JP6098277B2 - 評価支援装置、評価支援方法、および評価支援プログラム - Google Patents

Description

本発明は、評価支援装置、評価支援方法、および評価支援プログラムに関する。

従来、医学や衛生学の観点から薬剤製品や食物などに含まれる細菌の数を特定するために培地上で細菌を培養することが行われている。また、培地上で培養された細菌コロニーを検出して細菌コロニーの個数を自動計測する技術がある。

特表平０７−５００５０５号公報

しかしながら、上述した従来技術によれば、自動計測された計測結果を評価する場合に、評価者の評価作業にかかる負担が増大してしまう。例えば、評価者は、培地を目視して培地上の細菌コロニーの個数を計数し、計数した細菌コロニーの個数と自動計測された細菌コロニーの個数とを比較することにより、計測結果を評価することになる。

１つの側面では、本発明は、評価作業の効率化を図ることを目的とする。

本発明の一側面によれば、培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、取得した実測データ群の実測データと、取得した計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、実測データが実測データ群の中で計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、計測データが計測データ群の中で実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出し、検出結果を出力する評価支援装置、評価支援方法、および評価支援プログラムが提案される。

また、本発明の一側面によれば、培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、取得した計測データ群の中で、取得した実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定し、実測データ群の中で計測データを特定した実測データのうち、特定した計測データの数が最小である実測データを抽出し、実測データを抽出した場合に、抽出した実測データについて特定したいずれかの計測データを選択し、抽出した実測データと、選択した計測データと、の組み合わせを出力する評価支援装置、評価支援方法、および評価支援プログラムが提案される。

また、本発明の一側面によれば、培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、取得した実測データ群の中で、取得した計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定し、計測データ群の中で実測データを特定した計測データのうち、特定した実測データの数が最小である計測データを抽出し、計測データを抽出した場合に、抽出した計測データについて特定したいずれかの実測データを選択し、抽出した計測データと、選択した実測データと、の組み合わせを出力する評価支援装置、評価支援方法、および評価支援プログラムが提案される。

本発明の一態様によれば、評価作業の効率化を図ることができるという効果を奏する。

図１は、実施の形態にかかる評価支援装置１００による評価値算出の一実施例を示す説明図である。 図２は、評価支援装置１００のハードウェア構成例を示すブロック図である。 図３は、実施例１の評価支援装置１００の機能的構成を示すブロック図である。 図４は、実施例１の培地１０１を示す説明図である。 図５は、実施例１の実測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。 図６は、実施例１の自動計測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。 図７は、実施例１の実測データテーブル７００の記憶内容の一例を示す説明図である。 図８は、実施例１の計測データテーブル８００の記憶内容の一例を示す説明図である。 図９は、実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理の流れを示す説明図である。 図１０は、閾値の算出例を示す説明図である。 図１１は、実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例を示すフローチャートである。 図１２は、実施例２の評価支援装置１００の機能的構成を示すブロック図である。 図１３は、実施例２の実測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。 図１４は、実施例２の自動計測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。 図１５は、実施例２の実測データテーブル１５００の記憶内容の一例を示す説明図である。 図１６は、実施例２の計測データテーブル１６００の記憶内容の一例を示す説明図である。 図１７は、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理の流れを示す説明図である。 図１８は、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例を示すフローチャート（その１）である。 図１９は、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例を示すフローチャート（その２）である。

以下に添付図面を参照して、本発明にかかる評価支援装置、評価支援方法、および評価支援プログラムの実施の形態を詳細に説明する。

＜評価支援装置１００による評価値算出の一実施例＞
図１は、実施の形態にかかる評価支援装置１００による評価値算出の一実施例を示す説明図である。評価支援装置１００は、培地１０１上で培養された細菌コロニーの位置を計測する評価対象となる計測手段の評価支援を行うコンピュータである。

ここで、培地１０１とは、例えば、細菌を培養するため栄養素を含む固体または液体であって、化学薬品や天然物によって作成される固体または液体である。細菌コロニーとは、例えば、培地１０１上で培養された細菌が１箇所に集まってできた細菌の集合である。細菌コロニーの位置とは、例えば、培地１０１上の細菌コロニーの中心点である。

評価支援装置１００は、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって培地１０１上で培養された細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を有する。

ここで、実測データ群は、例えば、評価支援装置１００の利用者が、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を目視することにより得られたデータである。計測データ群は、例えば、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測する計測ツールにより得られたデータである。

図１において、評価支援装置１００は、各実測データＡ［１］〜Ａ［４］と各計測データＢ［１］〜Ｂ［３］とを組み合わせた組み合わせ群の中から、同一の細菌コロニーに関する組み合わせを検出する。以下の説明では、同一の細菌コロニーに関する組み合わせを「ペア」と表記する場合がある。評価支援装置１００によるペアの検出動作の詳細については後述する。

次に、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［４］の中でペアに含まれていない実測データを、計測ツールが計測漏れした実測データとして特定する。以下の説明では、計測ツールが計測漏れした実測データを「計測漏れデータ」と表記する場合がある。また、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の中でペアに含まれていない計測データを、計測ツールが誤って計測した計測データとして特定する。以下の説明では、計測ツールが誤って計測した計測データを「誤計測データ」と表記する場合がある。

そして、評価支援装置１００は、計測漏れデータの数や誤計測データの数を計数して、評価支援装置１００の利用者に通知することができる。これにより、評価支援装置１００の利用者は、通知された計測漏れデータの数や誤計測データの数を参照して、計測ツールを評価することができる。また、評価支援装置１００は、計測漏れデータの数や誤計測データの数を用いて計測ツールの評価値を算出して、評価支援装置１００の利用者に通知してもよい。これにより、評価支援装置１００の利用者は、計測ツールの評価値を把握することができる。

＜実施例１＞
まず、図２〜図１１を用いて、実施例１について説明する。実施例１では、実測データ群の各実測データと計測データ群の各計測データとを組み合わせた組み合わせ群の中から、所定条件を満たす実測データと計測データとの組み合わせを検出する。当該組み合わせは、当該実測データが実測データ群の中で当該計測データが示す位置に最も近い位置を示し、当該計測データが計測データ群の中で当該実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせである。

（評価支援装置１００のハードウェア構成例）
図２は、評価支援装置１００のハードウェア構成例を示すブロック図である。図２において、評価支援装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）２０３と、磁気ディスクドライブ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）２０４と、磁気ディスク２０５と、光ディスクドライブ２０６と、光ディスク２０７と、ディスプレイ２０８と、インターフェース（以下、「Ｉ／Ｆ」と略する。）２０９と、キーボード２１０と、マウス２１１と、スキャナ２１２と、プリンタ２１３と、を備えている。また、各構成部はバス２００によってそれぞれ接続されている。

ここで、ＣＰＵ２０１は、評価支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、ブートプログラムなどのプログラムを記憶している。ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。磁気ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって磁気ディスク２０５に対するデータのリード／ライトを制御する。磁気ディスク２０５は、磁気ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。

光ディスクドライブ２０６は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって光ディスク２０７に対するデータのリード／ライトを制御する。光ディスク２０７は、光ディスクドライブ２０６の制御で書き込まれたデータを記憶したり、光ディスク２０７に記憶されたデータをコンピュータに読み取らせたりする。

ディスプレイ２０８は、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、文書、画像、機能情報などのデータを表示する。このディスプレイ２０８は、例えば、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどを採用することができる。

Ｉ／Ｆ２０９は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワーク２１４に接続され、このネットワーク２１４を介して他の装置に接続される。そして、Ｉ／Ｆ２０９は、ネットワーク２１４と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。Ｉ／Ｆ２０９には、例えば、モデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。

キーボード２１０は、文字、数字、各種指示などの入力のためのキーを備え、データの入力を行う。また、タッチパネル式の入力パッドやテンキーなどであってもよい。マウス２１１は、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウィンドウの移動やサイズの変更などを行う。ポインティングデバイスとして同様に機能を備えるものであれば、トラックボールやジョイスティックなどであってもよい。

スキャナ２１２は、画像を光学的に読み取り、評価支援装置１００内に画像データを取り込む。なお、スキャナ２１２は、ＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｈａｒａｃｔｅｒ Ｒｅａｄｅｒ）機能を持たせてもよい。また、プリンタ２１３は、画像データや文書データを印刷する。プリンタ２１３には、例えば、レーザプリンタやインクジェットプリンタを採用することができる。なお、光ディスクドライブ２０６、光ディスク２０７、ディスプレイ２０８、キーボード２１０、マウス２１１、スキャナ２１２、およびプリンタ２１３の少なくともいずれか１つは、なくてもよい。

（実施例１の評価支援装置１００の機能的構成例）
次に、図３を用いて、実施例１の評価支援装置１００の機能的構成例について説明する。

図３は、実施例１の評価支援装置１００の機能的構成を示すブロック図である。評価支援装置１００は、取得部３０１と、特定部３０２と、判定部３０３と、検出部３０４と、計数部３０５と、算出部３０６と、出力部３０７と、を含む。取得部３０１と、特定部３０２と、判定部３０３と、検出部３０４と、計数部３０５と、算出部３０６と、出力部３０７とは、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０９により、その機能を実現する。

取得部３０１は、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する。ここで、評価対象となる計測手段とは、例えば、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測する計測ツールである。

