JP6012362B2 - 走査型共焦点内視鏡システム - Google Patents

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Description

この発明は、励起光により励起された被写体から発せられる蛍光のうち共焦点光学系の焦点位置と光学的に共役の位置に配置された共焦点ピンホールを介した光のみを検出して画像化する走査型共焦点内視鏡システムに関する。
体腔内の生体組織を観察するための走査型共焦点内視鏡システムが知られている。この種の走査型共焦点内視鏡システムの具体的構成は、例えば特許文献1に記載されている。
特許文献1に記載の走査型共焦点内視鏡システムは、蛍光物質を含有する薬剤が投与された生体組織を共焦点プローブより射出される励起光で走査し、走査された生体組織から発せられる蛍光のうち共焦点光学系の焦点位置と光学的に共役の位置に配置された共焦点ピンホールにより抽出される光を取得して画像化する。
また、光ファイバにより伝送される光を生体組織上で渦巻状に走査させ、その反射光を受光して画像化する走査型内視鏡システムが知られている(例えば特許文献2や特許文献3)。この種の走査型内視鏡システムに備えられる走査型プローブは、光ファイバが圧電アクチュエータにより片持ち梁状に保持されている。圧電アクチュエータは、振動の振幅を変調及び増幅させながら、光ファイバの先端を渦巻状に回転移動させる。これにより、光ファイバより射出された光が生体組織上を渦巻状に走査し、走査された領域の画像の取得が可能となる。特許文献2及び特許文献3には、生体組織を渦巻状に走査する構成を走査型共焦点内視鏡システムに適用することも提案されている。
特開2004−321792号公報 特許第4080426号公報 特開2010−162090号公報
特許文献2や特許文献3に例示される走査型内視鏡システムでは、照射光を略円形の走査領域内で中心から周辺に向かい一定の回転周期で渦巻状に二次元走査する。このように、照射光は等角速度で走査されるため、円周長の短い走査領域内の中心に近い領域ほど照射光の走査速度が遅く、円周長の長い走査領域内の周辺に近い領域ほど照射光の走査速度が速い。そのため、走査領域内の中心部分と周辺部分とでは、走査領域(生体組織)に対する単位面積当たりの照射光量(照射エネルギー)が異なる。より詳細には、走査領域内の中心に近い領域ほど単位面積当たりの照射エネルギーが高く、走査領域内の周辺に近い領域ほど単位面積当たりの照射エネルギーが低い。
従って、このような渦巻状の走査方式の構成を特許文献1に例示される共焦点内視鏡システムに適用すると、単位面積当たりの照射エネルギーが高い走査領域内の中心に近い生体組織ほど、生体組織に堆積した蛍光物質の分解(褪色)が走査領域内の周辺に近い生体組織と比べて速く進行する。このため、走査領域内の中心部分が周辺部分と比べて暗い画像となり、一様な明るさの共焦点画像を得ることができないという問題が指摘される。
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、走査領域内における蛍光物質の褪色による共焦点画像の明るさのムラを抑えるのに好適な走査型共焦点内視鏡システムを提供することである。
本発明の一形態に係る走査型共焦点内視鏡システムは、励起光であるパルス光を射出する光源部と、光源部より射出されるパルス光により被写体を略円形の走査領域内で中心及び周辺の一方から他方に向かい一定の回転周期で渦巻状に二次元走査する走査部と、パルス光の集光点と光学的に共役の位置に配置された共焦点ピンホールと、パルス光により励起された被写体から発せられる蛍光を、共焦点ピンホールを介して受光して画像信号として検出する画像信号検出部と、検出される画像信号に対し、パルス光による走査領域内の走査位置と対応する位置関係にある二次元画素配列内の画素位置を、画像信号の検出タイミングに応じて割り当て、割り当てられた画素位置に各画像信号を配列して共焦点画像を生成する画像生成部とを備えたものである。光源部は、パルス光による走査領域内の走査位置と対応する位置関係にある画素位置に各画像信号を配列したときに画像信号が配置されない画素が生じ、かつ画像信号が配置されない画素の割合が二次元画素配列の中心に近いほど高くなるように、パルス光の射出タイミングを制御する。
