JP5893412B2 - 撮像装置およびその制御方法 - Google Patents

撮像装置およびその制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5893412B2
JP5893412B2 JP2012005664A JP2012005664A JP5893412B2 JP 5893412 B2 JP5893412 B2 JP 5893412B2 JP 2012005664 A JP2012005664 A JP 2012005664A JP 2012005664 A JP2012005664 A JP 2012005664A JP 5893412 B2 JP5893412 B2 JP 5893412B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixels
image
pixel
focus position
pupil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012005664A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013145315A5 (ja
JP2013145315A (ja
Inventor
友美 渡邉
友美 渡邉
木村 正史
正史 木村
文裕 梶村
文裕 梶村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2012005664A priority Critical patent/JP5893412B2/ja
Publication of JP2013145315A publication Critical patent/JP2013145315A/ja
Publication of JP2013145315A5 publication Critical patent/JP2013145315A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5893412B2 publication Critical patent/JP5893412B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Description

本発明は、デジタルカメラに代表される撮像装置およびその制御方法に関し、特にオートフォーカス(以下AF)技術に関するものである。
従来、オートフォーカス技術として、位相差検出方式とコントラスト検出方式とが広く用いられており、前者はデジタル一眼レフカメラに、後者はコンパクトデジタルカメラに用いられることが多い。そして、コントラスト検出方式は厳密な合焦が可能である反面、レンズを微小駆動しながら合焦位置を探索するため、焦点ずれ量が直ちに求まる位相差検出方式と比較して、合焦までに時間がかかるという特性があった。
そのため、コントラスト検出方式を高速化するための提案がなされている。特許文献1では、異なる瞳領域を通過した像を取得し、瞳位置に応じて像ずらしを行いながら加算することで、レンズ駆動せずに、異なるレンズ位置(合焦距離)に対応する像を再構成し、再構成画像のコントラスト評価値を用いる方法が開示されている。また、特許文献2では、画素を間引いてコントラスト評価値を計算することにより、評価値の計算を高速化する方法が開示されている。
特開平7−199052号公報 特開2008−199477号公報
しかしながら、上述の特許文献に開示された技術では、依然として焦点検出の速度が十分でない場合があった。
例えば特許文献1記載の技術では、再構成された像に対してコントラスト評価値を求めるため、再構成に必要な画素の取得、並び替え処理に要する時間によって合焦速度が低下する場合がある。また、特許文献2記載の技術では、取得した像から評価値を計算するのは高速化されるが、レンズ駆動により複数の像を取得する必要があるので、画像の取得に要する時間によって合焦速度が低下する場合がある。
本発明はこのような従来技術の課題に鑑みなされたものである。本発明の目的は、コントラスト検出方式のオートフォーカスを高速化することにある。
上述の目的を達成するため、本発明による撮像装置は、複数の画素を有する撮像素子と、複数の画素の各々に入射する光束を、撮影光学系の特定の瞳領域を通過する光束に制限する瞳分割手段と、複数の画素の値を、仮想の撮像面の位置および画素に光束が入射する角度に応じて並び替え、異なる瞳領域を通過した光束が入射する画素の値を加算することにより得られる画素から画像を再構成する像生成手段と、再構成された画像から合焦位置を探索するための評価値を得る取得手段と、を有し、像生成手段により複数の仮想の撮像面の位置に対応した複数の画像を再構成し、複数の再構成された画像から取得手段によって得られる評価値を用いて合焦位置を探索する撮像装置であって第1のサンプリング間隔で合焦位置を探索した後、当該探索に基づき、第1のサンプリング間隔より狭い第2のサンプリング間隔で合焦位置の探索を行い、像生成手段は、第2のサンプリング間隔での合焦位置の探索に用いる画像の画素数よりも、第1のサンプリング間隔での合焦位置の探索に用いる画像の画素数の方が少なくなるように再構成を行うことを特徴とする。