取得部３０１は、例えば、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］と、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］と、を取得する。ここで、ｎは、実測データ群に含まれる実測データの数を示す自然数である。また、ｍは、計測データ群に含まれる計測データの数を示す自然数である。取得されたデータは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、特定部３０２は、取得部３０１によって取得された実測データ群と計測データ群とを比較することができる。

特定部３０２は、計測データ群の中で、実測データ群から選択された実測データが示す位置に最も近い位置を示す計測データを特定する。特定部３０２は、例えば、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］から実測データを順次選択する。以下の説明では、選択された実測データを「実測データＡ［ｉ］」と表記する場合がある。ここで、ｉは、１〜ｎのいずれかの自然数である。次に、特定部３０２は、実測データＡ［ｉ］が選択される都度、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中で、実測データＡ［ｉ］が示す位置に最も近い位置を示す計測データを特定する。以下の説明では、特定された計測データを「計測データＢ［ｊ］」と表記する場合がある。ここで、ｊは、１〜ｍのいずれかの自然数である。

また、特定部３０２は、例えば、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］から実測データＡ［ｉ］が選択される都度、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中で、実測データＡ［ｉ］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［ｊ］を特定してもよい。ここで、所定範囲は、例えば、培地１０１上に細菌コロニーが一様に分散しているとした場合の細菌コロニー間の距離であってもよいし、培地１０１上の実際の細菌コロニー間の距離の平均値であってもよい。特定されたデータは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、特定部３０２は、ペアになりうる実測データＡ［ｉ］と計測データＢ［ｊ］との組み合わせを特定することができる。以下の説明では、ペアになりうる実測データＡ［ｉ］と計測データＢ［ｊ］との組み合わせを「ペア候補」と表記する場合がある。

判定部３０３は、実測データＡ［ｉ］と、計測データＢ［ｊ］と、の組み合わせについて、実測データＡ［ｉ］が実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中で計測データＢ［ｊ］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。判定部３０３は、例えば、特定部３０２によってペア候補が特定される都度、ペア候補に含まれる実測データＡ［ｉ］が実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中でペア候補に含まれる計測データＢ［ｊ］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。判定結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、検出部３０４は、判定部３０３によって最も近い位置を示すと判定された場合のペア候補をペアに決定して検出することができる。

検出部３０４は、実測データＡ［ｉ］が実測データ群の中で計測データＢ［ｊ］が示す位置に最も近い位置を示し、かつ、計測データＢ［ｊ］が計測データ群の中で実測データＡ［ｉ］が示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出する。検出部３０４は、例えば、判定部３０３によって最も近い位置を示すと判定された場合に、組み合わせを検出する。検出された組み合わせは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、検出部３０４は、ペアを検出することができる。

計数部３０５は、実測データ群から順次選択された実測データと、特定部３０２によって特定された計測データと、の組み合わせ群の中で、検出部３０４によって検出された組み合わせの数を計数する。計数部３０５は、例えば、検出部３０４によって検出されたペアの数を計数する。計数結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、計数部３０５は、計測ツールによって正しく細菌コロニーの位置が計測された計測データの数を計数することができる。

算出部３０６は、実測データ群の実測データの数と、計数部３０５によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の中で計測手段によって位置が計測されなかった細菌コロニーの数を算出する。算出部３０６は、例えば、実測データの数ｎからペアの数を減算することにより計測漏れデータの数を算出する。また、算出部３０６は、計測データ群の計測データの数と、計数部３０５によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、計測手段によって誤って計測された計測データの数を算出してもよい。算出部３０６は、例えば、計測データの数ｍからペアの数を減算することにより誤計測データの数を算出する。

また、算出部３０６は、実測データ群に対する計測漏れデータの割合を算出してもよい。算出部３０６は、例えば、実測データの数で計測漏れデータの数を除算することにより割合を算出する。また、算出部３０６は、計測データ群に対する誤計測データの割合を算出してもよい。算出部３０６は、例えば、計測データの数で誤計測データの数を除算することにより割合を算出する。算出結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、算出部３０６は、計測ツールの評価値を算出することができる。

出力部３０７は、検出部３０４による検出結果を出力する。また、出力部３０７は、算出部３０６による算出結果を出力してもよい。また、出力部３０７は、検出部３０４によって検出された組み合わせに含まれる実測データを、実測データ群から除いた残余の実測データを出力してもよい。また、出力部３０７は、検出部３０４によって検出された組み合わせに含まれる計測データを、計測データ群から除いた残余の計測データを出力してもよい。

出力形式としては、例えば、ディスプレイ２０８への表示、プリンタ２１３への印刷出力、Ｉ／Ｆ２０９による外部装置への送信がある。また、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶することとしてもよい。これにより、出力部３０７は、評価支援装置１００の利用者が計測ツールの評価に使用するデータを評価支援装置１００の利用者に通知することができる。

ここでは、特定部３０２によって実測データが選択される場合について説明したが、これに限らない。例えば、特定部３０２は、計測データを選択してもよい。ここで、特定部３０２が計測データを選択する場合の特定部３０２と判定部３０３と検出部３０４との動作について説明する。また、特定部３０２が計測データを選択する場合の取得部３０１と計数部３０５と算出部３０６と出力部３０７の動作は、特定部３０２が実測データを選択する場合と同様のため説明を省略する。

この場合、特定部３０２は、実測データ群の中で、計測データ群から選択された計測データが示す位置に最も近い位置を示す実測データを特定する。特定部３０２は、例えば、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］から計測データＢ［ｊ］を順次選択する。次に、特定部３０２は、計測データＢ［ｊ］が選択される都度、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中で、計測データＢ［ｊ］が示す位置に最も近い位置を示す実測データを特定する。また、特定部３０２は、計測データＢ［ｊ］が選択される都度、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中で、計測データＢ［ｊ］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す実測データを特定してもよい。

判定部３０３は、計測データ群から選択された計測データＢ［ｊ］と特定部３０２によって特定された実測データＡ［ｉ］との組み合わせについて、計測データＢ［ｊ］が計測データ群の中で実測データＡ［ｉ］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。検出部３０４は、判定部３０３によって最も近い位置を示すと判定された場合に、計測データ群から選択された計測データＢ［ｊ］と、特定部３０２によって特定された実測データＡ［ｉ］と、の組み合わせを検出する。

（実施例１の培地１０１）
次に、図４を用いて、実施例１の培地１０１について説明する。

図４は、実施例１の培地１０１を示す説明図である。図４に示す培地１０１は、細菌を培養した結果として７個の細菌コロニーＣを有する培地１０１である。評価支援装置１００は、評価支援装置１００の利用者によって実測された培地１０１上の各細菌コロニーＣの位置を示す実測データ群と、計測ツールによって自動計測された培地１０１上の各細菌コロニーＣの位置を示す計測データ群と、を取得する。

（実施例１の実測された細菌コロニーＣの位置）
次に、図５を用いて、実施例１の実測された細菌コロニーＣの位置について説明する。

図５は、実施例１の実測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。実施例１では、図５に示すように、図４の培地１０１上から７個の細菌コロニーＣが検出され、各細菌コロニーＣの位置を示す実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］が実測される。実測データは、例えば、細菌コロニーＣの中心点のｘ軸とｙ軸との座標値を示す。図５では、横軸がｘ軸であって、縦軸がｙ軸である。

（実施例１の自動計測された細菌コロニーＣの位置）
次に、図６を用いて、実施例１の自動計測された細菌コロニーＣの位置について説明する。

図６は、実施例１の自動計測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。実施例１では、図６に示すように、図４の培地１０１上から７個の細菌コロニーＣが検出され、各細菌コロニーＣの位置を示す計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］が自動計測される。計測データは、例えば、細菌コロニーＣの中心点のｘ軸とｙ軸との座標値を示す。図６では、横軸がｘ軸であって、縦軸がｙ軸である。

ここで、自動計測された計測データの数は、実測された実測データの数と一致している。しかしながら、計測データ群の中には、誤計測データが含まれている。誤計測データは、例えば、実測データが示す位置から離れた位置を示す計測データＢ［１］、Ｂ［５］である。また、実測データ群の中には、計測漏れデータが含まれている。計測漏れデータは、例えば、実測データ群の実測データであって、当該実測データが示す位置の近傍の位置を示す計測データが存在しない実測データＡ［２］、Ａ［５］である。

（実施例１の実測データテーブル７００の記憶内容）
次に、図７を用いて、図５に示した実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の各実測データを格納する実測データテーブル７００について説明する。

図７は、実施例１の実測データテーブル７００の記憶内容の一例を示す説明図である。図７に示すように、実測データテーブル７００は、ｉｎｄｅｘ項目と、座標値項目と、を有し、実測データのｉｎｄｅｘごとに各項目の値がレコードとして記憶される。

ｉｎｄｅｘ項目には、実測データの識別子が記憶される。実測データＡ［１］の識別子は「Ａ［１］」である。座標値項目には、細菌コロニーＣの位置を示す座標値が記憶される。実測データＡ［１］が示す座標値は（ｘ、ｙ）＝（２４，９０）である。

（実施例１の計測データテーブル８００の記憶内容）
次に、図８を用いて、図６に示した計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］の各計測データを格納する計測データテーブル８００について説明する。

図８は、実施例１の計測データテーブル８００の記憶内容の一例を示す説明図である。図８に示すように、計測データテーブル８００は、ｉｎｄｅｘ項目と、座標値項目と、を有し、計測データのｉｎｄｅｘごとに各項目の値がレコードとして記憶される。