本発明の一形態によれば、スポットの単位面積当たりの照射エネルギーが高い領域である、走査領域内の中心に近い領域ほど、より多くのスポットが間引かれて、スポットが疎に形成される。このように、走査領域内の中心に近い領域ほどスポットを疎に形成して褪色の進行が速い領域を減少させることにより、走査領域内の中心部分で起きる褪色による共焦点画像の明るさの低下が、スポットを間引かない場合と比べて目立ち難くなる。そのため、共焦点画像の明るさのムラを実質的に抑えることが可能となる。
また、画像生成部は、画像信号が配置されない画素の画素値を当該画素の周辺画素の画素値を用いて補完する構成としてもよい。
また、光源部は、走査領域内の各走査位置へのパルス光の射出タイミングを、画像信号が配置されない画素位置を除く残り画素位置と1対1で対応するタイミングで制御する構成としてもよい。
また、走査型共焦点内視鏡システムは、画像信号が配置されない画素の割合を示す割合情報を複数種類記憶する記憶部と、記憶された複数種類の割合情報の中から1つを指定する指定部とを備えた構成であってもよい。この場合、光源部は、指定部により指定された割合情報に基づいてパルス光の射出タイミングを制御する。
また、光源部は、二次元画素配列内の全ての画素位置の夫々について、対応する走査領域内の走査位置を1対1で関連付けたリマップテーブルと、リマップテーブルに基づいて各々が画素位置と1対1で対応付けられたパルス信号よりなるパルス信号列を生成するパルス信号生成部と、生成されたパルス信号列に含まれるパルス信号を走査領域の中心に近いものほど高い割合で消去するパルス信号消去部とを有した構成としてもよい。この場合、パルス信号が走査領域の中心に近いものほど高い割合で消去され、一部のパルス信号が消去されたパルス信号列を用いてパルス光の射出タイミングが制御されることにより、パルス光による走査領域内の走査位置と対応する位置関係にある画素位置に各画像信号を配列したときに画像信号が配置されない画素が生じ、かつ画像信号が配置されない画素の割合が二次元画素配列の中心に近いほど高くなる。
また、走査型共焦点内視鏡システムは、パルス信号消去部によりパルス信号が消去される割合を示す割合情報を複数種類記憶する記憶部と、記憶された複数種類の割合情報の中から1つを指定する指定部とを備えた構成としてもよい。この場合、パルス信号消去部は、指定部により指定された割合情報に基づいてパルス信号を消去する割合を決定し、決定された割合で該パルス信号を消去する。
本発明によれば、走査領域内における蛍光物質の褪色による共焦点画像の明るさのムラを抑えるのに好適な走査型共焦点内視鏡システムが提供される。
本発明の実施形態の走査型共焦点内視鏡システムの構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態の走査型共焦点内視鏡システムが有する共焦点光学ユニットの構成を概略的に示す図である。 XY近似面上における光ファイバの先端の回転軌跡を示す図である。 パルス光による被写体に対するスポット形成位置と、ラスタ座標(共焦点画像の画素アドレス)との関係を模式的に示す図である。 間引き処理後のパルス信号列に基づいて照射されたパルス光のスポット形成位置と、ラスタ座標(共焦点画像の画素アドレス)との関係を模式的に示す図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態の走査型共焦点内視鏡システムについて説明する。
図1は、本発明の実施形態の走査型共焦点内視鏡システム1の構成を示すブロック図である。本実施形態の走査型共焦点内視鏡システム1は、共焦点顕微鏡の原理を応用して設計されたシステムであり、高倍率かつ高解像度の被写体を観察するのに好適に構成されている。図1に示されるように、走査型共焦点内視鏡システム1は、システム本体100、共焦点プローブ200及びモニタ300を備えている。走査型共焦点内視鏡システム1を用いた共焦点観察は、可撓性を有する共焦点プローブ200の管状部の先端面を被写体(体腔内の生体組織)に当て付けた状態で行う。
