JP6090538B2 - ひずみ測定方法、及びひずみ測定システム - Google Patents
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Description
この発明は、ひずみ測定方法、及びひずみ測定システムに関する。
特許文献1には、火力発電プラント用高温配管の長手溶接部の亀裂を検出する方法として、長手溶接部近傍および当該個所と同一円周上の管母材に管内圧力にともない変化するひずみ変動量をひずみゲージで測定し、これら2箇所のひずみ変動量の差を求め、検査すべき高温配管と同じ形状のサンプル管を複数個用意し、これらサンプル管毎に長手溶接部近傍に深さの異なる亀裂を形成し、検査すべき高温配管と同様に長手溶接部近傍および当該個所と同一円周上の管母材における各ひずみ変動量の差を測定し、数値解析により亀裂の有無と亀裂の深さを算出し、高温配管におけるひずみ変動量を数値解析によって求めた亀裂の深さとひずみ変動量の差との関係と比較することにより高温配管の長手溶接部の亀裂の有無と深さを測定することが記載されている。
特許文献2には、測定対象物に取り付けられ、光を反射可能であり且つ記測定対象物のひずみ変形に伴って角度が変化する複数の反射面を備える光学ひずみゲージと、複数の反射面に光を照射し、複数の反射面から反射された反射光を検出し、測定対象物のひずみ変形前後において複数の反射面から反射された反射光を比較することにより、複数の反射面の角度変化を測定する角度測定部と、角度測定部により測定された角度変化から、測定対象物のひずみを算出するひずみ算出部とを備えた光学的ひずみ測定装置が開示されている。
特許文献1に開示されているように、火力発電プラント用配管の亀裂の測定は、金属や半導体のひずみ量に応じた電気抵抗値の変化を利用したひずみゲージを用いて行われている。しかし火力発電プラントにおけるボイラ配管等の配管は600℃以上の高温となるため、とくに実機運転中はひずみケージの出力が安定せず、十分な測定精度が得られないという課題があった。
本発明は上記課題に鑑みてなされたもので、被測定物の表面に生じたひずみを簡素な構成にて精度よく測定することが可能な、ひずみ測定方法、及びひずみ測定システムを提供することを目的としている。
上記目的を達成するための本発明の一つは、被測定物の表面に生じるひずみの測定方法であって、被測定物の表面の測定対象部位を挟んで、前記被測定物の表面に第1反射体及び第2反射体を配置し、前記被測定物の表面から所定距離離れた構造物に第1レーザ変位計を設け、前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を、前記第1反射体と前記第2反射体とを結ぶ経路を通過させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を、前記第1レーザ変位計により測定し、前記第1行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求めることとする。
本発明によれば、レーザ変位計と反射体とを用いた簡素な構成により、被測定物の表面に生じるひずみを精度よく測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)は被測定物から離れた場所に設けているので、被測定物が高温になる場合でも熱の影響を受けることがなく、常温下でレーザ変位計により精度よくひずみを測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)は建屋内の任意の構造物に設置することができるので、設置場所の自由度が高く、本発明の測定方法は様々な環境に適用することができる。
本発明の他の一つは、上記測定方法であって、前記第1反射体及び前記第2反射体を、前記第1レーザ光が、前記第1反射体、前記第2反射体、前記構造物の表面に設けられた第3反射体、前記第2反射体、及び前記第1反射体で順次反射されて前記受光部に入射するように配置することとする。
第1レーザ変位計の発光部から第1反射体に向けて出射した第1レーザ光をこのような経路で受光部に入射させることで、第1レーザ光を、簡素な構成にて第1反射体と第2反射体との間を通る経路で第1レーザ変位計の受光部に入射させることができるとともに、測定対象部位に生じるひずみを精度よく求めることができる。
本発明の他の一つは、上記測定方法であって、その発光部及び受光部がいずれも前記第1レーザ変位計の発光部の近傍に位置するように前記構造物に第2レーザ変位計を設け、前記第2レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第4反射体で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を、前記第2レーザ変位計により測定し、前記第1行路の変化量及び前記第2行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求めることとする。
本発明によれば、第1行路の変化量のうち第2行路の変化量に起因する分(ひずみに起因しない分)を考慮して測定対象部位に生じるひずみを求めるので、測定対象部位に生じるひずみを精度よく測定することができる。
