JP6204284B2 - Conductive material - Google Patents

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Description

本発明は、電気回路、電磁波シールド材、タッチパネル等の用途に用いることができる導電材料に関するものである。   The present invention relates to a conductive material that can be used for applications such as an electric circuit, an electromagnetic wave shielding material, and a touch panel.

近年、電気回路、電磁波シールド材、タッチパネル等の用途で、導電材料の需要が急速に伸びてきている。   In recent years, the demand for conductive materials has been rapidly increasing in applications such as electric circuits, electromagnetic shielding materials, and touch panels.

このような導電材料において、例えば、電気回路パターンなどを形成する方法としては、1)銀、銅、金、ITO、酸化スズなどの導電性素材で被覆された支持体上に、2)感光性樹脂などのフォトレジスト剤を設け、3)所望のパターンのマスクをかけて紫外線などを照射して、4)フォトレジスト剤を硬化させ、5)未硬化部分を取り除いた後、6)化学エッチングなどによって不要な導電性素材部分を除去し電気回路を形成する方法(サブトラクティブ法)や、1)支持体上に無電解めっき触媒を付与し、2)フォトレジスト剤を塗布し、露光及び現像し、3)無電解めっきを施し、導電パターンを形成し、4)めっきレジストを除去する方法(フルアディティブ法)、あるいは1)支持体上に無電解めっき触媒を付与し、無電解めっきを施し、2)フォトレジスト剤を塗布し、露光及び現像し、3)電解めっきを施し、導電パターンを形成し、4)めっきレジスト等を剥離する方法(セミアディティブ法)などが知られている。   In such a conductive material, for example, a method for forming an electric circuit pattern or the like is as follows: 1) On a support coated with a conductive material such as silver, copper, gold, ITO, or tin oxide; A photoresist agent such as a resin is provided, 3) a mask having a desired pattern is irradiated and irradiated with ultraviolet rays, 4) the photoresist agent is cured, 5) an uncured portion is removed, and 6) chemical etching, etc. A method of forming an electric circuit by removing an unnecessary conductive material portion (subtractive method) by 1), applying an electroless plating catalyst on a support, 2) applying a photoresist agent, exposing and developing. 3) Electroless plating is performed to form a conductive pattern, 4) A method of removing the plating resist (full additive method), or 1) An electroless plating catalyst is provided on the support, and electroless plating is performed. 2) Application of a photoresist agent, exposure and development, 3) electroplating, formation of a conductive pattern, and 4) a method of removing a plating resist or the like (semi-additive method). .

また、簡易な製造方法としては金属ペーストを支持体上にスクリーン印刷法やインクジェット印刷法等で印刷し、焼結等させることで電気回路パターンを形成する方法や無電解めっき触媒を有するペーストを支持体上にスクリーン印刷法やインクジェット印刷法等で印刷し、無電解めっきを施し電気回路パターンを形成する方法が知られている。   In addition, as a simple manufacturing method, a metal paste is printed on a support by a screen printing method or an ink jet printing method, and a method of forming an electric circuit pattern by sintering or supporting a paste having an electroless plating catalyst. A method is known in which an electric circuit pattern is formed by printing on a body by a screen printing method, an ink jet printing method, or the like, and performing electroless plating.

電磁波シールド材、タッチパネルなどで使用される導電材料の性能として光透過率が求められる。この場合、光透過性支持体上に、金属細線を例えばメッシュパターン状に形成し、金属細線の線幅やピッチ、さらにはパターン形状などを調整することにより、高い光線透過率を維持し、高い導電性を付与することが知られている。通常、これらの金属メッシュパターンの細線幅や膜厚については、金属細線の難視認性や光透過性および導電性等を考慮して、一般的には1〜50μm程度の細線幅、1〜50μm程度の膜厚で、可能な限り均一な金属細線が用いられる。ピッチについては100〜1000μm程度に設定される。金属メッシュパターンの細線幅やピッチについては、それぞれの用途に応じて適宜調整される。   Light transmittance is required as the performance of conductive materials used in electromagnetic shielding materials and touch panels. In this case, a thin metal wire is formed in a mesh pattern, for example, on the light transmissive support, and a high light transmittance is maintained by adjusting the line width and pitch of the fine metal wire, and further the pattern shape, etc. It is known to impart electrical conductivity. Normally, the fine line width and film thickness of these metal mesh patterns are generally about 1 to 50 μm and the fine line width is 1 to 50 μm in consideration of the difficult visibility, light transmission, and conductivity of the fine metal lines. A thin metal wire that is as uniform as possible is used with a film thickness of the order. The pitch is set to about 100 to 1000 μm. The fine line width and pitch of the metal mesh pattern are appropriately adjusted according to each application.

電気回路やメッシュパターンを形成する金属の中でも、銀は最も導電性が高いため、他の金属に比べ、より線幅が細く膜厚が薄い細線で高い導電性を得ることができる。線幅が細ければ、電気回路の小型化が可能であるし、光透過性やパターンの難視認性の点でも有利である。また、細線の厚みが薄ければ粘着剤層やハードコート層など種々の機能性層をパターン上に設けることが容易となる。例えば、2枚の電極を張り合わせるタッチセンサーや窓ガラスなどに貼合する電磁波シールドフィルムなど、金属パターン側の面に粘着剤層を設ける場合、金属パターンの厚みが薄い程、凹凸による空気の混入が少なく均一に貼合することが容易であるため、パターンの厚みが薄いことは大きな利点となる。そのため、銀を含有する細線によって形成された銀パターニング層を有する導電材料への期待が高まってきている。   Among metals forming an electric circuit or a mesh pattern, silver has the highest conductivity. Therefore, compared to other metals, high conductivity can be obtained with a thin wire having a narrower line width and a thinner film thickness. If the line width is narrow, it is possible to reduce the size of the electric circuit, and it is advantageous in terms of light transmittance and difficult pattern visibility. Further, if the thin wire is thin, various functional layers such as an adhesive layer and a hard coat layer can be easily provided on the pattern. For example, when a pressure-sensitive adhesive layer is provided on the surface of the metal pattern, such as a touch sensor that bonds two electrodes together or an electromagnetic wave shielding film that is bonded to a window glass, etc., the thinner the metal pattern, the more mixed air Since there are few and it is easy to bond uniformly, it is a big advantage that the thickness of a pattern is thin. Therefore, the expectation for the electrically conductive material which has the silver patterning layer formed of the thin wire containing silver has increased.

銀パターニング層を支持体上に形成する方法としては、先に述べたようなサブトラクティブ法、フルアディティブ法やスクリーン印刷法の他、例えば国際公開第04/007810号パンフレットに開示されるような銀塩拡散転写方式を用いる方法、および特開2004−221564号公報に開示されるような化学現像銀を用いる方法等の、感光性ハロゲン化銀を用いる方法も知られている。   As a method for forming a silver patterning layer on a support, in addition to the subtractive method, the full additive method and the screen printing method as described above, for example, silver as disclosed in International Publication No. 04/007810 pamphlet. Methods using photosensitive silver halide are also known, such as a method using a salt diffusion transfer method and a method using chemically developed silver as disclosed in JP-A-2004-221564.

前述のように銀パターニング層を用いることは多くの利点を有するが、その一方で種々の問題点があることも分かってきている。例えば、銀はイオンマイグレーションが発生しやすいので、電子回路として長時間駆動した場合には銀イオンの移動により電極間の絶縁破壊が生じる場合がある。この対策としては、例えば、特開平1−319202号公報(特許文献1)にはリン酸ジルコニウム化合物を用いた例が、特開2009−188360号公報(特許文献2)、および特開2013−125797号公報(特許文献3)にはメルカプト系化合物を用いた例が解決策として提案されている。またパターンの製造工程又はその保存により抵抗値の振れや断線が起こってしまう問題も有しており、これに対しては特開2013−196779号公報(特許文献4)にはメルカプトトリアジン化合物を用いた解決策が提案されている。   As described above, the use of a silver patterning layer has many advantages, but it has also been found that there are various problems. For example, since ion migration is likely to occur in silver, when the electronic circuit is driven for a long time, the dielectric breakdown between the electrodes may occur due to the movement of silver ions. As countermeasures, for example, JP-A-1-319202 (Patent Document 1) uses an example of using a zirconium phosphate compound, JP-A-2009-188360 (Patent Document 2), and JP-A-2013-12597. An example using a mercapto compound is proposed as a solution in Japanese Patent Publication (Patent Document 3). In addition, there is a problem that fluctuation of resistance value or disconnection occurs due to the manufacturing process of the pattern or its storage, and for this, a mercaptotriazine compound is used in JP2013-19679A (Patent Document 4). A solution that had been proposed.

近年、特に導電材料がタッチパネルに使用される場合には、モバイル用途等の例が飛躍的に伸びてきている。これらの用途に対しては以前にもまして、より過酷な、即ち例えばより高温や高湿下での抵抗値の安定性が要求される。また、導電性パターンに高い光透過性を付与するためには細線幅を狭くする必要がある。ところが、細線幅を狭くすると抵抗値は上昇するので、必要な導電性を確保するためには必要最小限の細線幅が選択されるが、これにより、抵抗の初期値が経時により例えば1.5倍程度に上昇してしまうだけでも製品に要求される品質を満たさない場合があり改善が求められていた。   In recent years, especially when a conductive material is used for a touch panel, examples of mobile use and the like have been dramatically increased. For these applications, the stability of the resistance value is more severe than before, that is, for example, at higher temperatures and higher humidity. In addition, in order to impart high light transmittance to the conductive pattern, it is necessary to narrow the fine line width. However, since the resistance value increases when the narrow line width is narrowed, the minimum necessary thin line width is selected in order to ensure the necessary conductivity. There is a case where the quality required for the product is not satisfied even if it rises to about twice, and improvement has been demanded.

特開平1−319202号公報JP-A-1-319202 特開2009−188360号公報JP 2009-188360 A 特開2013−125797号公報JP2013-125797A 特開2013−196779号公報JP 2013-196679 A

本発明の目的は、経時保存による抵抗値の変動が改善された導電材料を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a conductive material having improved resistance variation due to storage over time.

本発明の前述の課題は以下の発明によって達成される。
(1)支持体上にアミノ基を有する高分子化合物を含有する下引き層と、該下引き層上に下記一般式(1)で表される少なくとも1種の化合物にて処理された銀パターニング層を有する導電材料。
The aforementioned problems of the present invention are achieved by the following invention.
(1) An undercoat layer containing a polymer compound having an amino group on a support, and silver patterning treated on the undercoat layer with at least one compound represented by the following general formula (1) A conductive material having a layer.

