JP6114615B2 - Connector fitting device and electronic device inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、2つの基板に設けられたコネクタの接続作業を円滑化する技術に関する。 The present invention relates to a technique for facilitating connection work of connectors provided on two substrates.
電子機器の製造工程ではその動作検査が実行される。下記特許文献1には、液晶表示装置の動作を検査する方法が開示されている。この文献は、透明基板に接続されている回路基板に検査用の端子を予め形成しておいて、検査用の端子を通して液晶表示装置に検査信号を入力する方法を提案している。 The operation inspection is performed in the manufacturing process of the electronic device. Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. 2004-228561 discloses a method for inspecting the operation of a liquid crystal display device. This document proposes a method in which an inspection terminal is formed in advance on a circuit board connected to a transparent substrate, and an inspection signal is input to the liquid crystal display device through the inspection terminal.
検査の方法としては、検査対象である電子機器に設けられたコネクタに、嵌合装置によってプローブコネクタを接続する方法がある。一般的に、コネクタには、それに嵌合しようとするコネクタを案内するガイドが形成されている。そのため、電子機器のコネクタの位置とプローブコネクタの位置との間にずれがある場合でも、その位置ずれはガイドによって解消され得る。しかしながら、2つのコネクタの位置ずれが解消されるためには、プローブコネクタの変位が許容されている必要がある。また、位置ずれを解消するためのコネクタの変位は、電子機器内で使用される2つのコネクタを嵌合させる電子機器の製造工程においても必要となる。 As an inspection method, there is a method in which a probe connector is connected to a connector provided in an electronic device to be inspected by a fitting device. In general, a connector is formed with a guide for guiding a connector to be fitted to the connector. Therefore, even when there is a shift between the position of the connector of the electronic device and the position of the probe connector, the position shift can be eliminated by the guide. However, in order to eliminate the positional shift between the two connectors, the probe connector needs to be allowed to be displaced. Further, the displacement of the connector for eliminating the positional deviation is also required in the manufacturing process of the electronic device in which the two connectors used in the electronic device are fitted.
本発明の目的の一つは、簡単な構造でコネクタの変位を許容するコネクタの嵌合装置、及びコネクタの変位を容易に許容できる電子機器の検査方法を提供することにある。 One of the objects of the present invention is to provide a connector fitting device that allows connector displacement with a simple structure, and an electronic device inspection method that can easily allow connector displacement.
本発明に係るコネクタ嵌合装置は、検査対象機器のうち少なくともそのコネクタが設けられた部分を支持するための第1支持部材と、前記検査対象機器のコネクタを位置決めするための機構と、前記第1支持部材から第1の方向において離れて配置される、前記検査対象機器のコネクタに嵌合させるためのプローブコネクタと、弾性変形可能な材料で形成されている中間部材と、前記プローブコネクタが第1の方向に直交する第2の方向において変位できるように中間部材を介して前記プローブコネクタを支持している第2支持部材と、前記第1支持部材と前記第2支持部材とを第1の方向において近づけるためのアクチュエータと、を備える。 The connector fitting device according to the present invention includes a first support member for supporting at least a portion of the inspection target device provided with the connector, a mechanism for positioning the connector of the inspection target device, and the first A probe connector for being fitted to a connector of the device to be inspected, arranged away from the one support member in the first direction; an intermediate member formed of an elastically deformable material; and the probe connector A second support member that supports the probe connector via an intermediate member so that the probe connector can be displaced in a second direction orthogonal to the first direction, and the first support member and the second support member. And an actuator for approaching in the direction.
本発明によれば、支持部材は弾性変形可能な材料で形成された中間部材を通してプローブコネクタを支持しているので、簡単な構造でプローブコネクタの変位を許容できる。なお、検査対象機器のコネクタを位置決めするための機構は、必ずしもコネクタに直接的に接触していなくてもよい。すなわち、この機構は間接的にコネクタを位置決めしてもよい。間接的な位置決めとは、例えば位置決め機構がコネクタが実装された回路基板(FPCを含む)に接する構造を意味する。 According to the present invention, since the support member supports the probe connector through the intermediate member formed of an elastically deformable material, displacement of the probe connector can be allowed with a simple structure. Note that the mechanism for positioning the connector of the device to be inspected may not necessarily be in direct contact with the connector. That is, this mechanism may indirectly position the connector. Indirect positioning means, for example, a structure in which a positioning mechanism is in contact with a circuit board (including an FPC) on which a connector is mounted.
本発明の一形態では、前記検査対象機器のコネクタを位置決めする機構は、前記検査対象機器のコネクタの外面に接触して、当該コネクタを位置決めしてもよい。こうすることにより、回路基板等の公差がコネクタの位置に影響することを抑えることができるので、コネクタの位置精度を向上できる。その結果、小型のコネクタにプローブコネクタを嵌合させる場合であっても、嵌合工程を円滑に行うことができるようになる。 In one form of this invention, the mechanism which positions the connector of the said test object apparatus may contact the outer surface of the connector of the said test object apparatus, and may position the said connector. By doing so, it is possible to suppress the tolerance of the circuit board or the like from affecting the position of the connector, so that the positional accuracy of the connector can be improved. As a result, even when the probe connector is fitted to a small connector, the fitting process can be performed smoothly.
前記検査対象機器のコネクタを位置決めする機構は、前記検査対象機器のコネクタを位置決めするときに当該検査対象機器のコネクタを前記第1支持部材との間に挟むための部材を含んでもよい。こうすることにより、高さの低いコネクタを位置決めする場合であっても、コネクタにジグを確実に当てることが可能となる。 The mechanism for positioning the connector of the inspection target device may include a member for sandwiching the connector of the inspection target device with the first support member when positioning the connector of the inspection target device. By doing so, it is possible to reliably apply a jig to the connector even when positioning a connector having a low height.
また、本発明の一形態では、前記中間部材の材料はエラストマーであってよい。これによれば、中間部材を安価に形成できる。 In one embodiment of the present invention, the material of the intermediate member may be an elastomer. According to this, the intermediate member can be formed at low cost.
前記プローブコネクタが基板に実装されている場合、前記中間部材は、前記基板に直接的又は間接的に接着される接着面を有してもよい。また、前記中間部材は、前記第2支持部材に接着される接着面を有してもよい。これによれば、嵌合装置の構造をさらに簡素化できる。 When the probe connector is mounted on a substrate, the intermediate member may have an adhesive surface that is directly or indirectly bonded to the substrate. The intermediate member may have an adhesive surface that is bonded to the second support member. According to this, the structure of the fitting device can be further simplified.
