JP5891758B2 - 電子装置 - Google Patents
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- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 36
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 34
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 28
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 19
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 45
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 35
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 15
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 14
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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-
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
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- G06F12/0223—User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
- G06F12/023—Free address space management
- G06F12/0238—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
- G06F12/0246—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L25/00—Baseband systems
- H04L25/02—Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
- H04L25/0262—Arrangements for detecting the data rate of an incoming signal
-
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L25/00—Baseband systems
- H04L25/38—Synchronous or start-stop systems, e.g. for Baudot code
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/02—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
- H04L7/033—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/02—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
- H04L7/033—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
- H04L7/0331—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop with a digital phase-locked loop [PLL] processing binary samples, e.g. add/subtract logic for correction of receiver clock
Description
図1は、本発明の一実施の形態による電子装置において、それに含まれる半導体集積回路装置の構成例を示すブロック図である。図1に示す半導体集積回路装置DEV1は、特に限定はされないが、例えば一つの半導体チップ(ICチップ)によって構成されたMCU(Micro Control Unit)等となっている。DEV1は、特に限定はされないが、例えばプリント配線基板上に複数の部品が実装された組み込み装置(電子装置)の一部品等として使用される。図1のDEV1は、プロセッサユニットCPU、フラッシュメモリFMEM、フラッシュコントローラFCON、アナログ回路ブロックANLG_BK、ディジタル回路ブロックDGTL_BK、オンチップデバッグ用制御ブロックOCDBK、クロック制御回路ブロックCLKCTL、リセット制御回路RSTCTL、モード制御回路MDCTLを備える。CPU、FCON、ANLG_BK、DGTL_BK、OCDBK、およびCLKCTLは、内部バスBSによって互いに接続される。
