JP5823419B2 - 光モジュールの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、調心が容易な光モジュールの製造方法に関するものである。
光インターコネクション用光モジュールは、回路基板上に、面受発光素子と、ドライバIC又はレシーバIC等の電子部品が搭載されて用いられる。このような基板は、電子部品実装において一般的な表面実装技術が使えるため、量産性に優れる。
一方、ボードに実装されて使用される光モジュールは,利便性の面から光信号の伝送方向は回路基板と平行であることが望まれる。このため、面受発光素子と光ファイバを光結合するために、例えば特許文献1に示すように、レンズ機能と光路を90°変換するミラー機能を合わせ持つ光学ブロックが用いられる。また、特許文献2では、光導波路(光ファイバ)の端面を45°にカットすることにより90°の光路変換を実現する方法が開示されている。
特開2010−122311号公報 特開2010−540991号公報
近年、さらに量産性を上げるために、1枚の基板上にモジュール用回路を複数個面付けして、自動機で部品実装した後に個々の光モジュールに分割することが望まれている。
特許文献1、特許文献2の光モジュールでは、光学ブロックを基板に実装する際、実装ボードの実装面と平行に光伝送されるような向きで光ファイバを装着した上で、アクティブ調心する必要がある。しかし、2次元的に複数個の回路基板が面付けされた状態で、個々の光学ブロックをアクティブ調心しようとすると、調心に用いられる光ファイバ等と、併設する他の実装部品とが干渉する。したがって、複数個の回路基板を面付けした場合には、個々の光モジュールに分割した後でなければ、基板と光学ブロックとの調心をすることができず、量産性が悪くなるという問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、モジュール用回路を複数個面付けした基板上であっても、光学ブロックの調心を行うことが可能な光モジュールの製造方法を提供することを目的とする。
前述した目的を達するために第1の発明は、光モジュールの製造方法であって、電子部品と光素子を実装した基板上と、前記光素子と対向する光素子対向面と、前記光素子対向面に直交する垂直面と、前記光素子対向面に対して45°の角度に形成されるミラー面とを具備する光レンズアレイと、前記光素子と前記光レンズアレイとの調心を確認する調心検出面と、前記調心検出面に対して45°の角度に形成され、前記光レンズアレイの前記ミラー面と接触する接触面とを具備する光レンズブロックと、を用い、前記接触面を前記ミラー面に密着させて前記光レンズアレイと前記光レンズブロックを一体化させ、前記調心検出面と前記光素子対向面とが対向した状態で、前記光素子対向面を前記光素子に対向させて配置し、前記光素子と前記調心検出面とを一直線上に配置した状態で、前記調心検出面から前記光素子と前記光レンズアレイとの位置を検出し、前記光素子と前記光レンズアレイとを調心した後、前記光レンズブロックを撤去することを特徴とする光モジュールの製造方法である。
前記光素子対向面を前記光素子に対向させて配置した状態で、前記光素子から光を照射して前記光素子対向面に設けられたレンズに入射させ、前記光レンズアレイと前記光レンズブロックとを透過した光を前記調心検出面のレンズから出射させ、前記調心検出面の上方に設けられた検出器で光の強度を検出しながら、前記光レンズアレイの位置を微調整することで、前記光素子と前記光レンズアレイの調心を行ってもよい。
前記光素子には第1マーカ部が設けられ、前記光レンズアレイには、前記第1マーカ部に対応する位置に第2マーカ部が設けられ、前記光素子対向面を前記光素子に対向させて配置した状態で、前記調心検出面の上方から、撮像装置によって、前記第1マーカ部と前記第2マーカ部の位置を検出し、前記第1マーカ部と前記第2マーカ部とを重ね合わせるようにして、前記光素子と前記光レンズアレイとを調心してもよい。
前記光レンズアレイと前記光レンズブロックには、互いの位置決めを行う嵌合構造が設けられており、前記嵌合構造を嵌合させて前記接触面を前記ミラー面とを密着させてもよい。
前記光レンズアレイと前記光レンズブロックとは略同一の屈折率であり、前記ミラー面と前記接触面との間には、前記屈折率と略同一の屈折率を有するマッチングフィルムが設けられてもよい。
前記光レンズブロックには、前記接触面と前記調心検出面とを貫通する吸引孔が設けられ、前記光レンズアレイと前記光レンズブロックとを接触させた状態で、前記調心検出面の前記吸引孔からエアを吸引することで、前記接触面と前記ミラー面とを密着させてもよい。
