JP5974167B2 - 水素ゲッターを有する圧力送信機 - Google Patents

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Description

本発明は、工業プロセスにおいて、プロセス流体の圧力を測定するための圧力送信機に関する。より詳細には、本発明は、圧力送信機のパフォーマンスに対する水素の悪影響を減少させることに関する。
プロセス圧力送信機は、プロセス環境内での圧力(絶対、ゲージ(gage)、差分)を感知するために種々に適用される。また、プロセス圧力送信機は、例えば、タンクに沿った異なる高さのような、2つの異なる点の差圧を感知し、タンク内の流体レベルを指示させるために使用できる。いくつかの構成において、薄型で可撓性のある隔離ダイヤフラムおよび充填流体は、プロセス流体から圧力送信機の感圧素子を分離する。プロセス圧力が掛けられると、圧力送信機のダイヤフラムが変位する。この変位は、プロセス圧力に関連し、HART(登録商標)(Highway Addressable Remote Transducer)のような、適当な電流、圧力、またはデジタル出力信号に電気的に変換される。
米国特許第5,837,158号 米国特許第6,063,307号 米国特許第6,295,785号
圧力送信機内で感知された圧力が、プロセス圧力を正確に表わすためには、充填流体が非圧縮性であることが重要である。これは比較的簡単な設計基準であるようではあるが、ある種のオイルは、時間が経過すると、ガス抜けしたり、内部に泡を発生したりすることが知られている。一般に、これらの問題には、非常に高品質な充填流体を選択すること、時間が経過してもガス抜けすることがないように充填流体を前処理すること、および他の比較的高コストの技術で対処されている。圧力送信機の製造コストを増加させる、ガス抜けおよびその影響を減少させるために種々の手法が採られているが、充填流体中のガスの悪影響は、依然として、圧力送信機における問題として残っている。
圧力送信機充填流体における1つのガス源は、隔離ダイヤフラムに浸透する水素原子である。全ての結晶においていくつかの格子サイトは占有されていない。占有されていないサイトは空孔と呼ばれる。隣接サイトの原子の1つが空孔へと飛び込むと、その原子は空孔メカニズムによって拡散するといわれている。この種の拡散により水素原子は隔離ダイヤフラムに浸透する。送信機ダイヤフラムは非常に薄いため、ダイヤフラムを通して浸透する水素原子は結合して、分子状水素を形成する。分子状水素はダイヤフラムを通して浸透戻りするには大き過ぎるので、捕捉されて充填流体に泡を形成する。これらの泡は送信機のパフォーマンスに大きな影響を与える。
圧力送信機のパフォーマンスに対する水素ガスの影響を減少させるため、一般的には、水素原子が発生する近隣に、ある異種金属を置かないようにする、という注意を払う必要がある。水等の電解物質の存在下において、カドミウムまたはカドミウムめっきした部品を、SSTまたは合金C−276といった高ニッケル合金付近に配置することは、ニッカド電池効果を作り出すことになり、そこで原子水素が放出される。この原子水素は、その後、薄いダイヤフラムに浸透する。一般に、原子水素の存在する箇所へ適用する場合、浸透しにくい物質を選択する必要がある。多くのニッケルを含む金属は、より浸透の影響を受けやすい。温度上昇もまた浸透速度を増す。
圧力送信機で一般的な、Alloy−400等の合金を、金でめっきすることにより、水素浸透を防ぐことができ、また、Alloy−400に耐食性を与えることができる。しかしながら、水素浸透を減少させるこの技術は、金に伴うコスト増により、圧力送信機を製造するコストを著しく増加させる。
上述のように、水素浸透に加え、水素はまた、SST鋳造からのガス抜けにより泡を形成する。モジュール鋳造品が焼鈍されていない場合、これは重要な問題となる。これはまた高温、高真空適用時の問題でもある。ガス抜けへの共通の解決法は、送信機部品を焼出しすることである。これはコスト増を招くが、より重要なのは、焼出し時間を判断することである。水素は絶えずガス抜けし、焼出しは、これ以上のガス抜けがパフォーマンスに著しく影響しないような長さだけ理想的に行う必要がある。しかしながら、適切な焼出し時間を決定することは難しい。