図2は、図1の半導体集積回路装置を含めたシリアル通信システム(デバッグシステム)の主要部の構成例を示すブロック図である。図2には、図1の半導体集積回路装置DEV1におけるデバッグに関連する部分の構成例と、そのデバッグで用いられる外部検査装置EQTSTとが示されている。EQTSTのテスト用外部端子PN_TSTとDEV1のデバッグ用外部端子PN_DBGは、1本のシリアル配線WR_DBGによって接続され、EQTSTとDEV1は、WR_DBGを介して半二重双方向シリアル通信を行う。WR_DBGは、ここでは、プルアップ抵抗Rupを介して電源電圧VCCにプルアップされている。
図4は、図2のシリアル通信システム(デバッグシステム)において、そのシリアル通信データのフォーマットの一例を示す説明図である。図4に示すように、外部検査装置EQTSTと半導体集積回路装置DEV1との間のシリアル配線WR_DBGには、スタートビット(1ビット)STR、ストップビット(1ビット)STP、ならびにその間のデータビット(8ビット)DATの計10ビットを単位(1フィールド)とするシリアル通信データが伝送される。スタートビットSTRは‘L’レベル、ストップビットSTPは‘H’レベルであり、いずれも1ビット分の期間を持つ。また、DATは、ここでは最下位ビット(LSB)から最上位ビット(MSB)に向けて順に伝送される。
図5は、図2の半導体集積回路装置において、そのボーレート調整回路の詳細な構成例を示すブロック図である。図5のボーレート調整回路BRCTLは、クロックカウンタCKCUNT、ビットカウンタBITCUNT、立ち下がりエッジカウンタFEGCUNTを備える。CKCUNT,BITCUNT,FEGCUNTは、図4に示した受信シリアルデータDBGIの各フィールド毎にカウント動作を行い、フィールドが変わるとカウンタ値をリセットする。なお、各フィールドの検出は、スタートビットSTRおよびストップビットSTPを検出する図示しない回路によって行われる。CKCUNTは、DBGI内で互い隣接する各エッジの期間(すなわち各‘H’パルス幅及び各‘L’パルス幅)を内部クロック信号CLKdでカウントする。BITCUNTは、DBGIにおけるエッジの数をカウントする。FEGCUNTは、DBGIにおける立ち下がりエッジの数をカウントする。
図5のボーレート調整回路BRCTLは、概略的には例えば次のように動作する。図6は、図5のボーレート調整回路におけるクロックカウンタおよび平均値演算部の動作例を示す説明図である。図6に示すように、ボーレート調整回路BRCTL内のクロックカウンタCKCUNTは、ボーレートの設定精度を上げるために、スタートビットSTRとボーレート調整用コマンド「8’h55」の計9ビットを内部クロック信号CLKdでカウントし、各ビットの時間幅を測定する。平均値演算部AVGCは、当該各ビットの時間幅を合計した値を測定した分のビット数(ここでは9)で割ることで平均値を算出し、当該算出結果を基準値とする。なお、特に限定はされないが、除算結果の小数部は四捨五入する。
次に、ボーレート調整回路BRCTLによるボーレート設定を用いた信号の送受信動作について説明する。図5に示すように、ボーレート設定レジスタREG_BRで保持されるボーレートは、シリアル・パラレル変換回路SPCおよびパラレル・シリアル変換回路PSCに入力される。受信動作の際、SPCは、このボーレートによって受信シリアルデータDBGIをサンプリングしながら受信パラレルデータDBGPIに変換し、オンチップデバッグ回路OCDに送出する。具体的には、SPCは、内部に備えたカウンタを用いて、そのカウンタ値がREG_BRのボーレート(基準値)に達するまで内部クロック信号CLKdをカウントし、当該カウント動作を、スタートビットSTR、データビットDAT、ストップビットSTPの計10ビット分行う。そして、この10ビット分の各カウント動作毎に、カウント値が基準値の中央の値になった時点でサンプリングを行うことで各ビットの値を各ビット期間の中央の位置で判別する。
<ボーレート初期設定(リセット後のコマンド「8’h55」)>
図5において、内部リセット信号RSTd_Nが入力されると、ボーレート調整回路BRCTL(具体的にはボーレート設定可否判定部BRJGE)はボーレート設定用動作モードに遷移する。図2の外部検査装置EQTSTは、BRCTL(BRJGE)がボーレート設定用動作モードに遷移したのち、受信シリアルデータDBGIとして、ボーレート調整用コマンド「8’h55」を出力する。初期状態では、EQTSTと半導体集積回路装置DEV1は動作周波数を互いに認識できず、コマンドの送受信も困難な状態となっている。このため、リセット後にはコマンド「8’h55」が発行されるというルールのもとで、BRCTLは、図5〜図8で述べたようにして、当該リセット後のコマンド「8’h55」からボーレートを検出し、許容値判定部MXMNJGEによってOK信号が出力された場合に、ボーレート設定レジスタREG_BRの設定を行う。なお、この際に、BRCTL(BRJGE)は、初期状態ではコマンド認識が困難であるため、図5に示したシリアル・パラレル変換回路SPCからのコマンド認識信号を無視して、RSTd_Nのみでボーレート設定用動作モードに遷移する。