Figure 0006204284
Figure 0006204284

式中Zは、一般式(1)の化合物が有する炭素原子、酸素原子、及び窒素原子と共にオキサゾール環、またはオキサジアゾール環を形成するのに必要な原子群を表す。   In the formula, Z represents an atomic group necessary for forming an oxazole ring or an oxadiazole ring together with the carbon atom, oxygen atom and nitrogen atom of the compound of the general formula (1).

本発明により、経時保存による抵抗値の変動が改善された導電材料を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a conductive material in which a variation in resistance value due to storage over time is improved.

実施例で使用した電極パターンElectrode patterns used in the examples

本発明により得られる導電材料の形態の一例としては、メッシュパターン状に金属銀を描画した銀パターニング層を有する光透過性導電材料や、配線部を金属銀で描画した銀パターニング層を有する電気回路等を挙げることができる。   As an example of the form of the conductive material obtained by the present invention, a light-transmitting conductive material having a silver patterning layer in which metallic silver is drawn in a mesh pattern, or an electric circuit having a silver patterning layer in which wiring portions are drawn with metallic silver Etc.

本発明の導電材料が有する支持体としては、プラスチック、ガラス、ゴム、セラミックス等が好ましく用いられる。本発明において支持体は、全光線透過率が60%以上である光透過性支持体であることが好ましい。プラスチックの中でも、フレキシブル性を有する樹脂フィルムは、取扱い性が優れている点で好適に用いられる。光透過性支持体として使用される樹脂フィルムの具体例としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)やポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、フッ素樹脂、シリコーン樹脂、ポリカーボネート樹脂、ジアセテート樹脂、トリアセテート樹脂、ポリアリレート樹脂、ポリ塩化ビニル、ポリスルフォン樹脂、ポリエーテルスルフォン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリオレフィン樹脂、環状ポリオレフィン樹脂等からなる樹脂フィルムが挙げられ、その厚さは25〜300μmであることが好ましい。また支持体は易接着層など公知の層を有していても良い。   As the support of the conductive material of the present invention, plastic, glass, rubber, ceramics and the like are preferably used. In the present invention, the support is preferably a light-transmitting support having a total light transmittance of 60% or more. Among plastics, a resin film having flexibility is preferably used in terms of excellent handleability. Specific examples of the resin film used as the light transmissive support include polyester resins such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN), acrylic resins, epoxy resins, fluororesins, silicone resins, polycarbonate resins, Examples of the resin film include acetate resin, triacetate resin, polyarylate resin, polyvinyl chloride, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyimide resin, polyamide resin, polyolefin resin, and cyclic polyolefin resin. It is preferable that it is 300 micrometers. The support may have a known layer such as an easy adhesion layer.

本発明の導電材料において支持体上に設けられる下引き層はアミノ基を有する高分子化合物を含有する。アミノ基を有する高分子化合物としては、例えば「高分子の化学反応」(大河原 信著 1972、化学同人社)2.6.4章記載のアミノ化セルロース、ポリエチレンイミン、ポリアリルアミン、ポリジアリルアミン、アリルアミンとジアリルアミンの共重合体、ジアリルアミンと無水マレイン酸との共重合体、ジアリルアミンと二酸化硫黄との共重合体、アクリル酸やメタクリル酸のジメチルアミノエチルエステルやアミノエチルエステルからなるアミノアルキルエステル類の重合体などの高分子化合物、ゼラチン、アルブミン、カゼイン、ポリジン等のタンパク質、ヒアルロン酸に代表されるムコ多糖類が挙げられ、本発明においてはいずれの化合物でも用いることができる。これらの内でも高いアミノ基の含有比率を得ることができるポリエチレンイミンや、アクリル酸およびメタクリル酸のアミノアルキルエステル類は好適に用いられる。   The undercoat layer provided on the support in the conductive material of the present invention contains a polymer compound having an amino group. Examples of the polymer compound having an amino group include aminated cellulose, polyethyleneimine, polyallylamine, polydiallylamine, and allylamine described in Chapter 2.6.4 of “Polymer chemical reaction” (Nobuo Okawara, 1972, Chemical Dojinsha). Copolymer of diallylamine and diallylamine, copolymer of diallylamine and maleic anhydride, copolymer of diallylamine and sulfur dioxide, aminoalkyl esters of acrylic acid and methacrylic acid dimethylaminoethyl ester and aminoethyl ester Polymer compounds such as coalescence, proteins such as gelatin, albumin, casein, and polyzine, and mucopolysaccharides typified by hyaluronic acid can be mentioned, and any compound can be used in the present invention. Among these, polyethyleneimine capable of obtaining a high amino group content and aminoalkyl esters of acrylic acid and methacrylic acid are preferably used.

本発明の導電材料が有する下引き層は、前述で示したアミノ基を有する高分子化合物以外に、アミノ基を有さない高分子化合物を含有することができる。アミノ基を有さない高分子化合物としては、例えばポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、ポリアクリル酸などが例示される。高分子化合物はポリマーラテックスであっても良く、単独重合体や共重合体など各種公知のラテックスを用いることができる。単独重合体としては例えば酢酸ビニル、塩化ビニル、スチレン、メチルアクリレート、ブチルアクリレート、メタクリロニトリル、ブタジエン、イソプレン重合体などがあり、共重合体としては例えばエチレン・ブタジエン共重合体、スチレン・ブタジエン共重合体、スチレン・p−メトキシスチレン共重合体、スチレン・酢酸ビニル共重合体、酢酸ビニル・塩化ビニル共重合体、酢酸ビニル・マレイン酸ジエチル共重合体、メチルメタクリレート・アクリロニトリル共重合体、メチルメタクリレート・ブタジエン共重合体、メチルメタクリレート・スチレン共重合体、メチルメタクリレート・酢酸ビニル共重合体、メチルメタクリレート・塩化ビニリデン共重合体、メチルアクリレート・アクリロニトリル共重合体、メチルアクリレート・ブタジエン共重合体、メチルアクリレート・スチレン共重合体、メチルアクリレート・酢酸ビニル共重合体、アクリル酸・ブチルアクリレート共重合体、メチルアクリレート・塩化ビニル共重合体、ブチルアクリレート・スチレン共重合体、ポリエーテル系ウレタン、ポリエステル系ウレタン、ポリカーボネート系ウレタンなどが挙げられる。   The undercoat layer of the conductive material of the present invention can contain a polymer compound having no amino group in addition to the polymer compound having an amino group described above. Examples of the polymer compound having no amino group include polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, and polyacrylic acid. The polymer compound may be a polymer latex, and various known latexes such as a homopolymer and a copolymer can be used. Examples of the homopolymer include vinyl acetate, vinyl chloride, styrene, methyl acrylate, butyl acrylate, methacrylonitrile, butadiene, and isoprene polymer. Examples of the copolymer include ethylene / butadiene copolymer and styrene / butadiene copolymer. Polymer, styrene / p-methoxystyrene copolymer, styrene / vinyl acetate copolymer, vinyl acetate / vinyl chloride copolymer, vinyl acetate / diethyl maleate copolymer, methyl methacrylate / acrylonitrile copolymer, methyl methacrylate・ Butadiene copolymer, methyl methacrylate / styrene copolymer, methyl methacrylate / vinyl acetate copolymer, methyl methacrylate / vinylidene chloride copolymer, methyl acrylate / acrylonitrile copolymer, methyl acrylate / Tadiene copolymer, methyl acrylate / styrene copolymer, methyl acrylate / vinyl acetate copolymer, acrylic acid / butyl acrylate copolymer, methyl acrylate / vinyl chloride copolymer, butyl acrylate / styrene copolymer, polyether Urethane, polyester urethane, polycarbonate urethane and the like.

本発明においてアミノ基を有する高分子化合物の含有量は、10〜500mg/mであることが好ましく、より好ましくは20〜100mg/mである。また下引き層におけるアミノ基を有する高分子化合物の割合は、下引き層の総固形分量の20質量%以上であることが好ましく、より好ましくは50質量%以上である。 The content of the polymer compound having an amino group in the present invention is preferably 10 to 500 mg / m 2, more preferably from 20 to 100 mg / m 2. The proportion of the polymer compound having an amino group in the undercoat layer is preferably 20% by mass or more, more preferably 50% by mass or more, based on the total solid content of the undercoat layer.

本発明に用いられる下引き層は前述した成分に加え、更に架橋剤を含有することが好ましい。下引き層が含有する架橋剤としては、例えばクロム明ばんの様な無機化合物、ホルムアルデヒド、グリオキザール、マレアルデヒド、グルタルアルデヒドのようなアルデヒド類、尿素やエチレン尿素等のN−メチロール化合物、ムコクロル酸、2,3−ジヒドロキシ−1,4−ジオキサンのようなアルデヒド等価体、2,4−ジクロロ−6−ヒドロキシ−s−トリアジン塩や、2,4−ジヒドロキシ−6−クロロ−トリアジン塩のような活性ハロゲンを有する化合物、ジビニルスルホン、ジビニルケトンやN,N,N−トリアクリロイルヘキサヒドロトリアジン、活性な三員環であるエチレンイミノ基を二個以上有する化合物、エポキシ基を分子中に二個以上有する化合物、例えば、ソルビトールポリグリシジルエーテルやポリグリセロールポリグリシジルエーテル、ジグリセロールポリグリシジルエーテル、グリセロールポリグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル等、あるいはこれら以外に「高分子の化学反応」(大河原 信著 1972、化学同人社)の2.6.7章、5.2章、9.3章など記載の架橋剤等の公知の高分子架橋剤を含有させることもできる。中でもエポキシ基を分子中に二個以上有する化合物が好ましい。   The undercoat layer used in the present invention preferably further contains a crosslinking agent in addition to the components described above. Examples of the crosslinking agent contained in the undercoat layer include inorganic compounds such as chromium alum, aldehydes such as formaldehyde, glyoxal, malealdehyde, and glutaraldehyde, N-methylol compounds such as urea and ethylene urea, mucochloric acid, Aldehyde equivalents such as 2,3-dihydroxy-1,4-dioxane, activities such as 2,4-dichloro-6-hydroxy-s-triazine salts and 2,4-dihydroxy-6-chloro-triazine salts Halogen-containing compounds, divinyl sulfone, divinyl ketone, N, N, N-triacryloylhexahydrotriazine, compounds having two or more active three-membered ethyleneimino groups, and having two or more epoxy groups in the molecule Compounds such as sorbitol polyglycidyl ether and polyglycerol Liglycidyl ether, Diglycerol polyglycidyl ether, Glycerol polyglycidyl ether, Polyethylene glycol diglycidyl ether, Polypropylene glycol diglycidyl ether, etc. Other than these, "Polymer chemical reaction" (Nobuyoshi Okawara 1972, Chemical Dojinsha) Known polymer cross-linking agents such as the cross-linking agents described in 2.6.7, 5.2, 9.3 and the like can also be contained. Of these, compounds having two or more epoxy groups in the molecule are preferred.