本発明の他の一つは、上記測定方法であって、その発光部及び受光部がいずれも前記第2反射体で反射された前記第1レーザ光が前記構造物に入射する部位の近傍に位置するように前記構造物に第3レーザ変位計を設け、前記第3レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第3レーザ光を、前記第2反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第5反射体で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を、前記第3レーザ変位計により測定し、前記第1行路の変化量、及び前記第3行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求めることとする。
本発明によれば、第1行路の変化量のうち第3行路の変化量に起因する分(ひずみに起因しない分)を考慮して測定対象部位に生じるひずみを求めるので、測定対象部位に生じるひずみを精度よく測定することができる。
本発明の他の一つは、上記測定方法であって、その発光部及び受光部がいずれも前記第1レーザ変位計の発光部の近傍に位置するように前記構造物に第2レーザ変位計を設け、前記第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍において前記被測定物の表面に設けられた反射体で反射されて前記第2レーザ変位計の受光部に入射し、前記第2レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第4反射体で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を、前記第2レーザ変位計により測定し、その発光部及び受光部がいずれも前記第2反射体で反射された前記第1レーザ光が前記構造物に入射する部位の近傍に位置するように前記構造物に第3レーザ変位計を設け、前記第3レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第3レーザ光を、前記第2反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第5反射体で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を、前記第3レーザ変位計により測定し、前記第1行路の変化量、前記第2行路の変化量、及び前記第3行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求めることとする。
本発明によれば、第1行路の変化量のうち、第2行路の変化量に起因する分(ひずみに起因しない分)又は第3行路の変化量に起因する分(ひずみに起因しない分)を考慮して測定対象部位に生じるひずみを求めるので、測定対象部位に生じるひずみを精度よく測定することができ、とくに第2行路の変化量と第3行路の変化量が一致しない場合でも、測定対象部位に生じるひずみを精度よく測定することができる。
尚、前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、例えば、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する。
また前記第3反射体の反射面は、例えば、金属板又はセラミックス板で構成されている。また前記第3反射体の反射面は、例えば、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する。
また前記第4反射体の反射面は、例えば、金属板又はセラミックス板で構成されている。また前記第4反射体の反射面は、例えば、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する。
また前記第5反射体の反射面は、例えば、金属板又はセラミックス板で構成されている。また前記第5反射体の反射面は、例えば、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する。
また前記被測定物は、例えば、火力発電プラントの高温配管であり、前記構造物は、前記火力発電プラントが収容されている建屋の一部である。
その他、本願が開示する課題、及びその解決方法は、発明を実施するための形態の欄、及び図面により明らかにされる。
本発明によれば、被測定物の表面に生じたひずみを簡素な構成にて精度よく測定することができる。
以下、本発明の一実施形態について図面とともに説明する。
図1に一実施形態として説明するひずみ測定システム1の概略的な構成を示している。ひずみ測定システム1は、火力発電プラントの鋼製ボイラ再燃蒸気管等(以下、高温配管とも称する。)の、測定時に高温となる被測定物2の表面に生じるひずみを測定する。尚、火力発電プラントにおいては、発電設備の寿命延伸等を目的として、クリープ損傷等に起因して配管表面に生じるひずみの測定が発電設備の運転中に随時行われる。
図1に示すように、被測定物2は、過去に生じた亀裂3並びに当該亀裂3の補修時に形成された溶接部4を有する。被測定物2の表面は保温材5によって被覆されているが、ひずみの測定対象部位である溶接部4の近傍の一部領域においては保温材5を除去して被測定物2の表面を露出させている。