システム本体100は、光源102、光分波合波器(フォトカップラ)104、ダンパ106、CPU108、CPUメモリ110、光ファイバ112、受光器114、信号処理回路116、画像メモリ118、信号出力回路120、レーザ制御回路122、リマップテーブル用メモリ124、間引き回路126及び操作部128を有している。共焦点プローブ200は、光ファイバ202、共焦点光学ユニット204、サブCPU206、サブメモリ208及び走査ドライバ210を有している。
光源102は、CPU108の指示によるレーザ制御回路122の駆動制御に従い、患者の体腔内に投与された薬剤に含有されている蛍光物質を励起する励起光を射出する。励起光は、例えば波長488nmのパルス状のレーザ光であり、以下「パルス光」と記す。パルス光は、光分波合波器104に入射する。光分波合波器104のポートの一つには、光コネクタ152が結合している。光分波合波器104の不要ポートには、光源102より射出されたパルス光を無反射終端するダンパ106が結合している。前者のポートに入射したパルス光は、光コネクタ152を介して共焦点プローブ200内に配置された光学系に入射する。
光ファイバ202の基端は、光コネクタ152を通じて光分波合波器104と結合している。光ファイバ202の先端は、共焦点プローブ200の先端部に組み込まれた共焦点光学ユニット204内に収められている。光分波合波器104を射出したパルス光は、光コネクタ152を介して光ファイバ202の基端に入射した後、光ファイバ202を伝送して光ファイバ202の先端より射出される。
図2(a)は、共焦点光学ユニット204の構成を概略的に示す図である。以下、共焦点光学ユニット204を説明する便宜上、共焦点光学ユニット204の軸線方向(長手方向)をZ方向と定義し、Z方向に直交しかつ互いに直交する二方向をそれぞれ、X方向、Y方向と定義する。図2(a)に示されるように、共焦点光学ユニット204は、各種構成部品を収容する金属製の外筒204Aを有している。外筒204Aは、外筒204Aの内壁面形状に対応する外壁面形状を持つ内筒204Bを同軸(Z方向)にスライド可能に保持している。光ファイバ202の先端(以下、符号「202a」を付す。)は、外筒204A、内筒204Bの各基端面に形成された開口を通じて内筒204Bに収容支持されており、走査型共焦点内視鏡システム1の二次的な点光源として機能する。点光源である先端202aの位置は、CPU108による制御に基づいて周期的に変化する。
サブメモリ208は、共焦点プローブ200の識別情報や各種プロパティ等のプローブ情報を格納している。サブCPU206は、システム起動時にサブメモリ208からプローブ情報を読み出して、システム本体100と共焦点プローブ200とを電気的に接続する電気コネクタ154を介してCPU108に送信する。CPU108は、送信されたプローブ情報をCPUメモリ110に格納する。CPU108は、格納したプローブ情報を必要時に読み出して共焦点プローブ200の制御に必要な信号を生成して、サブCPU206に送信する。サブCPU206は、CPU108から送信された制御信号に従って走査ドライバ210に必要な設定値を指定する。
走査ドライバ210は、指定された設定値に応じたドライブ信号を生成して、先端202a付近の光ファイバ202の外周面に接着固定された二軸アクチュエータ204Cを駆動制御する。図2(b)は、二軸アクチュエータ204Cの構成を概略的に示す図である。図2(b)に示されるように、二軸アクチュエータ204Cは、走査ドライバ210と接続された一対のX軸用電極(図中「X」、「X’」)及びY軸用電極(図中「Y」、「Y’」)を圧電体上に形成した圧電アクチュエータである。