本発明によれば、コントラスト検出方式のオートフォーカスを高速化することができる。
本発明の実施形態に係る撮像装置の動作を説明するフローチャート 本発明の実施形態に係る撮影装置の構成例を示す図 本発明の実施形態に係る撮影装置の光学系の構成例を示す模式図 本発明の実施形態における像の再構成および間引き動作を説明するための模式図 本発明の実施形態における粗調動作と微調動作、およびAF評価値の関係を説明するための模式図 本発明の実施形態における像の再構成および間引き動作を説明するための模式図 本発明の実施形態に適用可能な光学系の他の構成例を示す模式図
以下、本発明の例示的な実施形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
図2は、本発明の実施形態に係る撮影装置の一例としてのレンズ交換式デジタルカメラの機能構成例を示すブロック図である。以下の説明においては、カメラ本体とレンズとをあわせてカメラシステムと呼ぶ。また、カメラ本体を単にカメラと呼ぶ。
カメラシステムは、撮像系、画像処理系、記録再生系、制御系を有する。撮像系は、撮影光学系3、撮像素子6を含み、画像処理系は、画像処理部7を含む。また、記録再生系は、メモリ8、表示部9を含み、制御系は、カメラ制御部5、操作検出部10、およびレンズ制御部12、レンズ駆動部13を含む。レンズ駆動部13は、撮影光学系3に含まれるフォーカスレンズ、ブレ補正レンズ、絞りなどを駆動することができる。
撮像系は、物体からの光を、撮影光学系3を介して撮像素子6の撮像面に結像する。例えばCMOSイメージセンサである撮像素子6の表面にはマイクロレンズが格子状に配置されたマイクロレンズアレイ(MLA)が設けられている。MLAは本実施形態において、瞳分割機能を提供する。MLAの機能や配置の詳細については図3を用いて後述する。
後述するように、撮像素子6の出力からコントラスト評価値や被写体輝度が得られるので、これらの値に基づいて撮影光学系3のフォーカスレンズや絞りを駆動することで、被写体像を撮像素子6に結像させたり、撮像素子6の露光量を適切に制御することができる。
画像処理部7は、内部にA/D変換器、ホワイトバランス回路、ガンマ補正回路、補間演算回路、コーデック回路等を有しており、記録用の画像を生成することができる。
メモリ8は記憶素子および記憶素子を読み書きするために必要な処理回路を備えている。メモリ8は、図示しない記録部へ出力を行うとともに、表示部9に出力する画像を保存する。また、メモリ8は、予め定められた方法を用いて符号化された画像、動画、音声などを保存する。
カメラ制御部5は例えばCPU、ROM、RAMなどを有するプログラマブルなプロセッサであり、ROMに記憶されたプログラムをRAMに読み出して実行することにより、カメラシステム全体の動作を制御する。例えば、不図示のシャッタボタンの押下を操作検出部10が検出すると、カメラ制御部5は、撮像素子6の駆動、画像処理部7の動作などを制御する。さらにカメラ制御部5は、液晶ディスプレイなどである表示部9への情報表示を制御する。
カメラ制御部5は撮像素子6の出力から画像処理部7が求めた被写体輝度に基づいて、適切な露光量を得るための撮像条件(絞り値、シャッタスピード、撮像感度など)を決定する。また、カメラ制御部5は、撮像素子6の出力から画像処理部7が求めたAF評価値に基づいてフォーカスレンズの駆動方向や駆動量を決定する。カメラ制御部5は、電気接点11を介してレンズ制御部12にフォーカスレンズの駆動および絞り値に関する指示を出力する。レンズ制御部12はこの指示に応じてレンズ駆動部13を適切に制御する。さらにレンズ制御部12には不図示の手ぶれ検出センサが接続されており、手ぶれ補正を行うモードにおいては、手ぶれ検出センサの信号を元にレンズ駆動部13を介してブレ補正レンズを適切に制御する。
図3は、本実施形態のカメラ1における撮影系の要部構成例を説明する図である。本実施形態では、光束の位置と角度の情報(光線空間(ライトフィールド)情報と呼ばれることもある)を取得する。特に、角度情報を取得するために、撮影光学系3の結像面近傍にMLAを配置するとともに、MLAを構成する1つのレンズに対して複数の画素を対応させている。
図3(a)は撮像素子6とMLA20との関係例を示す模式図である。図3(b)は撮像素子6の画素とMLA20のレンズとの対応例を示す模式図である。図3(c)はMLA20によって、MLA20の下に設けられた画素が特定の瞳領域と対応づけられることを示す図である。
図3(a)に示すように撮像素子6上にはMLA20が設けられており、MLA20の前側主点は撮影光学系3の結像面近傍になるように配置されている。図3(a)はカメラ1の側面および正面からMLA20を見た状態を示しており、カメラ1の正面(レンズ2を取り付ける側)から見ると、MLA20は撮像素子6上の画素を覆うように配置される。なお、図3(a)ではMLA20が複数のマイクロレンズで構成されることを模式的に示すためにレンズを大きく記載しているが、実際には図3(b)を用いて説明するように、マイクロレンズは画素の数倍程度の大きさである。
