JP5943760B2 - 放射線検出装置および放射線撮影装置 - Google Patents

Description

本発明は、放射線検出装置および放射線撮影装置に関する。

Ｘ線ＣＴ（Computed Tomography）装置は、撮影対象の透過Ｘ線を検出するためのＸ線検出器を備えている。Ｘ線検出器のＸ線入射面側には、照射されたＸ線の散乱線を除去するためのコリメータ（collimator）装置が設けられている。

通常、Ｘ線検出装置では、再構成画像におけるアーチファクト（artifact）を抑制するなどの観点から、全ての検出セルにおいて、検出特性が均一であることが要求される。このような要求に応えるには、Ｘ線検出器およびコリメータ装置の加工精度や互いの位置合せ精度を高める必要がある。

しかし、Ｘ線検出器およびコリメータ装置は、比較的大きい装置であるため、一体的に形成しようとすると、加工精度や位置合せ精度を高めることが非常に難しい。

そこで、Ｘ線検出器およびコリメータ装置を複数のモジュール（module）にて構成する手法が提案されており、実際にこの手法を採用するＸ線検出装置は多い。

典型的には、Ｘ線検出器は、複数の検出素子が２次元的に配列された検出器モジュールをチャネル（channel）方向に複数配列して形成される。また、コリメータ装置は、複数のコリメータ板が検出素子を区分するように配列されたコリメータモジュールをチャネル方向に複数配列して形成される（例えば、特許文献１，要約等参照）。

特開２０１２−０１３４２１号公報

一般的に、コリメータモジュールは、検出器モジュールの整数倍の個数をカバー（cover）するように作られる。そして、検出器モジュールのチャネル方向における継ぎ目と、コリメータモジュールのチャネル方向における継ぎ目とは、通常、互いに一致または近傍となる。コリメータ板は、検出器モジュールのあるべき位置、すなわち検出素子間の境界に正しく配置される必要があるため、検出器モジュールおよびコリメータモジュールの設計・加工および位置合せは、非常に高い精度を持って行われる。

しかしながら、検出器モジュールおよびコリメータモジュールの継ぎ目においては、加工・位置合せの精度を高めることが最も難しく、この継ぎ目において検出セルの検出特性が劣化し易い。しかも、前述したように、検出器モジュールの継ぎ目と、コリメータモジュールの継ぎ目とは、通常、互いに一致または近傍となるため、このような継ぎ目における検出セルの検出特性については、劣化が重なって著しく劣化する恐れがある。

このような事情により、放射線検出器およびコリメータ装置が複数のモジュールの配列により構成される放射線検出装置において、各検出セルの検出特性を均一化する技術が望まれている。

第１の観点の発明は、
複数の検出素子がチャネル方向に配列された検出器モジュールをチャネル方向に複数配列して成る放射線検出器と、
複数のコリメータ板が前記検出素子を区分するようにチャネル方向に配列されたコリメータモジュールを、前記放射線検出器の放射線入射面側においてチャネル方向に複数配列して成るコリメータ装置とを備えた放射線検出装置であって、
前記複数の検出器モジュールおよび前記複数のコリメータモジュールが、コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域が、検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子とは異なる検出素子を区分するように、配列されている放射線検出装置を提供する。

第２の観点の発明は、
前記放射線検出器の主要部を構成する複数の検出器モジュールのチャネル方向における検出素子の数と、前記コリメータ装置の主要部を構成する複数のコリメータモジュールのチャネル方向における区分領域の数とが、それぞれ一定であり、
前記検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子と、前記コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域とが、チャネル方向において規則的な間隔にて位置している上記第１の観点の放射線検出装置を提供する。

第３の観点の発明は、
前記コリメータ装置の主要部を構成するコリメータモジュールのチャネル方向における区分領域の数が、前記放射線検出器の主要部を構成する検出器モジュールのチャネル方向における検出素子の数の整数倍である上記第２の観点の放射線検出装置を提供する。

第４の観点の発明は、
前記放射線検出器の主要部を構成する複数の検出器モジュールのチャネル方向における検出素子の数と、前記コリメータ装置の主要部を構成する複数のコリメータモジュールのチャネル方向における区分領域の数との少なくとも一方が、不規則であり、
前記検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子と、前記コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域との少なくとも一方が、チャネル方向において不規則な間隔にて位置している上記第１の観点の放射線検出装置を提供する。

