JP5867858B2 - 加熱調理装置 - Google Patents

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本発明は、IHコンロ装置などの加熱調理装置に関し、特に静電容量式のタッチスイッチを備えたものに関する。
従来のこの種の加熱調理装置としては、例えば、複数の加熱部を備え、その加熱部毎に加熱部のオンオフ、火力の増加、火力の減少を行う各スイッチと、すべての加熱部の動作をオンオフするスイッチとを設けたものが知られている。そして、これらすべてのスイッチは静電容量式のタッチスイッチで構成されている(例えば、特許文献1参照)。
また、このようなタッチスイッチを用いた装置で、装置内の温度を常時検出して、その温度が一定時間内に所定温度変化すると、タッチスイッチの要部であるタッチセンサからの出力値を補正するようにしたものが知られている(例えば、特許文献2参照)。
特開2005−331116号公報(図2,図3) 特開2009−225022号公報(請求項3)
上記特許文献1に記載された従来のものでは、各タッチスイッチがタッチ状態であるか非タッチ状態であるかを判断する回路が1個しか設けられていない。一般に複数のタッチスイッチのタッチ状態を判断するためにタッチセンサICが開発されており、上記従来のものにタッチセンサICを適用する場合、タッチセンサICを1個用いることになる。ところが、この1個のタッチセンサICに暴走等の異常が生じると、実際のタッチ状態と異なる信号をタッチセンサICが出力したり、タッチスイッチをタッチしてもそのタッチ状態を検知しない状態が生じる恐れがある。
このような場合には、タッチセンサICの2個の空きポートのうちの一方の空きポートに、上記両タッチスイッチがタッチ状態での信号と同様の信号をタッチセンサICから出力させる第1のダミー素子と、他方の空きポートに、上記両タッチスイッチが非タッチ状態での信号と同様の信号をタッチセンサICから出力させる第2のダミー素子とを接続し、ダミー素子が接続された空きポートに対応する出力信号を元にタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断して、タッチセンサICに異常が生じていると判断した場合に所定のエラー処理を行うことが考えられる。
ところが、ガス器具のように器具内の温度が大きく変化する場合には、ダミー素子による出力値が変化して異常判断を誤判断する恐れが生じる。このような場合には上記特許文献2に記載されているように、機器内の温度を検知する温度センサを設けて、その温度センサが検知する温度に応じてダミー素子による出力値を補正すればよいが、温度センサを別途追加する必要があるばかりか、温度センサの出力値を入力するためのポートが必要になる。
そこで本発明は、上記の問題点に鑑み、温度センサを用いることなく温度変化による補正を行うことのできる加熱調理装置を提供することを課題とする。
上記課題を解決するために本発明による加熱調理装置は、複数の操作スイッチを備えた加熱調理装置であって、各スイッチを静電容量型のタッチスイッチで構成すると共に、各タッチスイッチの各々についてタッチ状態と非タッチ状態とで各々相違する信号を出力するタッチセンサICと、このタッチセンサICの出力信号から各スイッチのタッチ/非タッチ状態を判断する制御部とを備え、タッチセンサICに設けられている複数の入力ポートのうちの上記タッチスイッチが接続されていない2個の入力ポートに、各タッチスイッチがタッチ状態での信号と同様の信号をタッチセンサICから出力させる第1のダミー素子と、上記各タッチスイッチが非タッチ状態での信号と同様の信号をタッチセンサICから出力させる第2のダミー素子とを接続し、上記制御部は上記ダミー素子が接続されたポートに対応する出力信号を元にタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断するものにおいて、両ダミー素子が接続されたポートに対応する2つの出力信号の差に基づいてタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断することを特徴とする。
ダミー素子が接続されたポートに対応する出力信号が温度変化によって変動すると、その出力信号そのものによってはタッチセンサICが正常であるか否かの判断をすることができない。そこで、両出力信号の差を求めて、その差の値に基づいてタッチセンサICが正常であるか否かの判断を行うこととした。出力信号は温度変化に対してランダムに変化するのではなく、一般的に温度が上昇すると出力信号もそれに伴って増加する。2つのダミー素子の特性が同じであれば出力信号が変化しても差の値は変化しない。また、両出力信号の特性が同じでなければ、差の値は温度変化に対して相関して変化する。