図3(b)は図3(a)のカメラ正面から見た図を一部拡大した図である。図3(b)における格子状の枠の各々は、撮像素子6の1画素を示している。一方、MLA20を構成する各マイクロレンズは円20a,20b,20c,20dで示している。
図3(b)から明らかなように、1つのマイクロレンズに対し、複数の画素が割り当てられており、図3(b)の例では、4行×4列=16個の画素が1つのマイクロレンズに対応するように配置されている。すなわち、マイクロレンズは縦4画素、横4画素の16画素分の大きさを有し、射出瞳領域を16分割している。
図3(c)は撮像素子6を、MLA20を構成する1つのマイクロレンズの光軸を含み、かつ撮像素子の長手方向が図の左右方向になる面で切断した図である。図3(c)の21、22、23、24は撮像素子6の画素(1つの光電変換部)を示している。一方図3(c)の上方に示した図は撮影光学系3の射出瞳面を示している。実際には、図3(c)の下方に示したセンサの図と方向を合わせると、射出瞳面は図3(c)の紙面垂直方向になるが、説明のために投影方向を変化させている。また、図3(c)においては説明を簡単にするために、1次元の投影/信号処理について説明する。実際の装置においては、これを容易に2次元に拡張することができる。
図3(c)の画素21、22、23、24は図3(b)の21a、22a、23a、24aとそれぞれ対応する位置関係にある。図3(c)に示すように、MLA20によって各画素は撮影光学系3の射出瞳面上の特定の領域と対応するように設計されている。図3(c)の例では画素21と領域31が、画素22と領域32が、画素23と領域33が、画素24と領域34がそれぞれ対応している。すなわち、画素21には撮影光学系3の射出瞳面上の領域31を通過した光束のみが入射する。他の画素も同様である。結果として、射出瞳面上での通過領域の位置と、撮像素子6上の位置との関係から、各画素に入射する光束の角度の情報を取得することが可能となる。
図3に示した撮影光学系を用いて、撮像素子6の出力信号からAF評価値を得る処理について図1、図4及び図5を用いて説明する。
図1は本発明のAF評価値を得るためのフローチャートである。図1(a)はAF評価値を得る全体の動作を、図1(b)は像シフト処理を、図1(c)は像生成処理を、図1(d)はコントラスト評価処理をそれぞれ示している。
本実施形態では、像シフト処理、像生成処理、コントラスト評価処理、相関計算処理はいずれもカメラ制御部5がソフトウェア的に実現するものとする。しかし、カメラ制御部5の制御を受けた画像処理部7がこれら処理の少なくとも1つをハードウェア及びソフトウェアの少なくとも一方を用いて実現してもよい。
図1(a)に示すAF評価値取得動作は、例えば、図2の操作検出部10が撮影者からの特定の動作(例えばレリーズボタンの押下)を検出した時に開始される。
S2でカメラ制御部5は、撮像素子6を予め定められた時間露光し、画像処理部7を通じて画像データを取得する。カメラ制御部5は、この時の露光量と画像データの輝度情報とから、適切な撮影条件を決定する自動露出制御を実行してもよい。
S3からS11はループを形成している。S3はAF評価値を用いた合焦評価を複数の回数に分けて行うループを形成している。ここで、複数回のループのうち、最初は粗く、その後精密に再構成面の位置調整(合焦位置の探索)を行う。再構成面の位置を粗く調整する動作を粗調、精密に調整する動作を微調と呼ぶことにする。
S4でカメラ制御部5は、現在の調整が粗調か微調かに応じて、加算すべき画素を決定する。具体的には、粗調の場合は、S5以下の処理で画素を間引きながら評価を行う。この時、加算された後の1画素には少なくとも2つの異なる瞳領域の情報が入るようにする。
S3からS11のループにおいて、精度の粗い合焦位置探索を行ってから精度の細かい合焦位置探索とを行う粗密スキャンを行うことで合焦動作の高速化が可能となる。このような操作を行わずに、精度の細かい合焦位置探索のみを行った場合、非常に多くのループ処理回数が必要となる。一方で、粗密スキャンでは、粗調時にはAF評価値の粗く大まかなピークを探索して、微調時には粗調で求めたピーク近傍で細かく再構成面の位置を変更してAF評価値のピークを探索する。そのため、より少ないループ処理回数で合焦位置を探索することができる。
S5からS9はループを形成しており、評価位置(AF評価値を取得する再構成面の位置、)を、予め与えられた初期位置から所定の単位量ずつずらしながら、予め定められた終了位置までAF評価値を計算する。初期位置は粗調時と微調時で異なるように設定することができる。また、S5でカメラ制御部5は、粗調時は微調時よりも単位量を大きく設定する。
S6でカメラ制御部5は、像シフト処理を行う。像シフト処理の詳細は図1(b)を用いて後述する。
S7でカメラ制御部5は像生成処理を行う。像生成手処理の詳細は図1(c)を用いて後述する。
S8でカメラ制御部5はコントラスト評価処理を行う。コントラスト評価処理の詳細は図1(d)を用いて後述する。