第５の観点の発明は、
前記検出器モジュールのチャネル方向における検出素子の数と、前記コリメータモジュールのチャネル方向における区分領域の数とが、それぞれ、８個以上、１２８個以下である上記第１の観点から第４の観点のいずれか一つの観点の放射線検出装置を提供する。

第６の観点の発明は、
前記検出器モジュールが、シンチレータアレイチップ（scintillator array tip）を含んでいる上記第１の観点から第５の観点のいずれか一つの観点の放射線検出装置を提供する。

第７の観点の発明は、
上記第１の観点から第６の観点のいずれか一つの観点の放射線検出装置を備えた放射線撮影装置を提供する。

第８の観点の発明は、
放射線断層撮影を行う上記第７の観点の放射線撮影装置を提供する。

上記観点の発明によれば、検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子と、コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域とが、チャネル方向において重複しないので、検出器モジュールおよびコリメータモジュールの継ぎ目に隣接する検出セルの検出特性の劣化を、チャネル方向において分散させることができ、放射線検出器およびコリメータ装置が複数のモジュールの配列により構成される放射線検出装置において、各検出セルの検出特性を均一化することができる。

Ｘ線ＣＴ装置の外観図である。 第１の実施形態に係るＸ線検出装置の構成を示す図である。 従来のＸ線検出装置における、ＣＨ方向に並ぶ検出セルと、検出特性が劣化し易い検出素子および区分領域との対応関係を示す表である。 第１の実施形態に係るＸ線検出装置における、ＣＨ方向に並ぶ検出セルと、検出特性が劣化し易い検出素子および区分領域との対応関係を示す表である。 第２の実施形態に係るＸ線検出装置の構成を示す図である。 第３の実施形態に係るＸ線検出装置の構成を示す図である。 第３の実施形態に係るＸ線検出装置における、ＣＨ方向に並ぶ検出セルと、検出特性が劣化し易い検出素子および区分領域との対応関係を示す表である。

以下、発明の実施形態について説明する。

（第１の実施形態）
図１は、Ｘ線ＣＴ装置１の構成を概略的に示す図である。図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、走査ガントリ（gantry）２と、撮影テーブル（table）３と、操作コンソール（console）４とを備えている。

走査ガントリ２は、操作コンソール４からの制御を受けて被検体１０のスキャン（scan）を行い、投影データ（data）を収集する。撮影テーブル３は、被検体１０を載置して撮影空間である走査ガントリ２のボア（bore）に搬送する。操作コンソール４は、操作者からの操作を受けて、走査ガントリ２や撮影テーブル３の制御を行ったり、スキャンによって収集された投影データを基に画像を再構成して表示したりする。

走査ガントリ２は、Ｘ線管５およびＸ線検出装置６を備えている。Ｘ線管５およびＸ線検出装置６は、被検体１０を挟んで互いに対向して配置されており、この位置関係を維持したまま被検体１０の周りを回転可能に支持されている。Ｘ線管５は、そのＸ線焦点５１から被検体１０に向けてＸ線５２を照射し、Ｘ線検出装置６は、その透過Ｘ線を検出する。

なお、ここでは、図１に示すように、Ｘ線管５の焦点５１からＸ線５２が照射される方向をＸ線照射方向（Ｉ方向）とし、走査ガントリ２の回転軸方向（被検体１０の体軸方向）をスライス方向（ＳＬ方向）、Ｘ線５２のファン角方向をチャネル方向（ＣＨ方向）とする。

Ｘ線検出装置６の構成について説明する。

図２は、第１の実施形態に係るＸ線検出装置の構成を示す図である。

図２（ａ）は、Ｘ線検出装置６をＳＬ方向に見たときの側面図である。図２（ａ）に示すように、Ｘ線検出装置６は、Ｘ線検出器７と、コリメータ装置８とを有している。コリメータ装置８は、Ｘ線検出器７のＸ線入射面側に配置されている。Ｘ線検出器７およびコリメータ装置８は、不図示の支持部材により支持されている。図２（ｂ）は、Ｘ線検出器７をＩ方向に見たときの上面図である。また、図２（ｃ）は、コリメータ装置８をＩ方向に見たときの上面図である。

