JP6106114B2 - 有機薄膜トランジスタ及びその製造方法 - Google Patents
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Description
しかし、近年、印刷法等の塗布法により、無機材料よりも低温で、例えば常温付近で、高速・効率的に、しかも低コストで成膜できる有機材料が着目され、研究されている。
また、このような有機半導体と有機半導体以外のポリマーとを併用したものも報告されている。例えば、特許文献1の実施例12では、「末端がキャップされている2,4−ジメチルポリマー(式12)」と「ポリスチレン−(エチレン−プロピレン)ジブロックコポリマー」とが併用されている。
また、本発明は、上記の優れた特性を有する有機薄膜トランジスタを製造する方法を提供することを課題とする。
さらに有機半導体と併用するブロック共重合体について検討を進めたところ、有機半導体層において有機半導体の存在下でブロック共重合体を相分離させることにより、有機半導体層の電荷移動チャンネルを確保でき、有機薄膜トランジスタにおいて高いキャリア移動度を維持し、さらには閾値電圧の低下をさらに改善できることを、見出した。
本発明は、これらの知見に基づいて完成された。
(1)基板上に、ゲート電極と、有機半導体層と、ゲート電極及び有機半導体層の間に設けられたゲート絶縁層と、有機半導体層に接して設けられ、有機半導体層を介して連結されたソース電極及びドレイン電極とを有する有機薄膜トランジスタであって、
有機半導体層が、有機半導体とブロック共重合体とを含有し、
ブロック共重合体が、スチレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体、スチレン−(メタ)アクリル酸ブロック共重合体、スチレン−ジアルキルシロキサンブロック共重合体、スチレン−アルキルアリールシロキサンブロック共重合体、スチレン−ジアリールシロキサンブロック共重合体、スチレン−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、(メタ)アクリル酸エステル−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、スチレン−ビニルピリジンブロック共重合体、スチレン−ヒドロキシスチレンブロック共重合体、スチレン−エチレンオキシドブロック共重合体、及び、ビニルナフタレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体から選択される少なくとも1種のブロック共重合体である有機薄膜トランジスタ。
(2)基板上に、ゲート電極と、有機半導体層と、ゲート電極及び有機半導体層の間に設けられたゲート絶縁層と、有機半導体層に接して設けられ、有機半導体層を介して連結されたソース電極及びドレイン電極とを有する有機薄膜トランジスタであって、
有機半導体層が、有機半導体とブロック共重合体とを含有し、このブロック共重合体が相分離している有機薄膜トランジスタ。
(3)有機半導体が、ブロック共重合体の各ブロックが形成する相のうち親和性が高いブロックが形成する相、又は、この相とゲート絶縁層との間に、偏在している(2)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(4)有機半導体が、ゲート絶縁層側に偏在している(3)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(5)有機半導体が、低分子化合物である(1)〜(4)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(6)有機半導体が、縮合多環芳香族化合物である(1)〜(5)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(7)有機半導体が、下記一般式(C)〜(T)のいずれかで表される化合物である(1)〜(6)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
一般式(D)中、XD1及びXD2はNRD9、酸素原子又は硫黄原子を表す。AD1はCRD7又は窒素原子を表し、AD2はCRD8又は窒素原子を表し、RD9は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアシル基を表す。RD1〜RD8は水素原子又は置換基を表し、RD1〜RD8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(E)中、XE1及びXE2は酸素原子、硫黄原子又はNRE7を表す。AE1及びAE2はCRE8又は窒素原子を表す。RE1〜RE8は水素原子又は置換基を表し、RE1〜RE8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(F)中、XF1及びXF2は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。RF1〜RF10、RFa及びRFbは水素原子又は置換基を表し、RF1〜RF10、RFa及びRFbのうち少なくとも一つは一般式(W)で表される置換基である。p及びqは0〜2の整数を表す。
一般式(G)中、XG1及びXG2はNRG9、酸素原子又は硫黄原子を表す。AG1はCRG7又は窒素原子を表し、AG2はCRG8又は窒素原子を表す。RG9は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アシル基、アリール基又はヘテロアリール基を表し、RG1〜RG8は水素原子又は置換基を表し、RG1〜RG8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(H)中、XH1〜XH4はNRH7、酸素原子又は硫黄原子を表し、RH7は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アシル基、アリール基又はヘテロアリール基を表す。RH1〜RH6は水素原子又は置換基を表し、RH1〜RH6のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(J)中、XJ1及びXJ2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRJ9を表す。XJ3及びXJ4は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。RJ1〜RJ9は水素原子又は置換基を表し、RJ1〜RJ9のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(K)中、XK1及びXK2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRK9を表す。XK3及びXK4は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。RK1〜RK9は水素原子又は置換基を表し、RK1〜RK9のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(L)中、XL1及びXL2は酸素原子、硫黄原子又はNRL11を表す。RL1〜RL11は水素原子又は置換基を表し、RL1〜RL11のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(M)中、XM1及びXM2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRM9を表す。RM1〜RM9は水素原子又は置換基を表し、RM1〜RM9のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(N)中、XN1及びXN2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRN13を表す。RN1〜RN13は水素原子又は置換基を表し、RN1〜RN13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(P)中、XP1及びXP2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRP13を表す。RP1〜RP13は水素原子又は置換基を表し、RP1〜RP13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(Q)中、XQ1及びXQ2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRQ13を表す。RQ1〜RQ13は水素原子又は置換基を表し、RQ1〜RQ13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(R)中、XR1、XR2及びXR3は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRR9を表す。RR1〜RR9は水素原子又は置換基を表し、RR1〜RR9のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(S)中、XS1、XS2、XS3及びXS4は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRS7を表す。RS1〜RS7は水素原子又は置換基を表し、RS1〜RS7のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(T)中、XT1、XT2、XT3及びXT4は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRT7を表す。RT1〜RT7は水素原子又は置換基を表し、RT1〜RT7のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(W): −L−RW
一般式(W)中、Lは下記一般式(L−1)〜(L−25)のいずれかで表される2価の連結基又は2以上の下記一般式(L−1)〜(L−25)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。
RWは置換又は無置換のアルキル基、シアノ基、ビニル基、エチニル基、オキシエチレン基、オキシエチレン単位の繰り返し数vが2以上のオリゴオキシエチレン基、シロキサン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、あるいは、置換又は無置換のトリアルキルシリル基を表す。
一般式(L−13)におけるmは4を表し、一般式(L−14)及び(L−15)におけるmは3を表し、一般式(L−16)〜(L−20)におけるmは2を表し、(L−22)におけるmは6を表す。
一般式(L−1)、(L−2)、(L−6)及び(L−13)〜(L19)及び(L−21)〜(L−24)におけるR’はそれぞれ独立に水素原子又は置換基を表す。
RNは水素原子又は置換基を表し、Rsiはそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、アルケニル基又はアルキニル基を表す。
(9)ブロック共重合体の分散度が、1.20未満である(1)〜(8)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(10)ブロック共重合体が、スチレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体、スチレン−ジアルキルシロキサンブロック共重合体、スチレン−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、(メタ)アクリル酸エステル−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、スチレン−ビニルピリジンブロック共重合体、スチレン−ヒドロキシスチレンブロック共重合体及びビニルナフタレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体から選択される少なくとも1種のブロック共重合体である(1)〜(9)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(11)ブロック共重合体が、下記一般式(I)で表される繰り返し単位からなるブロックと、下記一般式(II)で表される繰り返し単位からなるブロックとを有する(1)〜(10)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
一般式(II)中、R2は、水素原子、アルキル基又はシクロアルキル基を表す。R3は、アルキル基又はシクロアルキル基を表す。