S10でカメラ制御部5は、S8で得られた結果(S8はS5からS9のループ内なので、異なるフォーカスレンズ位置に対応した複数の評価値が得られる)を基に、合焦位置を決定する。すなわち、カメラ制御部5は、AF評価値が最も高くなるフォーカスレンズ位置を合焦位置として決定する。このように、S10でカメラ制御部5は、S6の像シフト処理におけるシフト量を変化させながらS8で取得したコントラスト評価値に基づいて合焦位置を決定する。
このように、本実施形態によれば、撮像素子6の読み出しはS2で1回行われるのみであるが、複数のフォーカスレンズ位置に対応したAF評価値を得ることが可能である。
図1(b)を用いて像シフト処理の詳細を説明する。
S22からS26はループを形成している。S22でカメラ制御部5は、瞳分割数に応じた数だけループ計算を実行する。本実施形態では図3(b)に示したように瞳分割数は16なので、16のそれぞれの瞳位置に応じた計算がなされる。図5を用いて後述するように、像の再構成を考えると同じ再構成面であっても入射角度が異なると(射出瞳が十分遠い場合には、通過する瞳領域が異なることとほぼ同義)像をシフトさせる量が異なる。そのため、瞳位置に応じた計算を行う。
S24でカメラ制御部5は、瞳位置情報に基づいて、評価位置に対応する各瞳領域での像シフト量を計算する。瞳位置情報は、各画素がどの瞳領域の光束を受光しているかを特定可能な情報であり、例えば各画素とMLAとの対応関係であってよい。
S25でカメラ制御部5は、瞳位置情報に基づいて、同じ入射角の光束を受光している(同じ瞳領域からの光束を受光している)画素をシフトさせる。例えば図3(b)では、画素24aと24bが同じ入射角の光束を受光している。このように、同じ入射角の光束を受光する画素が、MLAを構成する個々のマイクロレンズに対応した画素群の中に1つずつ存在している。
S25における画素シフト処理の詳細については、図4を用いて後述する。
次に、図1(c)を用いて像生成処理の動作の詳細を説明する。
S32でカメラ制御部5は、S36での加算に用いるメモリ領域のデータを初期化する(全データを0にする)。この時のメモリ領域は画素値のA/D変換ビット数と、瞳分割数に応じて決定することができる。各領域には、画素値と、瞳分割の位置を表す値とが記憶できれば良い。例えば画素値が8ビット長にA/D変換され、瞳分割数が16(4ビット)の場合、各メモリアドレスに12ビット以上のデータを格納できればデータの桁あふれを考慮する必要が無い。
S33からS37はループを形成している。S33でカメラ制御部5は、MLAを構成するマイクロレンズの数に応じたループ計算を実行する。例えば、図3に示した例では、撮像素子の有効画素数/16(瞳分割数)がマイクロレンズの数となる。
S34からS37はループを形成している。S34でカメラ制御部5は、瞳分割数に応じた数だけループ計算を実行する。
S35でカメラ制御部5は、加算を行う画素か否かを判断する。図1(a)のS4で説明したように、粗調か微調かに応じて画素が加算すべき画素かどうかが決定されている。現在の画素が加算すべき画素と決定されているときはS36に進み加算される。その他の場合はS37に進む。シフト量が画素の整数倍でない場合は、S36において、シフト後の画素の重なりの大きさに応じて画素値を減じてから加算すればよい像生成処理の詳細については、図5を用いて後述する。
次に、図1(d)を用いてコントラスト評価処理の詳細を説明する。
S42でカメラ制御部5は、コントラスト評価を行う評価点の数と、評価枠の大きさを設定する。評価点数は多い方が評価精度が高くなるが、評価に要する時間が増加するため、処理能力や評価に用いることのできる時間などに応じて予め決定しておくことができる(ユーザが設定可能としてもよい)。一方、評価枠を大きくすると局所的にはあまりパターンを有していない(コントラストの低い)テクスチャであっても合焦可能となるが、距離の異なる被写体の像を同時に評価するいわゆる遠近競合の発生確率が増加する。従って、評価枠の大きさも、予め決定しておくことができる。
S43でカメラ制御部5は、評価枠内の画素値に対してフィルタ処理を行う。粗調時にはより低周波成分に着目したフィルタリングを行い、微調時には粗調時に比べて高周波に着目したフィルタリングを行うとよい。そのようにすることで、グローバルミニマムではなくローカルミニマムを検出する可能性を低減しつつ、合焦精度を向上することが可能となる。
S44からS47はループを形成している。S44でカメラ制御部5は、S42で決定された評価点数に対応した評価値を得るように繰り返し演算を行う。
S45でカメラ制御部5は、フィルタ処理された評価枠中の一ラインの最大値をピークホールドする。
S46でカメラ制御部5は、評価枠に含まれる各ラインについてS45でピークホールドされた一ラインの最大値を合計することにより、評価枠に対応するAF評価値を計算する。
なお、本実施形態ではこのような方法でAF評価値を得たが、合焦度合に応じて変動する評価値であれば、他の値を評価値として計算してもよい。例えば、隣接画素出力差の二乗和である二次コントラスト評価値を、隣接画素出力差の絶対和である一次コントラストの二乗で除算し、輝度値を無次元化した評価値を用いることができる。