図２（ａ），（ｂ）に示すように、Ｘ線検出器７は、検出器モジュール７１をＣＨ方向に複数配列することにより構成されている。検出器モジュール７１は、複数の検出素子７１ｉをＣＨ方向およびＳＬ方向に２次元的に配列することにより構成されている。検出器モジュール７１におけるＣＨ方向の検出素子７ｉの数は、例えば、８個〜１２８個程度である。検出器モジュール７１におけるＳＬ方向の検出素子７ｉの数は、例えば、１個〜１２５６個程度である。検出素子７ｉは、例えば１ｍｍ角程度の大きさである。Ｘ線検出器７は、このような検出器モジュール７１をＣＨ方向に十数個から数十個程度配列して構成する。ここでは、簡単のため、検出器モジュール７１は、検出素子７ｉを６（ＣＨ）×８（ＳＬ）個配列して構成するものとし、Ｘ線検出器７は、この検出器モジュール７１をＣＨ方向に４個配列して構成するものとする。

なお、検出器モジュール７１は、Ｘ線を受けて発光するシンチレータがアレイ状に形成されたシンチレータアレイチップと、光を電気信号に変換するフォトダイオードがアレイ状に形成されたフォトダイオードアレイチップ（photodiode array tip）とが積層された構成である。検出素子７ｉは、互いに対応するシンチレータとフォトダイオードとにより構成される。

図２（ａ），（ｃ）に示すように、コリメータ装置８は、２種類のコリメータモジュール、すなわち第１のコリメータモジュール８１および第２のコリメータモジュール８２をＣＨ方向に複数配列することにより構成されている。第１および第２のコリメータモジュール８１，８２は、検出素子７ｉをＣＨ方向およびＳＬ方向に区分するように、複数のコリメータ板を格子状に組み合わせることにより構成されている。コリメータ板は、例えばタングステン（tungsten）やモリブデン（molybdenum）などの重金属により構成されている。

第１のコリメータモジュール８１は、板面がＳＬ方向に平行な第１のチャネルコリメータ板８１ＣＨをＣＨ方向に３枚、板面がＣＨ方向に平行な第１のスライスコリメータ板８１ＳＬをＳＬ方向に９枚、配列して構成されている。これにより、第１のコリメータモジュール８１は、検出素子７ｉの３（ＣＨ）×８（ＳＬ）個分の区分領域８ｉを形成する。

同様に、第２のコリメータモジュール８２は、板面がＳＬ方向に平行な第２のチャネルコリメータ板８２ＣＨをＣＨ方向に６枚、板面がＣＨ方向に平行な第２のスライスコリメータ板８２ＳＬをＳＬ方向に９枚、配列して構成されている。これにより、第２のコリメータモジュール８２は、検出素子７ｉの６（ＣＨ）×８（ＳＬ）個分の区分領域８ｉを形成する。

ここでは、コリメータ装置８は、ＣＨ方向の両端部に第１のコリメータモジュール８１を１個ずつ配置し、ＣＨ方向の中央寄りの主要部に第２のコリメータモジュール８２を３個配置して構成するものとする。

コリメータモジュールにおけるＣＨ方向の区分領域８ｉの数は、検出器モジュール７１と同様に、例えば、８個以上、１２８個以下程度である。ここでは、簡単のため、区分領域の数を実際より少なく設定してある。

なお、このように構成されたＸ線検出装置６において、Ｉ方向に１：１で対応する検出素子７ｉと区分領域８ｉとにより検出セル（cell）が構成される。

これより、第１の実施形態に係るＸ線検出装置の作用・効果について説明する。

図３は、従来の例によるＸ線検出装置における、ＣＨ方向に並ぶ検出セルと、検出特性が劣化し易い検出素子および区分領域との対応関係を示す表である。また、図４は、第１の実施形態に係るＸ線検出装置における、ＣＨ方向に並ぶ検出セルと、検出特性が劣化し易い検出素子および区分領域との対応関係を示す表である。図３，図４において、一段目は、検出セル番号を表している。二段目は、コリメータモジュール番号、三段目は、対応する検出セルの検出特性が劣化し易い区分領域の位置をグレー（gray）表示で表している。また、四段目は、検出器モジュール番号、五段目は、対応する検出セルの検出特性が劣化し易い検出素子の位置をグレー表示で表している。

