JP6018389B2 - Manufacturing method of conductive material - Google Patents

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Description

本発明は、電気回路、電磁波シールド材、タッチパネル等の用途に用いることができる導電性材料の製造方法に関するものである。 The present invention, electrical circuits, electromagnetic wave shielding material, those concerning the manufacturing how the conductive material can be used in applications such as a touch panel.

近年、電気回路、電磁波シールド材、タッチパネル等の用途で、導電性材料の需要が急速に伸びてきている。   In recent years, the demand for conductive materials has been rapidly increasing in applications such as electric circuits, electromagnetic shielding materials, and touch panels.

このような導電性材料において、例えば、電気回路パターンなどを形成する方法としては、1)銀、銅、金、ITO、酸化スズなどの導電性材料で被覆された支持体上に、2)感光性樹脂などのフォトレジスト剤を設け、3)所望のパターンのマスクをかけて紫外線などを照射して、4)フォトレジスト剤を硬化させ、5)未硬化部分を取り除いた後、6)化学エッチングなどによって不要な導電性材料部分を除去し電気回路を形成する方法(サブトラクティブ法)や、1)支持体上に無電解めっき触媒を付与し、2)フォトレジスト剤を塗布し、露光および現像し、3)無電解めっきを施し、導電パターンを形成し、4)めっきレジストを除去する方法(フルアディティブ法)、あるいは1)支持体上に無電解めっき触媒を付与し、無電解めっきを施し、2)フォトレジスト剤を塗布し、露光および現像し、3)電解めっきを施し、導電パターンを形成し、4)めっきレジスト等を剥離する方法(セミアディティブ法)などが知られている。   In such a conductive material, for example, a method of forming an electric circuit pattern or the like is as follows: 1) On a support coated with a conductive material such as silver, copper, gold, ITO, or tin oxide; 3) A photoresist agent such as a photosensitive resin is provided, 3) a mask having a desired pattern is irradiated with ultraviolet rays, 4) the photoresist agent is cured, 5) an uncured portion is removed, and 6) chemical etching is performed. A method of forming an electric circuit by removing unnecessary conductive material portions (such as a subtractive method) by 1) applying an electroless plating catalyst on a support, 2) applying a photoresist agent, exposure and development 3) Electroless plating is performed to form a conductive pattern, 4) A method of removing the plating resist (full additive method), or 1) An electroless plating catalyst is provided on the support, and electroless 2) Applying a photoresist agent, exposing and developing, 3) applying electroplating, forming a conductive pattern, 4) stripping the plating resist, etc. (semi-additive method) ing.

また、簡易な製造方法としては金属ペーストを支持体上にスクリーン印刷法やインクジェット印刷法等で印刷し、焼結等させることで電気回路パターンを形成する方法や無電解めっき触媒を有するペーストを支持体上にスクリーン印刷法やインクジェット印刷法等で印刷し、無電解めっきを施し電気回路パターンを形成する方法が知られている。   In addition, as a simple manufacturing method, a metal paste is printed on a support by a screen printing method or an ink jet printing method, and a method of forming an electric circuit pattern by sintering or supporting a paste having an electroless plating catalyst. A method is known in which an electric circuit pattern is formed by printing on a body by a screen printing method, an ink jet printing method, or the like, and performing electroless plating.

電磁波シールド材、タッチパネルなどで使用される導電性材料の性能として光透過率が求められ、このような導電性材料の支持体としては光透過性支持体が用いられる。この場合、光透過性支持体上に、金属細線を例えばメッシュパターン状に形成し、金属細線の線幅やピッチ、さらにはパターン形状などを調整することにより、高い光線透過率を維持し、高い導電性を付与することが知られている。   Light transmittance is required as the performance of conductive materials used in electromagnetic shielding materials, touch panels, etc., and a light transmissive support is used as a support for such a conductive material. In this case, a thin metal wire is formed in a mesh pattern, for example, on the light transmissive support, and a high light transmittance is maintained by adjusting the line width and pitch of the fine metal wire, and further the pattern shape, etc. It is known to impart electrical conductivity.

金属細線メッシュパターンの形状に関しては、各種パターンが紹介されている。特開平10−41682号公報では、正三角形、二等辺三角形、直角三角形などの三角形、正方形、長方形、菱形、平行四辺形、台形などの四角形、(正)六角形、(正)八角形、(正)十二角形、(正)二十角形などの(正)n角形、円、だ円、星形などを組み合わせた模様でありこれらの単位の単独の繰り返しあるいは2種類以上の組み合わせパターンが開示されている。これらのパターンの中でも、正方形、菱形、平行四辺形および正六角形のパターンが多用されている。   Various patterns have been introduced regarding the shape of the metal fine wire mesh pattern. In JP-A-10-41682, a triangle such as a regular triangle, an isosceles triangle, a right triangle, a square, a rectangle, a rhombus, a parallelogram, a trapezoid or other quadrangle, a (positive) hexagon, a (positive) octagon, ( (Positive) Dodecagon, (Positive) N-gonal such as Dodecagon, Circle, Ellipse, Star, etc. are combined, and these units are repeated independently or two or more combinations are disclosed. Has been. Among these patterns, square, rhombus, parallelogram, and regular hexagon patterns are frequently used.

通常、これらの金属メッシュパターンの細線幅や膜厚については、金属細線の視認性や導電性や光透過性等を考慮して、一般的には1〜50μm程度の線幅、1〜50μm程度の膜厚で、可能な限り均一な金属細線が用いられる。ピッチについては100〜1000μm程度に設定される。金属メッシュパターンの細線幅やピッチについては、それぞれの用途に応じて適宜調整される。   Usually, the fine line width and film thickness of these metal mesh patterns are generally about 1 to 50 μm and about 1 to 50 μm in consideration of the visibility, conductivity, light transmittance, etc. of the fine metal lines. A thin metal wire that is as uniform as possible is used. The pitch is set to about 100 to 1000 μm. The fine line width and pitch of the metal mesh pattern are appropriately adjusted according to each application.

電気回路やメッシュパターンを形成する金属の中でも、銀は最も導電性が高いため、他の金属に比べ、より幅が細く膜厚が薄い細線で高い導電性を得ることができる。線幅が細ければ、光透過性やパターンの視認性の点で有利である。また、パターン細線の厚みが薄ければ粘着剤層やハードコート層など種々の機能性層をパターン上に設けることが容易となる。例えば、2枚の電極を張り合わせるタッチセンサーや窓ガラスなどに貼合する電磁波シールドフィルムなど、金属パターン側の面に粘着剤層を設ける場合、金属パターンの厚みが薄い程、凹凸による空気の混入が少なく均一に貼合することが容易であるため、パターンの厚みが薄いことは大きな利点となる。そのため、銀パターンを有する導電性材料への期待が高まってきている。   Among metals forming an electric circuit or a mesh pattern, silver has the highest conductivity. Therefore, compared to other metals, high conductivity can be obtained with a thin wire that is thinner and thinner. A narrow line width is advantageous in terms of light transmittance and pattern visibility. Moreover, if the thickness of the pattern fine wire is thin, it becomes easy to provide various functional layers such as an adhesive layer and a hard coat layer on the pattern. For example, when a pressure-sensitive adhesive layer is provided on the surface of the metal pattern, such as a touch sensor that bonds two electrodes together or an electromagnetic wave shielding film that is bonded to a window glass, etc., the thinner the metal pattern, the more mixed air Since there are few and it is easy to bond uniformly, it is a big advantage that the thickness of a pattern is thin. Therefore, the expectation for the electroconductive material which has a silver pattern has increased.

銀パターンを支持体上に形成する方法としては、先に述べたようなサブトラクティブ法、フルアディティブ法やスクリーン印刷法の他、例えば国際公開第04/007810号パンフレットに開示されたような銀塩拡散転写方式を用いたもの、および特開2004−221564号公報に開示されたような化学現像銀を利用する感光性ハロゲン化銀を用いる方法を用いることができる。   As a method for forming a silver pattern on a support, in addition to the subtractive method, the full additive method and the screen printing method as described above, for example, a silver salt as disclosed in International Publication No. 04/007810 pamphlet A method using a photosensitive silver halide using a chemically developed silver as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-221564 can be used.

上記のようにして得られた銀パターンは、細線の幅が細くても、また厚みが薄くても、高い導電性が得られるが、細線の膜厚が0.3μm以下であった場合、製造工程中や製品の取り扱い時、あるいは製品の使用時に意図しない断線が発生する場合があるという問題を有していた。例えば、タッチセンサーの透明電極として銀塩拡散転写方式を用いた金属銀パターンを用いると、電極同士を貼り合わせる時やタッチセンサーとして使用している最中に意図しない断線が発生する場合があり、電極の導通不良や電極内での導電性のフレ、電極毎の導電性のフレが生じる場合があり改良が求められていた。   The silver pattern obtained as described above is highly conductive even if the width of the fine line is thin or thin, but if the thickness of the fine line is 0.3 μm or less, There has been a problem that unintentional disconnection may occur during the process, when handling the product, or when using the product. For example, if a metal silver pattern using a silver salt diffusion transfer method is used as the transparent electrode of the touch sensor, an unintended disconnection may occur when the electrodes are bonded together or while being used as a touch sensor. There has been a need for improvement in some cases, such as defective conduction of electrodes, conductive fluctuations within the electrodes, and conductive fluctuations for each electrode.