前記接触面および前記ミラー面には、それぞれ対応する位置に磁石が設けられ、前記接触面と前記ミラー面とを磁力によって密着させてもよい。
第1の発明によれば、光レンズアレイと光レンズブロックとを組み合わせることで、光モジュールの光伝送方向(基板に平行な方向)とは垂直な方向(基板の上方)で調心を行うことができる。したがって、複数の電子部品等が実装された基板上であっても、調心時に、隣接する電子部品等と干渉することがない。このため、複数面付けされた基板を製造後、個々に分割する前に調心を行うことができる。
また、光レンズアレイのミラー面が光レンズブロックと密着するため、光素子から発せられた光を、ミラー面で反射させずに、光レンズブロックの上方に出射することができる。したがって、この光を検出し、光強度が最大となるように光レンズアレイの位置を調節することで、光素子と光レンズアレイの調心を行うことができる。また、光素子と光レンズアレイにそれぞれ設けられたマーカを、光レンズブロックの上方から観察し、それぞれのマーカが重なるように、光レンズアレイの位置を調節することで、調心を行うことができる。
また、光レンズアレイと光レンズブロックに、互いの位置決めを行う嵌合構造を設けることで、光レンズアレイと光レンズブロックとの位置決めが容易である。
また、光レンズアレイと光レンズブロックとを略同一の屈折率とし、ミラー面と接触面との間に、略同一の屈折率を有するマッチングフィルムを設けることで、光レンズアレイの下方に配置される光素子から発せられる光やマーカ等を、光レンズブロックの上方で効率良く検出することができる。
また、光レンズブロックと光レンズアレイとを接触させた状態で、吸引孔からエアを吸引することで、より確実にミラー面と接触面とを密着させることができる。同様に、磁石を用いても、光レンズブロックと光レンズアレイとを確実に密着させることができる。
本発明によれば、モジュール用回路を複数個面付けした基板上であっても、光学ブロックの調心を行うことが可能な光モジュールの製造方法を提供することができる。
光モジュール1を示す分解斜視図。 光モジュール1を示す組立斜視図。 光レンズアレイ11の拡大断面図。 光レンズアレイ11を基板5に実装する状態を示す斜視図。 (a)は光レンズアレイ11と光レンズブロック17とを嵌合させる前の状態を示す図、(b)は嵌合後の状態を示す図。 (a)は光レンズブロック17の平面図、(b)は、(a)のL−L線断面図。 (a)は光レンズアレイ11と光レンズブロック17とを嵌合させる前の状態を示す図、(b)は嵌合後の状態を示す図。 光レンズアレイ11aと光レンズブロック17aとを嵌合させる前の状態を示す斜視図。 光レンズアレイ11aと光レンズブロック17aとを嵌合させる前の状態を示す側面図。 (a)は、光レンズアレイ11bと光レンズブロック17bとを嵌合させた状態を示す断面図、(b)は、マーカ49a、49bの位置合わせを示す図。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。図1は、光モジュール1を示す分解斜視図であり、図2は組立斜視図である。なお、以下の図においては、光モジュール1に接続される光ファイバ等の光伝送路を有するコネクタおよびケーブル等は図示を省略する。
光モジュール1は、主にカバー3、基板5、電子部品7、光素子アレイ9、光レンズアレイ11等から構成される。基板5には、予め回路が形成されており、基板5上に電子部品7、光素子アレイ9等が実装される。光素子アレイ9は、例えば、垂直共振器面発光レーザ(VCSEL)などの半導体レーザや、フォトダイオードアレイ等が適用される。光素子アレイ9は、光の発光部または受光部となる。
電子部品7は、ドライバIC又はレシーバIC等のICチップ等である。基板5では、光電変換が行われる。なお、基板5上には、図示を省略したコンデンサ等の他の電子部品も適宜配置される。
カバー3は、例えば樹脂製である。カバー3は基板5と接合される。カバー3の光素子アレイ9上に位置する部位には、光レンズアレイ11が配置される。光レンズアレイ11は、複数のレンズが併設された例えばガラス製の部材である。
図3は、光レンズアレイ11の断面図である。光レンズアレイ11は、光素子アレイ9と対向する光素子対向面25と、光を90°反射させるミラー面31と、光を伝送する光伝送路29と対向する光伝送路対向面27から構成される。光伝送路対向面27は、光素子対向面25に対して略直交する垂直面である。また、ミラー面31は、光素子対向面25および光伝送路対向面27に対して略45°の角度で形成される。すなわち、光レンズアレイ11の断面形状は、略直角二等辺三角形となる。