ｉｎｄｅｘ項目には、計測データの識別子が記憶される。計測データＢ［１］の識別子は「Ｂ［１］」である。座標値項目には、細菌コロニーＣの位置を示す座標値が記憶される。計測データＢ［１］が示す座標値は（ｘ、ｙ）＝（１６，４０）である。

（実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理の流れ）
次に、図９を用いて、実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理の流れについて説明する。

図９は、実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理の流れを示す説明図である。図９において、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から実測データを順次選択し、選択した実測データを含むペアを検出する。

（１）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から、実測データＡ［１］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［１］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］の中で、実測データＡ［１］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［２］を特定する。所定範囲とは、例えば、閾値１０ｍｍ（ｍｉｌｌｉｍｅｔｅｒ）以内の範囲である。

次に、評価支援装置１００は、計測データＢ［２］が示す位置から実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の各実測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中で、実測データＡ［１］が、計測データＢ［２］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。

ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［１］が、計測データＢ［２］が示す位置から最も近い位置を示すため、実測データＡ［１］と計測データＢ［２］との組み合わせをペアとして検出する。評価支援装置１００は、検出したペアをペア情報テーブルに格納し、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から実測データＡ［１］を削除し、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］の中から計測データＢ［２］を削除する。

ペア情報テーブルは、ペアＩＤ項目と、Ａ項目と、Ｂ項目と、距離項目と、を有し、検出したペアごとに各項目の値がレコードとして記憶される。ペアＩＤ項目には、検出したペアのＩＤが記憶される。Ａ項目には、検出したペアに含まれる実測データの識別子が記憶される。Ｂ項目には、検出したペアに含まれる計測データの識別子が記憶される。距離項目には、検出したペアに含まれる実測データが示す位置と計測データが示す位置との距離が記憶される。

（２）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］〜Ａ［７］の中から、実測データＡ［２］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［２］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［３］〜Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［３］〜Ｂ［７］の中で、実測データＡ［２］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データが存在しないため、実測データＡ［２］を含むペアが存在しないと判定する。

（３）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］〜Ａ［７］の中から、実測データＡ［３］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［３］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［３］〜Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［３］〜Ｂ［７］の中で、実測データＡ［３］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［３］を特定する。

次に、評価支援装置１００は、計測データＢ［３］が示す位置から実測データ群Ａ［２］〜Ａ［７］の各実測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］〜Ａ［７］の中で、実測データＡ［３］が、計測データＢ［３］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。

ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［３］が、計測データＢ［３］が示す位置に最も近い位置を示すため、実測データＡ［３］と計測データＢ［３］との組み合わせをペアとして検出する。評価支援装置１００は、検出したペアをペア情報テーブルに格納し、実測データ群Ａ［２］〜Ａ［７］の中から実測データＡ［３］を削除し、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［３］〜Ｂ［７］の中から計測データＢ［３］を削除する。

（４）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［４］〜Ａ［７］の中から、実測データＡ［４］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［４］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［４］〜Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［４］〜Ｂ［７］の中で、実測データＡ［４］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［４］を特定する。

次に、評価支援装置１００は、計測データＢ［４］が示す位置から実測データ群Ａ［２］、Ａ［４］〜Ａ［７］の各実測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［４］〜Ａ［７］の中で、実測データＡ［４］が、計測データＢ［４］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。

ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［４］が、計測データＢ［４］が示す位置に最も近い位置を示すため、実測データＡ［４］と計測データＢ［４］との組み合わせをペアとして検出する。評価支援装置１００は、検出したペアをペア情報テーブルに格納し、実測データ群Ａ［２］、Ａ［４］〜Ａ［７］の中から実測データＡ［４］を削除し、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［４］〜Ｂ［７］の中から計測データＢ［４］を削除する。

（５）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の中から、実測データＡ［５］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［５］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］〜Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］〜Ｂ［７］の中で、実測データＡ［５］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［６］を特定する。

次に、評価支援装置１００は、計測データＢ［６］が示す位置から実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の各実測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の中で、実測データＡ［５］が、計測データＢ［６］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［５］が、計測データＢ［６］が示す位置に最も近い位置を示さないため、実測データＡ［５］を含むペアが存在しないと判定する。

（６）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の中から、実測データＡ［６］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［６］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］〜Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］〜Ｂ［７］の中で、実測データＡ［６］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［６］を特定する。

次に、評価支援装置１００は、計測データＢ［６］が示す位置から実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の各実測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の中で、実測データＡ［６］が、計測データＢ［６］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。

ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［６］が、計測データＢ［６］が示す位置に最も近い位置を示すため、実測データＡ［６］と計測データＢ［６］との組み合わせをペアとして検出する。評価支援装置１００は、検出したペアをペア情報テーブルに格納し、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］〜Ａ［７］の中から実測データＡ［６］を削除し、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］〜Ｂ［７］の中から計測データＢ［６］を削除する。

（７）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］、Ａ［７］の中から、実測データＡ［７］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［７］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］、Ｂ［７］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］、Ｂ［７］の中で、実測データＡ［７］が示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データＢ［７］を特定する。

次に、評価支援装置１００は、計測データＢ［７］が示す位置から実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］、Ａ［７］の各実測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］、Ａ［７］の中で、実測データＡ［７］が、計測データＢ［７］が示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する。

ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［７］が、計測データＢ［７］が示す位置に最も近い位置を示すため、実測データＡ［７］と計測データＢ［７］との組み合わせをペアとして検出する。評価支援装置１００は、検出したペアをペア情報テーブルに格納し、実測データ群Ａ［２］、Ａ［５］、Ａ［７］の中から実測データＡ［７］を削除し、計測データ群Ｂ［１］、Ｂ［５］、Ｂ［７］の中から計測データＢ［７］を削除する。このようにして、評価支援装置１００は、５個のペアを検出する。

（８）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中でペアとして検出されなかった実測データＡ［２］、Ａ［５］を、計測漏れデータとして特定する。また、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］の中でペアとして検出されなかった計測データＢ［１］、Ｂ［５］を、誤計測データとして特定する。

そして、評価支援装置１００は、特定した計測漏れデータの数と誤計測データの数とを用いて、計測ツールの評価値を算出して出力する。評価値とは、例えば、再現率（検出率）と適合率（検出精度）とである。再現率とは、計測漏れの少なさの指標となる評価値である。適合率とは、誤計測の少なさの指標となる評価値である。ここで、検出されたペアの数を「ＴＰ」、計測漏れデータの数を「ＦＮ」、誤計測データの数を「ＦＰ」とした場合、再現率はＴＰ／（ＴＰ＋ＦＮ）により算出することができ、適合率はＴＰ／（ＴＰ＋ＦＰ）により算出することができる。

また、評価支援装置１００は、再現率と適合率とを用いて算出される総合的な評価値であるＦ値を算出して出力してもよい。再現率を「ｒｅｃａｌｌ」、適合率を「ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ」とした場合、Ｆ値は（２×ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ×ｒｅｃａｌｌ）／（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ＋ｒｅｃａｌｌ）により算出することができる。

また、評価支援装置１００は、ペア情報テーブルのレコードを出力してもよい。これにより、評価支援装置１００の利用者は、計測ツールが計測に成功した場合の誤差を把握することができる。また、評価支援装置１００は、特定した計測漏れデータと誤計測データとを出力してもよい。これにより、評価支援装置１００の利用者は、評価支援装置１００から出力された評価値を参照して、計測ツールを評価することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、評価支援装置１００から出力された計測漏れデータと誤計測データを参照して、計測ツールが計測漏れする条件や計測ツールが誤計測する条件を把握したりすることができる。

ここでは、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から実測データを順次選択し、選択した実測データを含むペア候補の中からペアを検出したが、これに限らない。例えば、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［７］の中から計測データを順次選択し、選択した計測データを含むペア候補の中からペアを検出してもよい。この場合の評価支援装置１００の処理は、上述した処理における実測データと計測データとを入れ替えた処理であるため説明を省略する。

また、ここでは、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から実測データを識別子の昇順に選択し、選択した実測データを含むペア候補の中からペアを検出したが、これに限らない。例えば、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から実測データを識別子の降順に選択し、選択した実測データを含むペア候補の中からペアを検出してもよい。また、例えば、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［７］の中から実測データをランダムに選択し、選択した実測データを含むペア候補の中からペアを検出してもよい。

また、評価支援装置１００は、実測データの複数の選択順序で選択し、各選択順序に応じたペアを検出してもよい。この場合、各選択順序に応じたペア情報テーブルが作成される。ここで、評価支援装置１００は、各ペア情報テーブルの中から、最も尤もらしいペア情報テーブルを特定してもよい。

評価支援装置１００は、例えば、ペア情報テーブルの距離項目の合計値が最小のペア情報テーブルを、最も尤もらしいペア情報テーブルに特定する。また、評価支援装置１００は、例えば、ペア情報テーブルの距離項目の合計値をペアの数で除算した値が最小のペア情報テーブルを、最も尤もらしいペア情報テーブルに特定する。また、評価支援装置１００は、例えば、ペア情報テーブルの距離項目の最大値が最小のペア情報テーブルを、最も尤もらしいペア情報テーブルに特定する。そして、評価支援装置１００は、特定したペア情報テーブルに基づいて、評価値を算出して出力する。