一方、銀パターンの電気回路パターンはマイグレーションが発生しやすく、これらを防止する技術としては、特開2009−188360号公報(特許文献1)にベンゾトリアゾール、ベンゾトリアゾール誘導体、メルカプト系化合物を金属イオントラップ剤として吸着させる技術が開示されている。また、銀の変色防止剤として、特開2007−88218号公報(特許文献2)には金属銀部を物理現像やめっき処理を施した金属銀に有機メルカプト系化合物にて変色防止する技術が開示されている。これらに開示された技術では、マイグレーションや変色の防止についての記載はあるが、銀画像パターンの意図しない断線についての概念や記述はない。   On the other hand, migration of silver circuit electric circuit patterns is likely to occur, and as a technique for preventing these, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-188360 (Patent Document 1) describes benzotriazole, benzotriazole derivatives, and mercapto compounds as metal ion traps. A technique for adsorbing as an agent is disclosed. In addition, as a silver discoloration preventing agent, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-88218 (Patent Document 2) discloses a technique for preventing discoloration of a metallic silver portion subjected to physical development or plating treatment with an organic mercapto compound. Has been. In the techniques disclosed in these documents, there is a description about prevention of migration and discoloration, but there is no concept or description about unintentional disconnection of the silver image pattern.

特開2009−188360号公報JP 2009-188360 A 特開2007−88218号公報JP 2007-88218 A

従って、本発明の目的は、電極内での導電性のフレ、あるいは電極毎の導電性のフレが改善された導電性材料が得られる導電性材料の製造方法を提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a conductive frame or manufacturing how the conductive material conductive material conductive frame is improved for each electrode is obtained in the electrode.

本発明の上記課題は以下の発明によって達成される。
(1)金属パターン側の面に接着剤層を有する導電性材料の製造方法であって、支持体上に形成された膜厚が0.3μm以下の銀パターンを、分子内に2つ以上のメルカプト基を有するトリアジンもしくはその誘導体にて処理することを特徴とする導電性材料の製造方法。
The above object of the present invention is achieved by the following invention.
(1) A method for producing a conductive material having an adhesive layer on the surface on the metal pattern side , wherein two or more silver patterns having a film thickness of 0.3 μm or less formed on a support are formed in a molecule. A method for producing a conductive material, comprising treating with a triazine having a mercapto group or a derivative thereof.

本発明により、電極内での導電性のフレ、あるいは電極毎の導電性のフレが改善された導電性材料が得られる導電性材料の製造方法を提供することができる。 The present invention can provide a conductive frame or manufacturing how the conductive material conductive material conductive frame is improved for each electrode is obtained in the electrode.

実施例で使用した電極パターンElectrode patterns used in the examples

本発明により得られる導電性材料の形態は、支持体上に銀パターンを有するものとなる。一例としては、メッシュパターン状に銀を描画した光透過性を有する導電性材料や、配線部を金属銀で描画した電気回路等を挙げることができる。   The form of the conductive material obtained by the present invention has a silver pattern on the support. As an example, a light-transmitting conductive material in which silver is drawn in a mesh pattern, an electric circuit in which a wiring portion is drawn with metallic silver, and the like can be given.

支持体上に銀パターンを形成させる方法について説明する。本発明においては種々の方法を用いることができ、例えば、印刷方式、フォトリソグラフィー方式、感光性ハロゲン化銀を用いる銀塩方式などを用いることができる。   A method for forming a silver pattern on the support will be described. In the present invention, various methods can be used. For example, a printing method, a photolithography method, a silver salt method using photosensitive silver halide, or the like can be used.

例えば特開昭55−91199号公報に開示されたような、金属銀インキやペーストをスクリーン印刷等の手段によって印刷した後、導電性を付与するために焼成する方法や、国際公開第04/39138号パンフレットに開示されたような、無電解めっき触媒を含有する樹脂塗料等を印刷した後、無電解銀めっきを施して導電性パターンを付与する方法等を用いることができる。   For example, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 55-91199, metallic silver ink or paste is printed by means such as screen printing and then baked to impart conductivity, or International Publication No. 04/39138. For example, a method of applying a conductive pattern by applying electroless silver plating after printing a resin paint containing an electroless plating catalyst or the like as disclosed in the No. pamphlet can be used.

フォトリソグラフィー方式には、均一な金属銀層を有する支持体上にフォトレジストを塗布し、露光、現像後、レジストが剥離された金属銀層をエッチング除去し導電性パターンを得るサブトラクティブ方式をとるもの、特開平11−170421号公報に開示されたような、無電解めっき触媒を含有するレジストを基板上に塗布し、露光、現像し未露光部のレジストを除去後、無電解銀めっきすることにより導電性パターンを得るアデティブ方式をとるもの等を用いることができる。   The photolithographic method is a subtractive method in which a photoresist is coated on a support having a uniform metal silver layer, and after exposure and development, the metal silver layer from which the resist has been peeled is removed by etching to obtain a conductive pattern. A resist containing an electroless plating catalyst as disclosed in JP-A-11-170421 is coated on a substrate, exposed and developed to remove unexposed portions of the resist, and then electroless silver-plated. It is possible to use an additive method for obtaining a conductive pattern.

感光性ハロゲン化銀を用いる銀塩方式としては、国際公開第04/007810号パンフレット、特開2003−77350号公報、特開2005−250169号公報や特開2007−188655号公報に開示されたような銀塩拡散転写方式を用いたものおよび国際公開第2001/51276号パンフレットや特開2004−221564号公報に開示されたような化学現像銀を利用するものを用いることができる。   The silver salt system using photosensitive silver halide is disclosed in International Publication No. 04/007810 pamphlet, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-77350, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-250169, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-188655. And those using chemically developed silver as disclosed in International Publication No. 2001/512276 pamphlet and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-221564 can be used.

化学現像銀を用いる方式は、露光された部位のハロゲン化銀が現像液中に存在する現像主薬によって還元されてできる化学現像銀を触媒核として、無電解めっきを施すことによって導電性とするものである。   The method using chemically developed silver is to make conductive by applying electroless plating with chemically developed silver, which is formed by reducing the silver halide at the exposed site by the developing agent present in the developer, as the catalyst core. It is.

銀塩拡散転写方式を用いる方式は、支持体上に物理現像核層と称する、銀錯体が現像主薬によって還元されて金属銀となるための触媒核層、およびその上層にハロゲン化銀乳剤層を設けた材料を使うものである(ハロゲン化銀写真乳剤層は別の支持体に塗設されていても良い)。また、現像処理時には現像主薬の他にハロゲン化銀を溶解する化合物(ハロゲン化銀溶剤)を作用させる。この材料に露光および現像を行うと、ネガ型のハロゲン化銀乳剤を用いた場合、露光部のハロゲン化銀は化学現像銀に変換されて、ハロゲン化銀乳剤層に留まる。一方、未露光部のハロゲン化銀は、上記現像液中に添加されたハロゲン化銀溶剤によって溶解されて銀錯体となり支持体上の物理現像核層まで移動・拡散し、そこで現像主薬により還元されることにより、導電性の金属銀が析出する。その後、露光部位にある化学現像銀を含む乳剤層は、ウォッシュオフを行うことにより除去される。   The method using the silver salt diffusion transfer method is called a physical development nucleus layer on a support, a catalyst nucleus layer for the silver complex to be reduced by a developing agent to become metallic silver, and a silver halide emulsion layer thereon. The provided material is used (the silver halide photographic emulsion layer may be coated on another support). In the development process, a compound (silver halide solvent) that dissolves silver halide is allowed to act in addition to the developing agent. When this material is exposed and developed, when a negative-type silver halide emulsion is used, the silver halide in the exposed portion is converted into chemically developed silver and remains in the silver halide emulsion layer. On the other hand, the unexposed silver halide is dissolved by the silver halide solvent added in the developer to form a silver complex that moves and diffuses to the physical development nucleus layer on the support, where it is reduced by the developing agent. Thus, conductive metallic silver is deposited. Thereafter, the emulsion layer containing chemically developed silver at the exposed site is removed by washing off.

支持体上に銀パターンを形成させる方法の中でも、本発明の0.3μm以下の均一な金属銀薄膜パターンを容易にかつ安定的に製造することができる銀塩拡散転写方式を用いる方法が特に好ましい。銀パターンの膜厚が不均一であると安定した性能の導電性材料が得られない場合があり、この現象は銀パターンの膜厚が薄くなるほど顕著になる。   Among the methods for forming a silver pattern on a support, a method using a silver salt diffusion transfer method capable of easily and stably producing a uniform metal silver thin film pattern of 0.3 μm or less of the present invention is particularly preferred. . If the film thickness of the silver pattern is not uniform, a conductive material having stable performance may not be obtained, and this phenomenon becomes more prominent as the film thickness of the silver pattern becomes thinner.