図9は、図5のボーレート調整回路において、ボーレートの誤差の影響の一例を表す説明図である。図9のケース1に示すように、‘H’パルスと‘L’パルスの幅の比率を1:1として、ボーレートの誤差が5%未満であれば、データを正しくシリアル・パラレル変換することができる。許容される誤差が5%である理由のひとつは、図9のケース3に示すように、ストップビットSTPが正しく検出できなくなる恐れがあるためである。ビットの検出をビット期間の中央でサンプリングするため、スタートビットSTRの立ち下がりからストップビットSTPのサンプリングまでは9.5ビット分の期間がある。ここで、送信したいデータのボーレートが設定されているボーレートと−5%の誤差があったとすると、ストップビットSTPを検出するときには誤差が蓄積されて1ビット分の50%のずれが生じ、STPが正確に検出できなくなってしまう恐れがある。
図11は、図5のボーレート調整回路において、ボーレートの変更を行いたい場合の動作例を示す説明図である。例えば、外部検査装置EQTST側は、現在設定されているボーレートとは異なるボーレートでデータを送信したい場合がある。「<ボーレート補正>」で述べたように、5%以上のボーレート変更を行いたい場合には、単独のコマンド「8’h55」でボーレートを変更することはコマンド自体の認識ができなくなるため困難となる。
図12は、図2のオンチップデバッグ用制御ブロックにおいて、そのオンチップデバッグ回路の主要な動作例を示す状態遷移図である。図12に示すように、オンチップデバッグ回路OCDは、アイドル状態IDLEと、フラッシュアクセス状態FACCSと、JTAGアクセス状態JACCSを備えている。FACCSは、更に、フラッシュコントローラライト状態FCON_WTと、フラッシュコントローラリード状態FCON_RDを備える。JACCSは、更に、5個のJTAGサブアクセス状態JTAG_0〜JTAG_4を備える。
図12等で述べたように、外部検査装置EQTSTから半導体集積回路装置DEV1へコマンド「8’h6A」を送信すると、DEV1がフラッシュコントローラライト状態FCON_WTに遷移し、EQTSTからフラッシュコントローラFCONの内部レジスタへ直接ライトアクセスが可能になる。また、EQTSTからDEV1へコマンド「8’hEA」を送信すると、DEV1がフラッシュコントローラリード状態FCON_RDに遷移し、EQTSTからFCONの内部レジスタへ直接リードアクセスが可能になる。FCONへの処理は、転送データ数が別途設定した所定の回数に達することで完了する。FCONへの処理が完了すると、DEV1は、自動的にこの状態から抜け出し、ボーレートの調整が可能なアイドル状態IDLEに戻る。
図14は、図2のシリアル通信システム(デバッグシステム)において、外部検査装置から半導体集積回路装置に向けたJTAGアクセスの動作例を示す説明図である。図12等に示したように、外部検査装置EQTSTから半導体集積回路装置DEV1へコマンド「8’bxxxxxx00」を送信することで、DEV1はJTAGアクセス状態JACCSに遷移する。JTAGアクセス状態では、図14に示すように、EQTSTからDEV1へ送信する1フィールドの8ビット情報の中で、下位2ビットをコマンドとして0に設定し、残りの6ビットにTCKビット,TMSビット,TDIビットを2組割り当てる。そして、EQTSTからDEV1に向けて4フィールド分の送信を行うことで、計8ビットのデータ(TDI)をCPUのJTAGIFに向けて送出する。
図15は、図2のオンチップデバッグ回路が備えるリセット機能の一例を示す概念図である。図15には、図2の半導体集積回路装置DEV1全体のリセット経路が示されている。図16は、図15における各種リセットソースとその効力範囲の一例を示す説明図である。図15に示すように、DEV1は、そのリセット経路として、リセット制御回路RSTCTLから後段に向けて順に、オンチップデバッグ回路OCD、ウォッチドッグタイマ回路WDT、フラッシュコントローラFCON、プロセッサユニットCPU、各種周辺回路PERIを備えている。WDTは、所定の時間が経過した際に後段に向けて強制的にリセット信号を生成し、加えてリセット信号が入力された際にも後段に向けてリセット信号を生成する。PERIは、特に限定はされないが、例えば図1のアナログ回路ブロックANLG_BKやディジタル回路ブロックDGTL_BK等に該当する。
<ボーレート調整回路の動作>
これまでの説明では、図6等に示したように、スタートビット(1ビット)STRとそれに続くデータビット(8ビット)DATによる計9ビットの平均値を用いてボーレートの算出を行ったが、特にこれに限定されるものではなく、計2ビット以上の平均値であればよい。例えば、1ビットのSTRとそれに続く7ビットのDATによる計8ビットの平均値を用いると、シフトレジスタ等によって除算処理を実現できるため、計9ビットを用いる場合と比較して除算処理の容易化や除算回路の面積低減等が図れる。この観点で、計4ビットや計2ビット等を用いてもよい。ただし、ビット数は多い方がボーレートの検出精度が高まるため、前述した除算処理も勘案すると、特に計9ビットか計8ビットとすることが望ましい。
