JP5854925B2 - Vacuum valve - Google Patents
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Description
この発明は、真空の優れた拡散性能と絶縁性能を活用して回路電流を遮断する真空バルブに関するものである。 The present invention relates to a vacuum valve that cuts off a circuit current by utilizing the excellent diffusion performance and insulation performance of a vacuum.
真空バルブに組み込まれる電極では、接点の背後にコイルを設けることで、接点間に発生する真空アークに対して磁界を印加し、アークを駆動・拡散する技術が広く用いられている。これにより接点の一部分のみが集中加熱され多量のプラズマが生じることを防ぎ、遮断性能を向上させることができる。遮断性能に加えて、真空バルブでは良好な絶縁性能が要求される。コイルは通電性能を確保するために銅を主体とした金属で構成されるが、銅の絶縁性能は低くコイルから放電が生じ易い。特許文献1に示す真空バルブ用電極では、コイルの表面に対してクロムやタングステンで被膜を施す技術が開示されている。これにより電流遮断中の電極間において、コイルに起因する放電の発生を防止している。
また真空バルブは円筒型の絶縁容器内に電極が配置される構造であり、電流遮断時に発生する電極材料の蒸気によって絶縁容器が汚損されると、絶縁性能が低下してしまう。そのため、電極を囲むようにシールドを配置して絶縁容器を保護する構造をとることが多い。コストや設置容積の観点からは、シールド及び絶縁容器の容積を小型化することが望ましいが、電極とシールド間の距離を不用意に縮めると、両者の間で放電が発生してしまう問題がある。特許文献2では電極のうちシールドと対向する箇所に、高い絶縁性能を有する溶融層もしくは金属被膜を設けることで、電極とシールドの間に発生する放電を抑制し、真空バルブの小型化を図る技術が開示されている。
In an electrode incorporated in a vacuum valve, a technique of driving and diffusing an arc by applying a magnetic field to a vacuum arc generated between the contacts by providing a coil behind the contacts is widely used. As a result, only a part of the contacts is heated in a concentrated manner to prevent a large amount of plasma from being generated, and the interruption performance can be improved. In addition to shut-off performance, vacuum valves require good insulation performance. The coil is made of a metal mainly composed of copper in order to ensure current-carrying performance, but the insulation performance of copper is low and electric discharge is likely to occur from the coil. In the vacuum valve electrode disclosed in
The vacuum valve has a structure in which an electrode is disposed in a cylindrical insulating container. If the insulating container is contaminated by the vapor of the electrode material generated when the current is interrupted, the insulating performance is deteriorated. Therefore, in many cases, a shield is arranged so as to surround the electrode to protect the insulating container. From the viewpoint of cost and installation volume, it is desirable to reduce the volume of the shield and the insulating container. However, if the distance between the electrode and the shield is reduced carelessly, there is a problem that electric discharge occurs between the two. .
前記のように真空バルブの電極のうち、接点の接触面から見て側面側に金属被膜を施すことが、電極とシールド間の放電抑制、及び電流遮断時の電極間における放電抑制に効果的であることが知られている。しかしながら金属被膜からの暗流放出によってシールドの浮遊電位が変化し、絶縁容器沿面における放電が誘発されることがある。電極に施す金属被膜が、電極と直接関係のない絶縁容器の沿面放電に影響するという事実はこれまで明らかにされておらず、前記放電を抑制するための被膜設計は行われていなかった。そのため製造プロセスにおいて絶縁性能安定化のための処理工程が長くなり、製造コストが増加するという課題があった。 As described above, it is effective to suppress the discharge between the electrode and the shield and the discharge between the electrodes when the current is interrupted by applying the metal film on the side surface of the electrode of the vacuum valve as viewed from the contact surface of the contact. It is known that there is. However, the discharge of the dark current from the metal coating may change the floating potential of the shield and induce a discharge along the surface of the insulating container. The fact that the metal coating applied to the electrode affects the creeping discharge of the insulating container not directly related to the electrode has not been clarified so far, and the coating design for suppressing the discharge has not been performed. For this reason, there has been a problem that the processing steps for stabilizing the insulation performance in the manufacturing process become long and the manufacturing cost increases.