銀塩拡散転写方式を用いた方法で作製した金属銀細線パターンは、パターンがほとんど金属銀のみから形成されており、バインダー等で補強されていない。このことは導電性という観点からは大変好ましく、金属銀の厚みが0.3μm以下であっても、極めて高い導電性が得られる。   The metal silver fine wire pattern produced by a method using a silver salt diffusion transfer system is almost entirely formed of metal silver and is not reinforced with a binder or the like. This is very preferable from the viewpoint of conductivity, and extremely high conductivity can be obtained even if the thickness of the metal silver is 0.3 μm or less.

また、タッチパネル用センサー電極などで求められる高い透過率、低い銀パターンの視認性を達成するためには15μm以下の細線幅パターン(例えば、メッシュパターン)が求められる場合があるが、銀塩拡散転写方式を用いる方法で得られた銀パターンは、均一で高精細であるため、容易に安定的に実現することができる。   Further, in order to achieve the high transmittance required for sensor electrodes for touch panels and the visibility of low silver patterns, a fine line width pattern of 15 μm or less (for example, a mesh pattern) may be required. Since the silver pattern obtained by the method using the method is uniform and high-definition, it can be easily and stably realized.

一方で、バインダー等で補強されていないため、製造工程中、製品の取り扱い中、あるいは製品として使用している最中に意図しない断線が発生する場合がある。この現象は、描画した銀パターンの厚みが薄くなる程、顕著になる。   On the other hand, since it is not reinforced with a binder or the like, an unintended disconnection may occur during the manufacturing process, during the handling of the product, or during use as a product. This phenomenon becomes more prominent as the drawn silver pattern becomes thinner.

本発明の導電性材料の製造方法および導電性材料において、支持体上に銀パターンを形成させる最も好ましい方法である銀塩拡散転写方式について以下に詳しく説明する。   The silver salt diffusion transfer method, which is the most preferable method for forming a silver pattern on a support in the method for producing a conductive material and the conductive material of the present invention, will be described in detail below.

代表的な形態として、支持体上に物理現像核層とハロゲン化銀乳剤層を少なくともこの順に有する導電性材料前駆体に、可溶性銀塩形成剤および還元剤を含むアルカリ現像液中で作用させて、支持体上に銀パターンを形成させ導電性材料を製造する形態を挙げることができる。   As a typical form, a conductive material precursor having at least a physical development nucleus layer and a silver halide emulsion layer on a support is allowed to act in an alkaline developer containing a soluble silver salt forming agent and a reducing agent. A form in which a silver pattern is formed on a support to produce a conductive material can be mentioned.

上記導電性材料前駆体は支持体上に少なくとも物理現像核層、ハロゲン化銀乳剤層を支持体に近い方からこの順で有する。さらには、非感光性層を支持体から最も遠い最外層および/または物理現像核層とハロゲン化銀乳剤層との間の中間層、あるいは支持体と物理現像核層との間の下引き層として有していても良い。   The conductive material precursor has at least a physical development nucleus layer and a silver halide emulsion layer on the support in this order from the side closer to the support. Further, the non-photosensitive layer is the outermost layer farthest from the support and / or an intermediate layer between the physical development nucleus layer and the silver halide emulsion layer, or an undercoat layer between the support and the physical development nucleus layer. You may have as.

導電性材料前駆体の物理現像核層が含有する物理現像核としては、重金属あるいはその硫化物からなる微粒子(粒子サイズは1〜数十nm程度)が用いられる。例えば、金、銀等のコロイド、パラジウム、亜鉛等の水溶性塩と硫化物を混合した金属硫化物等が挙げられる。これらの物理現像核の微粒子層は、コーティング法または浸漬処理法によって、前記下引き層を形成させた支持体上に設けることができる。生産効率の面からコーティング法が好ましく用いられる。物理現像核層における物理現像核の含有量は、固形分で1mあたり0.1〜10mg程度が適当である。 As the physical development nuclei contained in the physical development nuclei layer of the conductive material precursor, fine particles (particle size is about 1 to several tens of nm) made of heavy metals or sulfides thereof are used. Examples thereof include colloids such as gold and silver, metal sulfides obtained by mixing water-soluble salts such as palladium and zinc and sulfides, and the like. The fine particle layer of these physical development nuclei can be provided on the support on which the undercoat layer is formed by a coating method or an immersion treatment method. From the viewpoint of production efficiency, a coating method is preferably used. The content of physical development nuclei in the physical development nuclei layer is suitably about 0.1 to 10 mg per m 2 in terms of solid content.

導電性材料前駆体に用いる物理現像核層は、水溶性高分子化合物を含有することもできる。水溶性高分子化合物を用いる場合の添加量は、物理現像核に対して0〜500質量%程度が好ましい。水溶性高分子化合物としては、アラビアゴム、セルロース、アルギン酸ナトリウム、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、ポリアクリルアミド、アクリルアミドとビニルイミダゾールの共重合体等を用いることができる。   The physical development nucleus layer used for the conductive material precursor can also contain a water-soluble polymer compound. When the water-soluble polymer compound is used, the addition amount is preferably about 0 to 500% by mass with respect to the physical development nucleus. Examples of the water-soluble polymer compound include gum arabic, cellulose, sodium alginate, polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, polyacrylamide, a copolymer of acrylamide and vinyl imidazole, and the like.

導電性材料前駆体の物理現像核層は架橋剤を含有することもできる。該架橋剤としては、例えばクロム明ばんの様な無機化合物、ホルムアルデヒド、グリオキザール、マレアルデヒド、グルタルアルデヒドのようなアルデヒド類、尿素やエチレン尿素等のN−メチロール化合物、ムコクロル酸、2,3−ジヒドロキシ−1,4−ジオキサンのようなアルデヒド等価体、2,4−ジクロロ−6−ヒドロキシ−s−トリアジン塩や、2,4−ジヒドロキシ−6−クロロ−トリアジン塩のような活性ハロゲンを有する化合物、ジビニルスルホン、ジビニルケトンやN,N,N−トリアクリロイルヘキサヒドロトリアジン、活性な三員環であるエチレンイミノ基やエポキシ基を分子中に二個以上有する化合物類、高分子硬膜剤としてのジアルデヒド澱粉等の種々の化合物の一種もしくは二種以上を用いることができる。架橋剤の中でも、好ましくは、グリオキザール、グルタルアルデヒド、3−メチルグルタルアルデヒド、サクシンアルデヒド、アジポアルデヒド等のジアルデヒド類であり、より好ましい架橋剤は、グルタルアルデヒドである。架橋剤は、物理現像核層に含まれる水溶性高分子化合物に対して、0.1〜30質量%を物理現像核層に含有させるのが好ましく、特に1〜20質量%が好ましい。   The physical development nucleus layer of the conductive material precursor can also contain a crosslinking agent. Examples of the crosslinking agent include inorganic compounds such as chromium alum, aldehydes such as formaldehyde, glyoxal, malealdehyde, and glutaraldehyde, N-methylol compounds such as urea and ethyleneurea, mucochloric acid, and 2,3-dihydroxy. Aldehyde equivalents such as -1,4-dioxane, compounds having an active halogen such as 2,4-dichloro-6-hydroxy-s-triazine salt and 2,4-dihydroxy-6-chloro-triazine salt, Divinyl sulfone, divinyl ketone, N, N, N-triacryloyl hexahydrotriazine, compounds having two or more active three-membered ethyleneimino groups and epoxy groups in the molecule, and dimers as polymer hardeners One or more of various compounds such as aldehyde starch can be used. Among the crosslinking agents, dialdehydes such as glyoxal, glutaraldehyde, 3-methylglutaraldehyde, succinaldehyde, and adipaldehyde are preferable, and glutaraldehyde is more preferable. The crosslinking agent is preferably contained in the physical development nucleus layer in an amount of 0.1 to 30% by mass, particularly preferably 1 to 20% by mass, based on the water-soluble polymer compound contained in the physical development nucleus layer.

物理現像核層の塗布には、例えばディップコーティング、スライドコーティング、カーテンコーティング、バーコーティング、エアーナイフコーティング、ロールコーティング、グラビアコーティング、スプレーコーティング等の塗布方式で塗布することができる。   The physical development nucleus layer can be applied by an application method such as dip coating, slide coating, curtain coating, bar coating, air knife coating, roll coating, gravure coating, spray coating and the like.

上記導電性材料前駆体においては光センサーとしてハロゲン化銀乳剤層が設けられる。ハロゲン化銀に関する銀塩写真フィルムや印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等で用いられる技術はそのまま用いることもできる。なお、本発明の副露光により前述の優れた効果が得られるハロゲン化銀乳剤はネガタイプのハロゲン化銀乳剤である。   In the conductive material precursor, a silver halide emulsion layer is provided as an optical sensor. Techniques used in silver halide photographic films, photographic papers, printing plate-making films, emulsion masks for photomasks, etc. relating to silver halide can be used as they are. The silver halide emulsion capable of obtaining the above-described excellent effects by the subexposure of the present invention is a negative type silver halide emulsion.