走査ドライバ210は、交流電圧Xを二軸アクチュエータ204CのX軸用電極間に印加して圧電体をX方向に共振させると共に、交流電圧Xと同一周波数であって位相が直交する交流電圧YをY軸用電極間に印加して圧電体をY方向に共振させる。交流電圧X、Yはそれぞれ、振幅が時間に比例して線形に増加して、時間(X)、(Y)かけて実効値(X)、(Y)に達する電圧として定義される。光ファイバ202の先端202aは、二軸アクチュエータ204CによるX方向、Y方向への運動エネルギーが合成されることにより、X−Y平面に近似する面(以下、「XY近似面」と記す。)上において中心軸AXを中心に渦巻状のパターンを描くように回転する。先端202aの回転軌跡は、印加電圧に比例して大きくなり、実効値(X)、(Y)の交流電圧が印加された時点で最も大きい径を有する円の軌跡を描く。図3に、XY近似面上の先端202aの回転軌跡を示す。
パルス光は、二軸アクチュエータ204Cへの交流電圧の印加開始直後から印加停止までの期間中、レーザ制御回路122による光源102の駆動制御に従って、光ファイバ202の先端202aから所定の発光パターンで射出される。以下、説明の便宜上、この期間を「サンプリング期間」と記す。サンプリング期間が経過して二軸アクチュエータ204Cへの交流電圧の印加が停止すると、光ファイバ202の振動が減衰する。XY近似面上における先端202aの円運動は、光ファイバ202の振動の減衰に伴って収束し、所定時間経過後に中心軸AX上で停止する。以下、説明の便宜上、サンプリング期間が終了してから先端202aが中心軸AX上に停止するまでの期間(より正確には、中心軸AX上での停止を保証するため、停止までに要する計算上の時間より僅かに長い期間)を「制動期間」と記す。一フレームに対応する期間は、1つのサンプリング期間と1つの制動期間で構成される。制動期間を短縮するため、制動期間の初期段階に二軸アクチュエータ204Cに逆相電圧を印加して制動トルクを積極的に加えてもよい。
また、図2(a)に示されるように、光ファイバ202の先端202aの前方には、対物光学系204Dが設置されている。対物光学系204Dは、複数枚の光学レンズで構成されており、図示省略されたレンズ枠を介して外筒204Aに保持されている。レンズ枠は、外筒204Aの内部において、内筒204Bと相対的に固定され支持されている。そのため、レンズ枠に保持された光学レンズ群は、外筒204Aの内部を内筒204Bと一体となってZ方向にスライドする。
内筒204Bの基端面と外筒204Aの内壁面との間には、圧縮コイルばね204E及び形状記憶合金204Fが取り付けられている。圧縮コイルばね204Eは、自然長からZ方向に初期的に圧縮狭持されている。形状記憶合金204Fは、Z方向に長尺な棒形状を持ち、常温下で外力が加わると変形して、一定温度以上に加熱されると形状記憶効果で所定の形状に復元する性質を有している。形状記憶合金204Fは、形状記憶効果による復元力が圧縮コイルばね204Eの復元力より大きくなるように設計されている。走査ドライバ210は、サブCPU206が指定した設定値に応じたドライブ信号を生成して、形状記憶合金204Fを通電し加熱することにより、形状記憶合金204Fの伸縮量を制御する。形状記憶合金204Fは、伸縮量に応じて内筒204Bを光ファイバ202ごとZ方向に進退させる。具体的には、形状記憶合金204Fは、加熱されてZ方向に延びる(復元する)ことにより、内筒204Bを光ファイバ202ごと前方(Z方向)に押し出す。形状記憶合金204Fはまた、徐冷が進むにつれて形状記憶効果による復元力が低下することに伴い、圧縮コイルばね204EによりZ方向に圧縮されて、内筒204Bを光ファイバ202ごと後方(Z方向)に引っ込める。
光ファイバ202の先端202aより射出されたパルス光は、対物光学系204Dを透過して被写体の表面又は表層でスポットを形成する。スポット形成位置は、点光源である先端202aの進退に応じてZ方向に変位する。すなわち、共焦点光学ユニット204は、二軸アクチュエータ204Cによる先端202aのXY近似面上の周期的な円運動とZ方向の進退を併せることで、被写体を三次元走査する。