従来は、図３から分かるように、コリメータモジュールは、検出器モジュールの整数倍の個数をカバーするように作られる。また、検出器モジュールのＣＨ方向における継ぎ目と、コリメータモジュールのＣＨ方向における継ぎ目とは、通常、互いに一致または近傍となる。一般的に、検出器モジュールの継ぎ目に隣接する検出素子群と、コリメータモジュールの継ぎ目に隣接する区分領域群とに対応する検出セルにおいては、その検出特性が劣化し易い。そのため、このような継ぎ目における検出セルの検出特性については、劣化が重なって著しく劣化する恐れがある。

一方、第１の実施形態では、図４から分かるように、検出器モジュールの継ぎ目と、コリメータモジュールの継ぎ目とをずらすようにしている。つまり、第１および第２のコリメータモジュール８１，８２を含む複数のコリメータモジュールにおけるＣＨ方向の継ぎ目に隣接する区分領域８ｉ群は、検出器モジュール７１におけるＣＨ方向の継ぎ目に隣接する検出素子７ｉ群とは異なる検出素子７ｉ群をＣＨ方向において区分するように、配されることになる。そのため、図４に示すように、対応する検出セルの検出特性が劣化し易い検出素子と、対応する検出セルの検出特性が劣化し易い区分領域とが、ＣＨ方向において重ならない。したがって、本実施形態の場合、検出特性の劣化は、同一の検出セルに重ならず、ＣＨ方向において分散するので、各検出セルの検出特性を均一化することが可能となる。

また、本実施形態では、Ｘ線検出器７の主要部を構成する検出器モジュール７１のＣＨ方向における検出素子７ｉの数は、６個で一定であり、コリメータ装置８の主要部を構成する第２のコリメータモジュール８２のＣＨ方向における区分領域８ｉの数も、６個で一定である。そのため、本実施形態では、複数の検出器モジュール７１におけるＣＨ方向の継ぎ目に隣接する検出素子７ｉ群と、複数の第１および第２のコリメータモジュール８１，８２におけるＣＨ方向の継ぎ目に隣接する区分領域８ｉ群とは、規則的に交互に並ぶことになる。よって、ＣＨ方向の両端部を除く主要部に、同種のコリメータモジュールを単純に連続して配列するだけで、検出特性が劣化し易い検出セルを確実に分散させることができ、製造コスト（cost）の低減および組立て工数やミス（mistake）の低減を図ることが可能となる。

（第２の実施形態）
第２の実施形態は、Ｘ線検出器７の主要部を構成する複数の検出器モジュール７１のＣＨ方向における検出素子７ｉの数と、コリメータ装置８の主要部を構成する複数のコリメータモジュール８１のＣＨ方向における区分領域８ｉの数とが、それぞれ一定であり、検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子７ｉと、コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域８ｉとが、ＣＨ方向において規則的な間隔にて位置している、他の例である。また、コリメータ装置８の主要部を構成するコリメータモジュール８１のＣＨ方向における区分領域８ｉの数が、Ｘ線検出器７の主要部を構成する検出器モジュール７１のＣＨ方向における検出素子７ｉの数の整数倍である例である。

図５は、第２の実施形態に係るＸ線検出装置６′の構成を示す図である。図５（ａ）は、Ｘ線検出装置６′をＳＬ方向に見たときの側面図である。図５（ａ）に示すように、Ｘ線検出装置６′は、Ｘ線検出器７と、コリメータ装置８′とを有している。図５（ｂ）は、Ｘ線検出器７をＩ方向に見たときの上面図である。また、図５（ｃ）は、コリメータ装置８′をＩ方向に見たときの上面図である。

図５（ａ），（ｂ）に示すように、Ｘ線検出器７は、検出器モジュール７１を、ＣＨ方向に４個配列することにより構成されている。検出器モジュール７１は、検出素子７ｉを６（ＣＨ）×８（ＳＬ）個配列したものである。

図５（ａ），（ｃ）に示すように、コリメータ装置８′は、第２のコリメータモジュール８２のみをＣＨ方向に複数配列することにより構成されている。また、第２のコリメータモジュール８２は、検出器モジュール７１間の継ぎ目と第２のコリメータモジュール８２間の継ぎ目とが一定の間隔で交互に並ぶように、配列されている。