ハロゲン化銀乳剤層に用いられるハロゲン化銀乳剤粒子の形成には、順混合、逆混合、同時混合等の、Research Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)で記載されているような公知の手法を用いることができる。中でも同時混合法の1種で、粒子形成される液相中のpAgを一定に保ついわゆるコントロールドダブルジェット法を用いることが、粒径のそろったハロゲン化銀乳剤粒子が得られる点において好ましい。本発明の導電性材料前駆体においては、好ましいハロゲン化銀乳剤粒子の平均粒径は0.25μm以下、特に好ましくは0.05〜0.2μmである。本発明に用いられるハロゲン化銀乳剤のハロゲン化物組成には好ましい範囲が存在し、塩化物を80モル%以上含有するのが好ましく、90モル%以上が塩化物であることが特に好ましい。   The formation of silver halide emulsion grains used in the silver halide emulsion layer is performed by Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (forward mixing, reverse mixing, simultaneous mixing, etc.). (December 1989) can be used. Of these, the so-called controlled double jet method, which is one of the simultaneous mixing methods and keeps pAg in the liquid phase in which the grains are formed, is preferable from the viewpoint of obtaining silver halide emulsion grains having a uniform particle diameter. In the conductive material precursor of the present invention, the preferred silver halide emulsion grains have an average grain size of 0.25 μm or less, particularly preferably 0.05 to 0.2 μm. There is a preferred range for the halide composition of the silver halide emulsion used in the present invention, and it is preferable to contain 80 mol% or more of chloride, particularly preferably 90 mol% or more of chloride.

ハロゲン化銀乳剤の製造においては、必要に応じてハロゲン化銀粒子の形成あるいは物理熟成の過程において、亜硫酸塩、鉛塩、タリウム塩、あるいはロジウム塩もしくはその錯塩、イリジウム塩もしくはその錯塩などVIII族金属元素の塩、もしくはその錯塩を共存させても良い。また、種々の化学増感剤によって増感することができ、イオウ増感法、セレン増感法、貴金属増感法など当業界で一般的な方法を、単独、あるいは組み合わせて用いることができる。また本発明に用いる導電性材料前駆体においてハロゲン化銀乳剤は必要に応じて色素増感することもできる   In the production of silver halide emulsions, group VIII such as sulfite, lead salt, thallium salt, rhodium salt or complex thereof, iridium salt or complex thereof, in the process of forming silver halide grains or physical ripening as necessary A metal element salt or a complex salt thereof may coexist. Further, it can be sensitized by various chemical sensitizers, and methods commonly used in the art such as sulfur sensitization method, selenium sensitization method and noble metal sensitization method can be used alone or in combination. In the conductive material precursor used in the present invention, the silver halide emulsion can be dye-sensitized as necessary.

また、ハロゲン化銀乳剤層に含有するハロゲン化銀量とゼラチン量の比率は、ハロゲン化銀(銀換算)とゼラチンとの質量比(銀/ゼラチン)が1.2以上、より好ましくは1.5以上である。また、ハロゲン化銀乳剤層が含有するハロゲン化銀量は銀換算で2〜10g/mであることが好ましい。 The ratio of the amount of silver halide and the amount of gelatin contained in the silver halide emulsion layer is such that the mass ratio of silver halide (silver equivalent) to gelatin (silver / gelatin) is 1.2 or more, more preferably 1. 5 or more. The amount of silver halide contained in the silver halide emulsion layer is preferably 2 to 10 g / m 2 in terms of silver.

ハロゲン化銀乳剤層には、さらに種々の目的のために、公知の写真用添加剤を用いることができる。これらは、Research Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載、あるいは引用された文献に記載されている。   In the silver halide emulsion layer, known photographic additives can be used for various purposes. These are described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989) or cited.

導電性材料前駆体にはハロゲン化銀乳剤層と物理現像核層の間やハロゲン化銀乳剤層の上の層に非感光性層を設けることができる。これらの非感光性層は、水溶性高分子化合物を主たるバインダーとする層である。ここでいう水溶性高分子化合物とは、現像液で容易に膨潤し、下層のハロゲン化銀乳剤層、物理現像核層まで現像液を容易に浸透させるものであれば任意のものが選択できる。   In the conductive material precursor, a non-photosensitive layer can be provided between the silver halide emulsion layer and the physical development nucleus layer or on the silver halide emulsion layer. These non-photosensitive layers are layers containing a water-soluble polymer compound as a main binder. As the water-soluble polymer compound mentioned here, any compound can be selected as long as it easily swells with the developer and allows the developer to easily penetrate into the lower silver halide emulsion layer and the physical development nucleus layer.

具体的には、ゼラチン、アルブミン、カゼイン、ポリビニルアルコール等を用いることができる。特に好ましい水溶性高分子化合物は、ゼラチン、アルブミン、カゼイン等のタンパク質である。本発明の効果を十分に得るためには、この非感光性層のバインダー量としては、ハロゲン化銀乳剤層の総バインダー量に対して20〜100質量%の範囲が好ましく、特に30〜80質量%が好ましい。   Specifically, gelatin, albumin, casein, polyvinyl alcohol, or the like can be used. Particularly preferred water-soluble polymer compounds are proteins such as gelatin, albumin and casein. In order to sufficiently obtain the effects of the present invention, the amount of the binder in the non-photosensitive layer is preferably in the range of 20 to 100% by mass, particularly 30 to 80% by mass, based on the total amount of binder in the silver halide emulsion layer. % Is preferred.

これら非感光性層には、必要に応じてResearch Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載されているような公知の写真用添加剤を含有させることができる。また、処理後のハロゲン化銀乳剤層の剥離を妨げない限りにおいて、架橋剤により硬膜させることも可能である。   These non-photosensitive layers may be added to known photographic additives as described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989), if necessary. An agent can be included. Further, the film can be hardened with a crosslinking agent as long as the peeling of the silver halide emulsion layer after the treatment is not prevented.

導電性材料前駆体にはハロゲン化銀乳剤層の感光波長域に吸収極大を有する非増感性染料または顔料を、画質向上のためのハレーション、あるいはイラジエーション防止剤として用いることは好ましい。ハレーション防止剤としては、好ましくは上記した下引き層あるいは物理現像核層、あるいは物理現像核層とハロゲン化銀乳剤層の間に必要に応じて設けられる中間層、または支持体を挟んで設けられる裏塗り層に含有させることができる。イラジエーション防止剤としては、ハロゲン化銀乳剤層に含有させるのがよい。添加量は、目的の効果が得られるのであれば広範囲に変化しうるが、例えばハレーション防止剤として裏塗り層に含有させる場合、1mあたり、約20mg〜約1gの範囲が望ましく、好ましくは、極大吸収波長における吸光度として、0.5以上である。 As the conductive material precursor, it is preferable to use a non-sensitizing dye or pigment having an absorption maximum in the photosensitive wavelength region of the silver halide emulsion layer as a halation for improving image quality or an irradiation prevention agent. The antihalation agent is preferably provided with the above-described undercoat layer or physical development nucleus layer, or an intermediate layer provided as necessary between the physical development nucleus layer and the silver halide emulsion layer, or a support. It can be contained in the backing layer. The irradiation inhibitor is preferably contained in the silver halide emulsion layer. The amount added may vary widely as long as the desired effect can be obtained. For example, when it is contained in the backing layer as an antihalation agent, it is preferably in the range of about 20 mg to about 1 g per m 2 , preferably The absorbance at the maximum absorption wavelength is 0.5 or more.

上記導電性材料前駆体を用いて、銀パターンを描画するための方法について説明する。   A method for drawing a silver pattern using the conductive material precursor will be described.

導電性材料前駆体の露光について説明する。導電性材料前駆体のハロゲン化銀乳剤層は像様に露光されるが、露光方法として、所望のパターンの透過原稿とハロゲン化銀乳剤層を密着して露光する方法、あるいは各種レーザー光を用いて所望のパターンを走査露光する方法等がある。上記したレーザー光で露光する方法においては、例えば400〜430nmに発振波長を有する青色半導体レーザー(バイオレットレーザーダイオードともいう)を用いることができる。   The exposure of the conductive material precursor will be described. The silver halide emulsion layer of the conductive material precursor is exposed imagewise. As an exposure method, a method of exposing a transmission original having a desired pattern and the silver halide emulsion layer in close contact with each other, or using various laser beams. And a method of scanning exposure of a desired pattern. In the above-described method of exposing with laser light, for example, a blue semiconductor laser (also referred to as a violet laser diode) having an oscillation wavelength of 400 to 430 nm can be used.