本発明に用いられる下引き層が含有する架橋剤の量としては、前記アミノ基を有する高分子化合物のアミノ基の全てと結合反応しない量であることが好ましい。全てと結合反応した場合、本発明の求める効果が得られない場合がある。結合反応していないアミノ基は、架橋剤添加前のアミノ基の数に対して20モル%以上であることが好ましく、より好ましくは50モル%以上である。   The amount of the crosslinking agent contained in the undercoat layer used in the present invention is preferably an amount that does not bind and react with all the amino groups of the polymer compound having an amino group. In the case of binding reaction with all, the desired effect of the present invention may not be obtained. The amino group that has not undergone a binding reaction is preferably 20 mol% or more, more preferably 50 mol% or more, based on the number of amino groups before addition of the crosslinking agent.

本発明に用いられる下引き層には、その他、必要に応じてResearch Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載されているような公知の添加剤を含有させることもできる。   In the undercoat layer used in the present invention, as necessary, as described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989) Known additives can also be included.

下引き層の塗布には、例えばディップコーティング、スライドコーティング、カーテンコーティング、バーコーティング、エアーナイフコーティング、ロールコーティング、グラビアコーティング、スプレーコーティングなどの塗布方式で塗布することができる。   The undercoat layer can be applied by an application method such as dip coating, slide coating, curtain coating, bar coating, air knife coating, roll coating, gravure coating, spray coating and the like.

次に、前記した下引き層上に銀パターニング層を形成させる方法について説明する。銀パターニング層を形成させる方法としては種々の方法を用いることができ、例えば、印刷方式、フォトリソグラフィー方式、感光性ハロゲン化銀を用いる銀塩方式などを用いることができる。   Next, a method for forming a silver patterning layer on the undercoat layer will be described. Various methods can be used as a method for forming the silver patterning layer. For example, a printing method, a photolithography method, a silver salt method using photosensitive silver halide, or the like can be used.

印刷方式には、例えば特開昭55−91199号公報に開示されたような、金属銀インキやペーストをスクリーン印刷等の手段によって印刷した後、導電性を付与するために焼成する方法や、国際公開第04/39138号パンフレットに開示されたような、無電解めっき触媒を含有する樹脂塗料等を印刷した後、無電解銀めっきを施して導電性パターンを付与する方法等を用いることができる。   The printing method includes, for example, a method in which metallic silver ink or paste is printed by means such as screen printing, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 55-91199, and then fired to impart conductivity. For example, a method of printing a resin paint containing an electroless plating catalyst or the like, and applying electroless silver plating to give a conductive pattern, as disclosed in Japanese Patent Publication No. 04/39138, can be used.

フォトリソグラフィー方式には、均一な金属銀層を有する支持体上にフォトレジストを塗布し、露光、現像後、レジストが剥離された金属銀層をエッチング除去し導電性パターンを得るサブトラクティブ方式をとるもの、特開平11−170421号公報に開示されたような、無電解めっき触媒を含有するレジストを基板上に塗布し、露光、現像し未露光部のレジストを除去後、無電解銀めっきすることにより導電性パターンを得るアデティブ方式をとるもの等を用いることができる。   The photolithographic method is a subtractive method in which a photoresist is coated on a support having a uniform metal silver layer, and after exposure and development, the metal silver layer from which the resist has been peeled is removed by etching to obtain a conductive pattern. A resist containing an electroless plating catalyst as disclosed in JP-A-11-170421 is coated on a substrate, exposed and developed to remove unexposed portions of the resist, and then electroless silver-plated. It is possible to use an additive method for obtaining a conductive pattern.

感光性ハロゲン化銀を用いる銀塩方式としては、国際公開第04/007810号パンフレット、特開2003−77350号公報、特開2005−250169号公報や特開2007−188655号公報に開示されたような銀塩拡散転写方式を用いたもの、および国際公開第01/51276号パンフレットや特開2004−221564号公報に開示されたような化学現像銀を利用するものを用いることができる。化学現像銀を用いる方式は、露光された部位のハロゲン化銀が現像液中に存在する現像主薬によって還元されてできる化学現像銀を触媒核として、無電解めっきを施すことによって導電性とするものである。   The silver salt system using photosensitive silver halide is disclosed in International Publication No. 04/007810 pamphlet, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-77350, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-250169, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-188655. And those using chemically developed silver as disclosed in International Publication No. 01/51276 pamphlet and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-221564 can be used. The method using chemically developed silver is to make conductive by applying electroless plating with chemically developed silver, which is formed by reducing the silver halide at the exposed site by the developing agent present in the developer, as the catalyst core. It is.

銀塩拡散転写方式を用いる方式は、支持体上に物理現像核層と称する、銀錯体が現像主薬によって還元されて金属銀となるための触媒核層、およびその上層にハロゲン化銀乳剤層を設けた材料を使うものである(ハロゲン化銀写真乳剤層は別の支持体に塗設されていても良い)。また、現像処理時には現像主薬の他にハロゲン化銀を溶解する化合物(ハロゲン化銀溶剤)を作用させる。この材料に露光および現像を行うと、ネガ型のハロゲン化銀乳剤を用いた場合、露光部のハロゲン化銀は化学現像銀に変換されて、ハロゲン化銀乳剤層に留まる。一方、未露光部のハロゲン化銀は、前述の現像液中に添加されたハロゲン化銀溶剤によって溶解されて銀錯体となり支持体上の物理現像核層まで移動・拡散し、そこで現像主薬により還元されることにより、導電性の金属銀が析出する。その後、露光部位にある化学現像銀を含む乳剤層は、後に述べる水洗除去あるいは剥離紙等に転写剥離する方法等により除去される。   The method using the silver salt diffusion transfer method is called a physical development nucleus layer on a support, a catalyst nucleus layer for the silver complex to be reduced by a developing agent to become metallic silver, and a silver halide emulsion layer thereon. The provided material is used (the silver halide photographic emulsion layer may be coated on another support). In the development process, a compound (silver halide solvent) that dissolves silver halide is allowed to act in addition to the developing agent. When this material is exposed and developed, when a negative-type silver halide emulsion is used, the silver halide in the exposed portion is converted into chemically developed silver and remains in the silver halide emulsion layer. On the other hand, the silver halide in the unexposed area is dissolved by the silver halide solvent added in the developer and becomes a silver complex that moves and diffuses to the physical development nucleus layer on the support, where it is reduced by the developing agent. As a result, conductive metallic silver is deposited. Thereafter, the emulsion layer containing the chemically developed silver at the exposed portion is removed by washing and removing, which will be described later, or a method of transferring and peeling to a release paper.

下引き層上に銀パターンを形成させる方法の中でも、細線の膜厚が好ましくは1.0μm以下、更に好ましくは0.3μm以下の均一な銀パターニング層を容易にかつ安定的に製造することができる銀塩拡散転写方式を用いる方法が特に好ましい。また銀塩拡散転写方式を用いた方法で作製した銀パターニング層は、そのほとんどが金属銀のみから形成されており、バインダー等で補強されていない。このことは導電性という観点からは大変好ましく、金属銀の厚みが薄くても、極めて高い導電性が得られる。更にタッチパネル用センサー電極などで求められる高い透過率、低い銀パターンの難視認性を達成するためには15μm以下の細線幅が求められる場合があるが、銀塩拡散転写方式を用いる方法で得られた銀パターンは、均一で高精細な画像が得られるため好適である。   Among the methods of forming a silver pattern on the undercoat layer, it is possible to easily and stably produce a uniform silver patterning layer having a fine wire thickness of preferably 1.0 μm or less, more preferably 0.3 μm or less. A method using a silver salt diffusion transfer method is particularly preferred. Moreover, most of the silver patterning layer produced by the method using the silver salt diffusion transfer method is formed only of metallic silver and is not reinforced with a binder or the like. This is very preferable from the viewpoint of conductivity, and extremely high conductivity can be obtained even if the metal silver is thin. Furthermore, a thin line width of 15 μm or less may be required to achieve the high transmittance required for sensor electrodes for touch panels and the low visibility of a silver pattern, but it is obtained by a method using a silver salt diffusion transfer method. The silver pattern is suitable because a uniform and high-definition image can be obtained.

本発明の導電材料において、下引き層上に銀パターニング層を形成させる最も好ましい方法である銀塩拡散転写方式について以下に詳しく説明する。   In the conductive material of the present invention, the silver salt diffusion transfer method, which is the most preferable method for forming a silver patterning layer on the undercoat layer, will be described in detail below.

銀塩拡散転写方式に用いる導電材料前駆体は、支持体上に少なくともアミノ基を有する高分子化合物と物理現像核を含有する下引き層、およびハロゲン化銀乳剤層を支持体に近い方から少なくともこの順で有する。また該導電材料前駆体は、さらには、非感光性層を支持体から最も遠い最外層および/または物理現像核を含有する下引き層とハロゲン化銀乳剤層との間に中間層を有していても良い。このような導電材料前駆体に、必要とするパターンに応じた露光を施したのち、可溶性銀錯体形成剤および還元剤を含むアルカリ現像液中を作用させると、下引き層上に銀パターニング層が形成される。   The conductive material precursor used in the silver salt diffusion transfer system is at least an undercoat layer containing a polymer compound having at least an amino group and a physical development nucleus on a support, and a silver halide emulsion layer from the side closer to the support. Have in this order. The conductive material precursor further has an intermediate layer between the silver halide emulsion layer and the subbing layer containing the non-photosensitive layer, the outermost layer farthest from the support and / or the physical development nucleus. May be. When such a conductive material precursor is exposed according to a required pattern and then allowed to act in an alkaline developer containing a soluble silver complex forming agent and a reducing agent, a silver patterning layer is formed on the undercoat layer. It is formed.

下引き層が、アミノ基を有する高分子化合物と共に含有する物理現像核としては、重金属あるいはその硫化物からなる微粒子(粒子サイズは1〜数十nm程度)が用いられる。例えば、金、銀等のコロイド、パラジウム、亜鉛等の水溶性塩と硫化物を混合した金属硫化物等が挙げられる。物理現像核の含有量は、固形分で1mあたり0.1〜10mg程度が適当である。 As the physical development nucleus contained in the undercoat layer together with the polymer compound having an amino group, fine particles (particle size is about 1 to several tens of nm) made of heavy metal or sulfide thereof are used. Examples thereof include colloids such as gold and silver, metal sulfides obtained by mixing water-soluble salts such as palladium and zinc and sulfides, and the like. The content of physical development nuclei is suitably about 0.1 to 10 mg per 1 m 2 in terms of solid content.