図17は、図6の変形例を示す説明図である。図17に示すように、ボーレート調整用のコマンドは、必ずしも「8’h55」に限定されるものではなく、図17に示すようにコマンド「8’h33」や、あるいはその他の値であってもよい。例えば、図17の例のように、コマンド「8’h33」の場合には、予めボーレート調整回路BRCTL(例えば図5のビットカウンタBITCUNT)に、スタートビットSTR以降のエッジ間のクロックサイクル数が「2」である旨を記憶させておけばよい。ただし、より多くのビット数の平均値を算出することで高精度化を図る観点からは、「8’h55」であることが望ましい。
図18は、図2の半導体集積回路装置を変形した構成例を示すブロック図である。図18に示す半導体集積回路装置DEV2は、図2のDEV1と比較して、DEV2内に発振回路やリセット制御回路を備えずに、外部に発振回路OSC’やリセット制御回路RSTCTL’を備えた構成となっている。すなわち、例えば、シリアル通信システム内において、半導体集積回路装置DEV2の外部に予めクロック信号CLKを生成する回路やリセット信号RSTを生成する回路等が備わっている場合、当該CLK,RSTを利用してシリアル通信を行ってもよい。
ADJERR エラー信号
ANLG_BK アナログ回路ブロック
AVGC 平均値演算部
BITCUNT ビットカウンタ
BRCTL ボーレート調整回路
BRJGE ボーレート設定可否判定部
BS 内部バス
CKCUNT クロックカウンタ
CLK クロック信号
CLKCTL クロック制御回路ブロック
CPU プロセッサユニット
DAT データビット
DBGI 受信シリアルデータ
DBGO 送信シリアルデータ
DBGPI 受信パラレルデータ
DBGPO 送信パラレルデータ
DEV 半導体集積回路装置
DGTL_BK ディジタル回路ブロック
EQTST 外部検査装置
FCON フラッシュコントローラ
FEGCUNT 立ち下がりエッジカウンタ
FMEM フラッシュメモリ
GND 接地電源電圧
IBF 入力バッファ回路
IRC 自励発振回路
JTAGIF JTAGインタフェース回路
MAXD 最大値検出部
MDCTL モード制御回路
MIND 最小値検出部
MN NMOSトランジスタ
MXMNJGE 許容値判定部
OCD オンチップデバッグ回路
OCDBK オンチップデバッグ用制御ブロック
OSC 発振回路
PERI 各種周辺回路
PLL 位相同期回路
PN 外部端子
POR パワーオンリセット回路
PSC パラレル・シリアル変換回路
R 抵抗
REG_BR ボーレート設定レジスタ
RSTCTL リセット制御回路
SIF シリアルインタフェース回路
SPC シリアル・パラレル変換回路
STP ストップビット
STR スタートビット
VCC 電源電圧
WDT ウォッチドッグタイマ回路
WR_DBG シリアル配線
Claims (16)
- 通信機能を有する他の装置とシリアル通信を行う電子装置であって、
前記電子装置は、ボーレート調整回路を含み前記他の装置とシリアル通信を行うシリアルインタフェース回路と、内部クロック信号を生成するクロック生成回路と、を備えてなり、前記他の装置に接続された状態で前記他の装置からのシリアル信号を受信するように構成され、
前記シリアル信号は、1ビットのスタートビットと、これに続く複数ビットのデータビットと、これに続く1ビットのストップビットで構成されており、
前記ボーレート調整回路は、
(a)受信した前記シリアル信号を構成する各ビットの時間幅を前記クロック生成回路で生成された前記内部クロック信号によるカウント動作によって測定する処理と、
(b)前記測定された各ビットの時間幅の最大値と最小値を検出する処理と、
(c)前記測定された各ビットの時間幅の平均値を演算する処理と、
(d)前記各ビットの時間幅の平均値に基づいて最大許容値と最小許容値を演算する処理と、
(e)前記最大値と前記最小値が前記最大許容値と前記最小許容値の範囲内であるか否かを判別する処理と、
(f)前記最大値と前記最小値が前記範囲内である場合に、前記平均値に対応するボーレートを設定する処理と、を実行し、
前記電子装置は、前記他の装置との間のシリアル通信を前記設定したボーレートで実行するように構成されてなる電子装置。 - 請求項1記載の電子装置において、
前記電子装置は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定したボーレート調整用コマンドの値であるか否かを識別するコマンド識別部を備え、
前記ボーレート調整回路は、
前記シリアル信号を受信した際に、当該シリアル信号に対する前記コマンド識別部の識別結果に関わらずに前記(a)〜(f)処理を実行する第1ボーレート設定モードと、
前記シリアル信号を受信した際に、前記(a)〜(e)処理を実行し、さらに、前記コマンド識別部が当該シリアル信号の中から前記ボーレート調整用コマンドを識別した場合に前記(f)処理を実行する第2ボーレート設定モードとを備えてなる電子装置。 - 請求項2記載の電子装置において、