導電性材料前駆体の銀塩拡散転写現像液による現像処理について説明する。上記のように像様に露光された導電性材料前駆体のハロゲン化銀乳剤層は、銀塩拡散転写現像液で処理することにより物理現像が起こり、現像可能なだけの潜像核を有さないハロゲン化銀が可溶性銀錯塩形成剤により溶解されて銀錯塩となり、物理現像核上で還元されて金属銀が析出し、例えばメッシュパターンの銀薄膜を得ることができる。一方、露光により現像可能なだけの潜像核を有するハロゲン化銀はハロゲン化銀乳剤層中で化学現像されて黒化銀となる。現像後、不要になったハロゲン化銀乳剤層(黒化銀もこれに含まれる)および中間層、保護層等は除去されて、銀薄膜が表面に露出する。   A development process using a silver salt diffusion transfer developer of a conductive material precursor will be described. The silver halide emulsion layer of the conductive material precursor exposed imagewise as described above undergoes physical development by processing with a silver salt diffusion transfer developer, and has latent image nuclei that can be developed. Silver halide is dissolved in a soluble silver complex salt forming agent to form a silver complex salt, which is reduced on the physical development nuclei to precipitate metallic silver. For example, a silver thin film having a mesh pattern can be obtained. On the other hand, silver halide having latent image nuclei that can be developed by exposure is chemically developed in the silver halide emulsion layer to become blackened silver. After development, unnecessary silver halide emulsion layers (including blackened silver), intermediate layers, protective layers and the like are removed, and a silver thin film is exposed on the surface.

現像処理後のハロゲン化銀乳剤層等の物理現像核層の上に設けられた層の除去方法は、水洗除去あるいは剥離紙等に転写剥離する方法がある。水洗除去は、スクラビングローラ等を用いて温水シャワーを噴射しながら除去する方法や温水をノズル等でジェット噴射しながら水の勢いで除去する方法がある。また、剥離紙等で転写剥離する方法は、ハロゲン化銀乳剤層上の余分なアルカリ液(銀錯塩拡散転写用現像液)を予めローラ等で絞り取っておき、ハロゲン化銀乳剤層等と剥離紙を密着させてハロゲン化銀乳剤層等をプラスチック樹脂フィルムから剥離紙に転写させて剥離する方法である。剥離紙としては吸水性のある紙や不織布、あるいは紙の上にシリカのような微粒子顔料とポリビニルアルコールのようなバインダーとで吸水性の空隙層を設けたものが用いられる。   As a method for removing a layer provided on a physical development nucleus layer such as a silver halide emulsion layer after development, there is a method of removing by washing with water or transferring to a release paper. There are two methods for removing the water washing: a method of removing hot water using a scrubbing roller or the like while jetting it with a nozzle or the like, and a method of removing hot water by jetting with a nozzle or the like. In addition, the method of transferring and peeling with a release paper or the like is to squeeze the excess alkali solution (silver complex diffusion transfer developer) on the silver halide emulsion layer in advance with a roller or the like, and remove the silver halide emulsion layer and the release paper. In this method, the silver halide emulsion layer and the like are transferred from a plastic resin film to a release paper and peeled off. As the release paper, water-absorbing paper or non-woven fabric, or paper having a water-absorbing void layer formed of fine pigment such as silica and binder such as polyvinyl alcohol on the paper is used.

上記導電性材料前駆体の現像処理において使用する、銀塩拡散転写現像の現像液について説明する。現像液は、可溶性銀錯塩形成剤および還元剤を含有するアルカリ液である。可溶性銀錯塩形成剤は、ハロゲン化銀を溶解し可溶性の銀錯塩を形成させる化合物であり、還元剤はこの可溶性銀錯塩を還元して物理現像核上に金属銀を析出させるための化合物である。   A developing solution for silver salt diffusion transfer development used in the development treatment of the conductive material precursor will be described. The developer is an alkaline solution containing a soluble silver complex salt forming agent and a reducing agent. The soluble silver complex salt forming agent is a compound that dissolves silver halide to form a soluble silver complex salt, and the reducing agent is a compound for reducing the soluble silver complex salt to deposit metallic silver on the physical development nucleus. .

現像液に用いられる可溶性銀錯塩形成剤としては、チオ硫酸ナトリウムやチオ硫酸アンモニウムのようなチオ硫酸塩、チオシアン酸ナトリウムやチオシアン酸アンモニウムのようなチオシアン酸塩、亜硫酸ナトリウムや亜硫酸水素カリウムのような亜硫酸塩、オキサゾリドン類、2−メルカプト安息香酸およびその誘導体、ウラシルのような環状イミド類、アルカノールアミン、ジアミン、特開平9−171257号公報に記載のメソイオン性化合物、米国特許第5,200,294号明細書に記載のようなチオエーテル類、5,5−ジアルキルヒダントイン類、アルキルスルホン類、他に、「The Theory of the photographic Process(4th edition,p474〜475)」、T.H.James著に記載されている化合物が挙げられる。   Soluble silver complex forming agents used in the developer include thiosulfates such as sodium thiosulfate and ammonium thiosulfate, thiocyanates such as sodium thiocyanate and ammonium thiocyanate, and sulfites such as sodium sulfite and potassium hydrogen sulfite. Salts, oxazolidones, 2-mercaptobenzoic acid and derivatives thereof, cyclic imides such as uracil, alkanolamines, diamines, mesoionic compounds described in JP-A-9-171257, US Pat. No. 5,200,294 Thioethers, 5,5-dialkylhydantoins, alkylsulfones, and others described in the specification, “The Theory of the Photographic Process (4th edition, p474-475)”, T. et al. H. Examples include compounds described in James.

これらの可溶性銀錯塩形成剤は単独で、または複数組み合わせて使用することができる。   These soluble silver complex salt forming agents can be used alone or in combination.

現像液に用いられる還元剤は、Research Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載されているような写真現像の分野で公知の現像主薬を用いることができる。例えば、ハイドロキノン、カテコール、ピロガロール、メチルハイドロキノン、クロロハイドロキノン等のポリヒドロキシベンゼン類、アスコルビン酸およびその誘導体、1−フェニル−4,4−ジメチル−3−ピラゾリドン、1−フェニル−3−ピラゾリドン、1−フェニル−4−メチル−4−ヒドロキシメチル−3−ピラゾリドン等の3−ピラゾリドン類、パラメチルアミノフェノール、パラアミノフェノール、パラヒドロキシフェニルグリシン、パラフェニレンジアミン等が挙げられる。これらの還元剤は単独で、または複数組み合わせて使用することができる。   The reducing agent used in the developer is a development known in the field of photographic development as described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989). The main drug can be used. For example, polyhydroxybenzenes such as hydroquinone, catechol, pyrogallol, methylhydroquinone, chlorohydroquinone, ascorbic acid and its derivatives, 1-phenyl-4,4-dimethyl-3-pyrazolidone, 1-phenyl-3-pyrazolidone, 1- Examples include 3-pyrazolidones such as phenyl-4-methyl-4-hydroxymethyl-3-pyrazolidone, paramethylaminophenol, paraaminophenol, parahydroxyphenylglycine, paraphenylenediamine, and the like. These reducing agents can be used alone or in combination.

可溶性銀錯塩形成剤の含有量は、現像液1Lあたり0.001〜5モルが好ましく、より好ましくは0.005〜1モルの範囲である。還元剤の含有量は現像液1Lあたり0.01〜1モルが好ましく、より好ましくは0.05〜1モルの範囲である。   The content of the soluble silver complex salt forming agent is preferably 0.001 to 5 mol, more preferably 0.005 to 1 mol, per liter of the developer. The content of the reducing agent is preferably from 0.01 to 1 mol, more preferably from 0.05 to 1 mol, per liter of the developer.

現像液のpHは10以上が好ましく、さらに11〜14が好ましい。所望のpHに調整するために、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどのアルカリ剤、リン酸、炭酸などの緩衝剤を単独、または組み合わせて含有させる。また、本発明の現像液には、亜硫酸ナトリウムや亜硫酸カリウム等の保恒剤を含むことが好ましい。   The pH of the developer is preferably 10 or more, and more preferably 11-14. In order to adjust to a desired pH, an alkali agent such as sodium hydroxide or potassium hydroxide, or a buffering agent such as phosphoric acid or carbonic acid is contained alone or in combination. The developer of the present invention preferably contains a preservative such as sodium sulfite or potassium sulfite.

上記導電性材料前駆体を拡散転写現像するための現像液の適用は、現像液を浸漬する方法や塗布する方法であってもよい。浸漬法は、例えば、タンクに大量に貯留された現像液中に、露光済みの導電性材料前駆体を浸漬しながら搬送するものであり、塗布法は、例えばハロゲン化銀乳剤層側に現像液を1平方メートルあたり40〜120ml程度塗布するものである。浸漬法の具体的な方法として、特開2006−190535号公報に開示されたような処理方法、処理装置を挙げることができるが、導電性材料の銀パターン面の非接触での処理を基本としているので銀パターンの断線が生じにくいため好ましい。現像液の適用温度は2〜30℃が好ましく、10〜25℃がさらに好ましい。現像液の適用時間は、20秒〜3分程度が適当である。この態様は、特に浸漬法式の場合に好適である。   The application of the developer for diffusion transfer development of the conductive material precursor may be a method of immersing or applying the developer. In the dipping method, for example, the exposed conductive material precursor is conveyed while dipped in a large amount of developer stored in a tank, and the coating method is, for example, the developer on the silver halide emulsion layer side. About 40 to 120 ml per square meter. Specific examples of the dipping method include a processing method and a processing apparatus as disclosed in JP-A-2006-190535, but based on non-contact processing of the silver pattern surface of the conductive material. Therefore, it is preferable because disconnection of the silver pattern hardly occurs. The application temperature of the developer is preferably 2 to 30 ° C, more preferably 10 to 25 ° C. The application time of the developer is suitably about 20 seconds to 3 minutes. This embodiment is particularly suitable in the case of the immersion method.

