JP6117070B2 - 電子顕微鏡 - Google Patents

Description

本発明は電子顕微鏡に関する。

電子顕微鏡を利用した試料観察では、ガス雰囲気中の試料と当該ガスの反応過程をその場で動的に観察する、いわゆる「その場観察」が行われることがある。例えば、燃料電池触媒では、触媒がガスに曝されると貴金属粒子が坦体上を移動して粒子成長するが、当該粒子成長をその場観察することで触媒の劣化解析が行われている。

この種の観察を行うためには、高真空状態に保持された鏡筒内の主たる空間と、ガスにより低真空状態に保持された試料近傍の空間を区画する必要があるが、その方式は大別して隔膜型と差働排気型に分類される。前者の方式に係る技術の１つとして、例えば、特開２００３−１８７７３５号公報には、ガス雰囲気中に試料を密閉する試料ホルダが記載されている。この試料ホルダは、電子ビームを通過させるための開口が形成された試料載置部と、その開口を横切るように張られたヒータ用ワイヤ（試料加熱装置）と、試料載置部を試料室内（真空）から隔離するための隔膜と、当該隔膜によって形成される試料載置空間に対してガスを導入するためのガス導入管（ガス導入装置）を備えている。

特開２００３−１８７７３５号公報

ところで、上記のようなガス雰囲気かつ低真空状態におかれる試料のその場観察に際して、動画で撮影するため、反応による試料ドリフトや形状変化が発生した場合に、オペレータが手動で補正して記録する必要があった。

なお、電圧の制御や導入ガスの制御もマニュアルで行うため。データを収集する場合に複数のオペレータにより操作する必要があり、オペレータによる操作ミスが過剰に反応を起こすことがあった。

本発明の目的は、反応による試料ドリフトを補正する制御によりガス雰囲気におかれた試料の顕微鏡像が得られる電子顕微鏡を提供することにある。

本発明は、上記目的を達成するために、電子銃からの電子線が試料に照射されることで発生する電子を検出する検出器と、当該検出器の出力に基づいて前記試料の顕微鏡像を表示する表示装置と、画像より試料移動を計測する装置と、ガス導入を制御する装置と、前記試料にガスを放出するためのガス導入装置と、当該ガス導入装置によるガス放出中に、前記検出器が設置された空間内の真空度が継続的に設定値未満に保持されるように前記ガス導入装置によるガス放出量を制御するガス制御装置を備えるものとする。

本発明によれば、ガス雰囲気中の試料のその場観察で試料ドリフトを低減して動画像観察が行える。

本発明の実施の形態に係る走査型透視電子顕微鏡の概略構成図。 本発明の実施の形態に係る電子顕微鏡装置のうち透過走査像を得るために使用する透過走査型電子顕微鏡部を示した図。 本発明の実施の形態に係る試料ホルダ５３の概略構成図。 本発明の実施の形態に係る電子顕微鏡の鏡体内に設けられる各部屋の区画の概略図。 本発明の実施の形態に係る圧力表示部９０の概略構成図。 本発明の実施の形態に係るモニタ３９の表示画面の一例。 本発明の実施の形態に係る動画記録画面の一例。 本発明の実施の形態に係るモニタ３９の表示画面の一例。 ウィンドウ１１１に２次電子像を表示し、ウィンドウ１１２に明視野像を表示した場合の画像表示部１０１の一例を示す図。本発明の実施の形態に係るモニタ３９の表示画面の一例。 本発明のトレース機能追跡の一例。 本発明のトレース機能を実行した一例。 本発明の面積、周長機能を実行した一例。 本発明の視野位置合わせを実行した一例。 本発明のガスコントロール制御ブロック一例。 本発明のガス導入制御例。 ガス導入のフローチャート。

以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。なお、以下では、走査型透過電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）を例に挙げて説明するが、本発明は、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）および走査型透過電子顕微鏡を含む電子顕微鏡ばかりでなく、荷電粒子線装置にも適用可能である。