そこで、上記出力信号の差が温度変化に対して変化しない場合には、出力信号の差の値からタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断すればよい。
あるいは、上記出力信号の差が温度変化に相関して変化する場合には、出力信号の差の値から温度を推定し、その推定された温度に基づいて各出力信号を補正することができる。但し、ここで言う相関とは関数として表すことのできる相関のみを言うのではなく、他の値と温度との値をテーブル値として予め格納しておく場合も含む。
以上の説明から明らかなように、本発明は、タッチセンサICが1個であってもタッチセンサICに異常が生じたことを検知することができ、所定のエラー処理を行うことができるので、タッチセンサICを2個用いて冗長性を担保する構成よりコストを低減することができる。また、温度変化によってダミー素子による出力信号が変化しても、温度センサを別途追加することなく、タッチセンサICの異常発生を検知することができる。
本発明の一実施の形態の構成を示す図 操作パネルを示す図 操作パネルの下部構造を示す図 タッチ/非タッチ状態ので信号の変化を示す図 ダミー素子による出力信号の変化状態を示す図 ダミー素子による出力信号の変化状態の他の例を示す図
図1を参照して、1は本発明による加熱調理装置であるIHクッキングヒータ(以下、調理装置という)である。この調理装置1の上面はガラス製の天板11で覆われている。そして、この天板11には左右1対のIH加熱部12とラジェントヒータによる加熱部13との位置を示す円が表示されている。また、各加熱部12,13および調理装置1の電源のオンオフ等を行うための操作パネル2が印刷されている。
この調理装置1の操作を行う各種のスイッチは静電容量式のタッチスイッチであり、操作パネル2に示されたスイッチのマークはすべて印刷されたもので、特に可動部が設けられているわけではない。図2を参照して、操作パネル2には右端に調理装置1全体の電源のオンオフを行う電源スイッチマーク24が印刷されている。また、21は左側のIH加熱部12のオンオフを個別に行う電源スイッチマークであり、22は中央の加熱部13のオンオフを個別に行う電源スイッチマークであり、23は右側のIH加熱部12のオンオフを個別に行う電源スイッチマークである。また、25は各加熱部12,13の火力を増減するための火力調節マークである。
図3を参照して、天板11の下方にはセンサ基板3が設置されている。このセンサ基板3の上面にはタッチスイッチとして機能する複数個の電極31が被着されている。そして、上記各電源スイッチマーク23(21,22も同様),24および火力調節マーク25は各々の下方に位置する導電体32を介して各電極31に対応している。そして、各電極31は保護抵抗を介してタッチセンサIC4の各入力ポートに接続されている。電極31の周囲には浮遊容量(静電容量)が存在しているが、いずれかのマークを指でタッチすると、その触られたマークの下方に位置する電極31と指との間の浮遊容量が加わるためその電極31についての浮遊容量が増加する。タッチセンサIC4は内部で所定の周波数のパルス信号を発生させている。そして、図示しない外付けされたコンデンサに充電し、その充電された電荷が所定の電圧になるまで放電させ、その放電に要した時間中のパルス数をカウントしている。そして、上記のように指でマークにタッチして浮遊容量が増加すると充電電圧が低下するように構成されている。そのため、所定電圧まで放電する時間が短くなり、カウントされるパルス数が少なくなる。このパルス数を制御部であるメインマイコン5が読み込んで、減少したパルス数からどのマークがタッチされたかをメインマイコン5が判断する。
図4を参照して、上記のようにマークにタッチしていない状態でメインマイコン5に読み込まれるパルス数のカウント値をCfとすると、マークにタッチすると上記のようにカウント値が減少してCnになる。そこで、図3に示すように、ダミー素子としてチップコンデンサ61,62をセンサ基板3に取り付け、各チップコンデンサ61,62を、タッチセンサIC4の空きポートに接続した。
これらチップコンデンサ61,62の容量は同一ではなく、チップコンデンサ61の容量は図4に示したカウント値Cnが出力されるように設定され、チップコンデンサ62の容量は同じくCfが出力されるように設定されている。また、両チップコンデンサ61,62は共に天板11から離れているので、チップコンデンサ61,62が取り付けられている位置の上方の箇所の天板11の表面をタッチしても、タッチしたことによる浮遊容量の変化の影響はチップコンデンサ61,62には及ばない。そのため、チップコンデンサ61が接続されているポートに対応するカウント値として常にCnが出力され、同じくチップコンデンサ62が接続されているポートに対応するカウント値として常に値Cfが出力される。