本発明の導電性材料の製造方法において、上記のように導電性材料前駆体を銀塩拡散転写現像液で現像し、銀パターンを描画した導電性材料は、分子内に2つ以上のメルカプト基を有するトリアジンもしくはその誘導体にて処理(以下、DM処理と称する)を施される。   In the method for producing a conductive material of the present invention, the conductive material precursor is developed with a silver salt diffusion transfer developer as described above, and the conductive material on which the silver pattern is drawn has two or more mercapto groups in the molecule. (Hereinafter, referred to as DM treatment).

処理の方法としては特に規定はないが、例えば、銀パターンを描画した導電性材料を分子内に2つ以上のメルカプト基を有するトリアジンもしくはその誘導体の溶液(以下、DM処理液と称する)に浸漬する方法や、銀パターンを描画した導電性材料にDM処理液を塗布する方法などが挙げられる。処理温度は10〜50℃が好ましく、20〜40℃がさらに好ましい。処理時間は10秒以上が好ましく、30秒以上がさらに好ましい。   The treatment method is not particularly specified. For example, a conductive material on which a silver pattern is drawn is immersed in a solution of triazine or a derivative thereof having two or more mercapto groups in the molecule (hereinafter referred to as a DM treatment solution). And a method of applying a DM treatment liquid to a conductive material on which a silver pattern is drawn. The treatment temperature is preferably 10 to 50 ° C, more preferably 20 to 40 ° C. The treatment time is preferably 10 seconds or longer, more preferably 30 seconds or longer.

本発明で用いられるメルカプト基を2つ以上含有するトリアジンもしくはその誘導体の具体例としては例えば、チオシアヌル酸、2,4−ジメルカプトトリアジン、2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジン、2,4−ジメルカプト−6−フェニルアミノトリアジン、2,4−ジメルカプト−6−ベンジルトリアジン等が挙げられるがこれらには限定されない。   Specific examples of the triazine or a derivative thereof containing two or more mercapto groups used in the present invention include, for example, thiocyanuric acid, 2,4-dimercaptotriazine, 2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine, 2,4 -Dimercapto-6-phenylaminotriazine, 2,4-dimercapto-6-benzyltriazine and the like can be mentioned, but not limited thereto.

DM処理液の溶媒としては、例えば、水、エタノールなどのアルコール類、アセトンなどのケトン類、テトラヒドロフランなどのエーテル類、メチルセロソルブ、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシドなど任意のものを用いることができる。   As a solvent for the DM treatment solution, for example, water, alcohols such as ethanol, ketones such as acetone, ethers such as tetrahydrofuran, methyl cellosolve, N, N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide and the like may be used. it can.

本発明で用いられるDM処理液が含有する、分子内にメルカプト基を2つ以上含有するトリアジンもしくはその誘導体の含有量は1リットルあたり0.01〜20gが好ましく、0.05〜5gがさらに好ましい。   The content of the triazine or derivative thereof containing two or more mercapto groups in the molecule contained in the DM treatment liquid used in the present invention is preferably 0.01 to 20 g, more preferably 0.05 to 5 g. .

上記DM処理液には必要に応じて、他の化合物を含有させることができる。例えば、DM処理液のpHを調整するための、アルカリや酸、緩衝剤などを含有させることができる。例えば、水を溶媒とする場合のDM処理液の好ましいpHは8以上である。さらに消泡剤、防腐剤、酵素、界面活性剤なども含有させることができる。DM処理後の乾燥は、フィルムドライヤーの温風を用いるなど任意の方法で実施することができる。乾燥前に水道水や純水などで水洗することもできる。   The DM treatment liquid may contain other compounds as necessary. For example, an alkali, an acid, a buffering agent, or the like for adjusting the pH of the DM treatment liquid can be contained. For example, the preferred pH of the DM treatment liquid when water is used as a solvent is 8 or more. Furthermore, antifoaming agents, preservatives, enzymes, surfactants and the like can also be contained. Drying after the DM treatment can be carried out by any method such as using warm air from a film dryer. It can also be washed with tap water or pure water before drying.

また、2枚の透明電極を張り合わせるタッチパネルセンサーや窓ガラスに貼合する電磁波シールドフィルムのように金属銀画像上に粘着剤層を設ける場合は、上記のようにDM処理液に浸漬などしなくても、2つ以上のメルカプト基を有するトリアジンもしくはその誘導体を分散した粘着剤層を設けて金属銀と接触、処理することも可能である。   In addition, when an adhesive layer is provided on a metal silver image, such as a touch panel sensor that bonds two transparent electrodes or an electromagnetic wave shielding film that is bonded to a window glass, it is not immersed in the DM treatment liquid as described above. However, it is also possible to provide a pressure-sensitive adhesive layer in which triazine having two or more mercapto groups or a derivative thereof is dispersed, and to contact and treat the metal silver.

本発明において、特開2008−34366号公報に記載されているような、銀パターンのX線回折法での2θ=38.2°のピークの半値幅が0.41以下とする後処理(以下、後処理と称する)を実施する場合、本発明のDM処理を併用することは好ましい。   In the present invention, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-34366, post-treatment (hereinafter referred to as “half-width of 2θ = 38.2 °” in the X-ray diffraction method of silver pattern is 0.41 or less) In this case, the DM treatment of the present invention is preferably used in combination.

後処理は導電性を向上させるものの、製造時や使用時の断線等がより起きやすくなるが、本発明のDM処理を併用することにより断線を防ぐことができる。後処理は本発明のDM処理の前でも後でもどちらでも処理することはできるが、後に実施する方が、後処理工程、例えば処理装置の搬送時に生じる可能性がある断線を防止するという点で好ましい。   Although the post-treatment improves conductivity, disconnection or the like at the time of manufacture or use is more likely to occur, but disconnection can be prevented by using the DM treatment of the present invention in combination. The post-treatment can be performed either before or after the DM treatment of the present invention. However, the post-treatment is performed in the point of preventing a disconnection that may occur during the post-processing step, for example, when the processing apparatus is transported. preferable.

以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、無論この記述により本発明が制限されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples, but it is needless to say that the present invention is not limited by this description.

(実施例1)
支持体として、塩化ビニリデンを含有する層により易接着加工が施された、全光線透過率が90%で厚みが100μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた。物理現像核層を塗布する前に、このフィルムにゼラチンを500mg/m含有する下引き層を塗布し乾燥した。
Example 1
As a support, a polyethylene terephthalate film having a total light transmittance of 90% and a thickness of 100 μm, which was subjected to easy adhesion processing with a layer containing vinylidene chloride, was used. Before the physical development nucleus layer was applied, an undercoat layer containing 500 mg / m 2 of gelatin was applied to the film and dried.

次に、硫化パラジウムゾル液を下記のようにして作製し、得られたゾルを用いて物理現像核液を作製した。   Next, a palladium sulfide sol solution was prepared as follows, and a physical development nucleus solution was prepared using the obtained sol.

<硫化パラジウムゾルの調製>
A液 塩化パラジウム 5g
塩酸 40mL
蒸留水 1000mL
B液 硫化ソーダ 8.6g
蒸留水 1000mL
A液とB液を撹拌しながら混合し、30分後にイオン交換樹脂の充填されたカラムに通し硫化パラジウムゾルを得た。
<Preparation of palladium sulfide sol>
Liquid A Palladium chloride 5g
Hydrochloric acid 40mL
Distilled water 1000mL
B liquid sodium sulfide 8.6g
Distilled water 1000mL
Liquid A and liquid B were mixed with stirring, and 30 minutes later, the solution was passed through a column filled with an ion exchange resin to obtain palladium sulfide sol.

<物理現像核液組成/1mあたり>
前記硫化パラジウムゾル 0.4mg
2質量%グルタルアルデヒド溶液 0.08mL
10質量%SP−200水溶液 0.5mg
(日本触媒(株)製ポリエチレンイミン;平均分子量10,000)
<Physical development nuclei solution composition / 1 m 2 per>
The palladium sulfide sol 0.4mg
0.08 mL of 2% glutaraldehyde solution
10 mass% SP-200 aqueous solution 0.5 mg
(Nippon Shokubai Co., Ltd. polyethyleneimine; average molecular weight 10,000)

この物理現像核液を硫化パラジウムが固形分で0.4mg/mになるように、下引き層の上に塗布し、乾燥した。 This physical development nuclei solution was applied on the undercoat layer so that palladium sulfide was 0.4 mg / m 2 in solid content, and dried.