このような第２の実施形態でも、第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。また、第２の実施形態では、コリメータモジュールを１種類だけしか用いていないため、製造・組立てコストをより低減することができる。

（第３の実施形態）
第３の実施形態は、Ｘ線検出器７の主要部を構成する複数の検出器モジュール７１のＣＨ方向における検出素子７ｉの数と、コリメータ装置８の主要部を構成する複数のコリメータモジュール８１のＣＨ方向における区分領域８ｉの数との少なくとも一方が、不規則であり、検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子７ｉと、コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域８ｉとの少なくとも一方が、ＣＨ方向において不規則な間隔にて位置している例である。

図６は、第３の実施形態に係るＸ線検出装置６″の構成を示す図である。図６（ａ）は、Ｘ線検出装置６″をＳＬ方向に見たときの側面図である。図６（ａ）に示すように、Ｘ線検出装置６″は、Ｘ線検出器７と、コリメータ装置８″とを有している。図６（ｂ）は、Ｘ線検出器７をＩ方向に見たときの上面図である。また、図６（ｃ）は、コリメータ装置８″をＩ方向に見たときの上面図である。

第２のコリメータモジュール８２は、検出素子７ｉの６（ＣＨ）×８（ＳＬ）個分の区分領域８ｉを形成するものである。第３のコリメータモジュール８３は、検出素子７ｉの４（ＣＨ）×８（ＳＬ）個分の区分領域８ｉを形成するものである。第４のコリメータモジュール８４は、検出素子７ｉの５（ＣＨ）×８（ＳＬ）個分の区分領域８ｉを形成するものである。

ここでは、コリメータ装置８″は、ＣＨ方向の一端部から他端部に向けて、第３のコリメータモジュール８３を１個、第４のコリメータモジュール８４を２個、第２のコリメータモジュール８２を１個、第３のコリメータモジュール８３を１個、順次配置して構成するものとする。

図７は、第３の実施形態に係るＸ線検出装置における、ＣＨ方向に並ぶ検出セルと、検出特性が劣化し易い検出素子および区分領域との対応関係を示す表である。なお、この表の意味は、図３，図４と同様であるため、説明を省略する。

図７から分かるように、第３の実施形態では、検出器モジュール７１間のＣＨ方向の継ぎ目に隣接する検出素子７ｉ群と、第２〜第４のコリメータモジュール８２〜８４を含むコリメータモジュール間のＣＨ方向の継ぎ目に隣接する区分領域８ｉ群とは、ＣＨ方向において一致せず、それぞれ異なる位置に配されることになる。したがって、本実施形態の場合も、第１の実施形態と同様に、検出特性の劣化は、同一の検出セルに重ならず、ＣＨ方向において分散するので、各検出セルの検出特性を均一化することが可能となる。

また、Ｘ線検出器７を構成する検出器モジュール７１のＣＨ方向における検出素子７ｉの数は、６個で一定であるが、コリメータ装置８″を構成する第２〜第４のコリメータモジュール８２〜８４のＣＨ方向における区分領域８ｉの数は、それぞれ６個、４個、５個で一定でない。そのため、検出器モジュール７１間のＣＨ方向の継ぎ目に隣接する検出素子７ｉ群と、第２〜第４のコリメータモジュール８２〜８４を含むコリメータモジュール間のＣＨ方向の継ぎ目に隣接する区分領域８ｉ群とは、不規則に並ぶことになる。その結果、検出セルの検出特性も、より不規則に分散させることができ、検出セルの検出特性の周期性による再構成画像への影響もより軽減させることができる。

以上、発明の実施形態について説明したが、発明の実施形態は、上記の実施形態に限定されず、発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の追加・変更が可能である。

例えば、上記の実施形態では、ＣＨ方向における区分領域の数が異なる複数種類のコリメータモジュールを配列することにより、検出器モジュールの継ぎ目に隣接する検出素子群の位置と、コリメータモジュールの継ぎ目に隣接する区分領域群の位置とを、ずらしているが、逆に、ＣＨ方向における検出素子の数が異なる複数種類の検出器モジュールを配列することにより、検出器モジュールの継ぎ目に隣接する検出素子群の位置と、コリメータモジュールの継ぎ目に隣接する区分領域群の位置とを、ずらすようにしてもよい。