光ファイバ202の先端202aは、対物光学系204Dの前側焦点位置に配置されているため、共焦点ピンホールとして機能する。先端202aには、パルス光により励起された被写体より発せられる蛍光のうち先端202aと光学的に共役な集光点からの蛍光のみが入射する。先端202aより光ファイバ202内に入射した蛍光は、光ファイバ202を伝送後、光コネクタ152を介して光分波合波器104に入射する。光分波合波器104は、入射した蛍光を光源102から射出されるパルス光と分離して光ファイバ112に導く。蛍光は、光ファイバ112を伝送して受光器114により検出される。ここで検出される信号は、被写体の共焦点画像をなす画像情報であり、以下「画像信号」と記す。受光器114により検出された画像信号は、図示省略された回路にてAD変換された後、信号処理回路116に入力される。なお、受光器114は、微弱な光を低ノイズで検出するため、例えば光電子増倍管等の高感度光検出器としてもよい。
ここで、サンプリング期間中の光ファイバ202の先端202aの位置(軌跡)が決まると、先端202aがある位置に来た時に射出されるパルス光による走査領域内の走査位置(スポット形成位置)と、このスポット形成位置からの戻り光(蛍光)を受光器114で受光して画像信号を得る信号取得タイミング(以下、「サンプリング点」という。)がほぼ一義的に決まる。そこで、本実施形態では、予め、キャリブレーションにより先端202aの軌跡をモニタし、その結果を基にスポット形成位置及びサンプリング点を推定している。そして、各サンプリング点に対応する、共焦点画像をなす各画素の位置(画素アドレス)とパルス光の発光パターンとが決定されている。サンプリング点(換言すると走査領域内の走査位置)と画素アドレスとの対応関係は、リマップテーブルとして、リマップテーブル用メモリ124に格納されている。リマップテーブルでは、共焦点画像をなす全ての画素アドレスの夫々について、対応するサンプリング点(換言すると走査位置)が1対1で関連付けられている。
レーザ制御回路122は、リマップテーブルに基づいて各々が各画素アドレスと1対1で対応付けられたパルス信号よりなるパルス信号列を生成し、生成されたパルス信号列を用いて光源102を駆動制御する。これにより、リマップテーブルの各サンプリング点(及び各画素アドレス)に対応するタイミングでパルス光が発光される。なお、リマップテーブルに基づいて生成されたパルス信号列は、後述するように、間引き回路126により一部のパルス信号が間引かれるが、まずは便宜上、間引き回路126によるパルス信号の間引きが行われない内容で説明する。
信号処理回路116は、リマップ処理回路116A、画素補完処理回路116B及び画像信号処理回路116Cを有している。リマップ処理回路116Aは、受光器114にて蛍光が受光されることによって検出される画像信号に対し、リマップテーブルを参照して、その蛍光が発せられた位置(パルス光の走査位置)と対応する位置関係にある画素アドレスを、サンプリング点に応じて割り当てる(リマッピングする)。このリマッピングにより、各画像信号によって表現される点像を画素アドレスに従って二次元に配列したもの(共焦点画像)の生成が可能となる。リマップ処理後の画像信号は、画素補完処理回路116Bにより画素補完処理(後述)が施されて、画像信号処理回路116Cに入力される。画像信号処理回路116Cは、画素補完処理回路116Bより入力された画像信号を画像メモリ118にフレーム単位でバッファリングする。バッファリングされた信号は、所定のタイミングで画像メモリ118から信号出力回路120に掃き出されて、NTSC(National Television System Committee)やPAL(Phase Alternating Line)等の所定の規格に準拠した映像信号に変換されてモニタ300に出力される。これにより、高倍率かつ高解像度の被写体の共焦点画像がモニタ300の表示画面に表示される。
