JP6034565B2 - 光電気信号変換方法及びディジタル画素センサ - Google Patents
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Claims (15)
- 光を電気信号に変換する方法であって、
第1のフェーズ中に検出器により光を受け取り、前記第1のフェーズ中に受け取られた光の光・周波数変換を前記第1のフェーズ中に行う工程であって、前記光の強度のディジタル表現の最上位ビット部分を算出する工程を含み、前記最上位ビット部分は、前記の受け取られた光の量を前記検出器によって電圧信号に変換し、前記電圧信号が固定基準電圧を超えた回数をカウントし、電圧が前記固定基準電圧を超えたときにフィードバック・ループにより前記電圧をリセットすることによって求められ、前記回数は、前記検出器からの電圧信号の電圧と前記固定基準電圧とを比較することによってカウントされる工程と、
前記第1のフェーズに続く第2のフェーズ中に前記検出器により光を受け取り、前記第2のフェーズ中に受け取られた光の光・時間変換を前記第2のフェーズ中に行う工程であって、前記光の強度のディジタル表現の最下位ビット部分を算出する工程を含み、前記最下位ビット部分は、前記第2のフェーズ中に前記の受け取られた光の量を前記検出器によって電圧信号に変換し、前記電圧信号を、時間経過とともに減少する基準電圧が下回るのに要する時間の量を求めることによって決定される工程と、
前記光・周波数変換及び前記光・時間変換に応じて前記光のディジタル表現を生成する工程と
を含み、
前記光の強度のディジタル表現は前記最上位ビット部分と前記最下位ビット部分とを有し、
前記最上位ビット部分は複数のビットを有し、かつ、前記最下位ビット部分は複数のビットを有する、
方法。 - 請求項1記載の方法であって、
光信号を受け取る工程と、
前記受け取られた光信号に関連付けられた電圧を求める工程と、
前記第1のフェーズ中に前記固定基準電圧と前記光信号の電圧を比較する工程と、
前記第1のフェーズ中に前記光信号の電圧が前記固定基準電圧を超えると、出力パルスを生成する工程と、
前記第1のフェーズ中に前記出力パルスのパルス幅を確立するために前記出力パルスに応じて前記光信号に関連付けられた電圧をリセットする工程と、
生成された出力パルスの数をカウントする工程であって、前記生成された出力パルスの数は、前記第1のフェーズ中の前記光信号の前記ディジタル表現の最上位ビット部分を反映する工程と、
前記第2のフェーズ中に減少する基準電圧を減少させる工程と、
前記第2のフェーズ中に前記減少する基準電圧と前記光信号の電圧を比較する工程と、
前記第2のフェーズ中に前記減少する基準電圧が前記光信号の電圧を下回ると、最終パルスを生成する工程と、
前記第2のフェーズ中に前記最終パルスが生成されるまで最大カウント値からカウンタを減少させる工程であって、前記最終パルスが生成される際の前記カウンタの値は、前記光信号の前記ディジタル表現の最下位ビット部分を反映する工程と、
前記光信号のディジタル表現において前記最上位ビット部分及び前記最下位ビット部分を出力する工程と
を含む方法。 - 請求項1記載の方法であって、
前記第1のフェーズは、
光信号を受け取る工程と、
前記受け取られた光信号に関連付けられた電圧を求める工程と、
前記光信号の電圧を前記固定基準電圧と比較する工程と、
前記光信号の電圧が前記固定基準電圧を超えると出力パルスを生成する工程と、
前記出力パルスのパルス幅を確立するために前記出力パルスに応じて前記光信号に関連付けられた電圧をリセットする工程
を含む方法。 - 請求項3記載の方法であって、
生成された出力パルスの数をカウントする工程を更に含み、前記生成された出力パルスの数は、前記光信号の前記ディジタル表現の最上位ビット部分を反映する方法。 - 請求項1記載の方法であって、
前記第2のフェーズは、
光信号を受け取る工程と、
前記受け取られた光信号に関連付けられた電圧を求める工程と、
前記光信号の電圧を前記減少する基準電圧と比較する工程と、
前記減少する基準電圧が前記光信号の電圧を下回る場合、最終パルスを生成する工程と
を含む方法。 - 請求項5記載の方法であって、