また例えば、上記の実施形態では、検出器モジュールおよびコリメータモジュールをＣＨ方向にのみ配列しているが、少なくともいずれか一方のモジュールについては、ＳＬ方向にも配列し、ＳＬ方向においても、そのモジュール間の継ぎ目がずれるように各モジュールを配列してもよい。

また例えば、上記の実施形態では、コリメータモジュールは、コリメータ板をＣＨ方向およびＳＬ方向に格子状に配列した２次元コリメータモジュールとしているが、コリメータ板をＣＨ方向にのみ配列したものであってもよい。

また例えば、第１および第２の実施形態では、主要部を構成するコリメータモジュールのＣＨ方向における区分領域の数は、検出器モジュールのＣＨ方向における検出素子の数と同じであるが、主要部を構成するコリメータモジュールのＣＨ方向における区分領域の数は、検出器モジュールのＣＨ方向における検出素子の数の２以上の整数倍としてもよい。

また例えば、第１および第２の実施形態では、主要部を構成するコリメータモジュールのＣＨ方向における区分領域の数と、検出器モジュールのＣＨ方向における検出素子の数とは、それぞれ一定であり、かつ同じ数であるが、主要部を構成するコリメータモジュールのＣＨ方向における区分領域の数と、検出器モジュールのＣＨ方向における検出素子の数とは、それぞれ一定であり、かつ互いに異なる数としてもよい。

なお、発明の実施形態の例は、Ｘ線検出装置だけでなく、このようなＸ線検出装置を備えたＸ線ＣＴ装置や一般（単純）Ｘ線撮影装置もまた発明の実施形態の例である。

また、発明の実施形態は、Ｘ線用に限定されず、他の放射線、例えばＳＰＥＣＴ装置が扱うようなγ（ガンマ）線用にも適用可能である。

１ Ｘ線ＣＴ装置
２ 走査ガントリ
３ 撮影テーブル
４ 操作コンソール
５ Ｘ線管
５１ 焦点
５２ Ｘ線
６，６′，６″ Ｘ線検出装置
７ Ｘ線検出器
７ｉ 検出素子
８，８′，８″ コリメータ装置
８ｉ 区分領域
１０ 被検体
７１ 検出器モジュール
８１〜８４ 第１〜第４のコリメータモジュール
８１ＣＨ 第１のチャネルコリメータ板
８１ＳＬ 第１のスライスコリメータ板
８２ＣＨ 第２のチャネルコリメータ板
８２ＳＬ 第２のスライスコリメータ板

Claims (5)

1. 複数の検出素子がチャネル方向に配列された検出器モジュールをチャネル方向に複数配列して成る放射線検出器と、
   複数のコリメータ板が前記検出素子を区分するようにチャネル方向に配列されたコリメータモジュールを、前記放射線検出器の放射線入射面側においてチャネル方向に複数配列して成るコリメータ装置とを備えた放射線検出装置であって、
   前記複数の検出器モジュールおよび前記複数のコリメータモジュールは、コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域が、検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子とは異なる検出素子を区分するように、配列され、
   前記放射線検出器の主要部を構成する複数の検出器モジュールのチャネル方向における検出素子の数と、前記コリメータ装置の主要部を構成する複数のコリメータモジュールのチャネル方向における区分領域の数との少なくとも一方は、不規則であり、
   前記検出器モジュール間の継ぎ目に隣接する検出素子と、前記コリメータモジュール間の継ぎ目に隣接する区分領域との少なくとも一方は、チャネル方向において不規則な間隔にて位置している放射線検出装置。
2. 前記検出器モジュールのチャネル方向における検出素子の数と、前記コリメータモジュールのチャネル方向における区分領域の数とは、それぞれ、８個以上、１２８個以下である請求項１に記載の放射線検出装置。
3. 前記検出器モジュールは、シンチレータアレイチップを含んでいる請求項１又は２に記載の放射線検出装置。
4. 請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の放射線検出装置を備えた放射線撮影装置。
5. 放射線断層撮影を行う請求項４に記載の放射線撮影装置。

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