この発明は上記のような実状に鑑みなされたもので、被膜からの暗流放出が抑制され、シールド電位の偏りによる沿面放電の誘発を防止することで、絶縁性能安定化の処理工程の短縮が可能で、安価にできる真空バルブを提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and the discharge of dark current from the coating is suppressed, and by preventing the occurrence of creeping discharge due to the bias of the shield potential, it is possible to shorten the treatment process for stabilizing the insulation performance. Therefore, an object is to provide a vacuum valve that can be made inexpensive.
この発明に係る真空バルブは、真空容器内に対向された一対の接点を、それぞれ接点保持部を介して保持して前記一対の接点が接離されるように設けられた一対の電極と、対向された前記一対の接点及び前記接点保持部のまわりを包囲するように形成され前記真空容器に固定されたシールドと、を備え、前記一対の接点及び前記一対の接点保持部の少なくとも一方における前記シールドと対向する箇所に、ニッケルメッキ層を設けたものであって、前記接点保持部の外方部に、前記接点と前記電極を構成する棒状に形成された導体とを電気的に直列に接続するコイル電極を備え、該コイル電極における前記シールドと対向する箇所に前記ニッケルメッキ層が設けられていることを特徴とするものである。
また、この発明に係る真空バルブは、真空容器内に対向された一対の接点を、それぞれ接点保持部を介して保持して前記一対の接点が接離されるように設けられた一対の電極と、対向された前記一対の接点及び前記接点保持部のまわりを包囲するように形成され前記真空容器に固定されたシールドと、を備え、前記一対の接点及び前記一対の接点保持部の少なくとも一方における前記シールドと対向する箇所に、ニッケルメッキ層を設けたものであって、前記一対の接点及び前記一対の接点保持部の内、前記シールドとの距離が近い部材に前記ニッケルメッキ層を設けるとともに、前記接点保持部は、前記電極を構成する棒状に形成された導体の一部からなり、その棒状の導体よりも大径に形成された前記接点の外周面部に前記ニッケルメッキ層を設けたことを特徴とするものである。
また、この発明に係る真空バルブは、真空容器内に対向された一対の接点を、それぞれ接点保持部を介して保持して前記一対の接点が接離されるように設けられた一対の電極と、対向された前記一対の接点及び前記接点保持部のまわりを包囲するように形成され前記真空容器に固定されたシールドと、前記接点保持部の外方部に、前記接点と前記電極を構成する棒状に形成された導体とを電気的に直列に接続するコイル電極と、を備え、前記一対の接点、前記一対の接点保持部、及び前記コイル電極で構成される三つの部材のうち最も外径が大きな部材の少なくとも一つにおける前記シールドと対向する箇所に、ニッケルメッキ層を設けたことを特徴とするものである。
The vacuum valve according to the present invention is opposed to a pair of electrodes provided so that the pair of contacts opposed to each other in the vacuum vessel are held via contact holding portions and the pair of contacts are contacted and separated. And a shield fixed to the vacuum vessel so as to surround the pair of contacts and the contact holding portion, and the shield in at least one of the pair of contacts and the pair of contact holding portions. A coil in which a nickel plating layer is provided at an opposite position, and the contact and the conductor formed in a rod shape constituting the electrode are electrically connected in series to the outer portion of the contact holding portion An electrode is provided, and the nickel plating layer is provided at a location facing the shield in the coil electrode .
Further, the vacuum valve according to the present invention includes a pair of electrodes provided so that the pair of contacts opposed to each other in the vacuum vessel is held via a contact holding portion and the pair of contacts are contacted and separated. A shield fixed to the vacuum vessel so as to surround the pair of opposed contacts and the contact holding portion, and at least one of the pair of contacts and the pair of contact holding portions A nickel plating layer is provided at a location facing the shield, and the nickel plating layer is provided on a member that is close to the shield among the pair of contacts and the pair of contact holding portions, and The contact holding part is composed of a part of a bar-shaped conductor constituting the electrode, and the nickel mem- brane is formed on the outer peripheral surface part of the contact having a larger diameter than the bar-shaped conductor. It is characterized in that a layer.