（閾値の算出例）
次に、図１０を用いて、閾値の算出例について説明する。図９の所定範囲を規定する閾値は、例えば、図１０に示すように算出することができる。

図１０は、閾値の算出例を示す説明図である。図１０では、評価支援装置１００は、細菌コロニーＣが培地１０１上に一様に存在している場合における細菌コロニーＣ間の距離を閾値として算出する。評価支援装置１００は、例えば、培地１０１の面積を細菌コロニーＣの数で除算することにより、１個当たりの細菌コロニーＣの面積を算出し、１個当たりの細菌コロニーＣの面積から細菌コロニーＣ間の距離を算出する。

培地１０１の面積を「Ｓｓｃｈａｌｅ」、細菌コロニー群の細菌コロニーＣの数を「ｎ」、１個当たりの細菌コロニーＣの面積を「Ｓｃｏｌｏｎｙ」とした場合、Ｓｃｏｌｏｎｙ＝Ｓｓｃｈａｌｅ／ｎとなる。また、１個当たりの細菌コロニーＣの占める領域を正六角形で近似し、細菌コロニーＣ間の距離を「ｄ」とした場合、Ｓｃｏｌｏｎｙ＝（√３／２）×ｄ＾２となる。したがって、ｄは√｛（２／√３）×（Ｓｓｃｈａｌｅ／ｎ）｝により算出することができる。また、評価支援装置１００は、実測データＡ［１］〜Ａ［ｎ］を用いて閾値を算出してもよい。評価支援装置１００は、例えば、各実測データ間の距離の中の最小値を閾値として算出する。

（実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理手順）
次に、図１１を用いて、実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例について説明する。

図１１は、実施例１の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例を示すフローチャートである。図１１において、評価支援装置１００は、変数ｉを１に設定する（ステップＳ１１０１）。次に、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中から実測データＡ［ｉ］が示す位置に最も近い位置を示す計測データＢ［ｊ］を特定する（ステップＳ１１０２）。

そして、評価支援装置１００は、実測データＡ［ｉ］が示す位置と計測データＢ［ｊ］が示す位置との距離が閾値より小さいか否かを判定する（ステップＳ１１０３）。ここで、閾値以上である場合（ステップＳ１１０３：Ｎｏ）、評価支援装置１００は、ステップＳ１１０７の処理に移行する。

一方、閾値より小さい場合（ステップＳ１１０３：Ｙｅｓ）、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中から計測データＢ［ｊ］が示す位置に最も近い位置を示す実測データＡ［ｋ］を特定する（ステップＳ１１０４）。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［ｉ］と実測データＡ［ｋ］が一致したか否かを判定する（ステップＳ１１０５）。ここで、一致していない場合（ステップＳ１１０５：Ｎｏ）、評価支援装置１００は、ステップＳ１１０７の処理に移行する。

一方、一致した場合（ステップＳ１１０５：Ｙｅｓ）、評価支援装置１００は、実測データＡ［ｉ］と計測データＢ［ｊ］との組み合わせをペアとして検出する。また、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中から実測データＡ［ｉ］を削除し、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中から計測データＢ［ｊ］を削除し（ステップＳ１１０６）、ステップＳ１１０７の処理に移行する。

ステップＳ１１０７において、評価支援装置１００は、変数ｉに１を加算する（ステップＳ１１０７）。次に、評価支援装置１００は、変数ｉがｎ以上であるか否かを判定する（ステップＳ１１０８）。ここで、ｎより小さい場合（ステップＳ１１０８：Ｎｏ）、評価支援装置１００は、ステップＳ１１０２の処理に戻る。

一方、ｎ以上である場合（ステップＳ１１０８：Ｙｅｓ）、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中で残った実測データを計測漏れデータとして計数する（ステップＳ１１０９）。次に、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中で残った計測データを誤計測データとして計数する（ステップＳ１１１０）。

そして、評価支援装置１００は、ステップＳ１１０９において計数した計測漏れデータの数と、ステップＳ１１１０において計数した誤計測データの数と、を用いて、計測ツールの評価値を算出して出力し（ステップＳ１１１１）、評価支援処理を終了する。これにより、評価支援装置１００は、計測ツールの評価値を評価支援装置１００の利用者に通知することができる。

＜実施例２＞
次に、図１２〜図１９を用いて、実施例２について説明する。実施例２では、評価支援装置１００は、実測データと計測データとの組み合わせであって、当該実測データが示す位置と当該計測データが示す位置との距離が所定範囲内にある組み合わせを検出する。

（評価支援装置１００のハードウェア構成例）
評価支援装置１００のハードウェア構成例は、図２と同様のため説明を省略する。

（実施例２の評価支援装置１００の機能的構成例）
次に、図１２を用いて、実施例２の評価支援装置１００の機能的構成例について説明する。

図１２は、実施例２の評価支援装置１００の機能的構成を示すブロック図である。評価支援装置１００は、取得部１２０１と、特定部１２０２と、抽出部１２０３と、選択部１２０４と、計数部１２０５と、算出部１２０６と、出力部１２０７と、を含む。取得部１２０１と、特定部１２０２と、抽出部１２０３と、選択部１２０４と、計数部１２０５と、算出部１２０６と、出力部１２０７とは、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０９により、その機能を実現する。

取得部１２０１は、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーＣの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーＣの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する。ここで、評価対象となる計測手段とは、例えば、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーＣの位置を計測する計測ツールである。

取得部１２０１は、例えば、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］と、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］と、を取得する。ここで、ｎは、実測データ群に含まれる実測データの数を示す自然数である。また、ｍは、計測データ群に含まれる計測データの数を示す自然数である。取得されたデータは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、特定部１２０２は、取得部１２０１によって取得された実測データ群と計測データ群とを比較することができる。

特定部１２０２は、取得部１２０１によって取得された計測データ群の中で、取得部１２０１によって取得された実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定する。特定部１２０２は、例えば、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］から実測データを順次選択する。以下の説明では、選択された実測データを「実測データＡ［ｉ］」と表記する場合がある。ここで、ｉは、１〜ｎのいずれかの自然数である。次に、特定部１２０２は、実測データＡ［ｉ］が選択される都度、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中で、実測データＡ［ｉ］が示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定する。以下の説明では、特定された計測データを「計測データＢ［ｊ］」と表記する場合がある。ここで、ｊは、１〜ｍのいずれかの自然数である。

特定されたデータは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、特定部１２０２は、ペアになりうる実測データＡ［ｉ］と計測データＢ［ｊ］との組み合わせの集合を特定することができる。以下の説明では、ペアになりうる実測データＡ［ｉ］と計測データＢ［ｊ］との組み合わせを「ペア候補」と表記する場合がある。

抽出部１２０３は、実測データ群の中で特定部１２０２によって計測データが特定された実測データのうち、特定部１２０２によって特定された計測データの数が最小である実測データを抽出する。抽出部１２０３は、例えば、特定部１２０２によってペア候補が特定された実測データであって、特定されたペア候補の数が最も少ない実測データを抽出する。

また、抽出部１２０３は、実測データ群の中で特定部１２０２によって計測データが特定された実測データのうち、特定部１２０２によって特定された計測データの数が最小である未抽出の実測データを抽出する。抽出部１２０３は、例えば、後述する選択部１２０４によってペア候補が削除された場合に、ペア候補が特定された実測データであって、削除により残ったペア候補の数が最も少ない実測データを抽出する。抽出されたデータは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、抽出部１２０３は、ペア候補を抽出することができる。

選択部１２０４は、抽出部１２０３によって抽出された実測データについて特定部１２０２によって特定された計測データのうち、いずれかの計測データを選択する。選択部１２０４は、例えば、抽出部１２０３によって抽出された実測データを含むペア候補の中から、いずれかのペア候補を選択する。ここで、選択部１２０４は、選択したペア候補に含まれる実測データと計測データとを含む他のペア候補を、特定部１２０２によって特定されたペア候補の集合の中から削除する。

選択部１２０４は、抽出部１２０３によって抽出された実測データについて特定部１２０２によって特定された計測データのうち、実測データの示す位置に最も近い位置を示す計測データを選択してもよい。選択部１２０４は、例えば、抽出部１２０３によって抽出された実測データを含むペア候補の中から、ペア候補に含まれる実測データが示す位置と計測データが示す位置とが最も近いペア候補を選択する。ここで、選択部１２０４は、選択したペア候補に含まれる実測データと計測データとを含む他のペア候補を、特定部１２０２によって特定されたペア候補の集合の中から削除する。

選択部１２０４は、抽出部１２０３によって抽出された実測データについて特定部１２０２によって特定された計測データのうち、未選択のいずれかの計測データを選択する。選択部１２０４は、例えば、削除により残ったペア候補の中から、抽出部１２０３によって抽出された実測データを含むいずれかのペア候補を選択する。選択されたデータは、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、選択部１２０４は、ペアを決定することができる。

計数部１２０５は、選択部１２０４によって選択されたペアの数を計数する。計数結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、計数部１２０５は、計測ツールによって正しく細菌コロニーＣの位置が計測された計測データの数を計数することができる。