前記ボーレート調整回路は、リセット信号が入力された際に、その後に受信した、スタートビット、ストップビットならびにそれらの間のデータビットからなる1個の前記シリアル信号を対象に前記第1ボーレート設定モードでの処理を実行するように構成されてなる電子装置。 - 請求項3記載の電子装置において、
前記コマンド識別部は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定したボーレート調整用の前提コマンドの値であるか否かを識別し、
前記ボーレート調整回路は、前記コマンド識別部が前記ボーレート調整用の前提コマンドを識別した際に、その後に受信した、スタートビット、ストップビットならびにそれらの間のデータビットからなる1個の前記シリアル信号を対象に前記第1ボーレート設定モードでの処理を実行するように構成されてなる電子装置。 - 請求項3記載の電子装置において、
前記クロック生成回路は、リングオシレータ回路であるように構成されてなる電子装置。 - 請求項3記載の電子装置において、
前記(d)処理での前記最大許容値は、前記平均値の1.5倍であり、
前記(d)処理での前記最小許容値は、前記平均値の0.5倍であるように構成されてなる電子装置。 - 請求項3記載の電子装置において、
前記電子装置は、さらに、JTAG規格に基づくJTAGインタフェース回路と、プロトコル変換部とを備え、
前記コマンド識別部は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定したJTAGアクセス用コマンドの値であるか否かを識別し、
前記プロトコル変換部は、前記コマンド識別部が前記JTAGアクセス用コマンドを識別した際に、前記シリアル信号を前記JTAGインタフェース回路で必要とされる複数の信号に変換するように構成されてなる電子装置。 - 請求項7記載の電子装置において、
前記電子装置は、さらに、不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリへの書き込み/読み出し動作を制御するメモリコントローラとを備え、
前記コマンド識別部は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定した不揮発性メモリアクセス用コマンドの値であるか否かを識別し、
前記電子装置は、前記コマンド識別部が前記不揮発性メモリアクセス用コマンドを識別した際に、前記シリアル信号を前記メモリコントローラに伝送し、
前記コマンド識別部は、前記電子装置による前記シリアル信号の前記メモリコントローラへの伝送が予め定めた所定の回数行われている間、当該シリアル信号を対象とする各コマンドの識別処理を一時的に停止するように構成されてなる電子装置。 - 外部検査装置とシリアル通信で接続され、前記外部検査装置と電子装置に搭載された内部回路との間での通信を可能にする構成を備えた電子装置であって、
前記電子装置は、前記電子装置としての機能を実現する内部回路と、内部クロック信号を生成するクロック生成回路と、前記内部回路とのシリアル通信を実現する制御回路ブロックとを含み、前記内部回路による前記電子装置としての機能を実現する第1動作モードと、前記外部検査装置によるシリアル通信下での前記電子装置の前記内部回路へのアクセスを可能にする第2動作モードとが設定可能に構成されてなり、
前記制御回路ブロックは、前記外部検査装置との間でシリアル通信を行う通信用端子と、前記通信用端子に接続されるシリアルインタフェース回路と、前記シリアルインタフェース回路と前記電子装置の前記内部回路との通信を制御する制御回路と、を備え、前記第2動作モードの際に前記外部検査装置に接続された状態で前記外部検査装置からのシリアル信号を受信するように構成され、
前記シリアル信号は、1ビットのスタートビットと、これに続く複数ビットのデータビットと、これに続く1ビットのストップビットで構成されており、
前記シリアルインタフェース回路は、
前記通信用端子で受信した前記シリアル信号をパラレル信号に変換するシリアル・パラレル変換回路と、
前記内部回路から受信したパラレル信号をシリアル信号に変換し、前記通信用端子に向けて送信するパラレル・シリアル変換回路と、
前記シリアル・パラレル変換回路および前記パラレル・シリアル変換回路の動作タイミングを設定するボーレート調整回路とを備え、
前記ボーレート調整回路は、
(a)前記第2動作モードに設定された状態で前記通信用端子を介して受信した前記シリアル信号を対象に、当該シリアル信号を構成する各ビットの時間幅を前記クロック生成回路で生成された前記内部クロック信号によるカウント動作によって測定する処理と、
(b)前記測定された各ビットの時間幅の最大値と最小値を検出する処理と、
(c)前記測定された各ビットの時間幅の平均値を演算する処理と、
(d)前記各ビットの時間幅の平均値に基づいて最大許容値と最小許容値を演算する処理と、
(e)前記最大値と前記最小値が前記最大許容値と前記最小許容値の範囲内であるか否かを判別する処理と、
(f)前記最大値と前記最小値が前記範囲内である場合に、前記平均値に対応するボーレートを設定する処理と、を実行し、
前記制御回路ブロックは、前記外部検査装置との間の前記通信用端子を介したシリアル通信を前記設定したボーレートで実行するように構成されてなる電子装置。 - 請求項9記載の電子装置において、