上記のように、被写体は、XYの二次元方向に関して略円形の走査領域内の中心から周辺に向かい渦巻状に走査(スパイラルスキャン)される。このとき、光ファイバ202は共振運動のため、各スパイラルの周期(1回転の走査にかかる時間)は同じである。そのため、例えば被写体に一定の時間間隔でパルス光を照射した場合、走査速度の遅い走査領域内の中心に近い領域ほどスポット形成位置が密となり、単位面積当たりの照射エネルギーが高くなる。この結果、走査領域内の中心に近い領域ほど褪色がより一層顕著に起きるという、上述した問題が発生する。
これに対し、本実施形態では、パルス光を一定の時間間隔で照射することなく、共焦点画像をなす1つの画素に対して1つのパルス光(走査位置)を対応させ、その対応関係に応じたタイミングでパルス光を照射する。図4は、パルス光による被写体に対するスポット形成位置と、ラスタ座標(共焦点画像の画素アドレス)との関係を模式的に示す図である。図4に示されるように、一画素に対応する被写体の領域に対して1つのパルス光を照射することにより、走査領域内の中心に近い領域ほどスポット形成位置が密に配置されるという問題が解消される。
ところで、本実施形態では、パルス幅(パルス光の時間幅)が一定で且つ走査領域内の周辺に近付くほど走査速度が速くなるため、パルス光により被写体に形成されるスポットの形状は、図4の拡大図に示されるように、走査領域内の中心から周辺に向かうほどスパイラル方向に長くなる(スポット長が長くなる)。パルス光(スポット径)の大きさ自体は実質一定であるため、被写体に形成される各スポットの幅は実質同じである。そのため、スポットの面積はスポット長に依存して変化する。例えば、スポット長が等しいスポットは面積も等しく、スポット長が異なるスポットは面積も異なる。スポット長が短いほどスポット面積は小さくなる。本実施形態では、走査領域内の中心に近い領域ほどスポット長が短いため、スポット面積が小さくなる。ここで、パルス光の強度は一定であるから、走査領域内の中心に近い領域ほどスポットの単位面積当たりの照射エネルギーが高くなる。従って、走査領域内の中心に近い領域のスポットほど褪色をより速く進行させる。この結果、走査領域内の中心に近い領域ほど褪色による共焦点画像の明るさの低下が目立ちやすくなる。そこで、本実施形態の走査型共焦点内視鏡システム1では、以下に説明するように、パルス信号の間引き処理が行われる。
CPUメモリ110には、間引き処理に用いられる複数種類の間引き率情報が記憶されている。間引き率情報には、走査領域内の中心部分におけるパルス信号の間引き率と、走査領域内の中心部分から周辺部分にかけて変化する間引き率の勾配が含まれる。間引き率の勾配は、間引き率が走査領域内の中心から周辺にかけて徐々に低下するものとなっている。術者は、操作部128を操作することにより、CPUメモリ110に記憶された複数種類の間引き率情報の中から1つの間引き率情報を指定することができる。なお、間引き率及び間引き率の勾配は、術者が操作部128を操作して任意にその数値を指定できるようにしてもよい。
上述したように、レーザ制御回路122は、リマップテーブルに基づいて各々が各画素アドレスと1対1で対応付けられたパルス信号よりなるパルス信号列を生成する。生成されたパルス信号列は間引き回路126に入力される。間引き回路126は、入力されたパルス信号列に対して、操作部128を介して指定された間引き率情報をCPUメモリ110より取得し、取得された間引き率情報に基づくパルス信号の間引き処理を行う。すなわち、間引き回路126は、入力されたパルス信号列のうち、一部の画素アドレスに対応するパルス信号を消去する(又は無効な信号とする)。
レーザ制御回路122は、間引き回路126によって一部の画素アドレスに対応するパルス信号が消去されたパルス信号列を用いて光源102を駆動制御する。レーザ制御回路122の駆動制御によるタイミングで光源102にパルス光を発光させることにより、略円形の走査領域のうち一部の画素アドレス(間引かれたパルス信号)に対応する領域を除く残りの領域にパルス光が照射される。
