JP6103220B2 - マーキング装置、検査装置、及び電極製造方法 - Google Patents
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Description
まず、二次電池について説明する。
負極電極24の製造方法は、塗布工程と、前乾燥工程と、プレス工程と、検査工程と、乾燥工程と、打ち抜き工程と、を有する。
図3に示すように、検査装置70は、プレス工程後の電極材料30をV字状に屈曲させながら張力を付与する一対の第1テンションローラ64a,64bを備える。また、検査装置70は、V字状に屈曲した電極材料30の下端屈曲部K1を挟むように対向配置された第1の不良検出部71を備える。第1の不良検出部71は、電極材料30の下方において、第1の塗工部G1に対向配置された第1の光電センサ71aと、第1の光電センサ71aより下流側に配置されたLED等からなる第1の光源71bと、を有する。第1の光電センサ71a及び第1の光源71bは、負極用金属箔25の短手方向全体に亘って延びており、第1の塗工部G1の短手方向全体に対向している。第1の光電センサ71aは、第1の光源71bから照射されて第1の塗工部G1で反射又は散乱した光を受光し、その受光量の変化から、第1の塗工部G1に生じた不良部Kを検出可能である。
打ち抜き機構81は、電極材料30を長手方向に沿って等間隔おきに切断し、電極材料30の短冊体30aを形成するカット装置82を備える。また、打ち抜き機構81は、検査工程で露出部Mに付されたマークNを検出するマーク検出部83を備えるとともに、このマーク検出部83と信号接続された打ち抜き用制御部85を備える。マーク検出部83は、光電センサであり、投光部83aと受光部83bを有する。そして、マークNで反射して受光部83bに到達した光の量は、マークNの付されていない露出部Mで反射して受光部83bに到達した光の量と異なる。受光部83bは、光の量の変化を検出して電気信号に変換し、打ち抜き用制御部85に出力する。
検査工程で、第1の不良検出部71及び第2の不良検出部72で不良部Kが検出されると、不良部Kが移動してきたタイミングで、マーキング装置73によって露出部MにマークNが付され、マーキングが行われる。なお、正極電極21の製造時は、マーキングローラ77がマークNを付す位置は、電極材料30の搬送方向Xにおいて不良部Kを有する各塗工部G1,G2の直後に位置する露出部Mである。
(1)検査装置70は、マーキング装置73を備え、マーキング装置73のマーキング機構75は、マーキングローラ77によって露出部MにマークNを付すことができる。マークNは、露出部Mを凹凸状に変形させて形成されるため、乾燥工程で高温に曝されてもマークNが消失することがない。また、マークNの付された電極材料30が乾燥用巻取ロール39aに巻取られ、マークNに電極材料30が重ねられたり、マークNに電極材料30が擦れても、凹凸は無くならず、マークNを残したままとすることができる。したがって、マークNが電極の製造途中で消失することがない。その結果として、打ち抜き工程では、不良部Kのある短冊体30aを確実に識別することができる。
○ 図9に示すように、負極電極24を製造する場合、電極材料30の短手方向の中央から第1及び第2の塗工部G1,G2をカットし、両露出部Mから負極側未塗工部25d及び負極集電タブ32を形成するようにしてもよい。すなわち、電極材料30から負極電極24を二条取りしてもよい。この場合、検査装置70は、両露出部MにマークNを付すことができるように、一対のマーキング機構75を備える。そして、電極材料30の短手方向において、不良部Kの生じた塗工部G1,G2側の露出部MのみにマークNを付すようにしてもよい。
○ マーキング機構75は、マーキングローラ77によって露出部Mに凹凸を形成するタイプでなくてもよい。例えば、マーキング機構は、圧縮空気を露出部Mに向けて噴射可能な噴射装置であり、露出部Mに向けて圧縮空気を複数回噴射することで、露出部Mに凹凸を形成してもよい。
○ 二次電池10は電解液が必須ではなく、例えば、セパレータが高分子電解質で形成されていてもよい。
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想について以下に追記する。
Claims (4)
- 長尺帯状の金属箔の少なくとも一面に活物質の塗工部が形成されるとともに前記金属箔の短手方向の縁部を含む領域に前記金属箔の露出部が形成された電極材料に、前記露出部のうちの前記金属箔の短手方向の縁部を厚み方向に破断させずに凹凸状に変形させたマークを形成することを特徴とするマーキング装置。
- 搬送される前記金属箔に摺接しつつ回転するマーキングローラを有するとともに、前記マーキングローラと共に前記金属箔を挟む支持ローラを備え、前記マーキングローラの周面は、該マーキングローラの周方向に凹凸が連続する形状であり、前記マーキングローラは前記支持ローラと共に前記金属箔を挟持しつつ回転する挟持位置と、前記金属箔から離間した離脱位置とに移動可能である請求項1に記載のマーキング装置。
- 長尺帯状の金属箔の少なくとも一面に活物質の塗工部が形成されるとともに前記金属箔の短手方向の縁部を含む領域に前記金属箔の露出部が形成された電極材料を検査する検査装置であって、
前記塗工部の不良部を検出する不良検出部と、
前記不良検出部が前記不良部を検出すると、前記塗工部での前記不良部の位置を識別可能とするマークを前記露出部に付すマーキング装置と、を有し、
前記マーキング装置は、前記露出部のうちの前記金属箔の短手方向の縁部を厚み方向に破断させずに凹凸状に変形させたマークを形成することを特徴とする検査装置。 - 長尺帯状の金属箔の少なくとも一面に活物質の塗工部が形成されるとともに前記金属箔の短手方向の縁部を含む領域に前記金属箔の露出部が形成された電極材料を用いる電極製造方法であって、
前記塗工部の不良部を検出し、
前記不良部が検出されると、前記塗工部での前記不良部の位置を識別可能とするマークを前記露出部に付すマーキングを行う検査工程を有し、
前記マーキングは、前記露出部のうちの前記金属箔の短手方向の縁部を厚み方向に破断させずに凹凸状に変形させたマークを形成することを特徴とする電極製造方法。
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