JP5823090B2 - 測距装置 - Google Patents
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Description
<光量平衡処理>
光量平衡処理は、上述した「内部光路」側への切り換え時に受光部5Aで受光される光の受光レベルと、上述した「外部光路」側への切り換え時に受光部5Aで受光される光の受光レベルとを揃えるように、調光部52Aによる減衰量を調節する処理である。具体的には、「外部光路」側へ切り換え時に演算制御回路1が検出する信号Sig113のレベルを、「内部光路」側へ切り換え時に演算制御回路1が検出する信号Sig113のレベルに近づけるように、調光部52Aへ送出するモータ駆動信号Sig118にて濃度可変フィルタの濃度を変化させることにより、受光レベルを調節する。
予備測定処理は、本測定前に、測距装置から対象物までの概略の距離を測定し、この概略距離を予備測定値DPとする処理である。
本測定処理は、予備測定値DPを用いて測距装置から対象物までの距離を所定回数繰り返し測定する。測定値のうち予備測定値DPを含む所定範囲から外れる測定値を廃棄し、所定範囲内に含まれる測定値の数があらかじめ設定されている測定回数(たとえば2000回〜7000回)に達するまで本測定を繰り返す。測距装置は、上記所定回数分の測定値に基づいて、たとえば単純平均値を算出することにより、対象物までの距離D(本測定値)を求める。
整準時のポインタ光制御処理(S4)の詳細について、図4に例示したフローチャートを参照して説明する。図4のステップS41において、演算制御回路1は、測距装置の傾きが所定値以上か否かを判定する。演算制御回路1は、傾斜センサ13からの検出信号が示すX軸についての傾き、および傾斜センサ14からの検出信号が示すY軸についての傾きの少なくとも一方が所定値以上である場合にステップS41を肯定判定してステップS43へ進む。演算制御回路1は、上記X軸および上記Y軸の双方の傾きが所定値未満である場合には、ステップS41を否定判定してステップS42へ進む。
ガイド照明光を使用して視準する場合のポインタ光制御処理(S5)の詳細について、図5に例示したフローチャートを参照して説明する。図5のステップS51において、演算制御回路1は、ガイド照明光が点灯中か否かを判定する。演算制御回路1は、ガイド照明光を点灯させている場合にステップS51を肯定判定してステップS52へ進む。演算制御回路1は、ガイド照明光を点灯させていない場合にはステップS51を否定判定して図5による処理を終了する。
視準時のポインタ光制御処理(S6)の詳細について、図6に例示したフローチャートを参照して説明する。図6のステップS61において、演算制御回路1は、測距装置が向いている方向を示す水平軸角、垂直軸角の変動速度が所定値以上か否かを判定する。演算制御回路1は、エンコーダ12により検出される水平軸についての回動角、およびエンコーダ11により検出される垂直軸についての回動角のうち、少なくとも一方の変動速度が所定値以上の場合にステップS61を肯定判定してステップS65へ進む。演算制御回路1は、上記水平軸および上記垂直軸についての双方の検出角度の変動速度が所定値未満である場合には、ステップS61を否定判定してステップS62へ進む。検出角度の変動速度は、所定時間(たとえば0.2秒)ごとに検出される角度の変化量が所定値を超える場合に、変動速度が所定値以上と判定する。
視準の微調整時のポインタ光制御処理(S10)の詳細について、図7に例示したフローチャートを参照して説明する。図7のステップS101において、演算制御回路1は受光レベルが所定値を超えるか否かを判定する。所定値は、プリズムなど反射係数が高い対象物で反射された測距光が受光回路5で受光される場合の信号レベルに相当する値である。演算制御回路1は、振幅レベル信号Sig113のレベル検出結果が所定値を超えている場合にステップS101を肯定判定してステップS102へ進む。演算制御回路1は、上記レベル検出結果が所定値以下の場合には、ステップS101を否定判定してステップS106へ進む。
測距時のポインタ光制御処理(S11)の詳細について、図8に例示したフローチャートを参照して説明する。図8のステップS111において、演算制御回路1はポインタ光発光中か否かを判定する。演算制御回路1は、ポインタ光を発光させている場合にステップS111を肯定判定してステップS112へ進む。演算制御回路1は、ポインタ光を発光させていない場合にはステップS111を否定判定してステップS114へ進む。