また、本発明に係る検査方法は、電子機器のコネクタに第1に方向においてプローブコネクタを嵌合させるための方法である。前記検査方法は、前記プローブコネクタが前記第1の方向に対して直交する第2の方向において変位できるように弾性変形可能な材料によって形成されている中間部材を介してプローブコネクタを支持部材に支持させる工程と、前記電子機器のうち少なくともコネクタが実装された部分を支持台に配置する工程と、前記電子機器のコネクタを位置決めする工程と、前記支持部材と前記支持台とを近づけて、前記電子機器のコネクタと前記プローブコネクタとを嵌合させる工程と、を含む。 In addition, the inspection method according to the present invention is a method for fitting a probe connector in the first direction to a connector of an electronic device. In the inspection method, the probe connector is supported by a support member via an intermediate member formed of an elastically deformable material so that the probe connector can be displaced in a second direction orthogonal to the first direction. A step of placing at least a portion of the electronic device on which the connector is mounted on a support base, a step of positioning a connector of the electronic device, and bringing the support member and the support base closer to each other, Fitting a connector of the device and the probe connector.
本発明によれば、支持部材は弾性変形可能な材料で形成された中間部材を通してプローブコネクタを支持しているので、プローブコネクタの変位を容易に許容できる。なお、コネクタの位置決め工程では、必ずしもコネクタが直接的に位置決めされなくてもよい。すなわち、コネクタが実装された回路基板(FPCを含む)が位置決めされることにより、間接的にコネクタが位置決めされてもよい。 According to the present invention, since the support member supports the probe connector through the intermediate member formed of an elastically deformable material, the displacement of the probe connector can be easily allowed. In the connector positioning step, the connector does not necessarily have to be positioned directly. That is, the connector may be indirectly positioned by positioning the circuit board (including the FPC) on which the connector is mounted.
また、前記電子機器のコネクタを位置決めする工程では、当該コネクタの外面に接するジグが用いられてもよい。こうすることにより、コネクタが実装された回路基板等の公差がコネクタの位置に影響することを抑えることができるので、コネクタの位置精度を向上できる。 Further, in the step of positioning the connector of the electronic device, a jig that contacts the outer surface of the connector may be used. By doing so, it is possible to suppress the tolerance of the circuit board or the like on which the connector is mounted from affecting the position of the connector, so that the positional accuracy of the connector can be improved.
本発明に係るコネクタ嵌合装置は、回路基板に実装された第1のコネクタに第2のコネクタを嵌合するための装置である。前記コネクタ嵌合装置は、前記回路基板のうち少なくとも前記第1のコネクタが設けられた部分を支持するための第1の支持部材と、前記回路基板の前記第1のコネクタを位置決めするための機構と、弾性変形可能な材料によって形成されている中間部材と、前記第1の支持部材から第1の方向に離れて配置され、前記第2のコネクタが第1の方向に直交する第2の方向に変位できるように中間部材を介して第2のコネクタを支持するための第2の支持部材と、前記第2の支持部材と前記第1の支持部材とを第1の方向において近づけるためのアクチュエータと、を備える。 A connector fitting device according to the present invention is a device for fitting a second connector to a first connector mounted on a circuit board. The connector fitting device includes a first support member for supporting at least a portion of the circuit board provided with the first connector, and a mechanism for positioning the first connector of the circuit board. And an intermediate member formed of an elastically deformable material, and a second direction that is disposed away from the first support member in the first direction, and wherein the second connector is orthogonal to the first direction. A second support member for supporting the second connector via the intermediate member so that the second support member and the first support member can be moved closer to each other in the first direction. And comprising.
本発明によれば、第2の支持部材は弾性変形可能な材料で形成された中間部材を通して第2のコネクタを支持しているので、簡単な構造で第2のコネクタの変位を許容できる。なお、第1のコネクタを位置決めするための機構は、必ずしも第1のコネクタに直接的に接触していなくてもよい。すなわち、この機構は間接的に第1のコネクタを位置決めしてもよい。間接的な位置決めとは、例えば位置決め機構が第1のコネクタが実装された回路基板(FPCを含む)に接する構造を意味する。 According to the present invention, since the second support member supports the second connector through the intermediate member formed of an elastically deformable material, the displacement of the second connector can be allowed with a simple structure. Note that the mechanism for positioning the first connector does not necessarily have to be in direct contact with the first connector. That is, this mechanism may indirectly position the first connector. Indirect positioning means a structure in which the positioning mechanism is in contact with a circuit board (including FPC) on which the first connector is mounted, for example.
以下、本発明の一実施形態について説明する。図1は本発明の実施形態に係るコネクタ嵌合装置10の斜視図である。図2はコネクタ嵌合装置10が備える基板支持アッセンブリ20の斜視図である。図3は基板支持アッセンブリ20の下部に設けられた支持部材26A,26B等の正面図である。図4はコネクタ嵌合装置10が備える位置決め機構50の斜視図である。図5は基板支持アッセンブリ20及び後述する浮き防止アッセンブリ51の概略を示す側面図である。図6は浮き防止アッセンブリ51の動きを示す図である。図7は基板支持アッセンブリ20の動きを示す図である。図8は位置決め機構50の概略を示す平面図である。図9は第1ジグアッセンブリ52の動きを示す図である。図10は第2ジグアッセンブリ53の動きを示す図である。図11は第3ジグアッセンブリ54の動きを示す図である。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a perspective view of a connector
以下の説明では、図1に示すX1,X2が示す方向をそれぞれ右方向,左方向とする。また、Y1,Y2が示す方向をそれぞれ前方,後方とする。また、Z1,Z2が示す方向をそれぞれ上方,下方とする。 In the following description, the directions indicated by X1 and X2 shown in FIG. 1 are the right direction and the left direction, respectively. Further, the directions indicated by Y1 and Y2 are assumed to be the front and rear, respectively. Further, the directions indicated by Z1 and Z2 are defined as upward and downward, respectively.