光素子アレイ9から出射した光(図中矢印D)は、光素子対向面25に設けられたレンズ23aを介して光レンズアレイ11に入射する。光レンズアレイ11に入射した光は、光レンズアレイ11のミラー面31の内面で90°光路が変換され、光伝送路対向面27に設けられたレンズ23bを介して、光伝送路29に出射される(図中矢印E)。光伝送路29から光が入射した場合にはその逆の光路となる。
ミラー面31には、嵌合部33aが設けられる。嵌合部33aは、前述した光路とは異なる位置に設けられる。なお、嵌合部33aの形状および配置は、図示した例には限られない。
次に、光レンズアレイ11を光モジュール1に配置する工程について説明する。図4は、光レンズアレイ11を基板5に実装する状態を示す斜視図である。
まず、基板集合体13上に、複数の電子部品7と光素子アレイ9が実装される。基板集合体13は、複数の基板5が一体で併設された部材である。基板集合体13の下方には、テスト台19が設置される。テスト台19には、基板5に対応した位置に、電極21が設けられる。電極21は、スプリングプローブであり、基板5の下面の回路に押し当てられる。電極21から各基板の電子部品7へ電力が供給される。
基板集合体13をテスト台19上に設置した状態で、まず、ピックアップツール15によって光レンズアレイ11が保持される(図中矢印A)。ピックアップツール15の先端には、光レンズブロック17が設けられる。光レンズブロック17の詳細は後述する。
ピックアップツール15によって光レンズアレイ11を保持した後、基板集合体13の上空の所定の位置に移動させ(図中矢印B)、基板集合体13の所定の位置に配置する(図中矢印C)。この際、光レンズアレイ11と光素子アレイ9との調心が行われて、光レンズアレイ11が適切な位置に設置される。
より具体的には、あらかじめ基板集合体13の所定の位置にたとえばUV接着剤を塗布しておき、光レンズアレイ11と光素子アレイ9との調心が行われた後、ピックアップツール15で最適位置を保持した状態で、UV照射して接着剤を硬化する。その後、光レンズアレイ11をピックアップツール15から分離する。
なお、基板集合体13と光レンズアレイ11の接着には、UV接着剤に限らず、熱硬化接着剤や半田を用いることもできる。この場合は、同様に、ピックアップツール15で最適位置を保持した状態で、局所加熱等で熱硬化接着剤や半田を硬化し、固定する。
全ての光レンズアレイ11が設置された後、基板集合体13は、各基板5に分割される。なお、本発明では、個々に分割された後の基板5に対して光レンズアレイ11を設置する際にも当然に利用可能である。
次に、光レンズブロック17の機能について説明する。図5(a)は、光レンズアレイ11と光レンズブロック17とを嵌合させる前の状態を示す断面図である。光レンズブロック17は、光レンズアレイ11のミラー面31と接触する接触面37と、接触面37に対して略45°の角度に形成される調心検出面35を有する。すなわち、光レンズブロック17の接触面37を光レンズアレイ11のミラー面31に接触させると、光レンズブロック17の調心検出面35は、光レンズアレイ11の光素子対向面25と略平行に対向する。
接触面37には、嵌合部33bが設けられる。嵌合部33bは、光レンズアレイ11の嵌合部33aと嵌合可能である。したがって、嵌合部33a、33bを嵌合させることで、光レンズブロック17と光レンズアレイ11とを位置決めして、接触面37とミラー面31とを密着させることができる(図中矢印F方向)。
図5(b)は、接触面37とミラー面31とを接触させ、光レンズブロック17と光レンズアレイ11を一体化した状態を示す断面図である。ここで、光レンズブロック17と光レンズアレイ11とは、略同一の屈折率を有する材質で構成される。例えば、両者は同一のガラス素材で構成される。また、接触面37の表面の一部には、必要に応じてマッチングフィルム41が設けられる。したがって、接触面37とミラー面31とを接触させた際に、互いの隙間に空気層等が形成されることを抑制することができる。また、マッチングフィルム41は、光レンズブロック17と光レンズアレイ11と、略同一の屈折率を有する。このようにすることで、光レンズアレイ11と光レンズブロック17との境界における屈折率の変化を最小限にすることができる。
この状態で、光レンズアレイ11の下方に配置された光素子アレイ9(図示省略)から光(レーザ)を照射すると、光は、まず、光素子対向面25に設けられたレンズ23aを介して光レンズアレイ11に入射する。ここで、ミラー面31と接触面37とは、略同一の屈折率で密着するため、光は、境界でほとんど反射しない。したがって、光レンズアレイ11に入射した光は、まっすぐ上方に進み、光レンズブロック17に入射する。