(14)ブロック共重合体を構成するブロックが2種類である場合、2種類の繰り返し単位のSP値の差の絶対値が、0.5〜4.0MPa1/2である(1)〜(10)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(15)ゲート絶縁層が、有機高分子で形成されている(1)〜(14)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(16)有機半導体層の、基板側に下地層を有する(1)〜(15)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(17)下地層が、ブロック共重合体を構成する少なくとも1つのモノマー成分と同じモノマー成分を構成成分として有する重合体Bを含有する(16)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(18)下地層が、ブロック共重合体を構成するすべてのモノマー成分と同じモノマー成分を構成成分として有するランダム共重合体Aを含有する(16)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(19)ランダム共重合体A及び重合体Bが、架橋基含有モノマー成分を構成成分として含有する(17)又は(18)に記載の有機薄膜トランジスタ。
(20)有機薄膜トランジスタがボトムゲート構造であり、ゲート絶縁層が下地層を兼ねている(16)〜(19)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタ。
(21)(2)〜(20)のいずれかに記載の有機薄膜トランジスタの製造方法であって、有機半導体とブロック共重合体とを含有する塗布液を、基板又はゲート絶縁層上に塗布して成膜し、得られた膜を加熱してブロック共重合体を相分離させる有機薄膜トランジスタの製造方法。
(22)塗布により、有機半導体を偏在させる(21)に記載の有機薄膜トランジスタの製造方法。
これは置換・無置換を明記していない化合物(重合体を含む)についても同義である。例えば、ブロック共重合体というときは、無置換のブロック共重合体と、置換基を有するブロック共重合体とを包含する。ここで、置換基は、ブロック共重合体の分子鎖を形成する主鎖に有していても、主鎖から枝分かれしている側鎖に有していてもよい。
したがって、例えば、α−メチルスチレンはスチレンの主鎖メチル置換体であるが、上記考えに基づき、スチレンを有するブロック共重合体には、α−メチルスチレンを有するブロック共重合体が好ましく包含される。
本発明の有機薄膜トランジスタの製造方法は、相分離したブロック共重合体を含有する有機半導体を備え、上記の優れた特性を有する有機薄膜トランジスタを製造できる。
本発明の有機薄膜トランジスタ(以下、単に「本発明のOTFT」という。)の構造を以下に説明する。
また、図1(A)は、ボトムゲート・ボトムコンタクト構造、図1(B)は、ボトムゲート・トップコンタクト構造、図1(C)はトップゲート・ボトムコンタクト構造、図1(D)はトップゲート・トップコンタクト構造のOTFTを示している。
本発明のOTFTには上記4つの形態のすべてが包含される。図示を省略するが、各OTFTの図面最上部(基板6に対して反対側の最上部)には、オーバーコート層が形成されている場合もある。図1(A)の円A内は、有機半導体及びブロック共重合体の偏在状態を模式的に示す有機半導体層1の概略拡大図である。また、図1(A)の円B内はOTFT1が下地層7を有する場合の絶縁層2の表面近傍を示す概略拡大図であり、図1(D)の円C内はOTFT1が下地層7を有する場合の基板6の表面近傍を示す概略拡大図である。
また、ボトムコンタクト構造は、有機半導体層1に対して基板6側(すなわち、図1において下方)にソース電極3及びドレイン電極4が配置されたものである。一方、トップコンタクト構造は、有機半導体層1に対して基板6の反対側にソース電極3及びドレイン電極4が配置されたものである。
本明細書に用いるブロック共重合体として、上記に具体的に例示した、スチレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体等の特定のブロック共重合体を「ブロック共重合体(I)」といい、相分離を必須とするブロック共重合体を「ブロック共重合体(II)」という。また、ブロック共重合体というときは、特に断らない限り、ブロック共重合体(I)及びブロック共重合体(II)の両者をいう。これらブロック共重合体については後述する。
好ましくは、有機半導体とブロック共重合体とが互いに相分離している。この場合、有機半導体層1は、有機半導体からなる層1Bと、ブロック共重合体からなる層1Aとを有する。
ここで、「偏在」とは、有機半導体又はブロック共重合体のどちらかの成分がその全体質量比よりも多いものの、もう一方の成分も存在する相を有する状態を意味し、「相分離」とは、有機半導体又はブロック共重合体いずれかが単独で存在する相を有する状態を意味する。
このように、偏在と相分離とは、成分の質量比の程度が異なり、偏在の程度が高くなると相分離になる。その境界は、学術的には特に明確に定められているわけではないが、有機半導体又はブロック共重合体のいずれかが99%以上の質量比で存在する相が形成される場合、本願では「相分離」状態であると定めることとする。したがって、本発明において、偏在というときは、特に断らない限り、相分離を含むことがある。
1+cosθH2O=2√[γS d(√γH2O d/γH2O,V)]+2√[γS h(√γH2O h/γH2O,V)]
1+cosθgly=2√[γS d(√γgly d/γgly,V)]+2√[γS h(√γgly h/γgly,V)]
一方、ブロック共重合体(II)の場合、上記に加えて、さらにブロック共重合体(II)の自己組織化による相分離に影響されて有機半導体も偏在が促進・助長されると、考えられる。詳しくは後述する。
好ましくは、有機半導体層において、有機半導体がゲート絶縁層側に偏在し、ブロック共重合体がゲート絶縁層の反対側に偏在する。これにより、ゲート絶縁層と有機半導体層との界面に十分な電荷移動チャンネルを確保でき、より高いキャリア移動度を示す。
ボトムゲート構造の場合、有機半導体層の下面に接してソース電極及びドレイン電極が設けられるボトムコンタクト構造であるのが好ましい。また、トップゲート構造の場合、有機半導体層の上面に接してソース電極及びドレイン電極が設けられるトップコンタクト構造であるのが好ましい。これにより、ソース電極から有機半導体層にキャリアが注入されやすく、また注入されたキャリアがドレイン電極に流れやすくなって閾値電圧が低下する。
特に、本発明のOTFTが、ボトムゲート・ボトムコンタクト構造であると、有機半導体層において電荷移動チャネルを確保したうえで、有機半導体層のうち有機半導体が偏在した領域をブロック共重合体が保護することにより、キャリア移動度、キャリア移動度の維持率(耐久性)の向上効果をさらに増大させることができる。さらには閾値電圧の低下効果にも優れる。
一方、有機半導体層1に含有されるブロック共重合体が後述するブロック共重合体(II)である場合、ブロック共重合体(II)は自己組織化により相分離している。
したがって、ブロック共重合体が相分離する場合、有機半導体は、ブロック共重合体の各ブロックが形成する相のうち親和性がより高いブロックが形成する相(ブロック共重合体がミクロ相分離してなる1つの相)中に偏在し、又は、この相とゲート絶縁層との間に偏在、すなわちブロック共重合体と互いに相分離し、異なる層を形成しているのが好ましい。異なる層として、ブロック共重合体がミクロ相分離してなる1つの相に隣接する、有機半導体からなる層が挙げられる。このように、ブロック共重合体が相分離し、かつ有機半導体が偏在しているのが好ましい。これにより、キャリア移動度及び耐久性の向上効果が高く、さらには優れた閾値電圧の低減効果をも示す。
下地層7は、より好ましくは、下地層用重合体A又は下地層用重合体Bで構成される。
下地層用重合体Aの各モノマー成分の質量比は、対応するブロック共重合体におけるモノマー成分の質量比と同じであっても異なっていてもよい。
下地層用重合体Bは、有機半導体層に含有されるブロック共重合体を構成するモノマー成分と異なるモノマー成分を構成成分とする共重合体でもよいが、上記少なくとも1つのモノマー成分と同じモノマー成分のみを構成成分とするホモ重合体が好ましい。
下地層用重合体A及び下地層用重合体Bが架橋構造を有する場合、下地層用重合体A及び下地層用重合体Bは、その全モノマー成分の合計質量中、架橋性基含有モノマー成分が1〜20質量%であることが好ましく、1〜10質量%であることがより好ましい。
相分離するものは以下に記載の数平均分子量等の特性・物性等をさらに満たすものがより好ましく、相分離しないものは以下に記載の特性・物性等を満たしていなくてもよい。
好ましいブロック共重合体は、相分離が起こる組み合わせで複数種類のブロックを有している。ブロック共重合体(I)は後述する特定の組み合わせのブロックを有している。一方、ブロック共重合体(II)のブロックの組み合わせは特に限定されるものではない。互いに非相溶であるブロック同士の組み合わせが好ましく選択される。
このような組み合わせとしては、種々のものが知られており、例えば、後述するブロック共重合体における複数のブロックの組み合わせが挙げられる。
ブロック同士が互いに非相溶であるか否かは、溶解性パラメータ(SP値)によって、判断できる。例えば、ブロック共重合体を構成するブロックが2種類である場合、互いに非相溶となる2種類のブロックの組み合わせは、これらの溶解性パラメータ(SP値)の差の絶対値、すなわち2種類のブロックを形成する繰り返し単位のSP値の差の絶対値が、0.5〜4.0MPa1/2となるのが好ましく、0.5〜3.0MPa1/2となるのがより好ましい。
本明細書において「溶解性パラメータ(SP値)」は、ハンセンの方法によって求めることができる。ハンセンの方法は当業界で周知のSP値を算出する方法の一つであり、分散項、極性項、水素結合項からなる多次元ベクトルでSP値を表記する。ハンセンのSP値は、Int. J. Thermophys, 2008,29,568−585頁に記載の方法で予測でき、本明細書中に記載のSP値はこの文献の方法により予測した値である。
本明細書において、ブロック共重合体の特定ブロックのSP値は、当該特定ブロック(換言すれば特定の繰り返し単位のみからなるホモポリマー)を構成する繰り返し単位のSP値とする。例えば、ポリスチレンの繰り返し単位(スチレンユニット)のSP値は20.8MPa1/2であり、ポリメタクリル酸メチルの繰り返し単位(メタクリル酸メチルユニット)のSP値は20.5MPa1/2であることから、ポリスチレンとポリメタクリル酸メチルの2つブロックを結合してなる共重合体の、ブロック間のSP値の差の絶対値は0.3MPa1/2となる。
また、本発明に用いるブロック共重合体の数平均分子量(Mn)は、3,000〜1,000,000であることが好ましく、10,000〜800,000であることがより好ましく、20,000〜600,000であることがさらに好ましい。ブロック共重合体のMnが上記範囲内にあると、層厚40〜1000nm、好ましくは50〜400nmの有機半導体層において、ブロック共重合体を厚さ方向に、好ましくはブロック共重合体のそれぞれのブロック1層ずつに相分離を生起させることができる。さらには有機半導体層中の有機半導体の結晶粒径を大きくすることができる。したがって、OTFTのキャリア移動度をより向上させることができる。
上記好ましいブロック共重合体としては、例えば、スチレン又はスチレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、(メタ)アクリル酸エステル又は(メタ)アクリル酸エステル誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;スチレン又はスチレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、(メタ)アクリル酸又は(メタ)アクリル酸誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;スチレン又はスチレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、シロキサン又はシロキサン誘導体からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;(メタ)アクリル酸エステルをモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、(メタ)アクリル酸エステル誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;スチレン又はスチレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、ビニルピリジン又はビニルピリジン誘導体からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;スチレン又はスチレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、ヒドロキシスチレン又はヒドロキシスチレン誘導体からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;スチレン又はスチレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、アルキレンオキシド又はアルキレンオキシド誘導体からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;ビニルナフタレン又はビニルナフタレン誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックと、(メタ)アクリル酸エステル又は(メタ)アクリル酸エステル誘導体をモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体;及び;アルキレンオキシドからなるブロックと、(メタ)アクリル酸エステルをモノマー成分とする繰り返し単位からなるブロックとを結合してなるブロック共重合体が挙げられる。