前記制御回路は、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定したボーレート調整用コマンドの値であるか否かを識別するコマンド識別部を含み、
前記ボーレート調整回路は、
前記シリアル信号を受信した際に、当該シリアル信号に対する前記コマンド識別部の識別結果に関わらずに前記(a)〜(f)処理を実行する第1ボーレート設定モードと、
前記シリアル信号を受信した際に、前記(a)〜(e)処理を実行し、さらに、前記コマンド識別部が当該シリアル信号の中から前記ボーレート調整用コマンドを識別した場合に前記(f)処理を実行する第2ボーレート設定モードとを備えてなる電子装置。 - 請求項10記載の電子装置において、
前記ボーレート調整回路は、リセット信号が入力された際に、その後に受信した、スタートビット、ストップビットならびにそれらの間のデータビットからなる1個の前記シリアル信号を対象に前記第1ボーレート設定モードでの処理を実行するように構成されてなる電子装置。 - 請求項11記載の電子装置において、
前記コマンド識別部は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定したボーレート調整用の前提コマンドの値であるか否かを識別し、
前記ボーレート調整回路は、前記コマンド識別部が前記ボーレート調整用の前提コマンドを識別した際に、その後に受信した、スタートビット、ストップビットならびにそれらの間のデータビットからなる1個の前記シリアル信号を対象に前記第1ボーレート設定モードでの処理を実行するように構成されてなる電子装置。 - 請求項11記載の電子装置において、
前記クロック生成回路は、リングオシレータ回路であるように構成されてなる電子装置。 - 請求項11記載の電子装置において、
前記(d)処理での前記最大許容値は、前記平均値の1.5倍であり、
前記(d)処理での前記最小許容値は、前記平均値の0.5倍であるように構成されてなる電子装置。 - 請求項11記載の電子装置において、
前記内部回路は、JTAG規格に基づくJTAGインタフェース回路を含んだプロセッサ回路を含み、
前記制御回路は、さらに、プロトコル変換部を備え、
前記コマンド識別部は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定したJTAGアクセス用コマンドの値であるか否かを識別し、
前記プロトコル変換部は、前記コマンド識別部が前記JTAGアクセス用コマンドを識別した際に、前記シリアル信号を前記JTAGインタフェース回路で必要とされる複数の信号に変換するように構成されてなる電子装置。 - 請求項15記載の電子装置において、
前記内部回路は、さらに、不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリへの書き込み/読み出し動作を制御するメモリコントローラとを備え、
前記コマンド識別部は、さらに、前記設定したボーレートに基づいて受信した前記シリアル信号内の前記データビットの値が予め規定した不揮発性メモリアクセス用コマンドの値であるか否かを識別し、
前記制御回路は、前記コマンド識別部が前記不揮発性メモリアクセス用コマンドを識別した際に、前記シリアル信号を前記メモリコントローラに伝送し、
前記コマンド識別部は、前記電子装置による前記シリアル信号の前記メモリコントローラへの伝送が予め定めた所定の回数行われている間、当該シリアル信号を対象とする各コマンドの識別処理を一時的に停止するように構成されてなる電子装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011266856A JP5891758B2 (ja) | 2011-12-06 | 2011-12-06 | 電子装置 |
TW101143449A TWI475864B (zh) | 2011-12-06 | 2012-11-21 | Electronic device |
CN201210511124.7A CN103150283B (zh) | 2011-12-06 | 2012-12-03 | 电子装置 |
US13/692,506 US8782300B2 (en) | 2011-12-06 | 2012-12-03 | Electronic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011266856A JP5891758B2 (ja) | 2011-12-06 | 2011-12-06 | 電子装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013120979A JP2013120979A (ja) | 2013-06-17 |
JP5891758B2 true JP5891758B2 (ja) | 2016-03-23 |
Family