上述のことは、一般的な背景情報として提供されたのであり、クレームされた主題を決定する助けとして使用されることを意図するものでない。
プロセス流体の圧力を測定するためのプロセス変数送信機であって、ハウジングとベースを有するセンサモジュールと、センサモジュールのベースに形成され圧力入口と、ベースにおける圧力入口に位置する隔離ダイヤフラムと、圧力センサと、ベースを通って延びており、プロセス流体に関連する圧力を隔離ダイヤフラムから圧力センサへと伝達するための充填流体を含む隔離管とを含むプロセス変数送信機。水素ゲッター剤(hydrogen getter material)は、隔離ダイヤフラムの被覆を含み、隔離ダイヤフラムと圧力センサの間のベースにおいて充填流体と接触するように位置し、充填流体から水素を除去する。
以上の概要と要約は、以下の詳細な説明に記載される概念を選択して、簡潔な形式で紹介するために提供したものである。この概要は、クレームされた主題の主な特徴や不可欠な特徴を特定することを意図するものではなく、また、クレームされた主題の範囲を決定する助けとして使用されることを意図するものでない。
ロセス送信機を有するプロセス測定システムの一形態を示す図である。 図1のプロセス送信機の一形態を示す模式的側面図である。 図2の送信機のセンサモジュールの断面図である。 充填流体と混合された水素ゲッター剤を含むセンサモジュールの隔離管部の概略図である。 隔離ダイヤフラム付近で充填流体と接触して位置する水素ゲッター剤を含むセンサモジュールの一部の概略図である。 隔離ダイヤフラム付近で充填流体と接触するように位置する水素ゲッター剤を含むセンサモジュールの一部の概略図である。 隔離管域に位置する水素ゲッター剤を含むセンサモジュールの一部の概略図である。 隔離ダイヤフラムの被覆からなり、充填流体と接触して位置する水素ゲッター剤を含むセンサモジュールの一部の概略図である。
本発明の実施形態が詳細に説明される前に、本発明は、以下の詳細な構造への適用に限定されず、また、以下の記述あるいは以下の図面に記載された構成要素の配置に限定されないことが理解されるべきである。本発明は、他の実施形態でも可能であり、種々の方法で実施および実行可能である。また、ここで使用される表現法および用語法は、記述を目的とするものであり、限定するものと考えられるべきではない。ここでの「含む」、「具備する」または「有する」およびそれらの変形は、それ以降に列挙される事項およびその等価物ならびに追加の事項を含むことを意味するものとして使用される。特に別段に記載または限定しない限り、「設置される」、「接続される」、「支持される」および「連結される」ならびにその変形の用語は、広い意味で使用され、直接および間接的な設置、接続、支持および連結の両方を含む。さらに「接続された」および「連結された」は、物理的か機械的かの接続および連結に限定されない。
種々の開示された形態において、水素ゲッターは、送信機の隔離ダイヤフラムの充填流体側のプロセス圧力送信機に付加される。ここで使用されるように、ゲッターまたはゲッター剤は、充填流体からガス状の水素を固定、吸収あるいは除去する能力を有するいかなる構造または物質を指す。異なる形状の種々のゲッター剤を使用できるが、例えば市販のバキュームエナジー社から商業的に入手可能なポリマー水素ゲッターが、圧力送信機充填流体に適合すると考えられる。公知のポリマーゲッターの他の例は米国特許第5,837,158号および第6,063,307号に開示される。種々の形態において、一般的に使用されてきた、コストを増大させる金めっきを省き、水素ゲッター剤を配置することは、プロセス圧力送信機の製造コストの低減を可能にする。開示された形態は、水素ガスの有害な影響を低減または除去した、より良いパフォーマンスおよびより耐久性のあるプロセス圧力送信機を提供する。