続いて、上記物理現像核層を塗布した側と反対側の面に下記組成の裏塗り層を塗布した。
<裏塗り層組成/1mあたり>
ゼラチン 2g
不定形シリカマット剤(平均粒径5μm) 20mg
染料1 200mg
界面活性剤(S−1) 400mg
Subsequently, a backing layer having the following composition was applied to the surface opposite to the side on which the physical development nucleus layer was applied.
<Undercoat layer composition / per 1 m 2 >
2g of gelatin
Amorphous silica matting agent (average particle size 5μm) 20mg
Dye 1 200mg
Surfactant (S-1) 400mg

Figure 0006018389
Figure 0006018389

Figure 0006018389
Figure 0006018389

続いて、支持体に近い方から順に下記組成の中間層、ハロゲン化銀乳剤層、および最外層を上記物理現像核層の上に塗布した。ハロゲン化銀乳剤は、写真用ハロゲン化銀乳剤の一般的なダブルジェット混合法で製造した。このハロゲン化銀乳剤は、塩化銀95モル%と臭化銀5モル%で、平均粒径が0.15μmになるように調製した。このようにして得られたハロゲン化銀乳剤を定法に従いチオ硫酸ナトリウムと塩化金酸を用い、金イオウ増感を施した。こうして得られたハロゲン化銀乳剤は銀1gあたり0.5gのゼラチンを含む。   Subsequently, an intermediate layer, a silver halide emulsion layer, and an outermost layer having the following composition were coated on the physical development nucleus layer in order from the side closer to the support. The silver halide emulsion was prepared by a general double jet mixing method for photographic silver halide emulsions. This silver halide emulsion was prepared with 95 mol% of silver chloride and 5 mol% of silver bromide, and an average grain size of 0.15 μm. The silver halide emulsion thus obtained was subjected to gold sulfur sensitization using sodium thiosulfate and chloroauric acid according to a conventional method. The silver halide emulsion thus obtained contains 0.5 g of gelatin per gram of silver.

<中間層組成/1mあたり>
ゼラチン 0.5g
界面活性剤(S−1) 5mg
<Intermediate layer composition / per 1 m 2 >
Gelatin 0.5g
Surfactant (S-1) 5mg

<ハロゲン化銀乳剤層組成/1mあたり>
ゼラチン 1.0g
ハロゲン化銀乳剤 6.0g銀相当
1−フェニル−5−メルカプトテトラゾール 3.0mg
界面活性剤(S−1) 20mg
<Silver halide emulsion layer composition / 1m 2 per>
Gelatin 1.0g
Silver halide emulsion 6.0g silver equivalent 1-phenyl-5-mercaptotetrazole 3.0mg
Surfactant (S-1) 20mg

<最外層組成/1mあたり>
ゼラチン 1g
不定形シリカマット剤(平均粒径3.5μm) 10mg
界面活性剤(S−1) 10mg
<Outermost layer composition / per 1 m 2 >
1g of gelatin
Amorphous silica matting agent (average particle size 3.5μm) 10mg
Surfactant (S-1) 10mg

このようにして得た導電性材料前駆体を、水銀灯を光源とする密着プリンターで図1のパターンを有する透過原稿を密着させて露光した。図1のパターンにおいて、銀メッシュパターン部(導電部)aは、線幅10μm、細線間隔300μmの単位図形が正方形のメッシュからなり、bは電極端子部、cは非画像部(非導電部)である。露光量は導電性材料のメッシュ細線幅が透過原稿の細線幅と同じになる露光量で行った。   The conductive material precursor thus obtained was exposed by closely contacting a transparent original having the pattern of FIG. 1 with a contact printer using a mercury lamp as a light source. In the pattern of FIG. 1, the silver mesh pattern portion (conductive portion) a is made of a mesh whose unit figure having a line width of 10 μm and a fine line interval of 300 μm is formed, b is an electrode terminal portion, and c is a non-image portion (nonconductive portion). It is. The exposure amount was such that the mesh fine line width of the conductive material was the same as that of the transparent original.

その後、露光した導電性材料前駆体を下記現像液中に20℃で60秒間浸漬した後、続いてハロゲン化銀乳剤層、中間層、最外層および裏塗り層を40℃の温水で水洗除去し、乾燥処理した。露光したサンプルからはメッシュパターン状に銀薄膜が形成された導電性材料を得た。得られた図1の銀パターン画像の細線幅、ピッチを光学顕微鏡で確認したところ、露光用マスクの細線幅、ピッチを再現していた。また、細線部の膜厚を共焦点顕微鏡(レーザーテック社製、オプテリクスC130)で調べたところ、0.15μmであった。   Thereafter, the exposed conductive material precursor was immersed in the following developer at 20 ° C. for 60 seconds, and then the silver halide emulsion layer, intermediate layer, outermost layer and backing layer were removed by washing with warm water at 40 ° C. And dried. A conductive material having a silver thin film formed in a mesh pattern was obtained from the exposed sample. When the fine line width and pitch of the obtained silver pattern image of FIG. 1 were confirmed with an optical microscope, the fine line width and pitch of the exposure mask were reproduced. Moreover, it was 0.15 micrometer when the film thickness of the thin wire | line part was investigated with the confocal microscope (Lasertec company make, Optics C130).

<拡散転写現像液組成>
水酸化カリウム 40g
ハイドロキノン 28g
1−フェニル−3−ピラゾリドン 3g
亜硫酸カリウム 125g
N−メチルエタノールアミン 24g
臭化カリウム 2g
全量を水で1000mLとする。
pH=12.2に調整する。
<Diffusion transfer developer composition>
Potassium hydroxide 40g
Hydroquinone 28g
1-phenyl-3-pyrazolidone 3g
125g potassium sulfite
24g of N-methylethanolamine
Potassium bromide 2g
Bring the total volume to 1000 mL with water.
Adjust to pH = 12.2.

上記のようにして得られた図1の銀パターンが形成された導電性材料の電極端子間の電気抵抗をテスターで測定した(図1のb部)。最も外側の端子を1、最も内側の端子を7とし、端子1〜7の電極端子間の電気抵抗をテスターで測定した。これらの結果を表1に示す(表中の貼合前)。   The electrical resistance between the electrode terminals of the conductive material formed with the silver pattern of FIG. 1 obtained as described above was measured with a tester (part b in FIG. 1). The outermost terminal was 1, the innermost terminal was 7, and the electrical resistance between the electrode terminals of terminals 1 to 7 was measured with a tester. These results are shown in Table 1 (before bonding in the table).

上記のようにして得られた図1の銀パターンが形成された導電性材料に対して、下記DM処理液で30℃60秒間処理した。その後、35℃の温水で30秒間水洗し、フィルムドライヤーを使用して60℃の温風で2分間乾燥した。   The conductive material on which the silver pattern of FIG. 1 obtained as described above was formed was treated with the following DM treatment liquid at 30 ° C. for 60 seconds. Thereafter, it was washed with warm water at 35 ° C. for 30 seconds and dried with warm air at 60 ° C. for 2 minutes using a film dryer.

<DM処理液>
水酸化ナトリウム 1.4g
2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジン 0.7g
リン酸水素2カリウム 8.3g
85質量%リン酸 3.7g
全量を水で1000mLとする。
<DM treatment liquid>
Sodium hydroxide 1.4g
2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine 0.7 g
Dipotassium hydrogen phosphate 8.3g
85% by mass phosphoric acid 3.7 g
Bring the total volume to 1000 mL with water.

DM処理された図1の銀パターンが形成された導電性材料に対して、3質量%塩化ナトリウム水溶液を用いて60℃60秒間の後処理を実施した。その後、35℃の温水で30秒間水洗し、フィルムドライヤーを使用して60℃の温風で2分間乾燥した。   1 was subjected to a post-treatment at 60 ° C. for 60 seconds using a 3% by mass aqueous sodium chloride solution. Thereafter, it was washed with warm water at 35 ° C. for 30 seconds and dried with warm air at 60 ° C. for 2 minutes using a film dryer.

後処理を施した図1の銀パターンが形成された導電性材料に対して、光学用透明粘着シート(日東電工株式会社製LUCIACS CS9622T)をフィルム貼り合わせ機のニップロール圧を0.5MPa/mに調整し、分速1mで搬送しながら加圧して、銀パターン上に張り合わせた。このとき、光学用透明粘着シートが図1の銀パターンにおいて、端子部bは被覆せずに最下の電極から最上の電極までを被覆するように張り合わせた。粘着シートが張り合わされた導電性材料を60℃90%条件下で200時間保存した後、導電性材料の電極端子間の電気抵抗を貼り合わせ前と同様にテスターで測定した。これらの結果を表1に示す(表中の貼合後)。   A transparent adhesive sheet for optics (LUCIACS CS9622T manufactured by Nitto Denko Corporation) is applied to the conductive material having the silver pattern of FIG. The pressure was adjusted while being conveyed at a speed of 1 m per minute, and the laminate was laminated on the silver pattern. At this time, in the silver pattern of FIG. 1, the optical transparent adhesive sheet was bonded so that the terminal portion b was not covered and the lowermost electrode to the uppermost electrode were covered. After the conductive material with the adhesive sheet bonded was stored at 60 ° C. and 90% for 200 hours, the electrical resistance between the electrode terminals of the conductive material was measured with a tester in the same manner as before bonding. These results are shown in Table 1 (after bonding in the table).