Further, the vacuum valve according to the present invention includes a pair of electrodes provided so that the pair of contacts opposed to each other in the vacuum vessel is held via a contact holding portion and the pair of contacts are contacted and separated. A shield formed so as to surround the pair of opposed contacts and the contact holding portion and fixed to the vacuum vessel, and a rod-like shape constituting the contact and the electrode on an outer portion of the contact holding portion A coil electrode that is electrically connected in series with the conductor formed in the outermost diameter of the three members formed by the pair of contacts, the pair of contact holding portions, and the coil electrode. A nickel plating layer is provided at a location facing at least one of the large members facing the shield.
この発明によれば、仕事関数の高いニッケルを被膜材料に用いたことで被膜からの暗流放出が抑制されるため、シールド電位の偏りによるセラミック沿面放電の誘発を防止することができる。これにより絶縁性能安定化の処理工程が短縮され、真空バルブを安価に提供することができる。 According to this invention, since nickel having a high work function is used for the coating material, the discharge of the dark current from the coating is suppressed, so that it is possible to prevent the induction of the ceramic creeping discharge due to the bias of the shield potential. As a result, the process for stabilizing the insulation performance is shortened, and the vacuum valve can be provided at a low cost.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態に係る真空バルブを示す断面図である。図において、真空バルブは、両端に固定側端板1と可動側端板2が接合され、内部が真空に保たれた円筒型の絶縁容器3と、固定側端板1に接合された棒状の固定側導体41、及び固定側導体41の容器内先端部に固定側接点保持部42を介して接合された固定側接点43からなる固定側電極4と、可動側端板2に設けられたベローズ6を介して気密を保持して軸A方向に移動可能に保持された棒状の可動側導体51及び可動側導体51の容器内側先端部に可動側接点保持部52を介して接合され固定側接点43と対向された可動側接点53からなる可動側電極5と、固定側接点43、固定側接点保持部42、可動側接点53、及び可動側接点保持部52のまわりを包囲するように形成され絶縁容器3に固定されたシールド7と、を備えている。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a vacuum valve according to an embodiment of the present invention. In the figure, the vacuum valve has a cylindrical
そして、前記固定側接点43、固定側接点保持部42、可動側接点53、及び可動側接点保持部52のシールド7に対向している面には、本発明の特徴部分の1つであるニッケルメッキ層8が設けられている。ニッケルメッキ層8は、シールド7に向かって発生する放電を抑制するためのもので、各部材を切削加工した後に、その側面部に対して好ましくは膜厚50μm以上の厚みで施される。なお、各部材に設けられたニッケルメッキ層8を区別するために、固定側接点43、可動側接点53、固定側接点保持部42、及び可動側接点保持部52の順に、ニッケルメッキ層8を、それぞれニッケルメッキ層8a、ニッケルメッキ層8b、ニッケルメッキ層8c、及びニッケルメッキ層8dと呼ぶことがある。
The surface of the fixed
前記固定側接点保持部42と可動側接点保持部52は、固定側接点43と可動側接点53をそれぞれ位置ずれなく導体に固定するものであり、例えば固定側導体41及び可動側導体51に対して切削加工を施すことで固定側導体41及び可動側導体51と一体に形成してもよいし、固定側導体41及び可動側導体51に別の部材を接合することで設けてもよい。また、ベローズ6は可撓性を持つため、内部を真空に保った状態で可動側接点53を軸Aに沿って紙面左右方向に動作させることができる。前記動作により固定側接点43と可動側接点53を接触または開離させることで、回路電流の開閉を行う。その他の構成は、従来のものと同様であるので説明を省略する。
The fixed-side
次に、前記のように構成された実施の形態1の動作について説明する。前記のような真空バルブによって回路電流が遮断されたときには、固定側接点43と可動側接点53から金属蒸気が発生する。シールド7は、前記金属蒸気が絶縁容器3の内面に付着して、絶縁容器3の絶縁性能が低下することを防止している。また、シールド7は絶縁容器3によって支持されており、電位が浮遊する構成である。固定側端板1より金属部材を介してシールド7を支持する構成も考えられるが、この場合可動側接点53とシールド7の間に生じる電位差が大きくなるため、絶縁距離を多くとる必要があり、バルブ寸法の大型化に繋がる。本構成のようにシールド7の電位を浮遊させることで、シールド電位が自動的に固定側接点43と可動側接点53の中間電位へと変化するため、簡易な構成で必要な絶縁距離を最小化することができる。
Next, the operation of the first embodiment configured as described above will be described. When the circuit current is interrupted by the vacuum valve as described above, metal vapor is generated from the
高耐圧被膜を設けることで、真空バルブの絶縁性能を向上させる技術は既に知られているが、本構成のようにシールド7の電位が浮遊している場合には、被膜の選定が真空バルブの絶縁性能安定化処理に影響を与えるため、特別な注意が必要である。
真空中の絶縁性能は電極のミクロな表面状態に強く影響されるため、予め故意に絶縁破壊させて弱点部分を改質する電圧コンディショニング処理によって、絶縁性能を安定化させることができる。表1は、固定側接点43及び固定側接点保持部42とシールド7の間の絶縁性能を安定化させるために実施された電圧コンディショニング処理の結果をまとめたものである。なお、表1には、前記のように構成された実施の形態1による真空バルブについて測定された試験結果を、比較のためにクロムによって接点側面を被膜した比較例の真空バルブについて測定された試験結果を併記している。
A technique for improving the insulation performance of a vacuum valve by providing a high pressure-resistant coating is already known. However, when the potential of the shield 7 is floating as in this configuration, the selection of the coating is not limited to the vacuum valve. Special care is required to affect the insulation performance stabilization process.