図1は、プロセス測定システム32の環境を概略的に示す。図1は、プロセス圧力を測定するためのプロセス測定システム32に連結された、圧力下の流体を含むプロセス管30を示す。プロセス測定システム32は、管30に接続されたインパルス管34を含む。インパルス管34は、プロセス圧力送信機36に接続される。例えば、オリフィスプレート、ベンチュリ管、フローノズル等である、一次要素33は、インパルス管34の管の間のプロセス管30の位置でプロセス流体に接触する。一次要素33は、流体が一次要素33を流通することで流体内に圧力変化を引き起こす。
送信機36は、インパルス管34を通してプロセス圧力を受信するプロセス測定装置である。送信機36は、プロセス差圧を感知し、それをプロセス圧力の関数である、標準化伝送信号へと変換する。図示の形態は、プロセス差圧を測定する送信機36に関連して記載されているが、開示された形態は、差圧を測定する送信機に限定されない。したがって、圧力送信機36は、隔離ダイヤフラムおよび流体充填システムを有するあらゆるタイプのプロセス圧力送信機であってもよい。
プロセスループ38は、制御室40から送信機36への電源信号と双方向通信の両方を提供し、多くのプロセス通信プロトコルに従って構成できる。図示した例では、プロセスループ38は、2線式ループである。この2線式ループは、通常動作時に、4−20mA信号で、送信機36に全ての電力を伝達し、送信機36を行き来する全ての通信を伝送する。制御室40は、送信機36および直列抵抗44に電力を供給する電圧電源供給源46を含む。他の構成例では、ループ38は、2点間接続構成、網目状ネットワーク、あるいは他の構成によって無線でデータが送受信されるワイヤレス接続である。
図2は、センサモジュール52および送信機電子モジュール136を有する圧力送信機36の一形態を模式的に示す。センサモジュール52は、ハウジング152およびベース54を含み、そこにはセンサ板156、圧力センサ56、隔離管93および94ならびに感知または隔離ダイヤフラム90が設けられる。送信機電子モジュール136は、ハウジング164、カバー166、ディスプレイカバー168、出力インターフェース170および送信機回路172を含む。図1に示される管30内の一次要素33のいずれかの側に圧力PおよびPが発生する。
センサ板156およびセンサ56は、センサモジュール52のハウジング152内に設置される。センサモジュール52のハウジング152は、電子モジュール136のハウジング164に、例えば、ねじ接続によって接続する。同様に、カバー166および168は、ねじ接続によってハウジング164に接続され、消炎シールを形成し、これは当該技術において知られているように、ハウジング164内から炎が漏れるのを防ぐ。出力インターフェース170および送信機回路172は、送信機電子モジュール136内のハウジング164に設置され、1以上の電子ボードを形成する。
図示された形態においては、センサ56は、一対の電極板の間に配置された感知ダイヤフラムを有するキャパシタンス−ベースの差圧セルである。一形態において、センサ56は、金属−ダイヤフラムタイプのセンサであり、これはFrickらの米国特許第6,295,875号であって、ミネソタ州、エデンプレイリーのローズモント社へ譲渡された特許に記載されている。センサ56は、隔離管93および94によってベース54に接続されており、その中に油圧充填流体が配置される。隔離ダイヤフラム90は、隔離管93および94内の充填流体をプロセス流体の圧力PおよびPから隔離する。プロセス流体の圧力PおよびPにおける変化は、ベース54内の隔離ダイヤフラム90、および隔離管93および94内の油圧充填流体を通してセンサ56により差圧ΔPとして感知される。しかしながら、上述のように、開示された形態は、差圧測定の構成に限定されない
