JP5978174B2 - 中継器 - Google Patents
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Description
第1の入出力ポートから入力された第1の光信号を増幅する第1の中継増幅部と、
第2の入出力ポートから入力された第2の光信号を増幅する第2の中継増幅部と、
前記第1の入出力ポートからの前記第1の光信号を前記第1の中継増幅部へ入力し、前記第2の中継増幅部からの前記第2の光信号を前記第1の入出力ポートへ出力する第1の合分波部と、
前記第2の入出力ポートからの前記第2の光信号を前記第2の中継増幅部へ入力し、前記第1の中継増幅部からの前記第1の光信号を前記第2の入出力ポートへ出力する第2の合分波部と、
前記第1の入出力ポートから入力された前記第1の光信号の波長が予め定められた信号光波長である場合は当該第1の光信号を前記第1の中継増幅部へ出力し、前記第1の入出力ポートから入力された前記第1の光信号の波長が予め定められた試験光波長である場合は当該第1の光信号の前記第1の中継増幅部への入力を阻止する試験光処理部と、
を備える。
前記試験光処理部は、
前記第1の合分波部と前記第1の入出力ポートとの間に挿入され、前記第1の入出力ポートからの試験光を分波して第2の試験光合分波部へ出力し、前記第2の試験光合分波部からの試験光を前記第1の入出力ポートへ出力する第1の試験光合分波部と、
前記第2の合分波部と前記第2の入出力ポートとの間に挿入され、前記第2の入出力ポートからの試験光を分波して前記第1の試験光合分波部へ出力し、前記第1の試験光合分波部からの試験光を前記第2の入出力ポートへ出力する前記第2の試験光合分波部と、
を備えていてもよい。
図3に、本実施形態に係る広域光アクセスシステムの構成の一例を示す。本実施形態に係る広域光アクセスシステムは、PON中継器93を用いている。PON中継器93は、OTDR試験を行う場合、トランク区間に光スプリッタ96を設け、光スプリッタ96とOTDR試験装置94を接続する。OTDR試験装置94は、試験光をGE−ONU92へ向けて出射し、光線路で反射又は散乱された戻り光を観測することによって、広域光アクセスシステムの試験を行う。
図4に、OLT側入出力部にOTDR信号反射部21を備えた、OTDR対応PON中継器93の構成の一例を示す。本実施形態に係るOTDR対応PON中継器93は、OLT側上り下り合分波部11、ONU側上り下り合分波部12、上り信号中継増幅部13、下り信号中継増幅部14、およびOTDR信号反射部21を備える。OTDR信号反射部21が試験光処理部として機能する。
図5にOLT側入出力部にOTDR信号をバイパスする構造を備えた、OTDR対応PON中継器93の構成の一例を示す。OTDR対応PON中継器93は、OLT側上り下り合分波部11、ONU側上り下り合分波部12、上り信号中継増幅部13、下り信号中継増幅部14、および2台のOTDR信号合分波部22及び23、を備える。
図6に、OTDR信号をバイパスする構造、およびOTDR試験光微小反射部を備えた、OTDR対応PON中継器の構成を示す。OTDR対応PON中継器93は、OLT側上り下り合分波部11、ONU側上り下り合分波部12、上り信号中継増幅部13、下り信号中継増幅部14、2台のOTDR信号合分波部22及び23、並びにOTDR試験光微小反射部24を備える。
図7に、OTDR信号をバイパスする構造、および試験光増幅部を備えた、OTDR対応PON中継器93の構成を示す。OTDR対応PON中継器93は、OLT側上り下り合分波部11、ONU側上り下り合分波部12、上り信号中継増幅部13、下り信号中継増幅部14、2台のOTDR信号合分波部22及び23、並びにOTDR試験光増幅部25を備える。
12:ONU側上り下り合分波部
13:上り信号中継増幅部
14:下り信号中継増幅部
21:OTDR信号反射部
22、23:OTDR信号合分波部
24:OTDR試験光微小反射部
25:OTDR試験光増幅部
26:光ファイバ区間
91:OLT
92:ONU
93、193:PON中継器
94:OTDR試験装置
95、96:光スプリッタ
Claims (2)
- 第1の入出力ポートから入力された第1の光信号を増幅する第1の中継増幅部と、
第2の入出力ポートから入力された第2の光信号を増幅する第2の中継増幅部と、
前記第1の入出力ポートからの前記第1の光信号を前記第1の中継増幅部へ入力し、前記第2の中継増幅部からの前記第2の光信号を前記第1の入出力ポートへ出力する第1の合分波部と、
前記第2の入出力ポートからの前記第2の光信号を前記第2の中継増幅部へ入力し、前記第1の中継増幅部からの前記第1の光信号を前記第2の入出力ポートへ出力する第2の合分波部と、
前記第1の合分波部と前記第1の入出力ポートとの間に挿入され、前記第1の入出力ポートからの試験光を分波して第2の試験光合分波部へ出力し、前記第2の試験光合分波部からの試験光を前記第1の入出力ポートへ出力する第1の試験光合分波部と、
前記第2の合分波部と前記第2の入出力ポートとの間に挿入され、前記第2の入出力ポートからの試験光を分波して前記第1の試験光合分波部へ出力し、前記第1の試験光合分波部からの試験光を前記第2の入出力ポートへ出力する前記第2の試験光合分波部と、
前記第1の試験光合分波部と前記第2の試験光合分波部を結ぶ光経路に、反射位置を把握可能な予め設定された割合の試験光の一部を反射する試験光反射部と、
を備える中継器。 - 前記第1の試験光合分波部と前記第2の試験光合分波部を結ぶ光経路に、前記試験光を増幅する試験光増幅部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の中継器。
Priority Applications (1)
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JP2013142240A JP5978174B2 (ja) | 2013-07-08 | 2013-07-08 | 中継器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2013142240A JP5978174B2 (ja) | 2013-07-08 | 2013-07-08 | 中継器 |
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JP2015015660A JP2015015660A (ja) | 2015-01-22 |
JP5978174B2 true JP5978174B2 (ja) | 2016-08-24 |
Family
ID=52437082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2013142240A Active JP5978174B2 (ja) | 2013-07-08 | 2013-07-08 | 中継器 |
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- 2013-07-08 JP JP2013142240A patent/JP5978174B2/ja active Active
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