算出部１２０６は、実測データ群の実測データの数と、計数部１２０５によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、培地１０１上で培養された細菌コロニー群の中で計測手段によって位置が計測されなかった細菌コロニーＣの数を算出する。算出部１２０６は、例えば、実測データの数ｎからペアの数を減算することにより計測漏れデータの数を算出する。また、算出部１２０６は、計測データ群の計測データの数と、計数部１２０５によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、計測手段によって誤って計測された計測データの数を算出してもよい。算出部１２０６は、例えば、計測データの数ｍからペアの数を減算することにより誤計測データの数を算出する。

また、算出部１２０６は、実測データ群に対する計測漏れデータの割合を算出してもよい。算出部１２０６は、例えば、実測データの数で計測漏れデータの数を除算することにより割合を算出する。また、算出部１２０６は、計測データ群に対する誤計測データの割合を算出してもよい。算出部１２０６は、例えば、計測データの数で誤計測データの数を除算することにより割合を算出する。算出結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶される。これにより、算出部１２０６は、計測ツールの評価値を算出することができる。

出力部１２０７は、抽出部１２０３によって抽出された実測データと、選択部１２０４によって選択された計測データと、の組み合わせを出力する。出力部１２０７は、例えば、選択部１２０４によって選択されたペア候補をペアとして出力する。また、出力部１２０７は、算出部１２０６による算出結果を出力してもよい。また、出力部１２０７は、選択部１２０４によって選択されたペア候補に含まれる実測データを、実測データ群から除いた残余の実測データを出力してもよい。また、出力部１２０７は、選択部１２０４によって選択されたペア候補に含まれる計測データを、計測データ群から除いた残余の計測データを出力してもよい。

出力形式としては、例えば、ディスプレイ２０８への表示、プリンタ２１３への印刷出力、Ｉ／Ｆ２０９による外部装置への送信がある。また、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶することとしてもよい。これにより、出力部１２０７は、評価支援装置１００の利用者が計測ツールの評価に使用するデータを評価支援装置１００の利用者に通知することができる。

ここでは、特定部１２０２によって実測データが選択される場合について説明したが、これに限らない。例えば、特定部１２０２は、計測データを選択してもよい。ここで、特定部１２０２が計測データを選択する場合の特定部１２０２と抽出部１２０３と選択部１２０４と出力部１２０７との動作について説明する。また、特定部１２０２が計測データを選択する場合の取得部１２０１と計数部１２０５と算出部１２０６の動作は、特定部１２０２が実測データを選択する場合と同様のため説明を省略する。

この場合、特定部１２０２は、取得部１２０１によって取得された実測データ群の中で、取得部１２０１によって取得された計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定する。特定部１２０２は、例えば、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］から計測データＢ［ｊ］を順次選択する。次に、特定部１２０２は、計測データＢ［ｊ］が選択される都度、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中で、計測データＢ［ｊ］が示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定する。

抽出部１２０３は、計測データ群の中で特定部１２０２によって実測データが特定された計測データのうち、特定部１２０２によって特定された実測データの数が最小である計測データを抽出する。抽出部１２０３は、例えば、特定部１２０２によってペア候補が特定された計測データであって、特定されたペア候補の数が最も少ない計測データを抽出する。

また、抽出部１２０３は、計測データ群の中で特定部１２０２によって実測データが特定された計測データのうち、特定部１２０２によって特定された実測データの数が最小である未抽出の計測データを抽出する。抽出部１２０３は、例えば、後述する選択部１２０４によってペア候補が削除された場合に、ペア候補が特定された計測データであって、削除により残ったペア候補の数が最も少ない計測データを抽出する。

選択部１２０４は、抽出部１２０３によって計測データが抽出された場合に、抽出部１２０３によって抽出された計測データについて特定部１２０２によって特定されたいずれかの実測データを選択する。選択部１２０４は、例えば、抽出部１２０３によって抽出された計測データを含むペア候補の中から、いずれかのペア候補を選択する。ここで、選択部１２０４は、選択したペア候補に含まれる実測データと計測データとを含む他のペア候補を、特定部１２０２によって特定されたペア候補の集合の中から削除する。

選択部１２０４は、抽出部１２０３によって抽出された計測データについて特定部１２０２によって特定された実測データのうち、計測データの示す位置に最も近い位置を示す実測データを選択してもよい。選択部１２０４は、例えば、抽出部１２０３によって抽出された計測データを含むペア候補の中から、ペア候補に含まれる実測データが示す位置と計測データが示す位置とが最も近いペア候補を選択する。ここで、選択部１２０４は、選択したペア候補に含まれる実測データと計測データとを含む他のペア候補を、特定部１２０２によって特定されたペア候補の集合の中から削除する。

選択部１２０４は、抽出部１２０３によって抽出された計測データについて特定部１２０２によって特定された実測データのうち、未選択のいずれかの実測データを選択する。選択部１２０４は、例えば、削除により残ったペア候補の中から、抽出部１２０３によって抽出された計測データを含むいずれかのペア候補を選択する。

出力部１２０７は、抽出部１２０３によって抽出された計測データと、選択部１２０４によって選択された実測データと、の組み合わせを出力する。出力部１２０７は、例えば、選択部１２０４によって選択されたペア候補をペアとして出力する。また、出力部１２０７は、算出部１２０６による算出結果を出力してもよい。また、出力部１２０７は、選択部１２０４によって選択されたペア候補に含まれる実測データを、実測データ群から除いた残余の実測データを出力してもよい。また、出力部１２０７は、選択部１２０４によって選択されたペア候補に含まれる計測データを、計測データ群から除いた残余の計測データを出力してもよい。

（実施例２の実測された細菌コロニーＣの位置）
次に、図１３を用いて、実施例２の実測された細菌コロニーＣの位置について説明する。

図１３は、実施例２の実測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。実施例２では、図１３に示すように、培地１０１上から３個の細菌コロニーＣが検出され、各細菌コロニーＣの位置を示す実測データＡ［１］〜Ａ［３］が実測される。実測データは、例えば、細菌コロニーＣのｘ軸とｙ軸との座標値を示す。図１３では、横軸がｘ軸であって、縦軸がｙ軸である。

（実施例２の自動計測された細菌コロニーＣの位置）
次に、図１４を用いて、実施例２の自動計測された細菌コロニーＣの位置について説明する。

図１４は、実施例２の自動計測された細菌コロニーＣの位置を示す説明図である。実施例２では、図１４に示すように、培地１０１上から３個の細菌コロニーＣが検出され、各細菌コロニーＣの位置を示す計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］が自動計測される。計測データは、例えば、細菌コロニーＣのｘ軸とｙ軸との座標値を示す。図１４では、横軸がｘ軸であって、縦軸がｙ軸である。

（実施例２の実測データテーブル１５００の記憶内容）
次に、図１５を用いて、図１３に示した実測データ群Ａ［１］〜Ａ［３］の各実測データを格納する実測データテーブル１５００の記憶内容について説明する。

図１５は、実施例２の実測データテーブル１５００の記憶内容の一例を示す説明図である。図１５に示すように、実測データテーブル１５００は、ｉｎｄｅｘ項目と、座標値項目と、を有し、実測データのｉｎｄｅｘごとに各項目の値がレコードとして記憶される。各項目の記憶内容は図７の各項目の記憶内容と同様のため説明を省略する。

（実施例２の計測データテーブル１６００の記憶内容）
次に、図１６を用いて、図１４に示した計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の各計測データを格納する計測データテーブル１６００について説明する。

図１６は、実施例２の計測データテーブル１６００の記憶内容の一例を示す説明図である。図１６に示すように、計測データテーブル１６００は、ｉｎｄｅｘ項目と、座標値項目と、を有し、計測データのｉｎｄｅｘごとに各項目の値がレコードとして記憶される。各項目の記憶内容は図８の各項目の記憶内容と同様のため説明を省略する。

（実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理の流れ）
次に、図１７を用いて、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理の流れについて説明する。

図１７は、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理の流れを示す説明図である。図１７において、評価支援装置１００は、実測データが示す位置と計測データが示す位置との距離が閾値以内であるペア候補の中からペアを検出する。

（１）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［３］の中から、実測データＡ［１］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［１］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の中で、実測データＡ［１］が示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データＢ［１］〜Ｂ［３］を特定する。所定範囲とは、例えば、閾値１５ｍｍ（ｍｉｌｌｉｍｅｔｅｒ）以内の範囲である。ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［１］と計測データＢ［１］〜Ｂ［３］の各計測データとの組み合わせをペア候補として、ペア候補情報テーブルに格納する。

ペア候補情報テーブルは、ペアＩＤ項目と、Ａ項目と、Ｂ項目と、距離項目と、を有し、ペア候補ごとに各項目の値がレコードとして記憶される。ペアＩＤ項目には、ペア候補のＩＤが記憶される。Ａ項目には、ペア候補に含まれる実測データの識別子が記憶される。Ｂ項目には、ペア候補に含まれる計測データの識別子が記憶される。距離項目には、ペア候補に含まれる実測データが示す位置と計測データが示す位置との距離が記憶される。

（２）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［３］の中から、実測データＡ［２］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［２］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の中で、実測データＡ［２］が示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データＢ［２］、Ｂ［３］を特定する。ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［２］と計測データＢ［２］、Ｂ［３］の各計測データとの組み合わせをペア候補として、ペア候補情報テーブルに格納する。

（３）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［３］の中から、実測データＡ［３］を選択する。次に、評価支援装置１００は、実測データＡ［３］が示す位置から計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の各計測データが示す位置までの距離を算出する。そして、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の中で、実測データＡ［３］が示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データＢ［３］を特定する。ここで、評価支援装置１００は、実測データＡ［３］と計測データＢ［３］との組み合わせをペア候補として、ペア候補情報テーブルに格納する。