図3は、センサモジュール52をより詳細に示した断面図である。図3に示されるように、ベース54を通る隔離管93は、差圧センサ56に連結する。同様に、ベース54を通る隔離管94も差圧センサ56に接続する。本発明では、水素泡の形成についての解決策として、圧力送信機の油充填システムの内側の1以上の位置で、水素ゲッターまたは水素ゲッター剤を追加使用する。浸透により引き起こされる水素を除くことにより、圧力送信機パフォーマンスおよび耐久性を向上させることができ、水素ガス発生を低減するのに使用される高価な金めっきをなくすことができる。開示された形態において、水素は、隔離ダイヤフラム90を通して浸透することができるが、そこで、隔離ダイヤフラムと圧力センサ56の間の充填流体から吸収される。ガス抜けにより発生する水素にとって、ゲッターは、焼出しの範囲をなくしたり減少させたりすることができる。
図4には、ンサモジュールの一部が示されている。隔離管94および隔離ダイヤフラム90の一部が示されている。隔離管93および対応する隔離ダイヤフラム90は、管94および図示されるダイヤフラム90と同じであると理解されるべきであり、以下の説明は、いずれの隔離管にも適用できる。
図4に示される形態において、隔離管94は、ゲッター剤が混合されたシリコーンオイルを含む充填流体202で満たされている。この形態において、充填流体202それ自体は、閉じられたシステムから水素ガスを除去するための水素ゲッター剤を含む。例えば、バキュームエナジー社から商業的に入手可能な高粘性液またはゲルポリマーのゲッター剤は、シリコーンオイル充填流体と混合されて水素ゲッター充填流体202を形成する。また、微粉ゲッター剤がシリコーンオイルに通されて混合および分散され、水素ゲッター充填流体202を形成する。充填流体202は、隔離管94内に位置すると記載されたが、流体202の一部は、管94の外側にあり、隔離ダイヤフラム90に接触する。このアプローチの1つの利点は、ゲッター剤が水素をオイル充填システムのいずれの点からも吸収できることである。しかしながら、シリコーンオイルは、殆んどの添加剤と非混合性であるので、この解決策は、好ましくない場合もある。さらに、シリコーンオイルのパフォーマンスに悪影響を与える可能性があることに加え、誘電率、誘電安定性および温度効果といった他のファクターにも悪影響が及ぶ可能性がある。
図5は、ゲッター剤が隔離ダイヤフラム90付近に別の固体片222として付加され、オイル体に接触る。例えば、ゲッター剤222は、隔離ダイヤフラム付近でベース54の材料で形成された空洞または凹部220に配置または挿入される。矩形凹部220に位置する矩形片のゲッター剤222が図示されているが、ゲッター剤および/または凹部は種々のサイズや形状であってよい。例えば、図6は、隔離管94の両側で、隔離ダイヤフラム90の領域の略全体に渡って形成されたように、凹部230内に位置するゲッター剤232を示す。また、ゲッター剤222は、凹部内に位置させる必要はない。その代わり、ゲッター剤は、ベース54の表面に配置、付着または固定され、隔離ダイヤフラム90とセンサ56の間のオイル体に接触する。
図7は、ゲッター剤235が隔離管94に配置または形成されている。例えば、ゲッター剤235は、管94内の充填流体に直接接触するように、隔離管94上に被膜または配置された薄膜ゲッター剤の形態でよい。隔離管93も同様にゲッター剤235を含んでもよい。
図8は、ゲッター剤240が隔離ダイヤフラム90の背面側(充填流体に接触する側)に被膜されている。例えば、ゲッター剤240は、ダイヤフラム90を横切る圧力の移動と干渉しないような、十分に薄い薄膜ゲッター剤であってよい。この実施形態の1つの可能性のある利点は、ダイヤフラムへのゲッター剤の付加は、ダイヤフラム選択に対するオプションと隔離していることである。したがって、他の設計態様に影響を与えない。ゲッター剤240を隔離ダイヤフラム90上に被膜する実施形態は、ダイヤフラムの全体を実質的に被覆するコーティングあるいはダイヤフラムの一部または複数部分を被覆し、他の部分を被覆しないままとするコーティングを含むことができる。
本発明の好ましい実施形態が記載されたが、当業者は、発明の思想と観点から逸脱することなく、形状および詳細を変更可能であることを認識するであろう。
30…プロセス管、 32…プロセス測定システム、 33…一次要素、 34…インパルス管、 36…プロセス圧力送信機、 38…プロセスループ、 40…制御室、 52…センサモジュール、 54…ベース、 56…圧力センサ、 90…隔離ダイヤフラム、 93,94…隔離管、 136…電子モジュール、 152…ハウジング、 202…素ゲッター充填流体、 222,232,235,240…ゲッター剤、 230…凹部