上記した導電材料前駆体においては光センサーとしてハロゲン化銀乳剤層が設けられる。ハロゲン化銀に関する銀塩写真フィルムや印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等で用いられる技術はそのまま用いることもできる。   In the conductive material precursor described above, a silver halide emulsion layer is provided as an optical sensor. Techniques used in silver halide photographic films, photographic papers, printing plate-making films, emulsion masks for photomasks, etc. relating to silver halide can be used as they are.

ハロゲン化銀乳剤層に用いられるハロゲン化銀乳剤粒子の形成には、順混合、逆混合、同時混合等の、Research Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)で記載されているような公知の手法を用いることができる。中でも同時混合法の1種で、粒子形成される液相中のpAgを一定に保ついわゆるコントロールドダブルジェット法を用いることが、粒径のそろったハロゲン化銀乳剤粒子が得られる点において好ましい。好ましいハロゲン化銀乳剤粒子の平均粒径は0.25μm以下、特に好ましくは0.05〜0.2μmである。またハロゲン化物組成には好ましい範囲が存在し、塩化物を80モル%以上含有するのが好ましく、90モル%以上が塩化物であることが特に好ましい。   The formation of silver halide emulsion grains used in the silver halide emulsion layer is performed by Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (forward mixing, reverse mixing, simultaneous mixing, etc.). (December 1989) can be used. Of these, the so-called controlled double jet method, which is one of the simultaneous mixing methods and keeps pAg in the liquid phase in which the grains are formed, is preferable from the viewpoint of obtaining silver halide emulsion grains having a uniform particle diameter. The average grain size of preferable silver halide emulsion grains is 0.25 μm or less, particularly preferably 0.05 to 0.2 μm. Moreover, there exists a preferable range in the halide composition, it is preferable to contain 80 mol% or more of chloride, and 90 mol% or more is particularly preferably chloride.

ハロゲン化銀乳剤の製造においては、必要に応じてハロゲン化銀粒子の形成あるいは物理熟成の過程において、亜硫酸塩、鉛塩、タリウム塩、あるいはロジウム塩もしくはその錯塩、イリジウム塩もしくはその錯塩などVIII族金属元素の塩、もしくはその錯塩を共存させても良い。また、種々の化学増感剤によって増感することができ、イオウ増感法、セレン増感法、貴金属増感法など当業界で一般的な方法を、単独、あるいは組み合わせて用いることができる。また本発明に用いる導電材料前駆体においてハロゲン化銀乳剤は必要に応じて色素増感することもできる。   In the production of silver halide emulsions, group VIII such as sulfite, lead salt, thallium salt, rhodium salt or complex thereof, iridium salt or complex thereof, in the process of forming silver halide grains or physical ripening as necessary A metal element salt or a complex salt thereof may coexist. Further, it can be sensitized by various chemical sensitizers, and methods commonly used in the art such as sulfur sensitization method, selenium sensitization method and noble metal sensitization method can be used alone or in combination. In the conductive material precursor used in the present invention, the silver halide emulsion can be dye-sensitized as necessary.

また、ハロゲン化銀乳剤層に含有するハロゲン化銀量とゼラチン量の比率は、ハロゲン化銀(銀換算)とゼラチンとの質量比(銀/ゼラチン)が1.2以上、より好ましくは1.5以上である。また、ハロゲン化銀乳剤層が含有するハロゲン化銀量は銀換算で2〜10g/mであることが好ましい。 The ratio of the amount of silver halide and the amount of gelatin contained in the silver halide emulsion layer is such that the mass ratio of silver halide (silver equivalent) to gelatin (silver / gelatin) is 1.2 or more, more preferably 1. 5 or more. The amount of silver halide contained in the silver halide emulsion layer is preferably 2 to 10 g / m 2 in terms of silver.

ハロゲン化銀乳剤層には、さらに種々の目的のために、公知の写真用添加剤を用いることができる。これらは、Research Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載、あるいは引用された文献に記載されている。   In the silver halide emulsion layer, known photographic additives can be used for various purposes. These are described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989) or cited.

前述の通り、導電材料前駆体は、ハロゲン化銀乳剤層と物理現像核を含有する下引き層の間やハロゲン化銀乳剤層の上に非感光性層を設けることができる。これらの非感光性層は、水溶性高分子化合物を主たるバインダーとする層である。ここでいう水溶性高分子化合物とは、現像液で容易に膨潤し、下層のハロゲン化銀乳剤層、物理現像核層まで現像液を容易に浸透させるものであれば任意のものが選択できる。   As described above, the conductive material precursor can be provided with a non-light-sensitive layer between the silver halide emulsion layer and the undercoat layer containing physical development nuclei or on the silver halide emulsion layer. These non-photosensitive layers are layers containing a water-soluble polymer compound as a main binder. As the water-soluble polymer compound mentioned here, any compound can be selected as long as it easily swells with the developer and allows the developer to easily penetrate into the lower silver halide emulsion layer and the physical development nucleus layer.

具体的には、ゼラチン、アルブミン、カゼイン、ポリビニルアルコール等を用いることができる。特に好ましい水溶性高分子化合物は、ゼラチン、アルブミン、カゼイン等のタンパク質である。本発明の効果を十分に得るためには、この非感光性層のバインダー量としては、ハロゲン化銀乳剤層の総バインダー量に対して20〜100質量%の範囲が好ましく、特に30〜80質量%が好ましい。   Specifically, gelatin, albumin, casein, polyvinyl alcohol, or the like can be used. Particularly preferred water-soluble polymer compounds are proteins such as gelatin, albumin and casein. In order to sufficiently obtain the effects of the present invention, the amount of the binder in the non-photosensitive layer is preferably in the range of 20 to 100% by mass, particularly 30 to 80% by mass, based on the total amount of binder in the silver halide emulsion layer. % Is preferred.

これら非感光性層には、必要に応じてResearch Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載されているような公知の写真用添加剤を含有させることができる。また、処理後のハロゲン化銀乳剤層の剥離を妨げない限りにおいて、架橋剤により硬膜させることも可能である。   These non-photosensitive layers may be added to known photographic additives as described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989), if necessary. An agent can be included. Further, the film can be hardened with a crosslinking agent as long as the peeling of the silver halide emulsion layer after the treatment is not prevented.

導電材料前駆体にはハロゲン化銀乳剤層の感光波長域に吸収極大を有する非増感性染料又は顔料を、画質向上のためのハレーション、あるいはイラジエーション防止剤として用いることが好ましい。ハレーション防止剤としては、好ましくは前述した物理現像核を含有する下引き層、あるいは該下引き層とハロゲン化銀乳剤層の間に必要に応じて設けられる中間層、または支持体を挟んで設けられる裏塗り層に含有させることができる。イラジエーション防止剤としては、ハロゲン化銀乳剤層に含有させるのがよい。添加量は、目的の効果が得られるのであれば広範囲に変化しうるが、例えばハレーション防止剤として裏塗り層に含有させる場合、1mあたり、約20mg〜約1gの範囲が望ましく、好ましくは、極大吸収波長における吸光度として、0.5以上である。 As the conductive material precursor, a non-sensitizing dye or pigment having an absorption maximum in the photosensitive wavelength region of the silver halide emulsion layer is preferably used as a halation for improving image quality or as an irradiation inhibitor. As the antihalation agent, preferably provided as an undercoat layer containing the above-mentioned physical development nuclei, or an intermediate layer provided between the undercoat layer and the silver halide emulsion layer, or a support. Can be contained in the backing layer. The irradiation inhibitor is preferably contained in the silver halide emulsion layer. The amount added may vary widely as long as the desired effect can be obtained. For example, when it is contained in the backing layer as an antihalation agent, it is preferably in the range of about 20 mg to about 1 g per m 2 , preferably The absorbance at the maximum absorption wavelength is 0.5 or more.

導電材料前駆体に銀パターンを描画するための露光について説明する。導電材料前駆体のハロゲン化銀乳剤層は像様に露光されるが、露光方法として、所望のパターンの透過原稿とハロゲン化銀乳剤層を有する側の面を密着して露光する方法、あるいは各種レーザー光を用いて所望のパターンを走査露光する方法等がある。前述したレーザー光で露光する方法においては、例えば400〜430nmに発振波長を有する青色半導体レーザー(バイオレットレーザーダイオードとも云う)を用いることができる。   The exposure for drawing a silver pattern on the conductive material precursor will be described. The silver halide emulsion layer of the conductive material precursor is exposed imagewise, and as an exposure method, there are various methods such as a method in which a transparent original having a desired pattern and the surface having the silver halide emulsion layer are in close contact with each other. There is a method of scanning exposure of a desired pattern using laser light. In the above-described method of exposing with laser light, for example, a blue semiconductor laser (also referred to as a violet laser diode) having an oscillation wavelength of 400 to 430 nm can be used.

露光済みの導電材料前駆体の現像処理について説明する。前述のように像様に露光された導電材料前駆体のハロゲン化銀乳剤層は、可溶性銀錯体形成剤およびアルカリ剤を含有するアルカリ現像液(銀塩拡散転写現像液)中で処理することにより物理現像が起こり、現像可能なだけの潜像核を有さないハロゲン化銀は可溶性銀錯体形成剤により溶解されて銀錯体となり、下引き層中の物理現像核上で還元されて金属銀が析出し例えばメッシュパターンの銀薄膜を得ることができる。一方、露光により現像可能なだけの潜像核を有するハロゲン化銀はハロゲン化銀乳剤層中で化学現像されて黒化銀となる。現像後、不要になったハロゲン化銀乳剤層(黒化銀もこれに含まれる)及び中間層、保護層等は除去されて、銀薄膜が表面に露出する。   A development process of the exposed conductive material precursor will be described. The silver halide emulsion layer of the conductive material precursor exposed imagewise as described above is processed in an alkali developer (silver salt diffusion transfer developer) containing a soluble silver complex-forming agent and an alkali agent. Silver halide that has physical development and does not have developable latent image nuclei is dissolved by a soluble silver complex-forming agent to form a silver complex, which is reduced on the physical development nuclei in the undercoat layer to form metallic silver. For example, a silver thin film having a mesh pattern can be obtained. On the other hand, silver halide having latent image nuclei that can be developed by exposure is chemically developed in the silver halide emulsion layer to become blackened silver. After development, unnecessary silver halide emulsion layers (including blackened silver), intermediate layers, protective layers and the like are removed, and a silver thin film is exposed on the surface.