Since the insulation performance in a vacuum is strongly influenced by the micro surface state of the electrode, the insulation performance can be stabilized by a voltage conditioning process in which a weak point portion is reformed intentionally in advance. Table 1 summarizes the results of the voltage conditioning process performed to stabilize the insulation performance between the fixed
表1から明らかなように、本実施の形態1の真空バルブでは146回の放電回数で絶縁性能が安定化しているが、クロム被膜を設けた比較例では絶縁性能安定化までに266回の放電回数を必要としている。放電箇所の内訳を見ると、本実施の形態1はほぼ全ての放電が固定側接点43とシールド7の間で発生し、電極表面状態の改質に寄与している。一方、比較例では74回もの放電が絶縁容器3の沿面を介して固定側端板1とシールド7の間で発生している。この放電は電圧コンディショニングの本来の目的である固定側接点43及び固定側接点保持部42とシールド7の間の絶縁性能安定化には寄与しないため、不必要な電圧コンディショニングを行っていると言える。
As is apparent from Table 1, the insulation performance is stabilized after the number of discharges of 146 in the vacuum valve of the first embodiment, but in the comparative example provided with the chromium film, the discharge is performed 266 times until the insulation performance is stabilized. I need a number of times. Looking at the breakdown of the discharge locations, in the first embodiment, almost all of the discharge occurs between the fixed
前記のように、接点側面の被膜が絶縁容器の沿面放電に影響する原因として、被膜からの暗流放出によるシールド浮遊電位の偏りが考えられる。接点及び接点保持部の側面には高い電界が発生するため、仕事関数が低い材料によって被膜を施すと、被膜から真空中に向かって暗流が放出される。シールド7は、固定側端板1と可動側端板2の中間電位となることを期待して電気的に浮遊させているが、暗流による電荷がシールド7に蓄積すると、シールド7の電位が中間電位から偏ってしまう。これにより絶縁容器沿面の電界が一部のみ強調され、沿面放電に至るものと考えられる。
As described above, the cause of the influence of the coating on the side surface of the contact on the creeping discharge of the insulating container is the bias of the shield floating potential due to the discharge of dark current from the coating. Since a high electric field is generated on the side surfaces of the contact and the contact holding portion, when a film is applied with a material having a low work function, a dark current is emitted from the film toward the vacuum. The shield 7 is electrically floated in the hope that it becomes an intermediate potential between the fixed
表2に金属材料について求められた仕事関数の例を示す。特許文献1などにおいて高耐圧被膜材料として用いられているクロムやタングステンは、被膜を施す対象である銅よりも仕事関数が低い。これに対して、本発明の実施の形態1で用いるニッケルは真空中での高い絶縁性能と仕事関数を合わせ持つため、絶縁容器3内の沿面放電の抑制に有効に作用していると考えられる。図2は、表2に示すニッケルとクロムの仕事関数の差が、絶縁容器の沿面電界に与える影響を計算した結果を示すグラフ図である。なお、図2において、縦軸は、接点側面にニッケルメッキを施した場合の沿面電界と、クロムによって被膜を施した場合の沿面電界の比である。図2から、電圧印加時間が長くなると、ニッケルメッキの効果が顕著になり、クロム被膜の場合よりも最大で12%沿面電界が低減されることが分かる。
Table 2 shows examples of work functions obtained for metal materials. Chromium and tungsten used as a high pressure-resistant coating material in