図5は、間引き処理後のパルス信号列に基づいて照射されたパルス光のスポット形成位置と、ラスタ座標(共焦点画像の画素アドレス)との関係を模式的に示す、図4と同様の図である。図5の例では、間引かれたパルス信号に対応するスポットの非形成位置(画素)を黒で塗り潰して示している。本実施形態では、走査領域内の中心に近い領域ほどパルス信号の間引き率が高いため、図5に示されるように、スポットが間引かれた非形成位置(画素)の割合が高くなっている。
本実施形態では、スポットの単位面積当たりの照射エネルギーが高い領域である、走査領域内の中心に近い領域ほど、より多くのスポットが間引かれて、スポットが疎に形成される。このように、走査領域内の中心に近い領域ほどスポットを疎に形成して褪色の進行が速い領域を減少させることにより、走査領域内の中心部分で起きる褪色による共焦点画像の明るさの低下が、スポットを間引かない場合と比べて目立ち難くなる。そのため、スポットの間引き率及びその勾配を適切に設定することで、共焦点画像の明るさのムラを実質的に抑えることが可能となる。すなわち、本実施形態によれば、走査領域内の中心に近い領域ほどより多くのスポットを間引くことにより、走査領域内における褪色による共焦点画像の明るさのムラが抑えられる。
受光器114は、間引き処理後のパルス信号列に基づいて照射されたパルス光によるスポット形成位置からの蛍光を画像信号として検出する。すなわち、受光器114は、間引き処理後のサンプリング点で画像信号を検出する。リマップ処理回路116Aは、各サンプリング点の画像信号に対し、間引き回路126による間引き率情報及びリマップテーブルに基づいて画素アドレスをリマッピングする。このリマッピングにより、各画像信号によって表現される点像を二次元に配列したもの(共焦点画像)であって、スポットの非形成位置(間引かれたサンプリング点)に対応する画素アドレスにて画像信号が配置されないものが生成可能となる。このように、リマップ処理回路116Aでは、間引かれたパルス信号に対応する画素で画像情報が欠落した(いわゆる画素欠陥を持つ)共焦点画像の情報が生成される。
画素補完処理回路116Bは、画像情報が欠落した欠陥画素の画素値をその周辺画素の画素値を用いて補完する画素補完処理を行い、画像信号処理回路116Cに出力する。画素補完処理回路116Bにて行われる画素補完処理には、例えば移動平均法による画素補完処理やメディアンフィルタによる画素補完処理が挙げられる。画像信号処理回路116Cが欠陥画素補完後の画像信号を処理してモニタ300に出力することにより、褪色による明るさのムラの抑えられた共焦点画像がモニタ300の表示画面に表示される。
以上が本発明の例示的な実施形態の説明である。本発明の実施形態は、上記に説明したものに限定されず、本発明の技術的思想の範囲において様々な変形が可能である。例えば明細書中に例示的に明示される実施例等又は自明な実施例等を適宜組み合わせた内容も本願の実施形態に含まれる。
例えば、本実施形態では、リマップテーブルで定義される、画素アドレスと1対1で対応するパルス信号を、操作部128により指定された間引き率及びその勾配の情報に基づいて間引いている。これに対して別の実施形態では、リマップテーブル自体が間引き後の内容を反映したものであってもよい。すなわち、リマップテーブルにおいて、サンプリング点と画素アドレスとが必ずしも1対1で対応付けられておらず、一部の画素アドレスにはサンプリング点が対応付けられていない。この間引き後の内容を反映したリマップテーブルは、異なる間引き率及び勾配をもとに作成されたものが複数種類用意されている。術者は、操作部128を操作して、共焦点画像の生成に使用するリマップテーブルを指定することができる。
1 走査型共焦点内視鏡システム
100 システム本体
102 光源
104 光分波合波器
106 ダンパ
108 CPU
110 CPUメモリ
112 光ファイバ
114 受光器
116 信号処理回路
116A リマップ処理回路
116B 画素補完処理回路
116C 画像信号処理回路
118 画像メモリ
120 信号出力回路
122 レーザ制御回路
124 リマップテーブル用メモリ
126 間引き回路
128 操作部