現像処理後のハロゲン化銀乳剤層等の除去方法は、水洗除去あるいは剥離紙等に転写剥離する方法がある。水洗除去は、スクラビングローラ等を用いて温水シャワーを噴射しながら除去する方法や温水をノズル等でジェット噴射しながら水の勢いで除去する方法がある。また、剥離紙等で転写剥離する方法は、ハロゲン化銀乳剤層上の余分なアルカリ現像液を予めローラ等で絞り取っておき、ハロゲン化銀乳剤層等と剥離紙を密着させてハロゲン化銀乳剤層等をプラスチック樹脂フィルムから剥離紙に転写させて剥離する方法である。剥離紙としては吸水性のある紙や不織布、あるいは紙の上にシリカのような微粒子顔料とポリビニルアルコールのようなバインダーとで吸水性の空隙層を設けたものが用いられる。   As a method for removing the silver halide emulsion layer and the like after the development processing, there are a method of removing by washing or transferring and peeling to a release paper. There are two methods for removing the water washing: a method of removing hot water using a scrubbing roller or the like while jetting it with a nozzle or the like, and a method of removing hot water by jetting with a nozzle or the like. In addition, the method of transferring and peeling with a release paper or the like is to squeeze the excess alkali developer on the silver halide emulsion layer with a roller or the like in advance, and the silver halide emulsion layer or the like and the release paper are brought into close contact with each other. Is transferred to a release paper from a plastic resin film and peeled off. As the release paper, water-absorbing paper or non-woven fabric, or paper having a water-absorbing void layer formed of fine pigment such as silica and binder such as polyvinyl alcohol on the paper is used.

銀塩拡散転写現像液が含有する可溶性銀錯体形成剤は、ハロゲン化銀を溶解し可溶性の銀錯体を形成させる化合物であり、還元剤はこの可溶性銀錯体を還元して物理現像核上に金属銀を析出させるための化合物である。   The soluble silver complex forming agent contained in the silver salt diffusion transfer developer is a compound that dissolves silver halide to form a soluble silver complex, and the reducing agent reduces the soluble silver complex to form a metal on the physical development nucleus. It is a compound for precipitating silver.

銀塩拡散転写現像液が含有する可溶性銀錯体形成剤としては、チオ硫酸ナトリウムやチオ硫酸アンモニウムのようなチオ硫酸塩、チオシアン酸ナトリウムやチオシアン酸アンモニウムのようなチオシアン酸塩、亜硫酸ナトリウムや亜硫酸水素カリウムのような亜硫酸塩、オキサゾリドン類、2−メルカプト安息香酸及びその誘導体、ウラシルのような環状イミド類、アルカノールアミン、ジアミン、特開平9−171257号公報に記載のメソイオン性化合物、米国特許第5,200,294号明細書に記載のようなチオエーテル類、5,5−ジアルキルヒダントイン類、アルキルスルホン類、他に、「The Theory of the photographic Process(4th edition,p474〜475)」、T.H.James著に記載されている化合物が挙げられる。   Soluble silver complex forming agents contained in the silver salt diffusion transfer developer include thiosulfates such as sodium thiosulfate and ammonium thiosulfate, thiocyanates such as sodium thiocyanate and ammonium thiocyanate, sodium sulfite and potassium bisulfite. Sulfites such as oxazolidones, 2-mercaptobenzoic acid and derivatives thereof, cyclic imides such as uracil, alkanolamines, diamines, mesoionic compounds described in JP-A-9-171257, US Pat. No. 200,294, thioethers, 5,5-dialkylhydantoins, alkyl sulfones, and other “The Theory of the Photographic Process (4th edition, p474-475)”, T. et al. H. Examples include compounds described in James.

これらの可溶性銀錯体形成剤は単独で、または複数組み合わせて使用することができる。   These soluble silver complex forming agents can be used alone or in combination.

銀塩拡散転写現像液が含有する還元剤は、Research Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載されているような写真現像の分野で公知の現像主薬を用いることができる。例えば、ハイドロキノン、カテコール、ピロガロール、メチルハイドロキノン、クロロハイドロキノン等のポリヒドロキシベンゼン類、アスコルビン酸及びその誘導体、1−フェニル−4,4−ジメチル−3−ピラゾリドン、1−フェニル−3−ピラゾリドン、1−フェニル−4−メチル−4−ヒドロキシメチル−3−ピラゾリドン等の3−ピラゾリドン類、パラメチルアミノフェノール、パラアミノフェノール、パラヒドロキシフェニルグリシン、パラフェニレンジアミン等が挙げられる。これらの還元剤は単独で、または複数組み合わせて使用することができる。   The reducing agent contained in the silver salt diffusion transfer developer is used in the field of photographic development as described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989). A known developing agent can be used. For example, polyhydroxybenzenes such as hydroquinone, catechol, pyrogallol, methylhydroquinone, chlorohydroquinone, ascorbic acid and its derivatives, 1-phenyl-4,4-dimethyl-3-pyrazolidone, 1-phenyl-3-pyrazolidone, 1- Examples include 3-pyrazolidones such as phenyl-4-methyl-4-hydroxymethyl-3-pyrazolidone, paramethylaminophenol, paraaminophenol, parahydroxyphenylglycine, paraphenylenediamine, and the like. These reducing agents can be used alone or in combination.

可溶性銀錯体形成剤の含有量は、銀塩拡散転写現像液1Lあたり、0.001〜5モルが好ましく、より好ましくは0.005〜1モルの範囲である。還元剤の含有量は現像液1Lあたり0.01〜1モルが好ましく、より好ましくは0.05〜1モルの範囲である。   The content of the soluble silver complex forming agent is preferably 0.001 to 5 mol, more preferably 0.005 to 1 mol, per liter of the silver salt diffusion transfer developer. The content of the reducing agent is preferably from 0.01 to 1 mol, more preferably from 0.05 to 1 mol, per liter of the developer.

銀塩拡散転写現像液のpHは10以上が好ましく、更に11〜14が好ましい。所望のpHに調整するために、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどのアルカリ剤、リン酸、炭酸などの緩衝剤を単独、または組み合わせて含有させる。また銀塩拡散転写現像液は、亜硫酸ナトリウムや亜硫酸カリウム等の保恒剤を含むことが好ましい。   The pH of the silver salt diffusion transfer developer is preferably 10 or more, more preferably 11-14. In order to adjust to a desired pH, an alkali agent such as sodium hydroxide or potassium hydroxide, or a buffering agent such as phosphoric acid or carbonic acid is contained alone or in combination. The silver salt diffusion transfer developer preferably contains a preservative such as sodium sulfite or potassium sulfite.

前述の導電材料前駆体を拡散転写現像するための現像液の適用は、現像液を浸漬する方法や塗布する方法であってもよい。浸漬法は、例えば、タンクに大量に貯留された現像液中に、露光済みの導電材料前駆体を浸漬しながら搬送するものであり、塗布法は、例えばハロゲン化銀乳剤層側に現像液を1平方メートル当たり40〜120mL程度塗布するものである。浸漬法の具体的な方法として、例えば特開2006−190535号公報に開示されたような処理方法、処理装置を挙げることができる。該公報に記載される方法は、導電材料の銀パターニング層が設けられる側の面を、非接触で搬送することを基本としているので、銀パターンの断線が生じにくいため好ましい。現像液の適用温度は2〜30℃が好ましく、10〜25℃がさらに好ましい。現像液の適用時間は、20秒〜3分程度が適当である。この態様は、特に浸漬法式の場合に好適である。   The application of the developer for diffusion transfer development of the conductive material precursor described above may be a method of immersing the developer or a method of coating. In the dipping method, for example, the exposed conductive material precursor is conveyed while dipping in a developer stored in a large amount in a tank. In the coating method, for example, the developer is applied to the silver halide emulsion layer side. About 40 to 120 mL is applied per square meter. Specific examples of the dipping method include a treatment method and a treatment apparatus as disclosed in JP-A-2006-190535. The method described in this publication is preferable because the surface of the conductive material on the side where the silver patterning layer is provided is basically transported in a non-contact manner, so that the silver pattern is not easily broken. The application temperature of the developer is preferably 2 to 30 ° C, more preferably 10 to 25 ° C. The application time of the developer is suitably about 20 seconds to 3 minutes. This embodiment is particularly suitable in the case of the immersion method.

本発明において銀パターニング層は、導電部としてメッシュパターンを有することが好ましい。本発明においてメッシュパターンとは、複数の単位格子を網目状に配置した幾何学形状を有するパターンを意味し、該単位格子の形状としては、例えば正三角形、二等辺三角形、直角三角形などの三角形、正方形、長方形、菱形、平行四辺形、台形などの四角形、六角形、八角形、十二角形、二十角形などのn角形、星形などを組み合わせた形状が挙げられ、またこれらの形状の単独の繰り返し、あるいは2種類以上の複数の形状の組み合わせが挙げられる。中でも単位格子の形状としては正方形もしくは菱形が好ましい。またボロノイ図形やドロネー図形、ペンタイル図形などに代表される不規則幾何学形状も本発明での好ましい網目状メッシュパターンの一つである。   In the present invention, the silver patterning layer preferably has a mesh pattern as the conductive portion. In the present invention, the mesh pattern means a pattern having a geometric shape in which a plurality of unit lattices are arranged in a mesh shape. Examples of the shape of the unit lattice include triangles such as regular triangles, isosceles triangles, right triangles, Examples include squares, rectangles, rhombuses, parallelograms, trapezoids and other quadrangles, hexagons, octagons, dodecagons, decagons and other n-gons, and combinations of stars, etc. Or a combination of two or more shapes. Among them, the shape of the unit cell is preferably a square or a rhombus. Irregular geometric shapes represented by Voronoi graphics, Delaunay graphics, pen tile graphics, etc. are also one of the preferred mesh mesh patterns in the present invention.

メッシュパターンを構成する細線の線幅は、1〜50μmであることが好ましく、より好ましくは2〜20μmである。またメッシュパターンを構成する単位格子の繰り返し間隔は100〜1000μmであることが好ましく、より好ましくは100〜600μmである。   The line width of the fine lines constituting the mesh pattern is preferably 1 to 50 μm, more preferably 2 to 20 μm. Moreover, it is preferable that the repeating space | interval of the unit cell which comprises a mesh pattern is 100-1000 micrometers, More preferably, it is 100-600 micrometers.

次に、本発明において銀パターニング層を処理する一般式(1)で示される化合物について説明する。   Next, the compound represented by the general formula (1) for treating the silver patterning layer in the present invention will be described.