上記(メタ)アクリル酸エステル又はその誘導体の具体例として、例えば(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸ノニル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸ベンジル、(メタ)アクリル酸アントラセニル、(メタ)アクリル酸グリシジル、(メタ)アクリル酸3,4−エポキシシクロヘキシルメチル、及び、(メタ)アクリル酸3−(トリメトキシシリル)プロピル、並びに、これらの誘導体が挙げられる。
上記シロキサン又はシロキサン誘導体の具体例としては、例えば、ジメチルシロキサン、ジエチルシロキサン、ジフェニルシロキサン、及びメチルフェニルシロキサンが挙げられる。
スチレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体(アルキル(メタ)アクリレートのアルキル基の炭素数は1〜12が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜4がさらに好ましい。)、
スチレン−(メタ)アクリル酸ブロック共重合体、
スチレン−ジアルキルシロキサンブロック共重合体(ジアルキルシロキサンのアルキル基の炭素数は1〜12が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜4がさらに好ましい。)、
スチレン−アルキルアリールシロキサンブロック共重合体(アルキルアリールシロキサンのアルキル基の炭素数は1〜12が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜4がさらに好ましい。また、ポリアルキルアリールシロキサンのアリール基の炭素数は6〜20が好ましく、6〜15がより好ましく、6〜12がさらに好ましく、フェニル基であることがさらに好ましい。)、
スチレン−ジアリールシロキサンブロック共重合体(ジアリールシロキサンのアリール基の炭素数は6〜20が好ましく、6〜15がより好ましく、6〜12がさらに好ましく、フェニル基であることがさらに好ましい。)、
スチレン−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体(POSS置換アルキル(メタ)アクリレートのアルキル基の炭素数は1〜12が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜4がさらに好ましい。)、
アルキル(メタ)アクリレート−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体(アルキル(メタ)アクリレート及びPOSS置換アルキル(メタ)アクリレートのアルキル基の炭素数は1〜12が好ましく、1〜8がより好ましく、1〜4がさらに好ましい。)、
スチレン−ビニルピリジンブロック共重合体、
スチレン−ヒドロキシスチレンブロック共重合体、
スチレン−エチレンオキシドブロック共重合体、
ビニルナフタレン−アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体。
上記「POSS」(登録商標)とはシルセスキオキサンである。すなわち、本発明に用いるブロック共重合体は、特開2012−036078号公報等に記載のシルセスキオキサン構造を有する共重合体であることも好ましい。
ましくは2〜9であり、さらに好ましくは4〜6である。R1がアルキル基である場合、無置換のアルキル基が好ましい。アルキル基は直鎖状でもよいし、分岐構造であってもよい。
R1がアルケニル基又はアルキニル基である場合、その炭素数は好ましくは2〜12であり、より好ましくは2〜9であり、さらに好ましくは4〜6である。
R1がシクロアルキル基である場合、その炭素数は好ましくは3〜12であり、より好ましくは3〜9であり、さらに好ましくは3〜6である。R1がシクロアルキル基である場合、無置換のシクロアルキル基が好ましい。
R1がアリール基である場合、その炭素数は好ましくは6〜12であり、より好ましくは6〜9である。R1がアリール基である場合、無置換のアリール基が好ましい。
R1がアラルキル基である場合、その炭素数は好ましくは7〜12であり、より好ましくは7〜9である。
R1における炭素数を上記の好ましい範囲内とすることで、一般式(I)で表される繰り返し単位の疎水性がより高まり、一般式(I)で表される繰り返し単位からなるブロックと上記一般式(II)で表される繰り返し単位からなるブロックとの相分離性をより高めることができる。
後述のR11が水素原子の場合は、R1は、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、シクロアルキル基、アリール基またはアラルキル基のいずれかであることが好ましく、アルキル基またはアリール基であることがより好ましく、アルキル基であることがさらに好ましく、t−ブチル基であることが特に好ましい。
後述のR11がアルキル基の場合は、R1は水素原子またはアルキル基が好ましく、水素原子がさらに好ましい。
この置換基Tを有する形態及び異なる置換基Tを有していてもよいことは、R1以外にも置換基Tを有しうるもの(例えばR2、R3等)にも適用される。
ブロック共重合体のガラス点移転(Tg)を高め、一度形成されたブロック共重合体層の相分離構造を安定的に維持する観点から、R2はアルキル基(好ましくは炭素数1〜12、より好ましくは炭素数1〜8、さらに好ましくは炭素数1〜4のアルキル基)又はシクロアルキル基(好ましくは炭素数3〜12、より好ましくは炭素数3〜8のシクロアルキル基)であることが好ましく、炭素数1〜4のアルキル基であることがより好ましく、メチルであることがさらに好ましい。
また、R3がシクロアルキル基である場合、その炭素数は、好ましくは3〜12であり、より好ましくは3〜8である。
R3は置換基Tを有していてもよい。
R3は、置換基としてハロゲン原子を有するものが好ましく、ハロゲンが置換したアルキル基がより好ましく、特にフッ素が置換したアルキル基が好ましい。この場合、一般式(II)で表される繰り返し単位は下記一般式(II−2)で表されるものが好ましい。
上記一般式(II−1)において、R7は、炭素数1〜12の無置換アルキル基、又は、炭素数が3〜12の無置換シクロアルキル基を表す。R7が無置換アルキル基である場合、その炭素数は1〜8であることが好ましく、1〜4であることがより好ましい。R7はさらに好ましくはメチル又はエチルである。また、R7が無置換シクロアルキル基である場合、その炭素数は4〜10であることが好ましく、5〜8であることがより好ましい。R7はさらに好ましくはシクロヘキシルである。
R10がアルキル基である場合、その炭素数は1〜12であることが好ましく、より好ましくは1〜8であり、さらに好ましくは1〜4である。R10がアルキル基である場合、R10はさらに好ましくはエチル又はメチルである。
R10がシクロアルキル基である場合、その炭素数は3〜12であることが好ましく、より好ましくは3〜8である。R10がシクロアルキル基である場合、R10はさらに好ましくはシクロへキシルである。
R10がアリール基である場合、一般式(I)におけるR1のアリール基と同義であり、好ましい形態も同じである
各繰り返し単位の溶解パラメータ(SP値)の差を上記範囲内とすることで、ブロック共重合体の相分離をより高品位かつ高効率に行うことができる。
また、各ブロック共重合体の比率(a、b)は、NMR測定装置(ブルカー・バイオスピン社製;AVANCEIII400型)を用いて1H−NMR又は13C−NMRにより算出した値である。
基板は、OTFT及びその上に作製される表示パネル等を支持できるものであればよい。基板は、表面に絶縁性があり、シート状で、表面が平坦であれば特に限定されない。
基板がステンレスシート、アルミ箔、銅箔又はシリコンウェハ等の導電性あるいは半導体性の材料で形成されている場合、通常は、表面に絶縁性の高分子材料あるいは金属酸化物等を塗布又は積層して用いられる。
このような可撓性を有するプラスチック基板等を使用すれば、例えば曲面形状を有するディスプレイ装置や電子機器へのOTFTの組込みあるいは一体化が可能となる。
また、基板を構成する有機材料は、OTFT作製時に用いる溶媒に対する耐性を有する材料が好ましく、また、ゲート絶縁層及び電極との密着性に優れる材料が好ましい。
さらに、ガスバリア性の高い有機ポリマーからなるプラスチック基板を用いることも好ましい。
基板の少なくとも片面に緻密なシリコン酸化膜等を設けたり、無機材料を蒸着又は積層したりすることも好ましい。
ゲート電極は、OTFTのゲート電極として用いられている従来公知の電極を用いることができる。ゲート電極を構成する導電性材料(電極材料ともいう)としては、特に限定されない。例えば、白金、金、銀、アルミニウム、クロム、ニッケル、銅、モリブデン、チタン、マグネシウム、カルシウム、バリウム、ナトリウム、パラジウム、鉄、マンガン等の金属;InO2、SnO2、インジウム・錫酸化物(ITO)、フッ素ドープ酸化錫(FTO)、アルミニウムドープ酸化亜鉛(AZO)、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO)等の導電性金属酸化物;ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリアセチレン、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)/ポリスチレンスルホン酸(PEDOT/PSS)等の導電性高分子;塩酸、硫酸、スルホン酸等の酸、PF6、AsF5、FeCl3等のルイス酸、ヨウ素等のハロゲン原子、ナトリウム、カリウム等の金属原子等のドーパントを添加した上記導電性高分子、並びに、カーボンブラック、グラファイト粉、金属微粒子等を分散した導電性の複合材料等が挙げられる。これらの材料は、1種のみを用いても、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用してもよい。
また、ゲート電極は、上記導電性材料からなる1層でもよく、2層以上を積層してもよい。
塗布法では、上記材料の溶液、ペースト又は分散液を調製、塗布し、乾燥、焼成、光硬化又はエージング等により、膜を形成し、又は直接電極を形成できる。
また、インクジェット印刷、スクリーン印刷、(反転)オフセット印刷、凸版印刷、凹版印刷、平版印刷、熱転写印刷、マイクロコンタクトプリンティング法等は、所望のパターニングが可能であり、工程の簡素化、コスト低減、高速化の点で好ましい。
スピンコート法、ダイコート法、マイクログラビアコート法、ディップコート法を採用する場合も、下記フォトリソグラフィー法等と組み合わせてパターニングすることができる。
他のパターニング方法として、上記材料に、レーザーや電子線等のエネルギー線を照射して、研磨し、又は材料の導電性を変化させる方法も挙げられる。
さらに、基板以外の支持体に印刷したゲート電極用組成物を基板等の下地層の上に転写させる方法も挙げられる。
下地層は、上記下地層用重合体A及び下地層用重合体Bにより、形成される。これらの下地層用重合体は上記した通りである。
下地層用重合体A及び下地層用重合体Bの重量平均分子量及び数平均分子量の好ましい範囲は、上記ブロック共重合体の重量平均分子量及び数平均分子量と同じである。
下地層の厚さは、特に限定されないが、例えば、5〜2000nmが好ましく、10〜1000nmがより好ましい。
下地層を形成する方法としては、例えば、下地層用重合体A又は下地層用重合体Bを塗工する方法が挙げられる。塗工方法は、特に限定されず、上記の各印刷法が挙げられる。
ゲート絶縁層は、絶縁性を有する層であれば特に限定されず、単層であってもよいし、多層であってもよい。
ゲート絶縁層は、絶縁性の材料で形成されるのが好ましく、絶縁性の材料として、例えば、有機高分子、無機酸化物等が好ましく挙げられる。
有機高分子及び無機酸化物等は、絶縁性を有するものであれば特に限定されず、薄膜、例えば厚み1μm以下の薄膜を形成できるものが好ましい。
有機高分子及び無機酸化物は、ぞれぞれ、1種を用いても、2種以上を併用してもよく、また、有機高分子と無機酸化物を併用してもよい。
有機高分子は、アルコキシシリル基やビニル基、アクリロイルオキシ基、エポキシ基、メチロール基等の反応性置換基を有する化合物と併用することもできる。
また、特開2013−214649号公報の[0167]〜[0177]に記載の「数平均分子量(Mn)が140〜5,000であり、架橋性官能基を有し、フッ素原子を有さない化合物(G)」を用いるのも好ましく、これらの内容は好ましくは本願明細書に組み込まれる。