Claims (15)

  1. プロセス流体の圧力を測定するためのプロセス変数送信機であって、
    ハウジングとベースを有するセンサモジュールと、
    前記センサモジュールの前記ベースに形成され、プロセス流体に関連する圧力に結合可能な、少なくとも1つの圧力入口と、
    前記ベースにおける前記少なくとも1つの圧力入口に位置する隔離ダイヤフラムと、
    前記隔離ダイヤフラムと間隔を置いて位置する圧力センサと、
    前記ベースを通って延びており、前記プロセス流体に関連する圧力を前記隔離ダイヤフラムから前記圧力センサへ伝達する充填流体を含む隔離管と、
    前記隔離ダイヤフラムと前記圧力センサの間の前記ベースにおいて前記充填流体に接触するように位置し、前記充填流体から水素を除去する水素ゲッター剤とを具備し、前記水素ゲッター剤は、前記隔離ダイヤフラムの被覆を含むプロセス変数送信機。
  2. 前記水素ゲッター剤が、さらに、前記充填流体に混合された水素ゲッター剤を含む請求項1のプロセス変数送信機。
  3. 前記充填流体が、シリコーンオイルからなる請求項2のプロセス変数送信機。
  4. 前記充填流体に混合された前記水素ゲッター剤が、高粘性液またはゲルポリマーのゲッター剤からなる請求項3のプロセス変数送信機。
  5. 前記充填流体に混合された前記充填流体に混合された前記水素ゲッター剤が、前記シリコーンオイルに混合された微粉ゲッター剤からなる請求項3のプロセス変数送信機。
  6. 前記水素ゲッター剤が、さらに、前記充填流体と接触する隔離固体片のゲッター剤を含む請求項1のプロセス変数送信機。
  7. 前記隔離固体片のゲッター剤が、前記隔離ダイヤフラム付近に位置している請求項6のプロセス変数送信機。
  8. 前記センサモジュールが、さらに前記隔離ダイヤフラム付近に前記隔離固体片のゲッター剤を収容するように配置された凹部を具備する請求項7のプロセス変数送信機。
  9. 前記水素ゲッター剤が、さらに、前記充填流体に接触するように前記隔離管内に位置する水素ゲッター剤を含む請求項1のプロセス変数送信機。
  10. 前記隔離管内に位置する前記水素ゲッター剤が、前記隔離管内に形成された薄膜ゲッター剤である請求項9のプロセス変数送信機。
  11. ンサモジュールと、前記センサモジュールに形成された圧力入口と、前記圧力入口に位置する隔離ダイヤフラムと、圧力センサと、プロセス流体に関連する圧力を前記隔離ダイヤフラムから前記圧力センサへ伝達する充填流体を含む隔離管を有するプロセス変数送信機内の充填流体を維持する方法であって
    前記充填流体から水素を除去するために、前記隔離ダイヤフラムおよび前記圧力センサの間の前記充填流体に接触するように前記センサモジュール内に水素ゲッター剤を配置することを含前記充填流体に接触するように前記センサモジュール内にセン水素ゲッター剤を配置することは、前記隔離ダイヤフラムを前記水素ゲッター剤で被覆することを含む、方法。
  12. 前記充填流体に接触するように前記水素ゲッター剤配置することが、さらに前記水素ゲッター剤を前記充填流体に混合することを含む請求項11の方法。
  13. 前記充填流体に接触するように前記水素ゲッター剤配置することが、さらに隔離固体片のゲッター剤を前記充填流体に接するように位置させることを含む請求項11の方法。
  14. 前記充填流体に接触するように前記隔離固体片のゲッター剤を配置することが、さらに、前記隔離ダイヤフラム付近の前記センサモジュール内に前記隔離固体片のゲッター剤を配置することを含む請求項13の方法。
  15. 前記充填流体に接触するように前記水素ゲッター剤配置することが、さらに
    前記隔離管の内部を前記水素ゲッター剤で被覆することを含む請求項11の方法。
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