図1に示すように、コネクタ嵌合装置10は支持台11を有している。検査システム1は支持台11に設置される電子機器90を検査するためのシステムである。電子機器90は第1コネクタ93Aと第2コネクタ93Bとを有している(図4参照)。コネクタ93A,93Bは平面視で略矩形である。コネクタ嵌合装置10は、コネクタ93A,39Bを位置決めするための位置決め機構50と、プローブコネクタ21A,21Bが実装された回路基板22A,22Bを支持している基板支持アッセンブリ20とを有している(図3参照)。プローブコネクタ21A,21Bは、電線(この例ではFPC24A,24B(図2参照))を通して、検査システム1が備える検査装置2に接続されている。検査装置2はFPC24A,24B及びプローブコネクタ21A,21Bを通して検査信号を電子機器90に入力する。
As shown in FIG. 1, the connector
図1に示す例の電子機器90は表示装置であり、格子状の配線が形成された透明基板91と、基板91に接続されているFPC(Flexible Printed Circuit)92A,92Bとを有している。上述のコネクタ93A,93BはFPC92A,92Bにそれぞれ実装されている(図4参照)。なお、電子機器90は表示装置に限られず、表示装置とは異なる装置や回路基板であってよい。また、基板91に接続されるFPCの数は1つでもよい。また、電子機器90は必ずしもFPC92A,92Bを備えていなくてもよい。この場合、コネクタ93A,93Bは電子機器90である回路基板に直接的に実装されてよい。電子機器90が備えるコネクタの数は1つでもよい。
The
図1に示すように、この例の支持台11は後方に向けて張り出しているFPC台11a(請求項の第1支持部材)を有している。電子機器90のFPC92A,92B(図4参照)はFPC台11a上に配置される。FPC台11aの上面にはFPC92A,92Bを吸着するための空気口が形成されている。支持台11の初期位置は、基板支持アッセンブリ20及び位置決め機構50から前方に離れている。支持台11は前後動可能に設けられており、検査時にはアクチュエーターの作用により初期位置から後方に移動する。そして、FPC台11aは位置決め機構50に囲まれる位置(以下、検査位置)に配置される(図4参照)。図5乃至図11においては、FPC台11aは検査位置に配置されている。
As shown in FIG. 1, the
基板支持アッセンブリ20のプローブコネクタ21A,21Bは検査位置にあるFPC台11aから上方に離れて配置される。プローブコネクタ21A,21Bは回路基板の下面に実装されている。図2に示す例の基板支持アッセンブリ20は、左右方向で並ぶ2つの回路基板22A,22Bを備え、プローブコネクタ21A,21Bは回路基板22A,22Bにそれぞれ実装されている。回路基板22A,22Bの上面にはコネクタ23A,23Bが実装されている。コネクタ21A,21Bは回路基板22A,22Bに形成された電線を通してコネクタ23A,23Bにそれぞれ接続されている。コネクタ23A,23Bには上述したFPC24A,24Bがそれぞれ接続されている。
The
上述したように、検査時には、支持台11が後方に移動することにより、FPC台11aは検査位置に配置される。基板支持アッセンブリ20とFPC台11aは、アクチュエータの作用を受けて上下方向において互いに近づけられる。その結果、電子機器90のコネクタ93A,93Bと、基板支持アッセンブリ20のプローブコネクタ21A,21Bとが嵌合する。
As described above, at the time of inspection, the
図7では、基板支持アッセンブリ20の動きが示されている。プローブコネクタ21A,21Bの初期位置(図7の二点鎖線で示すコネクタ21A,21Bの位置)は、検査位置から上方且つ後方に離れている。検査時には、基板支持アッセンブリ20は前方に移動し、その後に検査位置に向けて下方に移動する。その結果、コネクタ93A,93Bとプローブコネクタ21A,21Bとがそれぞれ嵌合する。プローブコネクタ21Aとコネクタ93Aのうち一方のコネクタには凸部が設けられ、他方のコネクタには凹部が設けられている。一方のコネクタの凸部が他方のコネクタの凹部に嵌まり、その結果、コネクタ間の電気的接続が確立される。同様に、プローブコネクタ21Bとコネクタ93Bのうち一方のコネクタには凸部が設けられ、他方のコネクタには凹部が設けられている。
In FIG. 7, the movement of the
基板支持アッセンブリ20の前後方向での動きは、基板支持アッセンブリ20の後側に配置されているアクチュエータ82(図1参照)により実現される。基板支持アッセンブリ20の上下方向での動きはアクチュエータ81(図1参照)により実現される。アクチュエータ81,82は、例えば空気圧アクチュエータや、油圧アクチュエータ、モータなどである。なお、基板支持アッセンブリ20が下方に移動するのではなく、支持台11がアクチュエータの作用を受けて上方に移動してもよい。
The movement of the
図2に示すように、基板支持アッセンブリ20は、回路基板22A,22Bと回路基板22A,22Bを支持する支持部材26A,26B(請求項の第2支持部材)との間に配置される中間部材25A,25Bを有している。中間部材25A,25Bは弾性変形可能な材料で形成されている。支持部材26A,26Bは中間部材25A,25Bを通して回路基板22A,22Bを支持している。換言すると、回路基板22A,22Bは中間部材25A,25Bを通して支持部材26A,26Bに取り付けられている。回路基板22A,22Bは、上下方向に対して直交する方向(具体的には、前後方向及び左右方向)において、支持部材26A,26Bに対して相対変位可能となっている。プローブコネクタ21A,21Bとコネクタ93A,93Bとの位置がずれている場合、一方のコネクタに形成されたガイドに他方のコネクタが当たる。このとき、中間部材25A,25Bが変形することにより、位置ずれが解消され、プローブコネクタ21A,21Bはコネクタ93A,93Bに嵌合する。
As shown in FIG. 2, the
中間部材25Aの材料は、例えばエラストマー(シリコーンゴムなどの合成ゴムや天然ゴムを含む)など樹脂の弾性材料である。中間部材25Aの材料はスポンジ状の樹脂や、発泡プラスチックでもよい。また、中間部材25Aは、例えば天然繊維や合成繊維で構成される、積層された布状の部材や、綿状の部材でもよい。このような材料によれば、プローブコネクタ21A,21Bとコネクタ93A,39Bとの嵌合時にそれらの間で生じる衝撃も中間部材25A,25Bによって緩衝できる。また、回路基板22A,22Bは、前後方向及び左右方向での変位が許容されるだけでなく、回転も許容される。そのため、プローブコネクタ21A,21Bとコネクタ93A,39Bとの位置ずれが回転方向において生じている場合であっても、その位置ずれを解消できる。なお、支持部材26A,26Bは例えば金属によって形成される。
The material of the
図2及び図3に示すように、この例の支持部材26A,26Bは、回路基板22A,22Bの上側に、すなわち回路基板22A,22Bを挟んでプローブコネクタ21A,21Bとは反対側に配置されている。中間部材25A,25Bは回路基板22A,22Bと支持部材26A,26Bとによって上下方向で挟まれている。中間部材25A,25Bの上面(支持部材26A,26Bに接する面)と、中間部材25A,25Bの下面(回路基板22A,22Bに接する面)は、上下方向に対して直交する方向で相対変位可能となっている。言い換えると、中間部材25A,25Bの材料は、そのような相対変位を許容する材料である。この例の中間部材25A,25Bはシート状であり、その厚さ方向が上下方向と平行になるように配置されている。中間部材25A,25Bの厚さは、回路基板22A,22Bに必要とされる変位と、中間部材25A,25Bの材料とに応じて適宜設定される。中間部材25A,25Bの材料は、その上面と下面の弾性的な相対変位を許容する厚さを有する紙でもよい。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