次に、図4を用いて像シフト処理、像生成処理、及び加算画素選択処理について具体的に述べる。
図4(a)に示す撮像面は、撮像素子6の撮像面であり、受光素子の受光面に相当する。再構成面(1)〜(3)は、画素の値を並び替えることによって再構成した、仮想の撮像面をそれぞれ示している。
図4(a)のように間引きを行わずに、像生成処理における1画素を生成する際(微調時)には、瞳分割数分画素を足し合わせれば良い。例として、図4(a)では、画素1+画素2+画素3+画素4により、1画素に入射した光の角度方向の積分値を得ることができる。つまり、画素1+画素2+画素3+画素4で得られる信号を、像生成処理での1画素として扱う。これにより、MLAを持たない一般的な撮像装置と同様の像を生成することができる。
仮想の撮像面である再構成面における像を復元(生成)するには、図4に示したように入射角度に応じて像をシフトさせたのち、同様の画素加算処理を行えば良い。これにより、再構成面(1)〜(3)で撮像した場合の像を生成することができる。
一方、粗調時には、図4(b)、(c)に示すように画素を間引いて画素加算処理を行う。ここで、瞳分割数をN、間引きを1/nでおこなう際には、N×n個の画素を、像生成処理における1画素として取り扱えば、間引きなしの時と同様に、加算後の1画素に全ての瞳情報を含めることができる。
図4では1次元的に示しているので瞳分割数N=4である。図4(b)はn=2であるので、撮像素子6の8画素を像生成処理での1画素として、図4(c)ではn=4であるので撮像素子6の16画素を像生成手段出力での1画素として扱えば良い。このように、間引きに応じて、像生成処理で1画素としてとして扱う画素の数(領域の大きさ)は変化する。したがって、像生成処理によって得られる画像の画素数もしくは解像度は、間引きによって変化する。
一方で、S4における加算画素決定処理では、像生成処理で1画素として取り扱うために加算する画素(あるいは、加算しない(すなわち、間引く)画素)を決定する。具体的には、少なくとも2つの異なる瞳領域から受光した光束の情報が加算されるように、加算する画素を決定すればよい。
これは図4の例では、異なる瞳領域に対応する画素1から画素4のうち、少なくとも2種類の画素の加算結果が像生成処理で1画素として扱われるように加算画素を決定することに対応する。
各瞳分割領域の情報が少なくとも一つずつ加算されるように入るように加算画素を決定することができる。これは図4の例では、画素1〜画素4が少なくとも1つずつ加算された結果が、像生成処理で1画素として扱われるように加算画素を決定することに対応する。このように加算画素を決定することで、全ての瞳領域の情報を得ることができ、高精度な合焦結果を得ることができる。例えば、図4(b)、(c)では画素1〜4が一つずつ加算されて1画素を形成するように加算画素(あるいは間引き画素)が決定されている。
別の例としては、図4(d)のように、画素1〜4が二つずつ加算されるように加算画素を決定してもよい。
次に、図5および図6を用いて粗微調動作の有用性について述べる。図5は横軸にフォーカスレンズ位置、縦軸にAF評価値をとった図である。縦軸のAF評価値が高いほど、フォーカスレンズが合焦位置に近いことを示す。図5のように粗微調(粗調により第1のサンプリング間隔で大まかなピークを探索した後、ピーク近傍で第1のサンプリング間隔より狭い第2のサンプリング間隔で微調を行う)の動作を行う場合には、微調よりも粗調時に画素間引き率を高くする。また、AF評価値を求めるフォーカスレンズ位置の間隔は、粗調時で10〜25FΔ(F:Fナンバー、Δ:20μm程度)、微調時では1〜5FΔ程度が望ましい。そうすることで、高速かつ精度の良いコントラストAFを行うことができる。これを本実施形態の再構成面の位置を変化させることで行うAF処理に対応させると、図5の横軸のフォーカスレンズの位置は再構成面の位置に対応する。
また、図6(a)のように粗調時には再構成面(1)、(4)、(5)のように間引き画素および加算画素を多くし、微調時には再構成面(2)、(3)のように間引き画素および加算画素を少なくすることで、同じ効果を得ることができる。これは、合焦位置の探索の進行に伴って、再構成する画像の解像度を増加させることと同義である。また、図6(a)では、図4に比べて1画素と見なす画素内で画素1〜4を含みつつランダムに間引いている。このようにすることで、図4の各例のような単純間引きに比べて間引き前のサンプリング周波数を維持することができる。
図4及び図6(a)の例では縦方向の1次元の間引きの例を示したが、図6(b)のように2次元でランダムに間引くようにしてもよい。このようにすることで、間引きを行いながらも、縦、横両方向のサンプリング周波数を維持した画像の取得を行うことができる。
次に図7を用いて本実施形態に適用可能な別の光学系の例について説明する。図7は物体(被写体)からの光束が撮像素子6上に結像する状態を模式的に示した図である。図7(a)は図3で説明した光学系と対応しており、撮影光学系3の結像面近傍にMLA20を配置した例である。図7(b)は撮影光学系3の結像面よりも物体寄りにMLA20を配置した例である。図7(c)は撮影光学系3の結像面よりも物体から遠い側にMLA20を配置した例である。