さらに、光レンズブロック17に入射した光は、調心検出面35に形成されたレンズ39を介して、外部に出射される(図中矢印G)。出射された光は、光レンズブロック17の上方に設けられ、調心検出面35に対向して配置された検出器43で検出される。検出器43は、光の入射強度を測定可能である。したがって、光素子アレイ9から光を照射した状態で、光レンズアレイ11の位置を微調整し、検出器43で検出される光の強度が最も高くなる位置に光レンズアレイ11を配置することで、光素子アレイ9と光レンズアレイ11との調心を行うことができる。なお、光素子アレイ9に対する光レンズアレイ11および光レンズブロック17の位置を微調整は、ピックアップツール15(図4)によって行うことができる。
光レンズアレイ11の調心が終了すると、光レンズアレイ11をカバー3または基板5に固定するとともに、光レンズブロック17(ピックアップツール15)から光レンズアレイ11を分離して、光レンズブロック17を撤去する。
なお、光レンズブロック17と光レンズアレイ11とを密着させて一体化するには、例えば、光レンズアレイ11を光レンズブロック17に対して吸引する方法がある。図6(a)は光レンズブロック17の平面図、図6(b)は、図6(a)のL−L線断面図である。光レンズブロック17の調心検出面35には、接触面37まで貫通する孔45が設けられる。孔45は、光レンズブロック17の光路以外の部位に形成される。なお、孔45の位置や向きなどは、図示した例に限られない。
光レンズブロック17の接触面37を光レンズアレイ11のミラー面31に接触させた状態で、調心検出面35の孔45からエアを吸引することで(図中矢印H)、光レンズアレイ11を光レンズブロック17に吸着することができる。なお、前述した調心作業終了後、エアの吸引を停止することで、光レンズアレイ11の自重によって、光レンズアレイ11を光レンズブロック17から分離することができる。
なお、光レンズブロック17による光レンズアレイ11の保持方法は、この方法に限られない。図7は、他の方法を示す図である。例えば、光レンズアレイ11の光路以外の部位であって、ミラー面31近傍には、磁石46aが配置される。同様に、光レンズブロック17の光路以外の部位であって、接触面37近傍には、磁石46bが配置される。なお、磁石46a、46bは、それぞれ、ミラー面31および接触面37から突出しないように配置される。
この状態で、光レンズアレイ11に光レンズブロック17を近づけることで(図中矢印I)、光レンズアレイ11を光レンズブロック17に吸着させることができる。
なお、この場合、光レンズアレイ11の最適位置を保持した状態で光レンズアレイ11をピックアップツール15から分離するためには、磁石46a、46bによる光レンズアレイ11とピックアップツール15の吸着力が、基板集合体13と光レンズアレイ11の接着力と比較して充分小さい必要がある。そのため、光レンズアレイ11をピックアップツール15から分離するために、磁石46a、46bの磁力を弱める機構を設けてもよい。磁力を弱める機構としては、たとえば、ピックアップツール15側の磁石46bを電磁石とし、コイルに流れる電流をオフにすることで磁力を弱める機構やピックアップツール15の内部で磁石を移動できるようにし、切り離しの際に光レンズアレイ11の磁石46aから遠ざけることで、吸着力を弱める機構等がある。
このように、光レンズブロック17に光レンズアレイ11を吸着または密着させることができれば、その形態は特に限定されない。
以上、本実施の形態によれば、光素子アレイ9と光レンズアレイ11とを調心する際に、光レンズアレイ11のミラー面31上方からアクセスすることができる。このため、調心対象となる光素子アレイ9の周囲に他の電子部品等が配置されていても、それらと干渉することなくアクティブ調心を行うことができる。このため、複数の基板が集合した基板集合体13に対しても、各基板5に分割することなく、光レンズアレイ11を調心配置することができる。したがって、製造性が優れる。
また、光レンズアレイ11と光レンズブロック17とが、略同一の屈折率であるため、ミラー面31での光の反射が抑制され、光レンズアレイ11から光レンズブロック17側へ確実に光を入射させることができる。この際、マッチングフィルム41を用いることで、ミラー面31と接触面37の境界における空気層を排除し、より確実に光レンズブロック17側へ光を入射させることができる。