接点の側面に被膜を設ける技術に関しては、例えば上記特許文献2などでも示されている。同文献では被膜によって接点とシールド7の間の絶縁性能を向上させ、真空バルブの小型化を図っている。それに対して本願発明者らは、接点側面のメッキ層8などの被膜について更に研究を重ねた結果、接点側面の被膜が電流遮断性能の向上にも寄与していることを新たに見出した。即ち、電流遮断時に、固定側接点43と可動側接点53の対向面で生じたアーク放電が接点の側面部に移動する場合があり、接点側面に設けた高耐圧層は絶縁性能不足による遮断失敗を防止する働きがある。従来の技術においても、同様の事象が働いていると推定される。
The technique for providing a film on the side surface of the contact is also shown in, for example,
然るに、金属被膜によって電流遮断性能の向上の効果を得ようとする場合、電流遮断時のエネルギーで溶融しない充分な被膜厚とすることが必要であり、その条件を満たすように構成することで、初めてより安定した効果が期待できる。図3は、電流遮断時に接点側面へアークが移動した場合における、接点側面におけるアーク発生時間に対する、溶融するニッケルメッキ厚の関係を計算した結果を示すグラフ図である。なお、電流遮断時のアーク挙動観測により、接点側面でのアーク発生時間は最大でも4msであることが分かっている。このことから、接点側面に設けるニッケルメッキ層の膜厚が50μm未満ではニッケルメッキ層が溶融する。この実施の形態1のように、ニッケルメッキ層の厚さを50μm以上としたことで、メッキ溶融による接点の露出を防止することができ、安定した遮断性能向上の効果が得られる。 However, when trying to obtain the effect of improving the current interruption performance by the metal coating, it is necessary to have a sufficient film thickness that does not melt with the energy at the time of current interruption, and by configuring to satisfy the condition, A stable effect can be expected for the first time. FIG. 3 is a graph showing the calculation result of the relationship between the thickness of the molten nickel plating and the arc generation time on the contact side surface when the arc moves to the contact side surface when the current is interrupted. In addition, it is known from the arc behavior observation at the time of current interruption that the arc generation time on the contact side surface is 4 ms at the maximum. For this reason, if the thickness of the nickel plating layer provided on the contact side surface is less than 50 μm, the nickel plating layer is melted. As in the first embodiment, by setting the thickness of the nickel plating layer to 50 μm or more, it is possible to prevent the contact from being exposed due to plating melting, and the effect of improving the stable breaking performance can be obtained.
上記のように、実施の形態1によれば、一対の固定側接点43及び可動側接点53、並びに一対の固定側接点保持部42及び可動側接点保持部52におけるシールド7と対向する外周面に、仕事関数の高いニッケルメッキ層8を50μm以上の膜厚で設けるようにしたことにより、ニッケルメッキ層8の被膜からの暗流放出が抑制され、シールド電位の偏りによる絶縁容器3の沿面電界が強調されることがなくなるため、絶縁容器3の沿面放電の誘発を防止することができる。これにより絶縁性能安定化のための真空バルブの電圧コンディショニング処理工程が効率的に行われ、所要時間が短縮されることで製造コストが削減され、真空バルブを安価に提供することができる。また、ニッケルメッキ層8の内、厚みが最大となる箇所の膜厚が50μm以上であるようにすることで、電流遮断時に、ニッケルメッキ側にアークが移動した場合でも、ニッケルメッキが溶融して内部電極が露出しないため、良好な遮断性能が期待できる。
As described above, according to the first embodiment, the pair of fixed
実施の形態2.