（４）評価支援装置１００は、ペア候補の数が最も少ない実測データＡ［３］を特定する。次に、評価支援装置１００は、特定した実測データＡ［３］を含むペア候補のいずれかをペアに決定する。ここでは、評価支援装置１００は、実測データＡ［３］と計測データ群Ｂ［３］とのペア候補をペアに決定する。そして、評価支援装置１００は、決定したペアをペア情報テーブルに格納し、ペア候補情報テーブルの中から決定したペアに含まれる実測データＡ［３］と計測データ群Ｂ［３］とのいずれかを含むペア候補を削除する。

ペア情報テーブルは、ペアＩＤ項目と、Ａ項目と、Ｂ項目と、距離項目と、を有し、決定したペアごとに各項目の値がレコードとして記憶される。ペアＩＤ項目には、決定したペアのＩＤが記憶される。Ａ項目には、決定したペアに含まれる実測データの識別子が記憶される。Ｂ項目には、決定したペアに含まれる計測データの識別子が記憶される。距離項目には、決定したペアに含まれる実測データが示す位置と計測データが示す位置との距離が記憶される。

（５）評価支援装置１００は、ペア候補の数が最も少ない実測データＡ［２］を特定する。次に、評価支援装置１００は、特定した実測データＡ［２］を含むペア候補のいずれかをペアに決定する。ここでは、評価支援装置１００は、実測データＡ［２］と計測データ群Ｂ［２］とのペア候補をペアに決定する。そして、評価支援装置１００は、決定したペアをペア情報テーブルに格納し、ペア候補情報テーブルの中から決定したペアに含まれる実測データＡ［２］と計測データ群Ｂ［２］とのいずれかを含むペア候補を削除する。

（６）評価支援装置１００は、ペア候補の数が最も少ない実測データＡ［１］を特定する。次に、評価支援装置１００は、特定した実測データＡ［１］を含むペア候補のいずれかをペアに決定する。ここでは、評価支援装置１００は、実測データＡ［１］と計測データ群Ｂ［１］とのペア候補をペアに決定する。そして、評価支援装置１００は、決定したペアをペア情報テーブルに格納し、ペア候補情報テーブルの中から決定したペアに含まれる実測データＡ［１］と計測データ群Ｂ［１］とのいずれかを含むペア候補を削除する。

（７）評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［３］の中でペアとして検出されなかった実測データがないため、計測漏れデータがないと判定する。また、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の中でペアとして検出されなかった計測データがないため、誤計測データがないと判定する。

そして、評価支援装置１００は、計測漏れデータの数と誤計測データの数とを用いて、計測ツールの評価値を算出して出力する。また、評価支援装置１００は、ペア情報テーブルのレコードを出力してもよい。これにより、評価支援装置１００の利用者は、計測ツールが計測に成功した場合の誤差を把握することができる。また、評価支援装置１００は、計測漏れデータと誤計測データとを出力してもよい。これにより、評価支援装置１００の利用者は、評価支援装置１００から出力された評価値を参照して計測ツールを評価することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、評価支援装置１００から出力された計測漏れデータと誤計測データを参照して計測ツールが計測漏れする条件や計測ツールが誤計測する条件を把握したりすることができる。

ここでは、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［３］の各実測データを含むペア候補の中からペアを検出したが、これに限らない。例えば、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［３］の各計測データを含むペア候補の中からペアを検出してもよい。この場合の評価支援装置１００の処理は、上述した処理における実測データと計測データとを入れ替えた処理であるため説明を省略する。

また、ここでは、評価支援装置１００は、１種類の閾値に応じたペア候補情報テーブルの中からペアを検出したが、これに限らない。例えば、評価支援装置１００は、複数種類の閾値を用いて、各閾値に応じたペア候補情報テーブルを作成し、各ペア候補情報テーブルの中からペアを検出してもよい。この場合、各閾値に応じたペア情報テーブルが作成される。ここで、評価支援装置１００は、各ペア情報テーブルの中から、最も尤もらしいペア情報テーブルを特定してもよい。

評価支援装置１００は、例えば、ペア情報テーブルの距離項目の合計値が最小のペア情報テーブルを、最も尤もらしいペア情報テーブルに特定する。また、評価支援装置１００は、例えば、ペア情報テーブルの距離項目の合計値をペアの数で除算した値が最小のペア情報テーブルを、最も尤もらしいペア情報テーブルに特定する。また、評価支援装置１００は、例えば、ペア情報テーブルの距離項目の最大値が最小のペア情報テーブルを、最も尤もらしいペア情報テーブルに特定する。そして、評価支援装置１００は、特定したペア情報テーブルに基づいて、評価値を算出して出力する。

（閾値の算出例）
図１７の所定範囲を規定する閾値は、例えば、図１０を用いて上述した場合と同様にして算出することができる。ここで、実施例２の閾値の算出例は図１０と同様のため説明を省略する。

（実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理手順）
次に、図１８および図１９を用いて、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例について説明する。

図１８および図１９は、実施例２の評価支援装置１００の評価支援処理手順の一例を示すフローチャートである。図１８において、評価支援装置１００は、変数ｉを１に設定する（ステップＳ１８０１）。次に、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中から実測データＡ［ｉ］が示す位置から所定範囲内の位置を示す全ての計測データＢ［ｊ］を特定する（ステップＳ１８０２）。

そして、評価支援装置１００は、計測データＢ［ｊ］が特定されたか否かを判定する（ステップＳ１８０３）。ここで、特定されていない場合（ステップＳ１８０３：Ｎｏ）、評価支援装置１００は、ステップＳ１８０２の処理に戻る。

一方、特定された場合（ステップＳ１８０３：Ｙｅｓ）、評価支援装置１００は、実測データＡ［ｉ］と各計測データＢ［ｊ］との組み合わせをペア候補として検出してペア候補情報テーブルに格納する（ステップＳ１８０４）。次に、評価支援装置１００は、変数ｉに１を加算する（ステップＳ１８０５）。

次に、評価支援装置１００は、変数ｉがｎ以上であるか否かを判定する（ステップＳ１８０６）。ここで、ｎより小さい場合（ステップＳ１８０６：Ｎｏ）、評価支援装置１００は、ステップＳ１８０２の処理に戻る。一方、ｎ以上である場合（ステップＳ１８０６：Ｙｅｓ）、評価支援装置１００は、図１９のステップＳ１９０１の処理に移行する。

図１９において、評価支援装置１００は、検出されたペア候補に基づいて、ペア候補の数が最も少ない実測データＡ［ｋ］を特定する（ステップＳ１９０１）。次に、評価支援装置１００は、特定した実測データＡ［ｋ］を含むペア候補のいずれかをペアに決定し、ペア情報テーブルに格納する（ステップＳ１９０２）。

ステップＳ１９０１において、評価支援装置１００は、ペア候補の数が最も少ない実測データＡ［ｋ］を複数特定してもよい。この場合、評価支援装置１００は、特定した複数の実測データＡ［ｋ］のいずれかを含むペア候補のうち、ペア候補に含まれる実測データが示す位置と計測データが示す位置との距離が最小になるペア候補を、ペアに決定し、ペア情報テーブルに格納してもよい。

そして、評価支援装置１００は、ペア候補情報テーブルの中から決定したペアに含まれる実測データＡ［ｋ］と計測データＢ［ｌ］とのいずれかを含むペア候補を削除する（ステップＳ１９０３）。次に、評価支援装置１００は、全ての実測データＡ［ｋ］を特定したか否かを判定する（ステップＳ１９０４）。ここで、特定していない実測データＡ［ｋ］がある場合（ステップＳ１９０４：Ｎｏ）、評価支援装置１００は、ステップＳ１９０１の処理に戻る。

一方、全ての実測データＡ［ｋ］を特定した場合（ステップＳ１９０４：Ｙｅｓ）、評価支援装置１００は、実測データ群Ａ［１］〜Ａ［ｎ］の中で、決定されたペアに含まれていない実測データを計測漏れデータとして計数する（ステップＳ１９０５）。次に、評価支援装置１００は、計測データ群Ｂ［１］〜Ｂ［ｍ］の中で、決定されたペアに含まれていない計測データを誤計測データとして計数する（ステップＳ１９０６）。

そして、評価支援装置１００は、ステップＳ１９０５において計数した計測漏れデータの数と、ステップＳ１９０６において計数した誤計測データの数と、を用いて、計測ツールの評価値を算出して出力し（ステップＳ１９０７）、評価支援処理を終了する。これにより、評価支援装置１００は、計測ツールの評価値を評価支援装置１００の利用者に通知することができる。

以上説明したように、評価支援装置１００によれば、実測データ群の各実測データと計測データ群の各計測データとを組み合わせた組み合わせ群の中から、所定条件を満たす実測データと計測データとの組み合わせを検出する。当該組み合わせは、当該実測データが実測データ群の中で当該計測データが示す位置に最も近い位置を示し、当該計測データが計測データ群の中で当該実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせである。これにより、評価支援装置１００は、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせを検出することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、検出結果に基づいて計測ツールを評価することができる。