溶接部4近傍の被測定物2の表面には、溶接部4を挟んで第1反射体12a及び第2反射体12bが配置されている。第1反射体12a及び第2反射体12bは、いずれも+z側に斜面形状の反射面を有している。第1反射体12a及び第2反射体12bは、夫々の反射面を対向させて配置されている。
被測定物2の表面の、第1反射体12aから+z方向に所定距離だけ離れた位置には、第1レーザ変位計10の発光部11及び受光部14が設けられている。また被測定物2の表面の第2反射体12bから+z方向に所定距離だけ離れた位置には、第3反射体13が設けられている。第1レーザ変位計10は、例えば、火力発電プラントが収容されている建屋の構造物6(屋根、梁、壁等)の所定位置に固定されている。
第1レーザ変位計10、第1反射体12a、第2反射体12b、及び第3反射体13は、第1測定系を構成している。第1測定系において、第1レーザ変位計10は、第1レーザ変位計10の発光部11から第1反射体12aに向けて出射したレーザ光(以下、第1レーザ光と称する。)を、第1反射体12aで第2反射体12bに向けて反射させ、第2反射体12bで第3反射体13に向けて入射させ、第3反射体13で反射させた後、以上の経路を逆に辿って第1レーザ変位計10の受光部14に入射させた場合における第1レーザ光の行路(以下、第1行路と称する。)の変化量を測定する。
尚、第1レーザ変位計10が、第1レーザ光が構造物6の表面で反射する際に生じる反射光(正反射成分、拡散反射成分)を利用して第1行路の変化量を測定可能なタイプのものである場合には、構造物6の表面を第3反射体13の反射面として機能させるようにしてもよい。
同図に示すように、第1レーザ変位計10の発光部11の近傍には、第2レーザ変位計20の発光部21と受光部23が設けられている。第2レーザ変位計20は、例えば、火力発電プラントが収容されている建屋の構造物6(屋根、梁、壁等)に固定されている。また被測定物2の表面の第1反射体12aの近傍には、その反射面を+z方向に向けて第4反射体22が設けられている。
第2レーザ変位計20及び第4反射体22は、第2測定系を構成している。第2測定系において、第2レーザ変位計20は、第2レーザ変位計20の発光部21から第4反射体22に向けて出射したレーザ光(以下、第2レーザ光と称する。)を、第4反射体22で第2レーザ変位計20の受光部23に向けて反射させて受光部23に入射させた場合における第2レーザ光の行路(以下、第2行路と称する。)の変化量を測定する。
尚、第2レーザ変位計20が、第2レーザ光が被測定物2の表面で反射する際に生じる反射光(正反射成分、拡散反射成分)を利用して第2行路の変化量を測定可能なタイプのものである場合には、被測定物2の表面を第4反射体22の反射面として機能させるようにしてもよい。
同図に示すように、第3反射体13の近傍には、第3レーザ変位計30の発光部31と受光部33が設けられている。第3レーザ変位計30は、例えば、火力発電プラントが収容されている建屋の構造物6(屋根、梁、壁等)に固定されている。また被測定物2の表面の第2反射体12bの近傍には、その反射面を+z方向に向けて第5反射体32が設けられている。
第3レーザ変位計30及び第5反射体32は、第3測定系を構成している。第3測定系において、第3レーザ変位計30は、第3レーザ変位計30の発光部31から第5反射体32に向けて出射したレーザ光(以下、第3レーザ光と称する。)を、第5反射体32で第3レーザ変位計30の受光部33に向けて反射させて受光部33に入射させた場合における第3レーザ光の行路(以下、第3行路と称する。)の変化量を測定する。
尚、第3レーザ変位計30が、第3レーザ光が被測定物2の表面で反射する際に生じる反射光(正反射成分、拡散反射成分)を利用して第3行路の変化量を測定可能なタイプのものである場合には、被測定物2の表面を第5反射体32の反射面として機能させるようにしてもよい。
第1反射体12a、第2反射体12b、第4反射体22、及び第5反射体32は、いずれも被測定物2に面する側が、高温下(600℃程度)でも性状が安定している(変形や溶融等しない)性質の素材を用いて構成されている。また、第1反射体12a、第2反射体12b、第4反射体22、及び第5反射体32の反射面は、いずれも水滴等が付着しにくい性質の素材を用いて構成されている。第1反射体12a、第2反射体12bの反射面は、例えば、鏡面加工が施された金属膜(白金膜等)で構成され、金属膜の表面には、腐食や汚れ防止のためにサファイアガラス等でコーティング処理され、第3反射体13、第4反射体22、及び第5反射体32の反射面は、例えば、金属板(SUS板,白金板等)やセラミックス板で構成されている。尚、レーザ変位計(第1レーザ変位計20、第2レーザ変位計20、第3レーザ変位計30)として、例えば、時間差方式のレーザ変位計や一部の高精度な三角測量方式のレーザ変位計を用いる場合は、第3反射体13、第4反射体22、及び第5反射体32の反射面は、鏡面加工が施された金属膜(白金膜等)で構成され、金属膜の表面に腐食や汚れ防止のためにサファイアガラス等でコーティング処理されていてもよい。
図2に、レーザ変位計(第1乃至第3レーザ変位計10,20,30)の一例(以下、レーザ変位計100と称する。)を示している。同図に示すように、レーザ変位計100は、プロセッサ111、入力装置112、出力装置113、レーザ駆動回路114、発光素子115、受光素子116、変位検出回路117、及び光学素子118を備える。