前記最終パルスが生成されるまで最大カウント値からカウンタを減らす工程を更に含む方法。 - 請求項6記載の方法であって、前記最終パルスが生成される際の前記カウンタの値は、前記光信号のディジタル表現の最下位ビット部分を反映する方法。
- ディジタル画素センサであって、
第1の動作フェーズ中に検出器により光を受け取り、前記第1の動作フェーズ中に受け取られた光の光・周波数変換を前記第1の動作フェーズ中に行い、前記第1の動作フェーズに続く第2の動作フェーズ中に前記検出器により光を受け取り、前記第2の動作フェーズ中に受け取られた光の光・時間変換を前記第2の動作フェーズ中に行うよう動作可能な画素ユニットを備え、
前記画素ユニットは、第1の動作フェーズ中に、前記光の強度のディジタル表現の最上位ビット部分を算出するよう動作可能であり、前記画素ユニットは、前記の受け取られた光の量を前記検出器によって電圧信号に変換し、前記電圧信号が固定基準電圧を超えた回数をカウントし、電圧が前記固定基準電圧を超えたときにフィードバック・ループにより前記電圧をリセットすることにより、前記最上位ビット部分を求めるよう動作可能であり、前記回数は、前記検出器からの電圧信号の電圧と前記固定基準電圧とを比較することによってカウントされ、
前記画素ユニットは、前記第2の動作フェーズ中に、前記光の強度のディジタル表現の最下位ビット部分を算出するよう動作可能であり、前記画素ユニットは、前記第2の動作フェーズ中に受け取られた光の量を前記検出器によって電圧信号に変換し、前記電圧信号を、時間経過とともに減少する基準電圧が下回るのに要する時間の量を求めることによって、前記最下位ビット部分を決定するよう動作可能であり、
前記光の強度のディジタル表現は前記最上位ビット部分と前記最下位ビット部分とを有し、
前記最上位ビット部分は複数のビットを有し、かつ、前記最下位ビット部分は複数のビットを有する、ディジタル画素センサ。 - 請求項8記載のディジタル画素センサであって、
前記画素ユニットは、
光信号を受け取るよう動作可能な検出器であって、前記検出器は、前記受け取られた光信号に関連付けられた電圧を求めるよう動作可能な検出器と、
第1の動作フェーズ中に前記固定基準電圧と前記光信号の電圧を比較するよう動作可能なコンパレータとを備え、前記コンパレータは、前記光信号の電圧が前記固定基準電圧を超えると出力パルスを生成することにより、光・周波数変換を行うよう動作可能であり、前記コンパレータは、前記第2の動作フェーズ中に、前記減少する基準電圧と、前記光信号の電圧とを比較するよう動作可能であり、前記コンパレータは、前記減少する基準電圧が前記光信号の電圧を下回ると最終パルスを生成することにより、光・時間変換を行うよう動作可能なディジタル画素センサ。 - 請求項9記載のディジタル画素センサであって、前記画素ユニットは、各出力パルスが生成された後、前記コンパレータの第1の入力における電圧をリセットするよう動作可能なフィードバック・ループを含むディジタル画素センサ。
- 請求項10記載のディジタル画素センサであって、前記出力パルスのパルス幅は、前記フィードバック・ループの時間遅延によって確立されるディジタル画素センサ。
- 請求項9記載のディジタル画素センサであって、前記画素ユニットは、前記第1の動作フェーズ中に生成された出力パルスの数を集計するよう動作可能なカウンタを含み、前記生成された出力パルスの数は、前記光信号のディジタル表現の最上位ビット部分を反映するディジタル画素センサ。
- 請求項12記載のディジタル画素センサであって、前記カウンタは、前記第2の動作フェーズ中に前記光信号の前記ディジタル表現の最下位ビット部分に関連付けられたカウント値を減少させるよう動作可能なディジタル画素センサ。
- 請求項13記載のディジタル画素センサであって、前記コンパレータは、前記光信号の前記ディジタル表現の最下位ビット部分を確立するための前記最終パルスに応じてカウント値の減少を停止させるよう動作可能なディジタル画素センサ。
- 請求項14記載のディジタル画素センサであって、前記カウンタは、前記最終パルスに応じて前記光信号の前記ディジタル表現の最上位ビット部分及び最下位ビット部分を出力するよう動作可能なディジタル画素センサ。
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