また、評価支援装置１００によれば、実測データ群から順次実測データを選択し、計測データ群の中で、選択した実測データが示す位置に最も近い位置を示す計測データを特定することができる。これにより、評価支援装置１００は、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせになりうる組み合わせを特定することができる。そして、評価支援装置１００によれば、選択した実測データと、特定した計測データと、の組み合わせについて、実測データが実測データ群の中で計測データが示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定することができる。これにより、評価支援装置１００は、最も近い位置を示すと判定された組み合わせを、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせとして検出することができる。また、評価支援装置１００は、実測データ群の各実測データと計測データ群の各計測データとを組み合わせた全ての組み合わせに対して同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせか否かを判定する場合に比べて、処理量を低減することができる。

また、評価支援装置１００によれば、実測データが示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データを検出することができる。これにより、評価支援装置１００は、閾値以上に距離が離れている組み合わせを、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせになりうる組み合わせとして検出しないため、処理量を低減することができる。

また、評価支援装置１００によれば、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせとして検出した組み合わせの数を計数し、実測データ群の実測データの数と、計数した組み合わせの数と、に基づいて、計測漏れデータの数を算出することができる。これにより、評価支援装置１００は、計測漏れデータの数を評価支援装置１００の利用者に通知することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、通知された計測漏れデータの数を参照して計測ツールを評価することができる。従って、評価支援装置１００の利用者は、実測データ群の実測データの数と計測データ群の計測データの数とが同数である場合に、計測漏れデータと誤計測データを含んで偶然同数になったのか否かを判定することができる。

また、評価支援装置１００によれば、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせとして検出した組み合わせの数を計数し、計測データ群の計測データの数と、計数した組み合わせの数と、に基づいて、誤計測データの数を算出することができる。これにより、評価支援装置１００は、誤計測データの数を評価支援装置１００の利用者に通知することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、通知された誤計測データの数を参照して計測ツールを評価することができる。従って、評価支援装置１００の利用者は、実測データ群の実測データの数と計測データ群の計測データの数とが同数である場合に、計測漏れデータと誤計測データを含んで偶然同数になったのか否かを判定することができる。

また、評価支援装置１００によれば、検出した組み合わせに含まれる実測データを、実測データ群から除いた残余の実測データを出力することができる。これにより、評価支援装置１００は、計測漏れデータを評価支援装置１００の利用者に通知することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、通知された計測漏れデータを参照して計測ツールを評価することができる。

また、評価支援装置１００によれば、検出した組み合わせに含まれる計測データを、計測データ群から除いた残余の計測データを出力することができる。これにより、評価支援装置１００は、誤計測データを評価支援装置１００の利用者に通知することができる。また、評価支援装置１００の利用者は、通知された誤計測データを参照して計測ツールを評価することができる。

また、評価支援装置１００によれば、計測データ群から順次計測データを選択し、実測データ群の中で、選択した計測データが示す位置に最も近い位置を示す実測データを特定することができる。これにより、評価支援装置１００は、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせになりうる組み合わせを特定することができる。そして、評価支援装置１００によれば、選択した計測データと、特定した実測データと、の組み合わせについて、計測データが計測データ群の中で実測データが示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定することができる。これにより、評価支援装置１００は、最も近い位置を示すと判定された組み合わせを、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせとして検出することができる。また、評価支援装置１００は、実測データ群の各実測データと計測データ群の各計測データとを組み合わせた全ての組み合わせに対して同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせか否かを判定する場合に比べて、処理量を低減することができる。

また、評価支援装置１００によれば、実測データ群から順次実測データを選択し、計測データ群の中で、選択した実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定することができる。これにより、評価支援装置１００は、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせになりうる全ての組み合わせを特定することができる。そして、評価支援装置１００によれば、実測データ群の中で計測データを特定した実測データのうち、特定した計測データの数が最小である実測データを抽出し、抽出した実測データについて特定したいずれかの計測データを選択することができる。これにより、評価支援装置１００は、特定した組み合わせの中から、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせを検出することができる。また、評価支援装置１００は、実測データ群の各実測データと計測データ群の各計測データとを組み合わせた全ての組み合わせに対して同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせか否かを判定する場合に比べて、処理量を低減することができる。

また、評価支援装置１００によれば、計測データ群から順次計測データを選択し、実測データ群の中で、選択した計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定することができる。これにより、評価支援装置１００は、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせになりうる全ての組み合わせを特定することができる。そして、評価支援装置１００によれば、計測データ群の中で実測データを特定した計測データのうち、特定した実測データの数が最小である計測データを抽出し、抽出した計測データについて特定したいずれかの実測データを選択することができる。これにより、評価支援装置１００は、特定した組み合わせの中から、同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせを検出することができる。また、評価支援装置１００は、計測データ群の各計測データと実測データ群の各実測データとを組み合わせた全ての組み合わせに対して同一の細菌コロニーＣに関する組み合わせか否かを判定する場合に比べて、処理量を低減することができる。

なお、本実施の形態で説明した評価支援方法は、予め用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本評価支援プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また本評価支援プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。

上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

（付記１）培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された前記実測データ群の実測データと、前記取得部によって取得された前記計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出する検出部と、
前記検出部による検出結果を出力する出力部と、
を有することを特徴とする評価支援装置。

（付記２）前記計測データ群の中で、前記実測データ群から選択された実測データが示す位置に最も近い位置を示す計測データを特定する特定部と、
前記実測データ群から選択された実測データと、前記特定部によって特定された前記計測データと、の組み合わせについて、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する判定部と、を有し、
前記検出部は、前記判定部によって最も近い位置を示すと判定された場合に、前記組み合わせを検出することを特徴とする付記１に記載の評価支援装置。

（付記３）前記特定部は、前記計測データ群の中で、前記実測データ群から選択された実測データが示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データを特定することを特徴とする付記２に記載の評価支援装置。

（付記４）前記実測データ群から順次選択された実測データと、前記特定部によって特定された前記計測データと、の組み合わせ群の中で、前記検出部によって検出された組み合わせの数を計数する計数部と、
前記実測データ群の実測データの数と、前記計数部によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、前記培地上で培養された細菌コロニー群の中で前記計測手段によって位置が計測されなかった細菌コロニーの数を算出する算出部と、を有し、
前記出力部は、前記算出部による算出結果を出力することを特徴とする付記２または３に記載の評価支援装置。

（付記５）前記実測データ群から順次選択された実測データと、前記特定部によって特定された前記計測データと、の組み合わせ群の中で、前記検出部によって検出された組み合わせの数を計数する計数部と、
前記計測データ群の計測データの数と、前記計数部によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、前記計測手段によって誤って計測された計測データの数を算出する算出部と、を有し、
前記出力部は、前記算出部による算出結果を出力することを特徴とする付記２〜４のいずれか一つに記載の評価支援装置。

（付記６）前記出力部は、前記検出部によって検出された前記組み合わせに含まれる実測データを、前記実測データ群から除いた残余の実測データを出力することを特徴とする付記４または５に記載の評価支援装置。

（付記７）前記出力部は、前記検出部によって検出された前記組み合わせに含まれる計測データを、前記計測データ群から除いた残余の計測データを出力することを特徴とする付記４〜６のいずれか一つに記載の評価支援装置。

（付記８）前記実測データ群の中で、前記計測データ群から選択された計測データが示す位置に最も近い位置を示す実測データを特定する特定部と、
前記計測データ群から選択された計測データと、前記特定部によって特定された前記実測データと、の組み合わせについて、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する判定部と、を有し、
前記検出部は、前記判定部によって最も近い位置を示すと判定された場合に、前記組み合わせを検出することを特徴とする付記１に記載の評価支援装置。

（付記９）培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された前記計測データ群の中で、前記取得部によって取得された前記実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定する特定部と、
前記実測データ群の中で前記特定部によって計測データが特定された実測データのうち、前記特定部によって特定された前記計測データの数が最小である実測データを抽出する抽出部と、
前記抽出部によって実測データが抽出された場合に、前記抽出部によって抽出された前記実測データについて前記特定部によって特定されたいずれかの計測データを選択する選択部と、
前記抽出部によって抽出された前記実測データと、前記選択部によって選択された前記計測データと、の組み合わせを出力する出力部と、
を有することを特徴とする評価支援装置。

（付記１０）前記選択部は、前記抽出部によって抽出された前記実測データについて前記特定部によって特定された前記計測データのうち、前記実測データの示す位置に最も近い位置を示す計測データを選択することを特徴とする付記９に記載の評価支援装置。

（付記１１）前記抽出部は、前記実測データ群の中で前記特定部によって計測データが特定された実測データのうち、前記特定部によって特定された前記計測データの数が最小である未抽出の実測データを抽出し、
前記選択部は、前記抽出部によって抽出された前記実測データについて前記特定部によって特定された前記計測データのうち、未選択のいずれかの計測データを選択することを特徴とする付記９または１０に記載の評価支援装置。

（付記１２）培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された前記実測データ群の中で、前記取得部によって取得された前記計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定する特定部と、
前記計測データ群の中で前記特定部によって実測データが特定された計測データのうち、前記特定部によって特定された前記実測データの数が最小である計測データを抽出する抽出部と、
前記抽出部によって計測データが抽出された場合に、前記抽出部によって抽出された前記計測データについて前記特定部によって特定されたいずれかの実測データを選択する選択部と、
前記抽出部によって抽出された前記計測データと、前記選択部によって選択された前記実測データと、の組み合わせを出力する出力部と、
を有することを特徴とする評価支援装置。