図7において、図3と共通する構成については同じ参照数字を付し、重複する説明を省略する。51は物体平面であり、51a,51bは物体平面上の任意の点である。52は撮影光学系3の瞳平面を、61,62,71,72,73,81,82,83,84はMLA20上の特定のマイクロレンズをそれぞれ示している。
また、図7(b)および(c)においては、図7(a)との対応関係を明確にするために、仮想的な撮像素子6a及び仮想的なMLA20aを示した。また、物体平面上の点51aから瞳平面52の領域31および33を通過する光束を実線で、物体平面上の点51bから瞳平面52の領域31および33を通過する光束を破線で図示した。
図7(a)の例では、図3でも説明したように、撮影光学系3の結像面近傍にMLA20を配置することで、撮像素子6と撮影光学系の瞳平面52が共役の関係にある。さらに、物体平面51とMLA20が共役の関係にある。このため物体平面51上の点51aからの光束はマイクロレンズ61に、点51bからの光束はマイクロレンズ62に到達し、領域31から35それぞれを通過した光束はマイクロレンズに対応するように設けられた画素に到達する。
図7(b)の例では、MLA20によって撮影光学系3からの光束を結像させ、その結像面に撮像素子6を設けている。このように配置することで、物体平面51と撮像素子6は共役の関係にある。物体平面51上の点51aから瞳平面52の領域31を通過した光束はマイクロレンズ71に到達し、点51aから瞳平面上の領域33を通過した光束はマイクロレンズ72に到達する。また、物体平面51上の点51bから瞳平面52の領域31を通過した光束はマイクロレンズ72に到達し、点51bから瞳平面52の領域33を通過した光束はマイクロレンズ73に到達する。各マイクロレンズを通過した光束は、マイクロレンズに対応するように設けられた画素に到達する。このように、物体平面からの光束は、その出射位置と、通過する瞳領域に応じて撮像素子6の撮像面における異なる位置に結像する。これらを、仮想的な撮像素子6aの撮像面における位置に並べなおせば、図7(a)の撮像面で得られる情報と同様の情報を得ることができる。すなわち、通過した瞳領域(入射角度)と撮像素子上の位置の情報を得ることができる。
図7(c)の例では、MLA20で撮影光学系3からの光束を再結像させ(一度結像した光束が拡散する状態にあるものを結像させるので再結像と呼ぶ)、その再結像面に撮像素子6の撮像面を配置する。このように配置することで、物体平面51と撮像素子6は共役の関係となる。物体平面51上の点51aから瞳平面52の領域31を通過した光束はマイクロレンズ82に到達し、点51aから瞳平面52の領域33を通過した光束はマイクロレンズ81に到達する。また、物体平面51の点51bから瞳平面52の領域31を通過した光束はマイクロレンズ84に到達し、点51bから瞳平面52の領域33を通過した光束はマイクロレンズ83に到達する。各マイクロレンズを通過した光束は、マイクロレンズに対応するように設けられた画素に到達する。
図7(b)の場合と同様に、撮像素子6で得られた画素の信号を、仮想的な撮像素子6aの撮像面における位置に並べなおせば、図7(a)の撮像面で得られる情報と同様の情報を得ることができる。すなわち、通過した瞳領域(入射角度)と撮像素子上の位置の情報を得ることができる。
なお、図7ではMLA(位相変調素子)を用いて瞳分割を行い、光束の位置情報と角度情報を取得する構成例を示したが、位置情報と角度情報(瞳の通過領域を制限することと等価)を取得可能なものであれば他の構成も利用可能である。例えば、基本パターンの繰り返しから構成されるパターンマスク(ゲイン変調素子)をMLAの代わりに用いる構成であってもよい。
以上に説明したように、本実施形態によると、撮像素子において異なる瞳領域を通過した光束の情報をもとに再構成した画像からAF評価値を求めるので、AF評価値の算出に必要な撮影回数および画像処理負荷を低減することができる。また、異なるフォーカスレンズ位置に対応する画像を再構成により求めるため、フォーカスレンズを駆動する必要が無く、高速な処理が可能となる。また、粗調時には微調時よりも解像度を低下させた画像を再構成することにより、AF評価値の算出負荷を低減することができ、合焦位置の探索に要する時間をさらに短縮することができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。

Claims (5)

  1. 複数の画素を有する撮像素子と、
    前記複数の画素の各々に入射する光束を、撮影光学系の特定の瞳領域を通過する光束に制限する瞳分割手段と、
    前記複数の画素の値を、仮想の撮像面の位置および画素に光束が入射する角度に応じて並び替え、異なる瞳領域を通過した光束が入射する画素の値を加算することにより得られる画素から画像を再構成する像生成手段と、
    前記再構成された画像から合焦位置を探索するための評価値を得る取得手段と、を有し、
    前記像生成手段により複数の仮想の撮像面の位置に対応した複数の画像を再構成し、該複数の再構成された画像から前記取得手段によって得られる前記評価値を用いて合焦位置を探索する撮像装置であって、