図１は本発明の実施の形態に係る走査型透視電子顕微鏡の概略構成図である。この図に示す電子顕微鏡装置は、電子銃１と、第１及び第２の照射レンズコイル２，３と、第１及び第２の偏向コイル（走査コイル）４，５と、対物レンズコイル６と、第１及び第２の電磁式試料イメージ移動用コイル７，８と、第１及び第２の中間レンズコイル９，１０と、第１及び第２の投射レンズコイル１１，１２と、励磁電源１３〜２３と、デジタルアナログ変換器（ＤＡＣ）２４〜３４と、マイクロプロッセサ（ＭＰＵ）３５と、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）３６と、演算装置（ＡＬＵ）３７と、モニタコントローラ（ＣＲＴコントローラ）３８と、モニタ（ＣＲＴ）３９と、インターフェース（Ｉ／Ｆ）４０，４１と、倍率切替用ロータリーエンコーダ（ＲＥ）４２と、入力用ロータリーエンコーダ（ＲＥ）４３と、キーボード４４と、マウス５７と、ＲＡＭ４５と、ＲＯＭ４６と、画像取込みインターフェース４８を備えている。光軸上には、試料７０（図３参照）を保持する試料ホルダ５３が配置されている。図に示した対物レンズコイル６は強励磁レンズであり（図４参照）、試料の上側と下側にレンズが形成されている。

図２は、本発明の実施の形態に係る電子顕微鏡装置のうち本発明に関する主たる部分を抽出して示した図である。この図において、本実施の形態に係る電子顕微鏡部は、電子銃１と、照射レンズコイル２，３によって形成された収束電子レンズと、電子銃１で発生された電子線を試料７０（図３参照）上で走査させる走査装置としての偏向コイル（走査コイル）４，５と、試料７０が保持された試料ホルダ５３と、電子銃１からの電子線が試料７０に照射されることで発生する電子を検出する検出器（２次電子検出器５１、反射電子検出器５５、暗視野像検出器５０および明視野像検出器４９）と、コンピュータ８０と、検出器５１，５５，５０，４９の出力に基づいて試料７０の顕微鏡像を表示するモニタ３９と、鏡体内の各部の真空度が表示される圧力表示部９０を備えている。コンピュータ８０には、マイクロプロッセサ３５、ＨＤＤ３６、モニタコントローラ３８、ＲＡＭ４５、ＲＯＭ４６、および画像取込みインターフェース４８等の図１に示したハードウェアの一部と、モニタ３９に表示される顕微鏡像を録画するための録画制御装置９５などが搭載されている。

図３は本発明の実施の形態に係る試料ホルダ５３の概略構成図である。この図に示すように、試料ホルダ５３は、加熱ヒータ（加熱装置）６４と、真空計６５と、ガス導入装置６０を備えている。

加熱ヒータ６４は、電源（図示せず）に接続された１対のリード線に架け渡されたワイヤで構成されており、当該ワイヤには試料７０が付着して保持されている。すなわち、加熱ヒータ６４は、試料保持部としても機能している。加熱ヒータ６４には温度センサが取り付けられており、試料７０の温度が検出可能になっている。温度センサの出力（すなわち、試料温度）は、コンピュータ８０に出力されており、必要に応じてモニタ３９上に表示される。加熱ヒータ６４の出力は、コンピュータ８０内に搭載されたヒータ制御装置８３から加熱ヒータ６４に対して出力される制御信号に基づいて制御される。

真空計６５は、試料７０の近傍の真空度（圧力）を検出するためのもので、試料ホルダ５３内に設置されている。真空計６５は、図に示した例では試料７０から１ｍｍ以内に位置するように試料ホルダ５３に取り付けたが、試料ホルダ５３から独立して設置しても良い。真空計６５の出力（試料７０の近傍の圧力）は、コンピュータ８０に出力されており、圧力表示部９０（図２参照）に表示されたり、ガス導入装置６０によるガス放出量の制御（後述）に利用されたりする。