熱により酸を発生させる熱酸発生剤(触媒)として、例えば、特開2010−285518号公報の[0035]〜[0038]に記載の熱カチオン重合開始剤、特にオニウム塩等や、特開2005−354012号公報の[0034]〜[0035]に記載の触媒、特にスルホン酸類及びスルホン酸アミン塩等を好ましく使用することができ、好ましくはこれらの内容は本願明細書に組み込まれる。
また、特開2005−354012号公報の[0032]〜[0033]に記載の架橋剤、特に二官能以上のエポキシ化合物、オキセタン化合物、特開2006−303465号公報の[0046]〜[0062]に記載の架橋剤、特に2個以上の架橋基を有し、該架橋基の少なくとも一つがメチロール基もしくはNH基であることを特徴とする化合物、及び、特開2012−163946号公報の[0137]〜[0145]に記載の、ヒドロキシメチル基又はアルコキシメチル基を分子内に2個以上有する化合物を用いるのも好ましく、これらの内容は好ましくは本願明細書に組み込まれる。
有機高分子及び無機酸化物は、ぞれぞれ、1種を用いても、2種以上を併用してもよく、また、有機高分子と無機酸化物を併用してもよい。
また、それぞれの金属酸化物に対応する前駆体、具体的には塩化物、臭化物等の金属ハロゲン化物や金属アルコキシド、金属水酸化物等を、アルコールや水中で塩酸、硫酸、硝酸等の酸や水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の塩基と反応させて加水分解することにより、形成してもよい。このような溶液系のプロセスを用いる場合、上記ウエットコーティング法を用いることができる。
ゲート絶縁層上には、自己組織化単分子膜層を形成することもできる。
自己組織化単分子膜層を形成する化合物としては、自己組織化する化合物であれば特に限定されず、例えば、自己組織化する化合物として、下記式1Sで表される一種類以上の化合物を用いることができる。
式1S:R1S−XS
XSは吸着性又は反応性置換基を表し、具体的には、−SiX4X5X6基(X4は、ハライド基又はアルコキシ基を表し、X5、X6はそれぞれ独立にハライド基、アルコキシ基、アルキル基、アリール基を表す。X4、X5、X6はそれぞれ同じであることが好ましく、クロロ基、メトキシ基、エトキシ基であることがより好ましい)、ホスホン酸基(−PO3H2)、ホスフィン酸基(−PRO2H、Rはアルキル基)、リン酸基、亜リン酸基、アミノ基、ハライド基、カルボキシ基、スルホン酸基、ホウ酸基(−B(OH)2)、ヒドロキシ基、チオール基、エチニル基、ビニル基、ニトロ基又はシアノ基のいずれかを表す。
例えば、より緻密な自己組織化単分子膜層を得る好ましい方法として、Langmuir 19, 1159 (2003)及びJ. Phys. Chem. B 110, 21101 (2006)等に記載の方法が挙げられる。
脱水溶媒としては、特に限定されないが、例えば、クロロホルム、トリクロロエチレン、アニソール、ジエチルエーテル、ヘキサン、トルエン等を単独又は混合して用いることかできる。
さらに、乾燥雰囲気中又は乾燥気体の噴きつけによって、膜を乾燥させることが好ましい。乾燥気体には窒素等の不活性気体を用いるのが好ましい。このような自己組織化単分子膜層の製造方法を用いることにより、緻密で凝集や欠損のない自己組織化単分子膜層が形成されることから、自己組織化単分子膜層の表面粗さを0.3nm以下に抑えることができる。
有機半導体層は、有機半導体と上記ブロック共重合体とを含有する層であればよく、好ましくは、上記のように、有機半導体層の厚さ方向に有機半導体とブロック共重合体とが互いに偏在している。
有機半導体としては、特に限定されず、有機ポリマー及びその誘導体、低分子化合物等が挙げられる。
本発明において、低分子化合物は、有機ポリマー及びその誘導体以外の化合物を意味する。すなわち、繰り返し単位を有さない化合物をいう。低分子化合物は、このような化合物である限り、分子量は特に限定されるものではない。低分子化合物の分子量は、好ましくは300〜2000であり、さらに好ましくは400〜1000である。
ZA1及びZA2は、S、O、Se又はTeを表す。
nA1及びnA2は0〜3の整数を表す。ただし、nA1及びnA2が同時に0になることはない。
これらの置換基は、さらに置換基を複数有していてもよい。複数有していてもよい置換基としては、上記、RA1〜RA6で表される置換基が挙げられる。
ZA1及びZA2は、S、O、Se又はTeを表す。
nA1及びnA2は0〜3の整数を表す。ただし、nA1とnA2が同時に0になることはない。
一般式(D)中、XD1及びXD2はNRD9、酸素原子又は硫黄原子を表す。AD1はCRD7又はN原子を表し、AD2はCRD8又はN原子を表し、RD9は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアシル基を表す。RD1〜RD8は水素原子又は置換基を表し、RD1〜RD8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(E)中、XE1及びXE2は酸素原子、硫黄原子又はNRE7を表す。AE1及びAE2はCRE8又は窒素原子を表す。RE1〜RE8は水素原子又は置換基を表す。RE1〜RE8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(G)中、XG1及びXG2はNRG9、酸素原子又は硫黄原子を表す。AG1はCRG7又はN原子を表す。AG2はCRG8又はN原子を表す。RG9は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アシル基、アリール基又はヘテロアリール基を表す。RG1〜RG8は水素原子又は置換基を表す。RG1〜RG8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(K)中、XK1及びXK2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRK9を表す。XK3及びXK4は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。XK1、XK2、XK3及びXK4は好ましくは硫黄原子を表す。RK1〜RK9は水素原子又は置換基を表す。RK1〜RK9のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(L)中、XL1及びXL2は酸素原子、硫黄原子又はNRL11を表す。XL1及びXL2は好ましくは酸素原子又は硫黄原子を表す。RL1〜RL11は水素原子又は置換基を表し、RL1〜RL11のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(N)中、XN1及びXN2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRN13を表す。XN1及びXN2は好ましくは硫黄原子を表す。RN1〜RN13は水素原子又は置換基を表す。RN1〜RN13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(P)中、XP1及びXP2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRP13を表す。XP1及びXP2は好ましくは硫黄原子を表す。RP1〜RP13は水素原子又は置換基を表す。RP1〜RP13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(R)中、XR1、XR2及びXR3は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRR9を表す。XR1、XR2及びXR3は好ましくは硫黄原子を表す。RR1〜RR9は水素原子又は置換基を表す。RR1〜RR9のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(T)中、XT1、XT2、XT3、及びXT4は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRT7を表す。XT1、XT2、XT3及びXT4は好ましくは硫黄原子を表す。RT1〜RT7は水素原子又は置換基を表す。RT1〜RT7のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
また、ヘテロアリール基は、RA1〜RA6の置換基で説明したヘテロアリール基と同義である。
*はRwとの結合位置又は一般式(L−1)〜(L−25)の波線部分との結合位置を表す。
一般式(L−13)におけるmは4を表し、一般式(L−14)及び(L−15)におけるmは3を表し、一般式(L−16)〜(L−20)におけるmは2を表し、(L−22)におけるmは6を表す。
一般式(L−1)、(L−2)、(L−6)及び(L−13)〜(L−19)及び(L−21)〜(L−24)におけるR’はそれぞれ独立に水素原子又は置換基を表し、一般式(L−1)及び(L−2)中のR’はそれぞれLに隣接するRWと結合して縮合環を形成してもよい。
RNは水素原子又は置換基を表し、Rsiはそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、アルケニル基又はアルキニル基を表す。
本発明では、主鎖が炭素数N個の置換又は無置換のアルキル基が置換基の末端に存在する場合は、置換基の末端から可能な限りの連結基を含めた上で一般式(W)における−L−RWと解釈することとし、一般式(W)における−RW単独とは解釈しない。具体的には「一般式(W)におけるLに相当する(L−1)1個」と「一般式(W)におけるRWに相当する主鎖が炭素数N−1個の置換又は無置換のアルキル基」とが結合した置換基として解釈する。例えば、炭素数8のアルキル基であるn−オクチル基が置換基の末端に存在する場合、2個のR’が水素原子である(L−1)1個と、炭素数7のn−ヘプチル基とが結合した置換基として解釈する。また、一般式(W)で表される置換基が炭素数8のアルコキシ基である場合、−O−である一般式(L−4)で表される連結基1個と、2個のR’が水素原子である(L−1)で表される連結基1個と、炭素数7のn−ヘプチル基とが結合した置換基として解釈する。
一方、本発明では、オキシエチレン基、オキシエチレン単位の繰り返し数vが2以上のオリゴオキシエチレン基、シロキサン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、あるいは、置換又は無置換のトリアルキルシリル基が置換基の末端に存在する場合は、置換基の末端から可能な限りの連結基を含めた上で、一般式(W)におけるRW単独と解釈する。例えば、−(OCH2CH2)−(OCH2CH2)−(OCH2CH2)−OCH3基が置換基の末端に存在する場合、オキシエチレン単位の繰り返し数vが3のオリゴオキシエチレン基単独の置換基として解釈する。
RNとしては、置換基RC〜RTが採りうる置換基として例示したものを挙げることができる。その中でもRNとしては水素原子又はメチル基が好ましい。
Rsiは、アルキル基であることが好ましい。Rsiがとり得るアルキル基としては特に制限はないが、Rsiがとり得るアルキル基の好ましい範囲はRWがシリル基である場合に該シリル基がとり得るアルキル基の好ましい範囲と同様である。Rsiがとり得るアルケニル基としては特に制限はないが、置換又は無置換のアルケニル基が好ましく、分枝アルケニル基であることがより好ましく、該アルケニル基の炭素数は2〜3であることが好ましい。Rsiがとり得るアルキニル基としては特に制限はないが、置換又は無置換のアルキニル基が好ましく、分枝アルキニル基であることがより好ましく、該アルキニル基の炭素数は2〜3であることが好ましい。
化学的安定性、キャリア輸送性の観点から一般式(L−1)で表される2価の連結基を含む2価の連結基であることが特に好ましく、一般式(L−1)で表される2価の連結基であることがより特に好ましく、Lが一般式(L−18)及び(L−1)で表される2価の連結基であり、(L−1)を介してRWと結合し、RWが置換又は無置換のアルキル基であることがさらにより特に好ましく、Lが一般式(L−18A)及び(L−1)で表される2価の連結基であり、(L−1)を介してRWと結合し、RWが置換又は無置換のアルキル基であることがさらにより特に好ましい。
一般式(W)において、RWに隣接するLが一般式(L−2)及び(L−4)〜(L−25)で表される2価の連結基である場合は、RWは置換又は無置換のアルキル基であることがより好ましい。
一般式(W)において、RWに隣接するLが一般式(L−3)で表される2価の連結基である場合は、RWは置換又は無置換のアルキル基、置換又は無置換のシリル基であることが好ましい。
RWがアルキル基を表す場合、直鎖アルキル基でも、分枝アルキル基でも、環状アルキル基でもよいが、直鎖アルキル基であることが、分子の直線性が高まり、キャリア移動度を高めることができる観点から好ましい。
これらの中でも、一般式(W)におけるRWとLの組み合わせとしては、一般式(C)〜(T)のLが一般式(L−1)で表される2価の連結基であり、かつ、RWが直鎖の炭素数4〜17のアルキル基であるか;あるいは、Lが一般式(L−3)、(L−13)又は(L−18)のいずれか1つで表される2価の連結基と一般式(L−1)で表される2価の連結基が結合した2価の連結基であり、かつ、RWが直鎖のアルキル基であることが、キャリア移動度を高める観点から好ましい。