メインマイコン5はタッチセンサIC4の各ポートに対応するカウント値を読み込んでおり、例えば電源スイッチマーク24がタッチされると、この電源スイッチマーク24の下方に位置する電極31に対応するカウント値がCfからCnに減少するので、そのことから、電源スイッチマーク24がタッチされたものと判断する。
ここで、タッチセンサIC4に何らかのエラーが生じ、タッチしていない状態であるにもかかわらずカウント値としてCfより低いカウント値を出力すると、メインマイコン5は実際にはタッチされていないにもかかわらずタッチされたものと誤判断する可能性が生じる。ところが、そのようなエラーが発生すると、チップコンデンサ62が接続されているポートに対応するカウント値もCfより低い値となるので、メインマイコン5はいずれかのマークがタッチされたのではなく、タッチセンサIC4に異常が生じたものと判断することができる。
また、逆にいずれかのマークにタッチしているのにもかかわらず、カウント値としてCnよりも高い値が出力されればメインマイコン5はタッチされたことを検知できない場合が生じるが、チップコンデンサ61が接続されたポートに対応するカウント値がCnよりも高い値になり、やはりタッチセンサICに異常が生じたと判断することができる。
ところで、調理装置1は作動中に内部で発熱し、また天板11上の調理物から発熱するので、調理装置1の内部温度が上昇する。すると、カウント値がシフトして正常にタッチセンサICの異常判断ができなくなる場合が生じる。図5に示すように、カウント値Cf,Cnが共に温度上昇に対して同じ傾きで変化した場合には、両カウント値の差の値ΔCを求めて、そのΔCが予め設定された正常値範囲内にあれば、カウント値Cf,Cnが異常であっても、タッチセンサICは正常であると判断することとした。
また、図6に示すように、差の値ΔCが温度変化に伴って変化する場合には、カウント値Cf,Cnが正常値範囲を外れた場合、ΔCからその時の温度を推定し、その温度に基づいてカウント値Cf,Cnを補正して、再度カウント値Cf,Cnが正常値範囲内にあるか否かを判断することとした。タッチセンサICに異常が生じていない場合にはこの補正によりカウント値Cf,Cnは正常値範囲内に戻るので、タッチセンサICが正常であると判断することができる。
また、カウント値Cf,Cnのいずれか一方が正常値範囲から外れていればΔCは実際に温度に対応しない値となるので、その間違った温度に基づいて補正されたカウント値Cf,Cnはやはり正常値範囲から外れるため、タッチセンサICに異常が生じたものと判断することができる。
なお、タッチセンサICに異常が生じたと判断した場合には所定のエラー処理ルーチンに従って処理を行うことになるが、例えば調理装置1の作動をすべて停止して以後の操作を受け付けないようにして、エラー発生をランプなどで報知することが考えられる。
なお、本発明は上記した形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変更を加えてもかまわない。
1 調理装置
11 天板
2 操作パネル
31 電極
32 導電体
4 タッチセンサIC
5 メインマイコン
61 チップコンデンサ(ダミー素子)
62 チップコンデンサ(ダミー素子)

Claims (3)

  1. 複数の操作スイッチを備えた加熱調理装置であって、各スイッチを静電容量型のタッチスイッチで構成すると共に、各タッチスイッチの各々についてタッチ状態と非タッチ状態とで各々相違する信号を出力するタッチセンサICと、このタッチセンサICの出力信号から各スイッチのタッチ/非タッチ状態を判断する制御部とを備え、タッチセンサICに設けられている複数の入力ポートのうちの上記タッチスイッチが接続されていない2個の入力ポートに、各タッチスイッチがタッチ状態での信号と同様の信号をタッチセンサICから出力させる第1のダミー素子と、上記各タッチスイッチが非タッチ状態での信号と同様の信号をタッチセンサICから出力させる第2のダミー素子とを接続し、上記制御部は上記ダミー素子が接続されたポートに対応する出力信号を元にタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断するものにおいて、両ダミー素子が接続されたポートに対応する2つの出力信号の差に基づいてタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断することを特徴とする加熱調理装置。
  2. 上記出力信号の差が温度変化に対して変化しない場合には、出力信号の差の値からタッチセンサICが正常に機能しているか否かを判断することを特徴とする請求項1に記載の加熱調理装置。
  3. 上記出力信号の差が温度変化に相関して変化する場合には、出力信号の差の値から温度を推定し、その推定された温度に基づいて各出力信号を補正することを特徴とする請求項1に記載の加熱調理装置。
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