図４は本発明の実施の形態に係る電子顕微鏡の鏡体内に設けられる各部屋の区画の概略図である。本実施の形態に係る電子顕微鏡の鏡体内は、電子銃室７１と、第１中間室７２と、第２中間室７３と、第３中間室７４と、試料室７５に分類できる。電子銃室７１と第１中間室７２を区画する隔壁には第１オリフィス７６が設置されている。第１中間室７２と第２中間室７３を区画する隔壁には、ガンバルブ７８が設置されている。第２中間室内に設けられた隔壁には第２オリフィス７９が設置されており、第２中間室７４と第３中間室７５を区画する隔壁には第３オリフィス８４が設置されている。第３中間室７５と試料室７６は、対物レンズの上磁極８５によって区画されており、試料室７６内における対物レンズの上磁極８５と下磁極８６の間には試料ホルダ５３が配置されている。

電子銃室７１には真空ポンプ（イオンポンプ）８７ａが接続されており、第１中間室７２には真空ポンプ（イオンポンプ）８７ｂが接続されており、第２中間室７３には真空ポンプ（イオンポンプ）８７ｃが接続されている。第３中間室７４と、上磁極８５と下磁極８６の間に形成される空間と、下磁極８７より下方の空間には、同一の真空ポンプ（ターボ分子ポンプ８８およびドライポンプ８９）が独立した経路を介して接続されている。

第３中間室７４内には、電子銃１からの電子線により発生する２次電子を検出する際に所定の電圧（引き出し電圧）が印加される２次電子検出器５１が設置されている。２次電子検出器５１の電圧の印加は、コンピュータ８０内に搭載された検出器制御装置８２から２次電子検出器５１に対して出力される制御信号に基づいて制御されている。ターボ分子ポンプ８８の吸い込み口には真空計７７が設置されており、真空計７７の検出値はコンピュータ８０に出力されている。

図５は本発明の実施の形態に係る圧力表示部９０の概略構成図である。この図に示す圧力表示部９０は、ターボ分子ポンプ８８の吸い込み口の近傍に設置された真空計７７の検出値が表示される第１表示部９１と、試料ホルダ５３内に設置された真空計６５の検出値が表示される第２表示部９２を有している。この図の例では、ターボ分子ポンプ８８の吸い込み口での圧力は、０．０３４［Pa］であるのに対して、試料７０の近傍での圧力は１．０［Pa］に保持されている。

図３に戻り、ガス導入装置６０は、電子銃１で発生された電子線が照射される試料７０にガスを放出するためのものである。ガス導入装置６０は、ガスボンベ（図示せず）に接続され、試料ホルダ５３内に開口した噴射口６３を先端を有するガスノズル６１と、噴射口６３から放出されるガス放出量を調整するための調整バルブ６２を備えている。噴射口６３は加熱ヒータ６４に向けられており、噴射口６３からのガスは、加熱ヒータ６４におけるワイヤ上の試料７０に対して放出される。調整バルブ６２は電磁弁であり、調整バルブ６２の開度はガス制御装置８１から出力される制御信号に基づいて制御される。

ガス制御装置８１は、ガス導入装置６０によるガス導入中に、２次電子検出器５１が設置された第３中間室７４内の真空度が継続的に設定値Ｐ１未満に保持されるようにガス導入装置６０によるガス導入量（放出量）を制御するためのものである。ガス制御装置８１は、コンピュータ８０内に搭載されている。ガス制御装置８１には真空計６５の出力が入力されており、ガス制御装置８１は、真空計６５から入力される当該真空度に基づいて、試料ホルダ５３内へのガス導入量（放出量）を調整している。具体的には、ガス制御装置８１は、真空計６５から入力される圧力値が設定値Ｐ１未満の場合には、調整バルブ６２を所定の開度に保持し、真空計６５からの入力される圧力値が設定値Ｐ１以上の場合には、調整バルブ６２を閉じてガス導入装置６０による試料７０へのガスの放出を停止する処理を実行する。

ガス導入量の制御に係る設定値Ｐ１は、２次電子検出器５１に印加する電圧（引き出し電圧）の値と、ガス導入装置６０により導入されるガスの種類に基づいて決定されており、２次電子検出器５１に引き出し電圧を印加した際に放電が発生しない値に設定されている。
図６は本発明の実施の形態に係るモニタ３９の表示画面の一例である。この図に示す画面は、電子顕微鏡画像１１１，１１２が表示される画像表示部１０１と、画像表示部１０１に表示される画像１１１，１１２を制御するための画像コントロール部１０２と、主に電子顕微鏡の操作を行うための主コントロール部１０３を備えている。

画像表示部１０１には、１以上の電子顕微鏡画像がウィンドウごとに表示される。画像表示部１０１に表示するウィンドウの数は、主コントロール部１０３を介して自由に増減できる。図９に示した例では２つのウィンドウ（画像）１１１，１１２が表示されている。

画像コントロール部１０２では、画像表示部１０１に表示されるウィンドウ１１１，１１２のうちマウス５７等で選択されたもの（以下では、「選択ウィンドウ」と称することがある）に係る画像を制御することができる。図１０は画像コントロール部１０２の拡大図である。この図に示すように画像コントロール部１０２は、単独ボタン１２１と、２次電子像ボタン１２２と、明視野像ボタン１２３と、暗視野像ボタン１２４と、反射電子像ボタン１２５と、カラーボタン１２６と、重ね合わせボタン１３１と、上画像プルダウンメニュー１３２と、下画像プルダウンメニュー１３３と、カラーボタン１３４と、カラーボタン１３５と、透過率入力部１３６と、時刻ボタン１４１と、真空度ボタン１４２と、試料温度ボタン１４３と、時間ボタン１４４と、録画ボタン１５１を備えている。図１０の例では、選択されているボタンは「黒塗り」で表示しており、選択されていないボタンは「白塗り」で表示している。

画像表示部１０１内のウィンドウ１１１，１１２のいずれかを選択して２次電子像ボタン１２２を押すと、その時刻に２次電子検出器５１によって検出された２次電子像がリアルタイムの動画で選択ウィンドウに表示される。同様に、明視野像ボタン１２３を押すと選択ウィンドウに明視野像が表示され、暗視野像ボタン１２４を押すと選択ウィンドウに暗視野像が表示され、反射電子像ボタン１２５を押すと選択ウィンドウに反射電子像が表示される。これらのボタン１２２，１２３，１２４，１２５は、いずれか１つのみを押すことが可能であり、選択されているボタン以外のボタンを押すと、それまで選択されていたボタンの選択が解除される。これにより選択ウィンドウ内の画像を切り替えることができる。操作者の希望に応じて２次電子像、明視野像、暗視野像および反射電子像を交互にリアルタイム表示できるので、例えば、試料７０に係る粒子の移動を容易に把握できる。

カラーボタン１２６を押すと、選択ウィンドウに表示された画像がグレースケール表示から擬似的なカラー表示に変化する。ここでいう擬似的なカラー表示とは、白黒の濃淡に代えて、例えば、単一の有彩色である緑色の濃淡で画像を表示したものがこれに当たる。カラーボタン１２６は、他のボタン１２２，１２３，１２４，１２５とともに選択可能である。カラーボタン１２６を再度押すと選択が解除され、表示画像がグレースケール表示に戻る。

画像表示部１０１内のウィンドウ１１１，１１２のいずれかを選択して時刻ボタン１４４を押すと、当該選択ウィンドウ内の画像上に当該画像の撮影時刻が表示される。真空度ボタン１４２を押すと、当該選択ウィンドウ内の画像上に当該画像の撮影時刻に係る真空計６５の真空度（圧力）が表示される。試料温度ボタン１４３を押すと、当該選択ウィンドウ内の画像上に当該画像の撮影時刻に係る試料温度が表示される。時間ボタン１４４を押すと、当該選択ウィンドウ内の画像上に、試料７０の観察を開始した時刻から、当該画像の撮影時刻までの経過時間が表示される。試料７０の観察開始時刻は、主コントロール部１０３を介して操作者によって指定される。

なお、図に示した例では、時刻、真空度、試料温度および時間をウィンドウ内の画像上に表示したが、これらは画面上の他の場所に表示しても良い。さらに、画像に係る情報であれば、時刻、真空度、試料温度および時間以外の情報（例えば、観察中に加熱ヒータ６４によって試料７０に加えたトータルのエネルギー量や、電子顕微鏡の観察条件である電子の加速電圧、倍率およびスケールバー等）を表示しても良いことは言うまでも無い。

録画ボタン１５１は、選択ウィンドウ内に表示される画像（動画）をコンピュータ８０内の記憶装置（例えば、ＨＤＤやＲＯＭ）に記憶（録画）するためのボタンである。録画ボタン１５１を押すと、録画制御装置９５に録画開始信号が出力され、選択ウィンドウ内の動画の録画が開始される。一方、録画ボタン１５１を再度押すと、録画制御装置９５に録画停止信号が出力され、録画が停止される。なお、本実施の形態では録画ボタン１５１を押すことで録画を開始するように構成したが、電子顕微鏡の稼働中に各検出器５１，５５，４９，５０を介して撮影された全ての動画を自動的に録画するように録画制御装置９５を設定しても良い。また、その録画した動画を、観察終了後に画像表示部１０１に表示可能に構成しても良い。そして、この場合の録画動画の表示も、画像表示部１０１および画像コントロール部１０２を介して操作すれば良い。

図１１はウィンドウ１１１に２次電子像を表示し、ウィンドウ１１２に明視野像を表示した場合の画像表示部１０１の一例を示す図である。各ウィンドウ１１１，１１２に表示される画像は、同期されており、各検出器５１，５５，４９，５０で同時刻に検出された出力に基づいて作成されている。この図に示した例では、各ウィンドウ１１，１１２について真空度ボタン１４２、試料温度ボタン１４３および時間ボタン１４４が押されており、各ウィンドウ１１，１１２内の画像上に真空度、試料温度および時間が表示されている。２次電子像を利用して試料７０のその場観察を行うと、３次元的な試料の変化を観察できるので、例えば、試料７０に係る粒子のうち試料７０の表面に存在するものが移動して、試料表面から試料内部に沈み込む様子などを観察できる。

また、図６のように２次電子像と明視野像を並列配置して同時に表示すると、試料７０の表面と内部を同時に観察できる。これにより、例えば、ある時刻では２次電子像上で試料７０の表面に存在していた粒子が、その後、２次電子像からは消えたが明視野像に依然として存在すること確認できれば、試料７０の表面に存在していた粒子が、試料表面から試料内部に移動したことを容易に確認できる
図１２は６つのウィンドウ１１１，１１２，１１３を画像表示部１０１に同時に表示した場合の一例を示す図である。この図に示した例では、追加したウィンドウ１１３に暗視野像を表示している。このように同時刻に検出された２次電子像、明視野像および暗視野像を同時に表示すると、試料７０の表面、内部および背面を同時に観察することができ、例えば、試料７０に係る粒子が表面、内部、背面のいずれに位置しているかを容易に把握することができる。なお、ウィンドウを追加して又は他の像に代えて、画面表示部１０１に反射電子像を表示しても良い。反射電子像は、試料の表面と内部があるため、２次電子像と暗視野像が合わさったような画像が取得できる。

図９は１つのウィンドウ上で、複数種類の画像を適宜切り替えて表示した場合の一例を示す図である。選択ウィンドウ上に表示する画像の選択（画像の切り替え）は、２次電子像ボタン１２２と、明視野像ボタン１２３と、暗視野像ボタン１２４と、反射電子像ボタン１２５を押すことで行うことができる。これにより、同時刻に係る２次電子像、明視野像、暗視野像および反射電子像のうちいずれか１つを選択ウィンドウに表示することができる。図に示した例では、ガス導入前に２次電子像から暗視野像に切り替えて、ガス導入後に２次電子像から暗視野像に切り替えた場合を示している。このように観察中にリアルタイムで画像の種類を切り替えれば、例えば、試料７０に係る粒子移動を視覚的に容易に把握できる。

図９の説明に戻る。画像表示部１０１内のウィンドウ１１１，１１２のいずれかを選択して重ね合わせボタン１３１を押すと、２次電子像、明視野像、暗視野像および反射電子像のうちいずれか２つを選択ウィンドウ内で重ね合わせて表示できる。

上画像プルダウンメニュー１３２は、重ね合わせボタン１３１が押されたウィンドウにおいて、上に表示する画像を２次電子像、明視野像、暗視野像および反射電子像の中から選択するためのものであり、図８の例では２次電子像が選択されている。下画像プルダウンメニュー１３３は、重ね合わせボタン１３１が押されたウィンドウにおいて、下に表示する画像を２次電子像、明視野像、暗視野像および反射電子像の中から選択するためのものであり、図１０の例では暗視野像が選択されている。単独ボタン１２１は、重ね合わせボタン１３１によって選択ウィンドウが重ね合わせ表示がされているときに、重ね合わせ表示から単独表示に復帰する際に使用される。なお、単独表示に復帰した際に選択ウィンドウに表示される画像は、復帰時に押されているボタン（２次電子像ボタン１２２、明視野像ボタン１２３、暗視野像ボタン１２４、反射電子像ボタン１２５およびカラーボタン１２６）に基づいて決定されるものとする。

図１０は、反応による粒子のトレース機能に関するもので、粒子の移動を軌跡表示する機能である。図１１にトレース実行例を示す。トレースは、正規化相関を用いて粒子を同定して、画像のテンプレートマッチングによるテンプレート画像サーチについて以下に一例を示す。式（１）で示される相関演算をソース画像の指定領域内の全画素に対して行い一致度係数（ｒ）が最大（１．０）になるポイントを移動量として検出する。このとき一致度はrに100をかけたものと定義する。

本方式を用いれば、相関係数算出の計算式自体がデータを正規化しているので明るさの変動やボケに対して一致度が高くなる。これらの演算は、テンプレート画像の領域と対応するソース画像の一領域に対して行われる。本発明による正規化相関サーチは、セットアップ、トレーニング、サーチの３段階を設定しており、セットアップは、テンプレート画像を入力画像から切り出すことで、トレーニングは、切り出した画像を正規化相関サーチのテンプレート画像として登録する。次にサーチは、トレーニングで登録したテンプレートのサーチを行うこととする。移動量計算は、移動位置を計算して、サブピクセル精度で計算を行う。

図１２に粒子の面積や周長を測定した例を示す。面積と周長は二近化処理を行い図のように処理してもいい。

図１３に視野合わせを実施した例を示す。トレース機能で用いた粒子の移動量をステージ並びにイメージシフトで補正を行い視野位置を合わせる。

図１４に本発明の制御ブロック図と図１５に制御例を示す。図１５の横軸は、時間で縦軸は真空度で、所定の時間で真空度を上昇させて制御することにより、反応を制御して試料の移動を低減することができる。

図１６において、真空圧の制御方法を示す。ガス導入バルブの開閉により試料近傍の真空度を制御することが可能となる。

１…電子銃、２…第１照射レンズコイル、３…第２照射レンズコイル、４…第１偏向コイル、５…第２偏向コイル、６…対物レンズコイル、７…第１電磁式試料イメージ移動用コイル、８…第２電磁式試料イメージ移動用コイル、９…第１中間レンズコイル、１０…第２中間レンズコイル、１１…第１投射レンズコイル、１２…第２投射レンズコイル、１３〜２３…励磁電源、２４〜３４…ＤＡＣ、３５…マイクロプロッセサ、３６…記憶装置、３７…演算装置、３８…モニタコントローラ、３９…モニタ、４０〜４１…Ｉ／Ｆ、４２…倍率切替用ロータリーエンコーダ、４３…入力用ロータリーエンコーダ、４４…キーボード、４５…ＲＡＭ、４６…ＲＯＭ、４７… 走査像取り込みインターフェース 、４８…画像取込みインターフェース、４９…明視野像検出器、５０…暗視野像検出器、５１…２次電子検出器、５２…X線検出器、５３…試料ステージ、５４…ＣＬ検出器、５５…反射電子検出器、５９…加熱ヒータ、６０…ガス導入装置、６２…調整バルブ、６３…噴射口、６４…加熱ヒータ、６５…真空計、７０…試料、７７…真空計、８１…ガス制御装置、８２…検出器制御装置、８３…ヒータ制御装置、９０…圧力表示部、９５…録画制御装置、１０１…画像表示部

Claims (11)

1. 試料に電子線を照射する電子源と、当該電子線の照射により前記試料から発生する電子を検出する検出器を備え、当該検出器の出力に基づいて前記試料の画像を生成する電子顕微鏡であって、
   前記試料にガスを導入するガス導入部と、
   当該生成された画像を表示する表示部と、
   前記ガス導入部を制御する制御部と、を有し、
   前記検出器は複数個であって、前記表示部は、当該複数の検出器による出力に基づいて生成される複数の画像を動画像として同時に保存及び再生し、
   前記動画像上における任意の形状を指定することで、画像相関により前記形状を追尾し、当該形状の移動軌跡を表示する、電子顕微鏡。
2. 前記動画上における任意の形状を指定することで、画像相関により表示画像の形状を追尾し、当該追尾された位置に視野を固定することで、前記動画上にドリフトのない画像を表示する、請求項１記載の電子顕微鏡。
3. 前記電子顕微鏡は、走査型電子顕微鏡、又は、走査透過型電子顕微鏡、又は、透過型電子顕微鏡である、請求項１記載の電子顕微鏡。
4. 前記複数の画像は、２次電子像、明視野像、暗視野像及び反射電子像のうち少なくとも２つの画像を含み、
   前記表示部は、前記２つの画像を交互に表示する、請求項１記載の電子顕微鏡。
5. 前記複数の画像は、２次電子像、明視野像、及び暗視野像の少なくとも２つの画像を含み、
   前記表示部は、前記２つの画像を同時に表示する、請求項１記載の電子顕微鏡。
6. 試料に電子線を照射する電子源と、
   当該電子線の照射により前記試料から発生する電子を検出する検出器を備え、当該検出器の出力に基づいて前記試料の画像を生成する電子顕微鏡であって、
   前記試料にガスを導入するガス導入部と、
   当該生成された画像を表示する表示部と、
   前記ガス導入部を制御する制御部と、を有し、前記検出器は複数個であって、
   前記表示部は、当該複数の検出器による出力に基づいて生成される複数の画像を同時に表示し、
   前記画像上における任意の形状を指定することで、画像相関により前記形状を追尾し、当該形状の移動軌跡を表示する、電子顕微鏡。
7. 電磁的または機械的に視野を移動する視野移動手段を備え、
   前記画像上における任意の形状を指定することで、画像相関により表示画像の形状を追尾し、前記視野移動手段を用いて、指定した位置に視野移動を行うことで、ドリフトのない画像を表示する、請求項６記載の電子顕微鏡。
8. 前記画像内の特徴点の移動を検出することで、各視野において追尾した形状を抽出して、当該抽出した形状に対して、面積、周長を計測する、請求項６記載の電子顕微鏡。
9. 前記電子顕微鏡は、走査型電子顕微鏡、又は、走査透過型電子顕微鏡、又は、透過型電子顕微鏡である、請求項６記載の電子顕微鏡。
10. 前記複数の画像は、２次電子像、明視野像、暗視野像及び反射電子像のうち少なくとも２つの画像を含み、
    前記表示部は、前記２つの画像を交互に表示する、請求項６記載の電子顕微鏡。
11. 前記複数の画像は、２次電子像、明視野像、及び暗視野像の少なくとも２つの画像を含み、
    前記表示部は、前記２つの画像を同時に表示する、請求項６記載の電子顕微鏡。