また、光レンズアレイ11と光レンズブロック17は、互いの嵌合構造によって嵌合するため、光レンズアレイ11と光レンズブロック17との位置決めが容易である。
なお、このようにして製造された光モジュール1は、光レンズアレイ11が光路を90°変換することによって、光素子アレイ9の光の入出射方向とは略垂直な方向の光伝送路29(例えば光ファイバ)に対して光路が形成される。一方、光レンズアレイ11のミラー面31に光レンズブロック17を密着させることで、この光路を変更し、光素子アレイ9の光の入出射方向に光路を形成することができる。このように、二つの光学系を使い分けることができる。
次に、第2の実施の形態について説明する。図8は、光レンズアレイ11aと光レンズブロック17aとを嵌合させる前の状態を示す斜視図であり、図9は側面図である。なお、以下の実施形態において、光レンズアレイ11、光レンズブロック17と同一の効果を奏する構成については、図5〜図7等と同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
光レンズアレイ11aは、光レンズアレイ11と略同様であるが、ミラー面31の両側に、光素子対向面25と略平行な平面部を有する点で異なる。同様に、光レンズブロック17aは、光レンズブロック17と略同様であるが、接触面37の両側に、調心検出面35と略平行な平面部を有する点で異なる。
光レンズアレイ11aの平面部と、光レンズブロック17aの平面部には、互いに嵌合可能な嵌合部33a、33bが設けられる。ミラー面31と接触面37と対向させて互いに接触させることで(図中矢印J)、嵌合部33a、33bが嵌合し、ミラー面31と接触面37とを密着させることができる。なお、前述したように、孔45からエアを吸引することで、光レンズブロック17aに対して、光レンズアレイ11aを吸引することができる。
この状態で、光素子アレイ9から光を照射し、光レンズブロック17aの上方で、光を検出することで、光レンズアレイ11aと光素子アレイ9とのアクティブ調心を行うことができる。
このように、第2の実施形態によっても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。また、嵌合部33a、33bが平面部に形成されるため、嵌合が容易である。
次に、第3の実施の形態について説明する。図10(a)は、光レンズアレイ11bと光レンズブロック17bとを嵌合させた状態を示す断面図である。光素子アレイ9の表面近傍には、第1マーカであるマーカ49aが設けられる。また、光レンズアレイ11bの光素子対向面25近傍には、第2マーカであるマーカ49bが設けられる。マーカ49a、49bは、例えば、凹凸や着色や面粗し処理部など、視認可能であれば特に限定されない。
マーカ49a、49bは、互いに対応する位置に配置される。また、マーカ49a、49bは、光素子アレイ9および光レンズアレイ11bに対して、複数個所に配置される。
光レンズブロック17bの上方には、撮像装置47が配置される。撮像装置47は、例えば、光レンズブロック17b上で移動可能である。なお、光レンズブロック17bの上方で、撮像装置47を移動させるため、孔45は、光レンズブロック17bの背面側から接触面37まで貫通し、光レンズブロック17bの背面側からエアが吸引される。
図10(b)は、マーカ49a、49bの位置を合わせる状態を示す図である。撮像装置47は、光レンズブロック17bおよび光レンズアレイ11bを透過して、マーカ49a、49bの位置を検出することができる。例えば、図10(b)の左図のように、マーカ49a、49bが、距離Kだけずれた位置に配置されていることを検出することができる。
この場合、マーカ49aの位置に、マーカ49bが重なるように、光レンズアレイ11b等の位置を微調整する。また、マーカ49aが複数個所にある場合には、撮像装置47を移動させて、他のマーカ49aに対して、対応するマーカ49bが重なるように、光レンズアレイ11b等の位置を微調整する。
複数個所の全てのマーカ49aにマーカ49bが重なった状態は、光素子アレイ9と光レンズアレイ11bとが調心された位置である。すなわち、予め光素子アレイ9と光レンズアレイ11bとが調心された状態で、マーカ49aとマーカ49bとが重なるように、それぞれのマーカ49a、49bの位置が決定されている。したがって、マーカ49a、49bを重ねることで、光素子アレイ9と光レンズアレイ11bとを調心することができる。
なお、マーカ49aとして光素子アレイ9の光発光部を用い、マーカ49bとしてレンズ23aを用いることもできる。