一方、有機溶媒への溶解度を高める観点からは、RWが分枝アルキル基であることが好ましい。
L及びRWに含まれる炭素数の合計は5〜14であることが好ましく、6〜14であることがより好ましく、6〜12であることが特に好ましく、8〜12であることがより特に好ましい。
一般式(C)で表される化合物においては、RC1、RC2、RC3、RC6のいずれかが一般式(W)で表される基であることが好ましく、RC1とRC2との両方又はRC3とRC6の両方が一般式(W)で表される基であることがより好ましい。
一般式(D)で表される化合物においては、RD6が一般式(W)で表される基であることが好ましく、RD5とRD6との両方が一般式(W)で表される基であることがより好ましい。
一般式(E)で表される化合物においては、RE6が一般式(W)で表される基であることが好ましく、RE5とRE6との両方が一般式(W)で表される基であることがより好ましい。また、RE5及びRE6が一般式(W)で表される基以外の置換基である場合、2つのRE7が一般式(W)で表される基であるのも好ましい。
一般式(G)で表される化合物においては、RG5又はRG6が一般式(W)で表される基であることが、キャリア移動度を高め、有機溶媒への溶解性を高める観点から好ましい。
一般式(H)で表される化合物においては、RH4又はRH6が一般式(W)で表される基であるのが好ましく、RH4又はRH6、及び、RH3又はRH5が一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一般式(K)で表される化合物においては、RK7が一般式(W)で表される基であるのが好ましく、RK7とRK3との両方が一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一般式(L)で表される化合物においては、RL2、RL3、RL6及びRL7のうち少なくとも一つが一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一般式(N)で表される化合物においては、RN3が一般式(W)で表される基であるのが好ましく、RN3とRN9との両方が一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一般式(P)で表される化合物においては、RP3が一般式(W)で表される基であるのが好ましく、RP3とRP9との両方が一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一般式(R)で表される化合物においては、RR2が一般式(W)で表される基であるのが好ましく、RR2とRR7との両方が一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一般式(T)で表される化合物においては、RT2が一般式(W)で表される基であるのが好ましく、RT2とRT5との両方が一般式(W)で表される基であるのがより好ましい。
一方で、薄膜の膜質安定性の観点からは、分子量は300以上であることが好ましく、350以上であることがより好ましく、400以上であることがさらに好ましい。
ポリチオフェン及びその誘導体としては、特に限定されないが、例えば、ポリチオフェンにヘキシル基を導入したポリ−3−ヘキシルチオフェン(P3HT)、ポリエチレンジオキシチオフェン、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン)/ポリスチレンスルホン酸(PEDOT/PSS)等が挙げられる。
また、これらのポリマーと同じ繰返し単位を有するオリゴマー(例えば、オリゴチオフェン)を挙げることもできる。
このような高分子化合物としては、一般式(C)〜(T)で表される化合物が少なくとも1つ以上のアリーレン基、ヘテロアリーレン基(チオフェン、ビチオフェン等)を介して繰り返し構造を示すπ共役ポリマーや、一般式(C)〜(T)で表される化合物が高分子主鎖に側鎖を介して結合したペンダント型ポリマーが挙げられる。高分子主鎖としては、ポリアクリレート、ポリビニル、ポリシロキサン等が好ましく、側鎖としては、アルキレン基、ポリエチレンオキシド基等が好ましい。ペンダント型ポリマーの場合、高分子主鎖は置換基RC〜RTの少なくとも1つが重合性基由来の基を有し、これが重合してなるものであってもよい。
有機半導体層中、上記有機半導体の含有率は、後述する、塗布液の全固形分中の含有率と同じであることが好ましい。
湿式法としては、特に限定されないが、例えば、スピンコート法、インクジェット法、ノズルプリント、スタンプ印刷、スクリーン印刷、グラビア印刷、エレクトロスプレイデポジション法等により半導体材料を塗布した後、乾燥させることにより形成することができる。
結晶化処理の方法としては、特に限定されないが、ホットプレート、オーブン等による加熱又はレーザー照射等が挙げられる。加熱温度については、結晶化が進行しやすい点では高温が好ましく、また、一方で、基板等に熱の影響を与え難い点では低温が好ましい。具体的には、100℃以上が好ましく、150以上が特に好ましく、また、一方で、300℃以下が好ましく、250℃以下が特に好ましい。
本発明のOTFTにおいて、ソース電極は、配線を通じて外部から電流が流入する電極である。また、ドレイン電極は、配線を通じて外部に電流を送り出す電極であり、通常、上記半導体層に接して設けられる。
ソース電極及びドレイン電極の材料としては、従来の有機薄膜トランジスタに用いられている導電性材料を用いることができ、例えば、上記ゲート電極で説明した導電性材料等が挙げられる。
特に、ゲート絶縁層がエッチング液や剥離液に対する耐性に優れていることから、ソース電極及びドレイン電極はエッチング法でも好適に形成することができる。エッチング法は、導電性材料を成膜した後に不要部分をエッチングにより除去する方法である。エッチング法によりパターニングすると、レジスト除去時に下地に残った導電性材料の剥がれ、レジスト残渣や除去された導電性材料の下地への再付着を防止でき、電極エッジ部の形状に優れる。この点で、リフトオフ法よりも好ましい。
ソース電極とドレイン電極との間の間隔(チャネル長)は、任意であるが、100μm以下が好ましく、50μm以下が特に好ましい。また、チャネル幅は、5000μm以下が好ましく、1000μm以下が特に好ましい。
本発明のOTFTは、オーバーコート層を有していてもよい。オーバーコート層は、通常、OTFTの表面に保護層として形成される層である。単層構造でも多層構造でもよい。
オーバーコート層は、有機系のオーバーコート層でも無機系のオーバーコート層でもよい。
有機系のオーバーコート層を形成する材料としては、特に限定されないが、例えば、ポリスチレン、アクリル樹脂、ポリビニルアルコール、ポリオレフィン、ポリイミド、ポリウレタン、ポリアセナチレン、エポキシ樹脂等の有機ポリマー、及び、これらの有機ポリマーに架橋性基や撥水基等を導入した誘導体等が挙げられる。これらの有機ポリマーやその誘導体は、架橋成分、フッ素化合物、シリコン化合物等と併用することもできる。
無機系のオーバーコート層を形成する材料としては、特に限定されないが、酸化ケイ素、酸化アルミニウム等の金属酸化物、窒化ケイ素等の金属窒化物等が挙げられる。
これらの材料は、1種を用いても、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用してもよい。
例えば、有機系のオーバーコート層は、例えば、その下地となる層に、オーバーコート層となる材料を含む溶液を塗布後に乾燥させる、オーバーコート層となる材料を含む溶液を塗布、乾燥後に露光、現像してパターニングする等の方法により形成することができる。なお、オーバーコート層のパターニングは、印刷法やインクジェット法等により直接形成することもできる。また、オーバーコート層のパターニング後に、露光や加熱することにより、オーバーコート層を架橋させてもよい。
一方、無機系のオーバーコート層は、スパッタリング法、蒸着法等の乾式法やゾルゲル法のような湿式法により形成することができる。
本発明のOTFTは、上記以外の層や部材を設けてもよい。
その他の層又は部材としては、例えば、バンク等が挙げられる。バンクは、インクジェット法等により半導体層やオーバーコート層等を形成するときに、吐出液を所定の位置に塞き止める目的等で用いられる。このため、バンクには、通常、撥液性がある。バンクの形成方法としては、フォトリソグラフィー法等によりパターニングした後にフッ素プラズマ法等の撥液処理を施す方法、フッ素化合物等の撥液成分を含む感光性組成物等を硬化させる方法等が挙げられる。
本発明の有機薄膜トランジスタの場合、ゲート絶縁層が有機層であることから、後者の撥液成分を含む感光性組成物を硬化させる方法が、ゲート絶縁層が撥液処理の影響を受ける可能性がなく、好ましい。なお、バンクを用いずに下地に撥液性のコントラストを持たせてバンクと同じ役割を持たせる技術を用いてもよい。
本発明の有機薄膜トランジスタの製造方法(以下、本発明の方法ということがある)は、ブロック共重合体と有機半導体とを含有する有機半導体層を備えたOTFTを製造する方法である。
本発明の方法は、有機半導体とブロック共重合体とを含有する塗布液を、基板6又はゲート絶縁層2上に塗布して成膜し、好ましくはこの膜に熱処理を施してブロック共重合体を自己組織化する。
成膜により、有機半導体とブロック共重合体とを相分離させることができ、さらに自己組織化することにより、有機半導体の偏在を促進させることができる。
塗布液は、有機半導体及びブロック共重合体以外に、他の成分を含有してもよい。例えば、上記ブロック共重合体以外の共重合体からなる樹脂、シランカップリング剤等自己組織化する化合物、界面活性剤等が挙げられる。
有機溶媒としては、例えば、ヘキサン、オクタン、デカン、トルエン、キシレン、メシチレン、エチルベンゼン、テトラリン、デカリン、1−メチルナフタレン等の炭化水素系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、ジクロロメタン、クロロホルム、テトラクロロメタン、ジクロロエタン、トリクロロエタン、テトラクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、クロロトルエン等のハロゲン化炭化水素系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミル等のエステル系溶媒、メタノール、プロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、シクロヘキサノール、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、エチレングリコール等のアルコール系溶媒、ジブチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、アニソール等のエーテル系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、1−メチルー2−ピロリドン、1−メチル−2−イミダゾリジノン等のアミド・イミド系溶媒、ジメチルスルフォキサイド等のスルホキシド系溶媒、アセトニトリル、ベンゾニトリル等のニトリル系溶媒等が挙げられる。
ブロック共重合体及び樹脂(D)の合計の塗布液中の含有率は、塗布液の全固形分中、1〜80質量%が好ましく、5〜60質量%がより好ましく、10〜50質量%がさらに好ましい。
なお、ブロック共重合体と樹脂(D)の総量に対するブロック共重合体の質量割合は10〜100質量%であることが好ましく、20質量%以上100質量%であることがより好ましい。
有機半導体の塗布液中の含有率は、塗布液の全固形分中、20〜99質量%が好ましく40〜95質量%がより好ましく、50〜90質量%がさらに好ましい。
塗布液を塗布する方法は、特に限定されず、上記した方法を採用できる。なかでも、印刷法が好ましく、スピンコート法がより好ましい。
塗布条件は、特に限定されない。室温付近で塗布してもよいし、有機半導体の塗布溶媒への溶解性を増すために加熱状態で塗布してもよい。塗布温度は、好ましくは15〜150℃であり、より好ましくは15〜100℃であり、さらに好ましくは15〜50℃であり、特に好ましくは室温付近(20〜30℃)である。
スピンコート法では、回転数を100〜3000rpmにするのが好ましい。
本発明の方法において、このようにして塗布液を塗布・乾燥すると、上記した通り、ブロック共重合体と有機半導体とが互いに偏在する。
本発明においては、加熱アニール以外にも、溶媒蒸気にさらす溶媒アニール等を採用できる。
このブロック共重合体は、有機半導体層の厚さ方向に沿って、ラメラ相分離されることが好ましい。ブロック共重合体におけるブロック単位の組成を上述した好ましい範囲とすることで、ラメラ相分離させることができる。
このようにして、ブロック共重合体を相分離させると、上記層中において、ブロック共重合体の各ブロックが形成する相によって有機半導体が偏在させられて、ブロック共重合体と有機半導体との分離(偏在)が促進される。
本発明の方法は、ブロック共重合体と有機半導体とを含有する塗布液を塗布し、好ましくは乾燥し、次いで加熱処理することにより、ブロック共重合体が自己組織化により相分離し、かつ有機半導体とブロック共重合体とが厚さ方向に偏在している有機半導体層2を好ましく設けることができる。したがって、有機半導体を用いた溶液塗布法の利点を生かしつつ、上記の優れた特性を発揮する有機半導体層2を成膜することができる。