    前記撮像装置は、第1のサンプリング間隔で合焦位置を探索した後、当該探索に基づき、前記第1のサンプリング間隔より狭い第2のサンプリング間隔で前記合焦位置の探索を行い、
    前記像生成手段は、前記第2のサンプリング間隔での前記合焦位置の探索に用いる画像の画素数よりも、前記第1のサンプリング間隔での前記合焦位置の探索に用いる画像の画素数の方が少なくなるように前記再構成を行うことを特徴とする撮像装置。
  2. 前記像生成手段は、異なる瞳領域を通過した光束が入射する画素の値を加算して得られる画素から画像を再構成することを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
  3. 前記像生成手段は、瞳分割された瞳領域の各々を通過した光束が入射する画素の値を加算して得られる画素から画像を再構成することを特徴とする請求項1または請求項2記載の撮像装置。
  4. 前記像生成手段は、瞳分割された瞳領域の各々を通過した光束が少なくとも1つずつ加算されるように、かつ加算前の画素の一部がランダムに間引かれるように、加算する画素を決定し、該決定した画素の値を加算して得られる画素から前記再構成を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項3にいずれか1項に記載の撮像装置。
  5. 複数の画素を有する撮像素子と、
    前記複数の画素の各々に入射する光束を、撮影光学系の特定の瞳領域を通過する光束に制限する瞳分割手段と、を有する撮像装置の制御方法であって、
    前記複数の画素の値を、仮想の撮像面の位置および画素に光束が入射する角度に応じて並び替え、異なる瞳領域を通過した光束が入射する画素の値を加算することにより得られる画素から画像を再構成する像生成工程と、
    前記再構成された画像から合焦位置を探索するための評価値を得る取得工程と、
    前記像生成工程により複数の仮想の撮像面の位置に対応した複数の画像を再構成し、該複数の再構成された画像から前記取得工程によって得られる評価値を用いて合焦位置を探索する制御工程とを有し、
    前記制御工程では、第1のサンプリング間隔で合焦位置を探索した後、当該探索に基づき、前記第1のサンプリング間隔より狭い第2のサンプリング間隔で前記合焦位置の探索を行い、
    前記像生成工程では、前記第2のサンプリング間隔での前記合焦位置の探索に用いる画像の画素数よりも、前記第1のサンプリング間隔での前記合焦位置の探索に用いる画像の画素数の方が少なくなるように前記再構成を行うことを特徴とする撮像装置の制御方法。
JP2012005664A 2012-01-13 2012-01-13 撮像装置およびその制御方法 Expired - Fee Related JP5893412B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012005664A JP5893412B2 (ja) 2012-01-13 2012-01-13 撮像装置およびその制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012005664A JP5893412B2 (ja) 2012-01-13 2012-01-13 撮像装置およびその制御方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013145315A JP2013145315A (ja) 2013-07-25
JP2013145315A5 JP2013145315A5 (ja) 2015-03-05
JP5893412B2 true JP5893412B2 (ja) 2016-03-23

Family

ID=49041129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012005664A Expired - Fee Related JP5893412B2 (ja) 2012-01-13 2012-01-13 撮像装置およびその制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5893412B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6371568B2 (ja) * 2014-04-09 2018-08-08 キヤノン株式会社 焦点検出装置及び撮像装置、及び、焦点検出方法
CN108345084A (zh) * 2018-03-07 2018-07-31 北京理工大学 一种主被动结合的变倍自动调焦方法及系统

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3483283B2 (ja) * 1993-12-28 2004-01-06 キヤノン株式会社 撮像装置
JP4752031B2 (ja) * 2004-10-01 2011-08-17 ボード オブ トラスティーズ オブ ザ レランド スタンフォード ジュニア ユニバーシティ 撮像の装置と方法