Figure 0006204284
Figure 0006204284

式中、Zは一般式(1)の化合物が有する炭素原子、酸素原子、窒素原子と共にオキサゾール環、またはオキサジアゾール環を形成するのに必要な原子群を示す。該オキサゾール環はベンゼン環、ナフタレン環と縮合してベンズオキサゾール環、ナフトオキサゾール環を形成していても良い。該オキサゾール環、オキサジアゾール環、ベンズオキサゾール環およびナフトオキサゾール環は置換基を有していても良い。置換基としてはメチル基、エチル基、イソプロピル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−デシル基、n−ヘキサデシル基、イソヘキサデシル基等の炭素数1〜20までのアルキル基、フェニル基、ナフチル基等のアリール基、アセチル基、ブチリル基、イソブチリル基、イソヘキサデシリル基、ベンゾイル基等のアシル基、メトキシ基、エトキシ基等のアルキルオキシ基、メチルチオ基、エチルチオ基、n−ペンチルチオ基等のアルキルチオ基、フェノキシ基等のアリールオキシ基を挙げることができる。またこれらの置換基は更にメチル基、エチル基、イソプロピル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−デシル基、n−ヘキサデシル基、イソヘキサデシル基等の炭素数1〜20までのアルキル基、フェニル基、ナフチル基等のアリール基、アセチル基、ブチリル基、イソブチリル基、イソヘキサデシリル基、ベンゾイル基等のアシル基、メトキシ基、エトキシ基等のアルキルオキシ基、メチルチオ基、エチルチオ基、n−ペンチルチオ基等のアルキルチオ基、フェノキシ基等のアリールオキシ基を置換基として有していても良い。   In the formula, Z represents an atomic group necessary for forming an oxazole ring or an oxadiazole ring together with the carbon atom, oxygen atom and nitrogen atom of the compound of the general formula (1). The oxazole ring may be condensed with a benzene ring or a naphthalene ring to form a benzoxazole ring or a naphthoxazole ring. The oxazole ring, oxadiazole ring, benzoxazole ring and naphthoxazole ring may have a substituent. As the substituent, carbon such as methyl group, ethyl group, isopropyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-decyl group, n-hexadecyl group, isohexadecyl group, etc. Alkyl groups such as alkyl groups, phenyl groups, naphthyl groups, etc., acetyl groups, butyryl groups, isobutyryl groups, isohexadesilyl groups, benzoyl groups, etc., alkyloxy groups such as methoxy groups, ethoxy groups, etc. Group, an alkylthio group such as a methylthio group, an ethylthio group and an n-pentylthio group, and an aryloxy group such as a phenoxy group. These substituents are further methyl group, ethyl group, isopropyl group, t-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-decyl group, n-hexadecyl group, isohexadecyl group. Alkyl groups having 1 to 20 carbon atoms such as, aryl groups such as phenyl groups and naphthyl groups, acyl groups such as acetyl groups, butyryl groups, isobutyryl groups, isohexadesilyl groups, benzoyl groups, methoxy groups, ethoxy groups, etc. An alkyloxy group such as an alkyloxy group, a methylthio group, an ethylthio group or an n-pentylthio group, or an aryloxy group such as a phenoxy group may be used as a substituent.

本発明において銀パターニング層は、上記した一般式(1)で示される化合物にて処理(以下、MC処理と称する)が施される。   In the present invention, the silver patterning layer is treated with the compound represented by the general formula (1) (hereinafter referred to as MC treatment).

MC処理の方法としては特に規定はないが、例えば、銀パターニング層を形成した導電材料を一般式(1)で示される化合物を含有する溶液(以下、MC処理液と称する)に浸漬する方法や、銀パターニング層を形成した導電材料にMC処理液を塗布する方法などが挙げられる。処理温度は10〜50℃が好ましく、20〜40℃がさらに好ましい。処理時間は10秒以上が好ましく、30秒以上がさらに好ましい。処理時間の上限は10分以内であることが望ましい。   The MC treatment method is not particularly defined. For example, a method of immersing a conductive material in which a silver patterning layer is formed in a solution containing a compound represented by the general formula (1) (hereinafter referred to as MC treatment solution) And a method of applying an MC treatment liquid to a conductive material on which a silver patterning layer is formed. The treatment temperature is preferably 10 to 50 ° C, more preferably 20 to 40 ° C. The treatment time is preferably 10 seconds or longer, more preferably 30 seconds or longer. The upper limit of the processing time is preferably within 10 minutes.

本発明に用いる、一般式(1)で示される化合物の具体例を以下に示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Specific examples of the compound represented by the general formula (1) used in the present invention are shown below, but the present invention is not limited thereto.

Figure 0006204284
Figure 0006204284

Figure 0006204284
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MC処理液が含有する溶媒としては、例えば、水、エタノールなどのアルコール類、アセトンなどのケトン類、テトラヒドロフランなどのエーテル類、メチルセロソルブ、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシドなど任意のものを用いることができる。   As the solvent contained in the MC treatment liquid, for example, water, alcohols such as ethanol, ketones such as acetone, ethers such as tetrahydrofuran, methyl cellosolve, N, N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide and the like are used. be able to.

MC処理液が含有する一般式(1)で示される化合物の量は1リットル当たり0.01〜20gが好ましく、0.05〜5gがさらに好ましい。   The amount of the compound represented by the general formula (1) contained in the MC treatment liquid is preferably 0.01 to 20 g, more preferably 0.05 to 5 g, per liter.

前述のMC処理液には必要に応じて、他の化合物を含有させることができる。例えば、MC処理液のpHを調整するための、アルカリや酸、緩衝剤などを含有させることができる。例えば、水を溶媒とする場合のMC処理液の好ましいpHは8以上である。さらに消泡剤、防腐剤、酵素、界面活性剤なども含有させることができる。MC処理後の乾燥は、フィルムドライヤーの温風を用いるなど任意の方法で実施することができる。乾燥前に水道水や純水などで水洗することもできる。   The aforementioned MC treatment liquid can contain other compounds as necessary. For example, an alkali, an acid, a buffering agent, or the like for adjusting the pH of the MC treatment solution can be contained. For example, the preferred pH of the MC treatment liquid when water is used as a solvent is 8 or more. Furthermore, antifoaming agents, preservatives, enzymes, surfactants and the like can also be contained. Drying after MC treatment can be performed by any method such as using warm air from a film dryer. It can also be washed with tap water or pure water before drying.

本発明において、本発明のMC処理に特開2008−34366号公報に記載されているような、水溶性ハロゲン化合物を用いて銀パターンのX線回折法での2θ=38.2°のピークの半値幅が0.41以下とする後処理を併用すると、本発明の求める経時による抵抗値変動をより低下させることができる。該処理はMC処理の前に行っても後に行っても良いが、後に行うことが好ましい。   In the present invention, a peak of 2θ = 38.2 ° in the X-ray diffraction method of a silver pattern using a water-soluble halogen compound as described in JP-A-2008-34366 is used for the MC treatment of the present invention. When post-treatment with a half-value width of 0.41 or less is used in combination, it is possible to further reduce the resistance value variation with time required by the present invention. The treatment may be performed before or after the MC treatment, but is preferably performed after.

上記した銀パターンのX線回折法での2θ=38.2°のピークの半値幅が0.41以下とするために用いる後処理としては、(I)還元性物質、(II)水溶性リンオキソ酸化合物、(III)水溶性ハロゲン化合物のいずれかを含有する後処理液に、銀パターニング層を形成した導電材料を浸漬する方法や、銀パターニング層を形成した導電材料に前記した(I)〜(III)の化合物を含有する後処理液を塗布する方法などが挙げられる。   The post-treatment used for setting the half width of the peak at 2θ = 38.2 ° in the X-ray diffraction method of the silver pattern to 0.41 or less includes (I) a reducing substance, and (II) a water-soluble phosphorus oxo. A method of immersing a conductive material in which a silver patterning layer is formed in a post-treatment liquid containing either an acid compound or (III) a water-soluble halogen compound, or a conductive material in which a silver patterning layer is formed (I) to (I) to Examples thereof include a method of applying a post-treatment liquid containing the compound (III).

(I)還元性物質としては、写真現像の分野で公知の現像主薬を用いることができる。これらはResearch Disclosure Item 17643(1978年12月)および18716(1979年11月)、308119(1989年12月)に記載、あるいは引用された文献に記載されている。具体的には、ハイドロキノン、ハイドロキノンモノスルホン酸カリウム、カテコール、ピロガロール、メチルハイドロキノン、クロロハイドロキノン等のポリヒドロキシベンゼン類、アスコルビン酸及びその誘導体、1−フェニル−4,4−ジメチル−3−ピラゾリドン、1−フェニル−3−ピラゾリドン、1−フェニル−4−メチル−4−ヒドロキシメチル−3−ピラゾリドン等の3−ピラゾリドン類、パラメチルアミノフェノール、パラアミノフェノール、パラヒドロキシフェニルグリシン等のアミノフェノール類、パラフェニレンジアミン等のポリアミノベンゼン類、ヒドロキシルアミン類等が挙げられる。これらの中でも水溶性が高く、有害性の少ないアスコルビン酸が好ましい。これら還元性物質は少なくとも1質量%以上、好ましくは5〜30質量%の水溶液として用いることが好ましい。   As the reducing substance (I), a developing agent known in the field of photographic development can be used. These are described in Research Disclosure Item 17643 (December 1978) and 18716 (November 1979), 308119 (December 1989) or described in cited documents. Specifically, hydroquinone, potassium hydroquinone monosulfonate, catechol, pyrogallol, methylhydroquinone, chlorohydroquinone and other polyhydroxybenzenes, ascorbic acid and its derivatives, 1-phenyl-4,4-dimethyl-3-pyrazolidone, 1 -3-Pyrazolidones such as phenyl-3-pyrazolidone, 1-phenyl-4-methyl-4-hydroxymethyl-3-pyrazolidone, aminophenols such as paramethylaminophenol, paraaminophenol, parahydroxyphenylglycine, paraphenylene Examples include polyaminobenzenes such as diamine, hydroxylamines, and the like. Among these, ascorbic acid having high water solubility and low toxicity is preferable. These reducing substances are preferably used as an aqueous solution of at least 1% by mass or more, preferably 5 to 30% by mass.

(II)水溶性リンオキソ酸化合物としては、リン酸、亜リン酸、次亜リン酸、ピロリン酸、トリポリリン酸、ヘキサメタリン酸などのリンオキソ酸、及びその塩類が例示され、またそれらリンオキソ酸のエステル化合物が挙げられる。これら水溶性リンオキソ酸化合物の25℃における水に対する溶解度は少なくとも0.1質量%以上、好ましくは1質量%以上であることが好ましい。これら水溶性リンオキソ酸化合物の具体例としてはリン酸一ナトリウム、リン酸一カリウム、リン酸二ナトリウム等のリン酸塩、次亜リン酸ナトリウムなどの次亜リン酸塩、ピロリン酸二水素二ナトリウムなどのピロリン酸塩、トリポリリン酸塩、ヘキサメタリン酸塩など各種公知の水溶性リンオキソ酸化合物やポリオキシエチレンアルキルエーテルリン酸エステル、アルキルリン酸塩等、各種リン酸エステル類などの水溶性リンオキソ酸化合物のエステルが挙げられる。この中では無機の水溶性リンオキソ酸化合物、リン酸塩類が好ましい。これら水溶性リンオキソ酸化合物は少なくとも5質量%以上、好ましくは10〜30質量%の水溶液として用いることが好ましい。   (II) Examples of water-soluble phosphorus oxoacid compounds include phosphoric acid, phosphorous acid, hypophosphorous acid, pyrophosphoric acid, tripolyphosphoric acid, hexametaphosphoric acid and the like, and salts thereof, and ester compounds of these phosphorus oxoacids Is mentioned. The solubility of these water-soluble phosphorus oxoacid compounds in water at 25 ° C. is at least 0.1% by mass, preferably 1% by mass or more. Specific examples of these water-soluble phosphorus oxoacid compounds include phosphates such as monosodium phosphate, monopotassium phosphate and disodium phosphate, hypophosphites such as sodium hypophosphite, and disodium dihydrogen pyrophosphate. Various known water-soluble phosphorus oxoacid compounds such as pyrophosphates, tripolyphosphates, hexametaphosphates, etc., and water-soluble phosphorus oxoacid compounds such as various phosphate esters such as polyoxyethylene alkyl ether phosphates, alkyl phosphates, etc. Of the ester. Of these, inorganic water-soluble phosphorus oxoacid compounds and phosphates are preferred. These water-soluble phosphorus oxoacid compounds are preferably used as an aqueous solution of at least 5% by mass, preferably 10 to 30% by mass.

(III)水溶性ハロゲン化合物として用いるハロゲンとしては、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素のいずれでも良く、25℃における水に対する溶解度が少なくとも0.1質量%以上ある化合物であって、水溶液中でハロゲン化物イオンを放出しうる化合物であればいずれでも使用できる。これら水溶性ハロゲン化合物の具体例としては、塩酸、臭化水素酸、ヨウ化水素酸、フッ化水素酸などの水素酸や、塩化ナトリウム、塩化アンモニウム、塩化ルビジウムなどの塩化物、臭化ナトリウム、臭化カリウム、臭化リチウムなどの臭化物、ヨウ化ナトリウムなどのヨウ化物、フッ化ナトリウム、フッ化カリウムなどのフッ化物等の各種無機ハロゲン化物や、ジメチルアミン塩酸塩やトリメチルアミン臭酸塩などのアミン塩類、塩化ベンザルコニウム、アルキルピリジニウム塩酸塩、イミダゾリニウム塩酸塩、ポリアリルアミン塩酸塩やジアリルジメチルアンモニウムクロライド重合物などが挙げられる。この中で好ましいのは水溶液中で塩化物イオンを放出しうる化合物で、中でも塩化ナトリウムや塩化カリウムなどの水溶性無機塩化物が好ましい。これら水溶性ハロゲン化合物は少なくとも1質量%以上、好ましくは5〜30質量%の水溶液として用いることが好ましい。   (III) The halogen used as the water-soluble halogen compound may be any of fluorine, chlorine, bromine and iodine, and is a compound having a solubility in water at 25 ° C. of at least 0.1% by mass, and a halide in an aqueous solution. Any compound that can release ions can be used. Specific examples of these water-soluble halogen compounds include hydrochloric acid, hydrobromic acid, hydroiodic acid, hydrofluoric acid and other hydroacids, chlorides such as sodium chloride, ammonium chloride and rubidium chloride, sodium bromide, Various inorganic halides such as bromides such as potassium bromide and lithium bromide, iodides such as sodium iodide, fluorides such as sodium fluoride and potassium fluoride, and amines such as dimethylamine hydrochloride and trimethylamine bromide Examples thereof include salts, benzalkonium chloride, alkylpyridinium hydrochloride, imidazolinium hydrochloride, polyallylamine hydrochloride and diallyldimethylammonium chloride polymer. Among these, compounds capable of releasing chloride ions in an aqueous solution are preferable, and water-soluble inorganic chlorides such as sodium chloride and potassium chloride are particularly preferable. These water-soluble halogen compounds are preferably used as an aqueous solution of at least 1% by mass or more, preferably 5 to 30% by mass.

以下、実施例により本発明を具体的に説明するが、無論この記述により本発明が制限されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples, but it is needless to say that the present invention is not limited by this description.

(実施例1)
支持体として、塩化ビニリデンを含有する層により易接着加工が施された、全光線透過率が90%で厚みが100μmのポリエチレンテレフタレートフィルムを用いた。
Example 1
As a support, a polyethylene terephthalate film having a total light transmittance of 90% and a thickness of 100 μm, which was subjected to easy adhesion processing with a layer containing vinylidene chloride, was used.

次に下記処方に従い、物理現像核(硫化パラジウムゾル)を作製し、該物理現像核を含有する下引き層塗液を作製し、支持体上に塗布、乾燥して下引き層を設けた。その後50℃で1日加温した。   Next, physical development nuclei (palladium sulfide sol) were prepared according to the following formulation, an undercoat layer coating solution containing the physical development nuclei was prepared, applied onto the support and dried to provide an undercoat layer. Thereafter, the mixture was heated at 50 ° C. for 1 day.

<硫化パラジウムゾルの調製>
A液 塩化パラジウム 5g
塩酸 40mL
蒸留水 1000mL
B液 硫化ソーダ 8.6g
蒸留水 1000mL
A液とB液を撹拌しながら混合し、30分後にイオン交換樹脂の充填されたカラムに通し硫化パラジウムゾルを得た。この硫化パラジウムゾルを用いて、下記下引き層塗液1を調製した。
<Preparation of palladium sulfide sol>
Liquid A Palladium chloride 5g
Hydrochloric acid 40mL
Distilled water 1000mL
B liquid sodium sulfide 8.6g
Distilled water 1000mL
Liquid A and liquid B were mixed with stirring, and 30 minutes later, the solution was passed through a column filled with an ion exchange resin to obtain palladium sulfide sol. The following undercoat layer coating solution 1 was prepared using this palladium sulfide sol.

<下引き層塗液1>各1mあたり
前記硫化パラジウムゾル 0.4mg
2質量%グリオキザール水溶液 0.2mL
界面活性剤(S−1) 4mg
デナコールEX−830 5mg
(ナガセケムテックス社製ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル)
10質量%SP−200水溶液 0.5g
(日本触媒社製ポリエチレンイミン)
<Undercoat layer coating liquid 1> per 1 m 2 of the palladium sulfide sol 0.4 mg
0.2% aqueous 2 mass% glyoxal solution
Surfactant (S-1) 4mg
Denacol EX-830 5mg
(Polyethylene glycol diglycidyl ether manufactured by Nagase ChemteX Corporation)
10 mass% SP-200 aqueous solution 0.5g
(Nippon Shokubai polyethyleneimine)

Figure 0006204284
Figure 0006204284

続いて、前述の下引き層を塗布した側と反対側の面に下記組成の裏塗り層を塗布した。
<裏塗り層組成/1mあたり>
ゼラチン 2g
不定形シリカマット剤(平均粒径5μm) 20mg
染料1 200mg
界面活性剤(S−1) 400mg
Subsequently, a backing layer having the following composition was applied to the surface opposite to the side where the undercoat layer was applied.
<Undercoat layer composition / per 1 m 2 >
2g of gelatin
Amorphous silica matting agent (average particle size 5μm) 20mg
Dye 1 200mg
Surfactant (S-1) 400mg

Figure 0006204284
Figure 0006204284

続いて、支持体に近い方から順に下記組成の中間層、ハロゲン化銀乳剤層、及び最外層を前述の下引き層の上に塗布した。ハロゲン化銀乳剤は、写真用ハロゲン化銀乳剤において一般的なダブルジェット混合法で製造した。このハロゲン化銀乳剤は、塩化銀95モル%と臭化銀5モル%で、平均粒径が0.15μmになるように調製した。このようにして得られたハロゲン化銀乳剤を定法に従いチオ硫酸ナトリウムと塩化金酸を用い、金イオウ増感を施した。こうして得られたハロゲン化銀乳剤は銀1gあたり0.5gのゼラチンを含む。また下引き層が含有するポリエチレンイミンのアミノ基の量は、架橋剤との結合反応前のモル比に対して90.3%以上であるものと推測される。   Subsequently, an intermediate layer, a silver halide emulsion layer, and an outermost layer having the following composition were coated on the undercoat layer in order from the side closer to the support. The silver halide emulsion was prepared by the double jet mixing method common to photographic silver halide emulsions. This silver halide emulsion was prepared with 95 mol% of silver chloride and 5 mol% of silver bromide, and an average grain size of 0.15 μm. The silver halide emulsion thus obtained was subjected to gold sulfur sensitization using sodium thiosulfate and chloroauric acid according to a conventional method. The silver halide emulsion thus obtained contains 0.5 g of gelatin per gram of silver. The amount of the amino group of polyethyleneimine contained in the undercoat layer is estimated to be 90.3% or more with respect to the molar ratio before the bonding reaction with the crosslinking agent.