本発明の有機薄膜トランジスタの用途の一例として表示パネルが挙げられる。表示パネルとしては、例えば、液晶パネル、有機ELパネル、電子ペーパーパネル等が挙げられる。
各例に用いた有機半導体としての化合物を以下に示す。
1,5−ジアミノナフタレン(10g)のピリジン溶液(125mL)に、p−トルエンスルホニルクロリド(34g)をゆっくりと添加し、室温で2時間撹拌した。反応液を氷水に注ぎ、析出物を減圧濾過した。得られた粗結晶をメタノールで洗浄し、化合物C1a(29g)を得た。
化合物C1a(10g)の氷酢酸溶液を95℃で加熱撹拌し、そこに氷酢酸10mLで希釈した臭素(2mL)をゆっくりと滴下した。10分間反応させ、放冷後にろ過することで粗結晶を灰色固体として得た。粗結晶をニトロベンゼン中で再結晶することで化合物C1b(6.8g)を得た。
化合物C1b(5g)の濃硫酸溶液を室温で24時間撹拌した。反応液を氷水に注ぎ、析出している固体をろ過して回収した。その固体を氷水中に再度分散し、アンモニア水で中和し、化合物C1c(0.5g)を得た。
室温下、化合物C1c(2g)のピリジン溶液にペンタノイルクロリド(バレリン酸クロリド)(2.6mL)を滴下して2時間撹拌した。氷水に反応液を注ぎ、固体を減圧濾過した。メタノール中に分散し1時間撹拌した後、固体をろ過することで化合物C1d(1.39g)を得た。
THF(360mL)及びトルエン(72mL)の混合溶液中に化合物C1d(1.2g)とローソン試薬(1.48g)を添加した後、加熱還流しながら3時間撹拌した。エバポレーションでTHFのみ除去してトルエン溶液とした後、60℃で1時間撹拌した。その後、不溶物をろ過することで化合物C1e(0.5g)を得た。
化合物C1e(0.4g)と炭酸セシウム(1.33g)をジメチルアセトアミド中、120℃で2時間反応させた。反応液を水に注ぎ析出物をろ過した。ろ過した固体をTHF中で再結晶を繰返し、目的化合物C1(0.12g)を合成した。得られた化合物C1の同定は、1H−NMR及びMassスペクトルにより行った。
P−1〜P−8はスチレン−メチルメタクリレートブロック共重合体(PS−b−PMMA)、P−9及びP−10はスチレン−ジメチルシロキサンブロック共重合体(PS−b−PDMS)、P−11はスチレン−b−POSS置換プロピルメタアクリレートブロック共重合体(PS−POSSisoBuMA)、P−12はメチルメタクリレート−b−POSS置換プロピルメタクリレートブロック共重合体(PMMA−POSSisoBuMA)、P−13はスチレン−ビニルピリジンブロック共重合体(PS−b−P4VP)、P−14はビニルナフタレン−メチルメタクリレートブロック共重合体(PVNp−b−PMMA)、P−15はスチレン−ヒドロキシスチレンブロック共重合体(PS−b−PHS)としてP−15、並びに、P−16はポリスチレン−(エチレン−プロピレン)ジブロック共重合体である。なおΔSPの単位はMPa1/2である。
PS(ポリスチレン)のMn25000
PMMA(ポリメチルメタクリレート)のMn26000
共重合体のMn51000
構成成分の質量比(PS:PMMA)49:51
分散度1.06
ΔSP0.3
P−2:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P4418)
PSのMn18500
PMMAのMn18000
共重合体のMn36500
構成成分の質量比(PS:PMMA)51:49
分散度1.06
ΔSP0.3
P−3:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P10294)
PSのMn50000
PMMAのMn47000
共重合体のMn97000
構成成分の質量比(PS:PMMA)52:48
分散度1.09
ΔSP0.3
P−4:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P8205)
PSのMn68000
PMMAのMn33000
共重合体のMn101000
構成成分の質量比(PS:PMMA)67:33
分散度1.08
ΔSP0.3
P−5:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P5543)
PSのMn160000
PMMAのMn160000
共重合体のMn320000
構成成分の質量比(PS:PMMA)50:50
分散度1.09
ΔSP0.3
P−6:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P10435)
PSのMn280000
PMMAのMn290000
共重合体のMn570000
構成成分の質量比(PS:PMMA)49:51
分散度1.15
ΔSP0.3
P−7:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P10324)
PSのMn400000
PMMAのMn225000
共重合体のMn625000
構成成分の質量比(PS:PMMA)64:36
分散度1.15
ΔSP0.3
P−8:PS−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P800)
PSのMn139500
PMMAのMn232600
共重合体のMn372100
構成成分の質量比(PS:PMMA)37:63
分散度1.09
ΔSP0.3
P−9:PS−b−PDMS(ポリマーソース社製、カタログNo.P8709)
PSのMn22000
PDMSのMn21000
共重合体のMn43000
構成成分の質量比(PS:PDMS)51:49
分散度1.08
P−10:PS−b−PDMS(ポリマーソース社製、カタログNo.P2617)
PSのMn36000
PDMSのMn14800
共重合体のMn50800
構成成分の質量比(PS:PDMS)71:29
分散度1.04
P−11:PS−b−POSSisoBuMA(ポリマーソース社製、カタログNo.
P14022)
PSのMn6000
POSSisoBuMAのMn23000
共重合体のMn29000
構成成分の質量比(PS:POSSisoBuMA)21:79
分散度1.6
P−12:PMMA−b−POSSisoBuMA(ポリマーソース社製、カタログN
o.P9793)
PMMAのMn22000
POSSisoBuMAのMn22500
共重合体のMn44500
構成成分の質量比(PMMA:POSSisoBuMA)49:51
分散度1.10
P−13:PS−b−P4VP(ポリマーソース社製、カタログNo.P9892)
PSのMn195000
P4VPのMn204000
共重合体のMn399000
構成成分の質量比(PS:P4VP)49:51
分散度1.09
P−14:PVNp−b−PMMA(ポリマーソース社製、カタログNo.P3400
)
PVNpのMn61000
PMMAのMn68000
共重合体のMn129000
構成成分の質量比(PVNp:PMMA)47:53
分散度1.15
ΔSP1.5
P−15:PS−b−PHS(ポリマーソース社製、カタログNo.P8616)
PSのMn9000
PHSのMn6000
共重合体のMn15000
構成成分の質量比(PS:PHS)60:40
分散度1.12
ΔSP2.8
P−16:スチレン−(エチレン−プロピレン)ブロック共重合体(KRATON G
1701E(登録商標)、KRATON Polymers社製)
なお、これらブロック共重合体のΔSPは上記の通りである。
cP−1:PS−co−PMMA(ポリスチレン−ポリメチルメタクリレートランダム
共重合体(Aldrich社製)
Mw134600
Mn67000
分散度2.00
構成成分の質量比(PS:PMMA)40:60
cP−2:ポリ(α−メチルスチレン)(PαPS)
Mw407000
Mn303000
分散度1.34
[ボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTの製造]
図1(A)に示すボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTを製造した。
基板6として厚さ1mmのドープシリコン基板(ゲート電極5を兼ねる)の上にゲート絶縁層2を形成した。
ゲート絶縁層2は以下のように形成した。すなわち、ポリ(4−ビニルフェノール)(日本曹達社製、商品名:VP−8000、Mn11000、分散度1.1)6.3gと、架橋剤として2,2−ビス(3,5−ジヒドロキシメチル−4−ヒドロキシ)プロパン2.7gとを、1−ブタノール/エタノール=1/1(体積比)の混合溶媒91gに室温で完全に溶解させた。この溶解液をφ0.2μmのポリテトラフルオロエチレン(PTFE)製メンブランフィルタでろ過した。得られたろ液に酸触媒としてジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート塩0.18gを加え、基版6上に塗布し、乾燥して成膜した。その後、100℃に加熱して架橋させて、厚さ0.7μmのゲート絶縁層2を形成した。
次いで、塗布層を加熱処理しない場合(表1において「アニール温度」欄に「無し」と表記する)は、この塗布層を有機半導体層1とした。一方、塗布層を加熱処理する場合は、この塗布層を表1に示すアニール温度で30分間加熱し、有機半導体層1とした。
このようにして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
製造した各OTFTの特性について、下記評価をした。その結果を表1に示す。
(ブロック共重合体の相分離の評価:厚さ方向)
(評価1)
各OTFTの有機半導体層について、エッチング用イオンビームを併用して飛行時間型二次イオン質量分析(TOF−SIMS)により、元素マッピング測定をし、ブロック共重合体の自己組織化による相分離状態を、下記評価基準により、評価した。
A:有機半導体層1の深さ方向にブロック共重合体が1層に相分離していた場合
ここで、1層に相分離とはブロック共重合体がラメラ相分離して、それぞれのブロックからなる層が垂直方向に1層ずつ相分離した状態をいう。
B:有機半導体層1の深さ方向にブロック共重合体が多層に相分離していた場合
ここで、多層に相分離とはブロック共重合体がラメラ相分離して、それぞれのブロックからなる層が垂直方向に複数層ずつ相分離した状態をいう。
D:ブロック共重合体が相分離していなかった場合
得られた各OTFTについて、エッチング用イオンビームを併用し、飛行時間型二次イオン質量分析(TOF−SIMS)により元素マッピング測定をして、有機半導体層の厚さ方向の偏在状態を評価した。評価は、下記評価基準により、行なった。
A:有機半導体層1の深さ方向の表面(ゲート絶縁層2等との界面)の全面に有機半導体が偏在していた場合
B:有機半導体層1の深さ方向の表面の一部に有機半導体が偏在していた場合
ここで、一部に偏在とは、ブロック共重合体と有機半導体が混ざっており、一部に
有機半導体のみ偏在している部分がある状態をいう。
C:有機半導体層1の表面側に有機半導体が偏在していた場合
D:有機半導体が偏在していなかった場合
各OTFTのソース電極3及びドレイン電極4間に−40Vの電圧を印加し、ゲート電圧Vgを40V〜−40Vの範囲で変化させ、ドレイン電流Idを表わす下記式を用いてキャリア移動度μ(cm2/Vs)を算出した。
式中、Lはゲート長、wはゲート幅、Ciはゲート絶縁層2の単位面積当たりの容量、Vgはゲート電圧、Vthは閾値電圧
大気下25度にて2週間放置した後に、キャリア移動度μを測定し、下記式よりキャリア移動度維持率を算出した。
キャリア移動度維持率(%)=移動度(2週間放置後)/移動度(初期値)
各OTFTのソース電極3及びドレイン電極4間にかかる電圧を−40Vに固定し、ゲート電圧Vgを40〜−40Vまでスイープさせた時の(|Id|の最大値)/(|Id|の最小値)をOn/Off比とした。
各OTFTのソース電極3及びドレイン電極4間に−40Vの電圧を印加し、ゲート電圧を40V〜−40Vの範囲で変化させて、閾値電圧Vthを測定した。
このようにブロック共重合体と有機半導体とが偏在してなる有機半導体層は、有機半導体が偏在した領域がゲート絶縁層に隣接し、ボトムゲート構造のOTFT、特にボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTの性能向上に適している。具体的には、いずれの有機半導体を用いても、ブロック共重合体と有機半導体とが偏在してなる有機半導体層を備えた本発明のOTFTは、本発明に用いる上記特定のブロック共重合体以外のポリマーを用いて形成した有機半導体層を備えたOTFT(試料No.c1−1〜c1−3、c1−5〜c1−7、c1−9〜c1−11及びc1−13〜c1−15)、及び、有機半導体のみを用いて形成した有機半導体層を備えたOTFT(試料No.c1−4、c1−8、c1−12及びc1−16)に比べて、キャリア移動度μ及びキャリア移動度μの維持率が高かった(耐久性に優れた)。またOn/Off比も高く、さらには閾値電圧Vthが低く、優れた特性を有していた。
この場合、PS−b−PMMA、PS−b−PHS、PS−b−P4VP等の数平均分子量Mnが40000〜70000であるとブロック共重合体が多層に相分離し、一方、数平均分子量Mnが90000〜600000であるとブロック共重合体のそれぞれのブロックが1層に相分離することが確認できた。