JP5369563B2 (ja) * 2008-09-11 2013-12-18 株式会社ニコン 形状測定装置
JP5230456B2 (ja) * 2009-01-09 2013-07-10 キヤノン株式会社 画像処理装置および画像処理方法
WO2010128670A1 (ja) * 2009-05-08 2010-11-11 株式会社ニコン フォーカス制御装置および培養観察装置
JP5218611B2 (ja) * 2011-07-19 2013-06-26 株式会社ニコン 画像合成方法及び撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013145315A (ja) 2013-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9019424B2 (en) Image pickup apparatus, control method thereof, and program
RU2593689C2 (ru) Устройство съемки изображений и его способ управления
JP5914192B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法
US10321044B2 (en) Image pickup apparatus and image pickup system with point image intensity distribution calculation
JP5417827B2 (ja) 焦点検出装置及び撮像装置
JP6397281B2 (ja) 撮像装置、その制御方法およびプログラム
JP2007240877A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP5893412B2 (ja) 撮像装置およびその制御方法
JP6198395B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP7292123B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体
JP2015141285A (ja) 焦点検出装置、焦点調節装置およびカメラ
JP2011197690A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP6046922B2 (ja) 焦点検出装置、撮像装置、制御方法、プログラム及び記録媒体
JP6039958B2 (ja) 画像処理装置、撮像装置、制御方法、及びプログラム
JP5973784B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法、プログラム、並びに記憶媒体
JP5968081B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP6188290B2 (ja) 測距装置、撮像装置、ピント評価方法、プログラム及び記憶媒体
JP2017223879A (ja) 焦点検出装置、フォーカス制御装置、撮像装置、焦点検出方法および焦点検出プログラム
JP7187185B2 (ja) 撮像装置およびその制御方法
JP5593837B2 (ja) 撮像装置
JP6609194B2 (ja) 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、及びプログラム
WO2013153666A1 (ja) 焦点調節装置及びそれを用いた撮像装置
JP2014149460A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP2015025960A (ja) 焦点検出システム、焦点検出方法およびプログラム、並びに撮像装置
JP2015154112A (ja) 画像処理装置、その制御方法およびプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140122

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150113

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150911

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151124

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160125

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160224

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5893412

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees