JP5838786B2 - 基体表面の傷の修復方法 - Google Patents

基体表面の傷の修復方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5838786B2
JP5838786B2 JP2011279973A JP2011279973A JP5838786B2 JP 5838786 B2 JP5838786 B2 JP 5838786B2 JP 2011279973 A JP2011279973 A JP 2011279973A JP 2011279973 A JP2011279973 A JP 2011279973A JP 5838786 B2 JP5838786 B2 JP 5838786B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
precursor
substrate
scratches
substrate surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011279973A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013129565A (ja
Inventor
聡里 平井
聡里 平井
美徳 原田
美徳 原田
一喜 新井
一喜 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tosoh Corp
Original Assignee
Tosoh Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tosoh Corp filed Critical Tosoh Corp
Priority to JP2011279973A priority Critical patent/JP5838786B2/ja
Publication of JP2013129565A publication Critical patent/JP2013129565A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5838786B2 publication Critical patent/JP5838786B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Description

本発明は、基体表面の微細な傷を短時間で局部的に修復する方法に関する。
半導体や液晶分野で用いる基体の表面の微細な傷は、光の散乱や透過率の低下などを引き起こすため、しばしば問題となる。これまで、この微細な傷を除去または修復する方法がいくつか提案されている。一般的に知られる方法は、化学的機械的研磨により、基体表面を傷の深さ以上研磨し、傷を除去するものである。しかしながら、この方法では傷を除去するのに、基板1枚当たり極めて時間を要し、生産性に欠けるという問題があった。
そこで、特許文献1では、傷が生じたガラス基体に、当該基体と屈折率の等しい平坦化物質を全面に塗布して、傷を修復する方法を提案している。しかしながら、この方法では傷の無い部分にまで平坦化物質を塗布せねばならず、原料の無駄が多い。また、基体が大型の場合には全面に均一に塗布することは極めて困難であった。
特開平10−333132公報
本発明の目的は、基体表面の微細な傷を、短時間で局部的に修復する方法を提供することである。
本発明者らは、基体表面の微細な傷の修復において、傷周辺部にプレカーサを供給し、前記プレカーサに対してプレカーサの分解反応を起こす第1レーザを、傷部に対して基体の温度上昇を起こす第2レーザを各々同時に照射することで、傷部を前記プレカーサの反応物質で埋め、これによって傷を短時間で局部的に修復することができることを見出し、本発明を完成するに至った。
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明は、基体表面の傷周辺部にプレカーサを供給し、前記プレカーサに対してプレカーサの分解反応を起こす第1レーザを、傷部に対して基体の温度上昇を起こす第2レーザを各々同時に照射することを特徴とする、基体表面の微細な傷の修復方法に関する。
まず、基体表面の傷周辺部にプレカーサを供給する方法について説明する。
本発明で用いる基体としては、石英ガラス基板やSiウエハーなどの表面に微細な傷があると特定用途に使用することができないものが好ましい。
本発明で用いるプレカーサとしては、傷を修復できるものであれば特に制限は無いが、取扱い易さを鑑みると金属―酸素結合を持つ化合物が好ましい。金属―酸素結合を持つ化合物としては例えば、Si−O結合、Ti−O結合、Zr−O結合を有する化合物を用いることができる。Si−O結合を有する化合物の例としては、シリコーンオイル、テトラエトキシシランなどのシリコンアルコキシド、オクタメチルシクロテトラシロキサンなどの環状シロキサンなどが挙げられる。
これらのプレカーサのうち常温で液体であるプレカーサは、あらかじめ熱によって気化させて用いる。
プレカーサを供給する方法は特に限定されないが、例えばキャリアガスを用いて供給する方法がある。
次に、前記プレカーサに対してプレカーサの分解反応を起こす第1レーザを、傷部に対して基体の温度上昇を起こす第2レーザを各々同時に照射する方法について、図面を用いて説明する。
本発明で用いる第1レーザ(図1中の4)はプレカーサ(図1中の3)に対して照射され、その効果はプレカーサの分解を引き起こすものである。
第1レーザのレーザ種はプレカーサの分解反応を起こすものであればよく、プレカーサの光分解を起こすことが知られている波長150〜380nmの紫外線レーザを用いることが好ましい。