プロセッサ111は、例えば、マイクロコンピュータ、MPU(Micro Processing Unit)、CPU(Central Processing Unit)等を用いて構成され、レーザ変位計の統括的な制御や、変位検出回路117により検出される情報を入力とした各種演算処理等を行う。入力装置112は、レーザ変位計100に対する各種入力操作を受け付けるユーザインタフェース(操作ボタンやタッチパネル等)である。出力装置113は、各種測定結果を出力するユーザインタフェース(液晶パネル等)である。
レーザ駆動回路114は、発光素子115の駆動電流を生成する回路(ACC(Automatic Current Control)回路、APC(Automatic Power Control)回路等)を備える。
発光素子115は、発光部11,21,23の構成要素であり、半導体レーザ素子(レーザダイオード等)を用いて構成されている。受光素子116は、受光部14,23,33の構成要素であり、PSD(Position Sensitive Detector)やCMOS(Complementary metal Oxide Semi-conductor)等を用いて構成されている。
変位検出回路117は、受光装置116が出力する信号の増幅回路等を含み、被測定物2の変位を示す情報を出力する。光学素子118は、例えば、発光素子115から出射したレーザ光を集光する投光レンズや受光素子116に入射するレーザ光を集光する受光レンズを含む。
図3とともにレーザ変位計100の測定原理(三角測距方式)について説明する。同図において、発光素子115から出射したレーザ光は、投光レンズ118で集光されて被測定物2に照射される。被測定物2から反射されたレーザ光(正反射成分又は拡散反射成分)は、受光レンズ118で集光されて受光素子116の受光面にスポットを結ぶ。そして被測定物2が移動すると上記スポットも移動するので、上記スポットの位置を検出することで被測定物2の変位を示す情報を得ることができる。尚、以上の測定原理は一例に過ぎず、レーザ変位計100として他の測定原理によるものを採用してもよい。
続いて、図4とともに、以上の構成からなるひずみ測定システム1によって行われる、測定対象部位に生じるひずみの具体的な測定方法について説明する。
被測定物2の表面に生じるひずみの測定は、第1測定系による測定、第2測定系による測定、及び第3測定系による測定を実行し、これらの測定結果に基づき、以下に説明する演算を実施することにより行われる。
まず前述した第1行路は、第1レーザ変位計10の発光部11から出射して第1反射体12aに入射するレーザ光の行路d1、第1反射体12aで反射して第2反射体12bに入射するレーザ光の行路L、及び第2反射体12bで反射して第3反射体13に入射するレーザ光の行路d2の総和(=L+d1+d2)である。
また前述した第2行路は、第2レーザ変位計20の発光部21から出射して第4反射体22に入射し、第4反射体で反射して第2レーザ変位計20の受光部23に入射するまでのレーザ光の行路(=d1’)である。
また前述した第3行路は、第3レーザ変位計30の発光部31から出射して第5反射体32に入射し、第5反射体32で反射して第3レーザ変位計30の受光部33に入射するレーザ光の行路(=d2’)である。
ここで前述したように、第2レーザ変位計20の発光部21及び受光部23は第1レーザ変位計10の発光部11の近傍に設けられており、また第4反射体22は第1反射体12a近傍に設けられているので、d1’=d1と見なすことができる。また前述したように、第3レーザ変位計30の発光部31及び受光部33は第3反射体13の近傍に設けられており、また第5反射体32は、第2反射体12bの近傍に設けられているので、d2’=d2と見なすことができる。従って、第1反射体12aで反射して第2反射体12bに入射するまでのレーザ光の行路Lは次式から求めることができる。
行路L=第1行路−第2行路−第3行路 ・・・式1
従って、行路Lの変化量、即ち被測定物2の表面に生じるひずみの量は次式から求めることができる。
行路Lの変化量
=第1行路の変化量−第2行路の変化量−第3行路の変化量
・・・式2
行路Lの変化量
=第1行路の変化量−第2行路の変化量−第3行路の変化量
・・・式2
上式により、行路Lの変化量から、第2行路の変化量及び第3行路の変化量の影響を除去することができる。このため、気温の変化等の何らかの要因で被測定物2と構造物6との間の距離(d1’又はd2’)が変化した場合でも、行路Lの変化量を精度よく測定することができる。従って、第1反射体12aと第2反射体12bとの間の距離の変化量、即ち、測定対象部位に生じたひずみを精度よく測定することができる。
尚、以上では、第2行路の変化量と第3行路の変化量とが必ずしも一致しないものとしてこれらを個別に測定するようにしているが、例えば、第2行路の変化量と第3行路の変化量とが一致するとみなせるような場合は、第2行路の変化量及び第3行路の変化量のいずれか一方と第1行路の変位とに基づき行路Lの変化量を求めてもよい。その場合は式1に代えて次の式2又は式3から行路Lを求めればよい。
行路Lの変化量
=第1行路の変化量−2×(第2行路の変化量)・・・式3
行路Lの変化量
=第1行路の変化量−2×(第3行路の変化量)・・・式4
=第1行路の変化量−2×(第2行路の変化量)・・・式3