対回観測(正反観測)時のポインタ光制御処理(S12)の詳細について、図9に例示したフローチャートを参照して説明する。図9のステップS121において、演算制御回路1はポインタ光発光中か否かを判定する。演算制御回路1は、ポインタ光を発光させている場合にステップS121を肯定判定してステップS125へ進む。演算制御回路1は、ポインタ光を発光させていない場合にはステップS121を否定判定してステップS122へ進む。
距離測定以外の他の処理時のポインタ光制御処理(S13)の詳細について、図10に例示したフローチャートを参照して説明する。図10のステップS131において、演算制御回路1は、他の処理を行う指示がなされたか否かを判定する。演算制御回路1は、操作部材15を構成するメニュースイッチや記録スイッチからメニュー処理や記録処理の実行を指示する操作信号が入力された場合にステップS131を肯定判定してステップS132へ進む。演算制御回路1は、他の処理の実行を指示する操作信号が入力されない場合はステップS131を否定判定して図10による処理を終了する。
(1)測距装置は送光部4Aと演算制御回路1とを有し、対象物に向けて測距用の光と、測距用の光と異なるポインタ光とを送光する。演算制御回路1は、測距開始操作信号に応じて、測距用の光が対象物との間を往復する時間に基づいて対象物までの距離を測る。上記演算制御回路1は、送光部4Aからポインタ光が送光されている状態で測距開始信号を受けると、ポインタ光の送光を停止させてから距離測定を開始させる。これにより、測距作業を中断することなく、作業者等に向けてポインタ光を発しないように制御できる。具体的には、測距(距離測定)中は測距装置の向きが対象物へ向いているので、対象物の反射係数が高い場合には、該対象物で反射された強いポインタ光が望遠鏡部10へ導かれるおそれがある。しかしながら、ポインタ光の送光を停止してから距離測定を始めるように構成したことにより、望遠鏡10を覗く作業者が反射ポインタ光を観察しないように制御できる。
以上の説明では、ガイド照明装置22を備える測距装置を例に説明したが、ポインタ光を発する測距装置であれば、必ずしもガイド照明装置22を備えていなくてもよい。ガイド照明装置22を備えない場合は、図3におけるステップS5を省略すればよい。
上述した構成と異なる他の構成にしても構わない。たとえば、ビームスプリッタ42-bを測距光とポインタ光で共用する配置とする。測距時、光路切換器42-cが「内部光路」に切り替えられているとき、ポインタ用発光素子を発光しないように構成することもできる。
2…時間計測回路
3A、3B…駆動回路
4…送光回路
5…受光回路
6…増幅回路
7…タイミング検出回路
8…信号レベル測定回路
9…調光フィルタ部
11、12…エンコーダ
13、14…傾斜センサ
15…操作部材
22…ガイド照明装置
41…測距用発光素子
43…ポインタ用発光素子
Claims (4)
- 対象物に向けて測距用の光を送光する第1送光手段と、
前記測距用の光が前記対象物との間を往復する時間に基づいて前記対象物までの距離を測る測距手段と、
前記対象物に向けて前記測距用の光と異なるポインタ光を送光する第2送光手段と、
前記ポインタ光で照射された前記対象物を観察する観察光学系と、
前記第1送光手段、前記第2送光手段および前記測距手段をそれぞれ制御する制御手段とを備え、
前記測距手段は、前記対象物で反射された前記測距用の光を受光する受光回路を含み、
前記制御手段は、前記第1送光手段から前記測距用の光が送光され且つ前記第2送光手段から前記ポインタ光が送光されている状態で前記受光回路の受光レベルが所定の判定閾値を超えた場合、前記ポインタ光の送光を停止させるとともに前記測距用の光の送光を継続することを特徴とする測距装置。 - 請求項1に記載の測距装置において、
前記制御手段は、前記第1送光手段から前記測距用の光が送光され且つ前記第2送光手段から前記ポインタ光が送光されている状態で前記受光回路の受光レベルが前記判定閾値以下の場合、前記測距用の光の送光を継続させるとともに前記ポインタ光の送光を継続させることを特徴とする測距装置。 - 請求項1または2に記載の測距装置において、
前記制御手段は、前記受光回路の受光レベルが前記判定閾値を超えるか否かを所定時間ごとに判定することを特徴とする測距装置。 - 請求項3に記載の測距装置において、
前記制御手段は、前記第2送光手段から前記ポインタ光の送光が停止されている状態で前記受光回路の受光レベルが前記判定閾値以下を判定した場合、前記測距用の光の送光を継続するとともに前記ポインタ光の送光を再開させることを特徴とする測距装置。
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