of the resin sheet 2 is washed.

次いで、図5(e)に示されるように、第1電極11が形成された面と反対側のSTO膜12の面上に薄膜キャパシタ10の第2電極13を形成する。第2電極13は、例えば、第1電極11と同様に、Cu薄膜によって構成される。Cu薄膜は、メタルマスクを用いて、イオンプレーティング法によって成膜される。   Next, as shown in FIG. 5E, the second electrode 13 of the thin film capacitor 10 is formed on the surface of the STO film 12 opposite to the surface on which the first electrode 11 is formed. The second electrode 13 is formed of a Cu thin film, for example, like the first electrode 11. The Cu thin film is formed by an ion plating method using a metal mask.

次いで、例えば、レーザ加工によって、図2および図3に示されるように、各薄膜キャパシタ10の周囲に切断部20を形成する。以上の工程によって薄膜キャパシタシート1が製造される。   Next, as shown in FIG. 2 and FIG. 3, for example, by laser processing, a cutting portion 20 is formed around each thin film capacitor 10. The thin film capacitor sheet 1 is manufactured through the above steps.

3.実施形態1の効果
上記したように、実施形態1の薄膜キャパシタシートの製造方法では、薄膜キャパシタシート1を製造する際に、薄膜キャパシタ10の転写工程、および転写後における転写基板の剥離工程を含まない。そのため、薄膜キャパシタシート1の製造に係る信頼性をより向上させることができる。また、通常、薄膜キャパシタをシリコン、ガラス、セラミック等の基材上で作製し、剥離する場合、大面積での処理は非常に難しく生産性に乏しい。しかしながら、基材としてアルミ箔(金属箔支持部材)31を使用し、使用したアルミ箔31を、例えば、ウエットエッチング等で溶解させて除去するため、高い生産性が得られる。すなわち、薄膜キャパシタの転写工程、および転写後における転写基板の剥離工程を含まず、信頼性をより向上させることができるとともに、薄膜キャパシタの量産性に優れ薄膜キャパシタシートの製造方法を提供できる。
3. Effects of Embodiment 1 As described above, the method for manufacturing a thin film capacitor sheet of Embodiment 1 includes a transfer process of the thin film capacitor 10 and a transfer substrate peeling process after the transfer when the thin film capacitor sheet 1 is manufactured. Absent. Therefore, the reliability concerning manufacture of the thin film capacitor sheet 1 can be further improved. In general, when a thin film capacitor is produced on a substrate such as silicon, glass, or ceramic and then peeled off, it is very difficult to process in a large area and the productivity is poor. However, since the aluminum foil (metal foil support member) 31 is used as the base material and the used aluminum foil 31 is removed by, for example, wet etching, high productivity can be obtained. That is, it does not include the transfer process of the thin film capacitor and the transfer substrate peeling process after the transfer, and the reliability can be further improved, and the manufacturing method of the thin film capacitor sheet can be provided with excellent mass productivity of the thin film capacitor.

また、金属箔支持部材としてアルミ箔31が用いられるため、アルミ箔31上にSTO膜12をASCVD法によって好適に成膜できるとともに、アルミ箔31を除去する際に、ウエットエッチングによって容易に除去できる。   Further, since the aluminum foil 31 is used as the metal foil support member, the STO film 12 can be suitably formed on the aluminum foil 31 by the ASCVD method, and can be easily removed by wet etching when the aluminum foil 31 is removed. .

<実施形態2>
次いで、図6および図7を参照して、実施形態2を説明する。実施形態2は、実施形態1とは、薄膜キャパシタシートの製造方法において、薄膜キャパシタ10の第2電極13の形成方法が異なる。すなわち、実施形態2では、「金属箔で構成される金属支持部材」がCu箔31Aで構成され、第2電極13が、Cu箔31Aから形成される。なお、以下の説明において、実施形態1の薄膜キャパシタシートの製造方法と同一工程の説明は、簡略化あるいは省略する。
<Embodiment 2>
Next, Embodiment 2 will be described with reference to FIGS. 6 and 7. The second embodiment is different from the first embodiment in the method of forming the second electrode 13 of the thin film capacitor 10 in the method of manufacturing the thin film capacitor sheet. That is, in the second embodiment, the “metal support member made of metal foil” is made of the Cu foil 31A, and the second electrode 13 is made of the Cu foil 31A. In the following description, descriptions of the same steps as those of the method for manufacturing the thin film capacitor sheet of Embodiment 1 are simplified or omitted.