行路Lの変化量
=第1行路の変化量−2×(第3行路の変化量)・・・式4
以上に説明したように、本実施形態のひずみ測定システム1によれば、レーザ変位計と反射体とを用いた簡素な構成により、被測定物の表面に生じるひずみを精度よく測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)を被測定物から離れた場所に設けているので、被測定物が高温になる場合でも熱の影響を受けることがなく、常温下でレーザ変位計により精度よくひずみを測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)は建屋内の任意の構造物に設置することができるので、設置場所の自由度が高く、本実施形態のひずみ測定システム1は、様々な環境に適用することができる。
ところで、以上の説明は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれる。例えば、以上に説明したひずみ測定システム1では、行路の変化量の測定にレーザ変位計を用いているが、レーザ距離計を用いて行路の変化量を測定するようにしてもよい。
1 ひずみ測定システム、2 被測定物、3 亀裂、4 溶接部、5 保温材、6 構造物、10 第1レーザ変位計、11 発光部、12a 第1反射体、12b 第2反射体、13 第3反射体、14 受光部、20 第2レーザ変位計、21 発光部、22 第4反射体、23 受光部、30 第3レーザ変位計、31 発光部、32 第5反射体、33 受光部
Claims (14)
- 被測定物の表面に生じるひずみの測定方法であって、
被測定物の表面の測定対象部位を挟んで、前記被測定物の表面に第1反射体及び第2反射体を配置し、
前記被測定物の表面から所定距離離れた構造物に第1レーザ変位計を設け、
前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を、前記第1反射体と前記第2反射体とを結ぶ経路を通過させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を、前記第1レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求め、
前記第1反射体及び前記第2反射体を、前記第1レーザ光が、前記第1反射体、前記第2反射体、前記構造物の表面に設けられた第3反射体、前記第2反射体、及び前記第1反射体で順次反射されて前記受光部に入射するように配置し、
その発光部及び受光部がいずれも前記第1レーザ変位計の発光部の近傍に位置するように前記構造物に第2レーザ変位計を設け、
前記第2レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第4反射体で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を、前記第2レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量及び前記第2行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 - 請求項1に記載のひずみ測定方法であって、
その発光部及び受光部がいずれも前記第2反射体で反射された前記第1レーザ光が前記構造物に入射する部位の近傍に位置するように前記構造物に第3レーザ変位計を設け、
前記第3レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第3レーザ光を、前記第2反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第5反射体で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を、前記第3レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量、及び前記第3行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 - 請求項1に記載のひずみ測定方法であって、
その発光部及び受光部がいずれも前記第1レーザ変位計の発光部の近傍に位置するように前記構造物に第2レーザ変位計を設け、
前記第2レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第4反射体で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を、前記第2レーザ変位計により測定し、
その発光部及び受光部がいずれも前記第2反射体で反射された前記第1レーザ光が前記構造物に入射する部位の近傍に位置するように前記構造物に第3レーザ変位計を設け、
前記第3レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第3レーザ光を、前記第2反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第5反射体で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を、前記第3レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量、前記第2行路の変化量、及び前記第3行路の変化量に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 - 被測定物の表面に生じるひずみを測定するシステムであって、
