JP6122117B2 - エアロゾル粒子の粒径を特定する方法及び装置 - Google Patents
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Claims (23)
- エアロゾル粒子粒径分布を特定する方法であって、
a.被変調エアロゾル粒子ビームを生成するために変調関数によって制御されるエアロゾル粒子ゲート(2)を用いてエアロゾル粒子ビーム(6)を変調するステップと、
b.ドリフト領域(3)を通るように前記被変調エアロゾル粒子ビームを誘導するステップと、
c.前記被変調エアロゾル粒子ビームが前記ドリフト領域(3)を通り抜けた後に、前記被変調エアロゾル粒子ビームの信号を測定するステップと、
d.前記エアロゾル粒子の前記粒径分布を特定するために前記変調関数と前記信号との相関を計算するステップと、
を含む、エアロゾル粒子粒径分布を特定する方法。 - 前記変調関数の自己相関は2値関数であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記変調関数は擬似ランダム系列であることを特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記変調関数は、最大長系列、GMW系列、ウェルチ−ゴング変換系列、平方剰余系列、6次剰余系列、双子素数系列、Kasamiべき関数系列、超卵形系列又は3つ若しくは5つの最大長系列から導出される系列であることを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 前記相関を計算する前に、前記信号をフィルタリングすることによって、フィルターを用いて前記信号のエッジを強調するステップを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記フィルターはn−素子有限差分フィルター、エッジ強調フィルター、又は異なるタイプの尖鋭化アルゴリズムを用いるフィルターであることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 前記信号から不鮮明な信号を計算するステップと、前記信号から前記不鮮明な信号を減算することによって前記信号と前記不鮮明な信号との間の差を計算するステップであって、その後、前記変調関数と、前記信号と前記不鮮明な信号との間の差との相関が計算される、ステップと、を特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記相関から、可能なエアロゾル粒子ドリフト時間の対象区間が選択されることを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記相関内のできる限り多くの偽のピーク(50.1、50.2、50.3、50.4、50.5、50.6)が前記対象区間の外側に位置するように前記変調関数を選択するステップを特徴とする、請求項8に記載の方法。
- 偽のピークが真のピークに重ならないように前記変調関数を選択するステップと、前記信号内の真のピークと対応する偽のピークとを識別するステップと、前記偽のピークの強度を対応する前記真のピークの強度に加算するステップとを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記相関内の偽の特徴(51.1、51.2)が低い高さを有するように前記変調関数を選択するステップを特徴とする、請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。
- 被測定エアロゾル粒子の信号が予想されない前記計算された相関の領域内で相関雑音の雑音レベルを特定するステップと、前記相関内の前記相関雑音を抑圧することによって雑音抑圧相関を計算するステップとを特徴とし、いずれのステップとも前記相関を計算する前記ステップ後に実行されることを特徴とする、請求項1〜11のいずれか一項に記載の方法。
- a.前記ステップを何サイクルも繰り返すことであって、各サイクル中に、前記エアロゾル粒子ビーム(6)は、異なる被変調エアロゾル粒子ビームを生成するために1組の変調関数のうちの異なる変調関数によって制御される前記エアロゾル粒子ゲート(2)を用いて変調されることと、
b.前記エアロゾル粒子の前記粒径分布を特定するために、前記各サイクル中に計算される前記相関を全相関に加えることと、
を特徴とする、請求項1〜11のいずれか一項に記載の方法。 - 前記サイクルを繰り返す前に事前ステップを実行することを特徴とし、前記1組の変調関数は、変調関数ごとに、前記相関内の偽の特徴(51.1、51.2)が前記相関の異なる位置に配置され、それゆえ、前記偽の特徴(51.1、51.2)が前記全相関内で平均されるように選択されることを特徴とする、請求項13に記載の方法。
- 前記相関は、巡回相互相関、逆アダマール変換、フーリエ変換、ラプラス変換又はM変換を計算することによって計算されることを特徴とする、請求項1〜14のいずれか一項に記載の方法。
- エアロゾル粒子粒径分布を特定する装置(1)であって、
a.エアロゾル粒子ビーム(6)から被変調エアロゾル粒子ビームを生成するために変調関数によって制御されるエアロゾル粒子ゲート(2)と、
b.前記被変調エアロゾル粒子ビームが通るように誘導可能なドリフト領域(3)と、
c.前記被変調エアロゾル粒子ビームが前記ドリフト領域(3)を通り抜けた後に、前記被変調エアロゾル粒子ビームの信号を測定可能な検出器(4)と、
d.前記エアロゾル粒子の前記粒径分布を特定するために、前記変調関数と前記信号との相関を計算可能な計算ユニット(5)と、
を備える、エアロゾル粒子粒径分布を特定する装置。 - 請求項16に記載の装置(1)であって、前記変調関数の自己相関は2値関数であることを特徴とする、請求項16に記載の装置。
- 請求項16又は17に記載の装置(1)であって、前記変調関数として使用するための擬似ランダム系列を生成可能な線形フィードバックシフトレジスタ(30)を特徴とする、請求項16又は17に記載の装置。
- 請求項16〜18のいずれか一項に記載の装置(1)であって、前記相関が計算可能である前に、前記計算ユニット(5)によって前記信号に前記信号のエッジを強調するためのフィルターを適用可能であることを特徴とする、請求項16〜18のいずれか一項に記載の装置。
- 請求項16〜19のいずれか一項に記載の装置(1)であって、
a.ステップの複数サイクルの繰り返しが制御可能である制御ユニット(3)であって、前記ステップは、前記エアロゾル粒子ゲート(2)を用いて前記被変調エアロゾル粒子ビームを生成するステップと、前記ドリフト領域(3)を通るように前記被変調エアロゾル粒子ビームを誘導するステップと、前記信号を前記検出器(4)を用いて測定するステップと、前記変調関数と前記信号との前記相関を計算するステップとを含む、制御ユニットと、
b.前記エアロゾル粒子の前記粒径分布を特定するために、全相関が計算可能である総和ユニットであって、前記全相関は前記サイクル中に計算された前記相関の和である、総和ユニットと、
を備えることを特徴とする、請求項16〜19のいずれか一項に記載の装置。 - 請求項16〜20のいずれか一項に記載の装置(1)であって、前記検出器(4)は質量分析計であることを特徴とする、請求項16〜20のいずれか一項に記載の装置。
- 請求項21に記載の装置(1)であって、前記質量分析計は飛行時間質量分析計であることを特徴とする、請求項21に記載の装置。
- 請求項21又は22に記載の装置(1)であって、前記質量分析計は、前記得ることが可能な粒径分布の時間分解能、又はその何分の1かに対応する繰り返し率でイオン質量スペクトルを特定できるようにすることを特徴とする、請求項21又は22に記載の装置。
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