同製造方法では、図6(a)に示されるように、まず、ドライ洗浄されたCu箔31Aを準備する。なお、Cu箔31Aの厚みは、薄膜キャパシタ10の第2電極13の所定の厚さに対応したものとされる。   In the manufacturing method, as shown in FIG. 6A, first, a dry-cleaned Cu foil 31A is prepared. The thickness of the Cu foil 31A corresponds to a predetermined thickness of the second electrode 13 of the thin film capacitor 10.

次いで、図6(b)に示されるように、Cu箔31Aの表面に、薄膜キャパシタ10の誘電体層となるSTO膜12を形成する。   Next, as shown in FIG. 6B, the STO film 12 that becomes the dielectric layer of the thin film capacitor 10 is formed on the surface of the Cu foil 31 </ b> A.

次いで、図6(c)に示されるように、実施形態1と同様に、STO膜12上にCu薄膜による薄膜キャパシタ10の第1電極11を形成する。
次いで、図6(d)に示されるように、実施形態1と同様に、STO膜12上および第1電極11上に、BTレジンを加熱圧着して樹脂シート2を形成する。また、第1電極11が形成された面と反対側の樹脂シート2の面上にポリイミドの支持部材32を形成する。
Next, as shown in FIG. 6C, as in the first embodiment, the first electrode 11 of the thin film capacitor 10 made of a Cu thin film is formed on the STO film 12.
Next, as shown in FIG. 6D, as in the first embodiment, the resin sheet 2 is formed on the STO film 12 and the first electrode 11 by thermocompression bonding of BT resin. Further, a polyimide support member 32 is formed on the surface of the resin sheet 2 opposite to the surface on which the first electrode 11 is formed.

次いで、図6(e)に示されるように、Cu箔31Aの表面上に、レジスト膜33を形成する。   Next, as shown in FIG. 6E, a resist film 33 is formed on the surface of the Cu foil 31A.

次いで、図7(a)に示されるように、レジスト膜33をUV露光および現像(フォトリソグラフ)することによって、レジスト膜33を、薄膜キャパシタ10の誘電体層に対応した形状にパターニングする。それによって、Cu箔31AおよびSTO膜12をパターニングするためのマスクがレジスト膜33によって形成される。   Next, as shown in FIG. 7A, the resist film 33 is patterned into a shape corresponding to the dielectric layer of the thin film capacitor 10 by UV exposure and development (photolithography). Thereby, a mask for patterning the Cu foil 31 </ b> A and the STO film 12 is formed by the resist film 33.

次いで、図7(b)に示されるように、パターニングされたレジスト膜33をマスクとしてCu箔31AおよびSTO膜12をパターニングし、薄膜キャパシタ10の第2電極13および誘電体層を形成する。その際、第1電極11とほぼ重なる部分を残してCu箔31AおよびSTO膜12が除去される。   Next, as shown in FIG. 7B, the Cu foil 31A and the STO film 12 are patterned using the patterned resist film 33 as a mask, and the second electrode 13 and the dielectric layer of the thin film capacitor 10 are formed. At this time, the Cu foil 31 </ b> A and the STO film 12 are removed leaving a portion that substantially overlaps the first electrode 11.

次いで、図7(c)に示されるように、レジスト膜33を除去し、ポリイミドで構成される支持部材32を剥離する。その後、樹脂シート2の表面を洗浄する。それによって、図7(d)に示されるように、薄膜キャパシタ10が形成される。次いで、例えば、レーザ加工によって、図2および図3に示されるように、各薄膜キャパシタ10の周囲に切断部20を形成する。以上の工程によって薄膜キャパシタシート1が製造される。   Next, as shown in FIG. 7C, the resist film 33 is removed, and the support member 32 made of polyimide is peeled off. Thereafter, the surface of the resin sheet 2 is washed. Thereby, as shown in FIG. 7D, the thin film capacitor 10 is formed. Next, as shown in FIG. 2 and FIG. 3, for example, by laser processing, a cutting portion 20 is formed around each thin film capacitor 10. The thin film capacitor sheet 1 is manufactured through the above steps.

4.実施形態2の効果
上記したように、実施形態2の薄膜キャパシタシートの製造方法では、薄膜キャパシタ10の第2電極13が銅箔(金属箔支持部材)31Aによって形成される。そのため、第2電極13を新たに成膜して形成する場合と比べて、薄膜キャパシタの製造工程を低減できる。また、金属箔支持部材をすべて除去する場合と比べて、金属箔支持部材を有効利用できる。
その際、第2電極13を銅箔によって形成することができ、電極として良好な導電性を得ることができる。
4). Effects of Second Embodiment As described above, in the method for manufacturing a thin film capacitor sheet of the second embodiment, the second electrode 13 of the thin film capacitor 10 is formed by the copper foil (metal foil support member) 31A. Therefore, the manufacturing process of the thin film capacitor can be reduced compared to the case where the second electrode 13 is newly formed. Moreover, compared with the case where all the metal foil supporting members are removed, the metal foil supporting members can be used effectively.
In that case, the 2nd electrode 13 can be formed with copper foil, and favorable electroconductivity can be acquired as an electrode.

<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。
<Other embodiments>
The present invention is not limited to the embodiments described with reference to the above description and the drawings, and for example, the following various aspects are also included in the technical scope of the present invention.

(1)上記各実施形態では、STO膜12をASCVD法によって成膜して、薄膜キャパシタ10の誘電体層を形成する例を示したが、誘電体層は、これに限られない。誘電体の組成は、例えば、ZnO、BTO、あるいはBSTであってもよいし、成膜方法は、スパッタ、スピンコート、あるいは蒸着であってもよい。   (1) In each of the above-described embodiments, the STO film 12 is formed by the ASCVD method to form the dielectric layer of the thin film capacitor 10, but the dielectric layer is not limited to this. The dielectric composition may be, for example, ZnO, BTO, or BST, and the film forming method may be sputtering, spin coating, or vapor deposition.

(2)薄膜キャパシタ10の第1電極11および第2電極13の形状は図2および図3に示したものに限られない。例えば、図8および図9に示されるように、第1電極11の一端部側が第2電極13と平面視で重ならず、第2電極の、第1電極の一端部とは反対側である他端部と第1電極の他端部とが重なるように、第2電極13が形成されるようにしてもよい。すなわち、少なくとも第1電極11の一端部側が第2電極13と平面視で重ならないように、第1電極11および第2電極13が形成されるようにしてもよい。この場合においても、第1電極11において、一端部側を外部接続用の金属パッド11aとすることができる。なお、図9は、図8のC−C線に示される断面を示す。   (2) The shapes of the first electrode 11 and the second electrode 13 of the thin film capacitor 10 are not limited to those shown in FIGS. For example, as shown in FIGS. 8 and 9, the one end portion side of the first electrode 11 does not overlap the second electrode 13 in plan view, and is the opposite side of the second electrode from the one end portion of the first electrode. The second electrode 13 may be formed such that the other end and the other end of the first electrode overlap. That is, the first electrode 11 and the second electrode 13 may be formed so that at least one end of the first electrode 11 does not overlap the second electrode 13 in plan view. Even in this case, one end of the first electrode 11 can be a metal pad 11a for external connection. FIG. 9 shows a cross section indicated by the line CC in FIG.

1…薄膜キャパシタシート、2…樹脂シート、10…薄膜キャパシタ、11…第1電極、12…STO膜(誘電体膜、誘電体層)、13…第2電極、20…切断部、21…切込部、22…コーナーブリッジ、31…アルミ基材(アルミ箔)、31A…銅基材(銅箔)、32…支持部材(ポリイミド) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Thin film capacitor sheet, 2 ... Resin sheet, 10 ... Thin film capacitor, 11 ... 1st electrode, 12 ... STO film | membrane (dielectric film, dielectric material layer), 13 ... 2nd electrode, 20 ... Cutting part, 21 ... Cutting Insertion part, 22 ... corner bridge, 31 ... aluminum substrate (aluminum foil), 31A ... copper substrate (copper foil), 32 ... support member (polyimide)

Claims (6)

薄膜キャパシタを含む薄膜キャパシタシートの製造方法であって、
金属箔によって構成される金属箔支持部材の表面に誘電体膜を形成する工程と、
前記誘電体膜上に前記薄膜キャパシタの第1電極を形成する工程と、
前記誘電体膜上および前記第1電極上にシート状の樹脂基材を形成する工程と、
前記第1電極が形成された面と反対側の前記樹脂基材の面上に樹脂製の支持部材を形成する形成工程と、
前記金属箔支持部材を溶融させて除去する工程と、
前記第1電極と重なる部分を残して前記誘電体膜を除去し、前記薄膜キャパシタの誘電体層を形成する工程と、
前記第1電極が形成された面と反対側の前記誘電体膜の面上に薄膜キャパシタの第2電極を形成する工程と、
前記樹脂製の支持部材を除去する工程と、を含み、
前記樹脂基材はガラス繊維布に樹脂を含浸させて形成され、
前記薄膜キャパシタは、平面視で矩形状に形成され、
当該製造方法は、さらに、
前記薄膜キャパシタの周囲に切断部を形成する工程を含み、
前記切断部は、平面視で、前記薄膜キャパシタの各辺に沿って形成される切込部と、矩形状の薄膜キャパシタの各角部に対応して、前記樹脂基材によって形成されるコーナーブリッジとを含み、
前記コーナーブリッジは、前記ガラス繊維布の繊維方向に対し斜めに交差する方向に延びて形成されている、薄膜キャパシタシートの製造方法。
A method of manufacturing a thin film capacitor sheet including a thin film capacitor,
Forming a dielectric film on the surface of the metal foil supporting member constituted by the metal foil;
Forming a first electrode of the thin film capacitor on the dielectric film;
Forming a sheet-like resin base material on the dielectric film and the first electrode;
Forming a resin support member on the surface of the resin substrate opposite to the surface on which the first electrode is formed;
Melting and removing the metal foil support member;
Removing the dielectric film leaving a portion overlapping the first electrode, and forming a dielectric layer of the thin film capacitor;
Forming a second electrode of a thin film capacitor on the surface of the dielectric film opposite to the surface on which the first electrode is formed;
And removing the support member made of the resin, only including,
The resin base material is formed by impregnating a glass fiber cloth with a resin,
The thin film capacitor is formed in a rectangular shape in plan view,
The manufacturing method further includes:
Forming a cutting portion around the thin film capacitor;
The cut portion is a corner bridge formed by the resin base material corresponding to each cut portion formed along each side of the thin film capacitor and each corner portion of the rectangular thin film capacitor in a plan view. Including
The said corner bridge is a manufacturing method of the thin film capacitor sheet | seat which is extended and formed in the direction which cross | intersects diagonally with respect to the fiber direction of the said glass fiber cloth .
請求項1に記載の薄膜キャパシタシートの製造方法において、
前記金属箔はアルミ箔によって構成される、薄膜キャパシタシートの製造方法。
In the manufacturing method of the thin film capacitor sheet according to claim 1,
The method for producing a thin film capacitor sheet, wherein the metal foil is made of an aluminum foil.
薄膜キャパシタを含む薄膜キャパシタシートの製造方法であって、
金属箔によって構成される金属箔支持部材の表面に誘電体膜を形成する工程と、
前記誘電体膜上に前記薄膜キャパシタの第1電極を形成する工程と、
前記誘電体膜上および前記第1電極上にシート状の樹脂基材を形成する工程と、
前記第1電極が形成された面と反対側の前記樹脂基材の面上に樹脂製の支持部材を形成する形成工程と、
前記第1電極と重なる部分を残して前記誘電体膜および前記金属箔支持部材を除去し、前記誘電体膜によって前記薄膜キャパシタの誘電体層を形成し、前記金属箔支持部材によって前記薄膜キャパシタの第2電極を形成する工程と、
前記樹脂製の支持部材を除去する工程と、を含み、
前記樹脂基材はガラス繊維布に樹脂を含浸させて形成され、
前記薄膜キャパシタは、平面視で矩形状に形成され、
当該製造方法は、さらに、
前記薄膜キャパシタの周囲に切断部を形成する工程を含み、
前記切断部は、平面視で、前記薄膜キャパシタの各辺に沿って形成される切込部と、矩形状の薄膜キャパシタの各角部に対応して、前記樹脂基材によって形成されるコーナーブリッジとを含み、
前記コーナーブリッジは、前記ガラス繊維布の繊維方向に対し斜めに交差する方向に延びて形成されている、薄膜キャパシタシートの製造方法。
A method of manufacturing a thin film capacitor sheet including a thin film capacitor,
Forming a dielectric film on the surface of the metal foil supporting member constituted by the metal foil;
Forming a first electrode of the thin film capacitor on the dielectric film;
Forming a sheet-like resin base material on the dielectric film and the first electrode;
Forming a resin support member on the surface of the resin substrate opposite to the surface on which the first electrode is formed;
The dielectric film and the metal foil supporting member are removed leaving a portion overlapping the first electrode, a dielectric layer of the thin film capacitor is formed by the dielectric film, and the thin film capacitor is formed by the metal foil supporting member. Forming a second electrode;
And removing the support member made of the resin, only including,
The resin base material is formed by impregnating a glass fiber cloth with a resin,
The thin film capacitor is formed in a rectangular shape in plan view,
The manufacturing method further includes:
Forming a cutting portion around the thin film capacitor;
The cut portion is a corner bridge formed by the resin base material corresponding to each cut portion formed along each side of the thin film capacitor and each corner portion of the rectangular thin film capacitor in a plan view. Including
The said corner bridge is a manufacturing method of the thin film capacitor sheet | seat which is extended and formed in the direction which cross | intersects diagonally with respect to the fiber direction of the said glass fiber cloth .
請求項3に記載の薄膜キャパシタシートの製造方法において、
前記金属箔は銅箔によって構成される、薄膜キャパシタシートの製造方法。
In the manufacturing method of the thin film capacitor sheet according to claim 3,
The said metal foil is a manufacturing method of the thin film capacitor sheet comprised with copper foil.
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の薄膜キャパシタシートの製造方法において、
少なくとも前記第1電極の一端部側が前記第2電極と平面視で重ならないように、前記第1電極および第2電極が形成される、薄膜キャパシタシートの製造方法。
In the manufacturing method of the thin film capacitor sheet according to any one of claims 1 to 4,
The method of manufacturing a thin film capacitor sheet, wherein the first electrode and the second electrode are formed so that at least one end of the first electrode does not overlap the second electrode in plan view.
請求項5に記載の薄膜キャパシタシートの製造方法において、
前記第1電極の一端部側が前記第2電極と平面視で重ならず、第2電極の、前記第1電極の一端部とは反対側である他端部側が前記第1電極と平面視で重ならないように、前記第1電極および第2電極は、それぞれ、平面視における位置をずらした状態で形成される、薄膜キャパシタシートの製造方法。
In the manufacturing method of the thin film capacitor sheet according to claim 5,
One end of the first electrode does not overlap the second electrode in plan view, and the other end of the second electrode opposite to the one end of the first electrode is in plan view with the first electrode. The method of manufacturing a thin film capacitor sheet, wherein the first electrode and the second electrode are formed in a state where the positions in plan view are shifted so as not to overlap each other.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0722725A (en) * 1993-06-22 1995-01-24 Shinko Electric Ind Co Ltd Circuit board with thin-film capacitor and its manufacture
US5977582A (en) * 1997-05-23 1999-11-02 Lucent Technologies Inc. Capacitor comprising improved TaOx -based dielectric
JP2000323845A (en) * 1999-05-14 2000-11-24 Sony Corp Manufacture of electronic circuit mounting substrate
JP2002334953A (en) * 2001-05-10 2002-11-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method of working wiring board
JP2003124061A (en) * 2001-10-10 2003-04-25 Hitachi Ltd Thin film capacitor, chip capacitor and lc filter using the same, and its manufacturing method
EP1777745A3 (en) * 2005-10-21 2010-05-05 E.I. Du Pont De Nemours And Company Power core device including a capacitor and method of making thereof
JP4998337B2 (en) * 2008-03-11 2012-08-15 Tdk株式会社 Dielectric element manufacturing method
JP5326699B2 (en) * 2008-03-26 2013-10-30 Tdk株式会社 Dielectric element and manufacturing method thereof
JP2013214538A (en) * 2010-07-30 2013-10-17 Sanyo Electric Co Ltd Process of manufacturing capacitor for built-in board and built-in capacitor board equipped with the same
US20130320813A1 (en) * 2012-06-04 2013-12-05 Tdk Corporation Dielectric device

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