被測定物の表面の測定対象部位を挟んで前記被測定物の表面に配置される、第1反射体及び第2反射体と、
前記被測定物の表面から所定距離離れた構造物に設けられる第1レーザ変位計と、
を備え、
前記第1レーザ変位計は、前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を、前記第1反射体と前記第2反射体とを結ぶ経路を通過させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を測定し、
前記第1反射体及び前記第2反射体は、前記第1レーザ光が、前記第1反射体、前記第2反射体、前記構造物の表面に設けられた第3反射体、前記第2反射体、及び前記第1反射体で順次反射されて前記受光部に入射するように配置され、
その発光部及び受光部が、いずれも前記第1レーザ変位計の発光部の近傍に位置するように前記構造物に設けられる、第2レーザ変位計を更に備え、
前記第2レーザ変位計は、前記第2レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第4反射体で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を測定する
ひずみ測定システム。 - 請求項4に記載のひずみ測定システムであって、
その発光部及び受光部が、いずれも前記第2反射体で反射された前記第1レーザ光が前記構造物に入射する部位の近傍に位置するように前記構造物に設けられる、第3レーザ変位計を更に備え、
前記第3レーザ変位計は、前記第3レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第3レーザ光を、前記第2反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第5反射体で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を測定する
ひずみ測定システム。 - 請求項4に記載のひずみ測定システムであって、
その発光部及び受光部が、いずれも前記第1レーザ変位計の発光部の近傍に位置するように前記構造物に設けられる、第2レーザ変位計と、
その発光部及び受光部が、いずれも前記第2反射体で反射された前記第1レーザ光が前記構造物に入射する部位の近傍に位置するように前記構造物に設けられる、第3レーザ変位計とを、更に備え、
前記第2レーザ変位計は、前記第2レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第2レーザ光を、前記第1反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第4反射体で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を測定し、
前記第3レーザ変位計は、前記第3レーザ変位計の発光部から前記被測定物に向けて出射した第3レーザ光を、前記第2反射体の近傍の前記被測定物の表面に設けられた第5反射体で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を測定する
ひずみ測定システム。 - 請求項4乃至6のいずれか一項に記載のひずみ測定システムであって、
前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 - 請求項6に記載のひずみ測定システムであって、
前記第3反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている
ひずみ測定システム。 - 請求項6に記載のひずみ測定システムであって、
前記第3反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 - 請求項4又は6に記載のひずみ測定システムであって、
前記第4反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている
ひずみ測定システム。 - 請求項4又は6に記載のひずみ測定システムであって、
前記第4反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 - 請求項5又は6に記載のひずみ測定システムであって、
前記第5反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている
ひずみ測定システム。 - 請求項5又は6に記載のひずみ測定システムであって、
前記第5反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 - 請求項4乃至6のいずれか一項に記載のひずみ測定システムであって、
前記被測定物は、火力発電プラントの高温配管であり、前記構造物は、前記火力発電プラントが収容されている建屋の一部である
ひずみ測定システム。
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