実施の形態1では、固定側接点43と固定側接点保持部42、及び可動側接点53と可動側接点保持部52の各部材のシールド7に対向する外周面の全てにニッケルメッキ層8を施している。しかし接点と接点保持部のうち、外径が大きくシールド7との距離が近い部材の方が、表面に発生する電界が大きいため、暗流放出によるシールド電位変化に大きく寄与する。そのため接点と接点保持部のうち、外径の大きい部材のみにニッケルメッキ層8を設け、外径の小さい部材に対するニッケルメッキ層8は省くこともできる。例えば図1の例においては、固定側接点43及び可動側接点53の外径が接点保持部42、52の外径よりも大きい。このため、ニッケルメッキ層8a、8bのみを設け、ニッケルメッキ層8c、8dは省いても良い。
In the first embodiment, the
前記のように構成された実施の形態2においては、暗流放出現象において支配的となる箇所に対してのみニッケルメッキ層を施し、その他の部位についてはニッケルメッキ層の形成処理を省くことで、ニッケルメッキ処理に要するコストを削減することができるので、より低コストな真空バルブを提供することが可能となる。 In the second embodiment configured as described above, the nickel plating layer is applied only to the portion that is dominant in the dark current emission phenomenon, and the nickel plating layer is not formed in the other portions, thereby removing the nickel plating layer. Since the cost required for the plating process can be reduced, a lower cost vacuum valve can be provided.
実施の形態3.
図4は本発明の実施の形態3に係る真空バルブを示す断面端面図、図5は図4に示す真空バルブの電極構造の変形例を示す要部断面端面図である。図4において、例えばステンレス鋼などの金属で形成された固定側接点保持部42及び可動側接点保持部52は、軸Aの中心部分でそれぞれ対応する固定側接点43、または可動側接点53を保持している。そして、これら接点保持部42、52の軸Aに対する外方部には、棒状の固定側導体41と固定側接点43、及び棒状の可動側導体51と可動側接点53を、それぞれ電気的に直列に接続する切り込み加工が施されて形成された銅などの良導体からなる固定側コイル電極44、及び可動側コイル電極54が設けられている。
FIG. 4 is a cross-sectional end view showing a vacuum valve according to
前記固定側コイル電極44、及び可動側コイル電極54のシールド7に対向している面及び固定側及び可動側接点43、53の外周面には実施の形態1と同様のニッケルメッキ層8(8c、8d、8a、8b)が設けられている。この実施の形態3は固定側及び可動側接点43、53の背後にそれぞれ固定側及び可動側コイル電極44、54を設けることで接点間に磁界を発生させ、遮断性能を向上させる構成となっている。なお、図5の変形例に示すように、固定側コイル電極44、及び可動側コイル電極54の外径を、固定側及び可動側接点43、53の外径よりも大きくし、コイル電極の外周部分が外側に張り出す構成として、その張り出した部分にのみニッケルメッキ層8c、8dを設けるようにしてもよい。
The surface of the fixed
前記のように構成された実施の形態3によると、対向された一対の接点43、53間に均一な磁場が発生するため、遮断性能が向上することが期待できる。このように、コイルによる磁界を利用して遮断性能を向上させる真空バルブにおいても、請求項1と同様の効果を得ることができる。また、図5に示す変形例の構成では、固定側コイル電極44、及び可動側コイル電極54の外径を、固定側及び可動側接点43、53の外径に比べて大きくしているため、実施の形態2で述べた通り、固定側及び可動側接点43、53の外周面に対するニッケルメッキ層を省くことができるため安価に提供することができる。また、コイル電極が接点よりも外側に張り出すことで、接点間に均一な磁界を発生させ、良好な遮断性能を得ることができる。
According to the third embodiment configured as described above, since a uniform magnetic field is generated between the pair of contact points 43 and 53 facing each other, it can be expected that the breaking performance is improved. Thus, also in the vacuum valve which improves the interruption | blocking performance using the magnetic field by a coil, the effect similar to
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態の一部または全部を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。 It should be noted that within the scope of the present invention, a part or all of each embodiment can be freely combined, or each embodiment can be appropriately modified or omitted.
1 固定側端板、 2 可動側端板、 3 絶縁容器、 4 固定側電極、 41 固定側導体、 42 固定側接点保持部、 43 固定側接点、 44 固定側コイル電極、 5 可動側電極、 51 可動側導体、 52 可動側接点保持部、 53 可動側接点、 54 可動側コイル電極、 6 ベローズ、 7 シールド、 8(8a、8b、8c、8d) ニッケルメッキ層、 A 軸。
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