また、PS−b−PDMS、PS−b−POSSisoBuMA、PMMA−b−POSSisoBuMA、BP−1A、BP−4A、BP−5F、BP−6C、CBP−2A、CBP−3A及びCBP−3Bはいずれも1層にラメラ相分離することが確認できた。これは、これらブロック共重合体の相互作用パラメータχが大きいためと、考えられる。
このように、ブロック共重合体の相分離に着目すると、数平均分子量又は相互作用パラメータχに応じてブロック共重合体が1層にラメラ相分離することにより、ブロック共重合体の、有機半導体の偏在助長効果が高くなって、OTFTの性能向上効果がより増大した。
特に、フッ素原子を有するブロック共重合体BP−5F及びCBP−3Aは、OTFTの性能向上効果が高かった。
このように、自己組織化による相分離可能な、特にラメラ相分離可能なブロック共重合体であれば、上記特定のブロック共重合以外のものであっても、OTFTの性能向上効果を奏することが分かった。
[ボトムゲート型OTFTの製造及び評価]
実施例2では、有機半導体と、ブロック共重合体及びPαMSとを用いて、ボトムゲート型OTFTの製造し、その特性等を評価した。
すなわち、実施例1の試料1−11、1−31、1−43及び1−60において、ブロック共重合体P−9の半分(0.25mg)をPαMSに置き換えたこと(ブロック共重合体P−9とPαMSの合計0.5mg)以外は試料1−11、1−31、1−43及び1−60と同様にして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
また、実施例1の試料1−13、1−32、1−44及び1−62において、ブロック共重合体P−11の半分(0.25mg)をPαMSに置き換えたこと(ブロック共重合体P−11とPαMSの合計0.5mg)以外は試料1−13、1−32、1−44及び1−62と同様にして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
また、実施例1の試料1−24、1−36、1−48及び1−73において、ブロック共重合体CBP−3Aの半分(0.25mg)をPαMSに置き換えたこと(ブロック共重合体CBP−3AとPαMSの合計0.5mg)以外は試料1−24、1−36、1−48及び1−73と同様にして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
[ボトムゲート型OTFTの製造及び評価]
実施例3では、上記有機半導体以外の有機半導体を用いて、ボトムゲート型OTFTの製造し、その特性等を評価した。
すなわち、実施例1において、有機半導体として、上記A26、A27、C1、C4、C7、D1、E2、F2、F5、F10、G12、G14、H10、H11、J2、J3、K2、K3、L2、L5、L6、L8、L15、M8、N4、P3、Q3、R1、S1又はT1を用いたこと以外は実施例1と同様にして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
製造したOTFTそれぞれについて、実施例1と同様にして、ブロック共重合体の相分離:厚さ方向、有機半導体の偏在:水平方向及び厚さ方向、キャリア移動度μ、キャリア移動度μの維持率、On/Off比並びに閾値電圧Vthを評価した。その結果、いずれも実施例1と同様の結果が得られた。
[ボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTの製造及び評価]
実施例4では、ゲート絶縁層2を形成する有機高分子を代えてボトムゲート型OTFTの製造し、その特性等を評価した。
すなわち、実施例1において、ゲート絶縁層2を形成する有機高分子をポリ(4−ビニルフェノール)に代えて、ポリビニルフェノール(日本曹達製、VP−8000、Mn11000、分散度1.1)ポリシルセスキオキサン(東亞合成製、OX−SQ HDXOX−SQ NDX)、又は、フッ素樹脂(旭硝子製、CYTOP CTL−809M)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
製造したOTFTそれぞれについて、実施例1と同様にして、ブロック共重合体の相分離:厚さ方向、有機半導体の偏在:水平方向及び厚さ方向、キャリア移動度μ、キャリア移動度μの維持率、On/Off比並びに閾値電圧Vthを評価した。その結果、いずれも実施例1と同様の結果が得られた。
[ボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTの製造及び評価]
実施例5では、無機酸化物で形成してゲート絶縁層2を備えたボトムゲート型OTFTの製造し、その特性等を評価した。
すなわち、実施例1において、ゲート絶縁層2を形成する有機高分子に代えて、表面0.3μmを熱酸化してSiO2を形成したシリコン基板をゲート絶縁層2として用いたこと以外は実施例1と同様にして、図1(A)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
製造したOTFTそれぞれについて、実施例1と同様にして、ブロック共重合体の相分離:厚さ方向、有機半導体の偏在:水平方向及び厚さ方向、キャリア移動度μ、キャリア移動度μの維持率、On/Off比並びに閾値電圧Vthを評価した。その結果、いずれも実施例1と同様の結果が得られた。
[下地層を有する、ボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTの製造及び評価]
実施例6では、有機半導体層1の下地層7をゲート絶縁層2上に形成した、ボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFT1(図1(A))を製造し、その特性を評価した。
より詳細には、上記実施例1において、ブロック共重合体としてPS−b−PMMA(P−1〜P−8)を用いたOTFTそれぞれについて、PS−b−PMMAと同じモノマー成分であるPS及びPMMAそれぞれを構成成分とする下地層形成用共重合体Aとしての下記ランダム共重合体RP−1又はBRP−1からなる下地層7をゲート絶縁層上に成膜して、下地層7を有するOTFT1をそれぞれ製造した。
同様に、実施例1において、ブロック共重合体としてBP−6Cを用いたOTFTそれぞれについて、これと同じモノマー成分それぞれを構成成分とする下地層形成用共重合体Aとしての下記ランダム共重合体RP−2又はBRP−2からなる下地層7をゲート絶縁層上に成膜して、下地層を有するOTFT1をそれぞれ製造した。
各下地層7は、それぞれ、ランダム共重合体10mgをPGMEA1mLに溶解した塗布液を調製し、スピンコート法により、成膜した。
なお、BRP−1及びBRP−2を用いた下地層の形成に際しては、酸触媒としてジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート塩を塗布液中の固形分に対し1質量%の濃度で含有させて、塗布、成膜後に100℃で加熱して架橋構造を形成させた。
成膜した下地層7の厚さはいずれも50nmであった。
[下地層を兼ねるゲート絶縁層を有する、ボトムゲート・ボトムコンタクト構造のOTFTの製造及び評価]
実施例7では、下地層を兼ねるゲート絶縁層を有するボトムゲート型OTFTの製造し、その特性等を評価した。
実施例1において、ブロック共重合体としてPS−b−PMMA(P−1〜P−8)を用いたOTFTそれぞれについて、ゲート絶縁層自体を下地層形成用共重合体Aとしての上記ランダム共重合体RP−1又はBRP−1で形成して、下地層を兼ねるゲート絶縁層2を有するOTFTをそれぞれ製造した。
同様に、実施例1において、ブロック共重合体としてP−3〜P−11、BP−4A、CBP−3Aを用いたOTFTそれぞれについて、これのモノマー成分の1つであるPSを構成成分とする下地層形成用共重合体Bとしての下記ランダム共重合体BRP−3でゲート絶縁層自体を形成して、下地層を兼ねるゲート絶縁層を有するOTFTをそれぞれ製造した。
また同様に、実施例1において、ブロック共重合体としてBP−6C、BP−5F、BP−1Aを用いたOTFTそれぞれについて、これのモノマー成分の1つであるt−ブチルスチレンを構成成分とする下地層形成用共重合体Bとしての下記ランダム共重合体BRP−4でゲート絶縁層自体を形成して、下地層を兼ねるゲート絶縁層を有するOTFTをそれぞれ製造した。
なお、BRP−1、BRP−3及びBRP−4を用いたゲート絶縁層の形成に際しては、酸触媒としてジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート塩を塗布液中の固形分に対し1質量%の濃度で含有させ、塗布、成膜後に100℃で加熱して架橋構造を形成させた。
その結果、ゲート絶縁層を形成する有機高分子として、有機半導体層に用いるブロック共重合体を構成するすべてのモノマー成分と同じモノマー成分を構成成分として含有するランダム共重合体(下地層形成用共重合体A)を用いても、またブロック共重合体を構成するモノマー成分の1つと同じモノマー成分を構成成分とするランダム共重合体(下地層形成用共重合体B)を用いても、さらに架橋基含有モノマー成分を構成成分として含有するランダム共重合体を用いても、実施例1と同様の結果が得られた。
[トップゲート・トップコンタクト構造のOTFTの製造]
実施例8では、図1(D)に示すトップゲート・トップコンタクト構造のOTFTを製造し、その特性等を評価した。
ガラス基板(NECコーニング社製、OA10)を水で洗浄し、乾燥したものを基板6として用いた。
次いで、ポリメチルメタクリレートの酢酸ブチル溶液(濃度5w/v%)を、スピンコート法(回転数2400rpm)により塗布した後、60℃で10分間乾燥した。このようにして厚さ500nmの下地層7を成膜した。
調製した塗布液を、ぞれぞれ、下地層7上に、乾燥後の層厚が150nmとなるように、25℃でスピンコート法(回転数500rpm)により塗布した。その後、25℃(室温)で乾燥して、有機半導体及びブロック共重合体を含有する塗布層を成膜した。
次いで、塗布層を加熱処理しない場合(表2において「アニール温度」欄に「無し」と表記する)は、この塗布層を有機半導体層1とした。一方、塗布層を加熱処理する場合は、この塗布層を表1に示すアニール温度で30分間加熱し、有機半導体層1とした。
次いで、ポリ(4−ビニルフェノール)(日本曹達社製、商品名:VP−8000、Mn11000、分散度1.1)6.3gと、架橋剤として2,2−ビス(3,5−ジヒドロキシメチル−4−ヒドロキシ)プロパン2.7gとを、1−ブタノール/エタノール=1/1(体積比)の混合溶媒91gに室温で完全に溶解させた。この溶解液をφ0.2μmのポリテトラフルオロエチレン(PTFE)製メンブランフィルタでろ過した。得られたろ液に酸触媒としてジフェニルヨードニウムヘキサフルオロホスフェート塩0.18gを加え、有機半導体層1並びにソース電極3及びドレイン電極4上に塗布し、乾燥して成膜した。その後、100℃に加熱して架橋させて、厚さ0.7μmのゲート絶縁層2を形成した。
このようにして、図1(D)に示されるOTFTを、それぞれ、製造した。
製造した各OTFTの特性について、実施例1と同様にして、ブロック共重合体の相分離:厚さ方向、有機半導体の偏在:水平方向及び厚さ方向、結晶粒径、キャリア移動度μ、キャリア移動度μの維持率、On/Off比並びに閾値電圧Vthを評価した。なお、有機半導体の偏在評価は、下記順により、評価した。結果を表2に示す。
A:有機半導体層1の基板6と反対側表面(ゲート絶縁層2等との界面)の全面に有機半導体が偏在していた場合
B:有機半導体層1の基板6と反対側表面の一部に有機半導体が偏在していた場合
C:有機半導体層1の深さ方向(下地層7側)に有機半導体が偏在していた場合
D:有機半導体が偏在していなかった場合
これは、実施例8で用いたブロック共重合体が、PSブロックがゲート絶縁層2側にラメラ相分離しやすいためと、考えられる。加えて、下地層7をPMMAで成膜していることから、このラメラ相分離が助長されたためとも、考えられる。
特に、ブロック共重合体を相分離させると、特定のブロック共重合はもちろん、これ以外のブロック共重合体であっても、高性能の有機薄膜トランジスタが得られることがわかった。具体的には、特定のブロック共重合体を相分離させると、さらに高性能の有機薄膜トランジスタが得られ、特定のブロック共重合体以外のブロック共重合体であっても高性能の有機薄膜トランジスタが得られた。
1A ブロック共重合体の含有率が多い領域(ブロック共重合体からなる層)
1B 有機半導体の含有率が多い領域(有機半導体かならる層)
2 ゲート絶縁層
3 ソース電極
4 ドレイン電極
5 ゲート電極
6 基板
7 下地層
Claims (22)
- 基板上に、ゲート電極と、有機半導体層と、前記ゲート電極及び前記有機半導体層の間に設けられたゲート絶縁層と、前記有機半導体層に接して設けられ、前記有機半導体層を介して連結されたソース電極及びドレイン電極とを有する有機薄膜トランジスタであって、
前記有機半導体層が、有機半導体とブロック共重合体とを含有し、
