JP5860103B2 - ファウリング検出機構及びファウリングを検出する方法 - Google Patents
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Description
2 流体処理デバイス
3 ファウリングに曝される流体処理デバイス及び熱交換器の曝露面
4 熱伝達面
5 ファウリング
6 流体
7,107 センサ
8,108 領域/センサ領域
9,109 流体の伝導性導電率を測定する手段
10,110 第1導電性表面
11,111 第2導電性表面
12 管及びタンクを含む製品回路
13 誘導性導電率センサ
30,130 温度測定デバイス
31 誘導性導電率測定デバイス
32 計算デバイス
33 データデバイス
34 視覚化デバイス
35 A/D変換器
36 PC
37 熱伝達のための熱交換器
38 熱伝達のための水回路
39 電気的供給部及び出力部を含む発熱要素
40 電気力線
41 熱伝達のための熱交換器
42 任意の流体中を通る電流のための等価電気抵抗器
43 任意のファウリングを通る電流のための等価電気抵抗器
44 等価電気抵抗器
Claims (6)
- 流体処理デバイス(2)と前記デバイスの内部機能構成部分(4)との両方又は一方の表面(3)のファウリング(5)の量を判断するファウリング検出機構(1)であって、
前記表面(3)が、流体(6)に曝露されて、ファウリングに曝されるようになっており、
前記流体処理デバイス(2)は前記流体(6)が内部を通る1つの製品回路(12)を含み、前記製品回路(12)には、熱力学的接触によって前記流体(6)を加熱する熱交換器(37)が設けられており、
前記検出機構(1)は、前記熱交換器(37)よりも下流側に位置している少なくとも1つの第1センサ(7)を含み、
前記第1センサは、前記表面(3)の近く及び内部の両方又は一方に配置された少なくとも1つの第1感応領域(8)を含む、前記流体(6)の光透明度Tを測定する手段(9)を含み、
前記第1感応領域が前記流体(6)に少なくとも一時的に曝露される、
ファウリング検出機構(1)において、
前記検出機構がさらに、前記熱交換器(37)よりも上流側に位置している第2センサ(107)を含み、
前記第2センサは、
前記流体(6)の光透明度T’を測定する手段(109)と、
ファウリングに曝されない第2感応領域(108)と、
を含み、
前記ファウリング検出機構(1)がさらに、ファウリングパラメータSを判断するために、前記第1感応領域及び前記第2感応領域で測定された光透明度(T、T’)同士の間の差及び相対差の両方又は一方、つまり(T−T’)/T又はT−T’を計算する計算デバイス(32)を備える、
ファウリング検出機構(1)。 - 前記第1センサ(7)はさらに、前記流体(6)の伝導性導電率Qを測定する手段(9)を含み、かつ前記表面(3)の近く及び内部の両方又は一方に配置された少なくとも1つの第1感応領域(8)を含み、
前記第1感応領域が前記流体(6)に少なくとも一時的に曝露され、
前記第2センサ(107)はさらに、
前記流体(6)の導電率Q’を測定する手段(109)と、
ファウリングに曝されない第2感応領域(108)と、
を含み、
前記計算デバイス(32)がさらに、前記ファウリングパラメータSを判断するために、前記第1感応領域及び前記第2感応領域で測定された導電率(Q、Q’)同士の間の差及び相対差の両方又は一方、つまり、(Q−Q’)/Q又はQ−Q’を計算する、
請求項1に記載のファウリング検出機構(1)。 - 前記第1センサ(7)の前記第1感応領域(8)は、少なくとも1つの第1導電性表面(10)を含み、
前記第1センサ(7)はさらに第2導電性表面(11)を含み、
前記第2導電性表面は、前記流体に少なくとも一時的に曝露される、
請求項1又は2に記載のファウリング検出機構(1)。 - 前記第1センサ(7)の前記第1領域(8)が少なくとも1つの光学的に透明な窓を含み、
光透明度を測定する前記手段が光源と光検出器とを含み、
前記光源が前記透明な窓を通して前記流体(6)中に光を放射し、
前記光検出器が、前記流体(6)から前記検出器内に散乱された光を検出する、
請求項1〜3のいずれか1項に記載のファウリング検出機構(1)。 - 前記検出機構(1)は、下記デバイス、すなわち、
測定された透明度を温度に対して基準化するための温度測定デバイス(30)、
前記表面のファウリングによって影響されることなしに導電率を測定するための誘導性導電率測定デバイス(31)、
データ記憶デバイス(33)、及び、
前記ファウリングパラメータS及び経時的な測定データの両方又は一方を視覚化することと、クリーニング要求に関する自動推奨値を出力することとの両方又は一方を行うための視覚化デバイス(34)、
のうちの少なくとも1つを含む、
請求項1〜4のいずれか1項に記載のファウリング検出機構(1)。 - 前記検出機構(1)は、下記デバイス、すなわち、
測定された導電率を温度に対して基準化するための温度測定デバイス(30)、
前記表面のファウリングによって影響されることなしに導電率を測定するための誘導性導電率測定デバイス(31)、
データ記憶デバイス(33)、及び、
前記ファウリングパラメータS及び経時的な測定データの両方又は一方を視覚化することと、クリーニング要求に関する自動推奨値を出力することとの両方又は一方を行うための視覚化デバイス(34)、
のうちの少なくとも1つを含む、
請求項2に記載のファウリング検出機構(1)。
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