以上、添付図を参照しながら、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の技術的範囲は、前述した実施の形態に左右されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
1………光モジュール
3………カバー
5………基板
7………電子部品
9………光素子アレイ
11、11a、11b………光レンズアレイ
13………基板集合体
15………ピックアップツール
17………光レンズブロック
19………テスト台
21………電極
23a、23b………レンズ
25………光素子対向面
27………光伝送路対向面
29………光伝送路
31………ミラー面
33a、33b………嵌合部
35………調心検出面
37………接触面
39………レンズ
41………マッチングフィルム
43………検出器
45………孔
46a、46b………磁石
47………撮像装置
49a、49b………マーカ

Claims (7)

  1. 光モジュールの製造方法であって、
    電子部品と光素子を実装した基板上と、
    前記光素子と対向する光素子対向面と、前記光素子対向面に直交する垂直面と、前記光素子対向面に対して45°の角度に形成されるミラー面とを具備する光レンズアレイと、
    前記光素子と前記光レンズアレイとの調心を確認する調心検出面と、前記調心検出面に対して45°の角度に形成され、前記光レンズアレイの前記ミラー面と接触する接触面とを具備する光レンズブロックと、
    を用い、
    前記接触面を前記ミラー面に密着させて前記光レンズアレイと前記光レンズブロックを一体化させ、前記調心検出面と前記光素子対向面とが対向した状態で、前記光素子対向面を前記光素子に対向させて配置し、
    前記光素子と前記調心検出面とを一直線上に配置した状態で、前記調心検出面から前記光素子と前記光レンズアレイとの位置を検出し、
    前記光素子と前記光レンズアレイとを調心した後、前記光レンズブロックを撤去することを特徴とする光モジュールの製造方法。
  2. 前記光素子対向面を前記光素子に対向させて配置した状態で、
    前記光素子から光を照射して前記光素子対向面に設けられたレンズに入射させ、前記光レンズアレイと前記光レンズブロックとを透過した光を前記調心検出面のレンズから出射させ、前記調心検出面の上方に設けられた検出器で光の強度を検出しながら、前記光レンズアレイの位置を調整することで、前記光素子と前記光レンズアレイの調心を行うことを特徴とする請求項1記載の光モジュールの製造方法。
  3. 前記光素子には第1マーカ部が設けられ、前記光レンズアレイには、前記第1マーカ部に対応する位置に第2マーカ部が設けられ、
    前記光素子対向面を前記光素子に対向させて配置した状態で、
    前記調心検出面の上方から、撮像装置によって、前記第1マーカ部と前記第2マーカ部の位置を検出し、前記第1マーカ部と前記第2マーカ部とを重ね合わせるようにして、前記光素子と前記光レンズアレイとを調心することを特徴とする請求項1記載の光モジュールの製造方法。
  4. 前記光レンズアレイと前記光レンズブロックには、互いの位置決めを行う嵌合構造が設けられており、前記嵌合構造を嵌合させて前記接触面を前記ミラー面とを密着させることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の光モジュールの製造方法。
  5. 前記接触面および前記ミラー面には、それぞれ対応する位置に磁石が設けられ、前記接触面と前記ミラー面とを磁力によって密着させることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の光モジュールの製造方法。
  6. 前記光レンズアレイと前記光レンズブロックとは略同一の屈折率であり、前記ミラー面と前記接触面との間には、前記屈折率と略同一の屈折率を有するマッチングフィルムが設けられることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の光モジュールの製造方法。
  7. 前記光レンズブロックには、前記接触面と前記調心検出面とを貫通する吸引孔が設けられ、前記光レンズアレイと前記光レンズブロックとを接触させた状態で、前記調心検出面の前記吸引孔からエアを吸引することで、前記接触面と前記ミラー面とを密着させることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の光モジュールの製造方法。
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