前記ブロック共重合体が、スチレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体、スチレン−(メタ)アクリル酸ブロック共重合体、スチレン−ジアルキルシロキサンブロック共重合体、スチレン−アルキルアリールシロキサンブロック共重合体、スチレン−ジアリールシロキサンブロック共重合体、スチレン−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、(メタ)アクリル酸エステル−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、スチレン−ビニルピリジンブロック共重合体、スチレン−ヒドロキシスチレンブロック共重合体、スチレン−エチレンオキシドブロック共重合体、及び、ビニルナフタレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体から選択される少なくとも1種のブロック共重合体である有機薄膜トランジスタ。 - 基板上に、ゲート電極と、有機半導体層と、前記ゲート電極及び前記有機半導体層の間に設けられたゲート絶縁層と、前記有機半導体層に接して設けられ、前記有機半導体層を介して連結されたソース電極及びドレイン電極とを有する有機薄膜トランジスタであって、
前記有機半導体層が、有機半導体とブロック共重合体とを含有し、
前記ブロック共重合体が相分離している有機薄膜トランジスタ。 - 前記有機半導体が、前記ブロック共重合体の各ブロックが形成する相のうち親和性が高いブロックが形成する相、又は、該相とゲート絶縁層との間に、偏在している請求項2に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機半導体が、前記ゲート絶縁層側に偏在している請求項3に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機半導体が、低分子化合物である請求項1〜4のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機半導体が、縮合多環芳香族化合物である請求項1〜5のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機半導体が、下記一般式(C)〜(T)のいずれかで表される化合物である請求項1〜6のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
一般式(D)中、XD1及びXD2はNRD9、酸素原子又は硫黄原子を表す。AD1はCRD7又は窒素原子を表し、AD2はCRD8又は窒素原子を表し、RD9は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアシル基を表す。RD1〜RD8は水素原子又は置換基を表し、RD1〜RD8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(E)中、XE1及びXE2は酸素原子、硫黄原子又はNRE7を表す。AE1及びAE2はCRE8又は窒素原子を表す。RE1〜RE8は水素原子又は置換基を表し、RE1〜RE8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(F)中、XF1及びXF2は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。RF1〜RF10、RFa及びRFbは水素原子又は置換基を表し、RF1〜RF10、RFa及びRFbのうち少なくとも一つは一般式(W)で表される置換基である。p及びqは0〜2の整数を表す。
一般式(G)中、XG1及びXG2はNRG9、酸素原子又は硫黄原子を表す。AG1はCRG7又は窒素原子を表し、AG2はCRG8又は窒素原子を表す。RG9は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アシル基、アリール基又はヘテロアリール基を表し、RG1〜RG8は水素原子又は置換基を表し、RG1〜RG8のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(H)中、XH1〜XH4はNRH7、酸素原子又は硫黄原子を表し、RH7は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アシル基、アリール基又はヘテロアリール基を表す。RH1〜RH6は水素原子又は置換基を表し、RH1〜RH6のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(J)中、XJ1及びXJ2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRJ9を表す。XJ3及びXJ4は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。RJ1〜RJ9は水素原子又は置換基を表し、RJ1〜RJ9のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(K)中、XK1及びXK2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRK9を表す。XK3及びXK4は酸素原子、硫黄原子又はセレン原子を表す。RK1〜RK9は水素原子又は置換基を表し、RK1〜RK9のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(L)中、XL1及びXL2は酸素原子、硫黄原子又はNRL11を表す。RL1〜RL11は水素原子又は置換基を表し、RL1〜RL11のうち少なくとも1つが下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(M)中、XM1及びXM2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRM9を表す。RM1〜RM9は水素原子又は置換基を表し、RM1〜RM9のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(N)中、XN1及びXN2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRN13を表す。RN1〜RN13は水素原子又は置換基を表し、RN1〜RN13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(P)中、XP1及びXP2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRP13を表す。RP1〜RP13は水素原子又は置換基を表し、RP1〜RP13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(Q)中、XQ1及びXQ2は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRQ13を表す。RQ1〜RQ13は水素原子又は置換基を表し、RQ1〜RQ13のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(R)中、XR1、XR2及びXR3は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRR9を表す。RR1〜RR9は水素原子又は置換基を表し、RR1〜RR9のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(S)中、XS1、XS2、XS3及びXS4は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRS7を表す。RS1〜RS7は水素原子又は置換基を表し、RS1〜RS7のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(T)中、XT1、XT2、XT3及びXT4は酸素原子、硫黄原子、セレン原子又はNRT7を表す。RT1〜RT7は水素原子又は置換基を表し、RT1〜RT7のうち少なくとも1つは下記一般式(W)で表される置換基である。
一般式(W): −L−RW
一般式(W)中、Lは下記一般式(L−1)〜(L−25)のいずれかで表される2価の連結基又は2以上の下記一般式(L−1)〜(L−25)のいずれかで表される2価の連結基が結合した2価の連結基を表す。
RWは置換又は無置換のアルキル基、シアノ基、ビニル基、エチニル基、オキシエチレン基、オキシエチレン単位の繰り返し数vが2以上のオリゴオキシエチレン基、シロキサン基、ケイ素原子数が2以上のオリゴシロキサン基、あるいは、置換又は無置換のトリアルキルシリル基を表す。
一般式(L−13)におけるmは4を表し、一般式(L−14)及び(L−15)におけるmは3を表し、一般式(L−16)〜(L−20)におけるmは2を表し、(L−22)におけるmは6を表す。
一般式(L−1)、(L−2)、(L−6)及び(L−13)〜(L19)及び(L−21)〜(L−24)におけるR’はそれぞれ独立に水素原子又は置換基を表す。
RNは水素原子又は置換基を表し、Rsiはそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、アルケニル基又はアルキニル基を表す。 - 前記有機半導体が、前記一般式(C)、前記一般式(F)、前記一般式(J)又は前記一般式(L)のいずれかで表される化合物である請求項7に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記ブロック共重合体の分散度が、1.20未満である請求項1〜8のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記ブロック共重合体が、スチレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体、スチレン−ジアルキルシロキサンブロック共重合体、スチレン−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、(メタ)アクリル酸エステル−POSS置換アルキル(メタ)アクリレートブロック共重合体、スチレン−ビニルピリジンブロック共重合体、スチレン−ヒドロキシスチレンブロック共重合体及びビニルナフタレン−(メタ)アクリル酸エステルブロック共重合体から選択される少なくとも1種のブロック共重合体である請求項1〜9のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記一般式(II)で表される繰り返し単位からなるブロックが、下記一般式(II−1)、(II−2)及び(II−3)のいずれかで表される繰り返し単位からなるブロックである請求項11に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記一般式(I)で表される繰り返し単位のSP値と前記一般式(II)で表される繰り返し単位のSP値との差の絶対値が、0.5〜4.0MPa1/2である請求項11又は12に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記ブロック共重合体を構成するブロックが2種類である場合、該2種類の繰り返し単位のSP値の差の絶対値が、0.5〜4.0MPa1/2である請求項1〜10のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記ゲート絶縁層が、有機高分子で形成されている請求項1〜14のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機半導体層の、前記基板側に下地層を有する請求項1〜15のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記下地層が、前記ブロック共重合体を構成する少なくとも1つのモノマー成分と同じモノマー成分を構成成分として有する重合体Bを含有する請求項16に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記下地層が、前記ブロック共重合体を構成するすべてのモノマー成分と同じモノマー成分を構成成分として有するランダム共重合体Aを含有する請求項16に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記ランダム共重合体A及び前記重合体Bが、架橋基含有モノマー成分を構成成分として含有する請求項17又は18に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機薄膜トランジスタがボトムゲート構造であり、前記ゲート絶縁層が前記下地層を兼ねている請求項16〜19のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 請求項2〜20のいずれか1項に記載の有機薄膜トランジスタの製造方法であって、
前記有機半導体と前記ブロック共重合体とを含有する塗布液を、前記基板又は前記ゲート絶縁層上に塗布して成膜し、得られた膜を加熱して前記ブロック共重合体を相分離させる有機薄膜トランジスタの製造方法。 - 前記塗布により、前記有機半導体を偏在させる請求項21に記載の有機薄膜トランジスタの製造方法。
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