第1レーザの光径は、特に限定されない。
第1レーザの照射方向は、第1レーザによる基体の光励起や温度上昇を起こさないという点で、基体に対し平行に照射することが好ましい。
第1レーザの光路は、第1レーザにより分解した物質を即座に傷部に供給するという点で、傷部の直上部を通ることが好ましい。ただし、光路を基体に近づけすぎると、光吸収により加温した雰囲気ガスの対流や輻射による基体の温度上昇が起こる可能性があるので注意が必要である。
本発明で用いる第2レーザ(図1中の5)は傷部(図1中の2)に対して照射され、その効果は傷部を局所的かつ急速に温度上昇をさせることで、第1レーザにより分解した物質を傷部にのみ高速で固体形成させるものである。
第2レーザのレーザ種は基体の温度上昇を起こすものであればよく、波長800〜11000nmの赤外線レーザが好ましく、このうち、パルス発振型のレーザまたは、連続発振型レーザであれば断続的にレーザ光が照射されるように処理したものがさらに好ましい。前述のように第2レーザは傷部を加熱する役割を持つ。仮にこの加熱を連続的に行なえば、熱伝導によって傷の周辺部までも加温されてしまい、局部的な固体形成が困難となる。そのため、傷周辺部が加温されないよう、断続的に発振するレーザによって、瞬間的な加熱と放熱を繰り返すことがよい。
第2レーザの光径は特に限定されないが、傷部のみに第2レーザを照射するという点で、光径が傷部の大きさと同程度となるよう光学装置(図1中の6)で調整し、照射することが好ましい。
これら第1レーザと第2レーザを同時に照射することで、傷部を原料プレカーサの反応物質で埋め、これによって短時間で局部的に傷を修復することができる。
レーザを照射する際の石英ガラス基体の温度は、プレカーサの結露が生じる温度より高くする必要がある。ただし、基体温度を高くしすぎると傷の周辺部においても固体が形成される恐れがあるので注意が必要である。
レーザを照射する際の圧力は特に限定されず、大気圧下で行うこともできる。
レーザの照射時間は、傷の深さによって変動するもので、傷部が形成物質で埋まるまで照射すればよい。
本発明の傷修復方法において、レーザ照射後にエッチング処理を行なうこともできる。この効果は、傷を修復した後、その傷の深さ以上の厚みをエッチング処理することで、表面の平滑性を維持しつつ、元の傷部を除去するものである。
エッチングの方法は特に限定されず、乾式エッチングでも湿式エッチングでも良い。
基体が石英ガラスの場合、乾式エッチングとしては四フッ化メタン、湿式エッチングとしてはフッ化水素酸が広く利用されている。
このエッチング処理は、基体を構成する物質以外の原子を含有するプレカーサにより傷を修復した場合に特に有用である。例えば石英ガラス基体に対して上記のようなプレカーサで傷を修復した場合、修復部と石英ガラス基体の屈折率が異なるため、修復部で光学的異常が発生する可能性がある。そこで、修復部と石英ガラス基体を、それぞれのエッチングレートがほぼ等しくなるエッチング条件で、傷の深さ以上の厚みをエッチングし、表面の平滑性を維持しつつ、修復部および元の傷部を除去する。
例えば、プレカーサにTi−O結合を有する化合物を用いれば、傷部にはTiOが形成される。TiOはフッ化水素酸ではエッチングされない。TiOの湿式エッチング液としては、例えば炭酸アンモニウムと過酸化水素の混合溶液がある(特開2004−71585号公報参照)。石英ガラスは当該混合溶液ではエッチングされない。よって、TiOと石英ガラス基体は、フッ化水素酸と炭酸アンモニウムと過酸化水素を適当な濃度で混合した混合溶液によって、同レートでエッチングされ、表面の平滑性を維持しつつ、元の傷部を除去することができる。
本発明により基体表面上の微細な傷を短時間で局部的に修復することが可能となる。
本発明に係る第1レーザ及び第2レーザの照射方法の一例を示す概略図である。
以下に実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明は係る実施例に限定されるものではない。
なお、膜厚は単色エリプソメトリー法によって測定した。
実施例1
オクタメチルシクロテトラシロキサンをプレカーサ、Siウエハ(20mm×20mm×0.73mm)を基体とし、下記の要領でシリカ質の膜を得た。
まず、オクタメチルシクロテトラシロキサンを70℃に加熱し気化させ、これを、空気をキャリアガスとして、75℃に加熱したSiウエハに供給した。ここに、Siウエハの上方からSiウエハに対してYAGレーザ(波長1064nm)を、Siウエハから5mm上方をSiウエハに対して平行にArFレーザ(波長193nm)を大気圧下で照射した。その際の照射時間は、レーザ照射領域に形成する膜の中心膜厚が900nmとなる時間であった。その結果、レーザ照射領域では膜は形成されていたが、レーザ照射領域から1mm外側では膜は形成されていなかった。
比較例1
オクタメチルシクロテトラシロキサンをプレカーサ、Siウエハ(20mm×20mm×0.73mm)を基体とし、下記の要領でシリカ質の膜を得た。
まず、オクタメチルシクロテトラシロキサンを70℃に加熱し気化させ、これを、空気をキャリアガスとして、300℃に加熱したSiウエハに供給した。ここに、Siウエハの上方からSiウエハに対してArFレーザ(波長193nm)を照射した。その際の照射時間は、レーザ照射領域に形成した膜の中心膜厚が900nmとなる時間であった。その結果、基体上には膜が形成され、レーザ照射領域から1mm外側の膜の膜厚は450nmであった。
基体表面上の微細な傷を、短時間で局部的に修復することができ、生産の歩留まりを向上させることができる。
1: 基体
2: 基体表面上の微細な傷
3: プレカーサ
4: 第1レーザ
5: 第2レーザ
6: 集光用レンズ

