JP5867429B2 - 温度測定方法および温度測定装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 87
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 76
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 74
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 35
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 21
- 238000000513 principal component analysis Methods 0.000 claims description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 8
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 17
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 13
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 11
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 238000012847 principal component analysis method Methods 0.000 description 2
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 description 1
- 208000008589 Obesity Diseases 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 235000020824 obesity Nutrition 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
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- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
測定対象物の放射エネルギーを利用した測定対象物の表面温度測定においては、以下の数式(1)に示すように、黒体放射エネルギースペクトルLB(λ,T)に予め仮定した放射率のスペクトルε(λ)を乗じた測定値L(λ,T)が測定される。なお、数式(1)中のパラメータλは放射エネルギーの測定波長を示し、パラメータTは測定対象物の表面温度を示している。
始めに、図10、図11を参照して、本発明の一実施形態である温度測定装置の構成について説明する。
始めに、図12に示すフローチャートを参照して、回帰式作成処理を実行する際の温度測定装置1の動作について説明する。
次に、図13に示すフローチャートを参照して、温度推定作成処理を実行する際の温度測定装置1の動作について説明する。
2 FTIR(フーリエ変換赤外分光光度計)
3 回帰式作成部
4 温度推定部
5 鋼板
11,14,15,16 ミラー
12 ハーフミラー
13 可動ミラー
17 検出器
18 干渉計
Claims (2)
- 測定対象物から発せられる放射エネルギーを分光測定し、得られた分光スペクトル情報を信号処理して測定対象物の表面温度を測定する温度測定方法であって、
測定対象物から発せられる放射エネルギーの分光スペクトル情報を測定する測定ステップと、
前記測定対象物の分光スペクトル情報を基底分解し、該基底分解された基底に乗ぜられる係数を用いて前記測定対象物の表面温度を算出する温度推定ステップと、を含み、
前記温度推定ステップは、主成分分析を用いて前記測定対象物の分光スペクトル情報を2つ以上の基底に基底分解し、予め計算された第2主成分以降の主成分に乗ぜられる係数と前記測定対象物の表面温度との関係を表す検量線を用いて、第2主成分以降の主成分に乗ぜられる係数から前記測定対象物の表面温度を算出することを特徴とする温度測定方法。 - 測定対象物から発せられる放射エネルギーを分光測定し、得られた分光スペクトル情報を信号処理して測定対象物の表面温度を測定する温度測定装置であって、
測定対象物から発せられる放射エネルギーの分光スペクトル情報を測定する測定手段と、
前記測定対象物の分光スペクトル情報を基底分解し、該基底分解された基底に乗ぜられる係数を用いて前記測定対象物の表面温度を算出する温度推定手段と、を備え、
前記温度推定手段は、主成分分析を用いて前記測定対象物の分光スペクトル情報を2つ以上の基底に基底分解し、予め計算された第2主成分以降の主成分に乗ぜられる係数と前記測定対象物の表面温度との関係を表す検量線を用いて、第2主成分以降の主成分に乗ぜられる係数から前記測定対象物の表面温度を算出することを特徴とする温度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013042173A JP5867429B2 (ja) | 2013-03-04 | 2013-03-04 | 温度測定方法および温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013042173A JP5867429B2 (ja) | 2013-03-04 | 2013-03-04 | 温度測定方法および温度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014169935A JP2014169935A (ja) | 2014-09-18 |
JP5867429B2 true JP5867429B2 (ja) | 2016-02-24 |
Family
ID=51692410
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013042173A Active JP5867429B2 (ja) | 2013-03-04 | 2013-03-04 | 温度測定方法および温度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5867429B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113167653B (zh) | 2018-11-21 | 2023-09-05 | 杰富意钢铁株式会社 | 温度测定装置的校准方法、温度测定装置的校准装置、物理量测定装置的校准方法和物理量测定装置的校准装置 |
US20220018717A1 (en) * | 2018-11-21 | 2022-01-20 | Jfe Steel Corporation | Calibration method for temperature measurement device, calibration device for temperature measurement device, calibration method for physical quantity measurement device, and calibration device for physical quantity measurement device |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07280667A (ja) * | 1994-04-11 | 1995-10-27 | Sumitomo Light Metal Ind Ltd | アルミニウム板材の熱間温度測定方法 |
JP2002082048A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Shimadzu Corp | 非接触式物性測定方法およびその装置 |
JP3559870B2 (ja) * | 2001-08-07 | 2004-09-02 | 川崎重工業株式会社 | 温度測定方法および温度測定装置 |
JP4146697B2 (ja) * | 2002-09-20 | 2008-09-10 | 株式会社堀場製作所 | 温度計測方法および温度計測装置 |
JP5471887B2 (ja) * | 2010-06-28 | 2014-04-16 | Jfeスチール株式会社 | 膜厚測定方法及びその装置 |
JP5987563B2 (ja) * | 2011-09-07 | 2016-09-07 | Jfeスチール株式会社 | 温度測定方法および温度測定装置 |
JP5884461B2 (ja) * | 2011-12-16 | 2016-03-15 | Jfeスチール株式会社 | 温度測定方法および温度測定装置 |
JP6035831B2 (ja) * | 2012-04-13 | 2016-11-30 | Jfeスチール株式会社 | 温度測定方法および温度測定装置 |
-
2013
- 2013-03-04 JP JP2013042173A patent/JP5867429B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014169935A (ja) | 2014-09-18 |
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