JP6153240B2 - 非接触音響検査装置 - Google Patents
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Description
pL=pH 2/(ρC2)
2 加振低周波音波
3 対象物
4 欠陥部
5
光学検出系
6 欠陥
7 処理部
8 制御部
9 判定結果
10 直達音波成分
11 対象物
反射音波
12 超音波加振凹面音源
13 超音波制御部
14 加振超音波
15
加振領域
16 直達超音波成分
17 微小超音波振動子
18 凹面形状
19 凹面状超音波波面
20 周囲構造物
21 周囲構造物反射音波
22 周囲構造物反射超音波
23 超音波加振平面音源
24 対象物反射成分
25 計測用光線
26 部分配線
27 タップ付き遅延線
28 共通駆動信号
29 個別信号
30 通過孔
31 中心軸
Claims (8)
- 超音波を送波し、該超音波により形成される音響放射力により対象物を加振する送波構成、前記加振により励起された前記対象物の振動状況を光学的に計測する光学計測構成、および、光学計測結果を処理し検査結果を出力する処理構成を有する装置において、
前記音響放射力が、前記超音波の伝搬媒質中における非線形効果により形成され、前記超音波の周波数帯域よりも低い周波数帯域である、低周波成分スペクトルからなるように構成され、前記低周波成分スペクトルが、前記対象物の振動を励起可能とする周波数帯域を包含する周波数帯域となるように構成され、前記光学計測構成が、前記対象物の振動状況を計測し、該計測結果を光学計測結果として出力する構成であり、前記処理構成が、処理部により、前記光学計測結果を処理することにより、前記対象物の振動状況を判定し、判定結果を前記対象物の検査結果として出力するように構成されることを特徴とする、非接触音響検査装置。 - 前記送波構成が、収束性超音波を送波する構成であることを特徴とする、請求項1に記載の非接触音響検査装置。
- 前記送波構成が、有限時間長の超音波信号を送波し、前記処理構成が前記光学計測結果の特定時間部分を選択して使用する構成であることを特徴とする、請求項1に記載の非接触音響検査装置。
- 前記送波構成が、時間とともに前記音響放射力の周波数が変化するように構成され、前記処理構成が前記周波数の変化に対応した周波数成分のみを抽出する周波数選択手段を有する構成であることを特徴とする、請求項1に記載の非接触音響検査装置。
- 前記超音波の周波数が、可聴周波数以上の高周波であることを特徴とする請求項1に記載の非接触音響検査装置。
- 前記超音波の音圧が、30Pa以上であることを特徴とする請求項1に記載の非接触音響検査装置。
- 前記送波構成が、多数の小型超音波送波器を、凹面状に配置した構成である又は平面状に配置し同心円状に共通接続した構成であることを特徴とする請求項1に記載の非接触音響検査装置。
- 前記送波構成及び前記光学計測構成において、前記光学計測構成が、前記送波構成の中心軸に沿って計測するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の非接触音響検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013007957A JP6153240B2 (ja) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 非接触音響検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013007957A JP6153240B2 (ja) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 非接触音響検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014139513A JP2014139513A (ja) | 2014-07-31 |
JP6153240B2 true JP6153240B2 (ja) | 2017-06-28 |
Family
ID=51416287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013007957A Expired - Fee Related JP6153240B2 (ja) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 非接触音響検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6153240B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2804059B2 (es) * | 2019-07-30 | 2021-08-13 | San Jorge Tecnologicas Sl | Sistema y método para la detección de objetos ocultos bajo la ropa de una persona |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1497072A (en) * | 1974-04-23 | 1978-01-05 | Rca Corp | Visualization and measurement of ultrasonic waves |
JPS58163349A (ja) * | 1982-03-20 | 1983-09-28 | 株式会社島津製作所 | 超音波振動子の駆動回路 |
EP0359839B1 (en) * | 1988-09-17 | 1990-12-27 | Hewlett-Packard GmbH | Synchronous demodulator |
JPH0792464B2 (ja) * | 1993-05-12 | 1995-10-09 | 工業技術院長 | 原子間力顕微鏡における超音波振動検出方法及び原子間力顕微鏡における試料観察方法 |
JP3930118B2 (ja) * | 1997-10-09 | 2007-06-13 | オリンパス株式会社 | 圧電素子及びその製造方法 |
JP2000241397A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-08 | Nkk Corp | 表面欠陥検出方法および装置 |
US6236049B1 (en) * | 1999-09-16 | 2001-05-22 | Wayne State University | Infrared imaging of ultrasonically excited subsurface defects in materials |
JP3607569B2 (ja) * | 2000-05-08 | 2005-01-05 | 一司 山中 | 構造物の非破壊検査方法およびその装置 |
JP2004105257A (ja) * | 2002-09-13 | 2004-04-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 超音波送受信装置 |
JP4247310B2 (ja) * | 2004-04-30 | 2009-04-02 | 国立大学法人広島大学 | 硬度測定装置 |
JP2005351718A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 全方位探傷プローブ |
US20090048789A1 (en) * | 2007-04-13 | 2009-02-19 | University Of South Carolina | Optimized Embedded Ultrasonics Structural Radar System With Piezoelectric Wafer Active Sensor Phased Arrays For In-Situ Wide-Area Damage Detection |
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- 2013-01-21 JP JP2013007957A patent/JP6153240B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014139513A (ja) | 2014-07-31 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160118 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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