ID=48524847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011266856A Active JP5891758B2 (ja) | 2011-12-06 | 2011-12-06 | 電子装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8782300B2 (ja) |
JP (1) | JP5891758B2 (ja) |
CN (1) | CN103150283B (ja) |
TW (1) | TWI475864B (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011106055A1 (en) | 2010-02-23 | 2011-09-01 | Rambus Inc. | Coordinating memory operations using memory-device generated reference signals |
CN103718158B (zh) * | 2011-07-19 | 2016-10-19 | 松下知识产权经营株式会社 | 多处理器系统 |
JP5891758B2 (ja) * | 2011-12-06 | 2016-03-23 | サンケン電気株式会社 | 電子装置 |
JP6241366B2 (ja) * | 2014-05-21 | 2017-12-06 | トヨタ自動車株式会社 | 制御装置 |
CN104008080B (zh) * | 2014-06-17 | 2017-06-27 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 串行数据解析方法和装置 |
CN105763042B (zh) * | 2014-12-19 | 2018-11-16 | 三垦电气株式会社 | 控制装置以及电力转换装置 |
US10503134B2 (en) | 2016-07-29 | 2019-12-10 | Semiconductor Components Industries, Llc | Motor driver with multipurpose pin |
CN106788920B (zh) * | 2016-12-19 | 2019-08-23 | 珠海格力电器股份有限公司 | 一种波特率偏差检测方法、装置及空调室内机 |
CN109495408B (zh) * | 2017-09-13 | 2021-06-22 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 波特率跟踪及补偿装置与方法 |
CN111459727B (zh) * | 2019-12-25 | 2023-07-14 | 山东有人物联网股份有限公司 | 串口波特率最大无错容忍范围的智能自动化测试系统及测试方法 |
TWI782634B (zh) * | 2021-07-22 | 2022-11-01 | 新唐科技股份有限公司 | 晶片傳送速度偵測方法及電子裝置 |
CN114070670A (zh) * | 2021-10-21 | 2022-02-18 | 杭州奥能电源设备有限公司 | 一种基于rs485环形网络的分布式系统及操作方法 |
CN114490487B (zh) * | 2022-02-16 | 2023-12-19 | 瀚云科技有限公司 | 一种串口信息获取方法、装置、设备及存储介质 |
US20230318788A1 (en) * | 2022-04-01 | 2023-10-05 | AyDeeKay LLC dba Indie Semiconductor | Single-Thread Detection of Valid Synchronization Headers |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4972368A (en) * | 1988-03-04 | 1990-11-20 | Stallion Technologies, Pty. Ltd. | Intelligent serial I/O subsystem |
US5119403A (en) * | 1991-04-09 | 1992-06-02 | Racal Data Communications Inc. | Superframes |
US5649122A (en) * | 1994-06-24 | 1997-07-15 | Startech Semiconductor, Inc. | Universal asynchronous receiver/transmitter with programmable xon/xoff characters |
US6307868B1 (en) * | 1995-08-25 | 2001-10-23 | Terayon Communication Systems, Inc. | Apparatus and method for SCDMA digital data transmission using orthogonal codes and a head end modem with no tracking loops |
