JP6093628B2 - 表面性状測定機およびその表示制御方法 - Google Patents
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Description
なかでも、輪郭測定機、表面粗さ測定機および真円度測定機を含む表面性状測定機においては、統計的なデータ処理が必須であり、コンピュータシステムによる演算および表示が行われる(特許文献2参照)。
限られた画面で多くの項目を表示しようとすると、個々の表示が小さくなって視認性が悪くなる。
これに対し、ユーザの操作により画面表示する内容を切り替えることも行われている(特許文献3参照)。
このような調整は、測定部に設置された各種の調整ノブやハンドルを、ユーザが手動で操作することにより行われる。
特許文献1の画像測定装置では、ユーザが調整値を入力することで、測定システムが調整のための移動操作をユーザにガイドすることができる。
一方、特許文献2のように、各軸座標値が常時表示されていれば、この表示数値を見つつ測定部を手動操作することができる。
しかし、前述のように画面表示が小さい場合、画面と測定部とが離れていると座標値等の表示が見えづらい。
ここで、特許文献3のように、ユーザが画面表示を切り替える技術を利用すれば、調整に関連する状態量等の操作情報を一時的に拡大表示することもできる。
しかし、ユーザが調整の都度、拡大表示等する操作情報を選択し、表示を切り替えることが必要となり、調整時の煩雑さが避けられない。
サポート情報は、例えば、操作部の手動操作の操作量や、手動操作により変化する他の物理量、検出器、被測定物等の撮像画像やグラフィックなどのユーザによる手動操作を補助するための情報である。
このような本発明によれば、画面上の強調表示が一瞬で終了されることがなく、所定時間はこの表示器での強調表示を視認することができ、かつ、元の表示に戻す手間を省くことができる。
ここで、表面性状測定機のアイドル状態とは、表面性状測定機が何かの操作待ちにある状態を意味する。具体的には、Z軸方向の自動降下、X軸方向の測定動作、測定後の各軸のリターン動作等の一連の測定に関する動作、ボタン、ジョイスティック等によるマニュアル的な軸移動動作やスタイラスチェンジを行うための移動動作などを行っていない状態を意味する。
このような本発明によれば、アイドル状態にない表面性状測定機の通常動作を検出することなく、アイドル状態にある表面性状測定機の操作部に対する検出器を移動させるための手動操作を検出することができる。
このような本発明によれば、サポート情報としての検出器の位置情報が強調表示部により表示器に強調表示されることで、ユーザが検出器の位置を直接的に視認することができる。
このような本発明によれば、表示器と操作部とが離れていても、拡大表示されたサポート情報を容易に視認できる。
このような本発明の方法によれば、前述した本発明の表面性状測定機で説明した効果を得ることができる。
〔本実施形態の構成〕
図1には、本発明に係る表面性状測定機1が示されている。
表面性状測定機1は、ベース2と、ベース2に載置され上面にワークWを載置するステージ3と、ステージ3上のワークWの表面の性状を検出する検出器4と、検出器4を操作により移動させる移動機構5とを備えている。
さらに、表面性状測定機1は、前述のベース2、ステージ3、検出器4および移動機構5とは別体で、検出器4からの検出情報や移動機構5の動作情報などの各種情報を表示する表示器6と、検出器4、移動機構5および表示器6を動作させる制御装置7とを備えている。
このように構成される操作部10は、ユーザの手動操作により検出器4の位置を機械的に移動させるものであり、例えば、手動操作モードに移るためやアイドル状態に移るために操作されるようなボタンなどは含まない。
送りねじ機構は、前述に加えて、駆動源としてのモータと、このモータの回転をボールねじ軸に伝達する回転伝達機構とによって構成される。
Z軸調整ノブ55は、前述のボールねじの一端に装着され、Zスライダ52の送りねじ機構の回転手動操作によりこのボールねじ軸を回転させるように構成される。
X軸調整ノブ56は、前述の送りねじ軸の一端に装着され、Xスライダ542の送り機構の回転手動操作により前述の送りねじ軸を回転させるように構成される。
また、制御部71は、検出器4がワークWの表面をスタイラス41でなぞって測定する際の検出器4、移動機構5および表示器6の動作を制御する。
ここで、表面性状測定機1のアイドル状態とは、本実施形態では、制御部71の制御指令により検出器4または移動機構5が測定、移動などの動作を行っていない状態を意味する。従って、制御部71が何らの制御指令を発しておらず、且つ、検出器4および移動機構5が動作していないときはアイドル状態である。
ここで、前述の所定時間のカウントは、変化判定処理S3で所定の閾値の変化があると判定されたとき以降かつ時間判定処理S4で所定時間が経過したか否かが判定される前に、開始される。この所定時間のカウントは、変化判定処理S3で所定の閾値の変化があると判定される毎に更新され、新たに開始される。時間判定処理S4では、前述の所定時間が経過したと判定した場合には、通常表示部722に通常表示611を実行させる。
また、時間判定処理S4では、前述の所定時間が経過していないと判定した場合には、強調表示部723に強調表示612を実行させる。
通常表示611には、図4に示すように、上段に日付表示61Aおよび状態表示61Bが配置され、その下の行に現在の測定条件表示61Cが配置され、測定条件表示61Cの右側にZ軸およびX軸の座標値を表示する軸座標表示61Dが配置される。
通常表示611の中上段には測定値を波形表示する測定波形表示61Eが配置され、その左側には検出器4のレベルを表示する検出器レベル表示61Fが配置されている。
日付表示61Aおよび状態表示61Bの左側には、「ホーム」の図形が表記されたボタン61Hと、「A」と表記されたボタン61Iが配置される。軸座標表示61Dの下方には、複数のファンクションボタン61Jが縦一列に配置され、下段には、ファンクションボタン61Kが横一列に配置されている。
強調表示612は、操作部10の操作があったときにその操作パラメータをサポート情報として強調して表示するものであり、記憶装置9に記憶された画面表示フォーマットの情報に基づいて設定される。
なお、強調表示612が終了して通常表示611に戻される際にも、強調表示612が元の軸座標表示61Dの部分に縮小して戻るアニメーション処理がなされる。
以上の表面性状測定機1は、次の通りに動作する。
まず、ユーザはワークWをステージ3上に載置し、次に、入力装置8を操作して制御装置7を動作させる。このように動作される制御装置7の制御部71は、その制御指令に基づいてZ軸駆動機構53およびX軸駆動機構54を動作させ、検出器4のスタイラス41をワークWの表面の測定部位に対して移動させる。
詳しくは、表面性状測定機1の通常動作時には、表示制御部72では、図3のフロー図に沿って、サンプリング処理S1、状態判定処理S2、時間判定処理S4および通常表示処理S5が順次実行される。これは、状態判定処理S2で表面性状測定機1がアイドル状態にないと判定され、次の時間判定処理S4で所定時間が経過したと判定されることによる。従って、通常表示処理S5が実行され、表示器6の画面61に通常表示611が表示される。
詳しくは、操作部10の手動操作時には、表示制御部72では、図3のフロー図に沿って、サンプリング処理S1、状態判定処理S2、変化判定処理S3および強調表示処理S6が順次実行される。
ユーザがZ軸調整ノブ55およびX軸調整ノブ56の少なくとも何れかを手動操作すると、サンプリング処理S1で手動操作に応じた軸座標データがサンプリングされる。
軸座標データがサンプリングされると、次の状態判定処理S2でアイドル状態にあると判定され、次の変化判定処理S3でサンプリングされた軸座標データの変化の所定の閾値を超えた変化があるか否かが判定される。この所定の閾値を超えた変化があると判定されると、強調表示処理S6が実行され、前述の通常表示611が強調表示612に切り替わる。
詳しくは、前述の所定時間が経過するまでの間は、表示制御部72では、図3のフロー図に沿って、サンプリング処理S1、状態判定処理S2、変化判定処理S3、時間判定処理S4および強調表示処理S6が順次実行される。
ユーザがZ軸調整ノブ55およびX軸調整ノブ56の手動操作を終了した場合には、サンプリング処理S1で手動操作終了に応じた軸座標データがサンプリングされる。次の状態判定処理S2でアイドル状態にあると判定されると、次の変化判定処理S3で所定の閾値を超えた変化がないと判定され、時間判定処理S4が実行される。
この時間判定処理S4で所定時間が経過していないと判定される限り、強調表示処理S6が実行され、表示制御部72は、画面61上の強調表示612を続行する。
なお、前述の状態判定処理S2でアイドル状態にないと判定されるときは、本実施形態では、変化判定処理S3はスキップされ、時間判定処理S4および強調表示処理S6が前述同様に順次実行される。
詳しくは、前述の所定時間経過後には、表示制御部72では、図3のフロー図に沿って、サンプリング処理S1、状態判定処理S2、変化判定処理S3、時間判定処理S4および通常表示処理S5が順次実行される。
サンプリング処理S1で操作終了に応じた軸座標データがサンプリングされ、次の状態判定処理S2でアイドル状態にあると判定されると、次の変化判定処理S3で所定の閾値を超えた変化がないと判定され、時間判定処理S4が実行される。
この時間判定処理S4では、前述した所定時間が経過したと判定され、通常表示処理S5が実行され、強調表示612から通常表示611に復元する。
通常表示611への復元後、表示制御部72による前述した各処理はループされる。
なお、前述の状態判定処理S2でアイドル状態にないと判定されるときは、本実施形態では、変化判定処理S3はスキップされ、時間判定処理S4および通常表示処理S5が順次実行される。従って、前述同様に所定時間が経過したと判定されて通常表示処理S5が実行され、表示制御部72は、画面61上の強調表示612を通常表示611に復元する。
そして、位置調整の完了後には、ユーザは入力装置8を操作し、制御部71の制御指令に基づいてX軸駆動機構54を動作させ、スタイラス41をワークWの表面の測定部位に沿ってなぞらせ、これに伴うスタイラス41の揺動量からワークWの表面の性状を測定する。この測定情報も、通常動作時として各表示形式に変換されて画面61上に通常表示611として表示される。
このような本実施形態においては、以下のような効果が得られる。
本実施形態によれば、操作検出部721での検出に基づいてサポート情報を表示器6の画面61に表示することで、ユーザが調整の都度、強調表示等する情報を選択し、表示を切り替える必要をなくすことができる。また、ユーザの必要に応じてサポート情報の強調表示612をすることで、視認性が向上できて便宜である。従って、煩雑な操作なしに、調整に関連する情報の表示切り替えができる。
なお、本発明は前述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない範囲での変形等は本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、表示制御部72は、前述の構成に加えて、操作検出部721で検出された操作に関連する情報を選択する選択部(図示省略)を備えていてもよい。
選択部は、操作検出部721で軸座標データに閾値を超えた変化があると判定された場合に、この判定対象となった軸座標データに対応する各種情報(サポート情報を含む)を選択する。
このような処理を行う選択部は、例えば、強調表示部723がZ軸座標値とX軸座標値とを個別に画面61に強調表示612として表示するように構成される場合に特に有効である。
このようなY軸駆動機構には、操作部10を構成するY軸調整ノブ(図示省略)と、位置検出器としてのY軸位置検出器(図示省略)とが設けられていてもよい。表示制御部72は、前述のZ軸調整ノブ55およびX軸調整ノブ56の操作と同様に処理して、Y軸調整ノブの操作に応じて画面61上にY軸座標値を含む強調表示612を行ってもよい。
Y軸駆動機構は、例えば、ベース2とステージ3との間に介在されてもよい。この場合は、検出器4の位置は、ワークWに対する相対的な位置として検出、処理される。また、検出器4を傾斜させるために所定軸回りに回転させる回転機構を設けてもよい。この場合、検出器4の位置は、この回転機構の回転角度として検出、処理される。また、上記以外の移動軸であっても、検出器4または検出器4のワークWに対する相対位置を移動させるものであれば本発明を適用可能であることは言うまでもない。
Claims (6)
- 検出器によって被測定物の表面性状を測定する表面性状測定機であって、表示器と、前記検出器を所望位置に移動させるために手動操作される操作部と、前記表示器の表示を制御する表示制御部とを備え、前記表示制御部は、前記操作部に対する前記検出器を移動させるための手動操作を検出する操作検出部と、前記操作検出部によって前記操作部の手動操作が検出された場合に、前記検出器を移動させるための手動操作のサポート情報を前記表示器に強調表示させる強調表示部とによって構成されることを特徴とする表面性状測定機。
- 請求項1に記載された表面性状測定機において、
前記表示制御部は、前記強調表示部による強調表示をさせた後、前記操作検出部が前記操作部の手動操作を検出しない状態で、所定時間が経過したときは、前記表示器の表示を元に戻すことを特徴とする表面性状測定機。 - 請求項1または請求項2に記載された表面性状測定機において、
前記検出器の位置を検出する位置検出器をさらに備え、前記操作検出部は、該表面性状測定機がアイドル状態にあり且つ前記位置検出器からの検出結果に基づいて所定以上の変位がある場合に、前記操作部に対する前記検出器を移動させるための手動操作を検出することを特徴とする表面性状測定機。 - 請求項1から請求項3の何れかに記載された表面性状測定機において、
前記サポート情報は、前記検出器の位置情報であることを特徴とする表面性状測定機。 - 請求項1から請求項4の何れかに記載された表面性状測定機において、
前記強調表示は、拡大表示であることを特徴とする表面性状測定機。 - 被測定物の表面性状を測定するための検出器と、前記検出器を所望位置に移動させるために手動操作される操作部と、表示器とを備えた表面性状測定機の表示制御方法であって、
前記操作部に対する前記検出器を移動させるための手動操作を検出するステップと、前記操作部に対する前記検出器を移動させるための手動操作を検出したときに、前記検出器を移動させるための手動操作のサポート情報を前記表示器に強調表示させるステップとを有することを特徴とする表面性状測定機の表示制御方法。
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