152 光コネクタ
154 電気コネクタ
200 共焦点プローブ
202 光ファイバ
202a (光ファイバ202の)先端
204A 外筒
204B 内筒
204C 二軸アクチュエータ
204D 対物光学系
204E 圧縮コイルばね
204F 形状記憶合金
204 共焦点光学ユニット
206 サブCPU
208 サブメモリ
210 走査ドライバ
300 モニタ

Claims (5)

  1. 励起光であるパルス光を射出する光源部と、
    前記光源部より射出されるパルス光により被写体を略円形の走査領域内で中心及び周辺の一方から他方に向かい一定の回転周期で渦巻状に二次元走査する走査部と、
    前記パルス光の集光点と光学的に共役の位置に配置された共焦点ピンホールと、
    前記パルス光により励起された被写体から発せられる蛍光を、前記共焦点ピンホールを介して受光して画像信号として検出する画像信号検出部と、
    前記検出される画像信号に対し、前記パルス光による走査領域内の走査位置と対応する位置関係にある二次元画素配列内の画素位置を、該画像信号の検出タイミングに応じて割り当て、該割り当てられた画素位置に各該画像信号を配列して共焦点画像を生成する画像生成部と、
    を備え、
    前記光源部は、
    前記パルス光による走査領域内の走査位置と対応する位置関係にある画素位置に前記各画像信号を配列したときに該画像信号が配置されない画素が生じ、かつ該画像信号が配置されない画素の割合が前記二次元画素配列の中心に近いほど高くなるように、該パルス光の射出タイミングを制御すると共に、該画像信号が配置されない画素位置を除く残り画素位置と1対1で対応するタイミングで、該パルス光の射出タイミングを制御する、
    走査型共焦点内視鏡システム。
  2. 前記画像生成部は、
    前記画像信号が配置されない画素の画素値を当該画素の周辺画素の画素値を用いて補完する
    請求項1に記載の走査型共焦点内視鏡システム。
  3. 前記画像信号が配置されない画素の割合を示す割合情報を複数種類記憶する記憶部と、
    前記記憶された前記複数種類の割合情報の中から1つを指定する指定部と、
    を備え、
    前記光源部は、
    前記指定部により指定された割合情報に基づいて前記パルス光の射出タイミングを制御する
    請求項1又は請求項2に記載の走査型共焦点内視鏡システム。
  4. 前記光源部は、
    前記二次元画素配列内の全ての画素位置の夫々について、対応する前記走査領域内の走査位置を1対1で関連付けたリマップテーブルと、
    前記リマップテーブルに基づいて各々が前記画素位置と1対1で対応付けられたパルス信号よりなるパルス信号列を生成するパルス信号生成部と、
    前記生成されたパルス信号列に含まれるパルス信号を前記走査領域の中心に近いものほど高い割合で消去するパルス信号消去部と、
    を有し、
    前記パルス信号が前記走査領域の中心に近いものほど高い割合で消去され、一部のパルス信号が消去されたパルス信号列を用いて前記パルス光の射出タイミングが制御されることにより、該パルス光による走査領域内の走査位置と対応する位置関係にある画素位置に前記各画像信号を配列したときに該画像信号が配置されない画素が生じ、かつ該画像信号が配置されない画素の割合が前記二次元画素配列の中心に近いほど高くなる
    請求項1又は請求項2に記載の走査型共焦点内視鏡システム。
  5. 前記パルス信号消去部によりパルス信号が消去される割合を示す割合情報を複数種類記憶する記憶部と、
    前記記憶された前記複数種類の割合情報の中から1つを指定する指定部と、
    を備え、
    前記パルス信号消去部は、
    前記指定部により指定された割合情報に基づいて前記パルス信号を消去する割合を決定し、決定された割合で該パルス信号を消去する
    請求項に記載の走査型共焦点内視鏡システム。
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