<中間層組成/1mあたり>
ゼラチン 0.5g
界面活性剤(S−1) 5mg
<Intermediate layer composition / per 1 m 2 >
Gelatin 0.5g
Surfactant (S-1) 5mg

<ハロゲン化銀乳剤層組成/1mあたり>
ゼラチン 1.0g
ハロゲン化銀乳剤 6.0g銀相当
1−フェニル−5−メルカプトテトラゾール 3.0mg
界面活性剤(S−1) 20mg
<Silver halide emulsion layer composition / 1m 2 per>
Gelatin 1.0g
Silver halide emulsion 6.0g silver equivalent 1-phenyl-5-mercaptotetrazole 3.0mg
Surfactant (S-1) 20mg

<最外層組成/1mあたり>
ゼラチン 1g
不定形シリカマット剤(平均粒径3.5μm) 10mg
界面活性剤(S−1) 10mg
<Outermost layer composition / per 1 m 2 >
1g of gelatin
Amorphous silica matting agent (average particle size 3.5μm) 10mg
Surfactant (S-1) 10mg

このようにして得た導電材料前駆体を、水銀灯を光源とする密着プリンターで図1のパターンを有する透過原稿を密着させて露光した。図1のパターンにおいて、メッシュパターン部(導電部)aは、細線幅10μm、細線間隔300μmの単位図形が正方形のメッシュからなり、bは電極端子部、cは非画像部(非導電部)である。露光量は現像後に得られる導電材料の細線幅が透過原稿の細線幅と同じになる露光量で行った。   The conductive material precursor thus obtained was exposed by closely contacting a transparent original having the pattern of FIG. 1 with a contact printer using a mercury lamp as a light source. In the pattern of FIG. 1, the mesh pattern portion (conductive portion) a is made of a square mesh with a unit figure having a fine line width of 10 μm and a fine line interval of 300 μm, b is an electrode terminal portion, and c is a non-image portion (non-conductive portion). is there. The exposure amount was such that the thin line width of the conductive material obtained after development was the same as the thin line width of the transparent original.

その後、露光した導電材料前駆体を下記組成の銀塩拡散転写現像液中に20℃で60秒間浸漬した後、続いてハロゲン化銀乳剤層、中間層、最外層および裏塗り層を40℃の温水で水洗除去し、乾燥処理した。得られた図1の銀パターン画像の細線幅、ピッチを光学顕微鏡で確認したところ、透過原稿の細線幅、ピッチを再現していた。また、細線部の膜厚を共焦点顕微鏡(レーザーテック社製、オプテリクスC130)で調べたところ、0.15μmであった。   Thereafter, the exposed conductive material precursor was immersed in a silver salt diffusion transfer developer having the following composition at 20 ° C. for 60 seconds, and then the silver halide emulsion layer, the intermediate layer, the outermost layer and the backing layer were heated to 40 ° C. It was washed with warm water and dried. When the fine line width and pitch of the obtained silver pattern image of FIG. 1 were confirmed with an optical microscope, the fine line width and pitch of the transparent original were reproduced. Moreover, it was 0.15 micrometer when the film thickness of the thin wire | line part was investigated with the confocal microscope (Lasertec company make, Optics C130).

<銀塩拡散転写現像液組成>
水酸化カリウム 40g
ハイドロキノン 28g
1−フェニル−3−ピラゾリドン 3g
亜硫酸カリウム 125g
N−メチルエタノールアミン 24g
臭化カリウム 2g
全量を水で1000mLとする。
<Silver salt diffusion transfer developer composition>
Potassium hydroxide 40g
Hydroquinone 28g
1-phenyl-3-pyrazolidone 3g
125g potassium sulfite
24g of N-methylethanolamine
Potassium bromide 2g
Bring the total volume to 1000 mL with water.

前述のようにして得られた図1のパターン形状を有する銀パターニング層が形成された導電材料に対して、下記MC処理液で30℃60秒間処理した(MC処理)。その後、35℃の温水で30秒間水洗し、フィルムドライヤーを使用して60℃の温風で2分間乾燥した。   The conductive material on which the silver patterning layer having the pattern shape of FIG. 1 obtained as described above was formed was treated with the following MC treatment solution at 30 ° C. for 60 seconds (MC treatment). Thereafter, it was washed with warm water at 35 ° C. for 30 seconds and dried with warm air at 60 ° C. for 2 minutes using a film dryer.

<MC処理液>
水酸化ナトリウム 4.0g
化合物M1 0.7g
リン酸水素2カリウム 2.5g
全量を水で1000mLとする。
pHは12であった。
<MC treatment solution>
Sodium hydroxide 4.0g
Compound M1 0.7g
Dipotassium hydrogen phosphate 2.5g
Bring the total volume to 1000 mL with water.
The pH was 12.

前述のようにして得られた図1のパターンが形成された導電材料の最も外側の端子の電極端子間の電気抵抗をテスターで測定した(図1のb部)。これらの結果を表1に示す(表1中の経時前)。   The electrical resistance between the electrode terminals of the outermost terminals of the conductive material on which the pattern of FIG. 1 obtained as described above was formed was measured with a tester (part b in FIG. 1). These results are shown in Table 1 (before aging in Table 1).

前述のようにして得られた図1のパターンが形成された導電材料を、85℃85%RH条件下で200時間まで保存した。この間、16時間、38時間および200時間の時点で導電材料の電極端子間の電気抵抗をテスターで測定した。これらの結果を表1に示す。   The conductive material having the pattern shown in FIG. 1 formed as described above was stored under conditions of 85 ° C. and 85% RH for up to 200 hours. During this time, the electrical resistance between the electrode terminals of the conductive material was measured with a tester at 16 hours, 38 hours, and 200 hours. These results are shown in Table 1.

(実施例2)
実施例1においてMC処理を行った後の図1のパターンが形成された導電材料に対して、10%塩化ナトリウム水溶液を用いて60℃60秒間の後処理を実施した。その後、35℃の温水で30秒間水洗し、フィルムドライヤーを使用して60℃の温風で2分間乾燥した。その後、実施例1と同様にしてMC処理以降の処理および評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Example 2)
The conductive material having the pattern shown in FIG. 1 after the MC treatment in Example 1 was subjected to a post treatment at 60 ° C. for 60 seconds using a 10% sodium chloride aqueous solution. Thereafter, it was washed with warm water at 35 ° C. for 30 seconds and dried with warm air at 60 ° C. for 2 minutes using a film dryer. Thereafter, the treatment and evaluation after the MC treatment were carried out in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(実施例3〜5)
MC処理液に用いた化合物M1を化合物M4、化合物M13、化合物M16に変更した他は実施例2と同様にして導電材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Examples 3 to 5)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 2 except that the compound M1 used in the MC treatment liquid was changed to the compound M4, compound M13, and compound M16, and evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(実施例6)
実施例1において、下引き層塗液1が含有する10質量%SP−200水溶液を、0.17gの30質量%アクリットUW−223SX(大成ファインケミカル社製アルキルアミノ変性ポリアクリル酸)に変更した他は実施例2と同様にして導電材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Example 6)
In Example 1, the 10 mass% SP-200 aqueous solution contained in the undercoat layer coating solution 1 was changed to 0.17 g of 30 mass% Acryt UW-223SX (Taisei Fine Chemical Co., Ltd. alkylamino-modified polyacrylic acid) Produced a conductive material in the same manner as in Example 2, and evaluated in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例1)
MC処理を実施しなかった他は実施例1と同様にして導電材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 1)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 1 except that the MC treatment was not performed, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例2)
MC処理を実施しなかった他は実施例2と同様にして導電材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 2)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 2 except that the MC treatment was not performed, and evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

(比較例3〜5)
MC処理液に用いた化合物M1を、下記の化合物RM1、化合物RM2、および化合物RM3に変更した他は実施例2と同様にして導電材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Examples 3-5)
A conductive material was prepared in the same manner as in Example 2 except that the compound M1 used in the MC treatment liquid was changed to the following compound RM1, compound RM2, and compound RM3, and evaluation was performed in the same manner as in Example 1. These results are shown in Table 1.

Figure 0006204284
Figure 0006204284

(比較例6)
下引き層として下記処方の下引き層塗液2を用いて、導電材料2を作製し、これを用いた以外は実施例2と同様にして比較例3の導電材料を作製し、実施例1と同様に評価を実施した。これらの結果を表1に示す。
(Comparative Example 6)
A conductive material 2 was prepared using an undercoat layer coating liquid 2 having the following formulation as an undercoat layer, and a conductive material of Comparative Example 3 was prepared in the same manner as in Example 2 except that this was used. Evaluation was carried out in the same manner as above. These results are shown in Table 1.

<下引き層塗液2の調製>各1m当たり
前記硫化パラジウムゾル 0.4mg
2質量%グリオキザール水溶液 0.2mL
界面活性剤(S−1) 4mg
デナコールEX−830 50mg
(ナガセケムテックス社製ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル)
10質量%PVA117水溶液 0.5g
(クラレ社製ポリビニルアルコール)
<Preparation of undercoat layer coating solution 2> per 1 m 2 of the palladium sulfide sol 0.4 mg
0.2% aqueous 2 mass% glyoxal solution
Surfactant (S-1) 4mg
Denacol EX-830 50mg
(Polyethylene glycol diglycidyl ether manufactured by Nagase ChemteX Corporation)
10% by mass PVA117 aqueous solution 0.5g
(Kuraray polyvinyl alcohol)

Figure 0006204284
Figure 0006204284

表1の結果から明らかなように、本発明により導電性の変動が改善された導電材料を得ることができる。   As is clear from the results in Table 1, a conductive material with improved conductivity variation can be obtained according to the present invention.

本発明の本発明の導電材料は、各種ディスプレイや窓などの電磁波シールド材として、また、各種タッチパネル用光透過性電極として有望な材料となり得る。   The conductive material of the present invention of the present invention can be a promising material as an electromagnetic shielding material for various displays and windows, and as a light transmissive electrode for various touch panels.

a.メッシュパターン部
b.電極端子部
c.非画像部
a. Mesh pattern part b. Electrode terminal part c. Non-image part

Claims (1)

支持体上にアミノ基を有する高分子化合物を含有する下引き層と、該下引き層上に下記一般式(1)で表される少なくとも1種の化合物にて処理された銀パターニング層を有する導電材料。
Figure 0006204284
(式中Zは、一般式(1)の化合物が有する炭素原子、酸素原子、及び窒素原子と共にオキサゾール環、またはオキサジアゾール環を形成するのに必要な原子群を表す。)
An undercoat layer containing a polymer compound having an amino group on a support, and a silver patterning layer treated with at least one compound represented by the following general formula (1) on the undercoat layer Conductive material.
Figure 0006204284
(In the formula, Z represents an atomic group necessary to form an oxazole ring or an oxadiazole ring together with the carbon atom, oxygen atom, and nitrogen atom of the compound of the general formula (1).)
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JP5189815B2 (en) * 2007-09-28 2013-04-24 三菱製紙株式会社 Manufacturing method of conductive material
JP5139831B2 (en) * 2008-02-13 2013-02-06 三菱製紙株式会社 Conductive material precursor and conductive material
JP2013201003A (en) * 2012-03-23 2013-10-03 Fujifilm Corp Conductive pattern member, manufacturing method of the same, touch panel and solar battery
JP5990493B2 (en) * 2012-11-12 2016-09-14 富士フイルム株式会社 Manufacturing method of conductive sheet, conductive sheet

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