Claims (6)

  1. 基体表面の微細な傷の周辺部にプレカーサを供給し、前記プレカーサに対してプレカーサの分解反応を起こす第1レーザを、傷部に対して基体の温度上昇を起こす第2レーザを各々同時に照射することで、傷部を前記プレカーサの反応物質で埋めることを特徴とする基体表面の微細な傷の修復方法。
  2. 基体が石英ガラス基板であることを特徴とする請求項1に記載の基体表面の微細な傷の修復方法。
  3. 第1レーザが波長150〜380nmの紫外線レーザ、第2レーザが波長800〜11000nmの赤外線レーザであることを特徴とする請求項1または2に記載の基体表面の微細な傷の修復方法。
  4. プレカーサが、金属―酸素結合を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の基体表面の微細な傷の修復方法。
  5. プレカーサが、シロキサン(Si−O)結合を有することを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の基体表面の微細な傷の修復方法。
  6. 第1レーザ及び第2レーザの照射後、傷部に形成した物質と基体のエッチングレートがほぼ等しくなるエッチング条件で、傷の深さ以上の厚みをエッチングする工程を含む請求項1〜5のいずれかに記載の基体表面の微細な傷の修復方法。
JP2011279973A 2011-12-21 2011-12-21 基体表面の傷の修復方法 Active JP5838786B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011279973A JP5838786B2 (ja) 2011-12-21 2011-12-21 基体表面の傷の修復方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011279973A JP5838786B2 (ja) 2011-12-21 2011-12-21 基体表面の傷の修復方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013129565A JP2013129565A (ja) 2013-07-04
JP5838786B2 true JP5838786B2 (ja) 2016-01-06

Family

ID=48907451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011279973A Active JP5838786B2 (ja) 2011-12-21 2011-12-21 基体表面の傷の修復方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5838786B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110590134B (zh) * 2019-09-23 2021-09-28 北京圣手汽车装饰服务有限公司 一种汽车前挡风玻璃修复方法
CN114075043B (zh) * 2020-08-13 2023-12-05 重庆莱宝科技有限公司 一种玻璃修复方法和玻璃修复设备
CN112723756B (zh) * 2020-12-25 2023-01-06 中国人民解放军国防科技大学 用于熔石英元件表面激光辐照损伤缺陷的组合修复方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2814998B2 (ja) * 1996-08-16 1998-10-27 日本電気株式会社 半導体素子膜の形成方法およびその形成装置
JP5861441B2 (ja) * 2011-12-19 2016-02-16 東ソー株式会社 基体表面の傷の修復方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013129565A (ja) 2013-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2931672B1 (en) Glass articles and methods for controlled bonding of glass sheets with carriers
JP6703617B2 (ja) 分離されるべき固体物の複合レーザ処理
KR100999002B1 (ko) 반도체 웨이퍼 처리 방법 및 장치
JP5838786B2 (ja) 基体表面の傷の修復方法
TW201202841A (en) Light processing apparatus and light processing method
JP2009260315A5 (ja)
KR20150067057A (ko) 반사 방지 기능을 갖는 부재 및 그 제조 방법
JP5306404B2 (ja) パターン形成方法
US20080296258A1 (en) Plenum reactor system
JP2013069902A (ja) テンプレートの再生方法および再生装置
JP3429752B2 (ja) 透明物質の接合方法並びに接合された石英ガラス板及びそれを用いた装置
JP5861441B2 (ja) 基体表面の傷の修復方法
TW201716245A (zh) 用於將片材與載體鍵結之物件及方法
JP2014007260A (ja) インプリント装置、収納ケース及び物品の製造方法
TWI608133B (zh) 一種形成氧化層和磊晶層的方法
US11548208B2 (en) Template, method for manufacturing template, and pattern formation method
JP7204105B2 (ja) 加工方法及び加工装置
JP4921206B2 (ja) 液晶パネルの製造方法
JP3820443B2 (ja) レーザーアブレーションを利用したSiO2膜の形成法及び装置
JP6507061B2 (ja) 基板処理方法
JP7372445B2 (ja) エッチング方法およびエッチング装置
JP2013017925A (ja) 光触媒反応型化学的加工方法及び装置
US20160215415A1 (en) Sapphire thinning and smoothing using high temperature wet process
JP2008260639A (ja) 貼合基材の貼合方法およびこれを用いた薄型水晶基板の製造方法
JP2012009555A (ja) エピタキシャル成長装置およびそのクリーニング方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141204

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150731

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150804

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150910

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151013

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151026

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5838786

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151