(実施例2)
DM処理液の2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジンをチオシアヌル酸に変更した他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Example 2)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine in the DM treatment liquid was changed to thiocyanuric acid, and evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(実施例3)
DM処理液の2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジンを2,4−ジメルカプト−6−フェニルアミノトリアジンに変更した他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Example 3)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine in the DM treatment liquid was changed to 2,4-dimercapto-6-phenylaminotriazine. The evaluation was conducted. These results are shown in Table 1.

(比較例1)
DM処理液での処理を実施しなかった他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 1)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that the treatment with the DM treatment liquid was not performed, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例2)
DM処理液の2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジンを2−アミノ−4,6−ジメルカプトピリミジンに変更した他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 2)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine in the DM treatment liquid was changed to 2-amino-4,6-dimercaptopyrimidine. The evaluation was conducted. These results are shown in Table 1.

(比較例3)
DM処理液の2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジンを2−メルカプトベンゾイミダゾールに変更した他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 3)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine in the DM treatment liquid was changed to 2-mercaptobenzimidazole, and evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例4)
DM処理液の2,4−ジメルカプト−6−ジブチルアミノトリアジンを1−フェニル−5−メルカプトテトラゾールに変更した他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 4)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that 2,4-dimercapto-6-dibutylaminotriazine in the DM treatment liquid was changed to 1-phenyl-5-mercaptotetrazole, and evaluation was performed in the same manner as in Example 1. Carried out. These results are shown in Table 1.

(実施例4)
図1のパターンにおいて、銀メッシュパターン部(導電部)aが、線幅15μm、細線間隔350μmの単位図形が正方形のメッシュからなる透過原稿を用いた。共焦点顕微鏡(レーザーテック社製、オプテリクスC130)により測定した銀メッシュパターンの厚みは、0.15μmであった。その他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
Example 4
In the pattern of FIG. 1, a transparent original having a silver mesh pattern portion (conductive portion) a made of a mesh having a unit width of 15 μm and a fine line interval of 350 μm made of a square mesh was used. The thickness of the silver mesh pattern measured with a confocal microscope (Latertec Corporation, Optics C130) was 0.15 μm. Others were produced in the same manner as in Example 1 and evaluated in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例5)
DM処理液での処理を実施しなかった他は実施例4と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 5)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 4 except that the treatment with the DM treatment liquid was not performed, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(実施例5)
図1のパターンにおいて、銀メッシュパターン部(導電部)aが、線幅20μm、細線間隔400μmの単位図形が正方形のメッシュからなる透過原稿を用いた。共焦点顕微鏡(レーザーテック社製、オプテリクスC130)により測定した銀メッシュパターンの厚みは、0.15μmであった。その他は実施例1と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Example 5)
In the pattern of FIG. 1, a transparent original in which a silver mesh pattern portion (conductive portion) a is a mesh whose unit graphic having a line width of 20 μm and a fine line interval of 400 μm is a square is used. The thickness of the silver mesh pattern measured with a confocal microscope (Latertec Corporation, Optics C130) was 0.15 μm. Others were produced in the same manner as in Example 1 and evaluated in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例6)
DM処理液での処理を実施しなかった他は実施例5と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 6)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 5 except that the treatment with the DM treatment liquid was not performed, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(実施例6)
実施例1のハロゲン化銀乳剤層組成を以下のように変更した以外は実施例1と同様にして銀パターンを形成した。
<ハロゲン化銀乳剤層組成/1mあたり>
ゼラチン 1.0g
ハロゲン化銀乳剤 10.0g銀相当
1−フェニル−5−メルカプトテトラゾール 3.0mg
界面活性剤(S−1) 20mg
(Example 6)
A silver pattern was formed in the same manner as in Example 1 except that the composition of the silver halide emulsion layer in Example 1 was changed as follows.
<Silver halide emulsion layer composition / 1m 2 per>
Gelatin 1.0g
Silver halide emulsion 10.0g Equivalent to silver 1-Phenyl-5-mercaptotetrazole 3.0mg
Surfactant (S-1) 20mg

共焦点顕微鏡(レーザーテック社製、オプテリクスC130)により測定した銀メッシュパターンの厚みは、0.3μmであった。その他は実施例1と同様にDM処理、後処理を施し、導電性材料を作製して、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。   The thickness of the silver mesh pattern measured with a confocal microscope (Latertec Corporation, Optics C130) was 0.3 μm. Others were subjected to DM treatment and post-treatment in the same manner as in Example 1 to produce a conductive material, and evaluation was carried out in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例7)
DM処理液での処理を実施しなかった他は実施例6と同様に導電性材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 7)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 6 except that the treatment with the DM treatment liquid was not performed, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例8)
実施例1のDM処理液で処理する前の導電性材料に、下記のめっき液を用いて、液温25℃、電流密度1A/dm、めっき時間2分の条件下で電解銀めっきを実施し導電性材料を作製した。めっき後の図1のパターンの電極端子間の電気抵抗をテスターで測定した。これらの結果を表1に示す(表中の貼合前)。共焦点顕微鏡(レーザーテック社製、オプテリクスC130)により測定しためっき後のメッシュパターンの厚みは、0.5μmであった。その後、実施例1と同様にDM処理、後処理、粘着シートの貼合を実施した。実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す(表中の貼合後)。粘着シートを貼合した導電性材料には空気の混入が見られ、液晶画面の上に載せて確認したところ、凝視しなくても視認できる不可レベルであった。
(Comparative Example 8)
Using the following plating solution as the conductive material before being treated with the DM treatment liquid of Example 1, electrolytic silver plating was performed under the conditions of a liquid temperature of 25 ° C., a current density of 1 A / dm 2 , and a plating time of 2 minutes. A conductive material was prepared. The electrical resistance between the electrode terminals of the pattern of FIG. 1 after plating was measured with a tester. These results are shown in Table 1 (before bonding in the table). The thickness of the mesh pattern after plating measured with a confocal microscope (Latertec Corp., Optics C130) was 0.5 μm. Thereafter, DM treatment, post-treatment, and adhesive sheet bonding were carried out in the same manner as in Example 1. Evaluation was carried out in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1 (after bonding in the table). The conductive material bonded with the pressure-sensitive adhesive sheet was mixed with air, and when placed on the liquid crystal screen for confirmation, it was an unacceptable level that could be seen without staring.

<めっき液>
シアン化銀カリウム 45g
シアン化カリウム 115g
シルバーグロー3K 15ml
シルバーグローTY 5ml
全量を水で1000mLとする。
<Plating solution>
45g potassium cyanide
115g potassium cyanide
Silver Glow 3K 15ml
Silver Glow TY 5ml
Bring the total volume to 1000 mL with water.

Figure 0006018389
Figure 0006018389

表1の結果から、本発明の有効性が理解できる。   From the results in Table 1, the effectiveness of the present invention can be understood.

以上の結果から明らかなように、本発明により、電極内での導電性のフレ、あるいは電極毎の導電性のフレが改善された導電性材料が得られる導電性材料の製造方法を得ることができる。 As is apparent from the above results, the present invention, the conductivity in the electrode frame, or the conductive frame for each electrode to obtain a preparation how the conductive material improved conductivity material is obtained, Can do.

本発明の本発明の導電性材料の製造方法は、各種ディスプレイや窓などの電磁波シールド材の製造方法として、また、各種タッチパネル用透明電極有望な製造方法となり得る。
Producing how the conductive material of the present invention of the present invention, as a method of manufacturing an electromagnetic wave shielding material such as various displays and windows, also can be a promising preparation how the transparent electrodes for various touch panels.

a.銀メッシュパターン部(導電部)
b.電極端子部
c.非画像部(非導電部)
a. Silver mesh pattern part (conductive part)
b. Electrode terminal part c. Non-image part (non-conductive part)

Claims (1)

金属パターン側の面に接着剤層を有する導電性材料の製造方法であって、支持体上に形成された膜厚が0.3μm以下の銀パターンを、分子内に2つ以上のメルカプト基を有するトリアジンもしくはその誘導体にて処理することを特徴とする導電性材料の製造方法。 A method for producing a conductive material having an adhesive layer on the surface on the metal pattern side, wherein a silver pattern with a film thickness of 0.3 μm or less formed on a support has two or more mercapto groups in the molecule A process for producing a conductive material, characterized by treatment with triazine or a derivative thereof.
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