（付記１３）前記選択部は、前記抽出部によって抽出された前記計測データについて前記特定部によって特定された前記実測データのうち、前記計測データの示す位置に最も近い位置を示す実測データを選択することを特徴とする付記１２に記載の評価支援装置。

（付記１４）前記抽出部は、前記計測データ群の中で前記特定部によって実測データが特定された計測データのうち、前記特定部によって特定された前記実測データの数が最小である未抽出の計測データを抽出し、
前記選択部は、前記抽出部によって抽出された前記計測データについて前記特定部によって特定された前記実測データのうち、未選択のいずれかの実測データを選択することを特徴とする付記１２または１３に記載の評価支援装置。

（付記１５）コンピュータが、
培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
取得した前記実測データ群の実測データと、取得した前記計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出し、
検出結果を出力する、
処理を実行することを特徴とする評価支援方法。

（付記１６）コンピュータが、
培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
取得した前記計測データ群の中で、取得した前記実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定し、
前記実測データ群の中で計測データを特定した実測データのうち、特定した前記計測データの数が最小である実測データを抽出し、
実測データを抽出した場合に、抽出した前記実測データについて特定したいずれかの計測データを選択し、
抽出した前記実測データと、選択した前記計測データと、の組み合わせを出力する、
処理を実行することを特徴とする評価支援方法。

（付記１７）コンピュータが、
培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
取得した前記実測データ群の中で、取得した前記計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定し、
前記計測データ群の中で実測データを特定した計測データのうち、特定した前記実測データの数が最小である計測データを抽出し、
計測データを抽出した場合に、抽出した前記計測データについて特定したいずれかの実測データを選択し、
抽出した前記計測データと、選択した前記実測データと、の組み合わせを出力する、
処理を実行することを特徴とする評価支援方法。

（付記１８）コンピュータに、
培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
取得した前記実測データ群の実測データと、取得した前記計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出し、
検出結果を出力する、
処理を実行させることを特徴とする評価支援プログラム。

（付記１９）コンピュータに、
培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
取得した前記計測データ群の中で、取得した前記実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定し、
前記実測データ群の中で計測データを特定した実測データのうち、特定した前記計測データの数が最小である実測データを抽出し、
実測データを抽出した場合に、抽出した前記実測データについて特定したいずれかの計測データを選択し、
抽出した前記実測データと、選択した前記計測データと、の組み合わせを出力する、
処理を実行させることを特徴とする評価支援プログラム。

（付記２０）コンピュータに、
培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
取得した前記実測データ群の中で、取得した前記計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定し、
前記計測データ群の中で実測データを特定した計測データのうち、特定した前記実測データの数が最小である計測データを抽出し、
計測データを抽出した場合に、抽出した前記計測データについて特定したいずれかの実測データを選択し、
抽出した前記計測データと、選択した前記実測データと、の組み合わせを出力する、
処理を実行させることを特徴とする評価支援プログラム。

１００ 評価支援装置
３０１ 取得部
３０２ 特定部
３０３ 判定部
３０４ 検出部
３０５ 計数部
３０６ 算出部
３０７ 出力部
１２０１ 取得部
１２０２ 特定部
１２０３ 抽出部
１２０４ 選択部
１２０５ 計数部
１２０６ 算出部
１２０７ 出力部

Claims (13)

1. 培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する取得部と、
   前記取得部によって取得された前記実測データ群の実測データと、前記取得部によって取得された前記計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出する検出部と、
   前記検出部による検出結果を出力する出力部と、
   を有することを特徴とする評価支援装置。
2. 前記計測データ群の中で、前記実測データ群から選択された実測データが示す位置に最も近い位置を示す計測データを特定する特定部と、
   前記実測データ群から選択された実測データと、前記特定部によって特定された前記計測データと、の組み合わせについて、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示すか否かを判定する判定部と、を有し、
   前記検出部は、前記判定部によって最も近い位置を示すと判定された場合に、前記組み合わせを検出することを特徴とする請求項１に記載の評価支援装置。
3. 前記特定部は、前記計測データ群の中で、前記実測データ群から選択された実測データが示す位置から所定範囲内の最も近い位置を示す計測データを特定することを特徴とする請求項２に記載の評価支援装置。
4. 前記実測データ群から順次選択された実測データと、前記特定部によって特定された前記計測データと、の組み合わせ群の中で、前記検出部によって検出された組み合わせの数を計数する計数部と、
   前記実測データ群の実測データの数と、前記計数部によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、前記培地上で培養された細菌コロニー群の中で前記計測手段によって位置が計測されなかった細菌コロニーの数を算出する算出部と、を有し、
   前記出力部は、前記算出部による算出結果を出力することを特徴とする請求項２または３に記載の評価支援装置。
5. 前記実測データ群から順次選択された実測データと、前記特定部によって特定された前記計測データと、の組み合わせ群の中で、前記検出部によって検出された組み合わせの数を計数する計数部と、
   前記計測データ群の計測データの数と、前記計数部によって計数された組み合わせの数と、に基づいて、前記計測手段によって誤って計測された計測データの数を算出する算出部と、を有し、
   前記出力部は、前記算出部による算出結果を出力することを特徴とする請求項２〜４のいずれか一つに記載の評価支援装置。
6. 培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する取得部と、
   前記取得部によって取得された前記計測データ群の中で、前記取得部によって取得された前記実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定する特定部と、
   前記実測データ群の中で前記特定部によって計測データが１以上特定された実測データのうち、前記特定部によって特定された前記計測データの数が最小である実測データを抽出する抽出部と、
   前記抽出部によって実測データが抽出された場合に、前記抽出部によって抽出された前記実測データについて前記特定部によって特定されたいずれかの計測データを選択する選択部と、
   前記抽出部によって抽出された前記実測データと、前記選択部によって選択された前記計測データと、の組み合わせを出力する出力部と、
   を有することを特徴とする評価支援装置。
7. 培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得する取得部と、
   前記取得部によって取得された前記実測データ群の中で、前記取得部によって取得された前記計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定する特定部と、
   前記計測データ群の中で前記特定部によって実測データが１以上特定された計測データのうち、前記特定部によって特定された前記実測データの数が最小である計測データを抽出する抽出部と、
   前記抽出部によって計測データが抽出された場合に、前記抽出部によって抽出された前記計測データについて前記特定部によって特定されたいずれかの実測データを選択する選択部と、
   前記抽出部によって抽出された前記計測データと、前記選択部によって選択された前記実測データと、の組み合わせを出力する出力部と、
   を有することを特徴とする評価支援装置。
8. コンピュータが、
   培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
   取得した前記実測データ群の実測データと、取得した前記計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出し、
   検出結果を出力する、
   処理を実行することを特徴とする評価支援方法。
9. コンピュータが、
   培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
   取得した前記計測データ群の中で、取得した前記実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定し、
   前記実測データ群の中で計測データを１以上特定した実測データのうち、特定した前記計測データの数が最小である実測データを抽出し、
   実測データを抽出した場合に、抽出した前記実測データについて特定したいずれかの計測データを選択し、
   抽出した前記実測データと、選択した前記計測データと、の組み合わせを出力する、
   処理を実行することを特徴とする評価支援方法。
10. コンピュータが、
    培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
    取得した前記実測データ群の中で、取得した前記計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定し、
    前記計測データ群の中で実測データを１以上特定した計測データのうち、特定した前記実測データの数が最小である計測データを抽出し、
    計測データを抽出した場合に、抽出した前記計測データについて特定したいずれかの実測データを選択し、
    抽出した前記計測データと、選択した前記実測データと、の組み合わせを出力する、
    処理を実行することを特徴とする評価支援方法。
11. コンピュータに、
    培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
    取得した前記実測データ群の実測データと、取得した前記計測データ群の計測データと、の組み合わせであって、前記実測データが前記実測データ群の中で前記計測データが示す位置に最も近い位置を示し、かつ、前記計測データが前記計測データ群の中で前記実測データが示す位置に最も近い位置を示す組み合わせを検出し、
    検出結果を出力する、
    処理を実行させることを特徴とする評価支援プログラム。
12. コンピュータに、
    培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
    取得した前記計測データ群の中で、取得した前記実測データ群から順次選択された実測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す計測データを特定し、
    前記実測データ群の中で計測データを１以上特定した実測データのうち、特定した前記計測データの数が最小である実測データを抽出し、
    実測データを抽出した場合に、抽出した前記実測データについて特定したいずれかの計測データを選択し、
    抽出した前記実測データと、選択した前記計測データと、の組み合わせを出力する、
    処理を実行させることを特徴とする評価支援プログラム。
13. コンピュータに、
    培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を示す実測データ群と、評価対象となる計測手段によって前記培地上で培養された細菌コロニー群の各細菌コロニーの位置を計測して得られた計測データ群と、を取得し、
    取得した前記実測データ群の中で、取得した前記計測データ群から順次選択された計測データが示す位置から所定範囲内の位置を示す実測データを特定し、
    前記計測データ群の中で実測データを１以上特定した計測データのうち、特定した前記実測データの数が最小である計測データを抽出し、
    計測データを抽出した場合に、抽出した前記計測データについて特定したいずれかの実測データを選択し、
    抽出した前記計測データと、選択した前記実測データと、の組み合わせを出力する、
    処理を実行させることを特徴とする評価支援プログラム。

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