US5923705A (en) * | 1996-07-18 | 1999-07-13 | Qualcomm Incorporated | UART based autobauding without data loss |
US6263033B1 (en) * | 1998-03-09 | 2001-07-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Baud rate granularity in single clock microcontrollers for serial port transmissions |
JPH11272571A (ja) | 1998-03-23 | 1999-10-08 | Tietech Co Ltd | ボーレートの自動調整方法 |
US6381532B1 (en) * | 2000-09-20 | 2002-04-30 | Visteon Global Technologies, Inc. | Queued port data controller for microprocessor-based engine control applications |
JP3580242B2 (ja) * | 2000-10-25 | 2004-10-20 | セイコーエプソン株式会社 | シリアル/パラレル変換回路、データ転送制御装置及び電子機器 |
CN1204722C (zh) * | 2002-01-26 | 2005-06-01 | 深圳市朗科科技有限公司 | 一种用于数据处理系统的无线数据通信方法及装置 |
TWI230346B (en) * | 2003-10-09 | 2005-04-01 | Inventec Corp | Method and system for collecting information data |
US7250987B2 (en) * | 2004-02-06 | 2007-07-31 | Broadcom Corporation | Method and system for an integrated VSB/QAM/NTSC/OOB plug-and-play DTV receiver |
JP4198089B2 (ja) * | 2004-05-21 | 2008-12-17 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 通信システム |
JP2011035473A (ja) | 2009-07-29 | 2011-02-17 | Renesas Electronics Corp | ボーレートエラー検出回路、ボーレートエラー検出方法 |
JP2011124882A (ja) * | 2009-12-11 | 2011-06-23 | Renesas Electronics Corp | 非同期型通信確立方法および非同期型通信システム |
JP5093261B2 (ja) * | 2010-02-22 | 2012-12-12 | 株式会社デンソー | 同期信号検出装置 |
JP5891758B2 (ja) * | 2011-12-06 | 2016-03-23 | サンケン電気株式会社 | 電子装置 |
-
2011
- 2011-12-06 JP JP2011266856A patent/JP5891758B2/ja active Active
-
2012
- 2012-11-21 TW TW101143449A patent/TWI475864B/zh active
- 2012-12-03 US US13/692,506 patent/US8782300B2/en active Active
- 2012-12-03 CN CN201210511124.7A patent/CN103150283B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103150283B (zh) | 2015-09-30 |
US8782300B2 (en) | 2014-07-15 |
TWI475864B (zh) | 2015-03-01 |
TW201336283A (zh) | 2013-09-01 |
US20130145084A1 (en) | 2013-06-06 |
CN103150283A (zh) | 2013-06-12 |
JP2013120979A (ja) | 2013-06-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A711 | Notification of change in applicant |
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|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151005 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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