中間部材25A,25Bは回路基板22A,22Bにそれぞれ接着される接着面を有している。また、中間部材25A,25Bは支持部材26A,26Bに接着される接着面を有している。接着面は、例えば中間部材25A,25Bの表面に接着剤を塗布することにより得られる。また、中間部材25A,25Bの表面に、接着剤が両面に塗布された接着シートが貼り付けられ、このシートが接着面として機能してもよい。ここに説明する例では、中間部材25A,25Bの下面が回路基板22A,22Bに接着され、中間部材25A,25Bの上面が支持部材26A,26Bの下面に接着されている。なお、中間部材25A,25Bの下面は回路基板22A,22Bに直接的に接着されていなくてもよい。例えば、回路基板22A,22Bに別の部材が固定されている場合、中間部材25A,25Bはその部材に接着されてもよい。また、中間部材25A,25Bの材料が上述したように紙である場合には、中間部材25A,25Bは、上面及び下面に接着面が設けられた、いわゆる両面接着紙でもよい。また、中間部材25A,25Bの材料が樹脂の弾性材料である場合には、その上面と下面のそれぞれに両面接着紙が貼られていてもよい。
The
図2及び図3に示すように、この例の支持部材26A,26Bは回路基板22A,22Bよりも小さなサイズを有している。具体的には、支持部材26A,26Bの前後方向の幅は回路基板22A,22Bの幅と概ね等しいものの、支持部材26A,26Bの左右方向の幅は、回路基板22A,22Bの幅よりも小さい。支持部材26A,26Bはプローブコネクタ21A,21Bが配置された部分の反対側に位置している。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
中間部材25A,25Bは、支持部材26A,26Bに対応したサイズを有している。すなわち、中間部材25A,25Bの左右方向の幅及び前後方向の幅は、支持部材26A,26Bの左右方向の幅及び前後方向の幅にそれぞれ対応している。そのため、支持部材26A,26Bによって回路基板22A,22Bを安定的に支持できる。中間部材25A、25Bのサイズは、以上説明したものに限定されない。例えば、中間部材25A、25Bのサイズは支持部材26A,26Bの下面よりも小さくてもよい。この場合、複数の中間部材25Aが支持部材26Aの下面に取り付けられてもよい。同様に、複数の中間部材25Bが支持部材26Aの下面に取り付けられてもよい。
The
図2及び図3に示す例では、回路基板22A,22Bの上側に支持部材26A,26Bが配置されている。しかしながら、回路基板22A,22B及び支持部材26A,26Bのレイアウトは、これに限定されない。例えば、支持部材26A,26Bは回路基板22A,22Bの外周縁を支持してもよい。この場合、中間部材25A,25Bも回路基板22A,22Bの外周縁と支持部材26A,26Bとの間に配置される。
In the example shown in FIGS. 2 and 3,
図2に示すように、基板支持アッセンブリ20は、アクチュエータ81,82に連結されているベース39と、ベース39と支持部材26A,26Bとの間に構成されている調整機構30とを有している。調整機構30は、作業者による支持部材26A,26Bの位置調整を可能とする機構である。具体的には、調整機構30は、上下方向、左右方向、及び前後方向において支持部材26A,26Bの位置調整を可能としている。なお、調整機構30は必ずしも設けられていなくてもよい。
As shown in FIG. 2, the
調整機構30は、第1調整部材31A,31Bと、第2調整部材32A,32Bと、第3調整部材33A,33Bとを含んでいる。調整部材31A,32A,33Aは回路基板22Aに連結されている。調整部材31B,32B,33bは回路基板22Bに連結されている。回路基板22Aと回路基板22Bは別個に位置調整が可能となっている。なお、図2において各調整部材に示した矢印は、それらの可動方向を表している。
The adjustment mechanism 30 includes
第1調整部材31A,31Bは、ベース39に対して上下方向に相対動できるように、ベース39に取り付けられている。ベース39には固定部材34が取り付けられている。固定部材34のベース39に対する相対動は許容されていない。固定部材34には、第1調整部材31A,31Bの上方に位置し、第1調整部材31A,31Bの上下方向の位置を規定するストッパ螺子34aが設けられている。なお、上下方向におけるストッパ螺子34aの位置はナット35によって固定されている。
The first adjustment members 31 </ b> A and 31 </ b> B are attached to the base 39 so as to be movable relative to the base 39 in the vertical direction. A fixing
第2調整部材32A,32Bは、第1調整部材31A,31Bに対して左右方向に相対動できるように、当該第1調整部材31A,31Bに取り付けられている。固定部材34には、第2調整部材32A,32Bの右側及び左側にそれぞれ位置する2つのストッパ螺子34bが設けられている。左側のストッパ螺子34bは左側の第2調整部材32Aの左右方向の位置を規定し、右側のストッパ螺子34bは右側の第2調整部材32Bの左右方向の位置を規定している。左右方向におけるストッパ螺子34bの位置はナット35によって固定されている。
The
この例の第2調整部材32A,32BはL字状であり、その後部が第1調整部材31A,31Bに取り付けられ、その前部は前方に延びている。第3調整部材33A,33Bは第2調整部材32A,32Bの前部の下側に取り付けられている。また、第3調整部材33A,33Bは第2調整部材32A,32Bに対して前後方向で相対動可能となっている。第3調整部材33A,33Bにはアーム33aが設けられている。アーム33aには、第2調整部材32A,32Bに対する第3調整部材33A,33Bの前後方向の位置を規定するためのストッパ螺子33bが設けられている。前後方向におけるストッパ螺子33bの位置はナット35によって固定されている。
The
上述した支持部材26A,26Bは第3調整部材33A,33Bの下側にそれぞれ取り付けられている。その結果、支持部材26A,26B、回路基板22A,22Bの位置は前後方向、左右方向及び上下方向において調整可能となっている。
The
図4に示すように、位置決め機構50は浮き防止アッセンブリ51を含んでいる。浮き防止アッセンブリ51はアーム(浮き防止部材)51aを含んでいる。アーム51aは、電子機器90のコネクタ93A,93B上に配置され、FPC台11aとの間にコネクタ93A,93Bを挟む(図6(b)参照)。それにより、FPC台11aからのFPC92A,92Bの浮き、すなわちコネクタ93A,93Bの浮きが防止され得る。アーム51aは、2つのコネクタ93A,93Bの双方を押すことができるように、コネクタ93A,93Bの配置に対応した形状を有している。ここで説明する例のコネクタ93A,93BはL字状に配置されている。そのため、アーム51aの端部は、コネクタ93A,93Bの配置に合わせて屈曲している。
As shown in FIG. 4, the
浮き防止アッセンブリ51は検査位置から後方に離れて配置されている。位置決め機構50には、浮き防止アッセンブリ51を前後方向に動かすアクチュエータ83が設けられている(図5参照)。また、位置決め機構50にはカム機構が設けられている。カム機構はアーム51aの前方移動からアーム51aの上下方向での動きを生じる。上下方向での動きは、具体的には、FPC台11aの上側から当該FPC台11aに接近する動きである。
The
図4に示すように、ここで説明する例のアーム51aには、側方(具体的には、右方向)に突出する凸部51bが設けられている。また、凸部51bの前方には、プレート55が配置されている。この凸部51bとプレート55の上面(ガイド面)とによってカム機構が構成されている。アーム51aには、凸部51bよりも後方に位置する支持軸51dが設けられている。アーム51aは、その前部(検査位置側の部分)が上下動できるように支持軸51dを通してベース51cによって支持されている。ベース51cはアクチュエータ83に取り付けられている。
As shown in FIG. 4, the
図4に示すように、プレート55の上面は、その最前部と最後部とに斜面55a,55bをそれぞれ有している。また、プレート55の上面は、最前部の斜面55aと最後部の斜面55bとの間にフラットな面55cを有している。図6(a)に示すように、浮き防止アッセンブリ51が前方に移動し、凸部51bがプレート55の斜面55bに乗り上げると、アーム51aの前部は支持軸51dを中心に持ち上がる。凸部51bがフラットな面55c上を前方に移動する間、アーム51aは、その前部が持ち上がった姿勢を維持する。アーム51aの前部が検査位置にあるFPC台11aの上方の位置に達する時、凸部51bは最前部の斜面55aに到達する。その結果、図6(b)に示すように、アーム51aの前部は、FPC台11aに向かって下方に移動し、電子機器90のコネクタ93A,93B上に配置される。なお、凸部51bはプレート55の上面を円滑に移動できるように回転可能となるようにアーム51aに取り付けられていてもよい。
As shown in FIG. 4, the upper surface of the
なお、アーム51aのカム機構は以上説明したものに限られず、種々の変更が可能である。例えば、アーム51aに凹凸が形成されたガイド面が形成され、そのガイド面に当たる凸部がアーム51aの前方に配置されていてもよい。
The cam mechanism of the
図4に示すように、位置決め機構50は、第1ジグアッセンブリ52と、第2ジグアッセンブリ53と、第3ジグアッセンブリ54とを含んでいる。3つのジグアッセンブリ52,53,54は検査位置を囲むように配置されている。電子機器90のコネクタ93A,93Bの位置決めは、ジグアッセンブリ52,53,54によって行われる。この例では、ジグアッセンブリ52,53,54に設けられたジグ52A,53A,53B,54A,54Bはコネクタ93A,93Bの外面(前面、背面、及び側面)に当たり、それらを位置決めする。これにより、コネクタ93A,93Bが間接的に位置決めされる構造に比して、例えばジグがFPC92A,92Bに当たる構造に比して、コネクタ93A,93Bの位置精度を向上できる。
As shown in FIG. 4, the
ジグ52A,53A,53B,54A,54Bによるコネクタ93A,93Bの位置決めは、上述の浮き防止アッセンブリ51のアーム51aがコネクタ93A,93B上に配置されている状態で実行される。これにより、高さの低いコネクタ93A,93Bを位置決めする場合であっても、ジグ52A,53A,53B,54A,54Bをコネクタ93A,93Bに確実に当てることができる。ジグ52A,53A,53B,54A,54Bの先端、すなわちコネクタ93A,93Bに当たる部分は、コネクタ93A,93Bの高さに対応した厚さ、或いはコネクタ93A,93Bの高さよりも小さい厚さを有している。これにより、浮き防止アッセンブリ51のアーム51aとジグ52A,53A,53B,54A,54Bとの干渉を防ぐことができる。
The positioning of the
図4及び図8に示すように、第1ジグアッセンブリ52の初期位置は、浮き防止アッセンブリ51と同様に、検査位置(FPC台11a)から後方に離れている。第1ジグアッセンブリ52にはジグ52Aが設けられている。ジグ52Aの前端は電子機器90に設けられた第2コネクタ93Bの背面にあたる。
As shown in FIGS. 4 and 8, the initial position of the
コネクタ93A,93Bの位置決め工程では、3つのジグアッセンブリ52,53,54のうち第1ジグアッセンブリ52が最初に前方に移動する(図9参照)。ここで説明する例の第1ジグアッセンブリ52は2段階で前方に移動する。第1段階では、ジグ52Aの前端は第2コネクタ93Bに当たらない。第2段階は後述する第3ジグアッセンブリ54が検査位置に向けて移動する時である。第3ジグアッセンブリ54はその移動時に第1ジグアッセンブリ52を前方に動かす(図11参照)。これにより、ジグ52Aの前端は第2コネクタ93Bの背面にあたる。
In the positioning process of the
第1ジグアッセンブリ52を前方に動かすアクチュエータは、好ましくは、上述の浮き防止アッセンブリ51を動かすアクチュエータ83と同じである。こうすることにより、アクチュエータの数を減らすことができる。この場合、図6に示すように浮き防止アッセンブリ51が前方に移動するとき、第1ジグアッセンブリ52は上述の第1段階の前方移動を行う。なお、第1ジグアッセンブリ52は、アクチュエータ83とは別のアクチュエータによって前方に動かされてもよい。
The actuator that moves the
図4に示すように、第2ジグアッセンブリ53は、第2ジグ53Aと、第3ジグ53Bと、これらを支持するベース53Cとを有している。上述したように、電子機器90の第1コネクタ93Aと第2コネクタ93Bは略L字状に配置されている。第1コネクタ93Aの側面を含む平面と、第2コネクタ93Bの前面を含む平面は互いに直交している。図10(b)に示すように、第2ジグ53Aの端部(詳細には左縁53e)は電子機器90の第1コネクタ93Aの側面の位置を規定する。第3ジグ53Bの端部(詳細には最左部の後縁53f)は第2コネクタ93Bの前面の位置を規定する。また、第3ジグ53Bの端部には第2コネクタ93Bの右側面の位置を規定する縁53gが形成されている。
As shown in FIG. 4, the
第2ジグアッセンブリ53の初期位置は、図8に示すように、検査位置から右方向に離れている。ベース53Cは、アクチュエータ84(図1参照)の作用を受けて、検査位置に向けて左方向に移動する(図10(a)参照)。第2ジグ53Aはベース53Cと一体的に動くようにベース53Cに取り付けられている。第2ジグ53Aはベース53Cとともに予め規定された距離だけ左方向に移動する。そのときの第2ジグ53Aの左縁53eの位置が第1コネクタ93Aの側面の位置となる。なお、図1に示す例のアクチュエータ84には、第2ジグ53Aとベース53Cの移動距離を規定するストッパナット84aが設けられている。
As shown in FIG. 8, the initial position of the
第2ジグアッセンブリ53が初期位置にあるとき、第3ジグ53Bの端部(最左部の後縁53f)は第2コネクタ93Bの前面から右方向に離れて位置するとともに、前方にずれている。第2ジグアッセンブリ53には、第2ジグアッセンブリ53が左方向に移動しているときに第3ジグ53Bに後方への変位を生じさせるガイド機構が設けられている。図4及び図10に示すように、ここで説明する例のガイド機構はストッパ56を有している。ストッパ56は第3ジグ53Bの進行方向(左方向)に位置し、第3ジグ53Bの左方向への移動を制限する。また、ベース53Cにはガイド溝53dが形成されている。ガイド溝53dは斜め右方向且つ後方に延びている。第3ジグ53Bは、ガイド溝53dに配置される被ガイド部53hを有している。ガイド溝53dには被ガイド部53hを初期位置に戻す、すなわち左方向に付勢するばね53iが配置されている。
When the
ベース53Cが左方向に移動する過程で第3ジグ53Bがストッパ56に当たると、第3ジグ53Bのそれ以上の左方向への移動は制限される。その結果、図10(b)に示すように、第3ジグ53Bはベース53Cに対しては相対的に右方向に移動し、ガイド溝53d及び被ガイド部53hの案内により後方に移動する。そして、移動後の第3ジグ53Bの最左部の後縁53fの位置が第2コネクタ93Bの前面の位置となる。このようなガイド機構を利用することにより、コネクタ93A,93Bの位置決めに要するアクチュエータの数を減らすことができる。
If the
ガイド機構は以上説明したものに限定されない。例えば、ストッパ56が設けられることなく、左方向且つ後方に延びるガイドが形成されてもよい。このようなガイドによれば、第3ジグ53Bは左方向に移動しながら後方に変位する。
The guide mechanism is not limited to that described above. For example, a guide extending leftward and rearward may be formed without providing the
図4及び図8に示すように、第3ジグアッセンブリ54は第4ジグ54Aと、第5ジグ54Bと、ジグ54A,54Bを支持するベース54Cとを有している。第3ジグアッセンブリ54の初期位置は検査位置から左方向に離れている。位置決め機構50には、第3ジグアッセンブリ54を右方向に移動させるアクチュエータ85(図1参照)が設けられている。
As shown in FIGS. 4 and 8, the
図4に示すように、第4ジグ54Aは、その端部に、検査位置に向かって右方向に延びるとともに、前後方向において互いに離れている2つの延伸部54a,54bを有している。延伸部54a,54bの間隔は第1コネクタ93Aの前後方向の幅に対応している。この延伸部54a,54bによって第1コネクタ93Aの前後方向の位置が規定される。第3ジグアッセンブリ54はアクチュエータ85の作用を受けて予め規定された距離だけ右方向に移動する。このとき、延伸部54aの先端の縁(右縁)と、上述した第3ジグ53Bの縁53g(図10(b)参照)との間に、第2コネクタ93Bの左右方向での幅に対応した間隔が形成される。したがって、延伸部54aの先端と第3ジグ53Bの縁53gとによって第2コネクタ93Bの左右方向での位置が規定される。なお、図1に示す例のアクチュエータ85には、第3ジグアッセンブリ54の移動距離を規定するストッパナット85aが設けられている。
As shown in FIG. 4, the
図4に示すように、第5ジグ54Bの先端54cは第4ジグ54Aの延伸部54a,54bの間に配置されている。第4ジグ54Aはベース54Cと一体的に動くように当該ベース54Cに取り付けられている。一方、第5ジグ54Bはベース54Cに対して左右方向で相対的に動くことができるように設けられている。具体的には、ベース54Cには左右方向に延びる溝54dが形成されており、第5ジグ54Bはこの溝54dの内側で左右方向に動くことができる。溝54dには第5ジグ54Bを右方向に付勢するばね54eが設けられている。図11に示すように、第3ジグアッセンブリ54が右方向に移動すると、第5ジグ54Bの先端53cはばね54eの弾性力によって電子機器90の第1コネクタ93Aの左側面に押し当てられる。その結果、第5ジグ54Bと上述した第2ジグ53Aとによって第1コネクタ93Aの左右方向での位置が規定される。なお、ばね54eの弾性力に起因する第5ジグ54Bの右方向への移動(ベース54C及び第4ジグ54Aに対する相対移動)は、第3ジグアッセンブリ54に設けられたストッパ(不図示)によって制限されている。
As shown in FIG. 4, the
上述したように、第1ジグアッセンブリ52は、第3ジグアッセンブリ54の作用を受けて第2段階の前方移動を行う。具体的には、図4に示すように、第1ジグアッセンブリ52のベース52Bには上方に突出する円柱状の凸部52bが設けられている。第3ジグアッセンブリ54のベース54Cには、ジグ54A,54Bの後側に位置する張り出し部54gが形成されている。この張り出し部54gの内側には、第3ジグアッセンブリ54が右方向に移動する過程で凸部52bが当たるガイド面54fが形成されている(図11参照、図11ではガイド面54fを示すために張り出し部54gの上部を欠いている)。ガイド面54fは、凸部52bを前方に押す力が作用するように斜めに形成されている。詳細には、ガイド面54fは斜め右方向且つ後方に延びている。第3ジグアッセンブリ54が右方向に移動するに従って第1ジグアッセンブリ52は前方に移動する。その結果、第1ジグ52Aの先端は第2コネクタ93Bの背面に押し当てられる。これにより、第2コネクタ93Bの前後方向の位置は、第1ジグ52Aと、上述した第3ジグ53Bとによって規定される。
As described above, the
電子機器90の製造時に実行される検査手順について説明する。まず、作業者は、プローブコネクタ21A,21Bがそれぞれ実装された回路基板22A,22Bを中間部材25A,25Bを介して支持部材26A,26Bに取り付ける。次に、作業者は電子機器90を支持台11に設置する。その後、作業者は制御装置(不図示)を通してアクチュエータを駆動し、支持台11及び位置決め機構50を動かす。具体的には、支持台11を後方に移動させ、FPC台11aを検査位置に設置する。次に、図6に示すように、浮き防止アッセンブリ51を前方に移動させ、アーム51aをコネクタ93A,93B上に配置する。その後に、ジグ52A,53A,53B,54A,54Bによってコネクタ93A,93Bを位置決めする。
An inspection procedure executed at the time of manufacturing the
具体的には、図9に示すように、まず第1ジグアッセンブリ52を前方に移動させる(第1段階の前方移動)。次に、図10に示すように、第2ジグアッセンブリ53を検査位置に向けて左方向に動かし、第2ジグ53Aによって第1コネクタ93Aの右側面の位置を規定する。また、第3ジグ53Bによって第2コネクタ93Bの前面及び右側面の位置を規定する。次に、図11に示すように、第3ジグアッセンブリ54を検査位置に向けて右方向に動かす。その結果、第4ジグ54Aの延伸部54a,54bによって、第1コネクタ93Aの前後方向の位置が規定される。また、延伸部54aは第2コネクタ93Bの左側面に当てられ、第5ジグ54Bは第1コネクタ93Aの左側面に当てられる。さらに、ガイド面54fに沿って第1ジグアッセンブリ52が前方に移動し(第2段階の前方移動)、第1ジグ52Aが第2コネクタ93Bの背面に当てられる。これにより2つのコネクタ93A,93Bが前後方向及び左右方向において位置決めされる。次に、浮き防止アッセンブリ51を後退させる。その後、図7に示すように、基板支持アッセンブリ20を前方及び下方に移動させ、プローブコネクタ21A,21Bをそれぞれコネクタ93A,93Bに嵌合させる。最後に、検査装置2からプローブコネクタ21A,21B及びコネクタ93A,93Bを通して電子機器90に検査信号を入力する。
Specifically, as shown in FIG. 9, first, the
検査の終了後は、次の手順を行う。すなわち、基板支持アッセンブリ20を初期位置に戻し、プローブコネクタ21A,21Bとコネクタ93A,93Bとの嵌合を解消する。その後、ジグアッセンブリ52,53,54を初期位置に戻す。最後に、支持台11を初期位置に戻す。なお、ジグアッセンブリ52,53,54は、例えば、ばね(不図示)の弾性力によって初期位置の戻るように構成されてもよいし、アクチュエータの逆方向への駆動により初期位置に戻るように構成されてもよい。
After the inspection is completed, the following procedure is performed. That is, the
以上説明したように、コネクタ嵌合装置10は、FPC台11aから上方に離れて配置されるプローブコネクタ21A,21Bと、プローブコネクタ21A,21Bが実装される回路基板22A,22Bと、弾性変形可能な材料で形成されている中間部材25A,25Bと、回路基板22A,22Bが上下方向に対して直交する方向において変位できるように中間部材25A,25Bを介して回路基板22A,22Bを支持している支持部材26A,26Bとを備えている。そのため、プローブコネクタの変位を簡単な構造で許容できている。
As described above, the connector
また、以上説明した電子機器90の検査方法は、弾性変形可能な材料によって形成されている中間部材25A,25Bを介してプローブコネクタ21A,21Bが実装された基板22A,22Bを支持部材26A,26Bに取り付ける工程と、電子機器90のうち少なくともコネクタ93A,93Bが実装された部分(FPC92A,29B)をFPC台11aに配置する工程と、電子機器90のコネクタ93A,93Bを位置決めする工程と、支持部材26A,26BとFPC台11aとを近づけて、電子機器90のコネクタ93A,93Bとプローブコネクタ21A,21Bとを嵌合させる工程とを含んでいる。この方法によれば、プローブコネクタの変位を容易に許容できる。
Further, in the inspection method for the
以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。 The preferred embodiments of the present invention have been described in detail above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made within the scope of the gist of the present invention described in the claims. It can be changed.
コネクタ嵌合装置10は、例えば電子機器の製造工程で使用されるものであってもよい。例えば電子機器90が基板91と別の回路基板(以下において第2の基板)とを備える場合、コネクタ嵌合装置10は、基板91のコネクタ93A,93Bと第2の基板のコネクタとの嵌合に使用されてもよい。この場合、コネクタ嵌合装置10は、第2の基板が脱着可能な部材を備え、この部材と上述の支持部材26A,26Bとの間に中間部材25A,25Bが配置されてもよい。
The connector
また、コネクタ嵌合装置10には必ずしも回路基板22A,22Bは設けられていなくてもよい。この場合、支持部材26A,26Bは、弾性変形可能な材料で形成された中間部材を介してプローブコネクタ21A,21Bを支持するように構成される。
Further, the
1 検査システム、2 検査装置、10 コネクタ嵌合装置、11 支持台、11a FPC台、20 基板支持アッセンブリ、21A,21B プローブコネクタ、22A,22B 回路基板、23A,23B コネクタ、25A,25B 中間部材、26A,26B 支持部材、30 調整機構、31A,31B,32A,32B,33A,33B 調整部材、34 固定部材、50 位置決め機構、51 浮き防止アッセンブリ、52 第1ジグアッセンブリ、52A 第1ジグ、53 第2ジグアッセンブリ、53A 第2ジグ、53B 第3ジグ、54 第3ジグアッセンブリ、54A 第4ジグ、54B 第5ジグ、90 電子機器(検査対象)、93A,93B コネクタ。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 inspection system, 2 inspection apparatus, 10 connector fitting apparatus, 11 support stand, 11a FPC stand, 20 board support assembly, 21A, 21B probe connector, 22A, 22B circuit board, 23A, 23B connector, 25A, 25B intermediate member, 26A, 26B Support member, 30 Adjustment mechanism, 31A, 31B, 32A, 32B, 33A, 33B Adjustment member, 34 Fixing member, 50 Positioning mechanism, 51 Floating prevention assembly, 52 First jig assembly, 52A First jig, 53 First 2 jig assembly, 53A 2nd jig, 53B 3rd jig, 54 3rd jig assembly, 54A 4th jig, 54B 5th jig, 90 electronic equipment (inspection object), 93A, 93B connector.
Claims (13)
前記検査対象機器のコネクタを位置決めするための位置決め機構と、
前記第1の支持部材から第1の方向において離れて配置される、前記検査対象機器のコネクタに嵌合させるためのプローブコネクタと、
前記プローブコネクタが実装されている回路基板と、
前記回路基板を支持するための第2の支持部材と、
前記第1の方向において前記回路基板と前記第2の支持部材との間に配置され、前記回路基板に直接的に又は間接的に取り付けられている第1の面と前記第1の方向において前記第1の面とは反対側に位置し前記第2の支持部材に取り付けられている第2の面とを有し、弾性変形可能な材料で形成され、前記第1の面と前記第2の面とが前記第1の方向に対して直交する2方向において相対変位可能であり、その相対変位により前記2方向における前記プローブコネクタの変位を許容する中間部材と、
前記第1の支持部材と前記第2の支持部材とを前記第1の方向において近づけるためのアクチュエータと、を備える
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 A first support member for supporting at least a portion thereof a connector is provided of the inspected device,
A positioning mechanism for positioning the connector of the inspection target device;
A probe connector arranged to be separated from the first support member in the first direction and fitted to the connector of the device to be inspected;
A circuit board on which the probe connector is mounted;
A second support member for supporting the circuit board;
A first surface disposed between the circuit board and the second support member in the first direction and directly or indirectly attached to the circuit board and the first surface in the first direction. A second surface positioned opposite to the first surface and attached to the second support member, and formed of an elastically deformable material, the first surface and the second surface An intermediate member that is relatively displaceable in two directions perpendicular to the first direction, and allows displacement of the probe connector in the two directions by the relative displacement ;
Connector fitting apparatus characterized by and an actuator for approximating the first support member and the second support member and said first direction.
前記位置決め機構は、前記検査対象機器のコネクタの外面に接触して、当該コネクタを位置決めする
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 The connector fitting device according to claim 1,
The said positioning mechanism contacts the outer surface of the connector of the said test object apparatus, and positions the said connector. The connector fitting apparatus characterized by the above-mentioned.
前記位置決め機構は、前記検査対象機器のコネクタの外面に接触して、前記第1の方向に直交する2方向での前記コネクタの位置を規定し、且つ前記第1の方向に沿った直線周りの前記コネクタの回転を規制するThe positioning mechanism is in contact with the outer surface of the connector of the device to be inspected to define the position of the connector in two directions orthogonal to the first direction, and around a straight line along the first direction. Regulating rotation of the connector
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 A connector fitting device.
前記位置決め機構は、前記検査対象機器のコネクタを位置決めするときに前記検査対象機器のコネクタを前記第1の支持部材との間に挟むための部材を含む
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 In the connector fitting device according to claim 2 or 3 ,
The positioning mechanism, the connector fitting device, characterized in that it comprises a member for sandwiching the connector of the inspection target device when positioning the connector of the inspection target device between the first support member.
前記位置決め機構の前記部材は、前記第1の方向で前記第1の支持部材から前記検査対象機器のコネクタが離れるのを規制するThe member of the positioning mechanism restricts the connector of the inspection target device from separating from the first support member in the first direction.
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。A connector fitting device.
前記中間部材は、樹脂で形成されているシート状、又は合成繊維若しくは天然繊維で構成されている、積層された布状若しくは綿状であり、その厚さ方向が前記第1の方向と平行となるように配置されているThe intermediate member is a sheet formed of resin, or a laminated cloth or cotton formed of synthetic fiber or natural fiber, and the thickness direction is parallel to the first direction. Are arranged to be
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。A connector fitting device.
前記中間部材の材料はエラストマーである、
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 In the connector fitting device according to any one of claims 1 to 6 ,
The material of the intermediate member is an elastomer.
A connector fitting device.
前記中間部材の前記第1の面と前記第2の面のうち少なくとも一方は接着面である
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 In the connector fitting device according to any one of claims 1 to 7 ,
Connector fitting apparatus, wherein at least one of a bonding surface of the first surface and the second surface of the intermediate member.
前記プローブコネクタコネクタが実装された回路基板を支持するための支持部材を準備し、
弾性変形可能な材料で形成され、前記第1の方向において互いに反対側に位置し且つ前記第1の方向に対して直交する2方向において相対変位可能な第1の面と第2の面とを有する中間部材を、前記第1の方向において前記回路基板と前記支持部材との間に配置し、前記2方向における前記プローブコネクタの変位が許容されるように、前記第1の面を前記回路基板に直接的に又は間接的に取り付け、前記第2の面を前記支持部材に取り付け、
前記電子機器のうち少なくとも前記コネクタが実装された部分を支持台に配置し、
前記電子機器のコネクタを位置決めし、
前記支持部材と前記支持台とを前記第1の方向において互いに近づけて、前記電子機器のコネクタと前記プローブコネクタとを嵌合させる
ことを特徴とする電子機器の検査方法。 A method for inspecting an electronic device according to claim 1, wherein the probe connector is fitted in the connector of the electronic device in a first direction,
Preparing a support member for supporting the circuit board on which the probe connector connector is mounted;
A first surface and a second surface, which are made of an elastically deformable material, are positioned opposite to each other in the first direction and are relatively displaceable in two directions orthogonal to the first direction. An intermediate member having the first surface is disposed between the circuit board and the support member in the first direction, and the first surface is disposed on the circuit board so that displacement of the probe connector in the two directions is allowed. Directly or indirectly attached to the second surface to the support member;
At least the connector is mounted portion of the electronic device disposed in the support base,
And repositioning of the connector of the electronic device,
Said support member and said support base close together in the first direction, the inspection method of an electronic device, characterized in that fitting the said probe connector and the connector of the electronic device.
前記電子機器のコネクタを位置決めするとき、前記電子機器コネクタの外面に接するジグを用いて、前記第1の方向に直交する2方向での前記コネクタの位置を規定し、且つ前記第1の方向に沿った直線周りの前記コネクタの回転を規制する
ことを特徴とする電子機器の検査方法。 In the inspection method of the electronic device according to claim 9 ,
When positioning the connector of the electronic device, the position of the connector in two directions orthogonal to the first direction is defined using a jig that contacts the outer surface of the electronic device connector , and in the first direction An inspection method for an electronic device, characterized in that the rotation of the connector around a straight line is regulated .
前記電子機器のコネクタを位置決めするとき、前記第1の方向で前記支持台から前記電子機器のコネクタが離れるのを規制し、その後、前記電子機器のコネクタの外面に接するジグを用いて、前記第1の方向に直交する2方向での前記コネクタの位置を規定し、且つ前記第1の方向に沿った直線周りの前記コネクタの回転を規制する When positioning the connector of the electronic device, the connector of the electronic device is restricted from separating from the support base in the first direction, and then the jig is used to contact the outer surface of the connector of the electronic device. The position of the connector in two directions orthogonal to the direction of 1 is defined, and the rotation of the connector around a straight line along the first direction is restricted.
ことを特徴とする電子機器の検査方法。 A method for inspecting an electronic device.
前記中間部材は、樹脂で形成されているシート状、又は合成繊維若しくは天然繊維で構成されている、積層された布状若しくは綿状であり、その厚さ方向が前記第1の方向と平行となるように配置されている The intermediate member is a sheet formed of resin, or a laminated cloth or cotton formed of synthetic fiber or natural fiber, and the thickness direction thereof is parallel to the first direction. Are arranged to be
ことを特徴とする電子機器の検査方法。 A method for inspecting an electronic device.
前記第1の回路基板のうち少なくとも前記第1のコネクタが設けられた部分を支持するための第1の支持部材と、
前記第1の回路基板の前記第1のコネクタを位置決めするための位置決め機構と、
前記第2の回路基板を支持するための第2の支持部材と、
前記第1の方向において前記第2の回路基板と前記第2の支持部材との間に配置され、前記第2の回路基板に直接的に又は間接的に取り付けられている第1の面と前記第1の方向において前記第1の面とは反対側に位置し前記第2の支持部材に取り付けられている第2の面とを有し、弾性変形可能な材料で形成され、前記第1の面と前記第2の面とが前記第1の方向に対して直交する2方向において相対変位可能であり、その相対変位により前記2方向における前記第2のコネクタの変位を許容する中間部材と、
前記第2の支持部材と前記第1の支持部材とを前記第1の方向において近づけるためのアクチュエータと、を備える
ことを特徴とするコネクタ嵌合装置。 A connector fitting device for fitting a second connector mounted on a second circuit board to the first connector mounted on a first circuit board in a first direction,
A first support member for supporting at least a portion of the first circuit board provided with the first connector;
A positioning mechanism for positioning said first connector of said first circuit board,
A second support member for supporting the second circuit board;
A first surface disposed between the second circuit board and the second support member in the first direction and directly or indirectly attached to the second circuit board; to the first surface in a first direction and a second surface that is attached to and located opposite said second supporting member is formed of an elastically deformable material, said first An intermediate member that is relatively displaceable in two directions orthogonal to the first direction and the surface and the second surface allow displacement of the second connector in the two directions by the relative displacement ;
Connector fitting apparatus characterized by and an actuator for approximating in the first support member and the second support member in the first direction.
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